JP5553620B2 - ナノ構造体におけるpnホモ接合の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は光電子工学の分野に関し、特に、半導体発光エミッタおよび受光器に関する。
半導体を基礎とする大部分の光電デバイスは、その活性部分に結合されたpn接合を有する。
これは、例えばLED(発光ダイオード)の場合がそうである。よって、n型およびp型である2つの半導体の接触部において、各型の電荷キャリアが活性領域内で結合し、光子が放射される。活性領域は、1つ以上の量子井戸で構成されることが多く、量子井戸は、高い発光効率をもたらし、かつその組成および厚さを制御することにより発光波長を調整できることを可能にする。
n型またはp型半導体は、固有ドーピング(Intrinsic Doping)によって、従来では化学量論的欠陥によって得られる場合がある。
また、n型およびp型半導体は、物質が成長する間、または成長後の何れかに拡散またはイオン注入等の技術によりマトリクス内へ導入される外因性ドーパント(Extrinsic Dopants)によって得られる場合もある。しかしながら、ヘテロ基板上での成長の間には、基板からの軽原子(Al基板の場合はアルミニウム原子)の拡散、延ては外因性ドーピングが存在し、しかもしばしば化学量論的欠陥(例えば、酸素欠損)、延ては固有ドーピングも存在することには留意されるべきである。
よって、pn接合を組み込むナノワイヤ型のナノ構造体について記載している文献WO2004/088755を引用することができる。同文献に記載されている実施形態のうちの1つでは、基板上にナノワイヤが形成され、次に、基板上に2層のポリマー物質が連続して蒸着される。第1のポリマー層は所定の濃度の第1のタイプのドーパント(例えば、ドナー)を有し、第2の層は第2のタイプのドーパント(アクセプタ)を含む。この構造体は、次に適切な熱処理を施され、ドーパントは2層の各々からナノワイヤの連続する2つの部分内へ拡散することができるようになる。これは、2つの部分間にpn接合を生成することを可能にする。
このように、上述の文献は、より正確に言えば第1のタイプの第1のドーピングおよび第2のタイプの第2のドーピングが実行されるいわゆる外因性ドーピング技術について記載している。
但し、本件出願の全体にわたって、マトリクスの「外因性ドーピング」が、成長の間に前記マトリクス内に導入される、または別の物質から到来する、前記マトリクスとは性質を異にするドーパントによって実行されるドーピングを意味することは理解されるべきである。
これらの半導体ドーピング技術には、ある種の欠点がある。
具体的に言えば、外因性ドーピングは、現時点で、例えばシリコン(Si)またはガリウム砒素(GaAs)等の一部の半導体では十分に理解されかつ制御されているが、窒化ガリウム(GaN)または酸化亜鉛(ZnO)等の他の半導体では事情が異なる。後者の場合、ドーピングは困難であるか、熱処理または他の複雑なプロセスを必要とすることがある。例えば、ZnOのp型ドーピングの技術はいまだ開発されていない。加えて、一部の半導体では、ドーピングは不安定であることがあり、不可能である場合すらある。
これらの欠点を軽減するために、単一のドーピング型を使用してナノ構造体内にpn接合を製造するためのプロセスが提案されている。
これらのプロセスは、金属層の外側への電荷移動を回避するために誘電層により包囲される金属層を有する構造体を基礎とし、ナノ構造体のpn接合は前記金属層をバイアスすることによって製造される。典型的には、このような構造体はゲートを伴って製造されることができるトランジスタ型であり、そのバイアスは前記ゲートの下のチャネルの導電型を修正し、よって、ゲートのバイアスに依存してオン状態またはオフ状態になる。
しかしながら、ナノワイヤの周囲に連続する少なくとも3つの層の蒸着を必要とする限り、この構造体は比較的複雑なものになる。さらに、このプロセスは、ナノ構造体内にpn接合を製造するように金属素子をバイアスするための手段を必要とする。
本発明の1つの目的は、既存のプロセスに比べて大幅に単純化されかつ既存のプロセスと同じ優位点を有する、ナノ構造体から所定の導電型の単一のドーピング型を有するpn接合を製造するためのプロセスを提供することにある。
本発明の別の目的は、前記第1のプロセスに従って製造される少なくとも1つのpn接合を有するナノ構造体を製造するためのプロセスを提供することにある。
本発明のさらなる別の目的は、前記第2のプロセスにより得られるナノ構造体から製造される半導体デバイスを提供することにある。
本発明は、ナノ構造体内にpn接合を製造する方法に関し、前記ナノ構造体は、1つの導電型を有する単一のドーピング型の半導体材料で製造される1つ以上のナノ成分を有する。本方法は、高さhに渡ってナノ構造体を埋め込む誘電素子を形成するステップを含むことを特徴とし、前記誘電素子は、こうして高さhに渡って埋め込まれるナノ成分の画定された幅Wに渡って導電型を反転することができる表面電位を生成する。
この方法は、個々に、または組み合わせて利用される下記の特徴のうちの少なくとも1つを含む。
−ナノ構造体を埋め込む誘電素子を形成する前記ステップは、前記ナノ構造体の異なる部分において数回繰り返される。
−こうして形成される誘電素子は、こうして埋め込まれるナノ構造体の部分毎に異なる幅のナノ成分に渡って導電型を反転することができる異なる表面電位を生成する。
−誘電素子を形成する前記ステップに先行して、ナノ構造体を埋め込む別の誘電素子が、こうして埋め込まれるナノ成分の導電型を反転することができない物質から形成される。
−前記高さhは、関係式 H−W≦h≦H を満たす。但し、Hはナノ構造体の高さであり、Wは画定された前記幅である。
−前記誘電素子を形成するために、こうして埋め込まれるナノ成分の横サイズの少なくとも半分に等しい幅に渡って導電型を反転する表面電位を生成する物質が、選択される。
