JP5674148B2 - Glass substrate polishing method and polishing apparatus - Google Patents

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本発明は、ガラス基板の研磨方法及び研磨装置に関する。   The present invention relates to a glass substrate polishing method and polishing apparatus.

液晶ディスプレイ等のFPD(Flat Panel Display)用ガラス基板は、例えばフロート窯等のガラスリボン成形装置によって帯状に成形されたガラスリボンを、切折工程で所定の矩形状サイズのガラス基板に切り折り加工し、これを面取工程で端面を面取加工することにより、所定の外形寸法のガラス基板に製造される。そして、このガラス基板は、面取工程の後段に配された洗浄工程、及び検査工程を経て研磨工程に移送され、表面の微小な凹凸やうねりを研磨除去することにより、FPD用ガラス基板で要求される平坦度を満足した薄板状に製造される。   Glass substrates for FPD (Flat Panel Display) such as liquid crystal displays are cut and folded into glass plates of a predetermined rectangular size in the cutting process using a glass ribbon formed by a glass ribbon forming device such as a float kiln. Then, by chamfering the end face in a chamfering process, the glass substrate is manufactured to a predetermined outer dimension. And this glass substrate is transferred to the polishing step through the cleaning step and the inspection step arranged after the chamfering step, and is required for the FPD glass substrate by polishing and removing fine irregularities and waviness on the surface. It is manufactured in a thin plate shape that satisfies the flatness.

前記研磨工程では、ガラス基板の非研磨面をテーブルに吸着固定して、テーブルを研磨部に搬送し、ガラス基板の研磨面に研磨液(スラリ)を供給しながら研磨具によってガラス基板の研磨面を研磨する。   In the polishing step, the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to a table, the table is transferred to a polishing unit, and a polishing liquid (slurry) is supplied to the polished surface of the glass substrate while polishing the glass substrate with a polishing tool. To polish.

この研磨時において、研磨液がガラス基板の縁部からガラス基板の非研磨面の縁部に浸入し、研磨液の成分である酸化セリウムや研磨によって削り落とされたガラスの成分がガラス基板の非研磨面の縁部に固着して縁部を汚染するという不具合が発生する。   At the time of this polishing, the polishing liquid enters the edge of the non-polished surface of the glass substrate from the edge of the glass substrate, and cerium oxide, which is a component of the polishing liquid, and the glass component scraped off by the polishing are not on the glass substrate. There is a problem that the edge is contaminated by adhering to the edge of the polishing surface.

この不具合を防止するために、特許文献1のウェーハの研磨方法では、ウェーハの非研磨面に、合成樹脂製の保護材からなる保護膜を形成している。この保護膜を介してウェーハの非研磨面を研磨治具に固定することにより、ウェーハの非研磨面の縁部を研磨液から保護している。   In order to prevent this problem, in the wafer polishing method of Patent Document 1, a protective film made of a protective material made of synthetic resin is formed on the non-polished surface of the wafer. The edge of the non-polished surface of the wafer is protected from the polishing liquid by fixing the non-polished surface of the wafer to the polishing jig via this protective film.

また、特許文献2に開示されたウェーハの研磨方法では、ウェーハの非研磨面とウェーハ載置用プレートとの間に、多価アルコール等の緩衝材を介在させることにより、ウェーハの非研磨面の縁部を研磨液から保護している。   Further, in the wafer polishing method disclosed in Patent Document 2, a buffer material such as polyhydric alcohol is interposed between the non-polished surface of the wafer and the wafer mounting plate to thereby remove the non-polished surface of the wafer. The edge is protected from the polishing liquid.

特開昭62−51226号公報JP-A-62-51226 特開平6−61203号公報JP-A-6-61203

ところで、連続式研磨装置と称されるガラス基板の研磨装置は、ガラス基板の非研磨面を吸着固定するテーブルを、所定のループで搬送しながらガラス基板の研磨面を研磨する。つまり、ループを構成するテーブルの搬送路には、ガラス基板の吸着固定部、研磨部、ガラス基板の取外部、テーブル洗浄部が順に設けられている。研磨前のガラス基板は、前記吸着固定部に位置したテーブルにその非研磨面が吸着固定され、この後、テーブルにより前記研磨部に搬送されて研磨される。そして、研磨後のガラス基板は、テーブルによって前記取外部に搬送され、ここでテーブルから取り外される。ガラス基板が取り外されたテーブルは、前記洗浄部を通過中に洗浄され、次のガラス基板の吸着用テーブルとして準備される。   By the way, a glass substrate polishing apparatus called a continuous polishing apparatus polishes a polishing surface of a glass substrate while conveying a table for adsorbing and fixing the non-polishing surface of the glass substrate by a predetermined loop. In other words, a glass substrate suction fixing portion, a polishing portion, a glass substrate removal portion, and a table cleaning portion are sequentially provided in the transport path of the table constituting the loop. The non-polished surface of the glass substrate before polishing is fixed by suction to a table positioned at the suction fixing unit, and thereafter, the glass substrate is conveyed to the polishing unit by the table and polished. And the glass substrate after grinding | polishing is conveyed by the said table outside by a table, and is removed from a table here. The table from which the glass substrate has been removed is cleaned while passing through the cleaning section, and is prepared as a suction table for the next glass substrate.

ここで、特許文献1に開示された研磨方法は、ウェーハの非研磨面に保護膜を予め形成した後、研磨を行う方法である。また、特許文献2に開示された研磨方法は、ウェーハの非研磨面とウェーハ載置用プレートとの間に保護膜を設けるものである。   Here, the polishing method disclosed in Patent Document 1 is a method in which a protective film is formed in advance on a non-polished surface of a wafer and then polished. Further, the polishing method disclosed in Patent Document 2 is to provide a protective film between a non-polished surface of a wafer and a wafer mounting plate.

しかしながら、ガラス基板のサイズは縦横寸法が1000mmを超えるものが主流であり、このような大型のガラス基板に前記保護膜を予め形成することは取り扱いの難しさから困難である。また、保護膜形成のための設備が別途必要になることから、特許文献1の研磨方法をガラス基板の研磨方法に採用することは困難であるという問題があった。   However, the size of the glass substrate is mainly the one whose vertical and horizontal dimensions exceed 1000 mm, and it is difficult to form the protective film in advance on such a large glass substrate due to difficulty in handling. In addition, since a separate facility for forming the protective film is required, there is a problem that it is difficult to employ the polishing method of Patent Document 1 as the glass substrate polishing method.

一方で、テーブルによってガラス基板を直接吸着するガラス基板の研磨装置に、ウェーハの非研磨面とウェーハ載置用プレートとの間に保護膜を設ける特許文献2の研磨方法を採用することは、研磨時にガラス基板が不安定になることから、不可能であった。   On the other hand, adopting the polishing method of Patent Document 2 in which a protective film is provided between a non-polished surface of a wafer and a wafer mounting plate in a glass substrate polishing apparatus that directly adsorbs the glass substrate by a table is a polishing process. It was impossible because the glass substrate sometimes became unstable.

前記ガラス基板の研磨装置のテーブルは、その吸着面が自己吸着性のあるシート材によって構成されている。シート材の表面が乾燥すると、シート材の自己吸着性が弱くなり、ガラス基板の研磨中にガラス基板が割れる恐れがある。したがって、このシート材に吸着固定されるガラス基板の非研磨面の乾燥を防止したり、シート材の自己吸着性を高めたりするためには、乾燥防止用液を介してガラス基板をシート材に吸着固定する必要がある。この場合も乾燥防止用液をガラス基板とシート材との間に良好に供給する必要があった。   The table of the glass substrate polishing apparatus has a suction surface made of a self-adsorbing sheet material. When the surface of the sheet material is dried, the self-adsorption property of the sheet material becomes weak, and the glass substrate may break during polishing of the glass substrate. Therefore, in order to prevent drying of the non-polished surface of the glass substrate that is adsorbed and fixed to the sheet material, or to increase the self-adsorption property of the sheet material, the glass substrate is used as the sheet material via a drying prevention liquid. It is necessary to fix by adsorption. Also in this case, it was necessary to supply the anti-drying solution well between the glass substrate and the sheet material.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、研磨液によるガラス基板の非研磨面の縁部の汚染を防止でき、かつ、ガラス基板の非研磨面をテーブルに良好に吸着固定することができるガラス基板の研磨方法及び研磨装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, can prevent contamination of the edge of the non-polished surface of the glass substrate by the polishing liquid, and favorably adsorb and fix the non-polished surface of the glass substrate to the table. An object of the present invention is to provide a polishing method and a polishing apparatus for a glass substrate.

