JP5726932B2

JP5726932B2 - ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号発生装置および発生方法

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Publication number: JP5726932B2
Application number: JP2013034862A
Authority: JP
Inventors: 松本　隆; 隆松本; 良洋塩沢
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2013-02-25
Filing date: 2013-02-25
Publication date: 2015-06-03
Anticipated expiration: 2033-02-25
Also published as: JP2014165654A; US20140242919A1; US9100862B2

Description

本発明は、携帯電話、スマートフォン等の携帯端末、基地局あるいはそれらに用いられるＲＦデバイス等を試験対象とし、それら試験対象の動作試験を行うための試験信号を発生するための技術に関し、特にＬＴＥよりさらに高速化されたＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式と呼ばれる無線通信規格に対応した試験信号を簡易に生成できるようにするための技術に関する。

携帯端末の多機能化に伴い、基地局との間の無線による通信速度が高速化されており、近年では、３ＧＰＰＬＴＥ規格においてＬＴＥＲｅｌｅａｓｅ（以下Ｒｅｌ）８（下り３００Ｍｂｐｓ、上り７５Ｍｂｐｓ）よりさらに高速なＬＴＥＲｅｌ１０（下り１Ｇｂｐｓ、上り５００Ｍｂｐｓ）の所謂ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式が実用化されつつある。

このＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の規格では、従来のＬＴＥＲｅｌ８で用いていたキャリアを１つのコンポーネントキャリア（以下、ＣＣと記す）単位として扱い、これを最大５つまで同時に用いて一つの携帯端末との間で通信を行う「Carrier Aggregation」（以下、ＣＡと記す）技術を用いて通信帯域幅を拡張して上記高速化を実現している。

一方、従来のＬＴＥ方式の試験システムでは、試験対象との間の通信で用いる１キャリア分の試験用信号（Ｉ、Ｑの直交成分）をベースバンドで生成し、この試験用信号で直交変調され、且つ通信周波数帯に周波数変換された信号を用いている。

この試験用信号の生成には、極めて多くのパラメータが必要となるが、それを試験者が一つ一つ設定していたのでは非効率である。

このため、例えば基地局試験用の規格である３ＧＰＰＴＳ３６．１４１（ＢＳ試験用規格）においては、予めどのような条件でテストを行なうかを特定する複数種類のテストモデルと、それら各テストモデルについての試験用信号を生成するために必要なキャリアのチャネル帯域との組合せが規定されており、それらのパラメータ情報（パラメータファイル）を予め記憶部に記憶させておき、試験者がテストモデルと、チャネル帯域とを選択操作することでその選択されたテストモデルを指定したチャンネル帯域幅で行なうための試験用信号の波形データを生成している。

なお、このような試験システムの一例として携帯端末の試験を行うための試験用信号を生成し、この試験用信号で直交変調した信号を通信周波数帯に変換して出力するシステムが、例えば特許文献１に開示されている。

特開２００７−１１６２４０号公報

ところが、上記したＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式で用いるＣＡ技術では、通信に用いるキャリアを一つのコンポーネントとし、複数のＣＣを用い、しかもＣＣが一つの通信用割当周波数帯の中に連続にまたは不連続に配置されるイントラバンド方式と、複数のＣＣが異なる通信用割当周波数帯に振り分け配置されるインターバンド方式とがあり、それらに対応するためには、各通信用割当周波数帯やＣＣ毎に上記したテストモデルや帯域幅等の指定操作が必要となり、その作業が極めて煩雑で面倒であった。

本発明は、この問題を解決して、ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号生成に必要なパラメータ設定処理を簡単に行なえるＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号生成装置および生成方法を提供することを目的としている。

