JP5490032B2 - 導電パターン形成基板の製造方法及び導電パターン形成基板 - Google Patents
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Description
この種の導電パターン形成基板は、絶縁基板上に、透明導電膜が形成される画像表示領域(表示領域)と、配線ラインが形成される低抵抗配線パターン形成領域(配線領域)と、を備えている。前記画像表示領域は、タッチパネルの操作者から視認可能とされており、前記低抵抗配線パターン形成領域は、装飾パネル(枠)等に被覆され操作者からは視認不可とされている。
また、透明導電膜には、広範囲に複数形成された導電性の導電部と、これら導電部同士を区画するように形成された絶縁性の絶縁部と、が設けられている。
すなわち、基礎膜のうち、透明導電膜の絶縁部に対応する部位をフォトリソグラフィによるプロセスで除去した場合、該絶縁部と導電部との屈折率の違い等により、該透明導電膜の導電パターンが視認されてしまい、外観上好ましくなかった。
例えば、特開2010−140859号公報には、導電性ナノファイバーがバインダ中で3次元状に絡み合った導電膜にレーザ照射を行うことで絶縁化する技術が開示されているが、3次元状に絡み合った導電経路を確実に絶縁化するには大きなエネルギを照射する必要があることから、バインダ層を除去又は変質させずに、照射部分と非照射部分の外観に変化が無いような照射条件を見出すことは困難である。
また、レーザ照射の集光スポットのサイズは数十μmであり、導電領域を面状に絶縁化すること(前記基礎膜にレーザ光を照射して前記配線領域を絶縁化すること)は、レーザ加工に手間がかかり、作業性が悪くなる。
また従来のレーザ加工では、絶縁部に断線した金属極細繊維が残留しているため、絶縁性が十分に確保されるとは言えなかった。
すなわち本発明は、絶縁基板上に、透明導電膜が形成される表示領域と、配線ラインが形成される配線領域と、を備えた導電パターン形成基板の製造方法であって、前記透明導電膜には、絶縁性を有する透明基体内に導電性を有する金属からなり、導電性の2次元ネットワークを構成する網状部材が配置される導電部と、前記透明基体内の前記網状部材が除去されることにより形成された空隙が配置される絶縁部と、が設けられており、前記絶縁基板上の前記表示領域及び前記配線領域に、前記透明基体内に前記網状部材が配置される基礎膜を形成する工程と、前記基礎膜上の前記表示領域に対応する部位にマスク手段を形成して、前記基礎膜のうち前記配線領域に対応する部位をエッチングにより除去する工程と、前記基礎膜のうち前記表示領域に対応する部位にレーザ光を照射することにより、前記空隙を形成して、前記透明導電膜とする工程と、前記配線領域の前記絶縁基板上に、前記透明導電膜の導電部に電気的に接続する前記配線ラインを形成する工程と、を備え、前記基礎膜のうち前記表示領域に対応する部位にレーザ光を照射することにより、前記空隙を形成して、前記透明導電膜とする工程では、レーザ光として短パルスのパルス状レーザを照射して前記網状部材の金属極細繊維を蒸発させて除去することで、除去される金属極細繊維の相当位置に対応して、空隙を形成することを特徴とする。
以下、本発明の第1実施形態に係る導電パターン形成基板の製造方法、及び、これにより作製される導電パターン形成基板10について、図1〜図6を参照して説明する。
本実施形態の導電パターン形成基板10は、例えば、透明アンテナ、透明電磁波シールド、静電容量方式或いはメンブレン式の透明タッチパネルなどの透明入力装置のように、透明部分に配線パターンを形成する製品に適用することができる。また、この導電パターン形成基板10は、自動車のハンドル等に付随する静電容量入力装置など、3次元成型品、或いは3次元の加飾成型品の表面に設けられる静電容量センサ等に必要な電極を形成する目的で用いることができる。
