JP5610474B2 - 画像処理装置およびプログラム並びに画像診断装置 - Google Patents
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Description
beam)やコーンビーム(cone beam)などのX線ビームとなるように成形され、X線検出器24に照射される。
back projection)法による3次元画像再構成処理等が用いられる。操作者は、観察部位や目的に合わせて画像再構成に用いる再構成関数(カーネル)を選択することができる。再構成関数としては、例えば、標準関数、軟部用関数、高解像度関数などが用意されている。
ここで、Pij′はストリーク低減画像P′における座標(i,j)の画素値、PijはCT画像Pにおける座標(i,j)の画素値、SFijはストリークアーチファクト平滑化画像おける座標(i,j)の画素値である。また、αは0<α≦1のゲインである。
4 撮影テーブル
6 操作コンソール
8 被検体
20 X線管
22 アパーチャ
24 X線検出器
25 コリメータ板
26 データ収集部
28 X線コントローラ
30 アパーチャコントローラ
34 回転部
36 回転コントローラ
60 中央処理装置
62 制御インタフェース
64 データ収集バッファ
66 記憶装置
68 表示装置
70 入力装置
400 X線ビーム
601 高周波画像生成部
602 ストリーク画素候補検出部
603 候補絞込部
604 ストリークアーチファクト低減部
Claims (13)
- 再構成画像の高周波成分を表す画像を生成する生成手段と、
前記生成手段により生成された画像において、1つの画素を注目画素とし、高周波成分が0であるときの画素値に相当する基準値に対する画素値の大小関係が同じである画素が該注目画素を含めて直線方向にN(2以上の整数)個以上連続して並んでいる画素パターンを検出する処理を行い、該画素パターンが検出された場合に、該注目画素を、前記再構成画像におけるストリークアーチファクトの成分を表す画素の候補として検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された候補の少なくとも一部による画像成分を低減することにより、前記再構成画像におけるストリークアーチファクトを低減する低減手段とを備えている画像処理装置。 - 前記生成手段は、前記再構成画像から該再構成画像の平滑化画像を減算して、前記高周波成分を表す画像を生成する請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記低減手段は、前記再構成画像から、前記検出された候補である画素により構成されている画像または該画像の平滑化画像を減算することにより、前記ストリークアーチファクトを低減する請求項1または請求項2に記載の画像処理装置。
- 前記低減手段は、前記再構成画像から、前記検出された候補である画素により構成されている画像または該画像の平滑化画像における画素の画素値を、前記再構成画像もしくは該再構成画像の平滑化画像における該画素の対応画素の画素値に応じて重み付けして減算する請求項3に記載の画像処理装置。
- 前記低減手段は、前記再構成画像から、前記検出された候補である画素により構成されている画像または該画像の平滑化画像を、前記再構成画像の再構成に用いられた再構成関数の種類に応じて重み付けして減算する請求項3に記載の画像処理装置。
- 前記検出手段により検出された候補を、前記ストリークアーチファクトの画像上の他の特徴を有するか否かにより絞り込む絞込手段をさらに備えており、
前記低減手段は、絞り込まれた候補である画素に基づいて、前記ストリークアーチファクトを低減する請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の画像処理装置。 - 前記検出手段は、複数の直線方向に対して前記画素パターンを検出する処理を行い、
前記絞込手段は、前記検出手段により候補として検出された画素であって、前記画素パターンが検出された直線方向が2以上あり、これら2以上の直線方向の広がり角度が許容角度を超えている画素を候補から外す請求項6に記載の画像処理装置。 - 前記絞込手段は、前記検出手段により候補として検出された画素であって、該画素の画素値、または、前記再構成画像もしくは該再構成画像の平滑化画像における該画素の対応 画素の画素値が所定の範囲に含まれている画素を候補から外す請求項6または請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記絞込手段は、前記検出手段により候補として検出された画素により構成される画像において点状に分布する画素を候補から外す請求項6から請求項8のいずれか一項に記載の画像処理装置。
- 前記絞込手段は、前記検出手段により候補として検出された画素であって、前記画素パターンが検出された直線方向が再構成中心を中心とする円周方向に沿った方向とは異なる方向である画素を候補から外す請求項6から請求項9のいずれか一項に記載の画像処理装置。
- 前記絞込手段は、前記検出手段により候補として検出された画素により構成される画像において、画素の1つを注目候補とし、該注目候補を含む局所領域内に含まれる他の候補の画素であって、前記画素パターンが検出された直線方向が該注目候補と許容角度内で一致している画素の数が所定値以下である場合に、該注目候補を候補から外す請求項6から請求項11のいずれか一項に記載の画像処理装置。
- コンピュータを、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の画像処理装置として機能させるためのプログラム。
- 請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の画像処理装置を備えている画像診断装置。
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