JP5490454B2 - X線画像診断装置及びx線検出器 - Google Patents

X線画像診断装置及びx線検出器 Download PDF

Info

Publication number
JP5490454B2
JP5490454B2 JP2009157681A JP2009157681A JP5490454B2 JP 5490454 B2 JP5490454 B2 JP 5490454B2 JP 2009157681 A JP2009157681 A JP 2009157681A JP 2009157681 A JP2009157681 A JP 2009157681A JP 5490454 B2 JP5490454 B2 JP 5490454B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
current
amount
conversion element
lighting field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009157681A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011010870A (ja
Inventor
昭仁 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP2009157681A priority Critical patent/JP5490454B2/ja
Publication of JP2011010870A publication Critical patent/JP2011010870A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5490454B2 publication Critical patent/JP5490454B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、X線画像診断装置における自動露出制御及びそのためのX線検出器に関する。
従来より、X線を用いて被検体の投影画像を撮影するX線画像診断装置では、X線源に対向配置されたX線検出器(FPD:Flat Panel Detector)にて被検体を透過するX線量を検出し、その検出データに基づいて被検体投影画像を生成している。このようなX線画像診断装置において、多様な手法による自動露出制御(AEC:Automatic Exposure Control)機能が開発され、利用されている。自動露出制御とは、X線画像が所望の画像濃度となるようX線の照射時間を決定することである。X線の適切な照射時間は、例えば、被検体を透過したX線量を検出し、その検出量が所定の閾値に達した場合に所望の画像濃度となるものとして決定される。また、画像の全領域のうち特に関心領域についての画像濃度が適切なものとなるようにするため、被検体を透過したX線のうち関心領域に相当するもののみを選択的に検出し、この検出量と所定の閾値とを比較することによりX線の照射時間を決定する手法がある。このような領域の選択を、一般に採光野の選択という。
例えば、特許文献1の放射線画像撮影装置では、画像の全領域に対して上述のFPDとは別に複数のX線量検出器を設置し、X線量検出器の検出強度パターンに基づいて適切な放射線照射時間を推定している。また、特許文献2のX線診断装置では、照射されたX線をシンチレータにて光信号に変換した後に電気信号に変換する間接変換方式のX線検出器(FPD)を用いており、所定時間間隔毎にFPDの指定された異なる検出素子群からそれぞれ電気信号を読み出し、これらの各群の全ての画素の電気信号の加算値が所定の閾値より大きくなった際にX線の照射を停止するよう制御している。
特開2008−79923号公報 特許3466684号公報
しかしながら、特許文献1の手法では、X線検出器の全領域に対して複数のX線量検出器を設置する必要があり、組立工数やコスト増加を招くのみならず、装置の小型化を妨げていた。また、X線検出器とX線量検出器との、X線のスペクトル成分に対する発光強度特性の相違に起因して、被検体の厚さの差が自動露出制御を用いてX線画像を取得した際の濃度誤差要因となり得るということについては配慮されていなかった。また特許文献2の手法では、X線照射中に繰り返し関心領域に相当する電気信号を読み出す必要があり、オフセット信号による画質劣化を招いたり、電気信号読み出し中の透過線量が無効被曝となるということについて配慮されていなかった。
本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、簡易な構成で適切なX線自動露出制御を行うことが可能なX線画像診断装置、及びそのためのX線検出器を提供することを目的とする。