−前記誘電素子を形成するために、こうして埋め込まれるナノ成分の横サイズの半分に厳密に満たない幅(W)に渡って導電型を反転する表面電位を発生する物質が、選択される。
−前記誘電素子は、少なくとも1つのナノワイヤ型ナノ成分を有するナノ構造体上に形成され、前記少なくとも1つのナノワイヤ型ナノ成分の横サイズはその高さ方向において異なり、よって、前記誘電素子は、ナノワイヤの第1の部分上に、ナノワイヤの横サイズの半分より厳密に小さい幅(W)に渡ってナノワイヤの導電型を反転する表面電位を発生し、かつナノワイヤの別の部分上に、ナノワイヤの横サイズの少なくとも半分に等しい幅に渡ってナノワイヤの導電型を反転する表面電位を生成する。
−前記ナノ構造体は、複数のナノ粒子型ナノ成分を有する。
−前記ナノ構造体は、1つ以上のナノワイヤ型ナノ成分を有する。
また本発明は、少なくとも1つのpn接合を有するナノ構造体を製造する方法にも関し、前記ナノ構造体は、単一の外因性ドーピング型の物質で製造される1つ以上のナノ成分を有する。本方法は、下記のステップをさらに含むことを特徴とする。
−高さhに渡ってナノ構造体を埋め込む誘電素子であって、こうして高さhに渡って埋め込まれる画定された幅Wのナノ成分に渡って導電型を反転することができる表面電位を生成する物質で製造される誘電素子を形成するステップ。
−前記ナノ構造体の両側面に、各々がナノ構造体の局所的導電型と一致する金属コンタクトを形成するステップ。
この方法は、少なくとも1つのナノワイヤ型ナノ成分を有するナノ構造体に関して、最大でもナノワイヤの高さHと、ナノワイヤを埋め込む誘電素子の高さhとの差に等しい高さを有する金属コンタクトのうちの1つを形成する、少なくとも1つのステップを含む。
また本発明は、前記ナノ構造体を製造するための本発明による前記方法により得られる少なくとも1つのナノ構造体を備えることを特徴とする半導体デバイスにも関する。
このデバイスは、下記の特徴のうちの少なくとも1つをさらに含んでもよい。
−前記ナノ構造体は、複数のナノ粒子型ナノ成分を有し、前記複数のナノ粒子は互いに接触している。
−画定された幅のナノ成分に渡って導電型を反転することができる前記誘電素子は、共役π電子および/またはハロゲン基のような求電子基を有するポリマーのような有機物質である。
−前記誘電素子は、ポリスチレンまたはその誘導体、ポリナフタレンまたはその誘導体、およびポリピレンまたはその誘導体から選択されるポリマーである。
−前記ナノ成分の画定された幅に渡って導電型を反転することができる前記誘電素子は、酸化物のような無機物質である。
添付の図面に関連して行う以下の説明を読めば、本発明はより良く理解され、かつその優位点および特徴はより明らかなものとなるであろう。
本発明による半導体デバイスの製造における様々なステップを示す図である。 本発明による様々なタイプの半導体デバイスを非限定的な例として示す図である。 本発明による様々なタイプの半導体デバイスを非限定的な例として示す図である。 本発明による様々なタイプの半導体デバイスを非限定的な例として示す図である。 本発明による様々なタイプの半導体デバイスを非限定的な例として示す図である。 本発明による様々なタイプの半導体デバイスを非限定的な例として示す図である。 本発明による様々なタイプの半導体デバイスを非限定的な例として示す図である。 表面電位Φを生成する埋込み物質の存在に起因してナノワイヤ内に引き起こされるエネルギーバンドの曲線を示す図である。
ナノ構造体は、概して、1つ以上のナノ成分を有する構造体として定義されてもよく、前記ナノ成分の、または各ナノ成分の少なくとも1つの次元の大きさはナノスケールサイズである。
しかしながら、本発明の文脈においては、1つのナノ構造体は1つ以上のナノ成分を有し、各ナノ成分は、
−2つの次元がナノスケールサイズ(この場合これはナノワイヤと称される)、または、
−3つの次元がナノスケールサイズ(この場合これはナノ粒子と称される)の何れかを有する。
図1は、例えば、単一のナノワイヤ型ナノ成分から形成されたナノ構造体を示している。このナノワイヤはシリンダ形状を有し、その直径Dは典型的には数十ナノメートルから数百ナノメートルまでであり、一方でその高さHは1ミクロン程度である。
図7は、幾つかのナノ粒子型ナノ成分から形成されたナノ構造体を示している。このタイプのナノ構造体が、必然的に複数のナノ粒子を含むことには留意するべきである。ナノ粒子は球に例えることができ、その典型的な直径は、数十ナノメートルから数百ナノメートルまでの範囲内である。
本発明は、単一のナノスケールサイズを有する構造体に対しては実施不可である。この限定については、本明細書において後により詳しく説明する。
図1に示す半導体デバイス10は、例えば基板2上で成長することにより達成されているナノワイヤ型のナノ構造体1を備える。例えば、前記ナノワイヤは、MOCVD(有機金属化学気相成長法)によって成長する。
基板2は、サファイア(Al)で製造されてもよい。また、基板2は、バルクAl基板上へ蒸着される、厚さが数十ナノメートルから数百ナノメートルまでの層、例えば酸化亜鉛(ZnO)の層を有してもよい。さらに基板2は、用途に依存して、導電性であってもよい。
概して、基板上での成長によるナノ構造体の形成については、従来技術に広範に記載されている。
具体的には、読者は、基板上での成長によるナノワイヤの形成について記載している先に述べた文献WO2004/088755を参照してもよい。また読者は、雑誌「Semiconductor Science and Technology」、第20巻、S22−S34ページ、2005年、に発表されているG.C.Yi、C.Wang、W.I.Park共著の論文も参照してもよい。
ナノ構造体1を成長させるステップの後、ナノ構造体1はn型(またはp型)の電荷キャリアでドープされる。
実際には、ナノ構造体は、概して成長中に(前駆体ガスへドーパントを添加することによって)ドープされるが、成長後にイオンの注入または拡散によってドープされてもよい。