前記目的を達成するために、本発明の請求項１のＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号生成装置は、
表示部（２１）と、
操作部（２２）と、
ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式に対応した基地局、携帯端末あるいはそれらに用いられるＲＦデバイスを試験対象とし、該試験対象の動作を試験するために用いる複数のコンポーネントキャリアに対してそれぞれ割当可能な試験用信号生成用のパラメータファイルを予め記憶するパラメータファイル記憶手段（２４）と、
前記表示部にイントラバンド方式、インターバンド方式のいずれかを選択するための表示を行ない、前記操作部に対する操作でいずれかの方式を指定させるキャリア配置指定手段（２５）と、
前記表示部に前記パラメータファイル記憶手段に記憶されているパラメータファイルを選択するための表示を行い、前記操作部に対する操作でいずれかのパラメータファイルを指定させるパラメータファイル指定手段（２６）と、
前記パラメータファイル指定手段によってパラメータファイルが指定された段階で、前記表示部に前記複数のコンポーネントキャリアのリストとその任意のものを指定するための表示と、前記リストに表示されたコンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯の種別を選択するための表示とを行い、前記操作部に対する操作で、前記指定されたパラメータファイルを割り当てるコンポーネントキャリアを指定させ、該コンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯を指定させるパラメータ・周波数帯割当手段（２７）と、
前記キャリア配置指定手段および前記パラメータ・周波数帯割当手段によって指定された情報にしたがって、前記指定された通信用割当周波数帯のコンポーネントキャリア毎の試験用信号を生成する試験用信号生成部（２９）とを備えている。

また、本発明の請求項２のＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号生成方法は、
表示部（２１）と、
操作部（２２）と、
ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式に対応した基地局、携帯端末あるいはそれらに用いられるＲＦデバイスを試験対象とし、該試験対象の動作を試験するために用いる複数のコンポーネントキャリアに対してそれぞれ割当可能な試験用信号生成用のパラメータファイルを予め記憶するパラメータファイル記憶手段（２４）とを有する試験用信号生成装置による試験用信号生成方法であって、
前記表示部に前記複数のコンポーネントキャリアのキャリア配置としてイントラバンド方式、インターバンド方式のいずれかを選択するための表示を行ない、試験者による前記操作部の操作でいずれかの方式を指定させる段階と、
前記表示部に前記パラメータファイル記憶手段に記憶されている試験用信号生成用のパラメータファイルを選択するための表示を行い、試験者による前記操作部の操作でそのいずれかを指定させる段階と、
前記表示部に前記複数のコンポーネントキャリアのリストとその任意のものを指定するための表示と、前記リストに表示されたコンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯の種別を選択するための表示とを行い、試験者による前記操作部の操作で指定されたパラメータファイルを割り当てるコンポーネントキャリアと、該コンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯を指定させる段階と、
試験者による前記操作部の操作で前記キャリア配置として指定された方式、前記コンポーネントキャリアに割り当てられたパラメータファイル、および該コンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯の情報にしたがって、前記指定された通信用割当周波数帯のコンポーネントキャリア毎の試験用信号を生成する段階と含んでいる。

このようにしたので、本発明によれば、所望のパラメータファイルを指定した段階で、そのパラメータファイルを割当てることができる複数のコンポーネントキャリアのリストと、その任意のものを指定できる表示がなされるので、指定したパラメータファイルを複数のコンポーネントキャリアに一括に割り当てることができ、ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式に対応した試験対象の試験に用いる試験用信号を極めて容易に生成することができる。

本発明の実施形態を含む試験システム図規格化されたテストモデルに用いるパラメータのリストＦＤＤ方式の場合のフレーム生成用のパラメータのリストＴＤＤ方式の場合の第１フレーム生成用のパラメータのリストＴＤＤ方式の場合の第２フレーム生成用のパラメータのリスト複数のコンポーネントキャリアの配置例を示す図試験用の周波数帯番号に対する送受信周波数範囲および送受信切替方式の対応図パラメータファイルを指定する場合の表示例指定したパラメータファイルを割り当てるコンポーネントキャリアのリスト

以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用したＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号生成装置２０とそれを用いた試験システムの構成を示している。

この試験信号生成装置２０は、表示部２１、操作部２２、パラメータ設定部２３、試験用信号生成部２９を有し、生成したベースバンドの試験用信号を、ＲＦ信号変換装置３０に与え、実際に通信に用いる周波数帯の信号に変換して試験対象１に送信する。なお、ここでは、試験対象１が基地局の場合で説明する。

