JP5672517B2 - 波面収差測定方法及び波面収差測定機 - Google Patents
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Description
A2 = ρcosθ
A3 = ρsinθ
A4 = 2ρ2−1
A5 = ρ2cos2θ
A6 = ρ2sin2θ
A7 = (3ρ2−2)cosθ
A8 = (3ρ2−2)sinθ
A9 = 6ρ4−6ρ2+1
A10= ρ3cos3θ
1 被検レンズ 2 絞り 3 2次元撮像素子 4 演算機
5 情報処理装置
Claims (7)
- 光源から放射された光を被検レンズに入射させ、当該被検レンズを透過した前記光を検出して波面を測定し、前記波面から前記被検レンズの波面収差を算出する波面収差測定方法であって、
前記被検レンズの絞りを開放した状態及び口径食の影響を受けなくなるまで前記絞りを絞った状態のうち、いずれか一方の状態で前記波面を測定する工程と、
前記絞りを開放した状態及び前記絞りを絞った状態のうち、他方の状態で前記波面を測定する工程と、
前記絞りを絞った状態で測定された前記波面から、前記被検レンズの瞳中心位置を決定する工程と、
前記絞りを開放した状態で測定された前記波面に対して、前記瞳中心位置を原点として前記波面収差を多項式展開して算出する工程と、を有することを特徴とする波面収差測定方法。 - 前記多項式は、ツェルニケ多項式であることを特徴とする請求項1に記載の波面収差測定方法。
- 前記光源から放射される前記光は、単色光若しくは半値幅が10nm以下の準単色光であることを特徴とする請求項1または2に記載の波面収差測定方法。
- 前記光源から放射される前記光の波長は、400nmから700nmまでの可視光であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の波面収差測定方法。
- 光源から放射されて被検レンズを透過した光により形成される当該被検レンズの瞳像を検出する2次元撮像素子と、
前記2次元撮像素子で検出された前記瞳像から請求項1〜4のいずれか一項に記載の波面収差測定方法により前記被検レンズの前記波面収差を算出する情報処理装置と、を有することを特徴とする波面収差測定機。 - 複数のマイクロレンズが2次元的に配置され、前記被検レンズを透過した光を前記マイクロレンズの各々を透過させて分割させて前記2次元撮像素子上に前記瞳のスポット像を結像させるマイクロレンズアレーを有し、
前記情報処理装置における前記波面収差の算出方式は、前記2次元撮像素子で検出された前記スポット像の横ズレから波面の局所的な傾斜を演算して求め、前記被検レンズ全体の前記波面収差を求めるシャック・ハルトマン(Shack-Hartmann)方式であることを特徴とする請求項5に記載の波面収差測定機。 - 前記情報処理装置は、前記被検レンズの前記絞りの開閉を制御することを特徴とする請求項5または6に記載の波面収差測定機。
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