JP5643158B2 - レベルシフト回路 - Google Patents
レベルシフト回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5643158B2 JP5643158B2 JP2011142435A JP2011142435A JP5643158B2 JP 5643158 B2 JP5643158 B2 JP 5643158B2 JP 2011142435 A JP2011142435 A JP 2011142435A JP 2011142435 A JP2011142435 A JP 2011142435A JP 5643158 B2 JP5643158 B2 JP 5643158B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- node
- voltage
- vss1
- vdd2
- vss2
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 102100036285 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Human genes 0.000 claims description 80
- 101000875403 Homo sapiens 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Proteins 0.000 claims description 80
- -1 VSS2 <VDD2 Proteins 0.000 claims description 6
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 9
- 101001005165 Bos taurus Lens fiber membrane intrinsic protein Proteins 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 101100524516 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) RFA2 gene Proteins 0.000 description 5
- 101150070189 CIN3 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 2
- 102100037224 Noncompact myelin-associated protein Human genes 0.000 description 2
- 101710184695 Noncompact myelin-associated protein Proteins 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 1
- 102100036203 Microfibrillar-associated protein 5 Human genes 0.000 description 1
- 101710147471 Microfibrillar-associated protein 5 Proteins 0.000 description 1
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 1
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Description
tN21,VDD2→VSS2=CN21・(VDD2-VSS2)/{IMN21−(IMP23+IMP27)} (1)
となる。分子の項は固定値であるため、分母にある「IMP23+IMP27 」の値を減らせば、その遷移時間を短くできるように見える。ノードN23に繋がるインバータINV22の出力電圧はVDD1→VSS1に変化するため、トランジスタNM22はオフ、ノードN22から電圧VSS1の電源へ流れる電流IMN22は0である。
tN22,VDD2→VSS2=CN22・(VDD2-VSS2)/{IMN22−(IMP24+IMP28)} (2)
となる。IMN22はトランジスタMN22の電流、IMP24はトランジスタMP24の電流、IMP28はトランジスタMP28の電流である。分子の項は固定値であるため、分母の項をいかに処理するかが、遷移時間を短くする要となる。分母の項のIMN22=0のため、今度は「IMP22+IMP28 」を増やせば、その遷移時間を短くできるように見える。
請求項2にかかる発明は、請求項1に記載のレベルシフト回路において、前記第1のラッチ回路は、入力側が前記第1のノードに接続され出力側が前記第2のノードに接続された第1のバッファ、入力側が前記第2のノードに接続され出力側が前記第3のノードに接続された第1の遅延回路、入力側が前記第3のノードに接続され出力側が前記第4のノードに接続された第3のインバータ、および入力側が前記第4のノードに接続され出力側が前記第1のノードに接続された第4のインバータから構成され、前記第1の反転駆動回路は、前記第5のノードにゲートが接続されソースが電圧VSS1に接続された第1のNMOSトランジスタ、ゲートが電圧VSS2に接続されドレインが前記第1のNMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第7のノードに接続された第1のPMOSトランジスタ、入力側が前記第4のノードに接続され電圧VDD2とVSS2で動作する第5のインバータ、該第5のインバータの出力側にゲートが接続されソースが電圧VDD2に接続されドレインが前記第7のノードに接続された第3のPMOSトランジスタ、一方の入力側が前記第4のノードに接続され他方の入力側が前記第2のノードに接続され電圧VDD2とVSS2で動作する2入力オア回路、およびゲートが前記2入力オア回路の出力側に接続されソースが電圧VDD2に接続されドレインが前記第7のノードに接続された第4のPMOSトランジスタから構成され、前記第2の反転駆動回路は、前記第6のノードにゲートが接続されソースが電圧VSS1に接続された第2のNMOSトランジスタ、ゲートが電圧VSS2に接続されドレインが前記第2のNMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第1のノードに接続された第2のPMOSトランジスタ、およびドレインが前記第1のノードに接続されゲートが前記第8のノードに接続されソースが電圧VDD2に接続された第5のPMOSトランジスタから構成され、前記第1のセレクタは、ゲートが前記第3のノードに接続されソースが前記第7のノードに接続されドレインが前記第8のノードに接続された第7のPMOSトランジスタ、ゲートが前記第4のノードに接続されソースが前記第7のノードに接続されドレインが前記第8のノードに接続された第4のNMOSトランジスタ、およびゲートが前記第4のノードに接続されドレインが前記第8のノードに接続されソースが電圧VDD2に接続された第8のPMOSトランジスタから構成されている、ことを特徴とする。
請求項3にかかる発明は、第11、第12、第13、第14のノードに接続され電圧VDD1とVSS1で動作する第2のラッチ回路と、入力側が信号入力端子に接続され出力側が第15のノードに接続され且つ電圧VDD2とVSS2で動作する第11のインバータと、入力側が前記第15のノードに接続され出力側が第16のノードに接続され且つ電圧VDD2とVSS2で動作する第12のインバータと、前記第15、前記第12前記第14および第17のノードに接続され且つ電圧VDD2とVDD1とVSS1で動作する第3の反転駆動回路と、前記第11、前記第16および第18のノードに接続され且つ電圧VDD2とVDD1とVSS1で動作する第4の反転駆動回路と、前記第13、前記第14、前記第17、および前記第18のノードに接続され且つ電圧VDD1とVSS1で動作する第2のセレクタと、入力側が前記第11のノードに接続され出力側が信号出力端子に接続され且つ電圧VDD1とVSS1で動作する第6のインバータとを具備し、前記第2のラッチ回路は、前記第11のノードの電圧をインピーダンス変換して前記第12のノードに出力し、前記第12のノードの電圧変化を遅延して前記第13のノードに出力し、前記第13のノードの電圧を論理反転して前記第14のノード出力し、前記第14のノードの電圧を論理反転して前記第11のノードに出力し、前記第3の反転駆動回路は、前記第15のノードの電圧がVDD2からVSS2に変化するときに前記第17のノードの電圧をVSS1からVDD1の電圧付近に変化させ、且つ前記第15のノードの電圧がVDD2であるときにおいて前記第14のノードの電圧がVDD1からVSS1に変化するときに前記第17のノードの電圧をVSS1に変化させ、且つ前記第15のノードの電圧がVDD2で前記第14のノードの電圧がVDD1であるときにおいて前記第12のノードの電圧がVSS1からVDD1に変化すると前記第17のノードの電圧をVSS1に変化させ、前記第4の反転駆動回路は、前記第16のノードの電圧がVDD2からVSS2に変化するときに前記第11のノードの電圧をVSS1からVDD1の電圧付近に変化させ、且つ前記第16のノードの電圧がVDD2であるときにおいて前記第18のノードの電圧がVSS1からVDD1の電圧に変化するとき前記第11のノードの電圧をVDD1からVSS1に変化させ、前記第2のセレクタは、前記第13のノードの電圧がVDD1で前記第14のノードの電圧がVSS1のときに第17と第18のノードの間を接続し、且つ前記第13のノードの電圧がVSS1で前記第14のノードの電圧VDD1のときに前記第17と第18のノードの間を切断するとともに前記第18のノードの電圧VSS1にし、且つ前記各電圧は、VSS1<VDD1,VSS2<VDD2,VDD1<VDD2,VSS1<VSS2である、ことを特徴とする。
請求項4にかかる発明は、請求項3に記載のレベルシフト回路において、前記第2のラッチ回路は、入力側が前記第11のノードに接続され出力側が前記第12のノードに接続された第2のバッファ、入力側が前記第12のノードに接続され出力側が前記第13のノードに接続された第2の遅延回路、入力側が前記第13のノードに接続され出力側が前記第14のノードに接続された第13のインバータ、および入力側が前記第14のノードに接続され出力側が前記第11のノードに接続された第14のインバータから構成され、前記第3の反転駆動回路は、前記第15のノードにゲートが接続されソースが電圧VDD2に接続された第11のPMOSトランジスタ、ゲートが電圧VDD1に接続されドレインが前記第11のPMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第17のノードに接続された第11のNMOSトランジスタ、入力側が前記第14のノードに接続され電圧VDD1とVSS1で動作する第15のインバータ、該第15のインバータの出力側にゲートが接続されソースが電圧VSS1に接続されドレインが前記第17のノードに接続された第13のNMOSトランジスタ、一方の入力側が前記第14のノードに接続され他方の入力側が前記第12のノードに接続され電圧VDD1とVSS1で動作する2入力アンド回路、およびゲートが前記2入力アンド回路の出力側に接続されソースが電圧VSS1に接続されドレインが前記第17のノードに接続された第14のNMOSトランジスタから構成され、前記第4の反転駆動回路は、前記第16のノードにゲートが接続されソースが電圧VDD2に接続された第12のPMOSトランジスタ、ゲートが電圧VDD1に接続されドレインが前記第12のPMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第11のノードに接続された第12のNMOSトランジスタ、およびドレインが前記第11のノードに接続されゲートが前記第18のノードに接続されソースが電圧VSS1に接続された第15のNMOSトランジスタから構成され、前記第2のセレクタは、ゲートが前記第13のノードに接続されソースが前記第17のノードに接続されドレインが前記第18のノードに接続された第17のNMOSトランジスタ、ゲートが前記第14のノードに接続されソースが前記第17のノードに接続されドレインが前記第18のノードに接続された第14のPMOSトランジスタ、およびゲートが前記第14のノードに接続されドレインが前記第18のノードに接続されソースが電圧VSS1に接続された第18のNMOSトランジスタから構成されている、ことを特徴とする。
請求項5にかかる発明は、請求項2に記載の前記第1と第2のPMOSトランジスタおよび前記第1と第2のNMOSトランジスタは、前記第3、第4、第5のPMOSトランジスタおよび前記第4のインバータを構成する第6のPMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定され、又は、請求項2に記載の前記第4と第5のPMOSトランジスタは、前記第3のPMOSトランジスタと前記第4のインバータを構成する前記第6のPMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定され、又は、請求項4に記載の前記第11と第12のNMOSトランジスタおよび前記第11と第12のPMOSトランジスタは、前記第13、第14、第15のNMOSトランジスタおよび前記第14のインバータを構成する第16のNMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定され、又は、請求項4に記載の前記第14と第15のNMOSトランジスタは、前記第13NMOSトランジスタと前記第14のインバータを構成する前記第16のNMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定されている、ことを特徴とする。
請求項6にかかる発明は、請求項1乃至4のいずれか1つに記載のレベルシフト回路において、前記電圧VSS1の端子と前記電圧VSS2の端子との間に、前記電圧VSS2から前記電圧VSS1への通電を阻止するダイオードが接続されていることを特徴とする。
図1に第1の実施例のレベルシフト回路を示す。図1において、電圧関係は、VSS1<VDD1,VSS2<VDD2,VDD1<VDD2,VSS1<VSS2である。INV1は第1のインバータであり、信号入力端子INに入した電圧VDD1−VSS1間で変化する信号を論理反転させてノードN5に出力する。INV2は第2のインバータであり、ノード5の電圧を論理反転させてノードN6に出力する。
{リーク電流}<<IMP3<IMN1 (3)
となるように、トランジスタMN1,MP1のオン抵抗をトランジスタMP3,MP4のオン抵抗より小さくし、さらにトランジスタMP4のオン抵抗をトランジスタMP3のオン抵抗より小さくする。ノードN7の電圧の変化のスルーレートを高めるため、ピーク電流IMN1,IMP4が多くなるように構成したトランジスタMN1とMP4は、同時にオンしないように、ノードN2とN4の電圧を遅延回路DL1にて調整する。
{リーク電流}<|Ia|<<IMP5<IMN2 (4)
の関係となるように、トランジスタMN2,MP2のオン抵抗をトランジスタMP5,MP6のオン抵抗より小さくし、さらにトランジスタMP5のオン抵抗をトランジスタMP6のオン抵抗より小さくする。ノードN1の電圧の変化のスルーレートを高めるため、トランジスタMN2とMP5は、同時にオンしないように、ノードN3とN4の電圧を遅延回路DL1にて調整する。
安定状態A:N1=VSS2、N2=VSS2、N3=VSS2、N4=VDD2
安定状態B:N1=VDD2、N2=VDD2、N3=VDD2、N4=VSS2
