JP5668957B2 - 容量結合プラズマ反応器 - Google Patents
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Description
本発明の他の目的は、容量結合電極の相互間の容量結合を均一に制御し、高密度のプラズマを均一に発生することができる容量結合プラズマ反応器を提供することにある。
本発明のさらに別の目的は、大面積化が容易で、高密度のプラズマを均一に発生することができ、そして二つ以上の大面積の被処理基板を同時に処理することができ、設備面積当たりの基板処理率が高いプラズマ反応器を提供することにある。
本発明の実施に際して、上記分配回路(50)は上記複数個の容量結合電極に供給される電流の均衡を調節するための電流均衡回路を構成している。
本発明の実施に際して、上記電流均衡回路は漏洩電流を補償するための補償回路を備えている。
本発明の実施に際して、上記電流均衡回路は過度電圧による損傷を防止するための保護回路を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記容量結合電極アセンブリ(30)は上記複数個の容量結合電極との間に設けられた絶縁層を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記容量結合電極アセンブリ(30)は上記複数個の容量結合電極(31、33)が装着される電極装着板(34)を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記プラズマ反応器(10)は内部に被処理基板(13)が置かれる支持台(12)を具備し、上記支持台(12)はバイアスされるか、又はバイアスされないもののうちいずれか一つである。
本発明の実施に際して、上記支持台(12)はバイアス(44)され、単一周波数電源又は二つ以上の互いに異なる周波数電源(42、43)によってバイアスされている。
本発明の実施に際して、上記支持台(12)はヒータを含んでいる。
本発明の実施に際して、上記分配器回路(150、150a、150b)は上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)の複数個の容量結合電極(131、133、136、138)に供給される電流の均衡を調節する電流均衡回路を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記分配回路(150、150a、150b)の電流均衡回路は上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)の複数個の容量結合電極(131、133、136、138)を並列駆動して電流均衡が行われる複数個のトランス(152、152a、152b)を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記複数個のトランス(150)の二次側は各々接地された中間タブ(153)を備え、上記二次側の一端は正電圧を、他端は負電圧を各々出力し、上記正電圧は上記複数個の容量結合電極(130、135)の正電圧電極(133、138)に、上記負電圧は上記複数個の容量結合電極(130、135)の負電圧電極(131、136)に印加されている。
本発明の実施に際して、上記分配回路(150)の電流均衡回路は漏洩電流を補償するための補償回路(151)を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記分配回路(150)の電流均衡回路は過度電圧による損傷を防止するための保護回路を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記複数個の容量結合電極(131、133、136、138)は伝導体領域(171)と絶縁体領域(170)とを含んでいる。
本発明の実施に際して、上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)は各々の複数個の容量結合電極(131、133、136、138)が装着される電極装着板(134、139)を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)の各々の電極装着板(13、139)は複数個のガス噴射孔(132、137)を有し、上記ガス噴射孔(13、137)を介して上記第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)の内部にガスを供給するガス供給部(120)を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記複数個のガス供給管(121)は各々独立してガス供給流量を制御することができる調節バルブ(124)を含んでいる。
本発明の実施に際して、上記第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)は内部に被処理基板(113、118)が置かれる支持台(112、117)を具備し、上記支持台(112、117)はバイアスされたり、又はバイアスされないもののうちいずれか一つである。
本発明の実施に際して、上記支持台(112、117)は静電チャックを含んでいる。
本発明の実施に際して、上記支持台はヒータを含んでいる。
本発明の実施に際して、上記正電圧電極(133、138)と複数個の負電圧電極(131、136)は障壁構造、平板状構造、突起状構造、柱状構造、環状構造、螺旋状構造、線状構造から選択される一つ以上の構造を有している。
したがって、図面での構成要素の形状などはより明確な説明を強調するために誇張されて表現されることがある。各図面で同一の部材は同一の参照符号で図示した場合があることを留意されたい。本発明の要旨を不必要に曖昧にすると判断される公知機能及び構成に対する詳細な技術的説明は省略する。
図1は本発明の好ましい実施例によるプラズマ反応器の断面図である。