前述した目的を達成するために、第1の発明は、X線源と、X線源に対向配置された被検体を透過したX線エネルギーを直接電荷に変換するX線変換素子を有するX線検出器と、X線検出器から出力されるX線量データに基づいて、被検体の投影画像を生成する画像処理手段と、X線源から照射するX線を制御するX線制御手段と、を備えたX線画像診断装置であって、前記X線検出器に設けられ、前記X線変換素子を流れる電流量を検出する電流検出手段と、前記電流検出手段により検出された、前記X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域の電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択する採光野選択手段と、前記各領域の電流量をそれぞれ積算する電流量積算手段と、前記採光野選択手段により選択された採光野について、前記電流用積算手段により算出された電流量の積算値が所定値を超えたか否かを判定し、所定値を超えた場合はX線遮断信号を出力する判定手段と、を備えることを特徴とするX線画像診断装置である。
また、第2の発明は、X線エネルギーを直接電荷に変換するX線変換素子を有するX線検出器であって、前記X線変換素子と、前記X線変換素子に電荷収集用の電界を与える定電圧源と、前記X線変換素子にて変換された電荷を蓄積するキャパシタと、前記キャパシタに蓄積された電荷を所定タイミングで収集するためのスイッチング素子と、前記X線変換素子と前記定電圧源との間に接続され、前記X線変換素子を流れる電流量を検出する電流検出手段と、前記電流検出手段により検出された、当該X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域の電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択する採光野選択手段と、を備え、前記採光野選択手段は、採光野として選択した領域についての電流量を外部へ出力することを特徴とするX線検出器である。
また、第3の発明は、X線エネルギーを直接電荷に変換するX線変換素子を有するX線検出器であって、前記X線変換素子と、前記X線変換素子に電荷収集用の電界を与える定電圧源と、前記X線変換素子にて変換された電荷を蓄積するキャパシタと、前記キャパシタに蓄積された電荷を所定タイミングで収集するためのスイッチング素子と、前記X線変換素子と前記定電圧源との間に接続され、前記X線変換素子を流れる電流量を検出する電流検出手段と、前記電流検出手段により検出された、当該X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域の電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択する採光野選択手段と、前記各領域の電流量をそれぞれ積算する電流量積算手段と、前記採光野選択手段により選択された採光野について、前記電流量積算手段により算出された電流量の積算値が所定値を超えたか否かを判定し、所定値を超えた場合はX線遮断信号を出力する判定手段と、を備えることを特徴とするX線検出器である。
本発明によれば、簡易な構成で適切にX線自動露出制御を行うことが可能なX線画像診断装置を提供でき、またそのためのX線検出器を提供できる。
X線画像診断装置1のハードウエア構成図 X線検出器6の構成を説明するブロック図(第1の実施の形態) X線画像診断装置1の制御部9の機能ブロック図(第1の実施の形態) X線照射中における、X線検出器6の各領域に流れる電流量と経過時間との関係を示す図 X線照射中における、X線検出器6の各領域に流れる電流量の積算値と経過時間との関係を示す図 X線画像診断装置1における画像信号収集のシーケンス図 X線検出器62の構成を説明するブロック図(第2の実施の形態) X線画像診断装置1の制御部9Bの機能ブロック図(第2の実施の形態) X線検出器63の構成を説明するブロック図(第3の実施の形態) X線検出器64の構成を説明するブロック図(第4の実施の形態)
以下図面に基づいて、本発明の実施形態を詳細に説明する。
(第1の実施の形態)
まず、図1〜図6を用いて、第1の実施の形態のX線画像診断装置1及びX線検出器6について説明する。
図1は、X線画像診断装置1のハードウエア構成を示す図である。
図1に示すように、X線画像診断装置1は、X線源2、X線可動絞り3、X線高電圧発生装置4、X線検出器6、画像処置装置7、表示部8、制御部9、及び操作部10を備える。
X線源2は、被検体5に対してX線を連続的または断続的に照射するものであり、X線高電圧発生装置4から印加される例えば数十〜百数十kV程度の電圧によって、陰極から放出された熱電子を加速し、タングステン等で構成された陽極に衝突させ、X線を発生させる。X線可動絞り3は、X線吸収係数の高い物質で作られた複数の羽根32を有し、この羽根32の位置を全開から全閉の範囲で適宜移動することによりX線源2から放射されたX線を、適度な照射範囲内に照射させるものである。
X線高電圧発生装置4は、X線源2に対して所定の管電圧・管電流を印加・供給する。管電圧・管電流、及びX線の照射開始及び遮断の制御は、X線高電圧装置4に接続される制御部9により行なわれる。なお、図1では、制御部9をX線高電圧装置4と分けて示しているが、制御部9をX線高電圧装置4内に設ける構成としてもよい。
X線源2から照射され、X線可動絞り3を介して被検体5を透過したX線はX線検出器6に入射する。
X線検出器6は、高電圧を印加した例えばアモルファスセレン等の半導体にX線を入射させることによりX線エネルギーを直接電荷に変換するX線変換素子を備えた、いわゆる直接変換方式のX線検出器である。
