JP5686403B2 - 有機半導体薄膜の製造方法 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 57
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 239000000976 ink Substances 0.000 claims description 63
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 26
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 19
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 17
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Substances ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- FMZQNTNMBORAJM-UHFFFAOYSA-N tri(propan-2-yl)-[2-[13-[2-tri(propan-2-yl)silylethynyl]pentacen-6-yl]ethynyl]silane Chemical compound C1=CC=C2C=C3C(C#C[Si](C(C)C)(C(C)C)C(C)C)=C(C=C4C(C=CC=C4)=C4)C4=C(C#C[Si](C(C)C)(C(C)C)C(C)C)C3=CC2=C1 FMZQNTNMBORAJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 10
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical group CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 4
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 4
- MVPPADPHJFYWMZ-IDEBNGHGSA-N chlorobenzene Chemical group Cl[13C]1=[13CH][13CH]=[13CH][13CH]=[13CH]1 MVPPADPHJFYWMZ-IDEBNGHGSA-N 0.000 claims 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 25
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 6
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 5
- 238000007579 double shot method Methods 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 238000000935 solvent evaporation Methods 0.000 description 2
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005660 hydrophilic surface Effects 0.000 description 1
- 230000005661 hydrophobic surface Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- SLIUAWYAILUBJU-UHFFFAOYSA-N pentacene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC4=CC5=CC=CC=C5C=C4C=C3C=C21 SLIUAWYAILUBJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229920003251 poly(α-methylstyrene) Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
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- Inks, Pencil-Leads, Or Crayons (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Description
また、異なる有機溶媒を混合することにより液滴内部の対流を制御し、有機半導体層の膜厚の均一性を向上させる試みが報告されている(非特許文献2参照)。しかしながら、低分子系の有機半導体に伝導性とは関係のないポリマーを混合することで特性が劣化することや、滴下して得た膜形成全体の制御性や均一性などの観点からは、十分とは言えない。
(1)有機半導体に親和性の高い有機溶媒に該有機半導体を高濃度に溶解して得た第1のインクと、該有機半導体に親和性の低い有機溶媒からなる第2のインクを用意する工程と、該第1及び第2のインクを基板上で混合する工程とを含む有機半導体薄膜の製造方法。
(2)上記第1及び第2のインクは、基板上に各インクヘッドから同時又は交互に吐出させることを特徴とする(1)に記載の有機半導体薄膜の製造方法。
(3)上記有機半導体は、TIPSペンタセンであることを特徴とする(1)又は(2)に記載の有機半導体薄膜の製造方法。
有機半導体層を構成する有機材料として、有機薄膜トランジスタの形成が報告されている6,13-ビストリイソプロピルシリルチニルペンタセン(以下、「TIPSペンタセン」と略称する)を用いた実施例について説明する。
TIPSペンタセンを高濃度に溶解させる溶媒としてクロロベンゼン(CB)を使用し、またTIPSペンタセンをほとんど溶解しない溶媒としてN,N-ジメチルホルムアミド(DMF)を用意し、個別に吐出可能な2基のインクジェットヘッドを持つインクジェット装置を使用してTIPSペンタセン薄膜を作製した。
原料であるTIPSペンタセン、CB、及びDMFは、いずれも安価に入手可能である。TIPSペンタセンは、再結晶法によって精製したものを用いた。
またインクジェット法により着滴させた液滴を一定の領域内に画定するため、基板表面に親水処理と疎水処理によるパターニングを施したものを用いることが有用である。
パターニングは、まず、シリコン酸化膜上の全面をガス状のヘキサメチルジシラザン(HMDS)に一昼夜曝露することにより疎水化した後、マスクパターンを貼り合せた状態でUV/オゾン処理を施し、基板表面のマスクされていない表面部位を選択的に親水化することにより行った。
得られた基板表面は、例えばCBについては親水表面部位上で接触角は2度以下である一方、疎水表面部位上では接触角は35度となり、これにより液滴を親水パターン内に閉じ込めることが可能である。
このAインクとBインクは予め形成した200μm×800μmの長方形の親水領域内で混合後に、まず有機半導体層が数秒後に析出し、その後数分で溶媒が全て蒸発して乾燥し、厚さが260nm程度の有機半導体薄膜が形成された。その膜厚プロファイルは、図2(b)に示すように、Bインクを用いずにAインクのみをシングルショット法により着滴・乾燥させて得た膜厚プロファイル(図2(a))と比べ、全ての領域に渡たって膜厚が均一であった。
図3(b)、(c)から、本発明に係るダブルショット法によれば、結晶性の高い有機半導体薄膜が得られていることが分かる。
例えば有機半導体としては、TIPSペンタセンに関する結果について例示したが、これ以外の有機半導体であって、ある種の有機溶媒への高い溶解性と別の種類の有機溶媒にほとんど溶解しない性質を有するものでもよい。またアルキル基、又はそれと同等の置換基によって置換することにより、ある種の有機溶媒への溶解度を選択的に向上させた有機分子としてもよい。
例えば、溶液の塗布装置としては、インクジェット装置の場合について例示したが、ディスペンサーによって2液を塗布してもよい。
また実施例ではAインクを滴下した後にBインクを滴下したが、Bインクを滴下した後にAインクを滴下した場合、あるいは同時に滴下した場合も同様の結果が得られる。
2 有機半導体を溶かさない有機溶媒によるインク(Bインク)用ヘッド
3 Aインク用ヘッドの開口部
4 Bインク用ヘッドの開口部
5 飛翔するAインクの液滴
6 飛翔するBインクの液滴
7 表面に親水処理を施した基板表面部位
8 表面に疎水処理を施した基板表面部位
9 基板表面に着滴後、親水処理を施した基板表面部位に貯まったインク
10 基板
Claims (3)
- 有機半導体に親和性の高い有機溶媒に該有機半導体を高濃度に溶解して得た第1のインクと、該有機半導体に親和性の低い有機溶媒からなる第2のインクを用意する工程と、基板表面に親水処理と疎水処理によるパターニングを施す工程と、該基板上に各インクヘッドから該第1及び第2のインクをそれぞれ吐出させ、該第1及び第2のインクを該基板上で混合する工程と、混合した液滴中において有機半導体層が析出した後、液滴中の溶媒を蒸発させることにより有機半導体膜を形成する工程とを含むインクジェット式装置を用いる有機半導体薄膜の製造方法。
- 上記第1及び第2のインクは、基板上に各インクヘッドから同時又は交互に吐出させることを特徴とする請求項1に記載の有機半導体薄膜の製造方法。
- 上記有機半導体は、TIPSペンタセンであり、
上記有機半導体に親和性の高い有機溶媒は、クロロベンゼンであり、
上記有機半導体に親和性の低い有機溶媒は、N,N−ジメチルホルムアミドであることを特徴とする請求項1又は2に記載の有機半導体薄膜の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010182945A JP5686403B2 (ja) | 2010-08-18 | 2010-08-18 | 有機半導体薄膜の製造方法 |
EP11818118.9A EP2608251A4 (en) | 2010-08-18 | 2011-08-10 | METHOD FOR PRODUCING AN ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN LAYER AND A MONOCRYSTALLINE ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN LAYER |
CN201180039763.1A CN103069555B (zh) | 2010-08-18 | 2011-08-10 | 有机半导体薄膜以及有机半导体单晶薄膜的制造方法 |
US13/816,999 US9059407B2 (en) | 2010-08-18 | 2011-08-10 | Method for manufacturing organic semiconductor thin film and monocryastalline organic semiconductor thin film |
PCT/JP2011/068294 WO2012023476A1 (ja) | 2010-08-18 | 2011-08-10 | 有機半導体薄膜及び単結晶性有機半導体薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010182945A JP5686403B2 (ja) | 2010-08-18 | 2010-08-18 | 有機半導体薄膜の製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014244266A Division JP5995250B2 (ja) | 2014-12-02 | 2014-12-02 | 有機半導体薄膜の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012043926A JP2012043926A (ja) | 2012-03-01 |
JP5686403B2 true JP5686403B2 (ja) | 2015-03-18 |
Family
ID=45899910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010182945A Active JP5686403B2 (ja) | 2010-08-18 | 2010-08-18 | 有機半導体薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5686403B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105122492A (zh) | 2013-03-08 | 2015-12-02 | 国立大学法人神户大学 | 有机半导体薄膜制造方法 |
JP6148634B2 (ja) * | 2014-03-12 | 2017-06-14 | 富士フイルム株式会社 | 有機半導体結晶の製造方法 |
JP6317032B2 (ja) * | 2015-03-06 | 2018-04-25 | 富士フイルム株式会社 | 有機半導体膜の製造方法、有機トランジスタ |
JP7085030B2 (ja) | 2019-02-08 | 2022-06-15 | 富士フイルム株式会社 | 有機半導体薄膜の製造方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4698133B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2011-06-08 | 株式会社リコー | 有機半導体パターンの形成方法 |
JP4996846B2 (ja) * | 2005-11-22 | 2012-08-08 | 株式会社日立製作所 | 電界効果トランジスタ及びその製造方法 |
JP5504564B2 (ja) * | 2007-01-16 | 2014-05-28 | ソニー株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2010123778A (ja) * | 2008-11-20 | 2010-06-03 | Sony Corp | 薄膜半導体装置の製造方法 |
JP2010212587A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-24 | Ricoh Co Ltd | 有機薄膜トランジスタ、有機薄膜トランジスタの製造方法、有機薄膜トランジスタアレイ及び表示装置 |
-
2010
- 2010-08-18 JP JP2010182945A patent/JP5686403B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012043926A (ja) | 2012-03-01 |
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