本発明のガラス基板の研磨方法は、前記目的を達成するために、ガラス基板の非研磨面を吸着固定するテーブルに向けて、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の全域が吸着固定される領域に、第1のノズルから乾燥防止用液を噴霧し、次いで前記テーブルに対して、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の縁部が吸着固定される領域に、第2のノズルから緩衝液を噴霧する液体噴霧工程であって、前記テーブルの単位面積当たりの前記緩衝液の塗布量が、前記テーブルの単位面積当たりの前記乾燥防止用液の塗布量よりも多めに設定された液体噴霧工程と、ガラス基板の非研磨面の全域を、前記乾燥防止用液を介して前記テーブルに吸着固定するとともに、前記ガラス基板の非研磨面の縁部を、前記緩衝液を介して前記テーブルに吸着固定するガラス基板固定工程と、前記テーブルに非研磨面が吸着固定された前記ガラス基板の研磨面に、研磨液を供給しながら該研磨面を研磨具によって研磨する研磨工程と、を備えている。 In order to achieve the above object, the glass substrate polishing method of the present invention is a region in which the entire non-polished surface of the glass substrate of the table is attracted and fixed toward the table that adsorbs and fixes the non-polished surface of the glass substrate. Next, spray the anti-drying solution from the first nozzle, and then apply the buffer solution from the second nozzle to the area where the edge of the non-polished surface of the glass substrate of the table is adsorbed and fixed to the table. A liquid spraying step for spraying , wherein the application amount of the buffer solution per unit area of the table is set to be larger than the application amount of the drying preventing liquid per unit area of the table ; The entire non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table via the anti-drying liquid, and the edge of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table via the buffer solution. A glass substrate fixing step that, non-abrasive surface to the table is and a polishing step of polishing the polished surface of the glass substrate attracted fixed, the polished surface by the polishing tool while supplying a polishing liquid.

本発明のガラス基板の研磨装置は、前記目的を達成するために、ガラス基板の非研磨面を吸着固定するテーブルと、前記テーブルに向けて、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の全域が吸着固定される領域に乾燥防止用液を噴霧する第1のノズル、及び前記テーブルに対して、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の縁部が吸着固定される領域に緩衝液を噴霧する第2のノズルと、を有する液体噴霧部であって、前記テーブルの単位面積当たりの前記緩衝液の塗布量が、前記テーブルの単位面積当たりの前記乾燥防止用液の塗布量よりも多めに設定された液体噴霧部と、ガラス基板の非研磨面の全域を、前記乾燥防止用液を介して前記テーブルに吸着固定させるとともに、前記ガラス基板の非研磨面の縁部を、前記緩衝液を介して前記テーブルに吸着固定させるガラス基板固定部と、前記テーブルに非研磨面が吸着固定された前記ガラス基板の研磨面に研磨液を供給しながら該研磨面を研磨具によって研磨する研磨部と、を備えている。 In order to achieve the above object, the glass substrate polishing apparatus of the present invention adsorbs and fixes the non-abrasive surface of the glass substrate to the table and the entire area of the non-abrasive surface of the glass substrate of the table toward the table. A first nozzle that sprays an anti-drying liquid on an area to be fixed, and a second nozzle that sprays a buffer liquid on an area where the edge of the non-polished surface of the glass substrate of the table is adsorbed and fixed to the table. The amount of the buffer solution applied per unit area of the table is set to be larger than the amount of the anti-drying solution applied per unit area of the table. The liquid spray part and the entire area of the non-polished surface of the glass substrate are adsorbed and fixed to the table via the anti-drying liquid, and the edge of the non-polished surface of the glass substrate is intercalated via the buffer solution. The A glass substrate fixing portion that is adsorbed and fixed to a glass, and a polishing portion that polishes the polishing surface with a polishing tool while supplying a polishing liquid to the polishing surface of the glass substrate whose non-polishing surface is adsorbed and fixed to the table. ing.

本発明によれば、まず、第1のノズルからテーブルに向けて乾燥防止用液を噴霧して、ガラス基板の非研磨面の全域が吸着固定される領域に乾燥防止用液を塗布し、次いで第2のノズルからテーブルに向けて緩衝液を噴霧して、テーブルに対してガラス基板の非研磨面の縁部が吸着固定される領域に緩衝液を塗布する。   According to the present invention, first, the anti-drying liquid is sprayed from the first nozzle toward the table, and the anti-drying liquid is applied to the region where the entire area of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed. The buffer solution is sprayed from the second nozzle toward the table, and the buffer solution is applied to the region where the edge of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table.

次に、ガラス基板固定部でガラス基板の非研磨面の全域を、前記乾燥防止用液を介してテーブルに吸着固定するとともに、ガラス基板の非研磨面の縁部を、前記緩衝液を介してテーブルに吸着固定する。   Next, the entire non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table via the anti-drying liquid by the glass substrate fixing portion, and the edge of the non-polished surface of the glass substrate is fixed via the buffer solution. Adhere to the table.

次いで、研磨部でガラス基板の研磨面に研磨液を供給しながら研磨面を研磨具によって研磨する。この研磨中において、ガラス基板の非研磨面の縁部は緩衝液によって保護されているので、前記縁部は研磨液によって汚染されることはない。   Next, the polishing surface is polished by a polishing tool while supplying a polishing liquid to the polishing surface of the glass substrate in the polishing unit. During this polishing, the edge of the non-polished surface of the glass substrate is protected by the buffer solution, so that the edge is not contaminated by the polishing liquid.

以上の如く、本発明は、テーブルに向けて液体噴霧部から乾燥防止用液及び緩衝液を噴霧するので、研磨液によるガラス基板の非研磨面の縁部の汚染を防止でき、かつ、ガラス基板の非研磨面をテーブルに良好に吸着固定することができる。   As described above, the present invention sprays the drying preventing liquid and the buffer solution from the liquid spraying part toward the table, so that the contamination of the edge of the non-polished surface of the glass substrate by the polishing liquid can be prevented, and the glass substrate It is possible to satisfactorily adsorb and fix the non-polished surface to the table.

本発明のガラス基板の研磨方法によれば、前記液体噴霧工程は、前記テーブル及び前記第1、第2のノズルの少なくとも一方を相対的に移動させながら、前記第1のノズルから前記乾燥防止用液を噴霧するとともに、前記第2のノズルから前記緩衝液を噴霧することが好ましい。   According to the glass substrate polishing method of the present invention, in the liquid spraying step, the drying prevention is performed from the first nozzle while relatively moving at least one of the table and the first and second nozzles. While spraying a liquid, it is preferable to spray the buffer solution from the second nozzle.

本発明のガラス基板の研磨装置によれば、前記液体噴霧部は、前記テーブル及び前記第1、第2のノズルの少なくとも一方を相対的に移動させながら、前記第1のノズルから前記乾燥防止用液を噴霧するとともに、前記第2のノズルから前記緩衝液を噴霧することが好ましい。   According to the glass substrate polishing apparatus of the present invention, the liquid spraying unit is configured to prevent the drying from the first nozzle while relatively moving at least one of the table and the first and second nozzles. While spraying a liquid, it is preferable to spray the buffer solution from the second nozzle.

テーブルを移動させる場合には、まず、空のテーブルをテーブル搬送路に沿って液体噴霧部に搬送する。そして、このテーブルをテーブル搬送路に沿って搬送しながら、第1のノズルからテーブルに向けて乾燥防止用液を噴霧し、テーブルに乾燥防止用液を塗布するとともに、第2のノズルからテーブルに向けて緩衝液を噴霧し、テーブルに緩衝液を塗布する。   When moving the table, first, an empty table is transported to the liquid spraying section along the table transport path. Then, while transporting the table along the table transport path, the drying prevention liquid is sprayed from the first nozzle toward the table, the drying prevention liquid is applied to the table, and the second nozzle is applied to the table. Spray the buffer solution and apply the buffer solution to the table.

また、第1、第2のノズルを移動させる場合には、固定されたテーブルの上面に対して第1、第2のノズルを移動させてテーブルに乾燥防止用液及び緩衝液を噴霧する。しかしながら、テーブルを搬送路に沿って移動させながらガラス基板を研磨する場合には、第1、第2のノズルを固定型とし、既存のテーブル搬送設備を利用して搬送中のテーブルに向けて乾燥防止用液及び緩衝液を噴霧する構成とすることが、ノズル移動設備を付加することなく乾燥防止用液及び緩衝液を噴霧することができるので好ましい。   Further, when the first and second nozzles are moved, the first and second nozzles are moved with respect to the upper surface of the fixed table to spray the drying preventing liquid and the buffer solution on the table. However, when polishing the glass substrate while moving the table along the transport path, the first and second nozzles are fixed and dried using the existing table transport equipment toward the table being transported. It is preferable to spray the prevention liquid and the buffer solution because the drying prevention liquid and the buffer solution can be sprayed without adding a nozzle moving facility.