図2に示すように、X線検出器6のセンサアレイ部620を構成する各検出素子S11〜S44は、X線変換素子622と、X線変換素子622で変換された電荷を蓄積するキャパシタ623と、キャパシタ623に蓄積された電荷の読み出しを制御するスイッチング素子(例えば、薄膜トランジスタ(TFT))621と、により構成される。X線変換素子622のX線照射面側の電極には、電荷収集用の電界を与えるために電源部610の定電圧源613から定電圧が印加される。X線検出器6のセンサアレイ部620は、上述のX線変換素子622、キャパシタ623、及びTFT621により構成される検出素子を複数有し、これらの検出素子を2次元配列したものである。
また、X線検出器6は、各検出素子S11〜S44のTFT621のゲートに駆動信号を与えるゲートドライバ部630と、各行のTFT621のドレインに共通に接続された増幅回路640と、各増幅回路640の出力を時分割多重化するマルチプレクサ(MUX)650と、マルチプレクサ(MUX)650で選択された各増幅回路640の出力を、アナログ/デジタル変換してX線画像信号として外部(例えば画像処理装置7)に出力するADC660と、センサアレイ部620の各X線変換素子622に定電圧を印加する電源部610と、を備える。
X線源2から照射されたX線は、被検体5を透過した後、X線検出器6のX線変換素子622に入射し、X線変換素子622にて電荷(正孔−電子対)に変換される。X線変換素子622で発生した電荷は、定電圧源613から印加された電界に沿ってX線変換素子622内を移動し、キャパシタ623に収集される。各キャパシタ623からの電荷の読み出しは、ゲートドライバ部630がTFT621のON/OFFを切り替えることにより順次行われる。
本発明において、X線検出器6のセンサアレイ部620は、全領域が複数の領域に分割されているものとする。各分割領域(以下、領域という)は、少なくとも1つ以上の検出素子を含む。図2では、一例としてセンサアレイ部620を4つの領域a,b,c,dに分割したものを示しているが、領域の分割数はこれに限定されるものではなく、いくつでもよい。また、センサアレイ部620を構成する検出素子数は、説明の簡略のために4×4のマトリクスとしているが、実際は、1000×1000以上のマトリクスのものが一般的である。また、領域の分割の仕方は、図2の例に示すように一列を一群の領域としたものに限定されるものではなく、複数列を一群の領域としたり、または1〜複数行を一群の領域としてもよい。また、列や行の一部を一群の領域とするようにしてもよい。
また、本発明のX線検出器6は、分割された各領域を流れる電流量を検出する電流検出部611を備える。電流検出部611は、例えばX線検出器6内の電源部610に設けられる。より具体的には、電流検出部611は、センサアレイ部620の領域数に応じた数の、例えばシャント抵抗と呼ばれる低抵抗を電流検出手段612a,612b,612c,612dとして有する。電流検出手段612a,612b,612c,612dは、それぞれ各検出素子S11〜S44の各X線変換素子622のX線照射面側の電極と定電圧源613との間に直列に接続される。電流検出部は、各抵抗(電流検出手段612a,612b,612c,612d)での電圧降下分から各領域に流れる電流量を測定し、測定した各電流量情報を外部(例えば制御部9)に出力する。
ここで測定した電流量は、X線検出器6の各検出素子のX線変換素子622が変換した電気信号、すなわち画像濃度に比例する値である。
なお、電流検出手段612a,612b,612c,612dは、例示したような低抵抗を用いた構成に限定されるものではなく、例えば各検出素子S11〜S44の各X線変換素子622のX線照射面側の電極と定電圧源613との間を領域毎に接続する電源ラインP1,P2,P3,P4を流れる電流が生成する磁束を測定することにより、電流量を測定するもの等としてもよい。
図1の画像処理装置7は、X線検出器6が収集したX線画像信号を取得し、取得したX線画像信号に基づいて被検体5の投影画像を生成する。生成された投影画像は表示部8に表示される。表示部8は、液晶パネル、CRTモニタ等のディスプレイ装置と、ディスプレイ装置と連携して表示処理を実行するための論理回路で構成され、制御部9の制御に従って、画像処理装置7によって生成された画像等を表示する。操作部10は、例えば、キーボード、マウス等のポインティングデバイス、テンキー等の操作装置、及び各種スイッチボタン等により構成され、操作者によって入力される各種の指示や情報を制御部9に出力する。
制御部9は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等により構成される。制御部9は、X線高電圧発生装置4、X線検出器6、画像処理装置7、表示部8、及び操作部10に接続され、これらの各部を制御する。例えば、制御部9は、X線高電圧発生装置4に対して、所定の管電流、管電圧を供給、印加するよう制御信号を出力したり、X線照射開始信号またはX線遮断信号等、撮影時間の制御(自動露出制御)のためのX線制御信号を出力したりする。
また第1の実施の形態の制御部9は、図3に示すように、X線検出器6の電流検出部611から入力される各領域a,b,c,dの電流量情報を比較して採光野とする領域の選択を行う比較部(採光野選択部)91と、各領域の電流量を積算する電流量積算部92と、比較部91により選択された採光野(領域)についての電流量の積算値が所定の閾値を超えたか否かを判定し、その判定結果に基づいて、X線を遮断するか否かを決定する閾値判定部(X線制御手段)93と、を備える。