尚、本実施形態でいう「透明」とは、50%以上の光線透過率を有するものを指す。そして、この導電パターン形成基板10は、透明である。
このように、絶縁部Iにおいては、透明基体2から金属極細繊維4が除去されていることから、該透明基体2(透明導電膜12)における導電部Cと絶縁部Iとでは、互いに化学的組成が異なっている。
図4(a)に示されるように、まず、絶縁基板11上の画像表示領域13及び低抵抗配線パターン形成領域15に、透明基体2内に網状部材3が配置される基礎膜aを形成する。基礎膜aは、前述した図2に示される透明導電膜12の導電部Cと同一の構成を有する導電性コーティング膜である。
次いで、フォトリソグラフィによるプロセスを用いて、絶縁基板11上の基礎膜aのうち、低抵抗配線パターン形成領域15に対応する部位を除去する。
詳しくは、まず、図4(b)に示されるように、基礎膜a上の画像表示領域13に対応する部位にマスク手段であるレジスト膜50を形成する。
次いで、図4(c)に示されるように、基礎膜aのうち低抵抗配線パターン形成領域15に対応する部位をエッチングにより除去した後、レジスト膜50を除去する。尚、前記エッチングとしては、ウェットエッチング及びドライエッチングのいずれを用いても構わない。
次いで、図5(a)に示されるように、基礎膜aのうち画像表示領域13に対応する部位にレーザ光Lを照射することにより、前記空隙5を形成するとともに絶縁部Iを形成して、該絶縁部Iと、該絶縁部I以外の部位である導電部Cと、を備えた透明導電膜12とする。尚、図1においては、X−X断面における絶縁部Iの記載を省略しているが、実際には、図1の矩形状をなす導電部C内に、該導電部Cを分割(区画)するように、絶縁部Iが例えば線状に延びて形成されており、これにより、隣り合う導電部C同士は互いに電気的に絶縁されている。
本実施形態では、画像表示領域13の基礎膜aに、短パルスのパルス状レーザであるレーザ光Lを所定のパターンで照射する方法を用いている。
そして、レーザ光発生手段41から集光レンズ42を介して基礎膜aにレーザ光Lを照射して、該基礎膜aに絶縁部Iを形成するとともに導電パターンを形成する。
ステージ43は、絶縁基板11が透明でレーザ光Lの出力が1Wを超える場合、ナイロン系若しくはフッ素系の樹脂材料、又は、シリコーンゴム系の高分子材料を用いることが好ましい。
まず、ステージ43の上面に、絶縁基板11を、基礎膜aが該絶縁基板11の上側に配置されるように載置する。ここで、絶縁基板11と基礎膜aの透明基体2とは、互いに同一材料又は同一系統の樹脂材料からなるものを用いることが好ましい。詳しくは、例えば絶縁基板11がポリエチレンテレフタレートフィルムの場合、透明基体2にはポリエステル系樹脂を使用することが好ましい。
例えば、パルス幅が1〜100n秒のレーザ(YAGレーザ又はYVO4レーザ)では、パルスエネルギ密度1×1011〜1×1013W/m2、単位面積あたりの照射エネルギは1×104〜1×106J/m2が好ましい。より好ましくは1×105〜3×105J/m2である。
エネルギ密度・照射エネルギが上記数値範囲よりも小さな値に設定された場合、絶縁部Iの絶縁が不十分になるおそれがある。また、上記数値範囲よりも大きな値に設定された場合、加工痕が目立つようになり、透明タッチパネルや透明電磁波シールドなどの用途では不適当となるおそれがある。
また、スポット径面積Sは、下記式により定義される。
S=S0×D/FL
S0:レンズで集光されるレーザのビーム面積
FL:レンズの焦点距離
D:基礎膜aの表面(上面)と焦点との距離
画像表示領域13に透明導電膜12を形成した後は、図5(b)に示されるように、低抵抗配線パターン形成領域15の絶縁基板11上に、透明導電膜12の導電部Cに電気的に接続する前記配線ライン14を形成する。詳しくは、配線ライン14は、低抵抗配線パターン形成領域15における絶縁基板11上、及び、透明導電膜12の導電部C上の一部(周縁端部)に、ペースト状のAgやCuからなる導電性金属材料を印刷又は蒸着し形成されている。