本発明のガラス基板の研磨方法及び研磨装置によれば、前記乾燥防止用液と前記緩衝液とは同一の液体であることが好ましい。   According to the glass substrate polishing method and polishing apparatus of the present invention, it is preferable that the drying preventing liquid and the buffer liquid are the same liquid.

本発明のガラス基板の研磨方法及び研磨装置によれば、前記液体は多価アルコールであることが好ましい。   According to the glass substrate polishing method and polishing apparatus of the present invention, the liquid is preferably a polyhydric alcohol.

本発明によれば、乾燥防止用液及び緩衝液として同一の液体を使用する場合には、多価アルコールが好適である。なお、乾燥防止用液として水を例示することができる。しかしながら、多価アルコールは水よりも乾燥防止作用が高いため、多価アルコールが好適である。また、多価アルコールは、研磨液によるガラス基板の縁部の汚染防止液としても好適である。   According to the present invention, polyhydric alcohols are preferred when the same liquid is used as the anti-drying solution and the buffer solution. In addition, water can be illustrated as a liquid for drying prevention. However, since polyhydric alcohol has a higher drying preventing effect than water, polyhydric alcohol is preferred. Polyhydric alcohol is also suitable as an anti-contamination liquid for the edge of the glass substrate by the polishing liquid.

なお、多価アルコールの種類は特に限定されず、具体的には、グリセリン、ポリエチレングリコール、エチレングリコール、プロピレングリコール、ジエチレングリコールなどが例示される。また、乾燥防止用液及び緩衝液は、2種以上の多価アルコールからなってもよく、多価アルコールと水とを混合させて多価アルコール水溶液としてもよい。   In addition, the kind of polyhydric alcohol is not specifically limited, Specifically, glycerol, polyethyleneglycol, ethylene glycol, propylene glycol, diethylene glycol etc. are illustrated. Further, the anti-drying solution and the buffer solution may be composed of two or more kinds of polyhydric alcohols, and may be a polyhydric alcohol aqueous solution by mixing polyhydric alcohol and water.

本発明のガラス基板の研磨方法によれば、前記第1のノズルと前記第2のノズルとを共通化した同一の共通ノズルを、前記テーブルと直交する方向で前記テーブルの上方に複数配置し、前記共通ノズルから前記液体を前記テーブルに向けて噴霧することが好ましい。   According to the glass substrate polishing method of the present invention, a plurality of the same common nozzles that share the first nozzle and the second nozzle are arranged above the table in a direction orthogonal to the table, The liquid is preferably sprayed from the common nozzle toward the table.

本発明のガラス基板の研磨装置によれば、前記第1のノズルと前記第2のノズルとを共通化した同一の共通ノズルが前記テーブルと直交する方向で前記テーブルの上方に複数配置され、前記共通ノズルから前記液体が前記テーブルに向けて噴霧されることが好ましい。   According to the glass substrate polishing apparatus of the present invention, a plurality of the same common nozzles that share the first nozzle and the second nozzle are arranged above the table in a direction orthogonal to the table, It is preferable that the liquid is sprayed from the common nozzle toward the table.

本発明によれば、複数の共通ノズルから噴霧される多価アルコール等の同一の液体を、ガラス基板の非研磨面の全域が吸着固定されるテーブルの領域に塗布するとともに、ガラス基板の非研磨面の全縁部が吸着固定されるテーブルの領域に前記液体を塗布する。このように同一の液体を使用することで第1、第2のノズルを共通化できるため、ノズルに対する液体供給系を簡素化できる。よって、本発明は、簡単な設備で液体噴霧部を構成することができる。   According to the present invention, the same liquid such as polyhydric alcohol sprayed from a plurality of common nozzles is applied to the area of the table where the entire area of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed, and the non-polished glass substrate The liquid is applied to the area of the table where the entire edge of the surface is suction fixed. Since the first and second nozzles can be shared by using the same liquid in this way, the liquid supply system for the nozzles can be simplified. Therefore, this invention can comprise a liquid spraying part with simple equipment.

なお、本発明では、テーブルに向けて乾燥防止用液及び緩衝液を噴霧する液体噴霧工程を設けているが、この工程に代えて、ガラス基板の非研磨面の全域に乾燥防止用液を塗布し、前記非研磨面の縁部に緩衝液を塗布する工程を設けてもよい。   In the present invention, a liquid spraying process for spraying the anti-drying liquid and the buffer liquid toward the table is provided. Instead of this process, the anti-drying liquid is applied to the entire non-polished surface of the glass substrate. And you may provide the process of apply | coating a buffer solution to the edge of the said non-polishing surface.

本発明に係るガラス基板の研磨方法及び研磨装置によれば、テーブルに向けて液体噴霧部から乾燥防止用液及び緩衝液を噴霧するので、研磨液によるガラス基板の非研磨面の縁部の汚染を防止でき、かつ、ガラス基板の非研磨面をテーブルに良好に吸着固定することができる。   According to the method and apparatus for polishing a glass substrate according to the present invention, the anti-drying liquid and the buffer solution are sprayed from the liquid spray portion toward the table, so that the edge of the non-polished surface of the glass substrate is contaminated by the polishing liquid. In addition, the non-polished surface of the glass substrate can be satisfactorily fixed to the table by suction.

図1は、実施の形態に係るガラス基板の研磨装置の全体構成を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing an overall configuration of a glass substrate polishing apparatus according to an embodiment. 図2は、液体噴霧部の構成をテーブル搬送路の下流側から見た正面図である。FIG. 2 is a front view of the configuration of the liquid spray unit as viewed from the downstream side of the table transport path. 図3は、図2に示した液体噴霧部の平面図である。FIG. 3 is a plan view of the liquid spray section shown in FIG. 図4は、第2のノズル群によって緩衝液が噴霧される領域と噴霧されない領域を示した説明図である。FIG. 4 is an explanatory view showing a region where the buffer solution is sprayed by the second nozzle group and a region where the buffer solution is not sprayed. 図5は、第2のノズル群の電磁弁の開閉動作を示したタイミングチャートである。FIG. 5 is a timing chart showing the opening / closing operation of the solenoid valves of the second nozzle group. 図6は、他の実施の形態の液体噴霧部の構成をテーブル搬送路の下流側から見た正面図である。FIG. 6 is a front view of the configuration of the liquid spray unit according to another embodiment as viewed from the downstream side of the table transport path. 図7は、図6に示した液体噴霧部の平面図である。FIG. 7 is a plan view of the liquid spray section shown in FIG. 図8は、共通ノズルに多価アルコールを供給する液配管系を示したブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing a liquid piping system for supplying polyhydric alcohol to a common nozzle. 図9は、共通ノズルに供給された多価アルコールの噴射をON−OFF制御するためのエア配管系を示したブロック図である。FIG. 9 is a block diagram showing an air piping system for ON-OFF control of the injection of the polyhydric alcohol supplied to the common nozzle. 図10は、液体噴霧部におけるテーブルの速度が変更される領域を示した説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram showing an area where the speed of the table in the liquid spraying unit is changed. 図11は、液体噴霧部におけるテーブルの速度を示したタイミングチャートである。FIG. 11 is a timing chart showing the speed of the table in the liquid spray section.

以下、添付図面に従って本発明の実施の形態に係るガラス基板の研磨方法及び研磨装置の好ましい形態について詳説する。   Hereinafter, preferred embodiments of a glass substrate polishing method and polishing apparatus according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1は、実施の形態に係るガラス基板の研磨装置10の全体構成を示す平面図である。図1では、矩形状のガラス基板Gの非研磨面を吸着固定する矩形状のテーブル12のテーブル搬送路が矢印で示されている。   FIG. 1 is a plan view showing an overall configuration of a glass substrate polishing apparatus 10 according to an embodiment. In FIG. 1, the table transport path of the rectangular table 12 that sucks and fixes the non-polished surface of the rectangular glass substrate G is indicated by an arrow.

テーブル搬送路には、テーブル搬送路の上流側から下流側に向けて液体噴霧部14、ガラス基板固定部16、及び研磨部18が順に配置されている。また、研磨部18の下流側には、不図示のガラス基板取外部とテーブル洗浄部とが設けられている。   In the table transport path, a liquid spraying section 14, a glass substrate fixing section 16, and a polishing section 18 are sequentially arranged from the upstream side to the downstream side of the table transport path. Further, on the downstream side of the polishing unit 18, a glass substrate removing portion (not shown) and a table cleaning unit are provided.

