JP5657711B2 - トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ - Google Patents

トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ Download PDF

Info

Publication number
JP5657711B2
JP5657711B2 JP2013000022A JP2013000022A JP5657711B2 JP 5657711 B2 JP5657711 B2 JP 5657711B2 JP 2013000022 A JP2013000022 A JP 2013000022A JP 2013000022 A JP2013000022 A JP 2013000022A JP 5657711 B2 JP5657711 B2 JP 5657711B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
sensor
light
detector
rotor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013000022A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013083663A (ja
Inventor
ザツキー ウーヴェ
ザツキー ウーヴェ
ターベル エルンスト
ターベル エルンスト
Original Assignee
ペッパール ウント フュフス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
ペッパール ウント フュフス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ペッパール ウント フュフス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング, ペッパール ウント フュフス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング filed Critical ペッパール ウント フュフス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Publication of JP2013083663A publication Critical patent/JP2013083663A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5657711B2 publication Critical patent/JP5657711B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/42Simultaneous measurement of distance and other co-ordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/003Transmission of data between radar, sonar or lidar systems and remote stations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4817Constructional features, e.g. arrangements of optical elements relating to scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating
    • G01S7/4972Alignment of sensor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating
    • G01S2007/4975Means for monitoring or calibrating of sensor obstruction by, e.g. dirt- or ice-coating, e.g. by reflection measurement on front-screen

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

本発明は、トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサに関する。
一般的な光学センサが、例えば特許文献1に記載されており、この光学センサは以下の部品を含む。すなわち、観察される領域に発光パルス(emergent light pulse)を放射するための光源と、発光パルスのビーム路を、前記ビームの方向に対して横方向に向けられている回転軸を中心として回転させるための回転装置と、観察領域における対象物により反射された光パルスを検知するための検知器と、センサ内部を周囲環境から、前記発光パルス及び反射光パルスに対して透明な仕切りスクリーン(partitioning screen)を用いて離隔しておくためのハウジングと、前記仕切りスクリーンの透光性をテスト(検査)するためのテスト装置と、前記光源を制御し、且つ、前記検知器により検知される光パルスを評価し、且つ、対象物からの距離を、前記光パルスの前記測定されたトランジットタイムに基づいて決定するための、前記テスト装置と協働する制御及び評価ユニットとである。
このような装置は、発光ビームが回転し、また、光源として一般的にレーザが用いられるため、レーザスキャナ、レーザレーダ、又は、2次元レーザ測定装置とも称される。このタイプのセンサは、これまで、主に工業用途において複数の異なる作業のために用いられてきた。この目的のための基本的前提条件は、比較的清潔な環境である。なぜなら、過度に高レベルの汚染若しくは汚れ、又は、雨や雪などの気象条件により、センサが測定を行うことが不可能になるからである。
一般的装置が、例えばフォークリフトトラックのナビゲーションのために用いられており、前記ナビゲーションは、しばしば、周囲環境内の決められた位置に取り付けられた反射器を補助として行われる。ナビゲーションは、基本的に反射器を用いずに行われることも可能であるが、その場合も、周囲環境のそれぞれの状況が評価ユニットにティーチイン段階にて読み込まれなければならない。
この装置のさらなる可能な用途が、障害物検知、建物の安全性、個人の保護、対象物の容積測定の分野における作業に関して、従って、基本的には、対象物の輪郭の検知にある程度関係する課題の全てに関して存在する。
このタイプの光学センサの基本的なタスクは、発光パルス(通常、レーザにより供給される)の強度が、検知されることが要求されている対象物に到達するように十分に高いことを保証することである。レーザビームが何らかの理由で過度に減衰され、又は完全に無効になる可能性がある場合、これらは必ず検知されなければならない。なぜなら、これらの検知が行われなければ、センサは、観察領域に実際には1以上の対象物が存在するにも関わらず、「観察領域に対象物が存在しない」ことを示す信号を送るであろうからである。
レーザ自体の機能効果は効率的に監視されることができる。主な問題は、発光パルスが光学ウィンドウ(例えば、この場合は仕切りスクリーン)を通過しなければならず、この仕切りスクリーンが必要な特性を有さず、且つ、透光性に関する必要条件を満たさない場合に生じる。これは、例えば仕切りスクリーンが汚れているか又は損傷されており、すなわち、特には割れやひびが入っている場合に生じる。光学センサの適切な機能を保証するために、仕切りスクリーンの透光性(translucence)は可能な限り徹底的にテストされなければならない。このような検査(透光性監視とも称する)が、信頼性の高い測定のために絶対に必要である。なぜなら、このような検査をしなければ、光学センサは、検知されるべき対象物が実際には存在しないのかどうか、或いは、光が仕切りスクリーン上の汚れにより完全に吸収され、それにより、実際には存在するいずれの対象物も検知不能であるのかどうかを決定できないであろうからである。
従来技術においては、例えばカーブ形状の仕切りスクリーンが用いられており、このカーブ形状の仕切りスクリーンを通して、テスト光が、仕切りスクリーンの異なる2つの領域を通過するように発光ダイオードにより放射される。これが仕切りスクリーンの複数の領域にて実行され、それにより、仕切りスクリーンのテストが可能な限り徹底的に行われる。それでもなお、完全なテスト、特には、360度センサの円形領域全体に対応するテストは可能でない。
特許文献1に記載されている光センサにおいて、光学素子、例えば回折格子が、仕切りスクリーン又は前方スクリーンの内面に取り付けられており、発光パルスの一部が、前記光学素子により、ハウジングの外部に配置された検知器まで到達させられる。前方スクリーン上の汚れ又はスクリーンの損傷は、この装置を補助として、前記光学素子の位置にてのみ決定されることができる。しかしこの場合も、仕切りスクリーンの完全なテストを実行することはできない。
欧州特許出願公開第1378763号
本発明の目的は、仕切りスクリーンの徹底的な検査を可能にする上記のタイプの光センサを提供することにある。
この目的は、請求項1に記載されている特徴を有する光学センサにより達成される。
以下に、本発明の光学センサの好ましい実施形態を、特に従属請求項及び図面に関連して記載する。
本発明に従って、上記のタイプの光学センサが、以下の点において展開される。すなわち、少なくとも1つのテスト検知器が前記テスト装置の一部としてセンサ内部に設けられ、前記テスト検知器は、回転軸を中心として回転するように適合されたロータ上に配置されている。前記テスト検知器は、前記仕切りスクリーンの、発光パルス及び/又は反射光パルスが通過するスループット領域(throughput region)に向けられている。テスト光を供給するためのテスト光源も、前記テスト装置のさらなる部品として同様に前記ロータ上に配置される。また、前記テスト光が向けられる少なくとも1つのリフレクタ要素が前記ハウジングの外側に配置される。そして、前記テスト検知器は、前記リフレクタ要素により反射されたテスト光を検知するために適切に配置される。
本発明の第1の中心的な概念は、テスト検知器が、もはや従来技術におけるように不動であるようには配置されず、その代わりにセンサ内部の回転ロータ上に取り付けられることであるとみなされ得る。
そして、前記センサ内部の前記テスト検知器は、前記仕切りスクリーンの、前記発光パルス及び/又は前記反射光パルスが通過する領域に向けられることができる。
前記テスト光を供給するために、前記ロータ上に同様に取り付けられるテスト光源が設けられる。こうして、比較的簡単な透光性測定が、前記テスト光源により供給される前記テスト光を補助として実行されることができる。
本発明の更なる基本的な概念に従えば、前記テスト光が向けられる少なくとも1つのリフレクタ要素が前記ハウジングの外側に配置され、前記テスト検知器は、前記リフレクタ要素により反射される前記テスト光を検知するように配置されている。
前記仕切りスクリーンの前記スループット領域の、連続的な、特には回転式の制御及び監視が前記回転式テスト検知器を補助として可能であることが、本発明の重要な利点とみなされ得る。
詳細には、前記仕切りスクリーンは周囲に延在する形態(surrounding form)を有する。すなわち、仕切りスクリーンは360度の完全な走査範囲に延在する。