上述のステップはそれ自体既知であり、その実施は、例えば、nドープナノワイヤの場合に図1(a)に示す構造体をもたらす。
実験の間、本件出願人は、図1(a)に示すようなナノワイヤを誘電素子で埋め込むことを提案している。
ナノワイヤ1は、ナノワイヤの高さHより低い高さhの誘電素子で埋め込まれた。
その結果、ナノワイヤ1の横方向の上面は埋め込まれず、これにより、特に、金属コンタクトをナノワイヤの上端上に続けて蒸着することが可能になる。
これらのステップの後に得られた構造体は、例えば図4に示されている。
シリンダ形状を有するナノワイヤ1は、いわば直径Dに例えることができる横方向サイズを有している。
ナノワイヤ1は酸化亜鉛(ZnO)で製造され、選択された誘電素子は、例えばハネウェル社のポリマー、Accuflo T−27であるノボラック樹脂タイプのポリマー3である。
誘電素子を形成するステップの後、本構造体は、原子顕微鏡法から派生する技術によって電気的に特徴づけられた。
次に、ポリマー3は、ナノワイヤの横方向サイズに沿ったナノワイヤ1の幅Wに渡って導電型の反転をもたらす表面電位Φ=1.9eVを発生することが観察された。より正確には、導電型の反転は、導電性がp型である約90nmの幅Wに渡って観察された。従って、pn接合はナノワイヤ1内に製造される。
さらに、異なる直径のナノワイヤを試験することにより、上述の実験条件下では反転幅Wが一定であること、即ち約90nmであることが観察された。
最後に、しきい値直径より小さいナノワイヤ直径に関しては、導電型の反転はナノワイヤの全直径に渡って発生し、前記しきい値直径は反転幅の約2倍、即ちこの場合は約180nmであることが観察された。
これらの実験結果を得るために使用した技術は、SCM(走査型静電容量顕微鏡法)およびSSRM(走査型拡がり抵抗顕微鏡法)であった。
このpn接合が、単にナノワイヤを埋め込む誘電素子の存在によって単層として極めて簡単に得られることには留意するべきである。pn接合を製造するのに金属層をバイアスする必要がない限り、得られるpn接合は永久接合と称されてもよい。
実験的に示した上述の原理は、ナノワイヤ内にpn接合を形成することができる任意タイプの埋込み物質に対して一般化されてもよい。
これを行うためには、様々なタイプの有機物質を使用することが考えられる。
例えば、芳香族であるか否かに関わらず、共役π電子系を有する、例えばポリスチレン(C芳香環)およびその誘導体、ポリナフタレン(C10芳香環)およびその誘導体、ポリピレン(C1610芳香環)およびその誘導体、および/または例えばハロゲン基のような求電子基を有するポリマーまたはコポリマーの使用が考えられる。これらの特に求電子物資は、例えば半導体表面の水素化によりナノ構造体内にp型反転を発生させることによく適している。
しかしながら、埋込み物質は、ポリマー物質に限定されない。
また、例えばSiOのような酸化物等の無機物質を考えてもよい。
要約すると、埋込み物質は、単にその存在によって適切な表面電位、即ち、ナノ構造体の画定された幅に渡って導電型を反転させることができる表面電位を発生する任意タイプの誘電物質にまで拡大されてもよい。
また、ZnOナノワイヤに関して実験的に示した上述の原理は、pn接合を形成することができる半導体材料を備える任意タイプの構造体に対して一般化されてもよい。
例えば、ナノワイヤ1は、窒化ガリウム(GaN)、窒化アルミニウム(AlN)、窒化インジウム(InN)、硫化カドミウム(CdS)、セレン化カドミウム(CdSe)、テルル化カドミウム(CdTe)、硫化亜鉛(ZnS)、セレン化亜鉛(ZnSe)、テルル化亜鉛(ZnTe)、二セレン化ガリウム銅(CuGaSe)、二硫化インジウム銅(CuInS)または二セレン化インジウム銅(CuInSe)で製造されてもよいが、この限りではない。

次に、図1を参照して、本発明に係る方法をより厳密に説明する。
本方法は、ナノ構造体内にpn接合を製造することを可能にし、かつ半導体デバイスを形成するためにpn接合を有するナノ構造体を製造することを可能にする。
該当する用途は、少なくとも1つのナノワイヤ1型ナノ成分を有するナノ構造体である。
先に述べたように、ナノワイヤ1は高さHを有し、これがシリンダ形状のものであれば、ナノワイヤ1の横方向サイズはその直径Dに一致する。
ナノワイヤが製造された後、ステップ(b)において高さhの誘電素子31が形成される。この誘電素子は、この高さhに渡ってナノワイヤ1を埋め込み、かつ、こうして埋め込まれるナノワイヤの導電型を反転させることができない表面電位Φs1を発生する物質で製造される。
第1の誘電素子31の高さは、例えば、ナノワイヤの高さの半分に相当してもよい。
ステップ(b)は、スピンコーティングによって実行されてもよい。
適切であれば、第1の誘電素子31の蒸着の高さhが正確に制御されるように、かつナノワイヤ1の非被覆面が清浄化されるようにエッチングサブステップを実行してもよい。
次に、ステップ(c)において、第1の誘電素子31は、高さhである第2の誘電素子32で被覆される。第2の誘電素子32は、ナノワイヤの横方向サイズ全体に渡って導電型を反転することができる表面電位Φs2を発生する物質で製造され、こうしてナノワイヤ1をこの高さhに渡って埋め込む。
第2の誘電素子32と第1の誘電素子31は、互いに直にコンタクトしている。これらの2つの誘電素子31、32間のコンタクト領域は、図1には符号33を付されている。
第2の誘電素子32は、シリンダ形のナノワイヤをその全周に渡って埋め込む。従って、最終的にナノワイヤの横方向サイズ全体に渡って導電型を反転させるためには、ナノワイヤ1の横方向サイズの半分で導電型を反転させることができる物質を有すれば足りることが理解されるであろう。
これは、ナノワイヤ1のその対称軸を中心とする回転対称性に起因する。
従って、横方向サイズの半分は、ナノワイヤ1の直径の半分(または半径)に一致する。
これは、上記ナノワイヤの横方向サイズに沿って測定される導電型が反転されているナノワイヤの幅Wが、最低でもナノワイヤ1の半径に一致することを意味する。