図1を参照して、本発明の好ましい実施例による誘導結合プラズマ反応器はプラズマ反応器(10)とガス供給部(20)と容量結合電極アセンブリ(30)とを有している。プラズマ反応器(10)は内部に被処理基板(13)が置かれる支持台(12)が設けられている。プラズマ反応器(10)の上部には容量結合電極アセンブリ(30)が設けられている。ガス供給部(20)は容量結合電極アセンブリ(30)の上部に構成されてガス供給源(図示しない)から供給されたガスを容量結合電極アセンブリ(30)のガス噴射孔(32)を介してプラズマ反応器(10)の内部に供給するようになっている。メイン電源供給源(40)から発生した無線周波の電流はインピーダンス整合器(41)と分配回路(50)とを介して容量結合電極アセンブリ(30)に設けた複数個の容量結合電極(31、33)に供給されて、プラズマ反応器(10)内部の容量結合されたプラズマを誘導するようになっている。プラズマ反応器(10)の内部に発生したプラズマによって、被処理基板(13)に対するプラズマ処理が行われる。
図2を参照して、ガス供給部(20)は容量結合電極アセンブリ(30)の上部に設置されている。ガス供給部(20)はガス供給源(図示しない)に連結されるガス入口(21)と一つ以上のガス分配板(22) と複数個のガス注入口(23)とを具備している。複数個のガス注入口(23)は電極装着板(34)の複数個のガス噴射孔(32)に対応して連結されている。ガス入口(21)を介して入力されたガスは一つ以上のガス分配板(22)によって選択して分配され、複数個のガス注入口(23)とそれに対応する複数個のガス噴射孔(32)を介してプラズマ反応器(10)の内部に選択して噴射される。具体的な図面の図示は省略したが、ガス供給部(20)は二つ以上の分離したガス供給チャンネルを具備し、互いに異なるガスを分離してプラズマ反応器(10)の内部に供給することもできる。互いに異なるガスを分離供給するようにしてプラズマ処理の均一度を高めることができる。
図3を参照して、容量結合電極アセンブリ(30)はプラズマ反応器(10)の内部に容量結合されたプラズマ放電を誘導するための複数個の容量結合電極(31、33)を具備している。複数個の容量結合電極(31、33)は電極装着板(34)に装着されている。電極装着板(34)は反応器本体(11)の天井を覆うように設置することができる。複数個の容量結合電極(31、33)は反応器本体(11)の上部を線状に横切る複数個の正電圧電極(33)と負電圧電極(31)が交互に並列に配列された構造を有している。複数個の容量結合電極(31、33)は電極装着板(34)の下部に突出した線状の障壁構造を有している。複数個の容量結合電極(31、33)は、図4に図示されたように、伝導体領域(71)とその外部を覆う絶縁体領域(70)とで構成することができるが、又は伝導体領域(71)のみを具備するようにすることもできる。複数個の容量結合電極(31、33)の形状と配置構造は後述するように種々の変形が可能である。
先ず、図5に図示されたように、容量結合電極(31、33)は障壁構造を有するが、その断面が 「T」状構造を有することができ、その頭部が電極装着板(34)に固定されるように設置されているか、その反対の配置位置を有するように設置することができる。容量結合電極(31、33)は、図6に図示されたように、幅狭の板状構造とすることができる。図7又は図8に図示されたように、容量結合電極(31、33)はその断面構造が三角又は逆三角構造とすることもできる。或は図9ないし図11に図示されたように、円筒の棒状構造、横長楕円構造や縦長楕円構造の棒状構造とすることができる。このように、容量結合電極(31、33)はその断面構造が円形、楕円形、多角形構造のように多様な構造に構成することができる。
図23を参照して、分配回路(50)は複数個の容量結合電極(31、33)を並列的に駆動して電流均衡が行われる複数個のトランス(52)を備えている。複数個のトランス(52)の一次側は無線周波数が入力される電源入力端と接地との間に直列に連結され、二次側の一端は複数個の容量結合電極(31、33)に対応するように連結され、他端は共通に接地されている。複数個のトランス(52)は電源入力端と接地との間の電圧を均等に分割し、分割された多数の分割電圧を複数個の容量結合電極(31、33)中で対応する正電圧電極(33)に出力する。複数個の容量結合電極(31、33)中で負電圧電極(31)は共通に接地されている。
以上のような電流均衡回路(50)は、図面には具体的な図示を省略したが、
図24を参照して、この変形例の電流均衡回路(50)は複数個のトランス(52)の二次側が各々接地された中間タブ(53)を含み、二次側の一端は正電圧を、他端は負電圧を各々出力する。正電圧は複数個の容量結合電極の正電圧電極(33)に、負電圧は複数個の容量結合電極の負電圧電極(31)に供給される。
図27は本発明の第2の実施例によるプラズマ反応器の断面図である。
図27を参照して、本発明の好ましい実施例による誘導結合プラズマ反応器は、並置して構成される第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)と、第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)の内部にプラズマ放電を各々に誘導するための第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)とを具備している。第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)の間にはガス供給部(120)が設けられている。第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)は内部に被処理基板(113、118)が置かれる支持台(112、117)が第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)に対向して一側壁に設置されている。ガス供給部(120)は第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130)の間に構成されており、ガス供給源(図示しない)から提供されたガスを第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)のガス噴射孔(132、137)を介して第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)の内部に供給するようになっている。メイン電源供給源(140)から発生した無線周波数電流はインピーダンス整合器(141)と分配回路(150)とを介して第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)に設けられた複数個の容量結合電極(131、133、136、138)に供給され、第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)の内部に容量結合されたプラズマを誘導する。第1及び第2のプラズマ反応器(110、115)の内部に発生したプラズマによって被処理基板(113、118)に対するプラズマ処理が行われる。