試験信号生成装置２０のパラメータ設定部２３は、ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式で通信を行なう試験対象１の動作試験に用いる試験用信号を生成するためのパラメータ情報を設定するためのものであり、パラメータファイル記憶手段２４、キャリア配置指定手段２５、パラメータファイル指定手段２６およびパラメータ・周波数帯割当手段２７を有している。

パラメータファイル記憶手段２４には、ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の通信で用いる複数のコンポーネントキャリアに対してそれぞれ割当可能な試験用信号生成用のパラメータファイルが予め記憶されている。

ここで、パラメータファイルは、前記したように、予めどのような条件でテストを行なうかを特定する複数種類のテストモデルと、それら各テストモデルについての試験用信号を生成するために必要なＣＣのチャネル帯域との組合せで特定されるものであり、例えば、Ｅ−ＴＭ１．１、Ｅ−ＴＭ１．２、Ｅ−ＴＭ２、Ｅ−ＴＭ３．１、Ｅ−ＴＭ３．２、Ｅ−ＴＭ３．３の６種類のテストモデルが規定されている。

これらテストモデルは、ＢＳ（基地局）試験用測定規格「３ＧＰＰＴＳ３６．１４ＴｒａｎｓｍｉｔｔｅｒＣａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ」に記載されている信号生成用のパラメータを特定するものである。

具体例として、以下にＥ−ＴＭ１．２（E-UTRA Test Model 1.2）について説明する。
Ｅ−ＴＭ１．２信号は、基地局の送信試験の不要発射（隣接チャネル漏洩電力、運用周波数帯不要発射：条件変調方式ＱＰＳＫ、電力変動付加）の測定に用いられ、その信号生成のためのパラメータの詳細は、図２〜図５のＴａｂｌｅ１〜３に記載されている値となる。

先ず、図２のＴａｂｌｅ１について説明すると、１．４ＭＨｚから２０ＭＨｚまでの６つの帯域毎にダウンリンク物理チャネルの設定値（パワー含む）が記載されている。

このうち、リファレンスシグナル（Reference Signals）は、同期検波や無線リンク制御、セルサーチなどに用いられる信号であり、同期シグナル（Synchronization
Signals）は、ユーザ端末が基地局を検出するセルサーチに用いられる信号である。

また、報知チャネル（PBCH）は、制御情報をセル全体に報知するチャネル、制御チャネル構成指示チャネル（PCFICH）は、制御チャネル（PDCCH）に用いるＯＦＤＭシンボル数を示す。ハイブリッドARQ指示チャネル（PHICH）は、上りデータチャネル（PUSCH）に対するＡＣＫ／ＮＡＣＫ情報を伝送するチャネルである。

下りリンク制御チャネル（PDCCH）は、下りデータチャネル（PDSCH）、上りデータチャネル（PUSCH）の情報を示し、下りデータチャネル（PDSCH）は、ユーザ・データや上位レイヤの制御情報伝送に用いられる。

図３のＴａｂｌｅ２には、送信と受信を異なる周波数帯で行なうＦＤＤ方式におけるパワーブーストを行なう下りデータチャネル（PDSCH）の物理リソースブロック(周波数方向の単位：１リソースブロックは１２サブキャリアから構成される)の番号が記載されている。また、図４、図５のＴａｂｌｅ３は、送信と受信を同一周波数で時分割に行なうＴＤＤ方式における２フレーム分(Frame1, Frame2)のパワーブーストを行なう下りデータチャネル（PDSCH）の物理リソースブロックの番号が記載されている。