ナノワイヤ1を埋め込む誘電素子31、32の合計高さh=h+hは、ナノワイヤ1の高さHより低い。これは、金属コンタクト42が続いてナノワイヤ1上へ蒸着されることを可能にする。
これを行うために、例えばスピンコーティングによって実行されるステップ(c)に続いて、化学機械的研磨ステップが行われてもよい。
さらに、合計高さhは、金属コンタクトが反転領域に接触することなく、コンタクト端が優に反転レジーム内に存在するように量H−Wよりも大きい。
合計高さhにわたるこの状態は、ナノワイヤ内でのpn接合の生成を損なわない。
スピンコーティングは、ナノ構造体上へ誘電体をゾル−ゲル形式で投与するステップと、次にナノ構造体を回転して誘電体をナノ構造体上に、制御された高さに渡って拡散させるステップと、最後にアニール処理を行って溶剤を蒸発させ、固体誘電体を形成するステップを含む。ゾル−ゲルプロセスは溶解した分子前駆体の重合を基礎とし、ガラス状材料が融解作業を伴うことなく製造されることを可能にする。
化学機械的研磨は、誘電素子32の高さhが制御されることを可能にする。誘電素子32とナノワイヤ1とは同時に研磨されるが、その個々の硬度は異なることから、トポグラフィが異なる結果となることには留意するべきである。
最後に、ステップ(c)の後、pn接合はこうしてナノワイヤ1内に製造され、その界面(接合面とも呼ばれる)はナノワイヤ1の軸に垂直に存在する。即ち、pn接合は、軸方向のpn接合と呼ばれる。
軸方向のpn接合は、ナノワイヤ1における導電型の反転を永久的に誘導する誘電素子32が単にナノワイヤ1の周りに存在することによって製造される。
最後に、ナノワイヤの何れの端面にも金属コンタクト41、42を蒸着するステップ(d)が実行され、これらの2つのコンタクトの各々はナノワイヤの局所的導電型、即ちp型またはn型に整合される。
従って、ステップ(d)の後は、pn接合を含むナノワイヤ1型のナノ構造体を有する半導体デバイスが製造されている。
ステップ(b)は、単に製造されるべきpn接合の周りに電気絶縁を付加する働きをするが、このステップは、pn接合の形成自体にとって不可欠なものではない。
さらに、想定されるナノ構造体に依存して、ステップ(b)を省略することも考えられる。
図2は、例えば、ステップ(b)を不要とするナノ構造体を示す。
この適用は、横方向サイズが異なる2つの異なる部分11、12を有するナノワイヤである。
ナノワイヤ1の高さを、Hで示す。上記ナノワイヤ1の2つの部分11、12はシリンダ形であり、共通の対称軸を有する。
従って、第1の部分11の横方向サイズは、Dで示される直径に例えられてもよい。その結果、第1の部分11の横方向サイズの半分は、この部分11の半径に一致する。
また、第2の部分12の横方向サイズも、Dで示される直径に例えられてもよい。その結果、第2の部分12の横方向サイズの半分は、この部分12の半径に一致する。
従って、図2のナノワイヤ内にpn接合を製造するために、ステップ(c)が実行される。
よって、より正確に言えば、ステップ(c)は、高さhであってこの高さhに渡ってナノワイヤ1を埋め込む誘電素子3を形成するステップとなる。前記誘電素子3は、
−ナノワイヤ1の第1の部分11の横方向サイズの半分より厳密に小さい幅(W)(即ち、W<D/2)に渡って導電型を反転することと、
−ナノワイヤ1の第2の部分12の横方向サイズの少なくとも半分(即ち、W>D/2)に渡って導電型を反転すること、
の双方を行い得る表面電位Φを生成する物質で製造される。
当然のことながら、この結果は、誘電素子3および/またはナノワイヤ1の2つの部分11、12の横方向サイズD、Dを慎重に選ぶことによって達成されることができる。
例えば、酸化亜鉛(ZnO)で製造されるナノワイヤの場合、例えばハネウェル社のポリマー、Accuflo T−27であるノボラック樹脂型のポリマーを誘電材料3として選択し、さらにD=50nmおよびD=150nmを選択することが可能である。
誘電素子の高さhは、コンタクトを受け入れるべく意図される端が完全に反転レジーム内にあるように、量H−Wより大きいものである。
この場合もやはり、例えばスピンコーティングによって実行されるステップ(c)に続いて、誘電素子3の高さhがナノワイヤ1の高さHより低いことを保証するために、化学機械的研磨ステップを実行してもよい。
これで、反転領域内に金属コンタクトを蒸着することができる。
最後に、図1(d)に提示したものに類似する方法で金属コンタクトを蒸着するステップ(d)を実行することによって、pn接合を有するナノワイヤと連結された半導体デバイスが得られる。
接合界面の一部がナノワイヤ1の軸に対して垂直に延びている限り、得られるpn接合は軸方向である。また、接合界面の別の部分がナノワイヤ1の軸に対して平行に延びている限り、得られるpn接合は半径方向である。得られるpn接合は軸方向および半径方向の双方であることから、これは、ハイブリッド接合または混合pn接合と称される。
このタイプのpn接合は、p型部分における電子の電気注入及び伝達を改善して、この部分におけるより低い密度の電荷キャリア、即ち正孔を補償することを可能にする。
このように、混合pn接合は、単にナノワイヤ1の周りに誘電素子3が存在することによって製造され、この誘電素子3は、単にその存在によってナノワイヤ1内に導電型の永久反転を誘発する。
図3は、本発明の別の実施形態を示す。
また、図3の発明は、円錐形状のナノワイヤ1にも関する。
従って、ナノワイヤ1は、その横方向サイズDがナノワイヤ1の高さに渡って連続してなめらかに続くような形状を有する。
従って、図2に示すナノワイヤとは違って、図3に示すナノワイヤ1は、各々が一定の横方向サイズD、Dを有する2つの異なる部分を持たない。
このナノワイヤは円錐形状であることから、円錐の対称軸に対して垂直である平面内の断面は円形状を有する。