図28を参照して、ガス供給部(120)は第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(130、135)の間に設置される。ガス供給部(120)はガス供給源(図示しない)に連結される複数個のガス供給管(121)を含んでいる。複数個のガス供給管(121)は各々独立してガス供給流量を制御することができる調節バルブ(124)が具備されている。又は複数個のガス供給管(121)に対して一括してガス供給流量を制御するようにするように構成することも可能である。或は複数個のガス供給管(121)に対して全体的及び個別的なガス供給流量の制御が可能になるように構成することもできる。
先ず、図30に図示されたように、容量結合電極(131、133、136、138)は障壁構造を有するが、その断面が「T」状構造とすることができ、その頭部が電極装着板(134)に固定されるように設置されたり、又はとその反対の配置位置となるように設置することができる。容量結合電極(131、133、136、138)は、図31に図示されたように、狭い幅の板状構造とすることもできる。或は図32又は図33に図示されたように、容量結合電極(131、133、136、138)はその断面構造が三角又は逆三角構造とすることもできる。或は図34ないし図36に図示されるように、円筒の棒状構造、横長楕円構造や縦長楕円構造の棒状構造とすることもできる。このように、容量結合電極(131、133、136、138)の断面構造は円形、楕円形、多角形構造などのように多様などのような構造でもよい。
図48を参照して、分配回路(150)は複数個の容量結合電極(131、133、136、138)を並列駆動して電流均衡が行われる複数個のトランス(152)を含んでいる。複数個のトランス(152)の一次側は無線周波数が入力される電源入力端と接地との間に直列で連結され、二次側の一端はそれぞれ複数個の容量結合電極(131、133、136、138)に対応するように連結され、他端は共通に接地されている。複数個のトランス(152)は電源入力端と接地との間の電圧を均等に分割し、分割された多数の分割電圧を複数個の容量結合電極(131、133、136、138)中で対応する正電圧電極(133、138)に出力する。複数個の容量結合電極(131、133、136、138)中で負電圧電極(131、136)は共通に接地されている。
図49を参照して、一変形の電流均衡回路(150)は複数個のトランス(152)の二次側が各々接地された中間タブ(153)を備え、二次側の一端は正電圧を、他端は負電圧を各々出力と、正電圧は複数個の容量結合電極の正電圧電極(133、138)に、負電圧は複数個の容量結合電極の負電圧電極(131、136)に提供されている。
10・・・プラズマ反応器
11・・・反応器本体
12・・・支持台
13・・・被処理基板
20・・・ガス供給部
21・・・ガス入口
22・・・ガス分配板
23・・・ガス注入口
30・・・容量結合電極アセンブリ
31、33・・・ 容量結合電極
32・・・ガス噴射孔
34・・・電極装着板
40・・・メイン電源供給源
41・・・インピーダンス整合器
42、43・・・バイアス電源供給源
44・・・インピーダンス整合器
50・・・分配回路
51・・・ 補償キャパシタ
52・・・トランス
53・・・ズングガンタブ
60・・・電圧レベル調節回路
61・・・ コイル
62・・・マルチタブスイッチング回路
70・・・絶縁体領域
71・・・伝導体領域
Claims (20)
- プラズマ反応器と、上記プラズマ反応器の内部に設けられプラズマ放電を誘導するための複数個の容量結合電極を含む容量結合電極アセンブリと、無線周波数電流を供給するためのメイン電源供給源と、上記メイン電源供給源から提供される上記無線周波数電流を受けて上記複数個の容量結合電極に均衡をとり分配するための複数個のトランスを含む電流均衡回路からなる分配回路と、
上記メイン電源供給源と上記分配回路との間に設けられてインピーダンス整合を遂行するインピーダンス整合器と、
を備える容量結合プラズマ反応器であって、
上記複数個の容量結合電極は上記複数個の正電圧電極と上記複数個の負電圧電極とを含み、上記正電圧電極と上記負電圧電極の配列構造は互いに隣接した線状配列構造、マトリックス配列構造、互いに隣接した螺旋状配列構造、互いに隣接した同心円配列構造から選択される一つ以上の配列構造を有し、
上記正電圧電極と上記負電圧電極とは、T状構造、平板状構造、突起状構造、柱状構造、環状構造、螺旋状構造、線状構造から選択される一つ以上の構造を有し、
上記分配回路は、漏洩電流を補償するための補償回路、及び/又は過度電圧による損傷を防止するための保護回路を含み、
上記容量結合電極アセンブリは、複数個の容量結合電極が装着される電極装着板を含み、
上記電極装着板は、複数個のガス噴射孔を有し上記ガス噴射孔を介して上記プラズマ反応器の内部にガスを供給するガス供給部を含み、
上記ガス供給部は、複数個のガス供給管を含み、
上記複数個のガス供給管は、各々独立してガス供給流量を制御することができる調節バルブを含んでいることを特徴とする容量結合プラズマ反応器。 - 上記複数個のトランスの一次側は上記無線周波数電流が入力される電源入力端子と接地との間に直列に連結され、二次側は複数個の容量結合電極に接続されている請求項1記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記複数個のトランスの二次側は各々接地された中間タブを備え、上記二次側の一端は正電圧を、他端は負電圧を各々出力し、上記正電圧は上記複数個の容量結合電極の正電圧電極に、上記負電圧は上記複数個の容量結合電極の負電圧電極に供給される請求項2記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記分配回路は分配される各電流の均衡を調節する範囲を可変可能な電圧レベル調節回路を備えている請求項1記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記複数個の容量結合電極は伝導体領域と絶縁体領域を備えている請求項1記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記容量結合電極アセンブリは上記複数個の容量結合電極との間に設けられた絶縁層を含んでいる請求項1記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記プラズマ反応器は内部に被処理基板が置かれる支持台を具備し、上記支持台はバイアスされるか、又はバイアスされないもののうちいずれか一つである請求項1記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記支持台はバイアスされ、単一周波数電源又は二つ以上の互いに異なる周波数電源によってバイアスされている請求項7記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記支持台は静電チャックを含んでいる請求項7記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記支持台はヒータを含んでいる請求項7記載の容量結合プラズマ反応器。
- 第1のプラズマ反応器と、第2のプラズマ反応器と、上記第1のプラズマ反応器の内部にプラズマ放電を誘導するための複数個の容量結合電極を含む第1の容量結合電極アセンブリと、上記第2のプラズマ反応器の内部にプラズマ放電を誘導するための複数個の容量結合電極を含む第2の容量結合電極アセンブリと、無線周波数電流を供給するためのメイン電源供給源と、上記メイン電源供給源から提供される上記無線周波数電流を受けて上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリの複数個の容量結合電極に均衡をとり分配するための複数個のトランスを含む電流均衡回路からなる分配器回路と、
上記メイン電源供給源と上記分配器回路との間に構成されてインピーダンス整合を遂行するインピーダンス整合器と、
を含んでいる容量結合プラズマ反応器であって、
上記各複数個の容量結合電極は上記複数個の正電圧電極と上記複数個の負電圧電極とを含み、上記正電圧電極と上記負電圧電極の配列構造は互いに隣接した線状配列構造、マトリックス配列構造、互いに隣接した螺旋状配列構造、互いに隣接した同心円配列構造から選択される一つ以上の配列構造を有し、
上記正電圧電極と上記負電圧電極とは、T状構造、平板状構造、突起状構造、柱状構造、環状構造、螺旋状構造、線状構造から選択される一つ以上の構造を有し、
上記分配回路は、漏洩電流を補償するための補償回路、及び/又は過度電圧による損傷を防止するための保護回路を含み、
上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリは、各々が複数個の容量結合電極が装着される電極装着板を含み、
上記各電極装着板は、複数個のガス噴射孔を有し上記ガス噴射孔を介して上記第1及び第2のプラズマ反応器の内部にガスを供給するガス供給部を含み、
上記ガス供給部は、複数個のガス供給管を含み、
上記複数個のガス供給管は、各々独立してガス供給流量を制御することができる調節バルブを含んでいることを特徴とする容量結合プラズマ反応器。 - 上記複数個のトランスの一次側は上記無線周波数が入力される電源入力端と接地との間に直列で連結され、二次側は上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリ(の複数個の容量結合電極に対応して連結されている請求項11記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記複数個のトランスの二次側は各々接地された中間タブを備え、上記二次側の一端は正電圧を、他端は負電圧を各々出力し、上記正電圧は上記複数個の容量結合電極の正電圧電極に、上記負電圧は上記複数個の容量結合電極の負電圧電極に印加されている請求項12記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記分配回路の電流均衡回路は分配される電流の均衡を調節する範囲を可変可能な電圧レベル調節回路を含んでいる請求項11記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記複数個の容量結合電極は伝導体領域と絶縁体領域とを含んでいる請求項11記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記第1及び第2の容量結合電極アセンブリは、各々が複数個の容量結合電極との間に構成される絶縁層を含んでいる請求項11記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記第1及び第2のプラズマ反応器は内部に被処理基板が置かれる支持台を具備し、上記支持台はバイアスされ、又はバイアスされないもののうちいずれか一つである請求項11記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記支持台はバイアスされ、単一周波数電源又は二つ以上の互いに異なる周波数電源によってバイアスされている請求項17記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記支持台は静電チャックを含んでいる請求項17記載の容量結合プラズマ反応器。
- 上記支持台はヒータを含んでいる請求項18記載の容量結合プラズマ反応器。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2007-0106349 | 2007-10-22 | ||