次いで、図5(c)に示されるように、少なくとも透明導電膜12上に、絶縁性の保護膜(絶縁膜)16を形成する。図示の例では、透明導電膜12及び配線ライン14を覆うように絶縁基板11上の全体に、粘着材17を介してPETフィルム18が設けられて、カバーフィルムとしての保護膜16が構成されている。
一方、本実施形態の構成によれば、絶縁部Iの網状部材3(金属極細繊維4)が空隙5に置き換わるように除去されていて、絶縁部Iと導電部Cとでは互いに化学的組成が異なっている。これにより、絶縁部Iが確実に絶縁されることから、透明導電膜12における電気的特性(性能)が安定するとともに、製品(入力装置)としての信頼性が高められている。
次に、本発明の第2実施形態に係る導電パターン形成基板の製造方法について、図7及び図8を参照して説明する。尚、前述の実施形態と同一部材には同一の符号を付し、その説明を省略する。
第2実施形態の導電パターン形成基板10の製造方法は、下記のとおりである。
図7(a)に示されるように、まず、絶縁基板11上の画像表示領域13及び低抵抗配線パターン形成領域15に、透明基体2内に網状部材3が配置される基礎膜aを形成する。
次いで、図7(b)に示されるように、基礎膜aのうち画像表示領域13に対応する部位にレーザ光Lを照射することにより、前記空隙5を形成するとともに絶縁部Iを形成して、該絶縁部Iと、該絶縁部I以外の部位である導電部Cと、を備えた透明導電膜12とする。尚、この状態で、透明導電膜12は、低抵抗配線パターン形成領域15にも形成されている。
次いで、フォトリソプロセスを用いて、絶縁基板11上の基礎膜a(透明導電膜12)のうち、低抵抗配線パターン形成領域15に対応する部位を除去する。
詳しくは、まず、図7(c)に示されるように、基礎膜a上の画像表示領域13に対応する部位にマスク手段であるレジスト膜50を形成する。
次いで、図8(a)に示されるように、基礎膜aのうち低抵抗配線パターン形成領域15に対応する部位をエッチングにより除去した後、レジスト膜50を除去する。
次いで、図8(b)に示されるように、低抵抗配線パターン形成領域15の絶縁基板11上に、透明導電膜12の導電部Cに電気的に接続するように前記配線ライン14を形成する。
次いで、図8(c)に示されるように、少なくとも透明導電膜12上に、絶縁性の保護膜16を形成する。
次に、本発明の第3実施形態に係る導電パターン形成基板の製造方法について、図9を参照して説明する。尚、前述の実施形態と同一部材には同一の符号を付し、その説明を省略する。
第3実施形態の導電パターン形成基板10の製造方法は、下記のとおりである。
これらの工程により、図9(a)に示されるように、低抵抗配線パターン形成領域15の基礎膜aは除去され、画像表示領域13の基礎膜aが透明導電膜12とされている。
次いで、図9(b)に示されるように、低抵抗配線パターン形成領域15の絶縁基板11上に、透明導電膜12の導電部Cに電気的に接続する配線膜bを形成する。配線膜bは、ペースト状のAg、Al及びCu等からなる導電性金属材料を印刷又は蒸着し形成され、所望の複数の配線ライン14を含むように面状に形成される。
例えば、パルス幅が1〜100n秒のレーザ(YAGレーザ又はYVO4レーザ)では、パルスエネルギ密度1×1010〜1×1012W/m2、単位面積あたりの照射エネルギは1×104〜1×106J/m2が好ましい。
次いで、図9(d)に示されるように、少なくとも透明導電膜12上に、絶縁性の保護膜16を形成する。
従って、低抵抗配線パターン形成領域15の占有面積を縮小することが可能である。或いは、透明導電膜12の導電パターンがより細分化された場合であっても、増加した導電部Cに対応して、所定の前記占有面積内において配線ライン14を容易に増やすことができ、対応が容易である。
例えば、前述の実施形態では、絶縁基板11が透明であることとしたが、絶縁基板11にある程度の透明性を有した着色が施されていても構わない。
特に、YAGレーザやYVO4レーザの基本波など波長が1000nm近辺のレーザを用いるとともに、上記機能層として、アクリル系高分子素材を使用する場合には、外観特性の観点から、レーザ照射後に機能層を設けることが好ましい。
図10(a)〜(c)は、前述した基礎膜形成工程、透明導電膜形成工程、及び、保護膜形成工程をそれぞれ示しており、これらは前述したものと同一である。ここで、図10(d)に示される保護膜形成工程は、図10(c)の変形例であって、この図10(d)においては、前記保護膜16の代わりに、絶縁性の保護膜(絶縁膜)19を用いている。
また、保護膜16、19をハードコート層としても構わない。
3 網状部材
4 金属極細繊維
5 空隙
10 導電パターン形成基板
11 絶縁基板
12 透明導電膜
13 画像表示領域(表示領域)
14 配線ライン
15 低抵抗配線パターン形成領域(配線領域)
16、19 保護膜(絶縁膜)
50 レジスト膜(マスク手段)
a 基礎膜
C 導電部
I 絶縁部
L レーザ光
Claims (5)
- 絶縁基板上に、透明導電膜が形成される表示領域と、配線ラインが形成される配線領域と、を備えた導電パターン形成基板の製造方法であって、
前記透明導電膜には、絶縁性を有する透明基体内に導電性を有する金属からなり、導電性の2次元ネットワークを構成する網状部材が配置される導電部と、前記透明基体内の前記網状部材が除去されることにより形成された空隙が配置される絶縁部と、が設けられており、
前記絶縁基板上の前記表示領域及び前記配線領域に、前記透明基体内に前記網状部材が配置される基礎膜を形成する工程と、
前記基礎膜上の前記表示領域に対応する部位にマスク手段を形成して、前記基礎膜のうち前記配線領域に対応する部位をエッチングにより除去する工程と、
前記基礎膜のうち前記表示領域に対応する部位にレーザ光を照射することにより、前記空隙を形成して、前記透明導電膜とする工程と、
前記配線領域の前記絶縁基板上に、前記透明導電膜の導電部に電気的に接続する前記配線ラインを形成する工程と、を備え、
前記基礎膜のうち前記表示領域に対応する部位にレーザ光を照射することにより、前記空隙を形成して、前記透明導電膜とする工程では、レーザ光として短パルスのパルス状レーザを照射して前記網状部材の金属極細繊維を蒸発させて除去することで、除去される金属極細繊維の相当位置に対応して、空隙を形成することを特徴とする導電パターン形成基板の製造方法。 - 請求項1に記載の導電パターン形成基板の製造方法であって、
少なくとも前記透明導電膜上に、絶縁膜を形成する工程を備えたことを特徴とする導電パターン形成基板の製造方法。 - 請求項1又は2に記載の導電パターン形成基板の製造方法であって、
前記マスク手段として、レジスト膜を用いることを特徴とする導電パターン形成基板の製造方法。 - 絶縁基板上に、透明導電膜が形成される表示領域と、配線ラインが形成される配線領域と、を備えた導電パターン形成基板であって、
前記透明導電膜には、絶縁性を有する透明基体内に導電性を有する金属からなり、導電性の2次元ネットワークを構成する網状部材が配置される導電部と、前記透明基体内の前記網状部材が除去されることにより形成された空隙が配置される絶縁部と、が設けられており、
前記配線ラインは、前記絶縁基板上に導電性金属材料を印刷又は蒸着し形成されているとともに、前記透明導電膜の導電部に電気的に接続され、
前記空隙は、前記透明導電膜の前記絶縁部に対応する部位に、レーザ光として短パルスのパルス状レーザを照射して前記網状部材の金属極細繊維を蒸発させて除去することで、除去される金属極細繊維の相当位置に対応して形成されていることを特徴とする導電パターン形成基板。 - 請求項4に記載の導電パターン形成基板であって、
少なくとも前記透明導電膜上には、絶縁膜が形成されていることを特徴とする導電パターン形成基板。
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