研磨部18においてガラス基板Gは、ガラス基板Gの非研磨面がテーブル12に吸着固定された状態でテーブル搬送路に沿って搬送されながら、テーブル搬送路に沿って配置された複数台の研磨具によって連続的に研磨される。この時、ガラス基板Gの研磨面に研磨液が供給されながら、回転する前記研磨具によって研磨面が研磨される。そして、研磨部18の出口においてガラス基板Gは、FPD用ガラス基板で要求される平坦度等を満足した薄板状に製造される。なお、研磨部18に配置される研磨具の台数は複数台に限定されるものではない。すなわち、ガラス基板Gのサイズに応じて、1台の研磨具であっても構わない。   In the polishing unit 18, the glass substrate G is a plurality of polishing tools arranged along the table transport path while being transported along the table transport path with the non-polished surface of the glass substrate G being sucked and fixed to the table 12. Is continuously polished. At this time, the polishing surface is polished by the rotating polishing tool while the polishing liquid is supplied to the polishing surface of the glass substrate G. And the glass substrate G is manufactured in the thin plate shape which satisfied the flatness etc. which are requested | required by the glass substrate for FPD in the exit of the grinding | polishing part 18. FIG. The number of polishing tools arranged in the polishing unit 18 is not limited to a plurality. That is, one polishing tool may be used according to the size of the glass substrate G.

研磨終了したガラス基板Gは、研磨部18から搬出されて前述したガラス基板取外部に搬入され、ここでテーブル12から取り外される。そして、ガラス基板Gが取り外されたテーブル12は、前述したテーブル洗浄部を通過中に洗浄液により洗浄されて、次のガラス基板Gを吸着固定するために、液体噴霧部14に再搬送される。以上の如く、テーブル搬送路は、テーブル12が液体噴霧部14、ガラス基板固定部16、研磨部18、ガラス基板取外部、及びテーブル洗浄部を順に通過するようにループ状に構成されている。   The polished glass substrate G is unloaded from the polishing unit 18 and loaded into the glass substrate removal described above, where it is removed from the table 12. Then, the table 12 from which the glass substrate G has been removed is cleaned by the cleaning liquid while passing through the above-described table cleaning unit, and is re-transported to the liquid spraying unit 14 in order to suck and fix the next glass substrate G. As described above, the table transport path is configured in a loop shape so that the table 12 passes through the liquid spraying unit 14, the glass substrate fixing unit 16, the polishing unit 18, the outside of the glass substrate, and the table cleaning unit in this order.

実施の形態のテーブル12は、テーブル搬送路上に複数台配置されており、また、1台のテーブル12には、2枚のガラス基板Gが吸着固定される。なお、テーブル搬送路上に配置されるテーブル12の台数は限定されるものではなく、また、テーブル12に吸着固定されるガラス基板Gの枚数も2枚に限定されるものではない。すなわち、ガラス基板Gのサイズに応じて1枚であっても3枚以上であっても構わない。   A plurality of tables 12 according to the embodiment are arranged on the table transport path, and two glass substrates G are adsorbed and fixed to one table 12. Note that the number of tables 12 arranged on the table transport path is not limited, and the number of glass substrates G attracted and fixed to the table 12 is not limited to two. That is, depending on the size of the glass substrate G, it may be one or three or more.

図2は、液体噴霧部14の構成をテーブル搬送路の下流側から見た正面図である。すなわち、テーブル12は図2の紙面奥から手前に向けて搬送される。また、図3は、液体噴霧部14の平面図である。図3において、テーブル12上に図示されている二点鎖線は、テーブル12に位置決めされて吸着固定される、ガラス基板Gの縁部を示している。   FIG. 2 is a front view of the configuration of the liquid spraying unit 14 as viewed from the downstream side of the table transport path. That is, the table 12 is transported from the back of the sheet of FIG. 2 toward the front. FIG. 3 is a plan view of the liquid spray unit 14. In FIG. 3, a two-dot chain line shown on the table 12 indicates an edge of the glass substrate G that is positioned on the table 12 and fixed by suction.

図2の如く、テーブル搬送路の上方には、テーブル上の吸着領域に乾燥防止用液を噴霧する4個の第1のノズル20a、20b、20c、20dからなる第1のノズル群22が配置されている。これらの第1のノズル20a〜20dは、テーブル搬送路に直交する方向で、テーブル12の上方に不図示の架台に固定されるとともに、液体供給系24を介して乾燥防止用液供給部(不図示)に連結されている。これらの第1のノズル20a〜20dから噴霧される乾燥防止用液によって、図3に示す二点鎖線で囲まれたガラス基板Gの非研磨面の全域が吸着固定される吸着領域26に乾燥防止用液が塗布される。なお、乾燥防止用液の噴霧領域は、テーブル12の全面でも良いが、乾燥防止用液を節約する観点から、吸着領域26が好ましい。   As shown in FIG. 2, a first nozzle group 22 including four first nozzles 20a, 20b, 20c, and 20d for spraying the drying preventing liquid on the adsorption area on the table is disposed above the table conveyance path. Has been. These first nozzles 20a to 20d are fixed to a gantry (not shown) above the table 12 in a direction orthogonal to the table transport path, and are provided with a drying preventing liquid supply unit (not provided) via the liquid supply system 24. (Shown). Drying prevention liquid sprayed from the first nozzles 20a to 20d prevents drying in the suction region 26 where the entire non-polished surface of the glass substrate G surrounded by the two-dot chain line shown in FIG. A working solution is applied. In addition, although the spraying area | region of the drying prevention liquid may be the whole surface of the table 12, the adsorption | suction area | region 26 is preferable from a viewpoint of saving the drying prevention liquid.

この第1のノズル20a〜20dは、電磁弁を介して前記乾燥防止用液供給部に連結されている。この電磁弁は、第1のノズル20a〜20dの下方で吸着領域26が通過中のみ開放されるように不図示の制御部によって間欠開閉制御されている。したがって、第1のノズル20a〜20dによって吸着領域26のみに乾燥防止用液が塗布される。   The first nozzles 20a to 20d are connected to the drying prevention liquid supply unit via an electromagnetic valve. The solenoid valve is intermittently opened and closed by a control unit (not shown) so that the suction region 26 is opened only when the suction region 26 passes under the first nozzles 20a to 20d. Therefore, the anti-drying liquid is applied only to the suction region 26 by the first nozzles 20a to 20d.

また、テーブル搬送路の上方には、テーブル12に対してガラス基板Gの非研磨面の縁部が吸着固定される領域に緩衝液を噴霧する14個の第2のノズル28a、28b、28c、28d、28e、28f、28g、28h、28i、28j、28k、28l、28m、28nからなる第2のノズル群30が配置されている。これらの第2のノズル28a〜28nは、テーブル搬送路に直交する方向で、テーブル12の上方に不図示の架台に固定されるとともに、液体供給系32を介して緩衝液供給部(不図示)に連結されている。なお、緩衝液とは、研磨液によるガラス基板Gの非研磨面の汚染を防止するための液体である。   Further, 14 second nozzles 28a, 28b, 28c for spraying the buffer solution onto the area where the edge of the non-polished surface of the glass substrate G is adsorbed and fixed to the table 12 are provided above the table transport path. A second nozzle group 30 including 28d, 28e, 28f, 28g, 28h, 28i, 28j, 28k, 28l, 28m, and 28n is disposed. These second nozzles 28 a to 28 n are fixed to a gantry (not shown) above the table 12 in a direction orthogonal to the table transport path, and a buffer solution supply unit (not shown) via the liquid supply system 32. It is connected to. The buffer solution is a liquid for preventing contamination of the non-polished surface of the glass substrate G by the polishing solution.

第2のノズル28a〜28nのうち両側に配置された2個の第2のノズル28a、28nは、図3中二点鎖線で示すガラス基板Gの縁部のうち対向する短辺部が通過する領域34A、34Bにそれぞれ対向配置されている。この2個の第2のノズル28a、28nは、電磁弁を介して前記緩衝液供給部に連結されている。この電磁弁は、2個の第2のノズル28a、28nの下方で領域34A、34Bが通過中のみ開放されるように不図示の制御部によって間欠開閉制御されている。したがって、2個の第2のノズル28a、28nによって領域34A、34Bのみに緩衝液が塗布される。   Among the second nozzles 28a to 28n, the two second nozzles 28a and 28n disposed on both sides pass through the short side portions facing each other among the edge portions of the glass substrate G indicated by a two-dot chain line in FIG. The regions 34A and 34B are arranged to face each other. The two second nozzles 28a and 28n are connected to the buffer solution supply unit via electromagnetic valves. This solenoid valve is intermittently opened and closed by a control unit (not shown) so that the regions 34A and 34B are opened under the two second nozzles 28a and 28n only during passage. Accordingly, the buffer solution is applied only to the regions 34A and 34B by the two second nozzles 28a and 28n.

