JP2001116781A - Method for controlling insulation resistance tester - Google Patents

Method for controlling insulation resistance tester

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JP2001116781A
JP2001116781A JP29521699A JP29521699A JP2001116781A JP 2001116781 A JP2001116781 A JP 2001116781A JP 29521699 A JP29521699 A JP 29521699A JP 29521699 A JP29521699 A JP 29521699A JP 2001116781 A JP2001116781 A JP 2001116781A
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JP
Japan
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measurement
time
insulation resistance
voltage
control unit
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JP29521699A
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Japanese (ja)
Inventor
Naoto Kozu
直人 神津
Yoshiyuki Furuhira
義之 古平
Naoki Nakayama
直樹 中山
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Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To set a measuring time without considering a decision delay time and to set the measuring time equal to a pass or fail decision time in measuring an insulation resistance of a material to be measured including a capacity component. SOLUTION: When a measuring time is started after at least a decision standard value, a decision delay time Tb and a measuring time Ta are set to a control means (microcomputer) 30, a control means 30 generates a measuring voltage from a measuring voltage generator 10, and measuring of the time Tb is simultaneously started. After the time Tb is elapsed, measuring of the time Ta is started this time, and an insulation resistance value is compared with the standard value and decided during the measuring time.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は絶縁抵抗計の制御方
法に関し、さらに詳しく言えば、判定遅延時間や測定時
間などのタイマ機能を備えた絶縁抵抗計の制御方法に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for controlling an insulation resistance meter, and more particularly, to a method for controlling an insulation resistance meter having a timer function such as a judgment delay time and a measurement time.

【0002】[0002]

【従来の技術】絶縁抵抗計は、被測定物に直流電圧を印
加した状態での漏れ電流から、同被測定物の絶縁抵抗を
測定するが、多くの場合、その測定値と判定基準値とを
比較して合否判定する判定機能を備えている。また、電
圧印加時間を設定できるタイマ機能を備えたものもあ
る。
2. Description of the Related Art Insulation resistance meters measure the insulation resistance of a device under test from the leakage current when a DC voltage is applied to the device under test. Are compared with each other to make a pass / fail decision. Some have a timer function that can set the voltage application time.

【0003】ところで、被測定物に容量成分(コンデン
サ成分)が含まれている場合、直流電圧を印加した直後
は、その容量成分の充電に電流が費やされるため、漏れ
電流が多く電圧印加直後では絶縁抵抗値は小さな値とな
る。容量成分の充電が完了すると、被測定物には本来の
漏れ電流だけが流れることになるため、絶縁抵抗値は安
定する。
When an object to be measured contains a capacitance component (capacitor component), immediately after a DC voltage is applied, a current is consumed for charging the capacitance component. The insulation resistance value becomes a small value. When the charging of the capacitance component is completed, only the original leakage current flows through the device under test, so that the insulation resistance value is stabilized.

【0004】したがって、被測定物に容量成分がある場
合、電圧印加直後の充電期間に合否判定が行なわれる
と、誤判定になるおそれがある。これを防止するため、
電圧印加直後の一定期間は、判定機能を動作させないよ
うにしており、これが判定遅延機能である。
[0004] Therefore, if there is a capacitance component in the object to be measured, if the pass / fail judgment is made during the charging period immediately after the voltage is applied, there is a possibility that an erroneous judgment may be made. To prevent this,
The determination function is not operated for a certain period immediately after voltage application, and this is a determination delay function.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】タイマ機能と判定遅延
機能を備えた絶縁抵抗計では、測定に先だって、入力部
から判定基準値、電圧印加時間および判定遅延時間など
が制御部としてのマイクロコンピュータ(略称;マイコ
ン)に設定される。そして、入力部からのスタート信号
(測定開始信号)により、絶縁抵抗の測定および判定が
自動的に行なわれるのであるが、従来技術には次のよう
な課題があった。これを図3により説明する。
In an insulation resistance meter having a timer function and a judgment delay function, prior to measurement, a microcomputer as a control unit determines a judgment reference value, a voltage application time, a judgment delay time, and the like from an input unit. (Abbreviation: microcomputer). The measurement and determination of the insulation resistance are automatically performed based on a start signal (measurement start signal) from the input unit. However, the related art has the following problems. This will be described with reference to FIG.

【0006】この図は、被測定物に容量成分が含まれて
いる場合の印加電圧波形(縦軸;電圧、横軸;時間)を
示したもので、図中、taは入力部にて設定された電圧
印加時間、tbは判定遅延時間である。
FIG. 1 shows an applied voltage waveform (vertical axis; voltage, horizontal axis; time) when a measured object contains a capacitance component. In the figure, ta is set by an input unit. The applied voltage application time tb is the determination delay time.

【0007】この図から分かるように、従来技術では、
スタート信号が入力されると、被測定物に測定電圧が印
加されるとともに、電圧印加時間taと判定遅延時間t
bの計時が同時に開始される。判定遅延時間tbの経過
後に、判定機能が立ち上がり測定値と判定基準値との比
較が行なわれる。
As can be seen from this figure, in the prior art,
When the start signal is input, the measurement voltage is applied to the device under test, and the voltage application time ta and the determination delay time t
The timing of b is started at the same time. After the elapse of the judgment delay time tb, the judgment function starts up and the measured value is compared with the judgment reference value.

【0008】そして、電圧印加時間taが経過すると、
測定電圧がオフとされ測定が終了する。判定機能による
合否判定は所定のサンプリング間隔で複数回にわたって
行なわれ、その中に一つでもNG判定(NOGO判定と
も言う)があれば、結果的にNG判定となる。
When the voltage application time ta elapses,
The measurement voltage is turned off and the measurement ends. The pass / fail judgment by the judgment function is performed a plurality of times at a predetermined sampling interval. If at least one of the judgments is an NG judgment (also referred to as a NOGO judgment), the result is an NG judgment.

【0009】したがって、合否判定する時間が長いほど
高い精度が得られるが、この合否判定時間は、ta−t
b時間であって、実際に測定時間として設定した時間t
aよりも短いことになり、測定精度の面からして好まし
いことではない。もっとも、この点を解決するには、電
圧印加時間taを設定する際、判定遅延時間tbを見込
んで、その分だけ時間taを長くすればよい。
Therefore, a higher accuracy is obtained as the pass / fail judgment time is longer, but the pass / fail judgment time is ta-t
b time, the time t actually set as the measurement time
This is shorter than a, which is not preferable in terms of measurement accuracy. However, in order to solve this point, when setting the voltage application time ta, the time ta may be extended by that amount in consideration of the determination delay time tb.

【0010】しかしながら、電圧印加時間taは測定時
間(合否判定時間)そのものと理解されがちで、よほど
機器に精通していないかぎり、ユーザーサイドで電圧印
加時間ta内に判定遅延時間tbが含まれていることを
理解している者は少なく、ほとんどの場合、判定遅延時
間tbを加算することはしないであろう。
However, the voltage application time ta is often understood as the measurement time (pass / fail judgment time) itself, and unless the user is very familiar with the equipment, the judgment delay time tb is included in the voltage application time ta on the user side. There are few people who understand that this is the case, and in most cases the decision delay time tb will not be added.

【0011】なお、電圧印加時間taに判定遅延時間t
bを加算するにしても、判定遅延時間tbはメーカー側
であらかじめセットされている場合もあり、その場合に
は、仕様書などにより判定遅延時間tbを調べる必要が
あり面倒である。また、ユーザー側に判定遅延時間tb
の設定を任せているような場合でも、電圧印加時間ta
を設定するつど、その判定遅延時間tbを加算しなくて
はならないし、その加算を忘れてしまう場合もあり得
る。
Note that the voltage application time ta includes a determination delay time t.
Even if b is added, the determination delay time tb may be set in advance by the manufacturer, and in such a case, it is necessary to check the determination delay time tb using a specification or the like, which is troublesome. Further, the determination delay time tb is provided to the user side.
Voltage setting time ta
Is set, the determination delay time tb must be added, and the addition may be forgotten.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は、このような課
題を解決するためになされたもので、その目的は、判定
遅延時間を考慮することなく測定時間を設定でき、その
測定時間イコール合否判定時間とすることができるよう
にした絶縁抵抗計の制御方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to set a measurement time without considering a judgment delay time, and to determine whether the measurement time is equal or not. An object of the present invention is to provide a control method of an insulation resistance meter that can be used as a determination time.

【0013】上記目的を達成するため、本発明は、被測
定物に所定の測定電圧を印加する測定電圧発生部と、上
記被測定物に流れる電流を検出する電流検出部と、上記
被測定物に印加される測定電圧と上記電流検出部にて検
出された測定電流とから絶縁抵抗値を算出する制御部
と、同制御部に対して判定基準値や判定遅延時間および
測定時間などの測定条件を設定する入力部とを備え、上
記入力部にて設定された測定条件に基づいて上記制御部
により測定が実行される絶縁抵抗計の制御方法におい
て、上記制御手段に対して上記入力部より少なくとも判
定基準値、判定遅延時間および測定時間が設定された
後、上記入力部より測定開始信号が発せられると、上記
制御手段は、上記測定電圧発生部より所定の測定電圧を
発生させると同時に、上記判定遅延時間の計時を開始
し、上記判定遅延時間の経過後に、今度は上記測定時間
の計時を開始し、その測定時間の間、上記算出された絶
縁抵抗値と上記判定基準値との比較判定を行なうととも
に、比較判定の最終結果を出力し、上記測定時間の経過
後に上記測定電圧発生部を停止することを特徴としてい
る。
In order to achieve the above object, the present invention provides a measurement voltage generator for applying a predetermined measurement voltage to an object to be measured, a current detector for detecting a current flowing through the object to be measured, And a control unit for calculating an insulation resistance value from a measurement voltage applied to the control unit and a measurement current detected by the current detection unit, and measurement conditions such as a determination reference value, a determination delay time, and a measurement time for the control unit. And an input unit for setting an insulation resistance meter, wherein the measurement is performed by the control unit based on the measurement conditions set in the input unit. After the determination reference value, the determination delay time and the measurement time are set, when a measurement start signal is issued from the input unit, the control unit generates a predetermined measurement voltage from the measurement voltage generation unit, Timing of the determination delay time is started, and after the determination delay time has elapsed, timing of the measurement time is started, and during the measurement time, the comparison determination between the calculated insulation resistance value and the determination reference value is performed. And outputting the final result of the comparison determination, and stopping the measurement voltage generation unit after the lapse of the measurement time.

【0014】本発明によれば、測定時間には判定遅延時
間は含まれず、判定遅延時間の経過後に測定時間が計時
される。したがって、設定された測定時間そのものが判
定機能による合否判定時間となる。
According to the present invention, the measurement time does not include the determination delay time, and the measurement time is measured after the determination delay time has elapsed. Therefore, the set measurement time itself is the pass / fail judgment time by the judgment function.

【0015】本発明の別の態様として、上記制御手段に
上記測定電流もしくは上記被測定物の印加電圧が安定状
態に達したかどうかの識別機能を持たせて、それが安定
状態に達した時点で、上記測定時間の計時を開始すると
ともに、その測定時間の間、上記算出された絶縁抵抗値
と上記判定基準値との比較判定を行なうようにしてもよ
く、これによれば、判定遅延時間の設定が不要となる。
According to another aspect of the present invention, the control means has a function of discriminating whether the measured current or the voltage applied to the device under test has reached a stable state. Then, the measurement of the measurement time is started, and during the measurement time, the calculated insulation resistance value and the determination reference value may be compared and determined. Setting is unnecessary.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】次に、本発明を図面に示されてい
る実施例により説明する。図1は、この実施例に係る絶
縁抵抗計の概略的なブロック図である。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The invention will now be described with reference to an embodiment shown in the drawings. FIG. 1 is a schematic block diagram of an insulation resistance meter according to this embodiment.

【0017】この絶縁抵抗計は、基本的な構成として、
被測定物Xに所定の直流電圧を印加する測定電圧発生部
10と、被測定物Xの漏れ電流を検出する電流検出部2
0と、制御部としてのマイコン30とを備えている。
This insulation resistance meter has the following basic configuration.
A measurement voltage generator 10 for applying a predetermined DC voltage to the device X; and a current detector 2 for detecting a leakage current of the device X
0 and a microcomputer 30 as a control unit.

【0018】測定電圧発生部10および電流検出部20
は公知のものであってよく、測定電圧発生部10には、
被測定物Xに対する印加電圧を検出する電圧検出部11
が接続されている。電流検出部20にて検出された測定
電流は、A/D変換器21を介してマイコン30に入力
される。また、電圧検出部11にて検出された印加電圧
もA/D変換器21を介してマイコン30に入力され
る。マイコン30は、その測定電流と印加電圧とによ
り、被測定物Xの絶縁抵抗値を算出する。
Measurement voltage generator 10 and current detector 20
May be a known one, and the measurement voltage generator 10 includes:
Voltage detector 11 for detecting the voltage applied to the device under test X
Is connected. The measurement current detected by the current detection unit 20 is input to the microcomputer 30 via the A / D converter 21. The applied voltage detected by the voltage detection unit 11 is also input to the microcomputer 30 via the A / D converter 21. The microcomputer 30 calculates the insulation resistance value of the device under test X based on the measured current and the applied voltage.

【0019】マイコン30には、例えばテンキーや各種
の設定ダイヤルなどを有する入力部40、表示パネルや
LEDもしくはブザーなどを有する表示部50、外部の
例えばパソコンと接続するためのI/Oポート60およ
びRAMなどからなるメモリ70が接続されている。
The microcomputer 30 includes an input unit 40 having, for example, a numeric keypad and various setting dials, a display unit 50 having a display panel, an LED, a buzzer, and the like, an I / O port 60 for connection to an external personal computer, for example. A memory 70 such as a RAM is connected.

【0020】マイコン30は、タイマ機能と判定機能を
備えている。また、マイコン30から測定電圧発生部1
0には電圧レンジ切換信号が与えられ、電圧検出部11
および電流検出部20には、レンジやゲインの切換信号
が与えられる。
The microcomputer 30 has a timer function and a judgment function. In addition, the microcomputer 30 supplies the measurement voltage generator 1
0 is supplied with a voltage range switching signal.
The range and gain switching signals are supplied to the current detection unit 20.

【0021】この絶縁抵抗計の動作について説明する。
まず、容量成分を含む被測定物Xの絶縁抵抗を測定する
準備作業として、この実施例では、入力部40からマイ
コン30に、測定時間Ta、判定遅延時間Tb、判定基
準値(例えば、コンパレータの下限値)、それに印加電
圧(試験電圧)などが設定される。
The operation of the insulation resistance meter will be described.
First, as a preparatory work for measuring the insulation resistance of the device under test X including the capacitance component, in this embodiment, the measurement time Ta, the judgment delay time Tb, the judgment reference value (for example, Lower limit value), an applied voltage (test voltage), and the like.

【0022】被測定物Xに対する印加電圧波形(縦軸;
電圧、横軸;時間)が示されている図2を参照して、入
力部40からスタート信号が発せられると、マイコン3
0は測定電圧発生部10にオン信号を送出して被測定物
Xに所定の測定電圧を印加するとともに、判定遅延時間
Tbの計時(カウント)を開始する。このとき、測定時
間Taは計時しない。また、判定機能もオフ(休止)状
態にある。
The voltage waveform applied to the device under test X (vertical axis;
Referring to FIG. 2 in which voltage, horizontal axis, and time are shown, when a start signal is issued from the input unit 40, the microcomputer 3
0 sends an ON signal to the measurement voltage generator 10 to apply a predetermined measurement voltage to the device under test X, and starts counting the determination delay time Tb. At this time, the measurement time Ta is not measured. Also, the determination function is in the off (pause) state.

【0023】判定遅延時間Tbが経過すると、マイコン
30は測定時間Taの計時を開始するとともに、判定機
能をオン(稼働)状態とする。この測定時間Taの間、
マイコン30はA/D変換器21より所定のサンプリン
グ間隔で取り込まれる測定電流と印加電圧とにより絶縁
抵抗値を算出し、そのつど、その絶縁抵抗値と判定基準
値とを比較し合否判定を行なう。
When the determination delay time Tb elapses, the microcomputer 30 starts measuring the measurement time Ta and turns the determination function on (operating). During this measurement time Ta,
The microcomputer 30 calculates the insulation resistance value based on the measured current and the applied voltage taken from the A / D converter 21 at a predetermined sampling interval, and each time compares the insulation resistance value with the judgment reference value to make a pass / fail judgment. .

【0024】そして、測定時間Taが経過すると、マイ
コン30は測定電圧発生部10にオフ信号を送出して被
測定物Xに対する印加電圧を零にする。また、判定機能
もオフとし、合否判定結果を表示部50に出力する。
When the measurement time Ta has elapsed, the microcomputer 30 sends an off signal to the measurement voltage generator 10 to reduce the voltage applied to the device under test X to zero. The determination function is also turned off, and the result of the pass / fail determination is output to the display unit 50.

【0025】なお、測定時間Ta内で行なわれた複数回
の合否判定の中に一つでもNG判定がある場合には、最
終的にNG判定とされる。GO判定が出されるのは、複
数回にわたる合否判定ですべてがGO判定とされたとき
だけである。
If at least one of the pass / fail judgments made within the measurement time Ta includes an NG judgment, the NG judgment is finally made. The GO judgment is issued only when all of the GO / NG judgments are made in the pass / fail judgments performed a plurality of times.

【0026】上記実施例では、入力部40より判定遅延
時間を設定するようにしているが、本発明には次の変形
例も含まれる。すなわち、マイコン30に電流検出部2
0により検出された測定電流もしくは電圧検出部11に
て検出された被測定物の印加電圧が安定状態に達したか
の識別機能を備えさせ、その測定電流もしくは印加電圧
が安定した後、測定時間Taの計時を開始するようにし
てもよい。
In the above embodiment, the judgment delay time is set by the input unit 40, but the present invention includes the following modifications. That is, the current detection unit 2 is connected to the microcomputer 30.
A function of identifying whether the measured current detected by 0 or the applied voltage of the DUT detected by the voltage detecting unit 11 has reached a stable state is provided, and after the measured current or the applied voltage is stabilized, the measurement time Ta Timing may be started.

【0027】これによれば、入力部40より判定遅延時
間を設定する必要がない。なお、測定電流もしくは印加
電圧が安定したかどうかは、例えばその電流波形なり電
圧波形の最大値および最小値が所定の幅内に入っている
かどうかで識別することができる。
According to this, it is not necessary to set the judgment delay time from the input unit 40. Whether the measured current or the applied voltage is stable can be identified by, for example, whether the maximum value and the minimum value of the current waveform or the voltage waveform are within a predetermined width.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、まず、判定遅延時間を計時し、その時間経過後
に、測定時間の計時が行なわれるようにしたことによ
り、判定遅延時間を考慮することなく測定時間を設定で
き、その測定時間イコール合否判定時間とすることがで
きる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, first, the determination delay time is measured, and after the elapse of the time, the measurement time is measured. The measurement time can be set without taking into account the above, and the measurement time can be used as the equality pass / fail judgment time.

【0029】また、請求項2の発明によれば、マイコン
(制御部)に電流検出部により検出された測定電流もし
くは電圧検出部にて検出された被測定物の印加電圧が安
定状態に達したかの識別機能を備えさせるようにしたこ
とにより、上記請求項1の効果に加えて、判定遅延時間
を設定する手間を省くことができるという効果が奏され
る。
According to the second aspect of the present invention, the microcomputer (control unit) determines whether the measurement current detected by the current detection unit or the applied voltage of the DUT detected by the voltage detection unit has reached a stable state. With the provision of the identification function, in addition to the effect of the first aspect, the effect of saving the trouble of setting the determination delay time can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による絶縁抵抗計の一実施例の構成を概
略的に示したブロック図。
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a configuration of an embodiment of an insulation resistance meter according to the present invention.

【図2】上記実施例で被測定物に印加される印加電圧波
形を示した波形図。
FIG. 2 is a waveform diagram showing an applied voltage waveform applied to a device under test in the above embodiment.

【図3】従来例において被測定物に印加される印加電圧
波形を示した波形図。
FIG. 3 is a waveform diagram showing an applied voltage waveform applied to a device under test in a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 測定電圧発生部 11 電圧検出部 20 電流検出部 21 A/D変換器 30 マイコン 40 入力部 50 表示部 60 I/Oポート 70 メモリ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Measurement voltage generation part 11 Voltage detection part 20 Current detection part 21 A / D converter 30 Microcomputer 40 Input part 50 Display part 60 I / O port 70 Memory

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中山 直樹 長野県上田市大字小泉字桜町81 日置電機 株式会社内 Fターム(参考) 2G015 AA01 BA04 BA06 CA04 DA04 2G028 AA02 CG03 DH03 DH12 FK02 FK08 GL07 LR02 LR03 LR04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Naoki Nakayama 81 Sakuramachi, Koizumi, Ueda-shi, Nagano F-term (reference) 2G015 AA01 BA04 BA06 CA04 DA04 2G028 AA02 CG03 DH03 DH12 FK02 FK08 GL07 LR02 LR03 LR04

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被測定物に所定の測定電圧を印加する測
定電圧発生部と、上記被測定物に流れる電流を検出する
電流検出部と、上記被測定物に印加される測定電圧と上
記電流検出部にて検出された測定電流とから絶縁抵抗値
を算出する制御部と、同制御部に対して判定基準値や判
定遅延時間および測定時間などの測定条件を設定する入
力部とを備え、上記入力部にて設定された測定条件に基
づいて上記制御部により測定が実行される絶縁抵抗計の
制御方法において、 上記制御手段に対して上記入力部より少なくとも判定基
準値、判定遅延時間および測定時間が設定された後、上
記入力部より測定開始信号が発せられると、上記制御手
段は、上記測定電圧発生部より所定の測定電圧を発生さ
せると同時に、上記判定遅延時間の計時を開始し、上記
判定遅延時間の経過後に、今度は上記測定時間の計時を
開始し、その測定時間の間、上記算出された絶縁抵抗値
と上記判定基準値との比較判定を行なうとともに、比較
判定の最終結果を出力し、上記測定時間の経過後に上記
測定電圧発生部を停止することを特徴とする絶縁抵抗計
の制御方法。
1. A measurement voltage generator for applying a predetermined measurement voltage to an object to be measured, a current detector for detecting a current flowing through the object to be measured, a measurement voltage applied to the object to be measured, and the current A control unit that calculates an insulation resistance value from the measurement current detected by the detection unit, and an input unit that sets measurement conditions such as a determination reference value, a determination delay time, and a measurement time for the control unit, A control method of an insulation resistance meter, wherein the measurement is performed by the control unit based on the measurement conditions set in the input unit, wherein at least a determination reference value, a determination delay time, and a measurement are transmitted from the input unit to the control means. After the time is set, when a measurement start signal is issued from the input unit, the control unit generates a predetermined measurement voltage from the measurement voltage generation unit, and starts timing the determination delay time, Up After the elapse of the determination delay time, the measurement of the measurement time is started, and during the measurement time, a comparison between the calculated insulation resistance value and the determination reference value is performed, and the final result of the comparison determination is determined. A method for controlling an insulation resistance meter, comprising: outputting an output and stopping the measurement voltage generator after the elapse of the measurement time.
【請求項2】 被測定物に所定の測定電圧を印加する測
定電圧発生部と、上記被測定物に流れる電流を検出する
電流検出部と、上記被測定物に印加される測定電圧と上
記電流検出部にて検出された測定電流とから絶縁抵抗値
を算出する制御部と、同制御部に対して判定基準値や測
定時間などの測定条件を設定する入力部とを備え、上記
入力部にて設定された測定条件に基づいて上記制御部に
より測定が実行される絶縁抵抗計の制御方法において、 上記制御手段は、上記測定電流もしくは上記被測定物の
印加電圧が安定状態に達したかどうかの識別機能を備え
ており、上記制御手段に対して上記入力部より少なくと
も判定基準値および測定時間が設定された後、上記入力
部より測定開始信号が発せられると、上記制御手段は、
上記測定電圧発生部より所定の測定電圧を発生させると
同時に、上記測定電流もしくは上記印加電圧を監視して
それが安定状態に達した時点で、上記測定時間の計時を
開始し、その測定時間の間、上記算出された絶縁抵抗値
と上記判定基準値との比較判定を行なうとともに、比較
判定の最終結果を出力し、上記測定時間の経過後に上記
測定電圧発生部を停止することを特徴とする絶縁抵抗計
の制御方法。
2. A measurement voltage generator for applying a predetermined measurement voltage to an object to be measured, a current detector for detecting a current flowing through the object to be measured, a measurement voltage applied to the object to be measured, and the current A control unit for calculating an insulation resistance value from the measurement current detected by the detection unit, and an input unit for setting measurement conditions such as a criterion value and a measurement time for the control unit; In the method for controlling an insulation resistance meter, wherein the measurement is performed by the control unit based on the measurement conditions set in the control method, the control unit determines whether the measurement current or the applied voltage to the device under test has reached a stable state. The identification function is provided, after at least the determination reference value and the measurement time are set from the input unit for the control unit, when a measurement start signal is issued from the input unit, the control unit,
Simultaneously with the generation of a predetermined measurement voltage from the measurement voltage generator, the measurement current or the applied voltage is monitored, and when it reaches a stable state, timing of the measurement time is started. Performing a comparison judgment between the calculated insulation resistance value and the judgment reference value, outputting a final result of the comparison judgment, and stopping the measurement voltage generation unit after a lapse of the measurement time. Control method of insulation resistance meter.
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