なお、他のテストモデルの用途と条件は以下の通りである。
（Ｅ−ＴＭ１．１）
用途基地局出力電力、不要輻射（占有周波数帯域幅、隣接チャネル漏洩電力、運用周波数帯不要輻射、送信機スプリアス発射）、送信機相互変調、基準信号絶対精度
条件変調方式ＱＰＳＫ、電力変動無し
（Ｅ−ＴＭ２）
用途トータル電力ダイナミックレンジ（最小電力における下側ＯＦＤＭシンボルの電力制限）、単一６４ＱＡＭＰＲＢ配置のエラーベクトル振幅ＥＶＭ（最小電力時）、周波数誤差（最小電力時）
条件変調方式６４ＱＡＭ：１％ＯＦＦ：９９％、電力変動６４ＱＡＭ：０ｄＢＯＦＦ：−∞
（Ｅ−ＴＭ３．１）
用途トータル電力ダイナミックレンジ（すべての６４ＱＡＭＰＲＢを配置したときの最大電力における上側ＯＦＤＭシンボルの電力制限）、送信信号品質（周波数誤差、６４ＱＡＭ変調のＥＶＭ）
条件変調方式６４ＱＡＭ、電力変動無し
（Ｅ−ＴＭ３．２）
用途送信信号品質（周波数誤差、１６ＱＡＭ変調のＥＶＭ）
条件変調方式１６ＱＡＭ：６０％ＱＰＳＫ：４０％、電力変動１６ＱＡＭ：−３ｄＢＱＰＳＫ：＋２．４２６ｄＢ
（Ｅ−ＴＭ３．３）
用途送信信号品質（周波数誤差、ＱＰＳＫ変調のＥＶＭ）
条件変調方式１６ＱＡＭ：５０％ＱＰＳＫ：５０％、電力変動ＱＰＳＫ：−６ｄＢ
１６ＱＡＭ：＋２．４２７ｄＢ

これらのテストモデルについても、６種類の帯域毎の信号生成用のパラメータが規定されており、それらを含め、パラメータファイル記憶手段２４には、６種類のテストモデルと１．４ＭＨｚ、３ＭＨｚ、５ＭＨｚ、１０ＭＨｚ、１５ＭＨｚ、２０ＭＨｚの６種類の帯域の組合せ分、即ち３６組のパラメータファイルＰＦ１〜ＰＦ３６が特定のファイル形式で記憶されている。

キャリア配置指定手段２５は、試験に用いる複数のＣＣの配置を指定するものであり、図６の（ａ）のように、一つの通信用割当周波数帯Ｂｉ内に複数（この例では３つ）のＣＣを連続的に配置するイントラバンド連続方式と、図６の（ｂ）のように、一つの通信用割当周波数帯Ｂｉ内に複数（この例では２つ）のＣＣを不連続に配置するイントラバンド不連続方式と、図６の（ｃ）のように、異なる通信用割当周波数帯Ｂｉ、Ｂｊに複数（この例では２つ）のＣＣを振り分けるインターバンド（不連続）方式とがあり、それらのいずれかを指定可能に表示し、操作部２２で指定操作させる。

このキャリア配置指定の際には、使用するＣＣの実際の周波数情報を決定する必要があるが、上記Ｒｅｌ１０の規格では、試験に使用する周波数帯が定義されている。

図７はその一部を示しており、運用バンドに１〜４３までの通し番号が付与され、それら各番号に対してＦＤＤ方式における送受信周波数範囲とＴＤＤ方式における送受信周波数範囲（この方式では送受信周波数は等しい）が決められており、試験者が例えばイントラバンド連続方式で、バンド番号１を指定すれば、その番号１の周波数範囲２１１０〜２１７０ＭＨｚ（基地局送信モード：ＢＳｔｒａｎｓｍｉｔ）内に指定されたチャンネル幅のＦＤＤ方式のＣＣを連続的に配置することになる。

また、試験者が例えばイントラバンド連続方式で、バンド番号４０を指定すれば、その番号４０の周波数範囲２３００〜２４００ＭＨｚ（基地局送信モード：ＢＳｔｒａｎｓｍｉｔ）内に指定されたチャンネル幅のＴＤＤ方式のＣＣを連続的に配置することになる。

また、試験者が例えばインターバンド方式で、バンド番号１、５を指定すれば、その番号１の周波数範囲２１１０〜２１７０ＭＨｚ（基地局送信モード：ＢＳｔｒａｎｓｍｉｔ）内と、番号５の周波数範囲８６９〜８９４ＭＨｚ（基地局送信モード：ＢＳｔｒａｎｓｍｉｔ）内にそれぞれＦＤＤ方式のＣＣを配置することになる。