ここで、比較部91は、入力された各領域の電流量情報のうち最も電流量が少ない領域を採光野として選択する。これは、最も電流量が少ない領域を所望の画質に応じた画像濃度となるようにすれば、それ以上の電流量が流れている領域では当然要求する画質以上の画質を得ることができるからである。
また、閾値判定部93は、採光野の電流量の積算値が所定の閾値を超えた場合に、X線を遮断するためのX線遮断信号をX線高電圧発生装置4に対して出力する。ここで閾値は、X線画像診断装置1が生成するX線画像が所望の画像濃度となるために、採光野に照射されるべきX線量に応じた電流量の積算値であり、予め調整作業等により調べられ、保持されているものとする。また、適切な画像濃度を得るために必要なX線量(すなわち電流量の積算値)は被検体の部位(例えば、頭部、胸部、腹部、下肢等)によって異なるものであるので、撮影部位に応じた閾値が設定されることが好ましい。
次に、X線画像診断装置1の動作を説明する。
まず、準備動作として操作者によりX線画像診断装置1のX線源2とX線検出器6とが対向配置され、X線検出器6のX線照射面側近傍に被検体5が移動され、X線可動絞り3が適切なX線照射範囲となるように調節され、更に、操作部10を介してX線条件(管電流、管電圧、AEC制御の「ON」設定)の入力が行われる。
準備動作が終了すると、制御部9は、操作部10から入力されるX線照射開始指示に従ってX線高電圧発生装置4に対してX線照射開始信号を出力する。X線高電圧発生装置4は、X線照射開始信号をトリガとして入力条件に従った管電圧・管電流をX線源2に印加・供給し、X線の照射を開始する。
X線の照射開始とともにX線検出器6のX線変換素子621では、被検体5を透過したX線を電気信号へ変換し始める。この変換動作に伴い、X線検出器6の電源部610の定電圧源613から、各電流検出手段612a,612b,612c,612d、各X線変換素子622、キャパシタ623の経路で電流が流れる。ここで流れる電流量は、X線検出器6の各検出素子のX線変換素子622が変換した電気信号、すなわち画像濃度に比例する値である。
図4は、X線照射中におけるX線検出器6の各領域に流れる電流量と経過時間との関係を示すグラフであり、縦軸は電流量、横軸は経過時間を表している。
時刻t1から、被検体5を透過したX線が各領域a,b,c,dに照射されるが、各領域a,b,c,dの検出するX線量、すなわち電流量は、被検体5の厚さや部位に応じてそれぞれ大きさが異なる。図4に示す例では、領域a,b,c,dの順に、流れる電流量が大きいことが分かる。
電流検出手段612a,612b,612c,612dは各領域a,b,c,dに流れる電流量をそれぞれ検出し、電流量情報として制御部9に出力する。制御部9は、取得した各領域a,b,c,dの電流量情報を比較部91(図3参照)によって比較し、最も電流量が小さい領域を採光野として選択する。図4の例では、領域dが採光野として選択される。
一方で、制御部9は、各領域a,b,c,dの電流量の積算値を電流量積算部92により計算する。比較部91により採光野が選択された後は、制御部9の閾値判定部93は、採光野として選択された領域(図4の例では領域d)について、電流量の積算値が所定の閾値を越えたか否かを監視し、所定の閾値を超えた場合は、X線遮断信号をX線高電圧発生装置4に対して出力する。
図5は、X線照射中におけるX線検出器6の各領域に流れる電流量の積算値と経過時間との関係を示すグラフであり、縦軸は電流量の積算値、横軸は経過時間を表している。
図5に示すように、X線照射開始時刻t1から各領域a,b,c,dに流れる電流量が積算され、ある時刻t2にて採光野の選択が行われ、積算値の監視が行われる領域(採光野)が決定される。その後、X線の照射は継続されるが、時刻t3において採光野の電流量が所定の閾値に到達すると、X線は遮断される。
X線遮断信号によってX線が遮断されると、X線検出器6では、各検出素子のキャパシタ623に蓄積された電荷(アナログ信号)を収集する。
図6は、画像信号の収集タイミングの一例を説明する図である。
時刻t1〜t3のX線照射中、全てのゲート駆動ラインG1,G2,G3,G4はOFFされており、それにより全てのTFT621は非導通状態となる。また、各キャパシタ623への電荷充電が可能となり、各X線変換素子622(S11〜S44)が出力する電荷は各キャパシタ623に充電される。
時刻t3においてX線が遮断されると、X線検出器6は、まずゲート駆動ラインG1,G2,G3,G4のうち、ゲート駆動ラインG1にON信号を送出する。これにより、図2の検出素子S11,S21,S31,S41の各TFT621が導通状態となり、検出素子S11,S21,S31,S41の各キャパシタ623に充電された電荷が信号送出ラインL1,L2,L3,L4に伝送される。一方、マルチプレクサ(MUX)650ではゲート駆動ラインG1がONされている期間に、信号送出ラインL1,L2,L3,L4を順に選択し、その信号をアナログ/デジタル変換器(ADC)660に伝送する。ADC660では、その信号をアナログ/デジタル変換し、デジタル信号とする。
X線検出器6は、このような一連の動作を全ゲート駆動ラインG1,G2,G3,G4について繰り返し行い、全領域についてのX線画像信号を出力する。その後、X線検出器6はX線画像信号を画像処理装置7に出力する。画像処理装置7は、取得したX線画像信号に対して各種処理を行いX線画像を生成して、表示部8に表示する。
