JP5518348B2 - 接続接点を介するデータのシリアル送信のための回路配置、装置およびプロセス - Google Patents
接続接点を介するデータのシリアル送信のための回路配置、装置およびプロセス Download PDFInfo
- Publication number
- JP5518348B2 JP5518348B2 JP2009046537A JP2009046537A JP5518348B2 JP 5518348 B2 JP5518348 B2 JP 5518348B2 JP 2009046537 A JP2009046537 A JP 2009046537A JP 2009046537 A JP2009046537 A JP 2009046537A JP 5518348 B2 JP5518348 B2 JP 5518348B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage state
- circuit arrangement
- voltage
- data
- cycle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims description 20
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 31
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 238000011161 development Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 101100424823 Arabidopsis thaliana TDT gene Proteins 0.000 description 10
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 8
- 230000006854 communication Effects 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 230000007175 bidirectional communication Effects 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 1
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000012073 inactive phase Substances 0.000 description 1
- 230000009349 indirect transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 1
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000011664 signaling Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31712—Input or output aspects
- G01R31/31713—Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31725—Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
- G01R31/31726—Synchronization, e.g. of test, clock or strobe signals; Signals in different clock domains; Generation of Vernier signals; Comparison and adjustment of the signals
Description
Claims (17)
- 外部コンポーネントおよび装置(C)とのデータおよび/または信号のシリアル交換のための接続接点(S0、SDAT)と、
少なくとも1個の低電圧状態(Vl)、1個の中間電圧状態(Vm)、および、1個の高電圧状態(Vh)の間で変調される接続接点(SDAT)上の信号電圧(v)を用いてデータ(jd)をサイクル(T)クロック制御受信する制御装置(JC)および/またはシリアルインターフェース(JD)と、
を備える集積回路配置(J)であって、
前記制御装置(JC)および/または前記インターフェース(JD)が、データ(jo)がスイッチング装置(Ts、Tw、Rw)内でこの接続接点(SDAT)を介して送信モードで送信され、ある電圧状態(Vm)から別の電圧状態(Vh)に変化する勾配(f1)を受信した後に、前記サイクル(T)の半分のクロックサイクルの時間的な終了前にこの別の電圧状態をこの別の電圧状態(Vh)からみて異なる前記電圧状態(Vl)に引き込むように設計および/または制御されているスイッチング装置(Ts、Tw、Rw)を備えることを特徴とする、集積回路配置。 - 前記制御装置(JC)および/または前記インターフェース(JD)が、データ(jo)が前記スイッチング装置(Ts、Tw、Rw)内でこの接続接点(SDAT)を介して前記送信モードで送信され、前記中間電圧状態(Vm)から前記高電圧状態(Vh)または前記低電圧状態(Vl)に変化する勾配(f1)を受信した後に、前記サイクル(T)の半分のクロックサイクルの時間的な終了前に前記電圧状態を(前記中間電圧状態からみて)反対側にある前記低電圧状態(Vl)または前記高電圧状態(Vh)に引き込むように設計および/または制御されている、請求項1に記載の回路配置。
- 前記信号電圧(v)上に変調されたデータ(csd)、前記回路配置の内部にあるデータ(jd)、ならびに、同様に前記回路配置の内部にあるサイクル(T*)として前記信号電圧(v)上に変調されたサイクル(T)を抽出するため設計および/または制御されている比較器回路(K)が設けられている、請求項1または2に記載の回路配置。
- 前記装置(C)から送信されたデータまたは電圧状態を用いてサイクルの数をカウントするカウンタを備え、かつ、固定されているか、または、固定されるように設定可能である前記カウンタの計数値に達したときに、前記データ(jo)を前記装置(C)へ送信するコンポーネントを備える送信制御部(JC)が前記回路配置側に設けられている、請求項3に記載の回路配置。