なお、これら実際に配置するＣＣの中心周波数は、チャネル配置の方式とバンド番号が指定されると一義的に決まるようになっている。

パラメータファイル指定手段２６は、上記のチャンネル配置指定処理が終了した段階で、パラメータファイル記憶手段２４に記憶されているパラメータファイルを選択するための表示を行い、操作部２２に対する所定の操作でそのいずれかのパラメータファイルを指定させる。

実際には前記したように、パラメータファイルは６種類のテストモデルと６種類のチャネル帯域の組合せで特定されるので、ここでは、例えば、初めに図８のリスト（ａ）のように、６種類のテストモデルの一覧を表示部２１の画面に表示させ、その任意の一つを操作部２２の操作（カーソルキー操作やマウス等のポインティングデバイスの操作）で指定させ、その指定されたテストモデルに対して組合せる６種類のチャネル帯域のリスト（ｂ）を表示させ、そのいずれかを操作部２２の操作で指定させる。

パラメータ・周波数帯割当手段２７は、パラメータファイル指定手段２６によってパラメータファイルが特定された段階で、表示部２１に複数のＣＣのリストとそのうちの任意のものを選択するための表示と、選択したＣＣを配置する通信用割当周波数帯の種別を選択するための表示とを行い、操作部２３に対する操作で、前記指定されたパラメータファイルを割り当てるＣＣを指定させ、そのＣＣを配置する通信用割当周波数帯を指定させる。

この表示は、例えば図９のように、指定可能な５つのＣＣ名（ＣＣ＃０〜ＣＣ＃４）のリストとそれらを選択するためのチェックボックスを表示し、また、選択したＣＣを配置する通信用割当周波数帯の種別を表すバンドボタンＢＡＮＤ＃０、ＢＡＮＤ＃１を表示し、操作部２２の操作により、配置する通信用割当周波数帯に対応したバンドボタンをクリック操作させ、その通信用割当周波数帯に配置するＣＣにチェックマークを付けることで、図９のＯＫボタンを操作すれば、試験用の信号生成に必要なパラメータと周波数割当てが決まり、キャンセルボタンを操作すれば、チェックマークが消えて再度指定操作が行なえる。なお、図９は、バンドボタンＢＡＮＤ＃１に対応する通信用割当周波数帯に配置する３つのＣＣ＃０〜ＣＣ＃３に対して、前記指定されたパラメータファイルを割当てる例を示している。

このように、所望のパラメータファイルを指定した直後に、パラメータ・周波数帯割当手段２７によって、その所望パラメータファイルを割当てるためのＣＣをリスト表示して一括に選択できるようにしたから、操作者はＣＣを複数用いるＬＴＥ−Ａｄｖａｎｓｅｄ方式の信号生成に必要なパラメータ設定操作を極めて容易に行なえる。

このようにして試験用の信号生成に必要なパラメータが決まり、その情報を試験用信号生成部２９へ入力すると、試験用生成部２９は入力されたパラメータの情報にしたがって、各ＣＣの試験用信号を生成する。

ここで、試験用信号生成部２９は、試験に用いる複数のＣＣが一つの共通の通信用割当周波数帯に配置されるイントラバンド方式が指定された場合は、それらＣＣについての信号に周波数オフセットを与えて合成する。これによって、以後は一つの通信用割当周波数帯に対応した送信系で対処できる。

一方、試験に用いる複数のＣＣが異なる通信用割当周波数帯に配置されるインターバンド方式が指定された場合は、異なる通信用割当周波数帯の周波数差が大きい（例えば８００ＭＨｚ帯と１２００ＭＨｚ帯では４００ＭＨｚの差となる）のでそれに等しい周波数オフセットを与えて合成することは困難であり、また、たとえ合成できても、一つの通信用割当周波数帯に対応した送信系で対処することはできない。

したがって、このインターバンド方式に対処できるように、試験用信号生成部２９は、異なる通信用割当周波数帯に用いる信号をそれぞれ独立に生成できるように信号生成のための処理部を複数系統（図１では２系統としている）有しており、イントラバンド方式が指定された場合には、一系統の信号処理部で周波数オフセットを与えて合成した信号（例えば信号Ａ）を出力し、インターバンド方式が指定された場合には、２系統の信号処理部を用いて各通信用割当周波数帯用のベースバンドの信号Ａ、Ｂを生成することになる。

