JP5605992B2 - 顕微鏡および観測方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 16
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 15
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 15
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 2
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000006317 isomerization reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical group [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 1
- -1 rare earth ion Chemical class 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
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- G02B21/002—Scanning microscopes
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- G02B21/00—Microscopes
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Description
本発明の実施形態に係る顕微鏡について、まずその動作の機構について図1を参照して説明する。
本発明の実施形態では、入射する電磁波の波長程度にまで絞られたモードウエスト103を持つ光共振器101を用いる。この電磁波の波長は、物質を含んだ光共振器101の共振器モードに共鳴するように設定されている。この場合、絞るのはモードウエストのモード波面を含む方向(図1のx、y方向)に対してだが、このようにモードウエストを絞った共振器モード102では、モードウエスト103からモードの波面に直交する方向(図1中のz方向)に離れると、急激にモードの幅が広がり、物理系と共振器モードとの結合定数が急激に小さくなる。従って、モードウエスト103を中心とした波長程度の領域104内にある物理系のみ共振器モード102と強く結合することになる。すなわち、モードウエスト103の直径が、効果が有効である精度内で、光共振器101の共振器モードに共鳴する電磁波の波長になるようにモードウエスト103を絞る。物理系は、例えば、物質内部に分布している原子、分子、イオンなどである。
光共振器101の形が決まると、その中に存在できる電磁場の周波数とその各周波数に対応する電場振幅の下記(1)の空間分布(共振器モード)が決まる。
本実施例の顕微鏡では、ピエゾ素子により共振器長が可変である共振器長約1mmのファブリペロー型の光共振器を用い、共振器モードは後述する観測対象を入れた状態で494.68×2πTHz(約606.035nm)に共鳴するように調整されている。また共振器は研磨したガラスに誘電体多層膜の高反射率ミラーをつけたものである。共振器長が可変なので、この共振器は共鳴周波数が可変である。
共振器からの透過レーザーは第1のフォトダイオードで、反射レーザーは誘電体多層膜ミラーでさらに反射して第2のフォトダイオードで強度が測定できるようになっている。
この装置により、透過レーザーと反射レーザーの強度を逐次計測しながら、ピエゾ駆動のステージをx軸、y軸、z軸方向に移動せる。その際、単一のPr3+イオンをモードウエストが横切る時間が共振器モードと結合するPr3+イオンの2つの量子状態のうちの上の状態の寿命である約200マイクロ秒より短くなるように、0.05μm/s程度の速度で走査をする。あるいは、モードウエストをある点に固定し、約20μ秒の時間レーザーを共振器モードに結合させ、次に1μm以上離れた別の場所にモードウエストを移動し、そこでまた約20μ秒の時間レーザーを共振器モードに結合させる、ということを繰り返しながら各点での共振器からの透過レーザー強度と反射レーザー強度を計測する、あるいはレーザー光を十分弱くして、0.05μm/sより遅い速度で走査してもよい。
実施例1のようにして見出した、Pr3+イオンが存在すると考えられる場所で、レーザー周波数を1MHz程度掃引するとする。多くの場合、透過レーザーは約120kHz離れた2つのピークを、反射レーザーは約120kHz離れた2つのディップを示すと考えられる。これは単一のイオンを検出していることの確認になる。もしそれらの21/2倍離れた2つの透過レーザーピーク、あるいは2つの反射レーザーのディップが現れたなら、それは、モードウエストの位置から波長程度の範囲内にたまたま2つのPr3+イオンがあることを示していると考えられる。
Claims (7)
- 共振器モードのモードウエストを有する共振器と、
前記共振器モードに結合するレーザーを発生する発生手段と、
2つの量子状態を有する物理系を内部に含む物質と前記共振器モードのモードウエストとの相対位置を、3次元的に走査する走査手段と、
前記走査手段により3次元的に走査しながら、前記レーザーが前記共振器に入力され該共振器からの反射光および透過光のいずれか一方の強度あるいは両方の強度を測定する測定手段と、からなることを特徴とする顕微鏡。 - 前記共振器は共鳴周波数が可変であることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
- 前記物質の表面に、電磁波に対する反射防止膜を有することを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡。
- 電磁波が可視光であり、前記共振器モードのモードウエスト直径が精度内で1μmであることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の顕微鏡。
- 前記走査手段は、
前記物質を固定するステージと、
前記ステージを3次元的に移動させるピエゾ素子と、を含むこと特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の顕微鏡。 - 前記発生手段は前記レーザーの周波数を可変にすることができ、
前記測定手段は、前記物質と前記モードウエストとのある相対位置におけるレーザーの反射光および透過光のいずれか一方の強度を複数のレーザー周波数に対して測定すること
を特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の顕微鏡。 - 共振器モードのモードウエストを生じさせ、
前記共振器モードに結合するレーザーを発生し、
2つの量子状態を有する物理系を内部に含む物質と前記共振器モードのモードウエストとの相対位置を、3次元的に走査しながら、
前記レーザーが前記共振器に入力され該共振器からの反射光および透過光のいずれか一方の強度あるいは両方の強度を測定することを特徴とする観測方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009020280A JP5605992B2 (ja) | 2009-01-30 | 2009-01-30 | 顕微鏡および観測方法 |
US12/696,374 US8085402B2 (en) | 2009-01-30 | 2010-01-29 | Microscope and an observation method in the microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009020280A JP5605992B2 (ja) | 2009-01-30 | 2009-01-30 | 顕微鏡および観測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010175464A JP2010175464A (ja) | 2010-08-12 |
JP5605992B2 true JP5605992B2 (ja) | 2014-10-15 |
Family
ID=42397448
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009020280A Active JP5605992B2 (ja) | 2009-01-30 | 2009-01-30 | 顕微鏡および観測方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8085402B2 (ja) |
JP (1) | JP5605992B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9910340B2 (en) | 2016-06-30 | 2018-03-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cavity and quantum computer |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018089839A1 (en) | 2016-11-10 | 2018-05-17 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Rapid high-resolution imaging methods for large samples |
EP4318072A1 (en) * | 2022-08-03 | 2024-02-07 | Ludwig-Maximilians-Universität München | Cavity enhanced optical microscopy |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5034613A (en) * | 1989-11-14 | 1991-07-23 | Cornell Research Foundation, Inc. | Two-photon laser microscopy |
JPH08261922A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-11 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 微量気体検出方法 |
JPH11212129A (ja) * | 1998-01-26 | 1999-08-06 | Sony Corp | 共振器を有する光学系 |
JP4521517B2 (ja) * | 2004-03-01 | 2010-08-11 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 微小対象物放出光検出装置 |
JP4296203B2 (ja) * | 2007-03-19 | 2009-07-15 | 株式会社東芝 | 量子ビット読出装置および方法 |
-
2009
- 2009-01-30 JP JP2009020280A patent/JP5605992B2/ja active Active
-
2010
- 2010-01-29 US US12/696,374 patent/US8085402B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9910340B2 (en) | 2016-06-30 | 2018-03-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cavity and quantum computer |
US10423048B2 (en) | 2016-06-30 | 2019-09-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cavity and quantum computer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100195104A1 (en) | 2010-08-05 |
US8085402B2 (en) | 2011-12-27 |
JP2010175464A (ja) | 2010-08-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110916 |
|
A977 | Report on retrieval |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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