- 前記信号電圧を別の信号電圧に、特に、反対側の電圧状態(Vl)に弱く引き込むトランジスタ配置(Tw、Rw)と、前記信号電圧を別の信号電圧に、特に、反対側の電圧状態(Vl)に強く引き込むトランジスタ配置(Ts)とを備える、請求項4に記載の回路配置。
- 内部サイクル(T*)として前記信号電圧を用いて供給された前記サイクル(T)を前記回路配置のコンポーネントに印加するテスト動作モードのため設計および/または制御されている、請求項5に記載の回路配置。
- テスト動作モード、および/または、前記回路配置の開発、および/または、前記回路配置のソフトウェアの開発、および/または、バンドエンドプログラミング、および/または、前記回路配置によって実現されるアプリケーションにおけるエラー検索において、前記信号電圧(v)を解析する比較器回路(K)および/またはテストインターフェース(TIF)を作動させるスイッチング装置(SW)を備える、請求項6に記載の回路配置。
- 前記接続接点(SDAT)を介して前記送信モード中に送信されるべき前記データ(jo)として、前記回路配置、および/または、前記回路配置の後に続く配置によって利用可能にされたデータ、さらに測定データまたはセンサデータを出力するため設計および/または制御されている、請求項7に記載の回路配置。
- 集積回路配置(C)、特に、請求項8に記載の回路配置とのシリアルデータおよび/または信号交換のための接続接点(S0、SDAT)と、
このような接続接点(SDAT)上での少なくとも1個の低電圧状態(Vl)、1個の中間電圧状態(Vm)、および、1個の高電圧状態(Vh)の間の信号電圧(v)の変調によるサイクル(T)によってクロック制御されたデータを送信する制御装置(CC)および/またはシリアルインターフェース(CD)と、
を備える装置(C)であって、
前記インターフェース(CD)が、受信モードにおいてある電圧状態(Vm)から別の電圧状態(Vh)に変化し、少なくとも前記サイクル(T)の半分のクロックサイクルの時間的な終了前に前記回路配置(J)によってこの別の電圧状態がこの別の電圧状態(Vh)からみて異なる前記電圧状態(Vl)に引き込まれると、前記回路配置(J)からのデータ(jo)の受信を検出するように設計および/または制御されていることを特徴とする、装置(C)。 - 前記インターフェース(CD)が、受信モードにおいて前記中間電圧状態(Vm)から前記高電圧状態(Vh)または前記低電圧状態(Vl)に変化し、少なくとも前記サイクル(T)の半分のクロックサイクルの時間的な終了前に前記回路配置(J)によって前記電圧状態が前記中間電圧状態(Vm)からみて反対側にある低電圧状態(Vl)または高電圧状態(Vh)に引き込まれると、前記回路配置(J)からのデータ(jo)の受信を検出するようにインターフェースが設計および/または制御されている、請求項9に記載の装置(C)。
- 前記インターフェースが、前記受信モードの間に前記別の電圧状態への変化、特に、前記高電圧状態(Vh)または前記低電圧状態(Vl)への変化中に、前記信号電圧(v)のリセッシブ印加のため設計および/または制御されている、請求項9または10に記載の装置(C)。
- 請求項1から8のいずれか一項に記載の集積回路配置と、請求項9から11のいずれか一項に記載の装置(C)とを備え、共通接続接点(SDAT)を介してデータまたは信号を伝送するシステム。
- 集積回路配置(J)の接続接点(SDAT)上の少なくとも1個の低電圧状態(Vl)、1個の中間電圧状態(Vm)、および、1個の高電圧状態(Vh)の間の信号電圧(v)の変調によるデータ(csd)のシリアル伝送のプロセスであって、
ある電圧状態(Vm)をもつ信号電圧(v)を別の電圧状態(Vh)に変化させる勾配(f1)が受信モードにおいて前記接続接点(SDAT)に接続されている装置(C)によってこの接続接点(SDAT)に印加され、
前記信号電圧(v)が前記勾配(f1)の受信後に送信するため前記回路配置(J)によってこの別の電圧状態(Vh)からみて異なる前記電圧状態(Vl)に引き込まれることを特徴とする、プロセス。 - 前記勾配(f1)が前記装置(C)および前記回路配置(J)によって前記接続接点(SDAT)に印加され、
前記信号電圧(v)が、前記勾配(f1)の受信後に第1のデータ状態を送信するため、前記電圧状態の1つとしての前記中間電圧状態(Vm)からみて、前記別の電圧状態としての前記低電圧状態または前記高電圧状態(Vh)の反対側に引き込まれ、
前記勾配(f1)の受信後に第2のデータ状態を送信するため、前記信号電圧(v)が前記装置(C)によって印加された前記電圧状態(Vh)のままにされる、請求項13に記載のプロセス。 - 前記信号電圧(v)が、クロック制御された形でサイクル(T)ずつ前記上位装置(C)によって変化させられ、この間に、前記信号電圧(v)が、前記サイクル(T)の半分のクロックサイクルの時間的な終了前に、前記勾配(f1)の受信後に、前記集積回路配置(J)によって、前記電圧状態の1つとしての前記中間電圧状態(Vm)からみて、前記別の電圧状態としての前記低電圧状態または前記高電圧状態(Vh)の反対側に引き込まれる、請求項13または14に記載のプロセス。
- 固定数の連続的に後に続く時点またはサイクル(bit1−bit3)が前記装置(C)によって送信され、その後に、または、代替的に同時に、固定数の連続的に後に続く時点またはサイクル、少なくとも1個のサイクルが前記回路配置(J)によって送信されるプロトコルを備える、請求項13から15のいずれか一項に記載のプロセス。
- 前記装置(C)が、サイクル(T)を前記回路配置(J)へ伝送するため、前記中間電圧状態(Vm)、前記高電圧状態、または、前記低電圧状態(Vl)のうちの2つの間での前記信号電圧(v)の前記電圧状態の変化によって、かつ、前記電圧状態を元に戻すことにより、クロックサイクル(T)の範囲内でクロック制御された形で前記信号電圧(v)を変化させる、請求項13から16のいずれか一項に記載のプロセス。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP08005967.8 | 2008-03-28 | ||
EP08005967A EP2105750B1 (de) | 2008-03-28 | 2008-03-28 | Schaltungsanordnung, Vorrichtung bzw. Verfahren zum seriellen Senden von Daten über einen Anschlusskontakt |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009268069A JP2009268069A (ja) | 2009-11-12 |