一方、第2のノズル28a及びノズル28nを除く他のノズル28b〜28mは、図3中二点鎖線で示すガラス基板Gの縁部のうち対向する長辺部が通過する領域36A、36Bに対向配置されている。また、これらの第2のノズル28b〜28mは、電磁弁を介して前記緩衝液供給部に連結されている。この電磁弁は、第2のノズル28b〜28mの下方で領域36A、36Bが通過中のみ開放されるように、不図示の制御部によって間欠開閉制御されている。   On the other hand, the other nozzles 28b to 28m other than the second nozzle 28a and the nozzle 28n are opposed to the regions 36A and 36B through which the opposite long sides pass among the edges of the glass substrate G indicated by a two-dot chain line in FIG. Has been placed. Moreover, these 2nd nozzles 28b-28m are connected with the said buffer supply part via the solenoid valve. This solenoid valve is intermittently opened and closed by a control unit (not shown) so that the regions 36A and 36B are opened under the second nozzles 28b to 28m only during passage.

すなわち、第2のノズル28b〜28mは、図4に示すA〜Eの分割領域において、図3の領域36A、36Bに相当する分割領域A、C(Eも同様)が第2のノズル28b〜28mの下方を通過中に、図5の如く、電磁弁が開放(ON)するように、前記制御部によって電磁弁の開閉(ON−OFF)が制御されている。したがって、12個の第2のノズル28b〜28mによって領域36A、36Bのみに緩衝液が塗布される。   That is, the second nozzles 28b to 28m are divided into the divided areas A to E shown in FIG. 4 and the divided areas A and C corresponding to the areas 36A and 36B in FIG. While passing below 28 m, the opening / closing (ON-OFF) of the solenoid valve is controlled by the control unit so that the solenoid valve is opened (ON) as shown in FIG. Accordingly, the buffer solution is applied only to the regions 36A and 36B by the 12 second nozzles 28b to 28m.

以上により、図3中二点鎖線で囲まれたガラス基板Gの非研磨面の略全域が吸着固定される吸着領域26に乾燥防止用液が塗布されるとともに、図3中、二点鎖線で示すガラス基板Gの非研磨面の縁部の領域34A、34B、36A、36Bに緩衝液が塗布される。また、第1のノズル群22がテーブル搬送路の上流側に配置され、第2のノズル群30がテーブル搬送路の下流側に配置されているため、領域34A、34B、36A、36Bにおいては、乾燥防止用液の上層に緩衝液が塗布される。   As described above, the anti-drying liquid is applied to the adsorption region 26 in which substantially the entire non-polished surface of the glass substrate G surrounded by the two-dot chain line in FIG. 3 is adsorbed and fixed. A buffer solution is applied to the regions 34A, 34B, 36A, 36B at the edge of the non-polished surface of the glass substrate G shown. In addition, since the first nozzle group 22 is disposed on the upstream side of the table transport path and the second nozzle group 30 is disposed on the downstream side of the table transport path, in the regions 34A, 34B, 36A, and 36B, A buffer solution is applied to the upper layer of the anti-drying solution.

このように、乾燥防止用液と緩衝液とが塗布されたテーブル12は、テーブル搬送路に沿って、図1に示したガラス基板固定部16に搬送される。ここで、ガラス基板Gの非研磨面がテーブル12上において、図3中、二点鎖線で示したガラス基板Gの位置に位置決めされて吸着固定される。   As described above, the table 12 to which the drying preventing liquid and the buffer solution are applied is conveyed along the table conveyance path to the glass substrate fixing unit 16 shown in FIG. Here, the non-polished surface of the glass substrate G is positioned at the position of the glass substrate G indicated by a two-dot chain line in FIG.

テーブル12に吸着固定された2枚のガラス基板Gは、テーブル搬送路に沿って図1の研磨部18に搬送され、ここで前述の如く、ガラス基板Gの研磨面が複数の研磨具によって連続研磨される。   The two glass substrates G attracted and fixed to the table 12 are transported along the table transport path to the polishing unit 18 of FIG. 1, where the polishing surface of the glass substrate G is continuously formed by a plurality of polishing tools as described above. Polished.

次に、前記の如く構成されたガラス基板の研磨装置の作用について説明する。   Next, the operation of the glass substrate polishing apparatus configured as described above will be described.

まず、空のテーブル12をテーブル搬送路に沿って液体噴霧部14に搬送する。そして、このテーブル12をテーブル搬送路に沿って搬送しながら、第1のノズル群22からテーブル12に向けて乾燥防止用液を噴霧し、図3の吸着領域26に乾燥防止用液を塗布する。そして、第2のノズル群30からテーブル12に向けて緩衝液を噴霧し、ガラス基板Gの非研磨面の縁部の領域34A、34B、36A、36Bに緩衝液を塗布する。   First, the empty table 12 is conveyed to the liquid spraying part 14 along a table conveyance path. Then, while transporting the table 12 along the table transport path, the drying prevention liquid is sprayed from the first nozzle group 22 toward the table 12, and the drying prevention liquid is applied to the adsorption region 26 of FIG. . Then, the buffer solution is sprayed from the second nozzle group 30 toward the table 12, and the buffer solution is applied to the regions 34 </ b> A, 34 </ b> B, 36 </ b> A, 36 </ b> B on the edge of the non-polished surface of the glass substrate G.

次に、このテーブル12をガラス基板固定部16に搬送し、ここでガラス基板Gの非研磨面の全域を、前記乾燥防止用液を介してテーブル12に吸着固定するとともに、ガラス基板Gの非研磨面の全縁部を、前記緩衝液を介してテーブル12に吸着固定する。   Next, the table 12 is transported to the glass substrate fixing unit 16 where the entire non-polished surface of the glass substrate G is adsorbed and fixed to the table 12 via the drying preventing liquid, and the glass substrate G is non-coated. The entire edge of the polishing surface is adsorbed and fixed to the table 12 via the buffer solution.

次いで、このテーブル12を研磨部18に搬送し、ここでガラス基板Gの研磨面に研磨液を供給しながら研磨面を研磨具によって研磨する。この研磨中において、ガラス基板Gの非研磨面の縁部は緩衝液によって保護されているので、前記縁部は研磨液によって汚染されない。   Next, the table 12 is conveyed to the polishing unit 18 where the polishing surface is polished by a polishing tool while supplying a polishing liquid to the polishing surface of the glass substrate G. During this polishing, the edge of the non-polished surface of the glass substrate G is protected by the buffer solution, so that the edge is not contaminated by the polishing solution.

このように、上記実施形態に係る研磨装置10によれば、テーブル搬送路に液体噴霧部14を設け、テーブル搬送路に沿って搬送中のテーブル12に向けて第1のノズル群22から乾燥防止用液を噴霧するとともに、第2のノズル群30から緩衝液を噴霧する。   As described above, according to the polishing apparatus 10 according to the above-described embodiment, the liquid spray unit 14 is provided in the table transport path, and drying is prevented from the first nozzle group 22 toward the table 12 being transported along the table transport path. While spraying the working solution, the buffer solution is sprayed from the second nozzle group 30.

したがって、このガラス基板の研磨装置10によれば、テーブル12に非研磨面が吸着固定されたガラス基板Gを、テーブル12を搬送しながら研磨するガラス基板の研磨装置10において、研磨液によるガラス基板Gの非研磨面の縁部の汚染を防止でき、かつ、ガラス基板Gの非研磨面をテーブル12に良好に吸着固定することができる。   Therefore, according to this glass substrate polishing apparatus 10, in the glass substrate polishing apparatus 10 that polishes the glass substrate G having the non-polished surface adsorbed and fixed to the table 12 while transporting the table 12, the glass substrate by the polishing liquid is used. Contamination of the edge of the non-polished surface of G can be prevented, and the non-polished surface of the glass substrate G can be satisfactorily fixed to the table 12 by suction.

なお、乾燥防止用液としては多価アルコール、多価アルコール水溶液、水を例示でき、緩衝液としては多価アルコール、多価アルコール水溶液を例示できる。   Examples of the anti-drying solution include polyhydric alcohol, polyhydric alcohol aqueous solution, and water, and examples of the buffer solution include polyhydric alcohol and polyhydric alcohol aqueous solution.

図6〜図11は、液体噴霧部の他の実施の形態を説明するための図である。図6は、他の実施の形態の液体噴霧部40の構成をテーブル搬送路の下流側から見た正面図である。また、図7は、液体噴霧部40の平面図である。なお、図7のテーブル12上に図示されている二点鎖線は、テーブル12に位置決めされて吸着固定されるガラス基板Gの縁部を示している。   6-11 is a figure for demonstrating other embodiment of a liquid spraying part. FIG. 6 is a front view of the configuration of the liquid spray unit 40 according to another embodiment as viewed from the downstream side of the table transport path. FIG. 7 is a plan view of the liquid spray unit 40. A two-dot chain line shown on the table 12 in FIG. 7 indicates an edge portion of the glass substrate G that is positioned on the table 12 and fixed by suction.

図6、図7に示す液体噴霧部40では、乾燥防止用液及び緩衝液として同一の液体である多価アルコールが噴霧される。また、液体噴霧部40は、第1のノズルと第2のノズルとを共通化した同一構成の14個の共通ノズル42a、42b、42c、42d、42e、42f、42g、42h、42i、42j、42k、42l、42m、42nからなる共通ノズル群44を備えている。これらの共通ノズル42a〜42nは、テーブル搬送路に直交する方向で、テーブル12の上方に不図示の架台に固定されるとともに、液体供給系46を介して、図8に示す多価アルコール供給部48に連結されている。なお、図8には、共通ノズル42a〜42nに多価アルコールを供給する液配管系が示されており、図9には、共通ノズル42a〜42nに供給された多価アルコールの噴射をON−OFF制御するためのエア配管系が示されている。すなわち、ポンプ72からの圧縮空気を、電磁弁52、60、62、64によってON−OFF制御し、このように制御された圧縮空気を用いて共通ノズル42a〜42nの各々のピストンを動作させることにより、多価アルコールの噴射がON−OFF制御される。   In the liquid spraying section 40 shown in FIGS. 6 and 7, the polyhydric alcohol that is the same liquid as the liquid for preventing drying and the buffer solution is sprayed. In addition, the liquid spraying unit 40 includes fourteen common nozzles 42a, 42b, 42c, 42d, 42e, 42f, 42g, 42h, 42i, 42j having the same configuration in which the first nozzle and the second nozzle are made common. A common nozzle group 44 including 42k, 42l, 42m, and 42n is provided. These common nozzles 42a to 42n are fixed to a gantry (not shown) above the table 12 in a direction perpendicular to the table transport path, and are connected to the polyhydric alcohol supply unit shown in FIG. 48. 8 shows a liquid piping system for supplying polyhydric alcohol to the common nozzles 42a to 42n, and FIG. 9 shows that the injection of the polyhydric alcohol supplied to the common nozzles 42a to 42n is ON−. An air piping system for OFF control is shown. That is, the compressed air from the pump 72 is ON / OFF controlled by the solenoid valves 52, 60, 62, and 64, and the pistons of the common nozzles 42a to 42n are operated using the compressed air thus controlled. Thus, the injection of polyhydric alcohol is ON-OFF controlled.

共通ノズル42a〜42nのうち両側に配置された2個の共通ノズル42a、42nは、図7中二点鎖線で示すガラス基板Gの縁部のうち対向する短辺部が通過する領域50A、50Bに対向配置されている。この2個の共通ノズル42a、42nは、図8に示すように流量計43a、43n、液体供給系46、フィルタ78を介して多価アルコール供給部48に連結されている。また、図9に示した電磁弁52は、2個の共通ノズル42a、42nの下方で、領域50A、50Bが通過中のみ開放されるように、不図示の制御部によって間欠開閉制御されている。したがって、2個の共通ノズル42a、42nによって領域50A、50Bのみに多価アルコールが塗布される。   Two common nozzles 42a and 42n arranged on both sides of the common nozzles 42a to 42n are regions 50A and 50B through which the opposite short sides of the edge of the glass substrate G indicated by a two-dot chain line in FIG. 7 pass. Are arranged opposite to each other. The two common nozzles 42a and 42n are connected to a polyhydric alcohol supply unit 48 through flow meters 43a and 43n, a liquid supply system 46, and a filter 78 as shown in FIG. Further, the electromagnetic valve 52 shown in FIG. 9 is intermittently opened / closed by a control unit (not shown) so that the regions 50A and 50B are opened only when passing under the two common nozzles 42a and 42n. . Accordingly, the polyhydric alcohol is applied only to the regions 50A and 50B by the two common nozzles 42a and 42n.

一方、共通ノズル42a及びノズル42nを除く他の共通ノズル42b〜42mは、図7中、二点鎖線で示すガラス基板Gの縁部のうち対向する長辺部が通過する領域52A、52Bに対向配置されている。また、これらの共通ノズル42b〜42mは、図9の如く、共通ノズル42b〜42e、共通ノズル42f〜42i、及び共通ノズル42j〜42mに系統が三分割されて共通ノズル小群54、56、58を構成している。これらの共通ノズル小群54、56、58が電磁弁60、62、64を介してポンプ72に連結され、また、図8に示すように流量計43b〜43m、液体供給系46、フィルタ78を介して多価アルコール供給部48に連結されている。電磁弁60、62、64は、12個の共通ノズル42b〜42mの下方で、領域52A、52Bを含む、図7中二点鎖線で囲まれたガラス基板Gの吸着領域66が通過中のみ開放されるように、不図示の制御部によって間欠開閉制御されている。   On the other hand, the other common nozzles 42b to 42m excluding the common nozzle 42a and the nozzle 42n are opposed to the regions 52A and 52B through which the opposite long sides pass among the edges of the glass substrate G indicated by the two-dot chain line in FIG. Has been placed. Further, as shown in FIG. 9, the common nozzles 42b to 42m are divided into the common nozzles 42b to 42e, the common nozzles 42f to 42i, and the common nozzles 42j to 42m. Is configured. These common nozzle subgroups 54, 56 and 58 are connected to a pump 72 via solenoid valves 60, 62 and 64, and as shown in FIG. 8, flow meters 43b to 43m, a liquid supply system 46 and a filter 78 are connected. It is connected to the polyhydric alcohol supply unit 48 through the via. The electromagnetic valves 60, 62, and 64 are opened only when the adsorption region 66 of the glass substrate G surrounded by a two-dot chain line in FIG. 7 including the regions 52A and 52B is passing under the 12 common nozzles 42b to 42m. As described above, intermittent opening / closing control is performed by a control unit (not shown).

多価アルコール供給部48は、図8に示すように、多価アルコールが溜められたタンク70、タンク70に圧縮空気を供給する不図示のポンプ、タンク70に供給する圧縮空気量を計測する流量計74、及びタンク70から液体供給系46に送液される多価アルコールの逆流を防止する逆止弁76から構成されている。   As shown in FIG. 8, the polyhydric alcohol supply unit 48 includes a tank 70 in which polyhydric alcohol is stored, a pump (not shown) that supplies compressed air to the tank 70, and a flow rate that measures the amount of compressed air supplied to the tank 70. It comprises a total of 74 and a check valve 76 that prevents the backflow of polyhydric alcohol fed from the tank 70 to the liquid supply system 46.

この多価アルコール供給部48によれば、前記ポンプからタンク70に圧縮空気を供給することにより、タンク70内の多価アルコールが、逆止弁76からフィルタ78を介して液体供給系46に送液される。なお、タンク70、流量計74、及び逆止弁76を図8の如く、2台並設することも可能である。   According to the polyhydric alcohol supply unit 48, by supplying compressed air from the pump to the tank 70, the polyhydric alcohol in the tank 70 is sent from the check valve 76 to the liquid supply system 46 through the filter 78. To be liquidated. Note that two tanks 70, flow meters 74, and check valves 76 can be provided side by side as shown in FIG.

ところで、研磨液によるガラス基板の非研磨面の縁部の汚染を防止するという緩衝液の機能を発揮するためには、緩衝液としてテーブル12に塗布される多価アルコールの量(単位面積当たりの塗布量)を、乾燥防止用液として塗布される多価アルコールの量(単位面積当たりの塗布量)よりも多めに設定することが好ましい。   By the way, in order to exhibit the function of the buffer solution that prevents the edge of the non-polished surface of the glass substrate from being contaminated by the polishing solution, the amount of polyhydric alcohol applied to the table 12 as the buffer solution (per unit area). The coating amount) is preferably set to be larger than the amount of polyhydric alcohol (coating amount per unit area) applied as the anti-drying solution.