本発明の光学センサの特に好ましい変型例において、前記仕切りスクリーンの特に大きい領域を透光性に関してテストすることができる。このテストにおいて、前記テスト光が前記センサ内部から前記仕切りスクリーンの第1の領域を通って外部に放射され、次いで、前記リフレクタ要素により反射された前記テスト光が、前記仕切りスクリーンの、前記第1の領域とは異なる第2の領域を通過して前記センサ内部に戻る。こうして、前記仕切りスクリーンの前記第1の領域の特性と、前記仕切りスクリーンの前記第2の領域の特性との両方が、前記テスト検知器により実際に測定される信号に含まれ、従って、この測定方法は前記両方の領域に対して反応可能である。例えば、前記第1領域の高さと前記第2領域の高さとは、それぞれのビームが前記回転軸(すなわち回転の中心)から異なる距離を有するように互いにずらされることができる。これは「中心ずれ」(centric offset)とも称される。
これらの測定が本発明の光学センサの動作信頼性を著しく高めることができる。
簡単な変型例において、円形の環状ミラー又はそのセグメントを前記リフレクタ要素として用いることができる。
すなわち、前記変型例(この変型例において、前記仕切りスクリーンの光出射領域は、前記テスト光が前記センサ内部に戻る領域と異なる)は、上記の中心ずれを、リフレクタ要素を用いることにより特に安価で簡単な方法で実現することができ、このリフレクタ要素は、特には、透明なプラスチック材料からつくられた、三角形の断面を有する円形の環状外形部又はそのセグメントから成る。前記テスト光ビームは、このようなリフレクタの外形により、光学分野にて公知のビーム偏向器の場合と同様に二重内部反射により偏向される。前記入射ビームと前記出射ビームとは互いにずれている。
前記仕切りスクリーンの最大限の透光性を達成するために、前記テスト光源から出射されるビームを拡大するための手段を設けることが有利である。前記テスト光源及前記びテスト検知器の両方が回転するため、前記ビームは、回転方向にて拡大又は拡張される必要はなく、回転方向に対して直角に延在する方向にのみ拡大される。従って、この目的のために、非対称の、又は円筒状のレンズを用いることが有利であろう。
前記テスト光の、前記リフレクタ要素により反射された部分を外部光の一部と区別するために、前記テスト光源は、好ましくはパルス状である。
原理上、前記仕切りスクリーンの透光性の最も徹底的な検査を達成するために、多数のテスト光源及び/又は、前記テスト光源に割り当てられた多数のテスト検知器を、例えば、前記ロータの直径方向に対向する領域に設けることもできる。
本発明の光学センサのさらなる好ましい変型例において、前記リフレクタ要素が前記ハウジングの張り出し部の下に取り付けられ、これにより、前記リフレクタ要素は、機械的損傷及び/又は汚れによる汚染から特に効果的に保護される。
上記のタイプのセンサ自体は公知であり、これらのセンサは、主に、動作範囲、走査範囲、及び、測定されたデータ処理に用いられるそれぞれの方法に関して互いに異なる。特に重要な違いは、公知の装置における走査範囲が、約180度、約270度、又は約360度であることである。
特許文献1に記載されているタイプの2次元光学センサにおいて、レーザビームを測定面に反射させるために回転ミラーが用いられている。この場合、レーザが回転軸にて放射され、レシーバは、対象物により反射されたレーザ光を同一軸にて受光する。理想的な場合、光は、45度傾斜されたミラーにより観察領域(すなわち測定面)に向って正確に直角に反射され、次いで、前記観察領域からレシーバに向って反射される。
しかし、これらの装置は、常にわずかな機械的ミスアライメント(光学的残差(residual optical error)と称される)を示すため、ミラーへのレーザ光の入射角度は、ミラーの全ての回転位置に関して同一ではない。従って、回転レーザビームは、ミラーの回転軸に対して直角に延在する面を中心として旋回する。そのときビームが旋回誤差を生じると考えられる。一般に、ミラーの取付けは、この問題の解決に対する最大の障害である。機械的組立体の底部にミラーを取り付ける場合、レーザ光を、前記回転軸にてミラーに向けて照射させることがさらに困難である。一方、ミラーを上部に取り付けて吊り下げる場合、これは一般的にブーム状の組立体を用いて実行されなければならないため、概して、駆動システムの取付け及び配置に関する問題が生じる。こうすると、ブーム状システムの、モータのための電気供給ライン及び機械的保持手段が上方に延在する位置にて死角が生じ、この設計によるセンサは全周測定が可能でない。すなわち、周囲環境を360度の全範囲にわたって走査することができない。
本発明の光学センサの特に好ましい例示的な実施形態において、前記光源、前記検知器、前記制御及び評価ユニットの一部を形成する電子組立体、及び、前記検知器への反射光パルスを偏向させるためのミラーが、前記ロータ上での共同回転(joint rotation)のために取り付けられる。従って、簡単な技術手段を用いて、トランジットタイム原理に基づいて動作し、且つ、360度の走査範囲を達成させることができる光学センサを提供することが可能である。
この変型例の基本的概念は、前記光源と前記検知器とが、従来技術とは異なり、互いに固定された関係で且つ一緒に回転することができるように配置されることであるとみなされ得る。前記光源と前記検知器とが固定されたシステムで同時に回転するため、旋回が生じることはない。これが本発明の第1の重要な利点を構成している。
別の重要な利点は、駆動に関してこれまでに存在していた問題がもはや存在しないことである。前記ロータが駆動される場所に関係なく、前記ロータが測定システムを妨害することは全くなく、死角が生じる可能性も排除される。なぜなら、電気的又は機械的部品が測定システムの上に取り付けられる必要が全くないからである。
これに加え、さらなる重要な改良点は、前記光源及び前記検知器の両方が前記ロータ上に配置されるため、非常にコンパクトな上部構造が得られ、詳細には、長い光路を用いる必要がなくなることにある。光路は、既知のシステム、すなわち、別々に回転するミラーと、空間的に固定されたトランスミッタ及びレシーバとを含むシステムと比較して著しく短縮されることができる。さらに、装置の設置に必要なスペース全体が非常に小さくなり、装置全体をより小さい寸法で製造することができる。
このようなコンパクトな構造により、回転中の乱気流がさらに低減され、従って、より高速の回転が可能である。
基本的に、前記観察領域から反射される前記光パルスは、レンズを補助としてガイドされて前記検知器上に集束されることができる。本発明のセンサの特に好ましい変型例において、同様に前記ロータ上に取り付けられるミラーが、前記観察領域における対象物により反射された光パルスを前記検知器にガイドするための光学手段として実装される。
一方では、非常に軽量の部品を用いることにより可能にされる、他方では、ミラーを用いることにより、高開口数による十分な光強度が、軽量化を維持しつつ達成される。
用いられるミラーは、好ましくは凹面鏡であるが、放物面鏡を用いる場合に、特に良好な集束特性が得られる。この場合、前記凹面鏡が、コーティングが施されたプラスチック成形品であれば部品が軽量になる。
概して、本発明の光学センサは、好ましくは、可能な限り軽量であるように形成された部品を有し、これらの部品は、さらには、可能であれば、回転軸の可能な限り近くに配置され、すなわち、生じる慣性モーメントを最小限にする。こうして、より高速の回転速度と、従って、周囲環境のより高速の走査速度とが、より容易に達成されることができる。
本文中に記載される光学センサを用いることにより、50Hzよりも著しく高い回転周波数、すなわち、3000rpm(回転/分)よりも高速の速度を達成することができる。
有利には、回転駆動手段のために前記ロータ上に永久磁石が配置され、この永久磁石はステータ上に配置されたコイルにより駆動されることができる。前記ロータ上の前記永久磁石は電動モータのロータのように動作する。
原理上、電気エネルギーをスライド接触を介して前記ステータから前記ロータに伝達することが可能である。しかし、より好ましくは、前記光源、前記検知器及び前記制御及び評価ユニットを動作させるために必要なエネルギーは、前記ステータから前記ロータに非接触方式で伝達される。これは、本発明の光学センサの別の好ましい変型例において、前記ステータと前記ロータとの間に、前記ステータから前記ロータにエネルギーを伝達するための変圧器(トランスフォーマ)リンク(transformer link)を設けることにより特に有利に実現されることができる。原理上、この変圧器リンクは、情報の伝送のために実装されることもできる。例えば、構造データ及び/又は制御データを、固定部、すなわち前記ステータから、移動部、すなわち前記ロータ(前記制御及び評価ユニットの部品がこのロータ上に既に存在している)に伝送する。基本的に、この目的のためには低速のデータ伝送速度で十分である。
原理上、前記検知器により測定される測定データは電気手段により外部にも伝送されることが可能であろう。しかし、このようにすると大量のデータが蓄積するため、データを前記ロータから前記ステータに伝送するために前記ロータと前記ステータとの間に光伝送路が形成されることが特に有利である。この場合、原理上、前記伝送路は、データ伝送を一方向に(すなわち、前記ロータから前記ステータに)のみ可能にする伝送路であってよい。このために、少なくとも1つの適切な光源、例えば発光ダイオードが前記ステータ上に設けられ、この発光ダイオードからの変調された信号が、前記ステータ上に適切に配置された1以上のフォトダイオードにより検知される。原理上、この光伝送路は、2方向データ交換のために形成されることもでき、この場合、前記光路の両端に、少なくとも1つの光源及び少なくとも1つの光検知器が設けられなければならない。
このような光伝送路を、前記ロータの回転軸上に、特に簡潔で安価な方法で実現することができる。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、前記光源、前記検知器、前記テスト光源、前記テスト検知器、及び/又は前記制御及び評価ユニットの前記電子アセンブリを保持する収容手段が、前記ミラーがその内部に形成されている前記プラスチック成形品内に形成されている場合、特にコンパクトな構造、及び、異なる部品の非常に良好な近軸配置が可能にされる。
本発明の光学センサのさらなる特徴及び利点を、添付図面を参照しつつ以下に記載する。
本発明の光学センサの例示的な実施形態を示す。
図1を参照し、本発明の光学センサ100の例示的な実施形態を詳細に説明する。図1に概略的に示されている本発明の光学センサ100の必須部品は、光源20、検知器50、及び、制御及び評価ユニット90の一部である電子アセンブリ92である。さらに、コーティング29により形成された凹面鏡28がプラスチック成形品27上に設けられている。光源20、検知器50、及び、電子アセンブリ92も、このプラスチック成形品27内に、適切な保持手段(図1に詳細に示さず)を補助として収容されている。
部品がその上に配置されたプラスチック成形品27は、ステータ30に対して回転するように適合されたロータ40の上に取り付けられている。構造物の全体が、ボトル状の外形を有するハウジング60内に収容されており、ロータ40が、回転軸46に対してボールベアリング42,44上で回転することができる。ロータ40には永久磁石48も固定されており、永久磁石48は、ステータ30上に配置されたコイル38を用いて電気モータのように駆動されることができる。ステータ30からロータ40にエネルギーを伝達するために、コイル72,74により変圧器(トランス)リンク(transformer link)が形成されている。原理上、この変圧器リンクを用いて、構造データ及び/又は制御データを、光源20、検知器50、及び/又は電子アセンブリ92に、データ伝送速度(data rate)は遅いが伝送することができる。
ハウジング60(フードとも称され得る)が、第1にセンサ内部68を周囲から離隔しておくために、特には、センサ内部68を、汚染及び機械的損傷から防護するために用いられる。ハウジング60のさらなる目的は、操作者を、高速(例えば、3000回転/分より速い回転速度)で回転しているロータ40によりもたらされる危険から保護することである。
軸方向に、すなわち回転軸46に沿って配置された光伝送路が、発光ダイオード又はレーザーダイオード78及びフォトダイオード76により、データを回転部からステータに伝送するために形成されている。ロータからステータまでの光伝送路におけるデータ伝送速度は、例えば、100MBaudである。
ハウジング60は、仕切りスクリーン(partitioning screen)66(透明領域とも称され得る)を含む。仕切りスクリーン66は独立した部品である必要はなく、図示されている例に見られるように、ハウジング60の一体的部分として形成されることができる。このために必須の条件は、用いられる波長に対して、ハウジング60が、光源20からの光パルス22が外部に向かって通過しなければならない少なくとも出口領域61にて、またさらに、対象物10により反射される光パルス26がセンサ内部68に戻るときに通過しなければならない領域62,64にて透明であることだけである。図示されている例において、660nmで、すなわち暗赤色領域で発光するレーザーダイオードが用いられる。仕切りスクリーン66が十分にクリーンであること、すなわち仕切りスクリーン66が十分な光透過性をもたらすことを保証するために、テスト光源54(図示されている例においては発光ダイオード)及びテスト検知器52が、ローター40上にさらに取り付けられている。テスト光源54及びテスト検知器52も同様に、プラスチック成形品27内に形成された保持手段内に収容されることができる。原理上、テスト光をテスト検知器52上に集光するための適切な光学手段、例えばレンズを設けることができる。
テスト光源54は、放射されたテスト光53が仕切りスクリーン66の第1の領域64を通過し、次いでリフレクタ(反射器)要素80に衝突するように配置される。このリフレクタ要素80によりテスト光53は反射され、ハウジング60へと戻るように放射される。図示されている例において、リフレクタ要素は、三角形の断面を有する円形の環状外形部82であり、透明なプラスチック材料からつくられている。図1に概略的に示されているように、テスト光53は、リフレクタ要素80による二重内部反射により180度偏向され、この場合、反射されたテスト光55はリフレクタ要素80の幾何学的形状に従って、中心から外側にわずかにずらされる。反射されたテスト光55は、第2の領域62にてセンサ内部68に再び入射し、次いで、前記テスト光55を検知するために適切に配置されたテスト検知器52まで通過する。仕切りスクリーン66の表面が汚れているか、又は、仕切りスクリーン66が損傷されている(例えば、割れやひびが入っている)場合、この状態は、テスト光の強度が低減することによってテスト検知器52により検知される。テスト検知器52により測定されるテスト光53,55の強度は制御及び評価ユニット90にて評価され、測定された強度が特定の閾値よりも低い場合、得られる測定データは、もはや評価において考慮されない。
本文中に記載される光学センサ100の重要な利点は、仕切りスクリーン66が全方位にわたって、また、原理上、360度の全角度範囲にわたって監視されることができることである。なぜなら、テスト光源54がテスト検知器52と同様にロータ40上に配置され、テスト光源54とテスト検知器52との両方がセンサ100の動作中に同時に回転するからである。従って、第1の領域64及び第2の領域62は、各々、ロータ40の角度位置に応じた前方スクリーン66上の異なる領域に合致する。別の重要な利点は、第1の領域64と第2の領域62とが一致せず、従って、仕切りスクリーン66の特に大きい領域が、汚れによる生じ得る汚染に関する評価の対象となることである。
本発明のさらなる利点は、仕切りスクリーン66がカーブ形状を有して設計される必要がもはやないことである。光源20がハウジング60の出口領域61の実質的に非常に近くに配置されることができるため、発光パルス22からの内部反射が前記出口領域61に生じることは実質的にない。従って、バックグレア(back glare)の可能性が排除される。詳細には、仕切りスクリーン66を簡単な円筒形状で設計することができる。
発光パルス22の検知器50への衝突が、対象物10からの反射による以外のいかなる方法によっても行われないように、光源20は、同様にプラスチック成形品27上に成形された管21内で座ぐり状にされる(coutersunk)ことができる。
図1に示されている光学センサのさらなる詳細は、リフレクタ要素80により形成された円形の環状外形部82が、ハウジング60の張り出し部63の下に取り付けられており、環状外形部82が、機械的衝撃から、従って、外部で生じる損傷から特に効果的に保護されることである。
原理上、本文中に記載される透光性監視プロセスにおいて、テスト光ビームが、底部から、すなわちロータの上面から、ほぼ円筒状の外側仕切りスクリーン(透明領域とも称される)を通して斜めに伝送される。このビームは、反射手段(例えば、円形の環状ミラー又は円形の環状外形部)の上部又は下部に衝突し、平行なずれを有して反射される。こうして、仕切りスクリーンは、汚れによりもたらされ得る汚染に関して2つの位置にてテストされる。これは、測定された距離データが、テスト光が通過する領域の両方が十分にクリーンである場合にのみ有効なものとして評価されることを意味する。
本発明の光学センサは以下のように動作する。すなわち、光源20が、基本的に、周知のレーザポインタのように動作し、1秒間に、例えば250,000個の発光パルス22を660nmの波長で、すなわち暗赤色スペクトル領域にて放射する。発光パルス22は、コリメータ光学素子(詳細に示さず)を補助としてコリメートされて平行な光線束を形成する。図示されている例において、発光パルス22は、光学センサ100の回転軸46に対して直角に向いたビーム方向24に放射される。発光パルス22が観察領域12における対象物10に衝突すると、発光パルス22はこの対象物10により光パルス26の形態で反射され、この反射光は、仕切りスクリーン66を通ってセンサ内部68に戻され、センサ内部68に配置された凹面鏡28に到達する。検知器50が、好ましくは反射光パルス26の全てを検知できるように凹面鏡28に対して配置されている。
制御及び評価ユニット90(図1にさらに詳細には示さず)及びユニット90の部品はハウジング60の外部に配置されることもでき、光源20を制御し、検知器50により検知された光パルス26を評価し、次いで、測定されたトランジットタイムから、検知された対象物10との距離を算出する。発光パルス22のビーム方向24を回転させることにより、ビーム方向24が面にて移動され、このようにして、本発明の光学センサ100は、その周囲環境のプロファイルを記録することができる。
本文中に記載されている本発明の光学センサの変型例の別の重要な利点は、小型であり、特には、光源、ミラー、検知器及び評価電子素子がロータ上に共同的に(jointly)配置されることにより近軸配置を設定することができることである。トランスミッタ(伝送器)、ミラー、レシーバ、及び電子アセンブリから成るこのユニットにより、達成可能な最大回転速度の制限要因となる乱気流を著しく低減することができる。
このようにして、より高速の回転速度が可能にされ、従って、ナビゲーションの用途において、それぞれの周囲環境が、より速い走査速度で検知されることができる。これは、ナビゲート又は制御されるべき装置又は車両が比較的迅速に移動する用途において特に重要である。周囲環境から得られる測定データが低速でのみ供給される場合、ナビゲートされるべき車両の位置が2つの測定間で既に著しく変化するであろう。この結果生じる影響は、空間歪みとも称される。理論上、後者を計算し直すこと(back compute)ができるが、これは、追加のセンサ、例えば、速度センサ、又は、コンパス式の角度測定センサを必要とするであろう。
本発明の光学センサを用いれば、多くの用途において回転速度を増大させるためにこれらの追加のセンサを用いる必要がなく、その結果、かなりのコスト節減が可能である。
本発明のセンサのさらなる可能な用途は、交通監視分野における通行料金の計算である。本発明の光学センサは、例えば、橋梁上に、橋梁の下を通行する車両の外形又は輪郭を判断するために取り付けられ得る。異なる車両タイプにおいて、車両の外形は多くの場合個々に異なるため、対象となる特定の車両タイプが橋梁下を通過した時を決定することが可能である。
本発明は、トランジットタイム原理に基づいて動作する新規の2次元光学測定センサを記載し、この光学測定センサにおいては、仕切りスクリーンにおけるスループット領域の透過性の、連続的な、特には回転式の制御及び監視が、特に簡潔な方法で実現されることができる。これは、テスト検知器及びテスト光源を備えた回転式テスト装置を用いることにより可能にされる。本文中に記載された光学センサのさらなる本質的な特徴は、独立に回転するミラーが設けられていないことである。このようなミラーがあれば、そのための保持手段が死角を生じるであろう。本文中に記載された光学センサにおいて、完全な測定ユニット、すなわち、光源、検知器、ミラー、及び電子測定装置の部品を含むユニットの回転が存在する。これは、360度にわたる全回転範囲を簡単な手段により監視することを可能にする。光源、検知器及び電子装置のために必要なエネルギーはステータからロータ(測定ヘッドとも称される)に非接触式に伝達される。同様に、データが、ロータからセンサの不動部分(ステータとも称される)に、非接触式に、詳細には光伝送路を用いて伝送される。

Claims (16)

  1. トランジットタイム原理に基づいた光学センサであって、
    発光パルスを観察領域に放射するための光源と、
    前記発光パルスのビーム方向を、前記ビーム方向に対して垂直に向けられている回転軸を中心として回転させるための回転装置と、
    前記観察領域における対象物により反射された光パルスを検知するための検知器と、
    前記発光パルス及び反射光パルスに対して透明な仕切りスクリーンを含む、前記センサの内部を周囲環境から離隔しておくためのハウジングと、
    前記仕切りスクリーンの透光性をテストするためのテスト装置と、
    前記光源を制御し、且つ、前記検知器により検知された前記光パルスを評価し、且つ、対象物からの距離を、前記光パルスの測定されたトランジットタイムに基づいて決定するための、前記テスト装置と協働する制御及び評価ユニットとを含む光学センサにおいて、
    少なくとも1つのテスト検知器が前記センサ内部に設けられて前記テスト装置の一部を形成し、前記テスト検知器が、前記回転軸を中心として回転するように適合されたロータ上に取り付けられており、
    前記テスト検知器が、前記仕切りスクリーンの、前記発光パルス及び反射光パルスの少なくとも一方が通過するスループット領域に向けられており、
    テスト光を供給するためのテスト光源が前記テスト装置のさらなる部分として設けられ、前記テスト光源も同様に前記ロータ上に取り付けられ、
    前記ハウジングの外側に、前記テスト光が向けられる少なくとも1つのリフレクタ要素が配置され、且つ、
    前記テスト検知器が、前記リフレクタ要素により反射された前記テスト光を検知することができるように配置され、
    前記光源と、前記検知器と、前記制御及び評価ユニットの一部を形成する電子アセンブリと、反射光パルスを前記検知器にガイドするためのミラーとが前記ロータ上で共同回転するように配置されていることを特徴とするセンサ。
  2. 前記テスト光が、前記センサ内部から、前記仕切りスクリーンの第1の領域を通って外部に出射され、
    前記リフレクタ要素により反射された前記テスト光が外部から前記センサ内部に、前記仕切りスクリーンの、前記第1の領域とは異なる第2の領域を通って入射する請求項1に記載の光センサ。
  3. 前記テスト光源がパルス動作に適応している請求項1に記載のセンサ。
  4. 前記リフレクタ要素が円形の環状ミラーである請求項1に記載のセンサ。
  5. 前記リフレクタ要素が、透明なプラスチック材料から作られた三角形の断面を有する円形の環状外形部である請求項1に記載のセンサ。
  6. 前記リフレクタ要素が前記ハウジングの張り出し部の下に取り付けられている請求項1に記載のセンサ。
  7. 前記テスト光源により放射されるビームを拡大するための手段が設けられている請求項1に記載のセンサ。
  8. 前記ミラーが凹面鏡である請求項1に記載のセンサ。
  9. 前記ミラーが放物面鏡である請求項1に記載のセンサ。
  10. 前記ミラーが、コーティングが施されたプラスチック成形品である請求項1に記載のセンサ。
  11. 前記プラスチック成形品に収容手段が形成されており、前記収容手段の内部に、前記光源、前記検知器、前記テスト光源、前記テスト検知器及び前記電子アセンブリの少なくとも1つが収容されている請求項10に記載のセンサ。
  12. 前記ロータ上に、ステータ上に配置されたコイルにより駆動されることができる永久磁石が配置されている請求項1に記載のセンサ。
  13. 前記ステータと前記ロータとの間に、前記ステータから前記ロータにエネルギーを伝達するための変圧器リンクが設けられている請求項12に記載のセンサ。
  14. 前記ロータから前記ステータへのデータの伝送のために、前記ロータと前記ステータとの間に光伝送路が、前記回転軸に沿って設けられている請求項12に記載のセンサ。
  15. 複数のテスト検知器及び複数の割り当てられたテスト光源の少なくとも一方が設けられている請求項1に記載のセンサ。
  16. 複数の検知器及び複数の割り当てられたテスト光源の少なくとも一方が前記ロータの対向する部位に設けられている請求項1に記載のセンサ。
JP2013000022A 2009-03-31 2013-01-04 トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ Active JP5657711B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP09004764.8 2009-03-31
EP09004764A EP2237065B1 (de) 2009-03-31 2009-03-31 Optischer Sensor nach dem Laufzeitprinzip