JP5518348B2 true JP5518348B2 (ja) | 2014-06-11 |
Family
ID=39737172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009046537A Active JP5518348B2 (ja) | 2008-03-28 | 2009-02-27 | 接続接点を介するデータのシリアル送信のための回路配置、装置およびプロセス |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8594225B2 (ja) |
EP (1) | EP2105750B1 (ja) |
JP (1) | JP5518348B2 (ja) |
CN (1) | CN101545949B (ja) |
DE (1) | DE502008002380D1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102012013072B4 (de) | 2012-07-02 | 2015-01-08 | Micronas Gmbh | Vorrichtung zur Auswertung eines Magnetfeldes |
US10345338B2 (en) * | 2015-09-21 | 2019-07-09 | Biosense Webster (Israel ) LTD. | Test cap for a cable |
DE102016123400B3 (de) | 2016-01-19 | 2017-04-06 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Eindrahtlichtsteuerbus mit mehreren Pegeln |
WO2017125440A1 (de) | 2016-01-19 | 2017-07-27 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Jtag-schnittstellen zur steuerung der ansteuervorrichtung von leuchtmitteln einer leuchtkette |
DE102016101181B3 (de) | 2016-01-23 | 2017-03-30 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Verketteter Eindrahtdatenbus mit mehreren Pegeln zur bidirektionalen Übertragung von Beleuchtungsdaten auf Basis des JTAG-Protokolls |
DE102016100842B3 (de) * | 2016-01-19 | 2017-03-02 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Bidirektionales JTAG Datenbusprotokoll zur Übertragung von Beleuchtungsdaten |
DE102016100837B3 (de) * | 2016-01-19 | 2017-03-16 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Eindrahtlichtsteuerbus |
US10135686B2 (en) * | 2017-01-12 | 2018-11-20 | Dialog Semiconductor, Inc. | Communication interface |
CN106997318B (zh) * | 2017-04-10 | 2020-03-03 | 广东浪潮大数据研究有限公司 | 一种支持多从机的peci总线验证方法及系统 |
CN108732512B (zh) * | 2018-06-13 | 2020-11-24 | 任志广 | 一种应用于高压电源的数据收集模块 |
CN112486883A (zh) * | 2020-11-16 | 2021-03-12 | 江苏科大亨芯半导体技术有限公司 | 单线读写通讯系统及方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR920004417B1 (ko) * | 1990-07-09 | 1992-06-04 | 삼성전자 주식회사 | 낮은 동작 전류를 갖는 sam 데이터 억세스회로 및 그 방법 |
DE19819265C1 (de) * | 1998-04-30 | 1999-08-19 | Micronas Intermetall Gmbh | Verfahren zum Parametrieren einer integrierten Schaltungsanordnung und integrierte Schaltungsanordnung hierfür |
JP2003046537A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-14 | Tsunagu Network Communications Inc | 集合住宅の通信サービスシステム、ルータ装置、集合住宅の通信サービス提供方法、コンピュータ読取り可能な記録媒体並びにコンピュータプログラム |
JP3519708B2 (ja) | 2001-08-24 | 2004-04-19 | 松下電器産業株式会社 | データ通信システム |
US7197680B2 (en) * | 2003-04-17 | 2007-03-27 | Arm Limited | Communication interface for diagnostic circuits of an integrated circuit |
CN100527749C (zh) * | 2004-02-21 | 2009-08-12 | 华为技术有限公司 | 一种母线接口及实现母线接口时序自适应的方法 |
US7405586B2 (en) * | 2006-03-20 | 2008-07-29 | Intel Corporation | Ultra low pin count interface for die testing |
