JP5488320B2 - 楕円球体の挙動解析方法 - Google Patents
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Description
このような楕円球体を、例えば玉軸受に用いた場合、一対の軌道輪の間で転動する球体の挙動は真球とは異なる可能性があるため、軸受の性能に対してどのような影響を及ぼすかを解析することが求められている。
また、球体の製造段階においては、一対の研磨円盤の間で球体を研磨する工程が行われるが、この研磨の工程において、円盤の溝形状や円盤による球体の押圧力等の研磨条件を見定めるために、楕円球体がどのような挙動で研磨されていくのかを解析することも求められている。
楕円球体の表面における長軸上の2点に第1及び第2のマーカーを設け、
楕円球体の表面に、当該楕円球体の画像中に第1及び第2のマーカーが含まれない場合に同画像中に少なくとも2つ含まれる複数の他のマーカーを設け、
第1及び第2のマーカーと、複数の他のマーカーとの相対位置についての位置情報を取得し、
楕円球体の画像中に含まれる少なくとも他の2つのマーカーから、前記位置情報を用いて前記第1及び第2のマーカーの位置を求めることを特徴とする。
このように楕円球体の表面に形成された凹部によってマーカーが構成されていると、例えば、研磨によって楕円球体の表面が摩耗した場合でもマーカーが消えてしまうことがない。従って、研磨工程における楕円球体の挙動の解析に好適である。
このような構成によって、楕円球体の画像から各マーカーを容易に識別することができる。
このような構成によって、楕円球体の画像から各マーカーを容易に識別することができる。
図1は、楕円球体を解析対象とした本発明の実施形態に係る解析装置の概略構成図、図2は、楕円球体の撮影部分を拡大して示す図である。この解析装置10は、上下一対の軌道輪12,13の間に配した楕円球体11を解析対象とし、上下一対の軌道輪12,13の間から露出する楕円球体11を撮影する撮影装置14と、この撮影装置14の画像を処理する処理装置15と、を備えている。
撮影装置14は、デジタルカメラやデジタルビデオカメラを用いることができ、図1中のA部の画像を常時又は所定時間毎に撮影する。撮影装置14によって撮影された画像は処理装置15に入力される。
図3は、楕円球体11に設けられたマーカーを示す図である。複数のマーカーM1〜M4は、それぞれ楕円球体11の表面に形成された微小な凹部20によって構成されている。具体的に、複数のマーカーは、単一の凹部20又は複数の凹部20の集合体から構成され、凹部20の数の相違によって識別可能に構成されている。例えば、図3に示す楕円球体11には、4つの凹部20からなるマーカーM4と、3つの凹部20からなるマーカーM3と、一つの凹部20からなるマーカーM1,M2とが形成されている。
マーカーM1〜M4としての凹部20は、例えば、ビッカース硬さやロックウェル硬さを測定する際に形成されたものを利用することが可能である。
そして、本実施形態の解析装置10は、長軸S上のマーカーM1,M2が撮影装置14による画像中に含まれていない場合であっても、少なくとも2つの他のマーカーM3、M4の配置関係を利用して長軸S上のマーカーM1,M2の位置を演算により求めるようになっている。
(II)第2のマーカーM2から第3のマーカーM3までの距離n(第2の位置情報)
(III)第1〜第3のマーカーM1〜M3を通るラインL1と、第3及び第4のマーカーM3,M4を通るラインL2との相対角度θ(第3の位置情報)
そして、実測によって得られた距離m、nから、点M1OM3がなす角度ψmと、点M2OM3がなす角度ψnとを次の式(1)(2)により演算する。
ψn=180n/πr ・・・・(2)
ただし、rは楕円球体11の半径である。
この半径rは、例えば楕円球体11の短径の値や長径と短径の平均値とすることができる。
aX+bY+cZ=0 ・・・・(3)
したがって、式(3)に原点O、マーカーM3,M4の座標を代入することによって、a,b,cの各値を求め、法線ベクトルOFを求めることができる。
eX+fY+gZ=0 ・・・・(4)
したがって、平面P2は、その法線ベクトルOG(e,f,g)を求めることによって取得することができる。
本実施形態では、楕円球体11の表面に、長軸S上の頂点M1,M2を極とする複数本の経線22と緯線23とが設けられている。そして、複数本の経線22が集合する点M1,M2をそれぞれ第1及び第2のマーカーとしている。また、経線22と緯線23とが交差する各点を他のマーカーとする。
他のマーカーの位置を識別可能にするため、本実施形態では、複数の経線22及び緯線23の線種(実線、点線、鎖線等)、太さ、色彩等を相違させることによって、他のマーカーの位置を識別可能に構成している。
なお、マーカーを形成する経線22と緯線23とは、例えば、楕円球体11の表面を薬品処理により変色させることによって設けてもよいし、レーザー等の光学的手段により変色させることによって設けてもよい。
本発明は、玉軸受に使用される転動体の挙動を解析するため、球体の製造段階で行われる研磨工程での球体の挙動を解析するため、その他、球体を使用するあらゆる製品について、球体の挙動を解析するために使用することができる。
そして、本発明の解析装置10を使用して玉軸受の玉(楕円球体)の挙動を解析した場合には、玉の真球度が軸受性能に及ぼす影響を解析することが可能となる。また、本発明の解析装置10を使用して研磨工程中の楕円球体の挙動を解析した場合には、楕円球体がどのように研磨されて真球度を高めていくのかを解析することができ、これにより、楕円球体の押圧条件や研磨盤(軌道輪)の溝形状等、各種の研磨条件を見定めるために役立てることができる
Claims (5)
- 一対の軌道輪の間で転動する楕円球体を撮影し、その画像から当該楕円球体の挙動を解析する楕円球体の挙動解析方法であって、
前記楕円球体の表面における長軸上の2点に、第1及び第2のマーカーを設け、
前記楕円球体の画像中に前記第1及び第2のマーカーが含まれない場合に同画像中に少なくとも2つ含まれる、複数の他のマーカーを楕円球体の表面に複数設け、
前記第1及び第2のマーカーと、前記複数の他のマーカーとの相対位置についての位置情報を取得し、
前記楕円球体の画像中に含まれる少なくとも他の2つのマーカーから、前記位置情報を用いて前記第1及び第2のマーカーの位置を求めることを特徴とする楕円球体の挙動解析方法。 - 楕円球体の画像中に、前記他のマーカーとして第3及び第4のマーカーが含まれている場合に、前記位置情報は、前記第1のマーカーと前記第3のマーカーとの距離についての第1の位置情報と、前記第2のマーカーと前記第3のマーカーとの距離についての第2の位置情報と、前記第3及び第4のマーカーを通るラインと前記第1〜第3のマーカーを通るラインとの相対角度についての第3の位置情報と、を含む請求項1に記載の楕円球体の挙動解析方法。
- 前記マーカーが、楕円球体の表面に形成された凹部により構成されている請求項1又は2に記載の楕円球体の挙動解析方法。
- 前記複数のマーカーが、それぞれ複数の凹部の集合、又は単一の凹部及び複数の凹部の集合から構成され、凹部の数の違いによって互いに識別可能に構成されている請求項3に記載の楕円球体の挙動解析方法。
- 前記複数のマーカーが、互いに異なる形状に形成されている請求項1〜4のいずれかに記載の楕円球体の挙動解析方法。
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