図1のレベルシフト回路は、VDD1−VSS1間で変化する電圧をVDD2−VSS2間で変化する電圧にレベル変換する回路であるが、VDD2−VSS2間で変化する電圧をVDD1−VSS1間で変化する電圧にレベル変換する回路は、PMOSトランジスタとNMOSトランジスタを入れ替えて、更に電源電圧であるVDD1,VSS1,VDD2,VSS2を適宜入れ替えることで、図2に示すレベルシフト回路で実現可能となる。
図1および図2で説明したレベルシフト回路は、VDD1<VDD2、VSS1<VSS2であることが前提であるが、実際に動作させると、VSS1>VSS2となることがある。この場合、回路が正常に動作する限界は、ラッチアップを防止するために、トランジスタのP−Nジャンクションの閾値をVfとすると、VSS1<(VSS2−Vf)である。これを守るためには、図3および図4に示すように、VSS2−VSS1間にダイオードD1,D11を設ければよい。
2:第1の反転駆動回路
3:第2の反転駆動回路
4:第1のセレクタ
11:第2のラッチ回路、BUF11:第2のバッファ、DL11:第2の遅延回路
12:第3の反転駆動回路
13:第4の反転駆動回路
14:第2のセレクタ
Claims (6)
- 第1、第2、第3、および第4のノードに接続され電圧VDD2とVSS2で動作する第1のラッチ回路と、
入力側が信号入力端子に接続され出力側が第5のノードに接続され且つ電圧VDD1とVSS1で動作する第1のインバータと、
入力側が前記第5のノードに接続され出力側が第6のノードに接続され且つ電圧VDD1とVSS1で動作する第2のインバータと、
前記第5、前記第2、前記第4および第7のノードに接続され且つ電圧VDD2とVSS2とVSS1で動作する第1の反転駆動回路と、
前記第1、前記第6および第8のノードに接続され且つ電圧VDD2とVSS2とVSS1で動作する第2の反転駆動回路と、
前記第3、前記第4、前記第7、および前記第8のノードに接続され且つ電圧VDD2とVSS2で動作する第1のセレクタと、
入力側が前記第1のノードに接続され出力側が信号出力端子に接続され且つ電圧VDD2とVSS2で動作する第6のインバータとを具備し、
前記第1のラッチ回路は、前記第1のノードの電圧をインピーダンス変換して前記第2のノードに出力し、前記第2のノードの電圧変化を遅延して前記第3のノードに出力し、前記第3のノードの電圧を論理反転して前記第4のノード出力し、前記第4のノードの電圧を論理反転して前記第1のノードに出力し、
前記第1の反転駆動回路は、前記第5のノードの電圧がVSS1からVDD1に変化するときに前記第7のノードの電圧をVDD2からVSS2の電圧付近に変化させ、且つ前記第5のノードの電圧がVSS1であるときにおいて前記第4のノードの電圧がVSS2からVDD2に変化するときに前記第7のノードの電圧をVDD2に変化させ、且つ前記第5のノードの電圧がVSS1で前記第4のノードの電圧がVSS2であるときにおいて前記第2のノードの電圧がVDD2からVSS2に変化すると前記第7のノードの電圧をVDD2に変化させ、
前記第2の反転駆動回路は、前記第6のノードの電圧がVSS1からVDD1に変化するときに前記第1のノードの電圧をVDD2からVSS2の電圧付近に変化させ、且つ前記第6のノードの電圧がVSS1であるときにおいて前記第8のノードの電圧がVDD2からVSS2の電圧に変化するとき前記第1のノードの電圧をVSS2からVDD2に変化させ、
前記第1のセレクタは、前記第3のノードの電圧がVSS2で前記第4のノードの電圧がVDD2のときに第7と第8のノードの間を接続し、且つ前記第3のノードの電圧がVDD2で前記第4のノードの電圧VSS2のときに前記第7と第8のノードの間を切断するとともに前記第8のノードの電圧VDD2にし、
且つ前記各電圧は、VSS1<VDD1,VSS2<VDD2,VDD1<VDD2,VSS1<VSS2である、
ことを特徴とするレベルシフト回路。 - 請求項1に記載のレベルシフト回路において、
前記第1のラッチ回路は、入力側が前記第1のノードに接続され出力側が前記第2のノードに接続された第1のバッファ、入力側が前記第2のノードに接続され出力側が前記第3のノードに接続された第1の遅延回路、入力側が前記第3のノードに接続され出力側が前記第4のノードに接続された第3のインバータ、および入力側が前記第4のノードに接続され出力側が前記第1のノードに接続された第4のインバータから構成され、
前記第1の反転駆動回路は、前記第5のノードにゲートが接続されソースが電圧VSS1に接続された第1のNMOSトランジスタ、ゲートが電圧VSS2に接続されドレインが前記第1のNMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第7のノードに接続された第1のPMOSトランジスタ、入力側が前記第4のノードに接続され電圧VDD2とVSS2で動作する第5のインバータ、該第5のインバータの出力側にゲートが接続されソースが電圧VDD2に接続されドレインが前記第7のノードに接続された第3のPMOSトランジスタ、一方の入力側が前記第4のノードに接続され他方の入力側が前記第2のノードに接続され電圧VDD2とVSS2で動作する2入力オア回路、およびゲートが前記2入力オア回路の出力側に接続されソースが電圧VDD2に接続されドレインが前記第7のノードに接続された第4のPMOSトランジスタから構成され、