DE102006022985A1 (de) | 2006-05-15 | 2007-11-22 | Micronas Gmbh | Schaltungsanordnung mit einer seriellen Testschnittstelle bzw. serielles Testbetriebsverfahren |
JP5019419B2 (ja) * | 2006-07-07 | 2012-09-05 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 表示データ受信回路及び表示パネルドライバ |
-
2008
- 2008-03-28 EP EP08005967A patent/EP2105750B1/de active Active
- 2008-03-28 DE DE502008002380T patent/DE502008002380D1/de active Active
-
2009
- 2009-02-13 US US12/370,702 patent/US8594225B2/en active Active
- 2009-02-17 CN CN200910007381.5A patent/CN101545949B/zh active Active
- 2009-02-27 JP JP2009046537A patent/JP5518348B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090252210A1 (en) | 2009-10-08 |
EP2105750B1 (de) | 2011-01-19 |
CN101545949A (zh) | 2009-09-30 |
EP2105750A1 (de) | 2009-09-30 |
CN101545949B (zh) | 2014-04-23 |
DE502008002380D1 (de) | 2011-03-03 |
US8594225B2 (en) | 2013-11-26 |
JP2009268069A (ja) | 2009-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5518348B2 (ja) | 接続接点を介するデータのシリアル送信のための回路配置、装置およびプロセス | |
KR100942950B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
TWI418825B (zh) | 半導體元件的測試裝置以及測試方法 | |
JP5984979B2 (ja) | センサ装置およびセンサ装置に対するデータ伝送方法 | |
KR100780949B1 (ko) | 데이터 독출 모드에서 odt 회로의 온/오프 상태를테스트할 수 있는 반도체 메모리 장치 및 odt 회로의상태 테스트 방법 | |
CN102592653B (zh) | 存储器接口电路、存储器接口方法和电子设备 | |
CN107844445B (zh) | 用于非源同步系统的调谐电路系统和操作 | |
US7808846B2 (en) | Semiconductor memory device | |
KR102163431B1 (ko) | 반도체 장치 및 그를 포함하는 반도체 시스템 | |
US20140229782A1 (en) | Automatic Test Equipment | |
WO2005006189A1 (en) | Automatic self test of an integrated circuit via ac i/o loopback | |
KR102165231B1 (ko) | 스큐를 보정하는 리시버 회로, 이를 포함하는 반도체 장치 및 시스템 | |
US7872488B2 (en) | Tester for testing semiconductor device | |
EP2005308A2 (en) | Method and system for i2c clock generation | |
CN111418019B (zh) | 用于改进存储器装置中的输入信号质量的系统和方法 | |
US7535242B2 (en) | Interface test circuit | |
CN111418017B (zh) | 用于在存储器装置的信号质量操作中节省功率的系统及方法 | |
US20140129885A1 (en) | Scan clock generator and related method thereof | |
JP2009294164A (ja) | 半導体装置 | |
JP2010091482A (ja) | 半導体集積回路装置及びその遅延故障テスト方法 | |
JP4248074B2 (ja) | 動作タイミング制御機能を有するシステム | |
JP4725159B2 (ja) | オープン検出回路、オープン検出方法及び半導体集積回路 | |
CN116243149A (zh) | 单线总线电路中的扫描测试 | |
US9494646B2 (en) | Method for testing integrated circuit and integrated circuit configured to facilitate performing such a method | |
KR102176863B1 (ko) | 반도체 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120210 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130716 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130723 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20131022 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20131025 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140318 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140402 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5518348 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |