JP5717282B2 - 電圧検出装置及び暗電流バラツキ低減方法 - Google Patents

電圧検出装置及び暗電流バラツキ低減方法 Download PDF

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Description

本発明は、直列に接続された複数のセルが含まれるように複数のブロックに分けられ、ブロック毎にセル電圧を検出する電圧検出装置及び暗電流バラツキ低減方法に関する。
従来、2次電池からなる単位セルを複数個直列に接続した組電池(電池モジュール)は数セル毎にブロックに分けられており、電圧検出装置にはブロック毎にセル電圧を検出する複数の電圧検出ユニットが備わっている(図1参照)。
図8は従来の電圧検出ユニットの構成を示す図である。電圧検出ユニット100は、2次電池からなるブロック150に接続され、このブロック150から電源ライン155を介して電源が供給される高圧側回路110、およびイグニッションスイッチ141に接続され、このイグニッションスイッチ141を介して電源が供給される低圧側回路120から構成される。
高圧側回路110には、電圧検出回路111、5V電源回路112、ロジック回路113および絶縁通信IC114が設けられている。低圧側回路120には、5V電源回路121、CPU122、インタフェース(I/F)123が設けられている。
イグニッションスイッチ141のオン時、低圧側回路120では、5V電源回路121によって駆動されるCPU122が絶縁通信IC114を介してブロック150内の各セル電圧の検出を指示する。高圧側回路110では、この指示に従って、電圧検出回路111がブロック150内の各セルの電圧を検出する。
また、イグニッションスイッチ141がオフとなって電源が遮断された場合、低圧側回路120では、イグニッションスイッチ141を通じて流れる電流(暗電流)は値0となる。同時に、高圧側回路110もスリープ状態に移行する。
この種の従来技術として、特許文献1には、電圧低下率が大きい二次電池は暗電流が小さいセルコントロール回路に接続され、電圧低下率が小さい二次電池は暗電流が大きいセルコントロール回路に接続され、各二次電池の電圧低下率をセルコントローラ回路の暗電流による電圧低下率で吸収してバラツキを小さくすることが示されている。
また、特許文献2には、差動アンプのグループ毎に互いに絶縁された状態で電源入力端子と接地端子との間に制御電源を接続することで、暗電流のばらつきを小さくすることが示されている。
また、特許文献3には、セル監視ICチップと制御ICチップとを対として1つの単位電池セルを制御することが示されている。
特開2002−199601号公報 特開平11−113182号公報 特開2008−148553号公報
しかしながら、上記従来の電圧検出装置には、つぎのような問題があった。前述したように、イグニッションスイッチがオフになった場合、高圧側回路もスリープ状態に移行する。このとき、高圧側回路内の各素子のリーク電流や一部の回路の動作電流のため、僅かではあるが、2次電池から電流(暗電流)が流れる。この暗電流は、電圧検出ユニット毎に異なるので、長時間スリープ状態が継続した場合、2次電池のブロック毎の電圧にバラツキが生じてしまう。
本発明は、上記従来の事情に鑑みなされたものであって、電圧検出ユニット毎の暗電流のバラツキが低減され、長時間スリープ状態が継続した場合でも、ブロック毎の電圧のバラツキを小さく抑えることができる電圧検出装置及び暗電流バラツキ低減方法を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に記載の電圧検出装置は、直列に接続された複数のセルが含まれるように複数のブロックに分けられ、前記ブロック毎にセル電圧を検出する電圧検出装置であって、前記複数のブロックにそれぞれ接続された電源ラインを介して電力が供給され、当該複数のブロック内のセル電圧をそれぞれ検出する複数の電圧検出手段を備え、前記複数の電圧検出手段には、それぞれ前記電源ラインを通じて流れる暗電流が同じ目標値になるように、前記暗電流を増加させる複数の電流増加手段が設けられたことを特徴とする。
これにより、電圧検出手段毎の暗電流のバラツキが低減され、長時間スリープ状態が継続した場合でも、ブロック毎の電圧のバラツキを小さく抑えることができる。
さらに、前記電圧検出手段は定電圧電源回路を有し、前記電流増加手段は、前記定電圧電源回路の出力に一端が接続され、他端が所定の電位に保持された抵抗器であることを特徴とする。
これにより、ブロックの電圧が変動しても、暗電流調整用抵抗器に流れる暗電流の値が一定となって安定する。
請求項に記載の電圧検出装置では、請求項の構成に加え、前記抵抗器は抵抗値が可変自在な可変抵抗器であることを特徴とする。
これにより、暗電流の調整作業が簡単になる。
請求項に記載の電圧検出装置は、請求項1または2の構成に加え、前記複数の電圧検出手段に流れる暗電流を調整する暗電流調整手段を備え、前記暗電流調整手段は、前記複数の電圧検出手段に流れる暗電流をそれぞれ検出する複数の電流検出手段と、前記複数の電流検出手段によって検出された複数の暗電流をもとに、前記目標値を設定する目標値設定手段と、前記複数の電圧検出手段に流れる暗電流がそれぞれ前記設定された目標値になるように、前記電流増加手段を制御する電流制御手段とを備えたことを特徴とする。
これにより、人手を煩わすことなく、自動で任意のときに暗電流を調整することができ、ブロック毎の電圧のバラツキが容易に抑えられる。
請求項に記載の電圧検出装置では、請求項1〜3のいずれかの構成に加え、前記目標値は、前記電流増加手段を設けない場合における前記暗電流の最大値もしくは当該最大値を越える値に設定されたことを特徴とする。
これにより、確実に各電圧検出手段の暗電流を同じ目標値に揃えることができる。
本発明によれば、複数の電圧検出手段には、それぞれ電源ラインを通じて流れる暗電流が同じ目標値になるように、暗電流を増加させる複数の電流増加手段が設けられているので、電圧検出手段毎の暗電流のバラツキが低減され、長時間スリープ状態が継続した場合でも、ブロック毎の電圧のバラツキを小さく抑えることができる。
図1は第1の実施形態における電圧検出装置の構成を示す図である。 図2は電圧検出ユニットの構成を示す図である。 図3は高圧側回路がスリープ状態に移行した場合にブロックから暗電流が流れる電圧検出ユニットの等価回路を示す図である。 図4は各電圧検出ユニットに対応する暗電流の大きさを示すグラフである。 図5は第2の実施形態における電圧検出ユニットの構成を示す図である。 図6は第3の実施形態における電圧検出装置の構成を示す図である。 図7は暗電流調整装置における暗電流の調整動作を示すフローチャートである。 図8は従来の電圧検出ユニットの構成を示す図である。
本発明の実施形態の電圧検出装置及び暗電流バラツキ低減方法について図面を参照しながら説明する。
(第1の実施形態)
図1は第1の実施形態における電圧検出装置の構成を示す図である。
電池モジュール5は、2次電池からなる単位セルが複数個(図1ではセル1〜セルmのm個)直列に接続されたセルブロック50の複数個(図1ではブロック1〜ブロックnのn個)から成る集合体である。
電圧検出装置1は、複数のセルブロック50にそれぞれ対応する複数の電圧検出ユニット10を有する。電圧検出ユニット10は、ブロック50内の各セル51の電圧(セル電圧)を個々に検出する。なお、図1の第1の実施形態では、各ブロック50のセルが同数のm個含まれるようにしているが、各ブロック50のセル数が異なっても、もちろん本発明は成立する。
図2は電圧検出ユニットの構成を示す図である。電圧検出ユニット10は、ブロック50に接続され、このブロック50から電源ライン55を介して電力が供給される高圧側回路20、およびイグニッションスイッチ41に接続され、このイグニッション41を介して電源から電力が供給される低圧側回路30から構成される。
高圧側回路20には、電圧検出回路21、5V電源回路22、ロジック回路23および絶縁通信IC24が設けられている。低圧側回路30には、5V電源回路31、CPU32、インタフェース(I/F)33が設けられている。高圧側回路20および低圧側回路30間の通信は絶縁通信IC24を通じて行われる。
また、高圧側回路20には、ブロック50から高圧側回路20に接続される電源ライン55に一端が接続され、他端が接地された暗電流調整用抵抗器25が設けられている。暗電流調整用抵抗器25(電流増加手段)は、後述するように、電圧検出ユニット10の暗電流、つまりブロック50から高圧側回路20に流れる暗電流を調整する(増加させる)ものであり、本実施形態では抵抗値が一定の固定抵抗器からなる。
なお、この暗電流調整用抵抗器は、高圧側回路20に交換自在に取り付けられてもよいし、固着されてもよい。
また、固定抵抗器の代わりに、作業者によって抵抗値が可変自在な半固定抵抗器を設けてもよい。
イグニッションスイッチ41のオン時、低圧側回路30では、5V電源回路31によって駆動されるCPU32が絶縁通信IC24を介して高圧側回路20側にブロック50内の各セルの電圧を検出するように指示する。高圧側回路20では、この指示に従って、電圧検出回路21がブロック内の各セルの電圧を検出する。
電圧検出回路21は、複数のセルにそれぞれ接続された複数のA/D変換器(図示せず)を有し、各A/D変換器によって変換されたセル電圧をデジタル値に変換して出力する。電圧検出回路21から出力されるセル電圧は、ロジック回路23および絶縁通信IC24を介してCPU32によって読み出され、インタフェース33を通じて外部に出力される。
一方、イグニッションスイッチ41がオフとなり、低圧側回路30への電源が遮断された場合、低圧側回路30では、イグニッションスイッチ41を通じて電流が流れなくなり、暗電流は値0となる。低圧側回路30がスリープ状態になると、高圧側回路20もスリープ状態に移行する。
図3は高圧側回路がスリープ状態に移行した場合にブロックから暗電流が流れる電圧検出ユニットの等価回路を示す図である。ここで、Rは暗電流調整用抵抗器25を除く電圧検出ユニット10の直流抵抗を表し、rは暗電流調整用抵抗器25の抵抗を表す。電圧検出ユニット10では、スリープ状態にある時、ブロック50から並列に接続された直流抵抗Rおよび抵抗rを通じて暗電流ibが流れる。直流抵抗Rを流れる電流は電流検出ユニット毎にばらつくが、抵抗rの値を変えることで、直流抵抗Rを流れる電流および抵抗rを流れる電流を合算した暗電流ibを一定にすることは可能である。
つぎに、電圧検出ユニット10内に取り付けられる暗電流調整用抵抗器25の設定を示す。図4は各電圧検出ユニットに対応する暗電流の大きさを示すグラフである。暗電流調整用抵抗器25を設けない場合、図4(A)に示すように、各電圧検出ユニット10(ユニット1、2…n)に流れる暗電流には、バラツキが見られる。
本実施形態では、図4(B)に示すように、暗電流の目標値を、図4(A)に示す暗電流の最大値より少し高め値に設定する。すなわち、電圧検出ユニット10(1、2…n)毎に、暗電流の増加(図中、斜線a)に見合った分、余計に暗電流が流れるように、暗電流調整用抵抗器25の抵抗値は異なる値に設定される。これにより、全ての電圧検出ユニット10(1、2…n)において、暗電流値は等しくなる。なお、ここでは、暗電流の目標値を、暗電流の最大値が多少変動しても変わらないように最大値より少し高めの値に設定したが、最大値に揃えてもよい。
このように、第1の実施形態の電圧検出装置によれば、高圧側回路20で暗電流の絶対値が少し大きくなるが、全ての電圧検出ユニット10で暗電流の値が等しく揃うようになる。これにより、電圧検出ユニット毎の暗電流のバラツキが低減され、長時間スリープ状態が継続した場合でも、ブロック毎の電圧のバラツキを小さく抑えることができる。
また、電圧検出ユニット1〜nを構成する電圧検出ユニット群の温度変動またはセルの変動に対して、各ユニット間の相対的な暗電流のバラツキを小さく抑えることができる。
また、暗電流調整用抵抗器として、ブロックの一方に接続された電源ラインに一端が接続され、他端が当該ブロックの他方と同一の電位に保持される抵抗器が用いられるので、簡単に暗電流を増加させることができる。また、暗電流調整用抵抗器は、抵抗値が可変自在な可変抵抗器である場合、暗電流の調整作業が簡単になる。また、目標値は、暗電流調整用抵抗器を設けない場合における暗電流の最大値もしくは当該最大値を越える値に設定されるので、確実に各電圧検出ユニットの暗電流を同じ目標値に揃えることができる。
(第2の実施形態)
前記第1の実施形態では、暗電流調整用抵抗器はブロックの電源ラインに接続されたが、第2の実施形態では、5V電源回路(定電圧電源回路)の出力ラインに接続される場合を示す。
図5は第2の実施形態における電圧検出ユニット10の構成を示す図である。前記第1の実施形態と同一の構成要素は同一の符号を付すことによりその説明を省略する。第2の実施形態では、前述したように、暗電流調整用抵抗器45は、5V電源回路22の出力ライン26に一端が接続され、他端が接地されて所定の電位(GND)に保持されたものである。なお、暗電流調整用抵抗器45が交換自在に設けられてもよいこと、固定抵抗器あるいは半固定抵抗器でもよいことは、前記第1の実施形態と同様である。
この場合、暗電流調整用抵抗器45には、5Vの定電圧が印加されるので、定電流つまり一定の暗電流が流れることになる。
第2の実施形態の電圧検出装置によれば、各ブロックの電圧の変動によらず、暗電流調整用抵抗器に流れる暗電流の値が一定となって安定する。
(第3の実施形態)
前記第1および第2の実施形態では、工場出荷時やメンテナンス時、例えば作業者が暗電流調整用抵抗器による暗電流の調整を行う場合を示したが、第3の実施形態では、任意のときに自動で暗電流の調整を行う場合を示す。第3の実施形態では、前記第1、第2の実施形態と比べ、電流測定部および暗電流調整装置が付加される。また、暗電流調整用抵抗器の種類が異なる。
図6は第3の実施形態における電圧検出装置の構成を示す図である。ここで、電圧検出ユニットをブロックごとに区別する場合には、添え字A、B、Cを付して電圧検出ユニット10A、10B、10Cとし、特に区別する必要がない場合、電圧検出ユニット10と総称する。このことは他の構成要素においても同様である。また、前記第1の実施形態と同一の構成要素については、同一の符号を付すことによりその説明を省略する。また、図中、説明を分かり易くするために、低圧側回路など一部の構成は省略されている。
各ブロック50から各電圧検出ユニット10に接続される電源ライン55(55A、55B、55C)には、暗電流を測定可能な電流測定部90(90A、90B、90C)が設けられている。
電流測定部90は、電源ライン55の間にそれぞれ並列に介在された電流計91およびスイッチ92から構成される。この電流測定部90において、スイッチ92がオン状態にある場合、ブロック50からの電源ライン55は直接に電圧検出ユニット10に接続される。一方、スイッチ92がオフ状態にある場合、ブロック50からの電源ライン55は電流計91を介して電圧検出ユニット10に接続され、暗電流の測定が可能となる。この電流測定部90は暗電流調整装置80に接続されている。
暗電流調整装置80は、電流測定部90から暗電流の値を入力する入力部84、各電圧検出ユニット10における暗電流の値から目標値を設定する制御部85、および後述する暗電流調整用抵抗器96に対し抵抗値を可変させる信号を出力する出力部86から構成される。制御部85は、周知のCPU、ROM、RAMなどを内蔵する。
電圧検出ユニット10の高圧側回路20には、電源ライン55に一端が接続され、他端が接地された暗電流調整用抵抗器96が設けられている。この暗電流調整用抵抗器96には、暗電流調整装置80からの信号に従って抵抗値が可変自在な電圧制御型可変抵抗器やデジタルポテンショメータが用いられる。
図7は暗電流調整装置80における暗電流の調整動作を示すフローチャートである。この動作プログラムは暗電流調整装置80の制御部85内のROMに格納されており、CPUによって実行される。なお、この動作はイグニッションスイッチ41がオフで暗電流の測定が可能な状態で行われるものとする。
まず、暗電流調整装置80は、電圧検出ユニット10Aの暗電流の値を計測する(ステップS1)。この計測に際し、暗電流調整装置80は、スイッチ92Aをオンからオフに切り替え、電流計91Aで計測される電流値を入力部84を介して取得する。
暗電流調整装置80は、全ての電圧検出ユニット10の暗電流値の計測が済んだか否かを判別する(ステップS2)。全ての電圧検出ユニット10の暗電流値の計測が済んでいない場合、暗電流調整装置80は、ステップS1の処理に戻り、次の電圧検出ユニット10Bの暗電流値の計測を行う。
一方、全ての電圧検出ユニット10の暗電流の値の計測が済んだ場合、暗電流調整装置80は、暗電流の目標値を設定する(ステップS3)。ステップS3の処理は目標値設定手段に相当する。この目標値の設定に際し、暗電流調整装置80は、全ての電圧検出ユニット10の暗電流値の中から、最大値を選び、これに値αを加えた値を暗電流の目標値に設定する。この値αは、暗電流の最大値が変動しても全ての暗電流を目標値に揃えられるような、暗電流の最大値に比べて小さな値であることが望ましい。なお、値αは値0であってもよい。
暗電流調整装置80は、電圧検出ユニット10A、10B、10C毎に、この目標値になるような信号を出力部86を介して出力する(ステップS4)。この信号を受けて暗電流調整用抵抗器96A、96B、96Cの抵抗値は変化し、各電圧検出ユニット10A、10B、10Cの暗電流の値は目標値に揃えられる。ステップS4の処理は電流制御手段に相当する。この後、暗電流調整装置80は本動作を終了する。したがって、定期的あるいは任意のときに計測される個々の電圧検出ユニットの暗電流の値が時間の経過とともに変動したとしても、その都度、設定される目標値に暗電流の値は変化する。
第3の実施形態の電圧検出装置によれば、暗電流調整装置を用いて、各ブロックから電力が供給される電圧検出ユニットの暗電流の値を一定に揃えることができる。これにより、人手を煩わすことなく、自動で任意のときに暗電流を調整することで、電圧検出ユニット毎の暗電流のバラツキが低減される。従って、長時間スリープ状態が継続した場合でも、ブロック毎の電圧のバラツキを小さく抑えることができる。
なお、本発明は、上記実施形態の構成に限られるものではなく、特許請求の範囲で示した機能、または本実施形態の構成が持つ機能が達成できる構成であればどのようなものであっても適用可能である。
例えば、第3の実施形態では、前記第1の実施形態と同様、暗電流調整用抵抗器はブロックからの電源ラインに接続されていたが、第2の実施形態と同様、5V電源回路の出力ラインに接続されてもよい。これにより、暗電流調整用抵抗器には、定電流が流れて暗電流の値が一定となって安定する。
また、第3の実施形態の暗電流調整装置は、工場出荷時あるいはメンテナンス時に、電圧検出装置に取り付けられ、暗電流の調整が行われた後、取り外されるようにしてもよい。
また、上記実施形態では、電流増加手段として、電源ラインに抵抗器が接続された場合を示したが、抵抗器の代わりに、定電流ダイオード等の定電流源が接続されてもよく、暗電流を安定させることができる。
また、上記実施形態では、直列に接続された複数のセルが含まれるように分けられたブロック毎に電圧検出を行う場合を示したが、1個つまり単位セルごとに電圧検出を行う場合にも、同様に本発明は適用可能である。
また、上記実施形態では、複数の電圧検出ユニットにおいて、抵抗器は全て同じように接続されていたが、一部の電圧検出ユニットの抵抗器は電源ラインに接続され、その他の電圧検出ユニットの抵抗器は5V電源回路に接続されるように、抵抗器の接続形態を混在させてもよい。
本発明は、直列に接続された複数のセルが含まれるように複数のブロックに分けられ、ブロック毎にセル電圧を検出する際、電圧検出ユニットのスリープ状態が長時間継続した場合でも、ブロック毎の電圧のバラツキを小さく抑えることができ、有用である。
1 電圧検出装置、
5 電池モジュール
10 電圧検出ユニット
20 高圧側回路
21 電圧検出回路
22 5V電源回路
23 ロジック回路
24 絶縁通信IC
25 暗電流調整用抵抗器
30 低圧側回路
31 5V電源回路
32 CPU
33 インタフェース(I/F)
45 暗電流調整用抵抗器
50 ブロック
51 セル
55 電源ライン
80 暗電流調整装置
84 入力部
85 制御部
86 出力部
90 電流測定部
91 電流計
92 スイッチ
96 暗電流調整用抵抗器

Claims (4)

  1. 直列に接続された複数のセルが含まれるように複数のブロックに分けられ、前記ブロック毎にセル電圧を検出する電圧検出装置であって、前記複数のブロックにそれぞれ接続された電源ラインを介して電力が供給され、当該複数のブロック内のセル電圧をそれぞれ検出する複数の電圧検出手段を備え、前記複数の電圧検出手段には、それぞれ前記電源ラインを通じて流れる暗電流が同じ目標値になるように、前記暗電流を増加させる複数の電流増加手段が設けられた電圧検出装置において、
    前記電圧検出手段は定電圧電源回路を有し、
    前記電流増加手段は、前記定電圧電源回路の出力に一端が接続され、他端が所定の電位に保持された抵抗器であることを特徴とする電圧検出装置。
  2. 前記抵抗器は抵抗値が可変自在な可変抵抗器であることを特徴とする請求項記載の電圧検出装置。
  3. 前記複数の電圧検出手段に流れる暗電流を調整する暗電流調整手段を備え、
    前記暗電流調整手段は、前記複数の電圧検出手段に流れる暗電流をそれぞれ検出する複数の電流検出手段と、前記複数の電流検出手段によって検出された複数の暗電流をもとに、前記目標値を設定する目標値設定手段と、前記複数の電圧検出手段に流れる暗電流がそれぞれ前記設定された目標値になるように、前記電流増加手段を制御する電流制御手段とを備えたことを特徴とする請求項1または2記載の電圧検出装置。
  4. 前記目標値は、前記電流増加手段を設けない場合における前記暗電流の最大値もしくは当該最大値を越える値に設定されたことを特徴とする請求項1〜のいずれか1項記載の電圧検出装置。
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