換言すると、テーブル12の搬送速度を一定として、全ての共通ノズル42a〜42nからの多価アルコール噴霧量を同量にしたのでは、上記設定が不可能である。また、全ての共通ノズル42a〜42nからの多価アルコール噴霧量を、縁部に対応する領域50A、50B、52A、52Bに噴霧される緩衝液としての塗布量に設定したのでは、領域66に余分な多価アルコールが塗布されることになり、多価アルコールが無駄になる。   In other words, if the transport speed of the table 12 is constant and the polyhydric alcohol spray amounts from all the common nozzles 42a to 42n are the same, the above setting is impossible. In addition, if the polyhydric alcohol spray amount from all the common nozzles 42a to 42n is set to the application amount as a buffer solution sprayed to the regions 50A, 50B, 52A, 52B corresponding to the edges, the region 66 Excess polyhydric alcohol is applied, and polyhydric alcohol is wasted.

そこで、実施の形態の液体噴霧部40では、両側の共通ノズル42a、42nを除く12個のノズル42b〜42mからの噴霧量を、領域52A、52Bに噴霧される緩衝液としての噴霧量に設定している。また、両側の共通ノズル42a、42nからの噴霧量を他の共通ノズル42b〜42mからの噴霧量よりも若干量多めに設定し、そして、テーブル12の搬送速度を下記の如く制御している。ここで、若干量多めとは、共通ノズル42a、42nからの噴霧量が他の共通ノズル42b〜42mからの噴霧量の100倍以上であることを意味する。   Therefore, in the liquid spray unit 40 of the embodiment, the spray amount from the 12 nozzles 42b to 42m excluding the common nozzles 42a and 42n on both sides is set to the spray amount as a buffer solution sprayed to the regions 52A and 52B. doing. Further, the spray amount from the common nozzles 42a and 42n on both sides is set slightly larger than the spray amount from the other common nozzles 42b to 42m, and the conveying speed of the table 12 is controlled as follows. Here, the slightly larger amount means that the spray amount from the common nozzles 42a and 42n is 100 times or more than the spray amount from the other common nozzles 42b to 42m.

すなわち、図10に示すA〜Eの分割領域において、図7の領域52A、52Bに相当する分割領域A、C(Eも同様)を、図11の如く、通常のテーブル搬送速度S1に設定し、図7の領域66に相当する分割領域B(Dも同様)を、図11の如く、S1よりも高速のS2に設定している。   That is, in the divided areas A to E shown in FIG. 10, the divided areas A and C (E are the same) corresponding to the areas 52A and 52B in FIG. 7 are set to the normal table transport speed S1 as shown in FIG. 7 is set to S2, which is faster than S1, as shown in FIG.

なお、縁部に対応する領域50A、50B、52A、52Bに噴霧される緩衝液としての塗布量は0.001ml/cm2であることが好ましく、領域66に噴霧される緩衝液としての塗布量の100倍以上となることが好ましい。 In addition, it is preferable that the application amount as a buffer solution sprayed on the regions 50A, 50B, 52A, and 52B corresponding to the edge is 0.001 ml / cm 2 , and the application amount as a buffer solution sprayed on the region 66 It is preferable that it becomes 100 times or more.

これにより、図7の領域52A、52Bに塗布される多価アルコールの量は、緩衝液として好ましい量となり、領域66に噴霧される多価アルコール量は、緩衝液として好ましい量よりも少ない、乾燥防止用液として好ましい量となる。また、テーブル搬送速度S2は高速であるが、両側の共通ノズル42a、42nからの噴霧量は、他の共通ノズル42b〜42mからの噴霧量よりも若干量多めに設定しているため、領域50A、50Bに噴霧される多価アルコールの量は緩衝液として好ましい量となる。ここで、若干量多めとは、共通ノズル42a、42nからの噴霧量が他の共通ノズル42b〜42mからの噴霧量の100倍以上であることを意味する。   Accordingly, the amount of polyhydric alcohol applied to the regions 52A and 52B in FIG. 7 becomes a preferable amount as a buffer solution, and the amount of polyhydric alcohol sprayed onto the region 66 is less than the preferable amount as a buffer solution. It becomes a preferable amount as a liquid for prevention. Further, although the table transport speed S2 is high, the spray amount from the common nozzles 42a and 42n on both sides is set to be slightly larger than the spray amounts from the other common nozzles 42b to 42m. The amount of polyhydric alcohol sprayed on 50B is a preferable amount as a buffer solution. Here, the slightly larger amount means that the spray amount from the common nozzles 42a and 42n is 100 times or more than the spray amount from the other common nozzles 42b to 42m.

このように噴霧する液体として同一液体の多価アルコールを使用することで、図2、図3に示した第1のノズル群22と第2のノズル群30とを共通化できるため、共通ノズル42a〜42nに対する液体供給系を簡素化できる。よって、この実施の形態の液体噴霧部40は、図2、図3で示した液体噴霧部14と比較して簡単な設備となる。   By using polyhydric alcohol of the same liquid as the liquid to be sprayed in this way, the first nozzle group 22 and the second nozzle group 30 shown in FIGS. 2 and 3 can be made common, so the common nozzle 42a. The liquid supply system for ˜42n can be simplified. Therefore, the liquid spraying part 40 of this embodiment becomes a simple installation compared with the liquid spraying part 14 shown in FIG. 2, FIG.

なお、液体噴霧部40では、テーブル12の搬送速度を可変して多価アルコールの塗布量を制御したが、これに限定されるものではない。   In addition, in the liquid spraying part 40, although the conveyance speed of the table 12 was changed and the application amount of the polyhydric alcohol was controlled, it is not limited to this.

例えば、テーブル12の搬送速度を一定とし、両側の共通ノズル42a、42nからの噴霧量を緩衝液として最適な量に設定し、その他の12個の共通ノズル42b〜42mの噴霧量を制御する。すなわち、共通ノズル42b〜42mの下方に領域52A、52Bが通過する際には、噴霧量を緩衝液として最適な量に設定し、共通ノズル42b〜42mの下方に領域66が通過する際には、噴霧量を乾燥防止用液として最適な量に設定すればよい。このような流量制御は、流量可変バルブを使用するとともに、流量可変バルブの開度をテーブル12の走行位置に応じて制御する制御部を備えることで達成できる。   For example, the conveying speed of the table 12 is fixed, the spray amount from the common nozzles 42a and 42n on both sides is set to an optimum amount as a buffer solution, and the spray amounts of the other 12 common nozzles 42b to 42m are controlled. That is, when the regions 52A and 52B pass below the common nozzles 42b to 42m, the spray amount is set to an optimum amount as a buffer solution, and when the region 66 passes below the common nozzles 42b to 42m. The spray amount may be set to an optimum amount as a drying preventing liquid. Such flow rate control can be achieved by using a flow rate variable valve and including a control unit that controls the opening of the flow rate variable valve according to the travel position of the table 12.

また、実施の形態では、テーブルを移動型とし、第1、第2のノズルを固定型とした構成について説明したが、これに限定されるものではない。すなわち、テーブルを固定型とし、第1、第2のノズルを移動型として、固定されたテーブルの上方で第1、第2のノズルを移動させながらテーブルに乾燥防止用液、緩衝液を噴霧し、テーブルに所望の噴霧パターンを形成してもよい。   In the embodiment, the configuration is described in which the table is a movable type and the first and second nozzles are fixed types. However, the present invention is not limited to this. That is, the table is a fixed type, the first and second nozzles are movable types, and the drying prevention liquid and buffer solution are sprayed onto the table while moving the first and second nozzles above the fixed table. A desired spray pattern may be formed on the table.

一方でテーブル、及び第1、第2のノズルを固定型としてもよい。この場合に、テーブル上で所望の噴霧パターンをテーブルに形成するためには、テーブルの上方にメタルマスク等のマスク部材を配置してテーブル全体に共通の液体(多価アルコール)を噴霧する。これにより、噴霧パターンをテーブルに形成することができる。また、噴霧パターンに合わせて第1のノズル、第2のノズルの配置位置を、テーブルの上方において調整することによっても、テーブルに所望の噴霧パターンを形成することができる。   On the other hand, the table and the first and second nozzles may be fixed. In this case, in order to form a desired spray pattern on the table, a mask member such as a metal mask is disposed above the table and a common liquid (polyhydric alcohol) is sprayed on the entire table. Thereby, a spray pattern can be formed on a table. Moreover, a desired spray pattern can be formed on the table also by adjusting the arrangement positions of the first nozzle and the second nozzle above the table in accordance with the spray pattern.