以上説明したように、本第1の実施の形態のX線画像診断装置1は、直接変換方式のX線検出器6を備え、このX線検出器6を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域a,b,c,dに流れる各電流量を検出するために、例えば小抵抗等から構成される電流検出手段612a,612b,612c,612dを設ける。また制御部9は、電流検出手段612a,612b,612c,612dにより検出された各領域a,b,c,dの電流量情報を比較し、その比較結果に基づいて、例えば、電流量の最も小さい領域を採光野として選択する。そして制御部9は、X線照射開始時から各領域a,b,c,dに流れる電流量を積算し、選択された採光野についての電流量の積算値が所定の閾値を越えたか否かを判定する。そして、採光野についての電流量の積算値が閾値を超えた場合は、X線遮断信号をX線高電圧発生装置4に出力する。
したがって、X線量を検出するためのX線量検出器を別に設けることなく、X線検出器内に小抵抗(電流検出手段612a,612b,612c,612d)を付加するといった簡易な構成で、自動露出制御機能を実現することが可能となる。そのため、X線検出器の小型化や、組立工数やコストの低減に寄与できる。また、採光野が自動的に選択されるため、操作者の技量に依存しない最適な画像濃度の画像を得ることが可能となる。また、X線画像の濃度とX線検出器6の各領域に流れる電流量の関係は、透過X線のスペクトル形状に影響されるものではないので、被検体の厚さに起因した濃度誤差を抑制することが可能となる。
(第2の実施の形態)
次に、図7〜図8を参照して、第2の実施の形態のX線検出器62について説明する。以下の説明において、第1の実施の形態と同一の各部については同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
第2の実施の形態では、X線画像診断装置1の全体の装置構成は第1の実施の形態(図1)と同様であるので説明を省略するが、X線検出器6及び制御部9の内部構成にそれぞれ異なる部位がある。
以下、第2の実施の形態のX線検出器62及び制御部9Bについて説明する。
図7に示すように、第2の実施の形態のX線検出器62には、センサアレイ部620の各領域a,b,c,dに流れる電流量を検出する各電流検出手段612a,612b,612c,612dと、検出された各電流量を比較し、その比較結果に基づいて採光野を選択し、選択された採光野についての電流量のみを外部(例えば制御部9B)へ出力する比較器(採光野選択部)614と、がX線検出器62の電源部610内に設けられている。
また、図8に示すように、制御部9Bは電流量積算部92と閾値判定部93とから構成され、第1の実施の形態の制御部9から比較部91(図3参照)が省かれた構成となっている。すなわち、第2の実施の形態のX線画像診断装置1は、第1の実施の形態において、制御部9が行っていた採光野の選択を、X線検出器62が行うようにしたものである。
制御部9Bは、X線検出器62から出力される採光野についての電流量を積算し、積算値が所定の閾値を越えたか否かを判定し、その判定結果に応じてX線を遮断するか否かを決定する。採光野の電流量の積算値が所定の閾値を超えた場合は、X線遮断信号をX線高電圧装置4に対して出力する。
第2の実施の形態では、X線検出器62から外部へ出力する電流量情報は、比較器614によって選択された採光野についての電流量情報のみである。よって、X線検出器62から外部(制御部9)へ出力される情報量が抑制されることとなり、第1の実施の形態における効果に加え、信号ケーブル数の削減、ノイズ耐性の向上、放射ノイズの抑制等が期待できるようになる。
(第3の実施の形態)
次に、図9を参照して、第3の実施の形態のX線検出器63について説明する。以下の説明において、第1または第2の実施の形態と同一の各部については同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
第3の実施の形態では、X線画像診断装置1の全体の装置構成は第1の実施の形態(図1)と同様であるので説明を省略するが、X線検出器6及び制御部9の内部構成にそれぞれ異なる部位がある。
以下、第3の実施の形態のX線検出器63と制御部9Bについて説明する。
図9に示すように、第3の実施の形態のX線検出器63には、センサアレイ部620の各領域a,b,c,dに流れる電流量を検出する各電流検出手段612a,612b,612c,612dと、外部(例えば操作部10)から入力される領域指定信号に従って、いずれの領域の電流量を比較するかを指定する選択回路(領域指定手段)615と、選択回路(領域指定手段)615により指定された領域についての電流量を比較し、その比較結果に基づいて採光野を選択し、選択された採光野についての電流量情報を外部へ出力する比較器(採光野選択部)614と、がX線検出器63内に設けられている。また、本実施の形態において、制御部は第2の実施の形態の制御部9B(図8)と同様に、電流量積算部92と閾値判定部93とから構成され、第1の実施の形態の制御部9から比較部91(図3参照)が省かれた構成となっている。
すなわち、第3の実施の形態のX線検出器63は、第2の実施の形態のX線検出器62の電源部610において、比較器614の前段に、採光野選択のために比較対象とする領域を指定する選択回路(領域指定手段615)を設けたものである。選択回路(領域指定手段)615は、操作部10から入力される領域指定信号に従って、電流量情報を収集する領域を選択する。
操作者の操作により、X線検出器63のどの領域を採光野の候補とするかが指定されると、その領域指定信号が操作部10からX線検出器63に入力される。
X線検出器63では、入力された領域指定信号に応じた領域を選択回路(領域指定手段)615にて選択し、選択された領域に流れる電流量を対応する電流検出手段によって検出する。更に、比較器614で各電流量を比較し、その比較結果に基づいて採光野を選択し、選択された採光野についての電流量のみを外部(例えば制御部9B)へ出力する。
制御部は、第2の実施の形態の制御部9Bと同様に、X線検出器63から出力される採光野についての電流量を積算し、積算値が所定の閾値を越えたか否かを判定し、その判定結果に応じてX線を遮断するか否かを決定する。採光野の電流量の積算値が所定の閾値を超えた場合は、X線遮断信号をX線高電圧装置4に対して出力する。
従って、第3の実施の形態のX線画像診断装置1によれば、操作者は操作部10に対して関心のある領域をいくつか指定することにより、指定した領域の中から採光野を選択することができるようになる。そのため、より臨床的要求に合致した採光野の選択を行なうことが可能となる。
なお、図9では、比較器614がX線検出器63内に設けられる例を示しているが、比較器614をX線検出器63内に設けない構成とし、X線検出器63は領域指定された全ての領域についての電流量情報を外部(制御部)に出力するものとしてもよい。この場合は、制御部は、第1の実施の形態の制御部9と同様に、入力された各電流量情報のうち最も小さい電流量の領域を採光野として選択し、電流量を積算し、電流量の積算値が所定の閾値を超えた場合にX線遮断信号をX線高電圧装置4に出力するような構成としてもよい。
(第4の実施の形態)
次に、図10を参照して、第4の実施の形態のX線画像診断装置1及びX線検出器64について説明する。以下の説明において、第1〜第3の実施の形態と同一の各部については同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
第3の実施の形態のX線画像診断装置1の全体の装置構成は第1の実施の形態(図1)と同様であるので説明を省略するが、X線検出器6の内部構成に異なる部位がある。
以下、第4の実施の形態のX線検出器64について説明する。
図10に示すように、第4の実施の形態のX線検出器64には、センサアレイ部620の各領域a,b,c,dに流れる電流量を検出する各電流検出手段612a,612b,612c,612dの後段に、X線制御部618を備える。
X線制御部618は、各領域を流れる電流量を比較し、その比較結果に基づいて採光野を選択する比較器(採光野選択部)614と、比較器614によって採光野として選択された領域についての電流量を積算する電流量積算部616と、電流量積算部616による積算値を所定の閾値と比較し、閾値を超えた場合にX線遮断信号を外部へ出力する閾値判定部617と、を備える。
すなわち、第4の実施の形態のX線検出器64では、第1の実施の形態の制御部9(図3)に設けられている比較部(採光野選択部)91、電流量積算部92、及び閾値判定部93といったX線制御に関する機能を、X線検出器64内に設けている。そして、X線検出器64にてX線の自動露出制御を行ない、適切なタイミングで外部(X線高電圧発生装置4)にX線遮断信号を出力するようにしている。
そのため、第4の実施の形態ではX線検出器64側で一連の自動露出制御を行なうことが可能となるので、制御部9の処理負荷を小さくできる。
なお、第4の実施の形態のX線検出器64の比較器614の前段に、更に、第3の実施の形態のX線検出器63に設けられている領域指定手段615を付加し、指定された領域についてのみ、電流量の検出、積算、閾値判定等の処理を行うようにしてもよい。この場合は採光野の候補とする領域を操作者が指定できるため、第3の実施の形態と同様に、より臨床的要求に合致した採光野の選択を適切に行うことが可能となる。
以上、添付図面を参照しながら、本発明に係るX線画像診断装置及びX線検出器の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されず、第1から第4の実施の形態のいずれかを組み合わせた構成とすることも可能である。その他、当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
1・・・X線画像診断装置
2・・・X線源
3・・・X線可動絞り
4・・・X線高電圧発生装置
5・・・被検体
6・・・X線検出器
610・・・電源部
611・・・電流検出部
612a,612b,612c,612d・・・電流検出手段
613・・・定電圧源
620・・・センサアレイ部
621・・・TFT
622・・・X線変換素子
623・・・キャパシタ
7・・・画像処理装置
8・・・表示部
9・・・制御部
91・・・比較部(採光野選択部)
92・・・電流量積算部
93・・・閾値判定部
10・・・操作部
62・・・X線検出器(第2の実施の形態)
63・・・X線検出器(第3の実施の形態)
64・・・X線検出器(第4の実施の形態)
9B・・・制御部(第2、第3の実施の形態)

Claims (9)

  1. X線源と、X線源に対向配置された被検体を透過したX線エネルギーを直接電荷に変換するX線変換素子を有するX線検出器と、X線検出器から出力されるX線量データに基づいて、被検体の投影画像を生成する画像処理手段と、X線源から照射するX線を制御するX線制御手段と、を備えたX線画像診断装置であって、
    前記X線検出器に設けられ、前記X線変換素子を流れる電流量を検出する電流検出手段と、
    前記電流検出手段により検出された、前記X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域の電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択する採光野選択手段と、
    前記各領域の電流量をそれぞれ積算する電流量積算手段と、
    前記採光野選択手段により選択された採光野について、前記電流用積算手段により算出された電流量の積算値が所定値を超えたか否かを判定し、所定値を超えた場合はX線遮断信号を出力する判定手段と、
    を備えることを特徴とするX線画像診断装置。
  2. 前記採光野選択手段と、前記電流量積算手段と、前記判定手段とが前記X線制御手段に設けられることを特徴とする請求項1に記載のX線画像診断装置。
  3. 前記採光野選択手段が更に前記X線検出器に設けられ、前記電流量積算手段及び前記判定手段が前記前記X線制御手段に設けられ、
    前記採光野選択手段は採光野として選択した領域についての電流量を出力し、
    前記電流量積算手段は、前記採光野選択手段により出力された電流量を積算することを特徴とする請求項1に記載のX線画像診断装置。
  4. 前記X線検出器は、前記X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域のうち、採光野の候補とする領域を指定する領域指定手段を更に備え、
    前記電流量検出手段は、前記領域指定手段によって指定された領域に含まれるX線変換素子を流れる電流量を検出し、
    前記採光野選択手段は、前記領域指定手段により指定された領域について前記電流検出手段により検出された電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のX線画像診断装置。
  5. 前記採光野選択手段と、前記電流量積算手段と、前記判定手段とが前記X線検出器に設けられることを特徴とする請求項1に記載のX線画像診断装置。
  6. 前記X線検出器は、
    前記X線変換素子と、
    前記X線変換素子に電荷収集用の電界を与える定電圧源と、
    前記X線変換素子にて変換された電荷を蓄積するキャパシタと、
    前記キャパシタに蓄積された電荷を所定タイミングで収集するためのスイッチング素子と、を有し、
    前記電流検出手段は、前記X線変換素子と前記定電圧源との間に接続されることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載のX線画像診断装置。
  7. X線エネルギーを直接電荷に変換するX線変換素子を有するX線検出器であって、
    前記X線変換素子と、
    前記X線変換素子に電荷収集用の電界を与える定電圧源と、
    前記X線変換素子にて変換された電荷を蓄積するキャパシタと、
    前記キャパシタに蓄積された電荷を所定タイミングで収集するためのスイッチング素子と、
    前記X線変換素子と前記定電圧源との間に接続され、前記X線変換素子を流れる電流量を検出する電流検出手段と、
    前記電流検出手段により検出された、当該X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域の電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択する採光野選択手段と、を備え、
    前記採光野選択手段は、採光野として選択した領域についての電流量を外部へ出力することを特徴とするX線検出器。
  8. 前記X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域のうち採光野の候補とする領域を指定する領域指定手段を更に備え、
    前記電流検出手段は、前記領域指定手段によって指定された領域に含まれるX線変換素子を流れる電流量を検出し、
    前記採光野選択手段は、前記領域指定手段により指定された領域について前記電流検出手段により検出された電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択することを特徴とする請求項に記載のX線検出器。
  9. X線エネルギーを直接電荷に変換するX線変換素子を有するX線検出器であって、
    前記X線変換素子と、
    前記X線変換素子に電荷収集用の電界を与える定電圧源と、
    前記X線変換素子にて変換された電荷を蓄積するキャパシタと、
    前記キャパシタに蓄積された電荷を所定タイミングで収集するためのスイッチング素子と、
    前記X線変換素子と前記定電圧源との間に接続され、前記X線変換素子を流れる電流量を検出する電流検出手段と、
    前記電流検出手段により検出された、当該X線検出器を構成する少なくとも1つ以上の検出素子を含む各領域の電流量を比較し、最も電流量が少ない領域を採光野として選択する採光野選択手段と、
    前記各領域の電流量をそれぞれ積算する電流量積算手段と、
    前記採光野選択手段により選択された採光野について、前記電流量積算手段により算出された電流量の積算値が所定値を超えたか否かを判定し、所定値を超えた場合はX線遮断信号を出力する判定手段と、
    を備えることを特徴とするX線検出器。
JP2009157681A 2009-07-02 2009-07-02 X線画像診断装置及びx線検出器 Expired - Fee Related JP5490454B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009157681A JP5490454B2 (ja) 2009-07-02 2009-07-02 X線画像診断装置及びx線検出器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009157681A JP5490454B2 (ja) 2009-07-02 2009-07-02 X線画像診断装置及びx線検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011010870A JP2011010870A (ja) 2011-01-20
JP5490454B2 true JP5490454B2 (ja) 2014-05-14

Family

ID=43590303

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009157681A Expired - Fee Related JP5490454B2 (ja) 2009-07-02 2009-07-02 X線画像診断装置及びx線検出器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5490454B2 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013015265A1 (ja) 2011-07-26 2013-01-31 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその制御方法
JP5657491B2 (ja) * 2011-08-31 2015-01-21 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影プログラム、及び放射線画像撮影方法
JP5792569B2 (ja) * 2011-09-21 2015-10-14 富士フイルム株式会社 放射線撮影システムおよび放射線撮影システムの長尺撮影方法
WO2013047170A1 (ja) * 2011-09-27 2013-04-04 富士フイルム株式会社 放射線撮影システムおよびその作動方法、並びに放射線画像検出装置
JP5558538B2 (ja) * 2011-12-08 2014-07-23 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法及び制御プログラム
JP5675682B2 (ja) 2012-03-23 2015-02-25 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその制御方法、並びに放射線撮影システム
US9716125B2 (en) 2012-12-21 2017-07-25 Varex Imaging Corporation Imaging array and method for supporting automatic exposure control in a radiographic system
JP5945513B2 (ja) 2013-02-20 2016-07-05 富士フイルム株式会社 放射線画像処理装置および方法、並びに放射線撮影装置
JP2014158580A (ja) * 2013-02-20 2014-09-04 Fujifilm Corp 放射線画像解析装置および方法、並びに放射線撮影装置
KR101848408B1 (ko) * 2016-10-14 2018-04-16 주식회사 뷰웍스 디텍터 센서를 이용한 자동 노출 제어 장치
JP7441033B2 (ja) 2019-11-12 2024-02-29 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP7441032B2 (ja) 2019-11-12 2024-02-29 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6797960B1 (en) * 1999-04-26 2004-09-28 Simage Oy Self triggered imaging device for imaging radiation
JP4217506B2 (ja) * 2002-03-01 2009-02-04 キヤノン株式会社 放射線撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011010870A (ja) 2011-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5490454B2 (ja) X線画像診断装置及びx線検出器
JP6243504B2 (ja) 放射線撮影装置及びその制御方法、並びに放射線画像検出装置
US8983035B2 (en) Radiographic image detector and controlling method therefor
US9848845B2 (en) Radiation image detecting device
JP5592962B2 (ja) 放射線撮影装置とその制御方法、及び放射線撮影システム
JP5602198B2 (ja) 放射線撮影装置、およびこれに用いられる放射線画像検出装置並びにその作動方法
US9146326B2 (en) Radiographic image detector and control method therefor
US9931092B2 (en) Radiation imaging system and operation method thereof, and radiation image detecting device and storage medium storing operation program therefor
JP6008430B2 (ja) 放射線画像検出装置及びその制御方法
US9072440B2 (en) Radiographic system and control method thereof
JP5744949B2 (ja) 放射線画像検出装置およびその作動方法
KR102294774B1 (ko) X-선 이미징 시스템 사용 및 교정
US20120132820A1 (en) Radiographic image detecting apparatus and radiographic image capturing system
JP5042887B2 (ja) 放射線画像撮影装置
US20090121143A1 (en) Radiation imaging apparatus, drive method and program of the radiation imaging apparatus
CN104427937A (zh) 放射线图像检测装置及其动作方法以及放射线摄影系统
JP2014219248A (ja) 放射線画像検出装置およびその作動方法
WO2013015351A1 (ja) 放射線画像検出装置及びその制御方法
JP2008246022A (ja) 放射線撮影装置
US7496223B2 (en) Imaging device including optimized imaging correction
JP6093069B2 (ja) 放射線の照射開始判定装置およびその作動方法、並びに放射線の照射開始判定システム
JP2016154577A (ja) 放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置および体厚の推定方法
JP2007054484A (ja) 放射線像撮像装置
JP2017096720A (ja) 放射線撮像システム、信号処理装置、及び、放射線画像の信号処理方法
JP5925937B2 (ja) 放射線の照射開始判定装置およびその作動方法、並びに放射線の照射開始判定システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120618

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130625

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130628

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130820

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140212

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140226

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5490454

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees