JP5574291B2 - 露光装置 - Google Patents
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Description
(1) マスクを保持するマスクステージと、
それぞれ被露光材としての基板を保持し、前記マスクに対向配置される露光位置と前記基板を載置するローディング位置との間で移動可能な第1及び第2基板ステージと、
前記基板に対してパターン露光用の光を前記マスクを介して照射する照射装置と、
前記第1及び第2基板ステージの移動方向と直交する方向の前記マスクステージの両側面に配置されるマスクステージ測長ミラーを備え、前記直交方向に離間した2箇所で、前記マスクステージの絶対位置を測定する一対のマスクステージ位置測定装置と、
前記直交方向の前記第1及び第2基板ステージの側面に沿うように配置された基板ステージ測長ミラーを備え、前記直交方向に離間した2箇所で、前記第1及び第2基板ステージの絶対位置を測定する一対の基板ステージ位置測定装置と、
前記移動方向の前記第1及び第2基板ステージの側面に沿うように配置された他の基板ステージ側長ミラーを備え、前記第1及び第2基板ステージの位置を測定する他の基板ステージ位置測定装置と、
を備えることを特徴とする露光装置。
(2) 前記マスクステージ位置測定装置及び前記基板ステージ位置測定装置はそれぞれ、前記マスクが前記マスクステージに保持されている間、前記マスクステージの絶対位置及び前記基板ステージの絶対位置を常時測定していることを特徴とする(1)に記載の露光装置。
(3) 前記マスクステージは、該マスクステージのフレームに対して位置調整可能に支持され、且つ前記マスクを保持するマスク保持部を有し、
前記マスク保持部の微動は、レーザーホロゲージによって位置が制御されることを特徴とする(1)又は(2)に記載の露光装置。
なお、第2基板ステージ12側に設けられた、基板ステージ位置測定装置64及びマスクステージ位置測定装置66も、同様の構成を有する。
11,12 基板ステージ
13 照射装置
61,62 基板ステージ測長ミラー
63,64,65 基板ステージ位置測定装置
66 マスクステージ位置測定装置
71A,71B マスクステージ測長ミラー
EP 露光位置
M マスク
PE 露光装置
W 基板
WP1,WP2 待機位置(ローディング位置)
Claims (3)
- マスクを保持するマスクステージと、
それぞれ被露光材としての基板を保持し、前記マスクに対向配置される露光位置と前記基板を載置するローディング位置との間で移動可能な第1及び第2基板ステージと、
前記基板に対してパターン露光用の光を前記マスクを介して照射する照射装置と、
前記第1及び第2基板ステージの移動方向と直交する方向の前記マスクステージの両側面に配置されるマスクステージ測長ミラーを備え、前記直交方向に離間した2箇所で、前記マスクステージの絶対位置を測定する一対のマスクステージ位置測定装置と、
前記直交方向の前記第1及び第2基板ステージの側面に沿うように配置された基板ステージ測長ミラーを備え、前記直交方向に離間した2箇所で、前記第1及び第2基板ステージの絶対位置を測定する一対の基板ステージ位置測定装置と、
前記移動方向の前記第1及び第2基板ステージの側面に沿うように配置された他の基板ステージ側長ミラーを備え、前記第1及び第2基板ステージの位置を測定する他の基板ステージ位置測定装置と、
を備えることを特徴とする露光装置。 - 前記マスクステージ位置測定装置及び前記基板ステージ位置測定装置はそれぞれ、前記マスクが前記マスクステージに保持されている間、前記マスクステージの絶対位置及び前記基板ステージの絶対位置を常時測定していることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記マスクステージは、該マスクステージのフレームに対して位置調整可能に支持され、且つ前記マスクを保持するマスク保持部を有し、
前記マスク保持部の微動は、レーザーホロゲージによって位置が制御されることを特徴とする請求項1又は2に記載の露光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010046227A JP5574291B2 (ja) | 2010-03-03 | 2010-03-03 | 露光装置 |
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JP2010046227A JP5574291B2 (ja) | 2010-03-03 | 2010-03-03 | 露光装置 |
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JP2011180480A JP2011180480A (ja) | 2011-09-15 |
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JP (1) | JP5574291B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6021854B2 (ja) * | 2014-05-08 | 2016-11-09 | 岩崎電気株式会社 | 光配向装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4264676B2 (ja) * | 1998-11-30 | 2009-05-20 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法 |
JPH11251231A (ja) * | 1998-03-02 | 1999-09-17 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP4522142B2 (ja) * | 2004-05-18 | 2010-08-11 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 露光装置、露光方法、及び基板製造方法 |
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JP2011180480A (ja) | 2011-09-15 |
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