この試験用信号生成部２９で生成された試験信号は、ベースバンドの所定フレーム分のＩ、Ｑ信号データ（波形データ）であり、この信号データをＲＦ信号変換装置３０に与えることで、実際に通信に用いる周波数帯に変換された試験信号が試験対象１に入力されて、それに対する試験が行なえる。なお、例えば試験対象１が基地局の場合、各テストモデルに対応した試験信号を受けた基地局自身が有しているエラー測定機能等を利用して、その測定結果が規格を満たしているか否かを把握する。

ここで、ＲＦ信号変換装置３０は、Ｉ、Ｑ信号データによる直交変調および周波数変換処理を行うが、前記したように、試験用信号生成部２９から複数系統で出力されるＩ、Ｑ信号データに対処できるように、直交変調処理および周波数変換処理を行なう信号処理部を複数系統（図では２系統とする）有している。

そして、イントラバンド方式の場合には、一系統の信号処理部で指定された通信用割当周波数帯（例えば２０００ＭＨｚ帯）内で複数のＣＣ分の試験信号（例えばＲＦａ）を生成出力し、インターバンド方式の場合には、２系統の信号処理部を用いて各通信用割当周波数帯（例えば２０００ＭＨｚ帯と３５００ＭＨｚ帯）の信号（例えばＲＦａ、ＲＦｂ）を生成出力することになる。これら生成出力された信号ＲＦａ、ＲＦｂは、広帯域な信号合成器３１で合成されて、試験対象１に例えば同軸ケーブルを介して入力される。

また、測定の種類によっては、生成出力された信号ＲＦａ、ＲＦｂをそれぞれの信号帯域に応じたアンテナから放射して試験対象に与える場合もある。

なお、ＴＤＤ方式が用いる周波数帯のうち３５００ＭＨｚ帯は、ＦＤＤ方式が用いている周波数帯から離れているので、ＴＤＤ方式とＦＤＤ方式の両方に対応するためには、少なくとも８００ＭＨｚ帯、１９００ＭＨｚ帯、３５００ＭＨｚ帯の信号処理が必要となり、それら３つの周波数帯に応じて、試験信号生成部２９とＲＦ信号変換装置３０の信号処理系統数を３つ以上設ける必要がある。ただし、試験の規格、インターバンド方式で組合せられるバンド数が２つに限定されている場合には、３つ以上の信号処理系統のうちの二つを作動させればよい。

また、ここでは、試験用信号を試験対象１（この例では基地局）に与えて試験を行なう場合について説明しているが、実際の試験では、この試験信号に対する試験対象１の応答を調べて、その試験対象１の動作を把握する必要がある。この動作確認には、前記したように、試験対象１が有するエラー測定機能を利用する方法や、試験対象１が送信する電波を受信解析する方法や、試験対象１の内部信号を解析する方法等がある。

上記説明では、試験用信号装置２０で生成したベースバンドの信号データを、ＲＦ信号変換装置３０に与えるシステムについて説明したが、このシステムの実際の装置形態や信号データの与え方は任意である。

即ち、試験用信号生成装置２０の機能とＲＦ信号変換装置３０の機能とを一つの筐体内に収容して一体化した構成、あるいはそれぞれが別体の構成にしてもよい。また、試験用信号生成装置２０で生成したベースバンドの信号データを、通信インターフェースを介してＲＦ信号変換装置３０に与える方式、試験用信号生成装置２０で生成したベースバンドの信号データを各種記憶媒体（ハードディスク、ＳＤメモリカードやＵＳＢメモリ等の不揮発性半導体メモリ、ＣＤ、ＤＶＤ等のディスク）に記憶しておき、ＲＦ信号変換装置３０がそれらの記憶媒体から信号データを読み出して前記した直交変調処理と周波数変換処理を行なう方式も実現できる。

また、試験用信号生成装置２０の各手段が表示部２１に行なう表示や操作部２２による指定操作方式についても上記例に限定されるものではなく、表示形態、指定操作形態は任意である。

また、前記実施形態では、試験対象１がＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式に対応した基地局で、それを試験する為に規定されたテストモデルと帯域幅によって決まるパラメータファイルを選択して、指定されたＣＣに割り当てる例について説明したが、本発明の試験対象１は基地局だけでなく、ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式に対応した携帯端末本体、あるいは基地局や携帯端末に用いられるＲＦデバイスであってもよく、その場合には、その試験対象に対して規定されたパラメータファイルを記憶しておいて、指定のＣＣに割当てればよい。

１……試験対象、２０……試験用信号生成装置、２１……表示部、２２……操作部、２３……パラメータ設定部、２４……パラメータファイル記憶手段、２５……キャリア配置指定手段、２６……パラメータファイル指定手段、２７……パラメータ・周波数帯割当手段、２９……試験用信号生成部、３０……ＲＦ信号変換装置、３１……信号合成器

Claims

表示部（２１）と、
操作部（２２）と、
ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式に対応した基地局、携帯端末あるいはそれらに用いられるＲＦデバイスを試験対象とし、該試験対象の動作を試験するために用いる複数のコンポーネントキャリアに対してそれぞれ割当可能な試験用信号生成用のパラメータファイルを予め記憶するパラメータファイル記憶手段（２４）と、
前記表示部にイントラバンド方式、インターバンド方式のいずれかを選択するための表示を行ない、前記操作部に対する操作でいずれかの方式を指定させるキャリア配置指定手段（２５）と、
前記表示部に前記パラメータファイル記憶手段に記憶されているパラメータファイルを選択するための表示を行い、前記操作部に対する操作でいずれかのパラメータファイルを指定させるパラメータファイル指定手段（２６）と、
前記パラメータファイル指定手段によってパラメータファイルが指定された段階で、前記表示部に前記複数のコンポーネントキャリアのリストとその任意のものを指定するための表示と、前記リストに表示されたコンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯の種別を選択するための表示とを行い、前記操作部に対する操作で、前記指定されたパラメータファイルを割り当てるコンポーネントキャリアを指定させ、該コンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯を指定させるパラメータ・周波数帯割当手段（２７）と、
前記キャリア配置指定手段および前記パラメータ・周波数帯割当手段によって指定された情報にしたがって、前記指定された通信用割当周波数帯のコンポーネントキャリア毎の試験用信号を生成する試験用信号生成部（２９）とを備えたことを特徴とするＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号生成装置。
表示部（２１）と、
操作部（２２）と、
ＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式に対応した基地局、携帯端末あるいはそれらに用いられるＲＦデバイスを試験対象とし、該試験対象の動作を試験するために用いる複数のコンポーネントキャリアに対してそれぞれ割当可能な試験用信号生成用のパラメータファイルを予め記憶するパラメータファイル記憶手段（２４）とを有する試験用信号生成装置による試験用信号生成方法であって、
前記表示部に前記複数のコンポーネントキャリアのキャリア配置としてイントラバンド方式、インターバンド方式のいずれかを選択するための表示を行ない、試験者による前記操作部の操作でいずれかの方式を指定させる段階と、
前記表示部に前記パラメータファイル記憶手段に記憶されている試験用信号生成用のパラメータファイルを選択するための表示を行い、試験者による前記操作部の操作でそのいずれかを指定させる段階と、
前記表示部に前記複数のコンポーネントキャリアのリストとその任意のものを指定するための表示と、前記リストに表示されたコンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯の種別を選択するための表示とを行い、試験者による前記操作部の操作で指定されたパラメータファイルを割り当てるコンポーネントキャリアと、該コンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯を指定させる段階と、
試験者による前記操作部の操作で前記キャリア配置として指定された方式、前記コンポーネントキャリアに割り当てられたパラメータファイル、および該コンポーネントキャリアを配置する通信用割当周波数帯の情報にしたがって、前記指定された通信用割当周波数帯のコンポーネントキャリア毎の試験用信号を生成する段階と含むことを特徴とするＬＴＥ−Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号生成方法。