KR1020070106348A KR100979186B1 (ko) | 2007-10-22 | 2007-10-22 | 용량 결합 플라즈마 반응기 |
KR10-2007-0106348 | 2007-10-22 | ||
KR1020070106349A KR100955207B1 (ko) | 2007-10-22 | 2007-10-22 | 이중 기판 처리를 위한 용량 결합 플라즈마 반응기 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009105030A JP2009105030A (ja) | 2009-05-14 |
JP5668957B2 true JP5668957B2 (ja) | 2015-02-12 |
Family
ID=40344696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008125624A Expired - Fee Related JP5668957B2 (ja) | 2007-10-22 | 2008-05-13 | 容量結合プラズマ反応器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8018163B2 (ja) |
EP (1) | EP2053630A3 (ja) |
JP (1) | JP5668957B2 (ja) |
TW (1) | TWI440405B (ja) |
WO (1) | WO2009054671A2 (ja) |
Families Citing this family (59)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US8962101B2 (en) | 2007-08-31 | 2015-02-24 | Novellus Systems, Inc. | Methods and apparatus for plasma-based deposition |
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-
2008
- 2008-04-29 TW TW097115723A patent/TWI440405B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-05-05 US US12/114,879 patent/US8018163B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-05-13 JP JP2008125624A patent/JP5668957B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-10-22 WO PCT/KR2008/006241 patent/WO2009054671A2/en active Application Filing
- 2008-10-22 EP EP08167240A patent/EP2053630A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090102385A1 (en) | 2009-04-23 |
WO2009054671A3 (en) | 2009-06-11 |
WO2009054671A2 (en) | 2009-04-30 |
TWI440405B (zh) | 2014-06-01 |
US8018163B2 (en) | 2011-09-13 |
TW200920192A (en) | 2009-05-01 |
EP2053630A2 (en) | 2009-04-29 |
EP2053630A3 (en) | 2010-09-01 |
JP2009105030A (ja) | 2009-05-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110509 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130510 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130801 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130905 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20130905 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130910 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130925 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20130905 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130816 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131011 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20131001 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140610 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141104 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141203 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5668957 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |