JP5685923B2 - Method for connecting transistor arrays - Google Patents

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Description

本発明は、大型の表示装置を製造する際に用いられる単位表示装置の各画素を駆動する
トランジスタアレイとこのようなトランジスタアレイの連結方法に関する。
The present invention drives each pixel of a unit display device used when manufacturing a large display device.
The present invention relates to a transistor array and a method for connecting such transistor arrays.

これまで、大型の表示装置を製造する方法のひとつとして、単位表示装置を複数タイリングする方法が提案されている。タイリングによって大型表示装置を製造する技術については、例えば、特許文献1(特開平10−96911号公報)に、内部の遮光部と縁の遮光部を有している第
1及び第2基板を含む液晶表示装置の製造方法において、前記縁の遮光部を第1領域と、第2領域で区分する段階と、前記第1基板上に前記縁の遮光部の第1領域を区分する段階と、前記縁の遮光部の第1領域を除去し、前記縁の遮光部の第2領域を残す段階と、前記第1基板及び第2基板の縁の遮光部の第2領域を相互連結する段階とを有することを特徴とする液晶表示装置の製造方法が開示されている。
特開平10−96911号公報
Until now, a method of tiling a plurality of unit display devices has been proposed as one of methods for manufacturing a large display device. With regard to a technique for manufacturing a large display device by tiling, for example, Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 10-96911) discloses a first and second substrate having an inner light shielding portion and an edge light shielding portion. In the manufacturing method of the liquid crystal display device including, the step of dividing the light shielding portion of the edge into a first region and a second region, the step of dividing the first region of the light shielding portion of the edge on the first substrate, Removing the first region of the light shielding portion at the edge and leaving the second region of the light shielding portion at the edge; and interconnecting the second region of the light shielding portion at the edge of the first substrate and the second substrate; A manufacturing method of a liquid crystal display device characterized by having
Japanese Patent Laid-Open No. 10-96911

ところで、単位表示パネルの各画素を駆動するための信号が入力される電極(引き回し電極)は、表示パネルの矩形状の表示エリアの2辺から引き出された構成となるが、このような構成の単位表示パネルを用いてタイリングにより大型表示装置を製造する場合、引き回し電極部と、表示エリアが重ならないようにレイアウトしようとすると、最大で4つの単位表示パネルを用いた表示装置(特許文献1の図9などに記載の表示装置)しか製造することができず、大型の表示装置を製造する上でのネックとなっていた。すなわち、従来の単位表示パネルにおける引き回し電極部が表示エリアの2辺から引き出された構成は表示装置の大型化を阻害する要因となっており、問題であった。   By the way, an electrode (leading electrode) to which a signal for driving each pixel of the unit display panel is input has a configuration drawn from two sides of the rectangular display area of the display panel. When a large display device is manufactured by tiling using a unit display panel, a display device using a maximum of four unit display panels (Patent Document 1) when trying to lay out the lead electrode portion and the display area so as not to overlap. Only the display device shown in FIG. 9 and the like can be manufactured, which has been a bottleneck in manufacturing a large display device. That is, the configuration in which the lead-out electrode portions in the conventional unit display panel are drawn out from the two sides of the display area is a factor that hinders the increase in the size of the display device, which is a problem.

なお、従来の単位表示パネルの中には、引き回し電極部を単位表示パネルの裏側に引き出すようにした構造も知られているが、このような構造のものを製造するためには非常にコストがかかり、大型の表示装置を製造する上での課題となっていた。   It is noted that some conventional unit display panels have a structure in which the lead-out electrode portion is drawn out to the back side of the unit display panel. However, it is very costly to manufacture such a structure. Therefore, it has been a problem in manufacturing a large display device.

本発明は以上のような課題を解決するためのものであり、請求項1に係る発明は、矩形状の主面を有する基材と、前記基材の前記主面に対する積層方向に配設されるデータライン引き回し電極及びスキャンライン引き回し電極と、前記データライン引き回し電極と電気接続されるデータライン導通部と、前記スキャンライン引き回し電極と電気接続されるスキャンライン導通部と、前記データライン導通部と前記スキャンライン導通部からの信号で駆動されるトランジスタを含む回路により所定電圧が保持される画素電極を複数含む表示エリアと、を有し、前記積層方向からみて、少なくとも前記データライン引き回し電極又は前記スキャンライン引き回し電極のいずれか一方が、前記表示エリアと重畳し、前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極が、前記基材の一辺側に延在するように配され、前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極が延在する前記基材の一辺と隣り合う2つの辺の間を導通するタイリング用電極が前記基材上に設けられるトランジスタアレイを2つ以上連結すると共に、連結した前記トランジスタアレイ同士の前記タイリング用電極を導通させる工程と、前記タイリング用電極の一部を切断する工程と、からなることを特徴とするトランジスタアレイの連結方法である。
The present invention is for solving the above-described problems, and the invention according to claim 1 is provided with a base material having a rectangular main surface and a stacking direction of the base material with respect to the main surface. A data line routing electrode and a scan line routing electrode, a data line conduction unit electrically connected to the data line routing electrode, a scan line conduction unit electrically connected to the scan line routing electrode, and the data line conduction unit have a, a plurality comprises display area pixel electrode predetermined voltage is held by a circuit including a transistor which is driven by a signal from the scan line conductive portion, wherein when viewed in the stacking direction, at least the data line lead-out electrode or the one of the scan lines lead electrodes, overlap the display area, the data line lead electrodes及The scan line routing electrode is arranged so as to extend to one side of the substrate, and the data line routing electrode and the scan line routing electrode extend between two sides adjacent to the side of the substrate. A tiling electrode for connecting two or more transistor arrays provided on the substrate, and connecting the tiling electrodes of the connected transistor arrays; and one tiling electrode. And a step of cutting the portion.

また、請求項2に係る発明は、請求項1に記載のトランジスタアレイの連結方法において、前記データライン引き回し電極とデータライン導通部とが電気接続する接続部と、前記スキャンライン引き回し電極とスキャンライン導通部とが電気接続する接続部が、前記基材の周縁に配されることを特徴とする。
In the invention, in the method of connecting the transistor array according to claim 1, and a connecting portion and the data line lead-out electrode and the data line conductive portion are electrically connected, the scan line lead-out electrodes and scan lines according to claim 2 The connection part which electrically connects with the conduction | electrical_connection part is distribute | arranged to the periphery of the said base material, It is characterized by the above-mentioned.

また、請求項3に係る発明は、請求項1又は請求項2に記載のトランジスタアレイの連結方法において、前記積層方向からみて、前記データライン引き回し電極とデータライン導通部とが電気接続する接続部と、前記スキャンライン引き回し電極とスキャンライン導通部とが電気接続する接続部が、前記画素電極に覆われていることを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the connection method of the transistor array coupling method according to the first or second aspect , wherein the data line routing electrode and the data line conduction portion are electrically connected as viewed from the stacking direction. In addition, a connection portion where the scan line routing electrode and the scan line conduction portion are electrically connected is covered with the pixel electrode.

また、請求項4に係る発明は、請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のトランジスタアレイの連結方法において、前記基材の一辺側に延在された前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極の周囲にはESDリングが配されることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the transistor array coupling method according to any one of the first to third aspects, the data line routing electrode extending to one side of the substrate and the An ESD ring is disposed around the scan line routing electrode.

また、請求項5に係る発明は、請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載のトランジスタアレイの連結方法において、前記基板には、前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極に信号を供給するドライバーICが配されることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, in the method for connecting transistor arrays according to any one of the first to fourth aspects, a signal is supplied to the data line routing electrode and the scan line routing electrode on the substrate. A driver IC is provided for supplying power.

本発明のトランジスタアレイによれば、矩形状表示エリアの1辺のみから引き回し電極が引き出された単位表示パネルを製造することができるようになるので、タイリングを行う単位表示パネルの数に制限がなくなり、より大型の表示装置を簡単に製造することが可能となる。   According to the transistor array of the present invention, it becomes possible to manufacture a unit display panel in which electrodes are drawn out from only one side of the rectangular display area, so that the number of unit display panels for tiling is limited. Therefore, a larger display device can be easily manufactured.

また、本発明のトランジスタアレイによれば、単位表示パネルを安価に製造することが可能となるので、これをタイリングして製造する大型の表示装置を安価に製造することができるようになる。   Further, according to the transistor array of the present invention, the unit display panel can be manufactured at a low cost, so that a large display device manufactured by tiling the unit display panel can be manufactured at a low cost.

また、本発明のトランジスタアレイの連結方法によれば、単位表示パネルを簡便に連結することが可能となるので、より大型の表示装置をコストアップすることなく製造することが可能となる。   In addition, according to the transistor array coupling method of the present invention, unit display panels can be simply coupled, so that a larger display device can be manufactured without increasing the cost.

本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1を構成するために用いられる基材10の斜視図である。It is a perspective view of the base material 10 used in order to comprise the transistor array 1 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1の斜視図である。1 is a perspective view of a transistor array 1 according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1の1つの画素310の構造を説明する図である。It is a figure explaining the structure of one pixel 310 of the transistor array 1 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1の等価回路を示す図である。It is a figure which shows the equivalent circuit of the transistor array 1 which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1により構成される単位表示パネル500の分解斜視図である。1 is an exploded perspective view of a unit display panel 500 configured by a transistor array 1 according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1により構成される単位表示パネル500の斜視図である。1 is a perspective view of a unit display panel 500 configured by a transistor array 1 according to an embodiment of the present invention. 本発明の他の実施形態に係るトランジスタアレイ1の積層構造概略の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the laminated structure outline of the transistor array 1 which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るトランジスタアレイ1を構成するために用いられる基材10の斜視図である。It is a perspective view of the base material 10 used in order to comprise the transistor array 1 which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るトランジスタアレイ1の連結方法を説明する図である。It is a figure explaining the connection method of the transistor array 1 which concerns on other embodiment of this invention. タイリングディスプレイを製造する際の表示パネル500のレイアウト例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of a layout of the display panel 500 at the time of manufacturing a tiling display. タイリングディスプレイを製造する際の表示パネル500のレイアウト例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of a layout of the display panel 500 at the time of manufacturing a tiling display. 表示パネル500の構成例を模式的に示す図である。4 is a diagram schematically showing a configuration example of a display panel 500. FIG. 本発明の他の実施形態に係るトランジスタアレイ1の斜視図である。It is a perspective view of the transistor array 1 which concerns on other embodiment of this invention. ESDリング600のダイオードD1、D2をトランジスタTr1、Tr2によって構成し得ることを説明する図である。It is a figure explaining that diode D1, D2 of the ESD ring 600 can be comprised by transistor Tr1, Tr2.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。図1は本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1を構成するために用いられる基材10の斜視図であり、図2は本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1の斜視図である。図2は図1に示す基材10に、所定の材料を積層することでトランジスタアレイ1を作り込んだものである。トランジスタアレイ1は、8×8のマトリクス状に配置された画素310を有する表示エリア300の表示制御を行うためのものである。表示エリア300を構成する画素310の数については8×8に限定されるものではなく、任意とすることができる。また、表示エリア300を構成する画素310の数については図示化の都合上、現実のものより少なくなっている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a base material 10 used for constituting a transistor array 1 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of the transistor array 1 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows the transistor array 1 formed by laminating a predetermined material on the base material 10 shown in FIG. The transistor array 1 is for performing display control of a display area 300 having pixels 310 arranged in an 8 × 8 matrix. The number of pixels 310 constituting the display area 300 is not limited to 8 × 8, and may be arbitrary. Further, the number of pixels 310 constituting the display area 300 is smaller than the actual one for convenience of illustration.

また、図5は本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1により構成される単位表示パネル500の分解斜視図であり、基材10上に作り込まれたトランジスタアレイ1に表示層400と透明電極層450とを順次積層する様子が示されているものである。また、図6は本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1により構成される単位表示パネル500の斜視図である。   FIG. 5 is an exploded perspective view of the unit display panel 500 including the transistor array 1 according to the embodiment of the present invention. The display layer 400 and the transparent electrode layer are formed on the transistor array 1 built on the substrate 10. A state in which 450 is sequentially laminated is shown. FIG. 6 is a perspective view of a unit display panel 500 including the transistor array 1 according to the embodiment of the present invention.

本実施形態においては、大型の表示装置をタイリングによって構成するための単位となる表示パネルの駆動を行うトランジスタアレイ1を例にとり説明する。前記のような単位表示パネルとしては、例えば、電子ペーパーを想定しており、基材10としては可撓性を有するものが用いられる場合に基づいて説明するが、本発明のトランジスタアレイ1が適用可能な表示パネルは電子ペーパーに限らず、その他の表示素子にも適用可能である。   In the present embodiment, a transistor array 1 that drives a display panel as a unit for configuring a large display device by tiling will be described as an example. As the unit display panel as described above, for example, electronic paper is assumed, and the substrate 10 will be described based on the case where a flexible material is used. However, the transistor array 1 of the present invention is applied. Possible display panels are not limited to electronic paper, but can be applied to other display elements.

基材10に用いる材料としては、例えば、ポリイミドを主成分とする、可撓性、絶縁性、耐熱性に優れたものなどを用いることができる。また、これに限らず基材10としては、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンテレフタラート、ポリエーテルスルホン、ポリカーボネート、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルケトン、ポリフェニレンスルフィド、液晶ポリマー、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、フィノール樹脂等を用いることができる。本発明においてはこれらのいずれの絶縁性材料であっても好適に用いることができる。なお、基材10に用いられる絶縁性材料は1種類のみであってもよく、あるいは2種類以上であってもよい。   As a material used for the base material 10, for example, a material mainly composed of polyimide and excellent in flexibility, insulation, and heat resistance can be used. The substrate 10 is not limited to this, and examples of the base material 10 include polyethylene naphthalate, polyethylene terephthalate, polyether sulfone, polycarbonate, polyether imide, polyether ether ketone, polyether ketone, polyphenylene sulfide, liquid crystal polymer, epoxy resin, and silicone resin. Finol resin and the like can be used. In the present invention, any of these insulating materials can be suitably used. In addition, the insulating material used for the base material 10 may be only one type, or may be two or more types.

図1に示すように、基板10の主面は矩形状になるように成形されており、アクティブ
マトリックス方式のトランジスタアレイ1のデータラインに信号を供給するデータライン引き回し電極100、及び、トランジスタアレイ1のスキャンラインに信号を供給するスキャンライン引き回し電極200が当該主面上に設けられている。また、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200に供給する信号を生成するドライバーIC50に対する駆動信号を供給するために用いられるドライバーIC導通電極30も前記主面上に形成されるようになっている。
As shown in FIG. 1, the main surface of the substrate 10 is formed in a rectangular shape, and a data line routing electrode 100 for supplying a signal to the data line of the active matrix transistor array 1 and the transistor array 1 A scan line routing electrode 200 for supplying a signal to the scan line is provided on the main surface. Also, a driver IC conduction electrode 30 used for supplying a drive signal to the driver IC 50 that generates a signal to be supplied to the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 is also formed on the main surface. Yes.

本実施形態においては、データライン用のドライバーIC50、スキャンライン用のドライバーIC50はいずれも基板10の矩形ABCDにおける辺DA側に配されるようになっている。また、これらドライバーIC50と接続されるデータライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200についても辺DA側に集約されるようになっている。   In the present embodiment, both the data line driver IC 50 and the scan line driver IC 50 are arranged on the side DA side of the rectangular ABCD of the substrate 10. Further, the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 connected to the driver IC 50 are also integrated on the side DA side.

辺DA側で集約されているデータライン引き回し電極100は、辺ABの際まで引き回されて、辺ABから主面の垂直方向(積層方向)に形成される回路にスルーホールを介して電気接続するように構成される。   The data line routing electrode 100 aggregated on the side DA side is routed to the side AB and electrically connected to a circuit formed in the vertical direction (stacking direction) of the main surface from the side AB through a through hole. Configured to do.

また、辺DA側で集約されているスキャンライン引き回し電極200は、辺BCの際まで引き回されて、辺BCから主面の垂直方向(積層方向)に形成される回路にスルーホールを介して電気接続するように構成される。   Further, the scan line routing electrode 200 aggregated on the side DA side is routed to the side BC and is connected to a circuit formed in the vertical direction (stacking direction) of the main surface from the side BC via a through hole. Configured for electrical connection.

なお、図1に示す実施形態では、データライン引き回し電極100は基材10の辺ABの周縁まで引き回され、スキャンライン引き回し電極200は基材10の辺BCの周縁まで引き回される構造となっているが、製造の初期の段階から、これら各電極を基材10の周縁(すなわち、基材10の際のぎりぎりのところ)に形成する必要はない。例えば、マージンをもった基材を用意しておき、本実施形態と同様にトランジスタアレイ1を構成し、製造の最終段階で、前記マージンをレーザーやカッティングマシーンで切断して除去することもできる。   In the embodiment shown in FIG. 1, the data line routing electrode 100 is routed to the periphery of the side AB of the substrate 10, and the scan line routing electrode 200 is routed to the periphery of the side BC of the substrate 10. However, it is not necessary to form each of these electrodes on the periphery of the base material 10 (that is, at the edge of the base material 10) from the initial stage of manufacture. For example, it is possible to prepare a base material having a margin, configure the transistor array 1 as in the present embodiment, and remove the margin by cutting with a laser or a cutting machine at the final stage of manufacture.

本実施形態においては、データライン引き回し電極100、スキャンライン引き回し電極200やドライバーIC導通電極30などの電極、或いはスルーホールなどにおける電気接続部に用いる導電性材料としては、所望の導電性を有する連結用電極を形成できるものであれば特に限定されるものではない。このような導電性材料としては、例えば、金、銅、銀、アルミニウム、クロム、ニッケル、スズ等の金属材料とポリアニリン、ポリエチレンジオキシチオフェン等の導電性高分子材料とITO、IZO等の酸化物を挙げることができる。   In the present embodiment, the conductive material used for the electrical connection portion in the data line routing electrode 100, the scan line routing electrode 200, the driver IC conduction electrode 30, or the like or the electrical connection portion in the through hole or the like is a connection having desired conductivity. The electrode is not particularly limited as long as the electrode can be formed. Examples of such a conductive material include metal materials such as gold, copper, silver, aluminum, chromium, nickel, and tin, conductive polymer materials such as polyaniline and polyethylenedioxythiophene, and oxides such as ITO and IZO. Can be mentioned.

図2に示すように、データライン引き回し電極100は辺ABにおいて、辺ABに並んでいる8つの画素310を構成する回路と電気接続され、同様に、スキャンライン引き回し電極200は辺BCにおいて、辺BCに並んでいる8つの画素310を構成する回路と電気接続されるようになっている。   As shown in FIG. 2, the data line routing electrode 100 is electrically connected to a circuit constituting the eight pixels 310 arranged in the side AB on the side AB. Similarly, the scan line routing electrode 200 is connected to the side BC on the side BC. The circuit is configured to be electrically connected to the circuits constituting the eight pixels 310 arranged in the BC.

図2のPで示される画素310については、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200の双方と直接的に電気接続される構造となっている。そこで、次に、Pで示される画素310を例にとり積層方向において、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200が画素310を構成する回路とどのように接続されているかについて説明する。   The pixel 310 indicated by P in FIG. 2 has a structure in which it is directly electrically connected to both the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200. Therefore, taking the pixel 310 indicated by P as an example, how the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 are connected to the circuit constituting the pixel 310 in the stacking direction will be described.

なお、本実施形態においては、データライン引き回し電極100は、辺ABに並んでいる8つの画素310を構成する回路と電気接続され、さらにスキャンライン引き回し電極
200は辺BCに並んでいる8つの画素310と直接的に電気接続される構成であり、データライン引き回し電極100とデータライン導通部110とが電気接続する接続部と、前記スキャンライン引き回し電極200とスキャンライン導通部210とが電気接続する接続部が、基材10の周縁に配されるレイアウトとなっているが、このようなレイアウトは必須の構成ではない。
In the present embodiment, the data line routing electrode 100 is electrically connected to a circuit constituting the eight pixels 310 arranged in the side AB, and the scan line routing electrode 200 is set in eight pixels in the side BC. 310 is directly connected to the data line, and the data line routing electrode 100 and the data line conduction unit 110 are electrically connected, and the scan line routing electrode 200 and the scan line conduction unit 210 are electrically connected. Although the connection portion is arranged on the periphery of the base material 10, such a layout is not an essential configuration.

例えば、図2において、Pで示される画素310と直接的に導通するデータライン引き回し電極100は、辺BC側に並んでいる8つの画素310のいずれと導通させるように構成することも可能である。このため、上記のように、前記各接続部が基材10の周縁に配されるレイアウトは必須の構成要件ではない。   For example, in FIG. 2, the data line routing electrode 100 that is directly connected to the pixel 310 indicated by P may be configured to be connected to any of the eight pixels 310 arranged on the side BC side. . For this reason, as described above, the layout in which each of the connection portions is arranged on the periphery of the base material 10 is not an essential component.

図3は本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1の1つの画素310の構造を説明する図である。図3(A)Pで示される画素310を構成する導体部及び半導体部を積層方向からみた図であり、図3(B)は図3(A)の線X−X’における断面を示しており、図3(C)は図3(A)の線Y−Y’における断面を示しており、図3(D)は図3(A)の線Z−Z’における断面を示している。   FIG. 3 is a diagram illustrating the structure of one pixel 310 of the transistor array 1 according to the embodiment of the present invention. 3A is a view of a conductor portion and a semiconductor portion constituting the pixel 310 shown in FIG. 3P as viewed from the stacking direction, and FIG. 3B shows a cross section taken along line XX ′ in FIG. 3C shows a cross section taken along line YY ′ in FIG. 3A, and FIG. 3D shows a cross section taken along line ZZ ′ in FIG.

また、図4は本発明の実施形態に係るトランジスタアレイ1の等価回路を示す図である。図3に示すように、トランジスタアレイ1のひとつの画素310を構成する回路は、データラインとスキャンラインの格子点に対応するように設けられており、ひとつの画素310の回路は電界効果トランジスタTrと、並列接続された2つのコンデンサCs、Cpとの直列接続とから構成される。当該回路において、トランジスタTrのソース電極はデータラインに、またゲート電極はスキャンラインに接続されるようになっている。また、トランジスタTrのドレイン電極は、コンデンサCsを構成する上部電極331側、及びコンデンサCpを構成する画素電極330側に接続されるようになっている。ここで、コンデンサCsは、画素310に供給された信号を比較的に長い時間にわたって蓄積させるためのものであり、また、コンデンサCpは表示層400を介して画素電極330と対向する透明電極層450との間に生じる容量である。図4におけるVcomは、透明電極層450の電位を示しており、全ての画素310に共通するものである。Vcomは、前記の回路において、コンデンサCsの下部電極332、及びコンデンサCpの透明電極層450側と電気的に接続される。   FIG. 4 is a diagram showing an equivalent circuit of the transistor array 1 according to the embodiment of the present invention. As shown in FIG. 3, the circuit constituting one pixel 310 of the transistor array 1 is provided so as to correspond to the lattice points of the data line and the scan line, and the circuit of one pixel 310 is a field effect transistor Tr. And a series connection of two capacitors Cs and Cp connected in parallel. In this circuit, the source electrode of the transistor Tr is connected to the data line, and the gate electrode is connected to the scan line. Further, the drain electrode of the transistor Tr is connected to the upper electrode 331 side constituting the capacitor Cs and the pixel electrode 330 side constituting the capacitor Cp. Here, the capacitor Cs is for accumulating a signal supplied to the pixel 310 for a relatively long time, and the capacitor Cp is a transparent electrode layer 450 facing the pixel electrode 330 through the display layer 400. It is the capacity that occurs between. Vcom in FIG. 4 indicates the potential of the transparent electrode layer 450 and is common to all the pixels 310. In the above circuit, Vcom is electrically connected to the lower electrode 332 of the capacitor Cs and the transparent electrode layer 450 side of the capacitor Cp.

図3(B)に示すように、基材10上に配されているデータライン引き回し電極100は、データライン導通部110と電気接続部Thを介して接続されている。データライン導通部110は、図4の等価回路におけるデータラインに相当する導通部である。図3(A)に示すように、各画素310において、このデータライン導通部110からはソース電極322が引き出されるようになっている。データライン導通部110は図3(A)でみて垂直方向に配される隣接する画素310の回路に導通する。   As shown in FIG. 3B, the data line routing electrode 100 arranged on the base material 10 is connected to the data line conducting portion 110 via the electrical connecting portion Th. The data line conducting part 110 is a conducting part corresponding to the data line in the equivalent circuit of FIG. As shown in FIG. 3A, in each pixel 310, the source electrode 322 is drawn from the data line conducting portion 110. The data line conducting portion 110 is conducted to the circuit of the adjacent pixel 310 arranged in the vertical direction as viewed in FIG.

また、図3(C)に示すように、基材10上に配されているスキャンライン引き回し電極200は、スキャンライン導通部210と電気接続部Thを介して接続されている。スキャンライン導通部210は、図4の等価回路におけるスキャンラインに相当する導通部である。図3(A)に示すように、各画素310において、このスキャンライン導通部210からはゲート電極323が引き出されるようになっている。スキャンライン導通部210は図3(A)でみて水平方向に配される隣接する画素310の回路に導通する。   As shown in FIG. 3C, the scan line routing electrode 200 disposed on the base material 10 is connected to the scan line conducting part 210 via the electrical connection part Th. The scan line conducting unit 210 is a conducting unit corresponding to the scan line in the equivalent circuit of FIG. As shown in FIG. 3A, in each pixel 310, the gate electrode 323 is drawn from the scan line conducting portion 210. The scan line conducting portion 210 is conducted to the circuit of the adjacent pixel 310 arranged in the horizontal direction as seen in FIG.

図3(D)に示すように、データライン導通部110から引き出されたソース電極322と、スキャンライン導通部210から引き出されたゲート電極323と、前記ソース電極322と同レベルの層に設けられるドレイン電極321と、半導体層324とゲート絶縁層342とによってトランジスタTrが構成されるようになっている。   As shown in FIG. 3D, the source electrode 322 extracted from the data line conduction unit 110, the gate electrode 323 extracted from the scan line conduction unit 210, and a layer at the same level as the source electrode 322 are provided. A transistor Tr is configured by the drain electrode 321, the semiconductor layer 324, and the gate insulating layer 342.

また、上記のようなトランジスタTrを構成するソース電極322の一端には、コンデンサCsの上部電極331が接続されている。図3(D)に示すように、この上部電極331はさらに電気接続部Thを介して画素電極330と接続される。この画素電極330は積層方向からみて、画素310全体を覆うように設けられている。   The upper electrode 331 of the capacitor Cs is connected to one end of the source electrode 322 constituting the transistor Tr as described above. As shown in FIG. 3D, the upper electrode 331 is further connected to the pixel electrode 330 through the electrical connection portion Th. The pixel electrode 330 is provided so as to cover the entire pixel 310 when viewed from the stacking direction.

本実施形態においては、画素電極330が積層方向からみて、図3(B)に示すデータライン引き回し電極100とデータライン導通部110の電気接続部Th、及び、図3(C)に示すスキャンライン引き回し電極200とスキャンライン導通部210の電気接続部Thと重畳していることがひとつの特徴となっている。上記の2つの電気接続部には、単位表示パネル500における表示のための信号がのっており、この信号による電圧変動のために周辺構成に干渉を起こしやすいが、2つの電気接続部が前記画素電極330に覆われるようになっているために、画素電極330がシールド的に機能することで前記のような干渉を抑制する効果を期待できる。   In this embodiment, when viewed from the stacking direction of the pixel electrode 330, the data line routing electrode 100 shown in FIG. 3B and the electrical connection portion Th of the data line conducting portion 110 and the scan line shown in FIG. One feature is that the lead electrode 200 and the electrical connection portion Th of the scan line conduction portion 210 overlap each other. Signals for display on the unit display panel 500 are carried on the above two electrical connection portions, and voltage fluctuations due to these signals tend to cause interference in the peripheral configuration. Since the pixel electrode 330 is covered, the pixel electrode 330 functions as a shield, so that the effect of suppressing the interference can be expected.

なお、本明細書及び特許請求の範囲において、積層方向からみて第1構成が第2構成に覆われているとは、積層方向に向けて投影を行ったとき、第1構成による投影が、第2構成による投影に含まれることを示している。   In the present specification and claims, the first configuration is covered by the second configuration when viewed from the stacking direction when the projection by the first configuration is performed when the projection is performed in the stacking direction. It is included in the projection with two configurations.

ゲート電極323が形成されている層と同レベルの層においては、前記上部電極331と対向するように下部電極332が設けられ、これら対向する電極によってコンデンサCsが形成されるようになっている。また、下部電極332には、水平方向に隣り合う画素310を構成する下部電極332と電気的に連結するように連結電極335が設けられている。この連結電極335を介して水平方向に隣り合う一連の下部電極332は接続され、さらにトランスファーゲート(不図示)を介して、表示パネル500の最上面部を構成する透明電極層450と電気的に接続されるようになっている。また、画素電極330と、これに対向している透明電極層450とによって、コンデンサCpが形成される。   In a layer at the same level as the layer where the gate electrode 323 is formed, a lower electrode 332 is provided so as to face the upper electrode 331, and a capacitor Cs is formed by these facing electrodes. Further, the lower electrode 332 is provided with a connection electrode 335 so as to be electrically connected to the lower electrode 332 constituting the pixel 310 adjacent in the horizontal direction. A series of lower electrodes 332 that are adjacent to each other in the horizontal direction are connected via the connection electrode 335, and are electrically connected to the transparent electrode layer 450 constituting the uppermost surface portion of the display panel 500 via a transfer gate (not shown). Connected. A capacitor Cp is formed by the pixel electrode 330 and the transparent electrode layer 450 facing the pixel electrode 330.

上記のようなトランジスタアレイ1においては、層間絶縁層341、ゲート絶縁層342、封止層343が各層レベルにおける絶縁層として設けられている。ここで、半導体層324に用いられる半導体材料、及び層間絶縁層341、ゲート絶縁層342、封止層343などに用いられる絶縁材料について説明する。   In the transistor array 1 as described above, an interlayer insulating layer 341, a gate insulating layer 342, and a sealing layer 343 are provided as insulating layers at each layer level. Here, a semiconductor material used for the semiconductor layer 324 and an insulating material used for the interlayer insulating layer 341, the gate insulating layer 342, the sealing layer 343, and the like are described.

本発明に用いられる半導体層324としては、トランジスタアレイ1の用途等に応じて、所望のトランジスタ特性を示すものであれば特に限定されるものではない。このような半導体層324としては、たとえば、有機半導体材料が用いられた有機トランジスタ、シリコン材料が用いられたアモルファスシリコントランジスタ、ポリシリコントランジスタ、酸化物半導体材料が用いられたInGaZnOトランジスタ、ZnOトランジスタ等を挙げることができる。本発明においてはこれらのいずれの半導体層324であっても好適に用いることができるが、中でも本発明においては有機トランジスタが用いられることが好ましい。上記半導体層324として有機トランジスタが用いられることにより、本発明のトランジスタアレイ1を、より簡易的に製造することができるからである。   The semiconductor layer 324 used in the present invention is not particularly limited as long as it exhibits desired transistor characteristics depending on the use of the transistor array 1 and the like. As such a semiconductor layer 324, for example, an organic transistor using an organic semiconductor material, an amorphous silicon transistor using a silicon material, a polysilicon transistor, an InGaZnO transistor using a semiconductor oxide material, a ZnO transistor, or the like can be used. Can be mentioned. In the present invention, any of these semiconductor layers 324 can be suitably used, but in the present invention, an organic transistor is preferably used. This is because by using an organic transistor as the semiconductor layer 324, the transistor array 1 of the present invention can be manufactured more simply.

本発明に用いられる有機トランジスタとしては、有機半導体材料からなる有機半導体層が用いられ、トランジスタとして機能するものであれば特に限定されるものではない。このような有機トランジスタに用いる有機半導体材料としては、例えば、π電子共役系の芳香族化合物、鎖式化合物、有機顔料、有機ケイ素化合物等を挙げることができる。より具体的には、ペンタセン等の低分子系有機半導体材料、および、ポリピロール、ポリ(N−置換ピロール)、ポリ(3−置換ピロール)、ポリ(3,4−二置換ピロール)等のポリピロール類、ポリチオフェン、ポリ(3−置換チオフェン)、ポリ(3,4−二置換チオ
フェン)、ポリベンゾチオフェン等のポリチオフェン類、ポリイソチアナフテン等のポリイソチアナフテン類、ポリチェニレンビニレン等のポリチェニレンビニレン類、ポリ(p−フェニレンビニレン)等のポリ(p−フェニレンビニレン)類、ポリアニリン、ポリ(N−置換アニリン)等のポリアニリン類、ポリアセチレン等のポリアセチレン類、ポリジアセチレン、ポリアズレン等のポリアズレン類等の高分子系有機半導体材料を挙げることができる。なかでも本発明においては、ペンタセンまたはポリチオフェン類を好適に用いることができる。
The organic transistor used in the present invention is not particularly limited as long as an organic semiconductor layer made of an organic semiconductor material is used and functions as a transistor. Examples of the organic semiconductor material used for such an organic transistor include a π-electron conjugated aromatic compound, a chain compound, an organic pigment, and an organic silicon compound. More specifically, low molecular organic semiconductor materials such as pentacene, and polypyrroles such as polypyrrole, poly (N-substituted pyrrole), poly (3-substituted pyrrole), and poly (3,4-disubstituted pyrrole). , Polythiophene, poly (3-substituted thiophene), poly (3,4-disubstituted thiophene), polythiophenes such as polybenzothiophene, polyisothianaphthenes such as polyisothianaphthene, and polychess such as polychenylene vinylene Nylene vinylenes, poly (p-phenylene vinylenes) such as poly (p-phenylene vinylene), polyanilines such as polyaniline and poly (N-substituted aniline), polyacetylenes such as polyacetylene, polyazulenes such as polydiacetylene and polyazulene High molecular organic semiconductor materials such as Of these, pentacene or polythiophenes can be preferably used in the present invention.

また、層間絶縁層341、ゲート絶縁層342、封止層343などに用いられる絶縁材料としては、例えば、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化タンタル、チタン酸バリウムストロンチウム(BST)、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)等の絶縁性無機材料、および、アクリル系樹脂、フェノール系樹脂、フッ素系樹脂、エポキシ系樹脂、カルド系樹脂、ビニル系樹脂、イミド系樹脂、ノボラック系樹脂等の絶縁性有機材料等の絶縁性有機材料を用いることができる。   Examples of the insulating material used for the interlayer insulating layer 341, the gate insulating layer 342, the sealing layer 343, and the like include silicon oxide, silicon nitride, aluminum oxide, tantalum oxide, barium strontium titanate (BST), and zircon titanate. Insulating inorganic materials such as lead acid (PZT) and insulating organic materials such as acrylic resins, phenolic resins, fluorine resins, epoxy resins, cardo resins, vinyl resins, imide resins, and novolac resins An insulating organic material such as a material can be used.

以上のように構成されるトランジスタアレイ1の上面部に、図5に示すように、表示層400と透明電極層450とが順次積層される。ここで、表示層400としては、電子ペーパーの表示方式に応じて適宜選択することができる。電子ペーパーの表示方式としては、公知のものを適用することができ、例えば、電気泳動方式、ツイストボール方式、粉体移動方式(電子粉流体方式、帯電トナー型方式)、液晶表示方式、サーマル方式(発色方式、光散乱方式)、エレクトロデポジション方式、可動フィルム方式、エレクトロクロミック方式、エレクトロウェッティング方式、磁気泳動方式などが挙げられる。   As shown in FIG. 5, the display layer 400 and the transparent electrode layer 450 are sequentially stacked on the upper surface portion of the transistor array 1 configured as described above. Here, the display layer 400 can be appropriately selected according to the display method of electronic paper. As a display method of electronic paper, known ones can be applied, for example, electrophoresis method, twist ball method, powder movement method (electronic powder fluid method, charged toner type method), liquid crystal display method, thermal method. (Coloring method, light scattering method), electrodeposition method, movable film method, electrochromic method, electrowetting method, magnetophoresis method and the like.

また、透明電極層450の材料としては、透明電極を形成可能な導電性材料であれば特に限定されるものではなく、例えば、酸化インジウム錫(ITO)、酸化インジウム亜鉛(IZO)、酸化錫、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化アルミニウム亜鉛(AZO)等の導電性酸化物を用いることができる。   The material of the transparent electrode layer 450 is not particularly limited as long as it is a conductive material capable of forming a transparent electrode. For example, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), tin oxide, Conductive oxides such as zinc oxide, indium oxide, and aluminum zinc oxide (AZO) can be used.

トランジスタアレイ1に表示層400と透明電極層450とが積層されると、各トランスファーゲート(不図示)と透明電極層450との間が不図示の導通部によって電気接続されると共に、2つのドライバーIC50が載置される。このうち、データライン用のドライバーIC50がデータライン引き回し電極100とドライバーIC導通電極30と電気接続され、また、スキャンライン用のドライバーIC50がスキャンライン引き回し電極200とドライバーIC導通電極30と電気接続されて、表示パネル500が完成する。このような表示パネル500は、表示エリア300の1辺のみから引き回し電極が引き出された構成となっており、複数タイリングすることによって大型の表示装置を製造する上での単位表示パネル500として利用される。   When the display layer 400 and the transparent electrode layer 450 are stacked on the transistor array 1, each transfer gate (not shown) and the transparent electrode layer 450 are electrically connected by a conduction portion (not shown) and two drivers are provided. IC50 is mounted. Of these, the driver IC 50 for the data line is electrically connected to the data line routing electrode 100 and the driver IC conduction electrode 30, and the driver IC 50 for the scan line is electrically connected to the scan line routing electrode 200 and the driver IC conduction electrode 30. Thus, the display panel 500 is completed. Such a display panel 500 has a configuration in which a lead-out electrode is drawn out from only one side of the display area 300, and is used as a unit display panel 500 for manufacturing a large display device by tiling a plurality of the display panels. Is done.

ここで、あらためて、本実施形態に係るトランジスタアレイ1に特有な構成について整理する。本発明のトランジスタアレイ1によって表示パネル500を構成したとき、表示エリア300の1辺のみから引き回し電極が引き出された構成となるのは、データライン引き回し電極100やスキャンライン引き回し電極200が、積層方向からみて表示エリア300と重畳していることに起因している。   Here, again, the configuration peculiar to the transistor array 1 according to the present embodiment will be organized. When the display panel 500 is configured by the transistor array 1 of the present invention, the configuration in which the routing electrode is led out from only one side of the display area 300 is that the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 are arranged in the stacking direction. This is because it overlaps with the display area 300 as viewed from the viewpoint.

ここで、図1乃至図6で説明した実施形態においては、データライン引き回し電極100やスキャンライン引き回し電極200の双方が、積層方向からみて表示エリア300と重畳した構成により、引き回し電極を1辺のみから引き出すようにしているが、本発明はこのような場合に限らず、データライン引き回し電極100又はスキャンライン引き回し電極200のいずれか一方が、表示エリア300と重畳することでも実現可能である。このような場合を図7を参照して説明する。図7は本発明の他の実施形態に係るトランジス
タアレイ1の積層構造概略の分解斜視図である。
Here, in the embodiment described with reference to FIGS. 1 to 6, the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 both overlap the display area 300 as viewed from the stacking direction, so that only one side of the routing electrode is provided. However, the present invention is not limited to such a case, and can be realized by superimposing one of the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 on the display area 300. Such a case will be described with reference to FIG. FIG. 7 is an exploded perspective view schematically showing a stacked structure of a transistor array 1 according to another embodiment of the present invention.

図7において、一点鎖線に対応する領域は基材10にトランジスタアレイ1が作り込まれた後に、表示エリア300となる領域を示している。この表示エリア300が形成する矩形ABCDを基準に考えると、他の実施形態に係るトランジスタアレイ1に用いられる基材10上では、スキャンライン引き回し電極200が辺AB側に集約されるようになっている。   In FIG. 7, a region corresponding to the one-dot chain line indicates a region that becomes the display area 300 after the transistor array 1 is formed on the base material 10. Considering the rectangular ABCD formed by the display area 300 as a reference, the scan line routing electrode 200 is concentrated on the side AB side on the base material 10 used in the transistor array 1 according to another embodiment. Yes.

層間絶縁層341上における点線で囲まれた範囲は、ゲート電極323などスキャンラインと導通する構成Sが配されており、各構成Sは、スキャンライン引き回し電極200は辺AB側においてスルーホール導通部(不図示)を介して導通される。   In a range surrounded by a dotted line on the interlayer insulating layer 341, a configuration S such as the gate electrode 323 that conducts with the scan line is arranged, and each configuration S includes a through-hole conducting portion on the side AB side. Conducted through (not shown).

また、ゲート絶縁層342上における点線で囲まれた範囲は、ソース電極322などデータラインと導通する構成Dが配されており、各構成Dはデータライン引き回し電極100と導通するようになっている。   In addition, in a range surrounded by a dotted line on the gate insulating layer 342, a configuration D such as the source electrode 322 that is electrically connected to the data line is arranged, and each configuration D is electrically connected to the data line routing electrode 100. .

概略、以上のような積層構造を有するトランジスタアレイ1についても作製することが可能であるが、このようなトランジスタアレイ1の場合、表示エリア300と積層方向からみて重畳するのは、スキャンライン引き回し電極200のみである。このように本発明に係るトランジスタアレイ1は、データライン引き回し電極100又はスキャンライン引き回し電極200のいずれか一方が、表示エリア300と重畳するように構成することで実現することができる。   In general, the transistor array 1 having the stacked structure as described above can be manufactured. In the case of such a transistor array 1, the display area 300 overlaps with the scan line leading electrode as viewed from the stacking direction. Only 200. As described above, the transistor array 1 according to the present invention can be realized by configuring so that either the data line routing electrode 100 or the scan line routing electrode 200 overlaps the display area 300.

なお、本明細書及び特許請求の範囲において、積層方向からみて第1構成と第2構成とが重畳しているとは、積層方向に向けて投影を行ったとき、第1構成による投影と、第2構成による投影とが重なっていることを示いている。   In addition, in the present specification and claims, the first configuration and the second configuration are superimposed when viewed from the stacking direction, when the projection is performed in the stacking direction, It shows that the projection according to the second configuration overlaps.

以上のような本発明のトランジスタアレイ1によれば、矩形状表示エリア300の1辺のみからデータライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200が引き出された単位表示パネル500を製造することができるようになるので、タイリングを行う単位表示パネル500の数に制限がなくなり、より大型の表示装置を簡単に製造することが可能となる。   According to the transistor array 1 of the present invention as described above, the unit display panel 500 in which the data line lead electrode 100 and the scan line lead electrode 200 are drawn from only one side of the rectangular display area 300 can be manufactured. Therefore, the number of unit display panels 500 on which tiling is performed is not limited, and a larger display device can be easily manufactured.

また、本発明のトランジスタアレイ1においては、データライン引き回し電極100又はスキャンライン引き回し電極200のいずれか一方を、表示エリア300と重畳するように構成するのみの簡単な構造であるので、単位表示パネル500を安価に製造することが可能となり、これをタイリングして製造する大型の表示装置を安価に製造することができるようになる。   Further, the transistor array 1 of the present invention has a simple structure in which either one of the data line routing electrode 100 or the scan line routing electrode 200 is configured to overlap the display area 300, so that the unit display panel 500 can be manufactured at low cost, and a large-sized display device manufactured by tiling it can be manufactured at low cost.

再び、図1乃至図6に示す実施形態に戻って説明する。本実施形態においては、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200が、基材10の一辺側(図1の辺DA側)に延在するように配されることとなり、これにより、タイリングを行う単位表示パネル500の数に制限がなくなり、より大型の表示装置を簡単に製造することが可能となるという効果を享受することができる。   Returning to the embodiment shown in FIGS. In the present embodiment, the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 are arranged so as to extend to one side of the substrate 10 (side DA in FIG. 1). Thus, the number of unit display panels 500 to be performed is not limited, and an effect that a larger display device can be easily manufactured can be obtained.

また、本実施形態においては、データライン引き回し電極100とデータライン導通部110とが電気接続する接続部と、スキャンライン引き回し電極200スキャンライン導通部210とが電気接続する接続部が、基材10の周縁(図1の辺AB及び辺BC近傍)に配されることを特徴としており、このような特徴点によっても、前記と同様の効果を享受しているということができる。   Further, in the present embodiment, the connection part where the data line routing electrode 100 and the data line conduction part 110 are electrically connected and the connection part where the scan line routing electrode 200 and the scan line conduction part 210 are electrically connected are the base material 10. It is characterized by being arranged in the periphery (side AB and side BC vicinity of FIG. 1), and it can be said that the effect similar to the above is enjoyed also by such a feature point.

次に、本発明の他の実施形態について説明する。図8は本発明の他の実施形態に係るトランジスタアレイ1を構成するために用いられる基材10の斜視図であり、先の実施形態で言えば、図1に相当するものである。本実施形態においては、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200が延在する基材10の一辺(DA)と隣り合う2つの辺(辺AB及び辺CD)の間を導通するタイリング用電極70が前記基材10上に設けられる点において、先の実施形態と異なる。   Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 8 is a perspective view of a base material 10 used for constituting a transistor array 1 according to another embodiment of the present invention, which corresponds to FIG. 1 in the previous embodiment. In the present embodiment, for tiling that conducts between two sides (side AB and side CD) adjacent to one side (DA) of the substrate 10 on which the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 extend. It differs from the previous embodiment in that the electrode 70 is provided on the substrate 10.

タイリング用電極70は、辺ABから辺CDまでを導通する複数の線条電極である。タイリング用電極70として設ける線条電極の数は、特に限定されるものではない。また、このようなタイリング用電極70を構成する線条電極の全ては、ドライバーIC導通電極30と導通するようになっている。以上のように構成される基材10に基づいてトランジスタアレイ1や表示パネル500を作製する方法については、先の実施形態と同様であるので、説明を割愛する。   The tiling electrode 70 is a plurality of linear electrodes that conduct from the side AB to the side CD. The number of filament electrodes provided as the tiling electrode 70 is not particularly limited. Further, all of the filament electrodes constituting the tiling electrode 70 are electrically connected to the driver IC conductive electrode 30. Since the method of manufacturing the transistor array 1 and the display panel 500 based on the base material 10 configured as described above is the same as that of the previous embodiment, the description thereof is omitted.

次に、本実施形態に係るトランジスタアレイ1(或いは表示パネル500)を連結することによって大型の表示装置を作製する方法につき説明する。図9は本発明の他の実施形態に係るトランジスタアレイ1の連結方法を説明する図である。図9においては、図8に示す基材10に基づいて作製された表示パネル500、表示パネル500’の2つを連結する場合を例にとり説明する。   Next, a method for manufacturing a large display device by connecting the transistor array 1 (or the display panel 500) according to this embodiment will be described. FIG. 9 is a diagram for explaining a connection method of the transistor array 1 according to another embodiment of the present invention. In FIG. 9, a case where two of the display panel 500 and the display panel 500 'manufactured based on the base material 10 shown in FIG. 8 are connected will be described as an example.

2つの表示パネル、或いはトランジスタアレイ同士を連結する上では、図9に示すように、2つの基材上に設けられたタイリング用電極70の線条電極同士が一致するように、表示パネル500、表示パネル500’を配置する。次に、タイリング用電極70における線条電極と、同じ配列の線条電極が設けられている連結用フレキシブルプリント基板550(図中の点線部が導通部)によって、表示パネル500上のタイリング用電極70の線条電極と、表示パネル500’ 上のタイリング用電極70の線条電極とを導通させる
。次に、タイリング用電極70、ドライバーIC導通電極30上の図9×(バツ印)によって示される箇所をレーザーなどによって切断する。これによって、タイリング用電極70の線条電極が適当なドライバーIC50と導通するので、タイリング用電極70をドライバーIC50駆動用の導電部として利用することが可能となる。
When two display panels or transistor arrays are connected to each other, as shown in FIG. 9, the display panel 500 is arranged so that the line electrodes of the tiling electrodes 70 provided on the two base materials are coincident with each other. The display panel 500 ′ is disposed. Next, tiling on the display panel 500 is performed by the connecting flexible printed circuit board 550 (the dotted line portion in the drawing is a conductive portion) provided with the line electrodes in the tiling electrode 70 and the same arrangement of line electrodes. The line electrode of the electrode for use 70 and the line electrode of the electrode for tiling 70 on the display panel 500 ′ are made conductive. Next, the portions indicated by FIG. 9 × (cross mark) on the tiling electrode 70 and the driver IC conduction electrode 30 are cut by a laser or the like. As a result, the filament electrode of the tiling electrode 70 is electrically connected to an appropriate driver IC 50, and therefore, the tiling electrode 70 can be used as a conductive portion for driving the driver IC 50.

以上のような本発明によるトランジスタアレイ1の連結方法によれば、タイリング用電極70が設けられた共通規格のトランジスタアレイ1を1種類設けておき、これらを連結して、不要なタイリング用電極70を切断するだけで、大型の表示装置を構成することができるので、タイリングディスプレイ(表示装置)の製造コストを削減することができる。   According to the connecting method of the transistor array 1 according to the present invention as described above, one kind of common standard transistor array 1 provided with the tiling electrode 70 is provided, and these are connected to provide unnecessary tiling. Since a large display device can be configured simply by cutting the electrode 70, the manufacturing cost of a tiling display (display device) can be reduced.

また、本発明のトランジスタアレイ1の連結方法によれば、単位表示パネル500を簡便に連結することが可能となるので、より大型の表示装置をコストアップすることなく製造することが可能となる。   In addition, according to the connection method of the transistor array 1 of the present invention, the unit display panels 500 can be easily connected, so that a larger display device can be manufactured without increasing the cost.

ここで、本発明に基づいて作製された単位表示パネル500を用いて、大型の表示装置(タイリングディスプレイ)を構成する際のレイアウト例について説明する。表示パネル500はその積層方向からみると、表示エリア300を含む表示部510と、ドライバーICや引き回し電極100などが配された配線部520とから概略構成されてなるものである。このような単位表示パネル500を用いて、タイリングディスプレイを作製する際には図10に示すようなレイアウトをとることで、単位表示パネル500同士の重なり部を一切設けることなく、ディスプレイを構成することが可能となる。図10に示すレイアウト例によれば、表示パネル500同士を重ね合わせることなく、無制限に設けることが
可能となる。
Here, a layout example when a large display device (tiling display) is configured using the unit display panel 500 manufactured based on the present invention will be described. When viewed from the stacking direction of the display panel 500, the display panel 500 is generally configured by a display unit 510 including the display area 300 and a wiring unit 520 provided with a driver IC, the routing electrode 100, and the like. When a tiling display is manufactured using such a unit display panel 500, a layout as shown in FIG. 10 is taken to constitute a display without providing any overlapping portion between the unit display panels 500. It becomes possible. According to the layout example shown in FIG. 10, it is possible to provide an unlimited number of display panels 500 without overlapping each other.

図10の例では、タイリングディスプレイを製造するにあたり、単位表示パネル500同士の重なり部がないようにレイアウトしたが、これに限らず、単位表示パネル500同士が重なりあるようにレイアウトすることも可能である。図11(A)は重なり部が有するレイアウトを積層方向からみた模式図であり、図11(B)はこれを断面方向からみた模式図である。本実施形態においては、単位表示パネル500を薄く製造することが可能であるので、図11に示すような重なり部を有するようにレイアウトしたとしても、つなぎ目が目立たないタイリングディスプレイを作製することができる。   In the example of FIG. 10, when the tiling display is manufactured, the unit display panels 500 are laid out so as not to overlap each other. However, the present invention is not limited to this, and the unit display panels 500 may be laid out so as to overlap each other. It is. FIG. 11A is a schematic view of the layout of the overlapping portion viewed from the stacking direction, and FIG. 11B is a schematic view of the layout viewed from the cross-sectional direction. In this embodiment, since the unit display panel 500 can be manufactured thinly, it is possible to manufacture a tiling display in which joints are not conspicuous even if the unit display panel 500 is laid out so as to have an overlapping portion as shown in FIG. it can.

図10及び図11では、複数の単位表示パネル500をレイアウトすることによって、ディスプレイを作製する方法について説明したが、単位表示パネル500は一枚だけでディスプレイを構成することもできる。単位表示パネル500だけでディスプレイを構成した場合、ドライバーICなどが設けられる配線部520以外の、可撓性を有する表示部510は、例えば、丸めることができるようなディスプレイとすることができる。   10 and 11, a method for manufacturing a display by laying out a plurality of unit display panels 500 has been described. However, a single unit display panel 500 may be used as a display. When the display is configured only by the unit display panel 500, the flexible display unit 510 other than the wiring unit 520 provided with a driver IC or the like can be a display that can be rolled, for example.

次に、本発明の他の実施形態について説明する。図12は表示パネル500の構成例を模式的に示す図であり、表示パネル500の断面構造を示す図である。これまで説明した実施形態においては、図12(A)に示すように、1つのトランジスタアレイ1上に1つの表示層400を、さらにその上に1つの透明電極450を積層させて表示パネル500を構成するようにしていた。これに対して、他の実施形態としては、図12(B)に示すような表示パネル500も構成することが可能である。すなわち、表示パネル500を構成する上では、タイリングした2つのトランジスタアレイ1、1’上に1つの表示層400を、さらにその上に1つの透明電極450を積層させて構成するようにしてもよい。さらに図12(B)の例に限らず、任意の数タイリングしたトランジスタアレイに対して、任意の数の表示層、透明電極を組み合わせて積層するようにして、表示パネル500を構成することもできる。   Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 12 is a diagram schematically illustrating a configuration example of the display panel 500, and is a diagram illustrating a cross-sectional structure of the display panel 500. In the embodiment described so far, as shown in FIG. 12A, one display layer 400 is stacked on one transistor array 1, and one transparent electrode 450 is further stacked thereon to form a display panel 500. I was trying to compose. On the other hand, as another embodiment, a display panel 500 as shown in FIG. 12B can be configured. That is, in configuring the display panel 500, one display layer 400 may be stacked on the two tiling transistor arrays 1, 1 ′, and one transparent electrode 450 may be further stacked thereon. Good. Furthermore, not limited to the example of FIG. 12B, the display panel 500 may be configured by stacking a combination of an arbitrary number of display layers and transparent electrodes on an arbitrary number of tiled transistor arrays. it can.

次に、本発明の他の実施形態について説明する。図13は本発明の他の実施形態に係るトランジスタアレイ1の斜視図である。本実施形態が、これまでに説明した実施形態と異なる点は、基材10の一辺側に延在されたデータライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200の周囲にはESDリング600が配されることを特徴としている。   Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 13 is a perspective view of a transistor array 1 according to another embodiment of the present invention. The present embodiment is different from the embodiments described so far in that an ESD ring 600 is arranged around the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 extending to one side of the substrate 10. It is characterized by that.

図13の吹き出し内に示されるように、ESDリング600は、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200及びトランスファーゲートの周囲を電気的に囲むと共に、データライン引き回し電極100(又はスキャンライン引き回し電極200、又はトランスファーゲート)との間に、ダイオードD1、D2とが接続された構成となっている。   As shown in the balloon of FIG. 13, the ESD ring 600 electrically surrounds the periphery of the data line routing electrode 100, the scan line routing electrode 200, and the transfer gate, and the data line routing electrode 100 (or the scan line routing electrode). 200, or a transfer gate), diodes D1 and D2 are connected.

ダイオードD1、D2は、図14に示すように、先の実施形態で説明したトランジスタと同様のトランジスタTr1、Tr2のゲート電極をソース・ドレイン電極のどちらか一方を短絡させて構成することができる。このための積層構造は、図3で説明したものを応用することで実現することができる。   As shown in FIG. 14, the diodes D1 and D2 can be configured by short-circuiting one of the source and drain electrodes of the gate electrodes of the transistors Tr1 and Tr2 similar to the transistors described in the previous embodiment. A laminated structure for this purpose can be realized by applying the structure described in FIG.

ESDはElectro Static Dischargeの略であり、上記のようなESDリング600が、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200及びトランスファーゲートの周囲に設けられることにより、データライン引き回し電極100、スキャンライン引き回し電極200、トランスファーゲートや基材10に発生した静電気を、ダイオードD1、D2を介してESDリング600側に逃がすこと
ができるようになる。以上のようなESDリング600が設けられた実施形態によれば、ESDリング600についても、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200と同様、基材10の一辺側に配されることとなり、残りの3辺を利用したシームレスのタイリングを行い、大型の表示装置を構成することが可能となる。
ESD is an abbreviation for Electro Static Discharge, and the ESD ring 600 as described above is provided around the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 and the transfer gate, whereby the data line routing electrode 100 and the scan line routing are provided. Static electricity generated in the electrode 200, the transfer gate, and the base material 10 can be released to the ESD ring 600 side via the diodes D1 and D2. According to the embodiment in which the ESD ring 600 is provided as described above, the ESD ring 600 is also arranged on one side of the base material 10, like the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200. Seamless tiling using the remaining three sides is performed, and a large display device can be configured.

以上、本発明のトランジスタアレイによれば、矩形状表示エリアの1辺のみから引き回し電極が引き出された単位表示パネルを製造することができるようになるので、タイリングを行う単位表示パネルの数に制限がなくなり、より大型の表示装置を簡単に製造することが可能となる。   As described above, according to the transistor array of the present invention, it is possible to manufacture a unit display panel in which the lead-out electrode is drawn out from only one side of the rectangular display area. There is no limitation, and a larger display device can be easily manufactured.

また、本発明のトランジスタアレイによれば、単位表示パネルを安価に製造することが可能となるので、これをタイリングして製造する大型の表示装置を安価に製造することができるようになる。   Further, according to the transistor array of the present invention, the unit display panel can be manufactured at a low cost, so that a large display device manufactured by tiling the unit display panel can be manufactured at a low cost.

また、本発明のトランジスタアレイの連結方法によれば、単位表示パネルを簡便に連結することが可能となるので、より大型の表示装置をコストアップすることなく製造することが可能となる。
(実施例)
基材10として、PENフィルム基材を用い、この上にAl(膜厚150nm)続いてCr(膜厚20nm)をスパッタ蒸着して基材全面に積層させた。次いでフォトリソグラフィー工程およびエッチング工程にてAl/Cr積層薄膜をパターニングしてデータライン引き回し電極100及びスキャンライン引回し電極200を形成した。
In addition, according to the transistor array coupling method of the present invention, unit display panels can be simply coupled, so that a larger display device can be manufactured without increasing the cost.
(Example)
A PEN film substrate was used as the substrate 10, and Al (film thickness 150 nm) and then Cr (film thickness 20 nm) were sputter-deposited thereon and laminated on the entire surface of the substrate. Subsequently, the Al / Cr laminated thin film was patterned by a photolithography process and an etching process to form a data line routing electrode 100 and a scan line routing electrode 200.

次に、引回し電極上に紫外線感光性アクリル系樹脂をスピンコートし、フォトマスクを介した露光及びアルカリ現像工程を行い、スルーホールのパターニングを行った。次いで150℃のオーブンにて加熱硬化させ、層間絶縁層341(膜厚3μm)を形成した。   Next, ultraviolet photosensitive acrylic resin was spin-coated on the lead-out electrode, exposure through a photomask and an alkali development process were performed, and through holes were patterned. Subsequently, it was heat-cured in an oven at 150 ° C. to form an interlayer insulating layer 341 (film thickness: 3 μm).

続いて、層間絶縁層341上にAl(膜厚150nm)をスパッタ蒸着し、次いでフォトリソグラフィー工程およびエッチング工程にてAl薄膜をパターニングしてスキャンライン導通部210、ゲート電極323、Cs下部電極332を形成した。この工程にて、スキャンライン引回し電極200とスキャンライン導通部210を導通させた。   Subsequently, Al (thickness: 150 nm) is sputter-deposited on the interlayer insulating layer 341, and then the Al thin film is patterned by a photolithography process and an etching process to form the scan line conductive portion 210, the gate electrode 323, and the Cs lower electrode 332. Formed. In this step, the scan line routing electrode 200 and the scan line conducting part 210 are conducted.

次に、ゲート電極323を形成した表面に紫外線感光性アクリル系樹脂をスピンコートし、フォトマスクを介した露光及びアルカリ現像工程を行い、データライン導通部110のスルーホールのパターニングを行った。次いで150℃のオーブンにて加熱硬化させ、ゲート絶縁層342(膜厚1μm)を形成した。   Next, an ultraviolet photosensitive acrylic resin was spin-coated on the surface on which the gate electrode 323 was formed, exposure through a photomask and an alkali development process were performed, and patterning of the through hole of the data line conduction portion 110 was performed. Subsequently, it was cured by heating in an oven at 150 ° C. to form a gate insulating layer 342 (film thickness 1 μm).

次に、ゲート絶縁層342上にポジ型フォトレジストをスピンコートにて塗布し、フォ
トマスクを用いた露光および現像工程を経てデータライン導通部110、ソース電極322およびドレイン電極321、Cs上部電極331形成領域のフォトレジストを除去した。次いで、Au(膜厚50nm)をスパッタ蒸着してフォトレジスト上全面にAu薄膜を形成した。次いで、アセトンに浸漬させた状態で超音波浴槽にてフォトレジスト及びフォトレジスト上のAu薄膜を除去し、データライン導通部110、ソース電極322およびドレイン電極321、Cs上部電極331を形成した。この工程にて、データライン引回し電極100とデータライン導通部110を導通させた。
Next, a positive photoresist is applied onto the gate insulating layer 342 by spin coating, and after exposure and development processes using a photomask, the data line conducting portion 110, the source electrode 322 and the drain electrode 321, and the Cs upper electrode 331. The photoresist in the formation area was removed. Next, Au (film thickness 50 nm) was sputter-deposited to form an Au thin film on the entire surface of the photoresist. Next, the photoresist and the Au thin film on the photoresist were removed in an ultrasonic bath while being immersed in acetone, and the data line conducting portion 110, the source electrode 322, the drain electrode 321, and the Cs upper electrode 331 were formed. In this step, the data line routing electrode 100 and the data line conducting portion 110 are conducted.

次に、チオフェン系ポリマーをモノクロロベンゼン溶液に固形分濃度1wt%にて溶解させた有機半導体溶液を準備し、ソース・ドレイン電極を形成した表面にスピンコートにて膜厚50nmの有機半導体層を全面に形成した。次いで、紫外線感光性アクリル系樹脂を有機半導体層上にスピンコートし、フォトマスクを介した露光及びアルカリ現像工程を
行い、トランジスタチャネル領域上にアクリル系樹脂をパターニングした。次いで150℃のオーブンにて加熱硬化させ、トランジスタチャネル領域上にアクリル系樹脂を形成した。
Next, an organic semiconductor solution in which a thiophene polymer is dissolved in a monochlorobenzene solution at a solid concentration of 1 wt% is prepared, and an organic semiconductor layer having a thickness of 50 nm is formed on the entire surface on which the source / drain electrodes are formed by spin coating. Formed. Next, an ultraviolet photosensitive acrylic resin was spin-coated on the organic semiconductor layer, exposure through a photomask and an alkali development process were performed, and the acrylic resin was patterned on the transistor channel region. Next, the resin was heated and cured in an oven at 150 ° C. to form an acrylic resin on the transistor channel region.

次に、大気下で真空紫外線(波長172nm、照度3mW/cm2)を60秒間照射し、アクリル系樹脂で覆われている以外の領域の有機半導体をアッシング除去し、半導体のパターニングを行った。これにより、半導体層324を得た。   Next, vacuum ultraviolet rays (wavelength: 172 nm, illuminance: 3 mW / cm 2) were irradiated for 60 seconds in the atmosphere, and the organic semiconductor in a region other than that covered with the acrylic resin was removed by ashing, and the semiconductor was patterned. Thereby, the semiconductor layer 324 was obtained.

次に、紫外線感光性アクリル系樹脂をスピンコートし、フォトマスクを介した露光及びアルカリ現像工程を行い、画素電極330導通部(電気接続部Th)のスルーホールのパターニングを行った。次いで150℃のオーブンにて加熱硬化させ、封止層(膜厚10μm)を形成した。   Next, ultraviolet photosensitive acrylic resin was spin-coated, exposure through a photomask and an alkali development process were performed, and patterning of the through hole of the pixel electrode 330 conduction portion (electric connection portion Th) was performed. Subsequently, it was cured by heating in an oven at 150 ° C. to form a sealing layer (film thickness: 10 μm).

次に、カーボンペーストをスクリーン印刷にてデータライン導通部110及びスキャンライン導通部210を覆うようにパターン印刷し、画素電極(膜厚5μm)を形成した。この工程にて、画素電極330とCs上部電極331を導通させた。   Next, the carbon paste was subjected to pattern printing by screen printing so as to cover the data line conduction part 110 and the scan line conduction part 210, thereby forming a pixel electrode (film thickness: 5 μm). In this step, the pixel electrode 330 and the Cs upper electrode 331 are made conductive.

次に、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200が、表示エリア以外に延在している1辺を除く3辺をカッティングマシーンにて裁断し、3辺が峡額縁のトランジスタアレイ1を形成した。裁断の結果、3辺の額縁は約100μm幅であった。   Next, the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 are cut by a cutting machine except for one side extending outside the display area to form a transistor array 1 having three sides as a frame. did. As a result of the cutting, the frame on the three sides was about 100 μm wide.

続いて、200mm×200mmの大きさのツイストボール方式の電子ペーパーシートに、上記工程にて作製した表示エリア100mm×100mmのトランジスタアレイ1を粘着材にて4枚張り合わせた。このとき別体であるトランジスタアレイ1の基材間を約50μmにて貼り合わせて固定し、表示パネル500(タイリングディスプレイ)を作製した。   Subsequently, four pieces of the transistor array 1 having a display area of 100 mm × 100 mm produced in the above process were bonded to an electronic paper sheet of a twist ball type having a size of 200 mm × 200 mm using an adhesive material. At this time, the base material of the transistor array 1 which is a separate body was bonded and fixed at about 50 μm to produce a display panel 500 (tiling display).

作製した表示パネル500データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200から所定の信号を送り、電子ペーパーシートに絵柄を表示させた。結果、別体であるトランジスタアレイ1隙間における電子ペーパーシートの応答不可領域は約200μm幅であり、トランジスタアレイ1間の繋ぎ目を軽減したタイリングディスプレイを作製することができた。また、上記したトランジスタ作製工程と同工程にて、データライン引き回し電極100及びスキャンライン引き回し電極200が表示エリア以外に延在している1辺にダイオードを配置してESDリングを形成することで、3辺の峡額縁化に寄与することができた。   A predetermined signal was sent from the produced display panel 500 data line routing electrode 100 and scan line routing electrode 200 to display a pattern on the electronic paper sheet. As a result, the non-responsive area of the electronic paper sheet in the gap between the separate transistor arrays 1 was about 200 μm wide, and a tiling display with reduced joints between the transistor arrays 1 could be produced. Further, in the same process as the transistor manufacturing process described above, an ESD ring is formed by disposing a diode on one side where the data line routing electrode 100 and the scan line routing electrode 200 extend outside the display area, We were able to contribute to the framing of the three sides.

1・・・トランジスタアレイ
10・・・基材
30・・・ドライバーIC導通電極
50・・・ドライバーIC
70・・・タイリング用電極
100・・・データライン引き回し電極
110・・・データライン導通部
200・・・スキャンライン引き回し電極
210・・・スキャンライン導通部
300・・・表示エリア
310・・・画素
321・・・ドレイン電極
322・・・ソース電極
323・・・ゲート電極
324・・・半導体層
330・・・画素電極
331・・・上部電極
332・・・下部電極
341・・・層間絶縁層
342・・・ゲート絶縁層
343・・・封止層
400・・・表示層
450・・・透明電極層
500・・・表示パネル
510・・・表示部
520・・・配線部
550・・・連結用フレキシブルプリント基板
600・・・ESDリング
Th・・・電気接続部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Transistor array 10 ... Base material 30 ... Driver IC conduction electrode 50 ... Driver IC
70 ... Tiling electrode 100 ... Data line routing electrode 110 ... Data line conducting portion 200 ... Scan line routing electrode 210 ... Scan line conducting portion 300 ... Display area 310 ... Pixel 321 ... Drain electrode 322 ... Source electrode 323 ... Gate electrode 324 ... Semiconductor layer 330 ... Pixel electrode 331 ... Upper electrode 332 ... Lower electrode 341 ... Interlayer insulating layer 342 ... Gate insulating layer 343 ... Sealing layer 400 ... Display layer 450 ... Transparent electrode layer 500 ... Display panel 510 ... Display unit 520 ... Wiring unit 550 ... Connection Flexible printed circuit board 600 ... ESD ring Th ... electrical connection

Claims (5)

矩形状の主面を有する基材と、
前記基材の前記主面に対する積層方向に配設されるデータライン引き回し電極及びスキャンライン引き回し電極と、
前記データライン引き回し電極と電気接続されるデータライン導通部と、
前記スキャンライン引き回し電極と電気接続されるスキャンライン導通部と、
前記データライン導通部と前記スキャンライン導通部からの信号で駆動されるトランジスタを含む回路により所定電圧が保持される画素電極を複数含む表示エリアと、を有し、
前記積層方向からみて、少なくとも前記データライン引き回し電極又は前記スキャンライン引き回し電極のいずれか一方が、前記表示エリアと重畳し、
前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極が、前記基材の一辺側に延在するように配され、
前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極が延在する前記基材の一辺と隣り合う2つの辺の間を導通するタイリング用電極が前記基材上に設けられるトランジスタアレイを2つ以上連結すると共に、連結した前記トランジスタアレイ同士の前記タイリング用電極を導通させる工程と、
前記タイリング用電極の一部を切断する工程と、からなることを特徴とするトランジスタアレイの連結方法。
A base material having a rectangular main surface;
A data line routing electrode and a scan line routing electrode arranged in the stacking direction with respect to the main surface of the substrate;
A data line conducting portion electrically connected to the data line routing electrode;
A scan line conducting portion electrically connected to the scan line routing electrode;
Have a, a plurality comprises display area pixel electrode predetermined voltage is held by a circuit including a transistor which is driven by a signal from the said scan line conductive section and the data line conductive section,
When viewed from the stacking direction, at least one of the data line routing electrode or the scan line routing electrode is overlapped with the display area ,
The data line routing electrode and the scan line routing electrode are arranged so as to extend to one side of the substrate,
Two or more transistor arrays each having a tiling electrode connected to one side of the substrate on which the data line routing electrode and the scan line routing electrode extend are connected to each other are connected to the substrate. And conducting the tiling electrodes between the connected transistor arrays; and
And a step of cutting off a part of the tiling electrode.
前記データライン引き回し電極とデータライン導通部とが電気接続する接続部と、前記スキャンライン引き回し電極とスキャンライン導通部とが電気接続する接続部が、前記基材の周縁に配されることを特徴とする請求項1に記載のトランジスタアレイの連結方法The connection part where the data line routing electrode and the data line conduction part are electrically connected and the connection part where the scan line routing electrode and the scan line conduction part are electrically connected are arranged on the periphery of the base material. The method of connecting transistor arrays according to claim 1 . 前記積層方向からみて、前記データライン引き回し電極とデータライン導通部とが電気接続する接続部と、前記スキャンライン引き回し電極とスキャンライン導通部とが電気接続する接続部が、前記画素電極に覆われていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のトランジスタアレイの連結方法When viewed from the stacking direction, the pixel electrode covers a connection portion where the data line routing electrode and the data line conduction portion are electrically connected and a connection portion where the scan line routing electrode and the scan line conduction portion are electrically connected. The transistor array connection method according to claim 1, wherein the transistor array is connected . 前記基材の一辺側に延在された前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極の周囲にはESDリングが配されることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のトランジスタアレイの連結方法4. The ESD ring according to claim 1 , wherein an ESD ring is disposed around the data line routing electrode and the scan line routing electrode extending to one side of the base material. 5. The connection method of the transistor array of description. 前記基板には、前記データライン引き回し電極及び前記スキャンライン引き回し電極に信号を供給するドライバーICが配されることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載のトランジスタアレイの連結方法5. The transistor array according to claim 1 , wherein a driver IC that supplies a signal to the data line routing electrode and the scan line routing electrode is disposed on the substrate . 6. Consolidation method .
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