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010080174A Division JP2010243491A (ja) 2009-03-31 2010-03-31 トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013083663A JP2013083663A (ja) 2013-05-09
JP5657711B2 true JP5657711B2 (ja) 2015-01-21

Family

ID=41051064

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010080174A Pending JP2010243491A (ja) 2009-03-31 2010-03-31 トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ
JP2013000022A Active JP5657711B2 (ja) 2009-03-31 2013-01-04 トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010080174A Pending JP2010243491A (ja) 2009-03-31 2010-03-31 トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8085389B2 (ja)
EP (1) EP2237065B1 (ja)
JP (2) JP2010243491A (ja)
AT (1) ATE544081T1 (ja)

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2237063B1 (de) * 2009-03-31 2012-02-08 Pepperl + Fuchs GmbH Optischer Sensor nach dem Laufzeitprinzip
DE102010022159A1 (de) * 2010-05-20 2011-11-24 Leuze Electronic Gmbh + Co. Kg Optischer Sensor
DE102011119707A1 (de) * 2011-11-29 2013-05-29 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Optische Messvorrichtung
DE102012102395B3 (de) * 2012-03-21 2013-01-03 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zum Testen der Lichtdurchlässigkeit einer Frontscheibe
EP2653883B1 (de) 2012-04-20 2014-11-19 Pepperl + Fuchs GmbH Optischer Sensor
JP6069628B2 (ja) 2012-12-03 2017-02-01 北陽電機株式会社 偏向装置、光走査装置及び走査式測距装置
JP2014228492A (ja) * 2013-05-24 2014-12-08 リコー光学株式会社 レーザ装置
DE102014101312B3 (de) * 2014-02-04 2014-12-04 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich
EP2927711B1 (de) 2014-04-04 2016-03-30 Sick Ag Laserscanner und Verfahren zur sicheren Erfassung von Objekten
DE102014105261B3 (de) * 2014-04-14 2015-02-19 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich
DE102014116520B4 (de) 2014-11-12 2024-05-02 Pepperl+Fuchs Se Verfahren und Vorrichtung zur Objekterkennung
DE102015105264A1 (de) 2015-04-08 2016-10-13 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Transmissionsüberwachung einer Frontscheibe
DE102015108762A1 (de) * 2015-06-03 2016-12-08 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Haltevorrichtung zum Halten einer Antriebseinheit einer Umlenkspiegelanordnung, Detektionsvorrichtung mit einer Umlenkspiegelanordnung sowie Kraftfahrzeug
DE102016100322B4 (de) * 2016-01-11 2021-08-19 Sick Ag Optoelektronischer Sensor
DE102016111615B3 (de) * 2016-06-24 2017-04-13 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten
DE102016119155A1 (de) * 2016-09-15 2018-03-15 Zoller + Fröhlich GmbH Laserscanner
US10359507B2 (en) 2016-12-30 2019-07-23 Panosense Inc. Lidar sensor assembly calibration based on reference surface
US10942257B2 (en) 2016-12-31 2021-03-09 Innovusion Ireland Limited 2D scanning high precision LiDAR using combination of rotating concave mirror and beam steering devices
DE102017105997A1 (de) * 2017-03-21 2018-09-27 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sendeeinrichtung für eine optische Erfassungseinrichtung eines Kraftfahrzeugs mit einem spezifischen Vormontagemodul, optische Erfassungseinrichtung sowie Kraftfahrzeug
EP3392679B1 (de) * 2017-04-19 2024-05-08 Leuze electronic GmbH + Co. KG Optischer sensor
DE102017109138A1 (de) * 2017-04-28 2018-10-31 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Optische Erfassungseinrichtung für ein Kraftfahrzeug, wobei abhängig von einem Funktionszustand des Gehäuses der Betrieb einer Lichtquelleneinheit durchgeführt wird, Verfahren sowie Kraftfahrzeug
DE202018006696U1 (de) * 2017-05-15 2022-04-01 Ouster, Inc. Optischer Bildübertrager mit Helligkeitsverbesserung
JP7159224B2 (ja) * 2017-06-07 2022-10-24 上海禾賽科技有限公司 マルチラインレーダー
EP3415951B1 (de) * 2017-06-16 2023-06-07 Leuze electronic GmbH + Co. KG Optischer sensor
DE102017125587A1 (de) 2017-11-02 2019-05-02 Pepperl + Fuchs Gmbh Optischer Sensor zum Nachweis von Objekten in einem Erfassungsbereich
US11340336B2 (en) 2017-12-07 2022-05-24 Ouster, Inc. Rotating light ranging system with optical communication uplink and downlink channels
DE102018202246A1 (de) * 2018-02-14 2019-08-14 Robert Bosch Gmbh LiDAR-System, Betriebsverfahren für ein LiDAR-System und Arbeitsvorrichtung
CN112292608B (zh) 2018-02-23 2024-09-20 图达通智能美国有限公司 用于lidar系统的二维操纵系统
US11808888B2 (en) 2018-02-23 2023-11-07 Innovusion, Inc. Multi-wavelength pulse steering in LiDAR systems
DE102018125253B3 (de) * 2018-10-12 2019-12-24 Pepperl+Fuchs Gmbh Optischer Sensor nach dem Laufzeitprinzip zum Nachweis von Objekten in einem Überwachungsbereich
US12085647B2 (en) 2019-12-27 2024-09-10 Waymo Llc LIDAR occlusion detection methods and systems
DK3862780T3 (da) 2020-02-07 2022-02-14 Sick Ag Sikkerhedslaserscanner og fremgangsmåde til overvågning af en frontrude
DE102020119490A1 (de) * 2020-07-23 2022-01-27 Sick Ag Laserscanner
EP3951427A1 (de) 2020-08-07 2022-02-09 Sick Ag Optoelektronischer sensor und verfahren zur frontscheibenüberwachung
DE102020120908A1 (de) 2020-08-07 2022-02-10 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Frontscheibenüberwachung
EP4086661A1 (de) 2021-05-04 2022-11-09 Sick Ag Optoelektronischer sensor und verfahren zur überwachung einer frontscheibe
DE102022116100A1 (de) 2022-06-28 2023-12-28 Bea Sa Sensor

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2818942C2 (de) * 1978-04-28 1986-03-27 Zellweger Uster Ag, Uster Verfahren zur Raumüberwachung und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5305135A (en) * 1992-03-04 1994-04-19 General Electric Company Underwater viewing system for remote piloted vehicle
US5455669A (en) * 1992-12-08 1995-10-03 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik Laser range finding apparatus
US5850307A (en) * 1994-09-23 1998-12-15 Gerber Systems Corporation Scanner system having a dual trace spinner
JP3244438B2 (ja) * 1996-11-07 2002-01-07 オムロン株式会社 物体情報検知装置
DE19706612C2 (de) * 1997-02-20 1999-02-18 Leuze Electronic Gmbh & Co Optoelektronische Vorrichtung
DE19732776C1 (de) * 1997-07-30 1999-02-11 Leuze Electronic Gmbh & Co Optoelektronische Vorrichtung
JP2001318146A (ja) * 2000-05-11 2001-11-16 Omron Corp 物体情報検知装置
JP3780942B2 (ja) * 2001-01-09 2006-05-31 日産自動車株式会社 物体情報検知装置
DE10114362C2 (de) * 2001-03-22 2003-12-24 Martin Spies Laserscan-System für Entfernungsmessung
DE10221948B4 (de) * 2001-05-14 2004-03-11 Kümmel, Knut, Dipl., -Ing. Verfahren und System zum volumenspezifischen Beeinflussen von Boden und Pflanzen
DE10230397A1 (de) 2002-07-05 2004-01-15 Sick Ag Laserabtastvorrichtung
DE10312972B3 (de) * 2003-03-24 2004-06-24 Leuze Lumiflex Gmbh + Co. Kg Optischer Sensor
DE10359415A1 (de) * 2003-12-16 2005-07-14 Trimble Jena Gmbh Verfahren zur Kalibrierung eines Vermessungsgeräts
JP3908226B2 (ja) * 2004-02-04 2007-04-25 日本電産株式会社 スキャニング型レンジセンサ
US7187823B2 (en) * 2004-03-16 2007-03-06 Leica Geosystems Hds Llc Contact-free slip ring for survey instrumentation
DE102004014041B4 (de) * 2004-03-19 2006-04-06 Martin Spies Sensor zur Hinderniserkennung
US7402743B2 (en) * 2005-06-30 2008-07-22 Body Harp Interactive Corporation Free-space human interface for interactive music, full-body musical instrument, and immersive media controller
JP2007214179A (ja) * 2006-02-07 2007-08-23 Hokuyo Automatic Co 光学装置
JP4098341B1 (ja) * 2006-12-28 2008-06-11 北陽電機株式会社 走査式測距装置の光学窓汚れ検出装置
EP2237063B1 (de) * 2009-03-31 2012-02-08 Pepperl + Fuchs GmbH Optischer Sensor nach dem Laufzeitprinzip

Also Published As

Publication number Publication date
ATE544081T1 (de) 2012-02-15
JP2010243491A (ja) 2010-10-28
US8085389B2 (en) 2011-12-27
EP2237065B1 (de) 2012-02-01
EP2237065A1 (de) 2010-10-06
JP2013083663A (ja) 2013-05-09
US20100245849A1 (en) 2010-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5657711B2 (ja) トランジットタイム原理に基づいて動作する光学センサ
US8300215B2 (en) Optical sensor operating on the transit time principle
US11921204B2 (en) LiDAR system and method
US8520221B2 (en) Optical sensor
CN107918118B (zh) 一种激光雷达
US9476828B2 (en) Optoelectronic sensor for testing transmissivity of a front screen
US5745050A (en) Obstacle detection apparatus for vehicles
CN100557647C (zh) 用于在自动门周围进行检测的激光扫描和感测设备
US8730458B2 (en) Optoelectronic sensor and method for detecting objects
JP5696559B2 (ja) レーザ測定装置
US9810626B2 (en) Optoelectronic sensor and method for the transmission monitoring of a front screen
WO2017191665A1 (en) Laser scanner
US6588669B1 (en) Optoelectronic device
US11585905B2 (en) Laser scanner
US20220276354A1 (en) Rotating pyramidal mirror
KR20200009059A (ko) 증가된 스캐닝 주파수를 갖는 라이다 장치, 그리고 스캐닝 영역의 스캐닝 방법
JP2005121638A (ja) 光電子検出装置
US20030234923A1 (en) Scanner for optically detecting objects
JP6540388B2 (ja) レーザレーダ装置
JP6302578B2 (ja) 光学センサ
US8873058B2 (en) Optical sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130204

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130204

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140204

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140422

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141111

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141126

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5657711

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250