従って、zがナノワイヤ1の対称軸に沿った軸方向の1点を表すものとすれば、この軸方向の1点におけるこのような平面断面において求められるナノワイヤ1の横方向サイズは、D=D(z)で定義される。但し、0≦z≦Hである。従って、この横方向サイズがナノワイヤ1の対称軸に対して垂直である軸に沿って求められることは理解されるであろう。
従って、軸方向の1点zにおけるナノワイヤ1の横方向サイズの半分は、この軸方向の点におけるナノワイヤ1の半径に一致する。
図3に示すナノ構造体を製造するためのステップは、図2に示すナノ構造体のそれに類似する。
従って、図3のナノワイヤ1内にpn接合を製造するために、ステップ(c)が実行される。
より正確に言えば、この場合、ステップ(c)は、高さhであってこの高さhに渡ってナノワイヤ1を埋め込む誘電素子3を形成するステップを含み、前記誘電素子3は、
−ナノワイヤ1の第1の部分では横方向サイズの半分より厳密に小さい幅(W)に渡って導電型を反転することと、
−ナノワイヤ1の第2の部分では横方向サイズ全体に渡って導電型を反転すること、
の双方を行い得る表面電位Φを発生する物質で製造される。
従って、2つの部分11、12は明確に区別されてもよく、一方(部分11)は2つの導電型、pおよびnを有し、もう一方(部分12)は1つの導電型、この場合はp型のみを有する。
誘電素子3の高さhは、ナノワイヤ1の高さHより低い。また高さhは、量H−Wより大きい。
円錐形状は、ナノワイヤ1の一方の端に小さい横方向サイズが存在すること、かつその結果として、埋込み物質3の性質に関わらず、単一の導電型の部分(部分12)が存在することを保証する。
また、化学機械的研磨ステップも実行されてもよい。
最後に、pn接合を有するナノワイヤ1を伴って製造される半導体デバイスは、図1および図2に示す実施形態のそれに類似する、金属コンタクトを蒸着するステップ(d)を実行することによって得られる。
こうして製造されるpn接合は、例えばLED製造の場合に、光の取出しを向上させることに特に効果的である。
この場合もやはり、pn接合は単にナノワイヤ1の周りに誘電物質3が存在することによって製造され、この誘電物質3は、単にその存在によってナノワイヤ1内に導電型の永久反転を誘発する。
図4は、同じく、図1のステップ(b)が不要な実施形態を示す。
この適用はシリンダ形のナノワイヤ1であり、よって、その全高さに渡って一定である横方向サイズを有する。
従って、この横方向サイズは、ナノワイヤ1によって形成されるシリンダの直径Dに一致する。
従って、横方向サイズの半分は、ナノワイヤ1の半径に一致する。
ステップ(c)の実施は、ナノワイヤ1内に、図2に示すナノワイヤ1の第1の部分11のそれに類似するpn接合をもたらす。
より正確に言えば、ステップ(c)は、この場合、前記ナノワイヤの全高さに渡ってナノワイヤ1の横方向サイズの半分より厳密に少ない幅(W)(即ち、W<D/2)に渡り導電型を反転することを含む。
この場合もやはり、例えばスピンコーティングによって実施されるステップ(c)に続いて、誘電素子3の高さhがナノワイヤ1の高さHより低いことを保証するために、化学機械的研磨ステップを実施してもよい。さらに、この場合もやはり、前記高さhは量H−Wより大きい。
最後に、pn接合を有するナノワイヤを伴う半導体デバイスを製造するために、ステップ(d)が実施される。
p型領域とn型領域との間の界面がナノワイヤの対称軸に対して平行に延びていれば、このpn接合は半径方向接合と称されてもよい。
このナノ構造体により、特に、各型の電荷キャリアが再結合する面積を増大して2つの領域、即ちp型領域およびn型領域間の界面が比較的大きくなることと、結果的に、ナノ構造体の量子効率が上がり光子放出が大きくなることが可能になる。
しかしながら、このステップ(d)において蒸着される金属コンタクトは、図1から図3に示すpn接合用に意図されたものとは異なる。
その理由は、pn接合のp型領域用に(または、n型領域用に各々)意図される金属コンタクト42が、ナノワイヤ1のpn接合のn型領域と(または、p型領域と各々)接触しないように環状の薄いものでなければならないことにある。
従って、その形状およびその高さは正確に制御されなければならない。
さらに、化学機械的研磨ステップを実行してステップ(d)をより容易にすることが好適である。
その理由は、コンタクトが蒸着される表面は可能な限り一様である必要があることにあり、そうでなければ、金属コンタクトを形成するための十分に制御された高さの薄膜の蒸着が望ましい結果をもたらさないように思われる。
この半径方向のpn接合は、単にナノワイヤ1の周りに誘電物質3が存在することによって製造され、この誘電物質3は、単にその存在によってナノワイヤ1内に導電型の永久反転を誘発する。
図5は、図4に示すものに類似する本発明の一実施形態を示す。
この適用は、高さの関数として連続して変わる横方向サイズDを有する、軸対称形状のナノワイヤ1である。
しかしながら、図3に示す実施形態とは違って、その形状は円錐ではない。
実際に、ZnOナノワイヤの場合、Z.L.WangによりMaterials Today、2004年6月26日、において説明されているように、ナノワイヤが成長する間に成長パラメータを変更することによって、広範な形状が得られる。
zがナノワイヤ1の対称軸に沿った軸方向の1点を表すものとすれば、この軸方向の点zにおけるナノワイヤ1の横方向サイズは、この軸方向の点におけるナノワイヤの直径のように、この対称軸に対して垂直な平面において画定される。
従って、横方向サイズはD=D(z)、0≦z≦Hとして書き表される。従って、軸方向の点zにおけるナノワイヤ1の横方向サイズの半分は、この軸方向の点におけるナノワイヤ1の半径に一致する。
この実施形態では、図4に示す実施形態のステップ(c)および(d)が繰り返される。
しかしながら、この場合、ステップ(c)は次々とn回繰り返され、n個の誘電素子31、32、...、3nが各々ナノワイヤ1をその異なる部分に渡って埋め込み、各々互いに異なる表面電位Φs1、Φs2、…、Φsnが生成される。
よって、ステップ(c)は、下記のサブステップを実施することを含む。
−サブステップ(c)の間、ナノワイヤを第1の高さhに渡って埋め込む、ナノワイヤの横方向サイズに沿って画定される第1の幅Wに渡ってナノワイヤの導電型を反転することができる表面電位Φs1を生成する物質で製造される第1の誘電素子31が形成される。
−サブステップ(c)の間、ナノワイヤ1の第1の誘電素子31により埋め込まれた部分とは異なる部分をナノワイヤの高さhに渡って埋め込む、こうして埋め込まれたナノワイヤの導電型をナノワイヤの横方向サイズに沿って画定される第2の幅Wに渡って反転することができる表面電位Φs2を生成する物質で製造される第2の誘電素子32が形成される。
−等々。
−サブステップ(c)の間、ナノワイヤ1のn番目の部分をナノワイヤの高さhに渡って埋め込む、こうして埋め込まれたナノワイヤの導電型を前記ナノワイヤの横方向サイズに沿って画定されるn番目の幅Wに渡って反転することができる表面電位Φsnを生成する物質で製造されるn番目の誘電素子3nが形成される。
サブステップ(c)の後、かつステップ(d)より前に、埋込み物質3n上で化学機械的研磨ステップを実行してもよい。
n個の埋込み物質31、32、…、3nの合計高さh=h1+h+…+hは、ナノワイヤの高さHより低いが、量H−Wより大きい。但し、Wは、続いて金属コンタクトを蒸着する目的で反転幅Wを表す。
最後に、pn接合を有するナノワイヤを伴う半導体デバイスを製造するために、ステップ(d)は、図4に示す半導体デバイスをもたらすステップに類似している。
p型領域とn型領域との間の界面がナノワイヤの対称軸に平行して存在すれば、このpn接合は半径方向接合と称されてもよい。
図5に示すナノ構造体は、ナノ構造体における電気注入/伝達特性および光学特性を調整して量子効率(光子放出)および光子取出しを向上させることを可能にする。
さらに、用途によっては、ブラッグミラーを製造するためのステップが、好適にはステップ(a)の間に設けられてもよい。
この場合もやはり、pn接合は、単にナノワイヤ1の周りに誘電物質3が存在することによって製造され、この誘電物質3は、単にその存在によってナノワイヤ1内に導電型の永久反転を誘発する。
図6は、同じく図4に示すものに類似する、本発明の一実施形態を示す。
この提供は、直径Dに例えられるべき横方向サイズを有する、シリンダ形状のナノワイヤ1である。
この実施形態では、図4に示す実施形態のステップ(c)および(d)が繰り返される。
しかしながら、この場合、ステップ(c)は次々と3回繰り返され、3個の誘電素子31、32、33が各々ナノワイヤ1をその異なる部分に渡って埋め込み、各々互いに異なる表面電位Φs1、Φs2、Φs3を生成する。
よって、ステップ(c)は、下記のサブステップを実施することを含む。
−サブステップ(c)の間、ナノワイヤを第1の高さhに渡って埋め込む、かつナノワイヤの導電型を反転することができない物質で製造される第1の誘電素子31が形成される。
−サブステップ(c)の間、ナノワイヤ1の第1の誘電素子31により埋め込まれた部分とは異なる部分をナノワイヤの高さhに渡って埋め込む、こうして埋め込まれたナノワイヤの導電型をナノワイヤの横方向サイズに沿って画定される幅Wに渡って反転することができる表面電位Φs2を生成する物質で製造される第2の誘電素子32が形成される。
−サブステップ(c)の間、ナノワイヤの第3の部分をナノワイヤの高さhに渡って埋め込む、こうして埋め込まれたナノワイヤの導電型をナノワイヤの横方向サイズ全体に渡って反転することができる表面電位Φs3を生成する物質で製造される第3の誘電素子33が形成される。
サブステップ(c)の後、かつステップ(d)より前に、埋込み物質33上で化学機械的研磨ステップを実施してもよい。
3つの埋込み物質31、32、33の合計高さh=h+h+hは、ナノワイヤの高さHより低いが、量H−Wより大きい。但し、Wは反転幅Wを表す。
最後に、pn接合を有するナノワイヤを伴う半導体デバイスを製造するために、ステップ(d)は、図4に示す半導体デバイスをもたらすステップに類似している。
図6に示すナノ構造体により、電荷キャリアの各々n型領域およびp型領域への良好な注入が可能になり、かつpn界面により画定される大きい再結合領域が得られる。
この場合もやはり、pn接合は、単にナノワイヤ1の周りに誘電物質32、33が存在することによって製造され、これらの誘電物質32、33は、単にその存在によってナノワイヤ1内に導電型の永久反転を誘発する。
これまでに説明した全ての実施形態では、1つのナノワイヤ型ナノ成分を有するナノ構造体が示されている。
当業者は、単一のナノワイヤを製造するために実施されるこれらのステップを、互いにベースが並列する複数のナノワイヤを備えるナノ構造体を製造するために実施してもよいことを理解するであろう。
この場合、この複数のナノワイヤには、ステップ(c)、(d)および任意選択としてステップ(b)が同時に適用される。
図7は、ナノ構造体がナノワイヤ型ナノ成分を1つも持たず、複数のナノ粒子型ナノ成分を有する、本発明の別の実施形態を示す。
各ナノ粒子は、直径Dの球に例えられてもよい。従って、1つのナノ粒子の横方向サイズは、その直径Dによって画定されてもよい。その結果、このナノ粒子の横方向サイズの半分は、ナノ粒子の半径に例えられてもよい。
より正確に言えば、このナノ構造体は、量子閉じ込め特性を有する複数のナノ粒子型成分から形成される。
「量子閉じ込め」という用語は、電子または正孔の移動が少なくとも一方向に限定されることを意味するものとして理解される。この特性は、ボーア半径と比較すると、ナノ粒子のサイズと関連する。
ナノ粒子は互いに接触し合っていて、電気コンタクトを保証する。
ナノ粒子は全体で、Hで示される高さのナノ構造体を画定する。
これらのナノ粒子は、様々なプロセスによって形成されてもよい。具体的には、PLD(パルスレーザ蒸着法)プロセス、レーザ熱分解プロセスまたは化学的方法から導出されるプロセスを使用することが考えられる(M.L.Kahnら、Adv.Func.Mater.2005、15、458参照)。
このようなナノ構造体内にpn接合を製造するためのプロセス、およびこのナノ構造体に関連づけられる半導体デバイスを製造するためのプロセスは、図1に示すステップ(b)、(c)および(d)を繰り返す。
より正確に言えば、ステップ(b)の間に、ナノ構造体の高さhの第1の部分に渡って複数のナノ粒子を埋め込む、この第1の部分内に存在するナノ粒子の導電型を反転することができない表面電位Φs1を生成する物質で製造される高さhの第1の誘電素子31が形成される。
次に、ステップ(c)の間に、第1の誘電素子31は高さhの第2の誘電素子32によって被覆される。第2の部分内に存在するナノ粒子の横方向サイズ全体に渡って導電型を反転することができる表面電位Φs2を生成する物質で製造される第2の誘電素子32は、こうしてナノ構造体の第2の部分をこの高さhに渡って埋め込む。
ナノワイヤ2における導電型の反転は永久的であり、単にナノ粒子を埋め込む誘電素子の存在によって得られる。
ナノ構造体の2つの部分は、コンタクト平面33において互いに直にコンタクトしている。
誘電素子31、32の合計高さh=h+hは、金属接点を蒸着する目的で、ナノ構造体の高さHより低いが、量H−Wより大きい。従って、所定のナノ粒子は、部分的に、誘電素子31、32によって埋め込まれるナノ構造体部分を超えて広がる。これにより、少なくとも1つの金属コンタクト42を続いてナノ構造体上に蒸着することが可能になる。
従って、電気的導通を保証するためには、下記の間にコンタクトが存在すれば足りる。
−p型コンタクト42、
−幾つかのp型ナノ粒子、
−幾つかのn型ナノ粒子、および、
−n型コンタクト41。
ステップ(c)は、例えば、スピンコーティングによって実施してもよく、かつ続いて化学機械的研磨ステップを行ってもよい。
従って、このステップ(c)の後は、ナノ構造体内にpn接合が製造されている。
最後に、図2に示すものに類似するステップ(d)を実施して半導体デバイスを製造する。
既に述べたように、提示したプロセスは、1つのナノスケールサイズを有する構造体に実施することはできない。
言い替えれば、これらのプロセスは、少なくとも2つのナノスケールサイズを有する、1つ以上のナノ成分を有するナノ構造体にのみ適用してもよい。
この状態をよりよく理解するために、図8は、表面電位Φが印加されるナノワイヤ1の横方向サイズ(直径D)に沿った電位21の変動を与える理論計算を示している。
ナノワイヤ1内の電位は、ナノワイヤの幅Wに渡って極めてゆっくりと低下し、この幅は、ナノワイヤの横方向に沿って画定される(W<D)。この幅Wは、導電型の反転が観察されるナノワイヤの幅に一致する。
この図8では、平面構造体の同じく横方向サイズに沿った電位22の変動が追加されていて、この構造体には、表面電位Φも印加される。このタイプの構造体は、1つのナノスケールサイズのみを有する。
この場合、電位は、平面構造体の内部に侵入した時点で急速に低下することが図面より分かる。従って、導電型の反転が観察される幅は極めて小さく、この幅は、平面構造体の横方向サイズの方向によって画定される。
より正確に言えば、ほかの条件がすべて同じ場合、導電型が反転される幅はナノワイヤの方が平面構造体よりも8倍から10倍大きい。
この原因で、平面構造体上での本発明による導電型の反転は、導電型の反転幅が小さすぎてその構造体内でのpn接合の製造を許容できなくなるため、容易に想像することはできなかった。
対照的に、本発明の文脈において考察されるナノ構造体は、このような接合が製造されることを可能にする。加えて、適切な埋め込み用誘電体の選定、および/または、実施形態に依存して、ナノ成分の適切な横方向サイズの選定により、導電型を反転することが望まれるナノ成分の幅を決定することが可能になる。
本発明の適用条件を定義する別の方法は、本発明が、表面/容積比が高い1つ以上のナノ成分を有するナノ構造体に対してのみ実施され得る点を明示することである。
指標とするために、表面/容積比は、これがしきい値10−1を超えるときは高いものと考えてもよい。
平面構造体の場合、表面/容積比が低いと言ってもよいことは理解されるであろう。
以上、本発明の幾つかの実施形態を提示し、その全てについて、ナノ構造体の高さ、ナノ成分の横方向サイズおよびこのナノ成分の導電型が反転されている反転幅を定義した。
全ての事例において、反転幅Wは、考慮中のナノ成分の横方向サイズに沿って延びるサイズである。

Claims (15)

  1. ナノ構造体(1)内にpn接合を製造する方法であって、
    前記ナノ構造体(1)が、少なくとも2つの次元がナノスケールサイズを有しかつ1つの導電型を有してドーピング型が単一である半導体物質で製造される1つ以上のナノ成分を有し、
    前記方法が、前記ナノ構造体(1)を埋め込む誘電素子(3、32、...、3n)を形成する複数回のステップを含み、
    こうして形成される前記誘電素子が、こうして埋め込まれる前記ナノ成分の前記ナノ構造体の部分毎に異なる幅に渡って導電型をそれぞれ反転することができる表面電位を生成する
    ことを特徴とするナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  2. 前記誘電素子を形成する前記ステップに先行して、こうして埋め込まれる前記ナノ構造体の導電型を反転させることができない物質から前記ナノ構造体(1)を埋め込む別の誘電素子(31)が形成される
    請求項に記載のナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  3. 前記誘電素子を形成するために、こうして埋め込まれる前記ナノ成分の横方向サイズの半分に少なくとも等しい幅に渡って導電型を反転する表面電位を生成する物質が、選択される
    請求項1又は請求項2に記載のナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  4. 前記誘電素子を形成するために、こうして埋め込まれる前記ナノ成分の横方向サイズの半分より厳密に小さい幅(W)に渡って導電型を反転する表面電位を生成する物質が選択される、請求項1又は請求項2に記載のナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  5. 前記誘電素子(3)が、少なくとも1つのナノワイヤ型ナノ成分(1)を有するナノ構造体上に形成され、
    少なくとも1つの前記ナノワイヤ型ナノ成分(1)の横方向サイズが、該ナノ成分の高さ方向においては異なり、よって、
    前記誘電素子(3)が、前記ナノワイヤ(1)の第1の部分(11)上に、前記ナノワイヤの横方向サイズの半分より厳密に小さい幅(W)に渡って前記ナノワイヤの導電型を反転させる表面電位を発生し、かつ前記ナノワイヤの別の部分(12)上に、前記ナノワイヤの横方向サイズの半分に少なくとも等しい幅に渡って前記ナノワイヤ(1)の導電型を反転させる表面電位を生成する、
    請求項1又は請求項2に記載のナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  6. 前記ナノ構造体が、複数のナノ粒子型ナノ成分を有する、
    請求項1〜の何れか一項に記載のナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  7. 前記ナノ構造体が、1つ以上のナノワイヤ型ナノ成分を有する、
    請求項1〜の何れか一項に記載のナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  8. 少なくとも1つのpn接合有するナノ構造体を製造する方法であって、
    前記ナノ構造体(1)が、少なくとも2つの次元がナノスケールサイズを有しかつ単一の外因性ドーピング型の物質で製造される1つ以上のナノ成分を有し、
    前記方法が、
    前記ナノ構造体の異なる部分において、前記ナノ構造体(1)を埋め込む誘電素子(3、32、...、3n)を形成する複数回のステップと、
    前記ナノ構造体(1)の両側面に各々が前記ナノ構造体の局所的導電型と一致する金属コンタクト(41、42)を形成するステップと、を含み、
    こうして形成される前記誘電素子が、こうして埋め込まれるナノ成分の前記ナノ構造体の部分毎に異なる幅に渡って導電型をそれぞれ反転することができる異なる表面電位を生成する
    ことを特徴とする少なくとも1つのpn接合を有するナノ構造体を製造する方法。
  9. 少なくとも1つのナノワイヤ型ナノ成分を有するナノ構造体に関して、
    前記金属コンタクトのうちの1つを、最大でも前記ナノワイヤの高さHと前記ナノワイヤを埋め込む誘電素子の高さhとの差に等しい高さで形成するステップをさらに含む
    請求項に記載の少なくとも1つのpn接合を有するナノ構造体を製造する方法。
  10. ナノ構造体(1)内にpn接合を製造する方法であって、
    前記ナノ構造体(1)が、少なくとも2つの次元がナノスケールサイズを有しかつ1つの導電型を有してドーピング型が単一である半導体物質で製造される1つ以上のナノ成分を有し、
    前記方法が、前記ナノ構造体(1)を高さhに渡って埋め込む誘電素子(3、32、...、3n)を形成するステップを含み、
    前記誘電素子が、こうして高さhに渡って埋め込まれる前記ナノ成分の画定された幅Wに渡って導電型を反転することができる表面電位を生成し、
    前記誘電素子(3)が、少なくとも1つのナノワイヤ型ナノ成分(1)を有するナノ構造体上に形成され、
    少なくとも1つの前記ナノワイヤ型ナノ成分(1)の横方向サイズが、該ナノ成分の高さ方向においては異なり、よって、
    前記誘電素子(3)が、前記ナノワイヤ(1)の第1の部分(11)上に、前記ナノワイヤの横方向サイズの半分より厳密に小さい幅(W)に渡って前記ナノワイヤの導電型を反転させる表面電位を発生し、かつ前記ナノワイヤの別の部分(12)上に、前記ナノワイヤの横方向サイズの半分に少なくとも等しい幅に渡って前記ナノワイヤ(1)の導電型を反転させる表面電位を生成する、
    ことを特徴とするナノ構造体内にpn接合を製造する方法。
  11. 少なくとも2つの次元がナノスケールサイズを有しかつ単一の外因性ドーピング型の物質で製造される1つ以上のナノ成分を有し、少なくとも1つのpn接合を有する少なくとも1つのナノ構造体を備える半導体デバイスであって、
    前記デバイスが、
    前記ナノ構造体の異なる部分において、前記ナノ構造体(1)を埋め込む誘電素子(3、32,...、3n)であって、こうして埋め込まれる前記ナノ構造体の部分毎に異なる幅に渡って導電型をそれぞれ反転することができる表面電位を発生する物質で製造される誘電素子(3、32,...、3n)と、
    各々が前記ナノ構造体の局所的導電型と一致する、前記ナノ構造体(1)の両側面の金属コンタクト(41、42)と、を含む
    ことを特徴とする半導体デバイス。
  12. 前記ナノ構造体が、互いに接触している複数のナノ粒子型ナノ成分を有する
    請求項11に記載の半導体デバイス。
  13. 前記ナノ成分の画定された幅に渡って導電型を反転することができる前記誘電素子が、共役π電子および/またはハロゲン基のような求電子基を有するポリマーのような有機物質である
    請求項11または請求項12に記載の半導体デバイス。
  14. 前記誘電素子が、ポリスチレンまたはその誘導体、ポリナフタレンまたはその誘導体、およびポリピレンまたはその誘導体から選択されるポリマーである
    請求項13に記載の半導体デバイス。
  15. 前記ナノ成分の画定された幅に渡って導電型を反転することができる前記誘電素子が、酸化物のような無機物質である、
    請求項11または請求項12に記載の半導体デバイス。
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