G…ガラス基板、10…ガラス基板の研磨装置、12…テーブル、14…液体噴霧部、16…ガラス基板固定部、18…研磨部、20a〜20d…第1のノズル、22…第1のノズル群、24…液体供給系、26…吸着領域、28a〜28n…第2のノズル、30…第2のノズル群、32…液体供給系、34A、34B…領域、36A、36B…領域、40…液体噴霧部、42a〜42n…共通ノズル、43a〜43n…流量計、44…共通ノズル群、46…液体供給系、48…多価アルコール供給部、50A、50B…領域、52…電磁弁、54、56、58…共通ノズル小群、60、62、64…電磁弁、66…吸着領域、70…タンク、72…ポンプ、74…流量計、76…逆止弁、78…フィルタ   G ... Glass substrate, 10 ... Glass substrate polishing apparatus, 12 ... Table, 14 ... Liquid spraying part, 16 ... Glass substrate fixing part, 18 ... Polishing part, 20a-20d ... First nozzle, 22 ... First nozzle Group, 24 ... liquid supply system, 26 ... adsorption region, 28a to 28n ... second nozzle, 30 ... second nozzle group, 32 ... liquid supply system, 34A, 34B ... region, 36A, 36B ... region, 40 ... Liquid spray section, 42a to 42n ... common nozzle, 43a to 43n ... flow meter, 44 ... common nozzle group, 46 ... liquid supply system, 48 ... polyhydric alcohol supply section, 50A, 50B ... area, 52 ... solenoid valve, 54 , 56, 58 ... common nozzle subgroup, 60, 62, 64 ... solenoid valve, 66 ... adsorption area, 70 ... tank, 72 ... pump, 74 ... flow meter, 76 ... check valve, 78 ... filter

Claims (10)

ガラス基板の非研磨面を吸着固定するテーブルに向けて、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の全域が吸着固定される領域に、第1のノズルから乾燥防止用液を噴霧し、次いで前記テーブルに対して、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の縁部が吸着固定される領域に、第2のノズルから緩衝液を噴霧する液体噴霧工程であって、前記テーブルの単位面積当たりの前記緩衝液の塗布量が、前記テーブルの単位面積当たりの前記乾燥防止用液の塗布量よりも多めに設定された液体噴霧工程と、
ガラス基板の非研磨面の全域を、前記乾燥防止用液を介して前記テーブルに吸着固定するとともに、前記ガラス基板の非研磨面の縁部を、前記緩衝液を介して前記テーブルに吸着固定するガラス基板固定工程と、
前記テーブルに非研磨面が吸着固定された前記ガラス基板の研磨面に、研磨液を供給しながら該研磨面を研磨具によって研磨する研磨工程と、
を備えているガラス基板の研磨方法。
The anti-drying liquid is sprayed from the first nozzle to a region where the entire non-polished surface of the glass substrate of the table is adsorbed and fixed toward the table for adsorbing and fixing the non-abrasive surface of the glass substrate, and then the table On the other hand, a liquid spraying step of spraying a buffer solution from a second nozzle onto a region where the edge of the non-polished surface of the glass substrate of the table is adsorbed and fixed, the buffer per unit area of the table A liquid spraying step in which the liquid application amount is set to be larger than the application amount of the anti-drying liquid per unit area of the table ;
The entire area of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table via the anti-drying liquid, and the edge of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table via the buffer solution. A glass substrate fixing process;
A polishing step of polishing the polishing surface with a polishing tool while supplying a polishing liquid to the polishing surface of the glass substrate on which a non-polishing surface is adsorbed and fixed to the table;
A method for polishing a glass substrate comprising:
前記液体噴霧工程は、前記テーブル及び前記第1、第2のノズルの少なくとも一方を相対的に移動させながら、前記第1のノズルから前記乾燥防止用液を噴霧するとともに、前記第2のノズルから前記緩衝液を噴霧する、請求項1に記載のガラス基板の研磨方法。   The liquid spraying step sprays the anti-drying liquid from the first nozzle while relatively moving at least one of the table and the first and second nozzles, and from the second nozzle. The glass substrate polishing method according to claim 1, wherein the buffer solution is sprayed. 前記乾燥防止用液と前記緩衝液とは同一の液体である、請求項2に記載のガラス基板の研磨方法。   The glass substrate polishing method according to claim 2, wherein the drying preventing liquid and the buffer solution are the same liquid. 前記液体は多価アルコールである、請求項3に記載のガラス基板の研磨方法。   The glass substrate polishing method according to claim 3, wherein the liquid is a polyhydric alcohol. 前記第1のノズルと前記第2のノズルとを共通化した同一の共通ノズルを、前記テーブルの相対的な移動方向と直交する方向で前記テーブルの上方に複数配置し、前記共通ノズルから前記液体を前記テーブルに向けて噴霧する、請求項3又は4に記載のガラス基板の研磨方法。   A plurality of the same common nozzles that share the first nozzle and the second nozzle are arranged above the table in a direction orthogonal to the relative movement direction of the table, and the liquid is discharged from the common nozzle. The glass substrate polishing method according to claim 3, wherein the glass substrate is sprayed toward the table. ガラス基板の非研磨面を吸着固定するテーブルと、
前記テーブルに向けて、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の全域が吸着固定される領域に乾燥防止用液を噴霧する第1のノズル、及び前記テーブルに対して、前記テーブルのガラス基板の非研磨面の縁部が吸着固定される領域に緩衝液を噴霧する第2のノズルと、を有する液体噴霧部であって、前記テーブルの単位面積当たりの前記緩衝液の塗布量が、前記テーブルの単位面積当たりの前記乾燥防止用液の塗布量よりも多めに設定された液体噴霧部と、
ガラス基板の非研磨面の全域を、前記乾燥防止用液を介して前記テーブルに吸着固定させるとともに、前記ガラス基板の非研磨面の縁部を、前記緩衝液を介して前記テーブルに吸着固定させるガラス基板固定部と、
前記テーブルに非研磨面が吸着固定された前記ガラス基板の研磨面に研磨液を供給しながら該研磨面を研磨具によって研磨する研磨部と、
を備えているガラス基板の研磨装置。
A table for adsorbing and fixing the non-polished surface of the glass substrate;
A first nozzle that sprays an anti-drying liquid onto a region where the entire area of the non-polished surface of the glass substrate of the table is adsorbed and fixed toward the table, and the glass substrate of the table with respect to the table And a second nozzle that sprays a buffer solution onto a region where the edge of the polishing surface is adsorbed and fixed , wherein the application amount of the buffer solution per unit area of the table is A liquid spray portion set larger than the coating amount of the drying preventing liquid per unit area ;
The entire area of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table via the anti-drying liquid, and the edge of the non-polished surface of the glass substrate is adsorbed and fixed to the table via the buffer solution. A glass substrate fixing part;
A polishing unit that polishes the polishing surface with a polishing tool while supplying a polishing liquid to the polishing surface of the glass substrate on which a non-polishing surface is fixed by suction to the table;
A glass substrate polishing apparatus comprising:
前記液体噴霧部は、前記テーブル及び前記第1、第2のノズルの少なくとも一方を相対的に移動させながら、前記第1のノズルから前記乾燥防止用液を噴霧するとともに、前記第2のノズルから前記緩衝液を噴霧する、請求項6に記載のガラス基板の研磨装置。   The liquid spraying unit sprays the anti-drying liquid from the first nozzle while relatively moving at least one of the table and the first and second nozzles, and from the second nozzle. The glass substrate polishing apparatus according to claim 6, wherein the buffer solution is sprayed. 前記乾燥防止用液と前記緩衝液とは同一の液体である、請求項7に記載のガラス基板の研磨装置。   The glass substrate polishing apparatus according to claim 7, wherein the drying prevention liquid and the buffer solution are the same liquid. 前記液体は多価アルコールである、請求項8に記載のガラス基板の研磨装置。   The glass substrate polishing apparatus according to claim 8, wherein the liquid is a polyhydric alcohol. 前記第1のノズルと前記第2のノズルとを共通化した同一の共通ノズルが、前記テーブルの相対的な移動方向と直交する方向で前記テーブルの上方に複数配置され、前記共通ノズルから前記液体が前記テーブルに向けて噴霧される、請求項8又は9に記載のガラス基板の研磨装置。   A plurality of the same common nozzles that share the first nozzle and the second nozzle are arranged above the table in a direction perpendicular to the relative movement direction of the table, and the liquid is discharged from the common nozzle to the liquid. The glass substrate polishing apparatus according to claim 8, wherein the glass substrate is sprayed toward the table.
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