前記第2の反転駆動回路は、前記第6のノードにゲートが接続されソースが電圧VSS1に接続された第2のNMOSトランジスタ、ゲートが電圧VSS2に接続されドレインが前記第2のNMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第1のノードに接続された第2のPMOSトランジスタ、およびドレインが前記第1のノードに接続されゲートが前記第8のノードに接続されソースが電圧VDD2に接続された第5のPMOSトランジスタから構成され、
前記第1のセレクタは、ゲートが前記第3のノードに接続されソースが前記第7のノードに接続されドレインが前記第8のノードに接続された第7のPMOSトランジスタ、ゲートが前記第4のノードに接続されソースが前記第7のノードに接続されドレインが前記第8のノードに接続された第4のNMOSトランジスタ、およびゲートが前記第4のノードに接続されドレインが前記第8のノードに接続されソースが電圧VDD2に接続された第8のPMOSトランジスタから構成されている、
ことを特徴とするレベルシフト回路。 - 第11、第12、第13、第14のノードに接続され電圧VDD1とVSS1で動作する第2のラッチ回路と、
入力側が信号入力端子に接続され出力側が第15のノードに接続され且つ電圧VDD2とVSS2で動作する第11のインバータと、
入力側が前記第15のノードに接続され出力側が第16のノードに接続され且つ電圧VDD2とVSS2で動作する第12のインバータと、
前記第15、前記第12前記第14および第17のノードに接続され且つ電圧VDD2とVDD1とVSS1で動作する第3の反転駆動回路と、
前記第11、前記第16および第18のノードに接続され且つ電圧VDD2とVDD1とVSS1で動作する第4の反転駆動回路と、
前記第13、前記第14、前記第17、および前記第18のノードに接続され且つ電圧VDD1とVSS1で動作する第2のセレクタと、
入力側が前記第11のノードに接続され出力側が信号出力端子に接続され且つ電圧VDD1とVSS1で動作する第6のインバータとを具備し、
前記第2のラッチ回路は、前記第11のノードの電圧をインピーダンス変換して前記第12のノードに出力し、前記第12のノードの電圧変化を遅延して前記第13のノードに出力し、前記第13のノードの電圧を論理反転して前記第14のノード出力し、前記第14のノードの電圧を論理反転して前記第11のノードに出力し、
前記第3の反転駆動回路は、前記第15のノードの電圧がVDD2からVSS2に変化するときに前記第17のノードの電圧をVSS1からVDD1の電圧付近に変化させ、且つ前記第15のノードの電圧がVDD2であるときにおいて前記第14のノードの電圧がVDD1からVSS1に変化するときに前記第17のノードの電圧をVSS1に変化させ、且つ前記第15のノードの電圧がVDD2で前記第14のノードの電圧がVDD1であるときにおいて前記第12のノードの電圧がVSS1からVDD1に変化すると前記第17のノードの電圧をVSS1に変化させ、
前記第4の反転駆動回路は、前記第16のノードの電圧がVDD2からVSS2に変化するときに前記第11のノードの電圧をVSS1からVDD1の電圧付近に変化させ、且つ前記第16のノードの電圧がVDD2であるときにおいて前記第18のノードの電圧がVSS1からVDD1の電圧に変化するとき前記第11のノードの電圧をVDD1からVSS1に変化させ、
前記第2のセレクタは、前記第13のノードの電圧がVDD1で前記第14のノードの電圧がVSS1のときに第17と第18のノードの間を接続し、且つ前記第13のノードの電圧がVSS1で前記第14のノードの電圧VDD1のときに前記第17と第18のノードの間を切断するとともに前記第18のノードの電圧VSS1にし、
且つ前記各電圧は、VSS1<VDD1,VSS2<VDD2,VDD1<VDD2,VSS1<VSS2である、
ことを特徴とするレベルシフト回路。
- 請求項3に記載のレベルシフト回路において、
前記第2のラッチ回路は、入力側が前記第11のノードに接続され出力側が前記第12のノードに接続された第2のバッファ、入力側が前記第12のノードに接続され出力側が前記第13のノードに接続された第2の遅延回路、入力側が前記第13のノードに接続され出力側が前記第14のノードに接続された第13のインバータ、および入力側が前記第14のノードに接続され出力側が前記第11のノードに接続された第14のインバータから構成され、
前記第3の反転駆動回路は、前記第15のノードにゲートが接続されソースが電圧VDD2に接続された第11のPMOSトランジスタ、ゲートが電圧VDD1に接続されドレインが前記第11のPMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第17のノードに接続された第11のNMOSトランジスタ、入力側が前記第14のノードに接続され電圧VDD1とVSS1で動作する第15のインバータ、該第15のインバータの出力側にゲートが接続されソースが電圧VSS1に接続されドレインが前記第17のノードに接続された第13のNMOSトランジスタ、一方の入力側が前記第14のノードに接続され他方の入力側が前記第12のノードに接続され電圧VDD1とVSS1で動作する2入力アンド回路、およびゲートが前記2入力アンド回路の出力側に接続されソースが電圧VSS1に接続されドレインが前記第17のノードに接続された第14のNMOSトランジスタから構成され、
前記第4の反転駆動回路は、前記第16のノードにゲートが接続されソースが電圧VDD2に接続された第12のPMOSトランジスタ、ゲートが電圧VDD1に接続されドレインが前記第12のPMOSトランジスタのドレインに接続されソースが前記第11のノードに接続された第12のNMOSトランジスタ、およびドレインが前記第11のノードに接続されゲートが前記第18のノードに接続されソースが電圧VSS1に接続された第15のNMOSトランジスタから構成され、
前記第2のセレクタは、ゲートが前記第13のノードに接続されソースが前記第17のノードに接続されドレインが前記第18のノードに接続された第17のNMOSトランジスタ、ゲートが前記第14のノードに接続されソースが前記第17のノードに接続されドレインが前記第18のノードに接続された第14のPMOSトランジスタ、およびゲートが前記第14のノードに接続されドレインが前記第18のノードに接続されソースが電圧VSS1に接続された第18のNMOSトランジスタから構成されている、
ことを特徴とするレベルシフト回路。 - 請求項2に記載の前記第1と第2のPMOSトランジスタおよび前記第1と第2のNMOSトランジスタは、前記第3、第4、第5のPMOSトランジスタおよび前記第4のインバータを構成する第6のPMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定され、
又は、請求項2に記載の前記第4と第5のPMOSトランジスタは、前記第3のPMOSトランジスタと前記第4のインバータを構成する前記第6のPMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定され、
又は、請求項4に記載の前記第11と第12のNMOSトランジスタおよび前記第11と第12のPMOSトランジスタは、前記第13、第14、第15のNMOSトランジスタおよび前記第14のインバータを構成する第16のNMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定され、
又は、請求項4に記載の前記第14と第15のNMOSトランジスタは、前記第13NMOSトランジスタと前記第14のインバータを構成する前記第16のNMOSトランジスタのオン抵抗より小さなオン抵抗に設定されている、
ことを特徴とするレベルシフト回路。 - 請求項1乃至4のいずれか1つに記載のレベルシフト回路において、
前記電圧VSS1の端子と前記電圧VSS2の端子との間に、前記電圧VSS2から前記電圧VSS1への通電を阻止するダイオードが接続されていることを特徴とするレベルシフト回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011142435A JP5643158B2 (ja) | 2011-06-28 | 2011-06-28 | レベルシフト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011142435A JP5643158B2 (ja) | 2011-06-28 | 2011-06-28 | レベルシフト回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013012797A JP2013012797A (ja) | 2013-01-17 |
JP5643158B2 true JP5643158B2 (ja) | 2014-12-17 |
Family
ID=47686342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011142435A Active JP5643158B2 (ja) | 2011-06-28 | 2011-06-28 | レベルシフト回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5643158B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10560084B2 (en) | 2017-09-08 | 2020-02-11 | Toshiba Memory Corporation | Level shift circuit |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9312857B2 (en) | 2014-03-13 | 2016-04-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor circuit |
US10263621B2 (en) * | 2017-03-24 | 2019-04-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Level shifter with improved voltage difference |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10336007A (ja) * | 1997-05-29 | 1998-12-18 | Fujitsu Ltd | レベルコンバータ、出力回路及び入出力回路 |
JP4249597B2 (ja) * | 2003-11-13 | 2009-04-02 | 新日本無線株式会社 | レベルシフト回路 |
JP2009105721A (ja) * | 2007-10-24 | 2009-05-14 | New Japan Radio Co Ltd | レベルシフト回路 |
-
2011
- 2011-06-28 JP JP2011142435A patent/JP5643158B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10560084B2 (en) | 2017-09-08 | 2020-02-11 | Toshiba Memory Corporation | Level shift circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013012797A (ja) | 2013-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7772883B2 (en) | Level shifter | |
JP6643157B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP3914933B2 (ja) | レベル変換回路 | |
JP2017112537A (ja) | インバータ回路 | |
KR100919655B1 (ko) | 입출력 회로 | |
JP2004328443A (ja) | 半導体装置 | |
JP4174531B2 (ja) | レベル変換回路及びこれを有する半導体装置 | |
US8169250B2 (en) | Signal level conversion circuit | |
JP5643158B2 (ja) | レベルシフト回路 | |
KR20180028005A (ko) | 레벨 시프트 회로 및 반도체 장치 | |
US20060214685A1 (en) | Level conversion circuit | |
JP5881432B2 (ja) | レベル変換回路 | |
US9239703B2 (en) | Full adder circuit | |
JP2002152033A (ja) | 半導体集積回路 | |
US20050162209A1 (en) | High speed voltage level translator | |
US10706916B1 (en) | Method and apparatus for integrated level-shifter and memory clock | |
US11476853B2 (en) | Level shift circuit and electronic apparatus | |
KR101879830B1 (ko) | 플립플롭 및 그 구동 방법 | |
EP3057236A1 (en) | Driver circuit for single wire protocol slave unit | |
US20070176633A1 (en) | Output circuit | |
TWM565921U (zh) | 電壓位準移位器 | |
JP2013021498A (ja) | Cmos論理集積回路 | |
US10566959B1 (en) | Sense amplifier flip-flop and method for fixing setup time violations in an integrated circuit | |
JP2009213109A (ja) | 入出力回路 | |
Rezaei et al. | Low-swing self-timed regenerators for high-speed and low-power on-chip global interconnects |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140508 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140910 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140918 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140925 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141016 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141030 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5643158 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |