JP5477736B2 - 粒子線照射装置 - Google Patents

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Description

本発明は、医用工学、加速器科学に係り、より詳細には粒子線を照射対象に照射する粒子線照射装置に関する。
従来、粒子線を患者の患部にスポット的に照射するスキャニング照射法では、照射開始から照射終了までの間にビームOFF(照射を停止)することが次の2通りある。
第1に、ビームのエネルギを変える、すなわち違う照射深さに切り換えるスライス切り換え時であり、第2に、例えば呼気時のみビームの照射を行う呼吸同期照射時の呼吸同期ゲートOFFの時(吸気時)である。
従来のスキャニング照射法では、ビームOFF中の線量モニタの出力も実際の線量による線量出力であるとして積算している。
特開2006−87649号公報
ところで、上述の線量の積算法では、ビームに起因するものでない線量モニタから生じる出力、すなわち線量出力でない所謂リーク電流も線量出力として積算してしまっている。
これを回避するためには、ビームOFF中は線量の積算を停止する必要がある。
しかしながら、ビームOFF中だからといって積算をしないことはできない。通常、この照射期間内のビームOFFは、物理的にビームシャッタ(ビーム遮断体)をビームラインに挿入する等してビームを止めるわけではなく、加速器の出射機器を停止させる、若しくは、ビームを偏向させて照射装置および患者にビームを導かないようにするという方法が採られる。
このように、ビームOFF中と言えどもビームが出てきてしまい患者に照射される危険性が無いわけではないため、線量の積算は行う必要がある。もし加速器の出射機器の異常が起こり、ビームOFF中にビームが出てきてしまった場合は、インターロックを作動させ、各所に配置されたビームシャッタなどのビーム停止手段を全てビームが出ない設定とし、照射を中断する必要がある。また、このとき照射してしまった線量がどの程度かを記録し、臨床的に問題があるかないか等の判断材料とする必要がある。
以上の理由から、従来、リーク電流が相対的に無視できる程度にスポット線量を増やす必要がある、即ち総スポット数を少なくする必要があると考えられている。
そこで、リーク電流が無視できる程度に総スポット数を少なくし、かつビームOFF中でも照射量として積算している。
このように、リーク電流を実際の粒子線の出力と見誤って制御してしまうことにより、計画に対して線量不足の領域が生じてしまう。
また、上述の如く、リーク電流の影響を避けるために総スポット数を減少させてしまうと、スポットの分布が粗くなり精細な分布形成が出来なくなってしまうという現象が生じる。特に、照射領域における非照射領域に隣接する境界部である照射領域辺縁部などが問題である。
本発明は上記実状に鑑み、線量不足の領域が発生してしまうことを防ぎつつ、精細な線量分布形成を可能とする粒子線照射装置の提供を目的とする。
上記目的を達成すべく、本発明に関わる粒子線照射装置は、加速器から送られる粒子線を照射対象に照射する粒子線照射装置であって、前記照射対象に照射される粒子線の照射量を測定する線量モニタと、前記粒子線を前記照射対象に照射中の前記粒子線の線量を、前記線量モニタから送信される前記照射量の信号に基づいて、積算する第1のカウンタと、前記粒子線を前記照射対象に照射しないように設定される非照射時の意図せず前記照射対象に照射される前記粒子線の漏れ線量を、前記照射量の信号に基づいて、積算する第2のカウンタとを備え、前記第1のカウンタは、前記照射対象への前記粒子線の照射停止から所定時間、前記線量の積算を継続して前記所定時間の経過後に前記線量の積算を終了し、前記第2のカウンタは、前記照射対象への前記粒子線の照射停止から前記所定時間経過後より前記粒子線の漏れ線量の積算を開始している。
本発明によれば、線量不足の領域が発生してしまうことを防ぎつつ、精細な線量分布形成を可能とする粒子線照射装置を達成することが可能となる。
(a)は、本発明に関わる実施形態のスキャニング照射装置を示す構造概念図であり、(b)は、実施形態のスキャニング照射装置の構成要素間の信号のやり取りを示す関係概念図である。 実施形態のスキャニング照射の処理手順を示す図である。 実施形態の治療計画から導かれる照射パラメータファイルの一例を示す図である。 (a)は、実施形態の通常時の線量モニタの経過時間(横軸)に対する出力(縦軸)を示す図であり、(b)は、実施形態の通常時の線量カウンタの経過時間(横軸)に対する線量を積算する積算線量(縦軸)を示す図であり、(c)は、実施形態の通常時の漏れ線量カウンタの経過時間(横軸)に対する積算線量 (縦軸)を示す図である。 (a)は、実施形態の漏れ線量に異常発生時の線量モニタの経過時間(横軸)に対する出力(縦軸)を示す図であり、(b)は、実施形態の漏れ線量に異常発生時の線量カウンタの経過時間(横軸)に対する線量を積算する積算線量(縦軸)を示す図であり、(c)は、実施形態の漏れ線量に異常発生時の漏れ線量カウンタの経過時間(横軸)に対する積算線量(縦軸)を示す図である。
以下、本発明の実施形態について添付図面を参照して説明する。
図1(a)は、スキャニング照射装置1を示す構造概念図であり、図1(b)は、スキャニング照射装置1の構成要素間の信号のやり取りを示す関係概念図である。
<スキャニング照射装置1の構成>
実施形態のスキャニング照射装置(粒子線照射装置)1は、加速器6から供給される炭素の原子核等の細い粒子線のビームを三次元的にスキャンすることによって、患者Pの腫瘍部(照射対象)P1にスポット毎に照射する装置である。
図1(a)に示すスキャニング照射装置1は、加速器6から取り出された粒子線のビームb1の上下左右に配置されビームb1の水平(X)・鉛直(Y)方向の位置を変更するビーム位置変更手段2と、ビームb1の照射量を測る線量モニタ3と、レンジシフタ(吸収体)を挿入することによりビームb1のエネルギを変化させるエネルギ変更手段4と、これらの各構成要素等を制御することで患者Pの腫瘍部P1に照射野形成を行うための制御装置5(図1(b)参照)とを備え構成されている。
なお、制御装置5は、回路、ソフトウェア等で構成されている。
上記ビーム位置変更手段2は、例えば磁界によりビームb1の水平(X)・鉛直(Y)方向の位置を変更するX・Y方向用スキャニング電磁石2a、2b(図1(a)参照)が用いられる。
上述のスキャニング照射装置1は、患者Pの腫瘍部P1の照射対象位置(スポット位置)においてビームb1のエネルギのピークが現れるように照射する。
図1(b)に示す制御装置5には、腫瘍部P1へのビームb1の照射中に線量モニタ3で計測したビームb1の照射量(線量)を、線量モニタ3から送信される照射量を表す信号に基づき、積算する通常の照射線量カウンタ(第1のカウンタ)C1を設けている。
また、制御装置5には、通常の照射線量カウンタC1に加え、別途、腫瘍部P1へのビームb1の照射を行わないように設定される非照射時の腫瘍部P1への漏れ線量などの線量の測定エラーを防ぐことを目的に、ビームOFF時(非照射時)に線量モニタ3で計測した漏れ線量(照射量)(意図しない線量)を、線量モニタ3から送信される照射量を表す信号に基づき、積算する漏れ線量カウンタ(第2のカウンタ)C2を設けている。
また、制御装置5は、スキャニング照射の各種情報を記憶するためのRAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only memory)等の記憶部5aを有している。
<スキャニング照射装置1によるスキャニング照射の手順>
次に、図1(a)に示すスキャニング照射装置1によるスキャニング照射の手順について、図2に従って説明する。
なお、図2は、スキャニング照射の処理手順を示す図であり、図3は、治療計画から導かれる照射パラメータファイルfの一例を示す図である。
スキャニング照射装置1によるスキャニング照射は、前記したように、制御装置5の制御により、図2に示す手順に従って行われる。
照射に際しては、まず、治療計画からの照射パラメータファイルf(図3参照)を、図1(b)に示す制御装置5の記憶部5aに記憶しておく。
図3に示す照射パラメータファイルfのスポットNo.f1は、スポット位置の番号を表し、Xf2は、ビームb1に垂直な面におけるX軸(水平)方向の座標(mm)を表し、Yf3は、ビームb1に垂直な面におけるX軸(水平)に垂直な軸であるY軸(鉛直)方向の座標(mm)を表している。また、照射パラメータファイルfの照射量f4は、各スポット位置の照射量(Sv/h)を表し、エネルギf5は、各スポット位置の照射深さ(エネルギ)(eV)を表している。
スキャニング照射の手順は、以下の通り行われる。
図2を参照して、図2のS0において、制御装置5(図1(b)参照)がビームON指令を加速器6に送り、照射を開始する。
続いて、図2のS1において、制御装置5が、治療計画に基づく照射パラメータファイルf(図3参照)のエネルギf5に従い、ビームb1の照射深さ、すなわちエネルギを加速器6(図1(b)参照)、エネルギ変更手段4を用いて設定する。
続いて、図2のS2において、制御装置5が、治療計画に基づく照射パラメータファイルf(図3参照)のX(f2)、Y(f3)の座標値に従い、ビーム位置変更手段2(図1(a)参照)であるX・Y方向用スキャニング電磁石2a、2bによって、スキャニング照射するスポット位置を設定する。
続いて、図2のS3において、制御装置5が加速器6等に信号を送り、患者Pの腫瘍部(照射対象)P1に対してビームb1のスキャニング照射を行う。ここで、ビームb1の照射中は、線量モニタ3(図1(a)参照)でビームb1の照射量を測り、線量モニタ3からの照射量を表す信号の出力が制御装置5の照射線量カウンタC1(図1(b)参照)に入力(送信)され、照射線量カウンタC1でその線量(照射量)が積算される。
ここで、照射線量カウンタC1の積算値(積算線量)は、制御装置5において、各スポット位置毎(図3に示す照射パラメータファイルfの各X(f2)の座標、Y(f3)の座標の位置毎)に取得される。
続いて、図2のS4において、制御装置5において、照射線量カウンタC1の積算値から、治療計画に基づく照射パラメータファイルf(図3参照)の照射量f4が、1スポット目(スポットNo.(f1)が1に相当)の照射量に到達した(スポット満了)か否か判定される。
スキャニング照射の線量が照射パラメータファイルfの照射量f4に到達していないと判定した場合(図2のS4でNo)には、図2のS4において、ビームb1の照射を継続しつつ、制御装置5が照射量(線量)が照射パラメータファイルfの照射量f4に到達したか否かの判定を継続する。
一方、図2のS4において、スキャニング照射の線量が照射パラメータファイルfの照射量f4に到達したと判定した場合(図2のS4でYes)には、図2のS5において、制御装置5が、次のスポット位置を照射パラメータファイルfのX(f2)座標、Y(f3)座標によって取得し、移動指令を図1(a)に示すビーム位置変更手段2であるX・Y方向用スキャニング電磁石2a、2bに送り、ビーム位置を変更し、スポット位置切換えを行う。これと同時に、各スポット位置の照射量が満了になると、次のスポットの照射量積算が照射線量カウンタC1で開始される(後記の図4(b)、図5(b)参照)。なお、図2のS5において、照射パラメータファイルfのX(f2)座標、Y(f3)座標が終わり、ビーム位置の変更が行えない場合、何も行わず、図2のS6に移行する。
続いて、図2のS6において、制御装置5において、照射パラメータファイルf(図3参照)に基づき、そのスライス(同エネルギの照射面)が終了したか、すなわち、そのエネルギ(図3のエネルギf5参照)の最後のスポットが満了になったか否か判定される。
スライスが終了しない場合(図2のS6でNo)には、図2のS4に移行する。
これを順次繰り返し、そのエネルギの最後のスポットが満了になったと判定された場合(図2のS6でYes)には、図2のS7において、スライス満了として、制御装置5の制御により、ビームOFFを行う。
続いて、図2のS8において、現在のスライスが最終スライス(最終エネルギ)(図3のエネルギf5参照)か否かが判定される。
現在のスライスが最終スライスでないと判定された場合(図2のS8でNo)には、図2のS1において、制御装置5が照射パラメータファイルf(図3参照)のエネルギf5に従い、加速器6(図1(b)参照)、エネルギ変更手段4に変更指令を送り、スポット照射のエネルギを変更し、図2のS2以下を繰り返す。
一方、図2のS8において、現在のスライスが最終スライスであると判定された場合(図2のS8でYes)には、照射を終了する。
以上が図2に示すスキャニング照射の手順であり、照射対象の腫瘍部P1に照射野形成が実現される。
<漏れ線量を含む線量の計測>
次に、図1(a)に示すスキャニング照射装置1における照射対象(腫瘍部P1)へのビーム(b1)照射時の線量および照射対象へビームb1を照射しない非照射時の漏れ線量の計測について説明する。
スキャニング照射装置1では、ビームb1照射時の線量を、通常の照射中の線量を積算する図1(b)に示す照射線量カウンタC1で積算する一方、ビームb1を照射対象(腫瘍部P1)に照射しない非照射時の漏れ線量を、図1(b)に示す漏れ線量カウンタC2で積算することとしている。このように、これら二つのカウンタC1、C2をビーム(b1)照射時と非照射時との時間で使い分けることで、より正確な漏れ線量(意図しない線量)を取得することとしている。
図2に示すS0の照射開始から照射終了までの間にビームb1をOFFする(ビームb1を照射対象(腫瘍部P1)に照射しない)ことがある。それは、次の2つのケースであり、第1に、図2に示すS1のスライス選択(エネルギ切換え設定)時、第2に、呼吸同期照射時の呼吸同期ゲートがOFFの時(例えば、呼気時に照射が行われるので、吸気時がOFFの時)である。
図4(a)は、線量モニタ3の経過時間(横軸)に対する通常のビームb1の照射時の出力(縦軸)を示す図であり、図4(b)は、照射線量カウンタC1の経過時間(横軸)に対する通常の照射対象(腫瘍部P1)にビームb1を照射中の線量を積算した積算線量(縦軸)を示す図であり、図4(c)は、通常の照射対象(腫瘍部P1)に照射しない非照射時の漏れ線量カウンタC2の経過時間(横軸)に対する線量を積算した積算線量(縦軸)を示す図である。
図1(a)に示すビームb1の照射時には、図1(b)に示す制御装置5から加速器6にビームONの指令がなされ、図4(a)に示すように、線量モニタ3の出力がプラスとなる。
一方、ビームb1の非照射時(照射対象の腫瘍部P1にビームb1を照射しない時)には、図1(b)に示す制御装置5から加速器6にビームOFFの指令がなされ、図4(a)に示すように、線量モニタ3の出力がゼロとなる。例えば、図2に示すS1のスライス選択(切換え)(エネルギ切換え設定)時、若しくは、呼吸同期照射の吸気時などに、制御装置5から加速器6にビームOFF信号を送信する(図4(a)に示す時刻t1)。
ここで、図4(a)に示すように、送信後(例えば、時刻t1後)ある程度の時間照射が続くので、図4(b)に示すように、遅延時間であるディレイd1の間は照射線量カウンタC1で線量の積算を行い、ディレイd1の後に、図4(c)に示すように、漏れ線量カウンタC2を用いて線量モニタ3からの信号を積算するようにしている。
このディレイd1の幅(時間)は加速器6の性能、即ちビーム遮断時間に応じて定める。通常は、約1ms(ミリ秒)程度以下である。このようなディレイd1を設けることでより、照射線量カウンタC1、漏れ線量カウンタC2を用いて、それぞれより正確な線量の測定が可能になる。
図4(c)に示すように、漏れ線量カウンタC2では、このディレイd1の後の時刻t2より、線量モニタ3からの照射量を表す信号から、次のビームON(時刻t3)までの期間(時刻t2〜t3の間)、線量(照射量)を積算する。
その後、時刻t3において、制御装置5(図1(b)参照)が加速器6にビームON信号を送信すると、図4(a)に示すように、照射が開始(図4(a)に示す時刻t3)されるので、図4(c)に示すように、漏れ線量カウンタC2での線量の積算を停止する一方、図4(b)に示すように、通常の線量を積算する照射線量カウンタC1にて線量を積算する。
通常、図4(c)に示す漏れ線量カウンタC2の積算線量は、線量モニタ3からのリーク電流による信号の積算値である。
そこで、このリーク電流による信号の積算値を事前に測定しておき制御装置5の記憶部5aに記憶しておき、該リーク電流による信号の積算値に対して有意に、図4(c)に示す漏れ線量カウンタC2の積算線量が増えた場合は、ビーム出射機器などの異常であると判断して、制御装置5がインターロック信号を出力し、インターロックを作動する制御を行う。
図5(a)は、漏れ線量に異常が発生した場合の経過時間(横軸)に対する線量モニタ3の出力(縦軸)を示す図であり、図5(b)は、漏れ線量に異常が発生した場合の照射線量カウンタC1の経過時間(横軸)に対する照射対象(腫瘍部P1)にビーム照射中の線量を積算した積算線量(縦軸)を示す図であり、図5(c)は、漏れ線量に異常が発生した場合の漏れ線量カウンタC2の経過時間(横軸)に対する積算線量(縦軸)を示す図である。
図5(a)に示す時刻t5において、制御装置5(図1(b)参照)から加速器6にビームOFF信号が送信され、加速器6からの照射が停止される。
図5(c)に示すように、時刻t5からのディレイd2の後、時刻t6から漏れ線量カウンタC2で線量モニタ3からの信号が積算される。
制御装置5の記憶部5aには、制御装置5がインターロックを作動する場合の異常判定基準の積算線量値が記憶されている。図5(c)に示すように、漏れ線量カウンタC2での積算線量が、この異常判定基準の積算線量値に達した場合(図5(a)に示す線量モニタ3の出力(照射量)s1が大きく計測される場合)、制御装置5が、インターロック信号発生器(図示せず)によってインターロック信号を出力し、インターロックを作動させ、スキャニング照射装置1の各所に配置されたビーム停止手段(ビームシャッターなど)を全てビームが出ない設定としたり、加速器6からの粒子線の取り出しを止める等して、ビームb1の照射(図1(a)参照)を中断する。
また、この漏れ線量カウンタC2での積算線量は、通常の線量積算の照射線量カウンタC1と同様に、制御装置5の記憶部5aに記録として残すようにしておく。この記録は、ビーム照射の異常発生時以外には必要がないが、上述のようなビーム照射の異常発生時には誤照射の程度(線量)を判断するために有用である。
<効果>
上記構成によれば、線量不足の領域が発生してしまうことを防ぎつつ、照射対象に対して精細な線量分布形成が可能となる。また、照射対象へのビームb1の照射時の線量を計る通常の線量積算の照射線量カウンタC1と、照射対象へビームb1を照射しない非照射時の漏れ線量を計る漏れ線量カウンタC2との2つのカウンタを備えるので、1つのカウンタの場合に比較してカウンタの故障の確率が低減でき、信頼性の向上が可能である。
1 スキャニング照射装置(粒子線照射装置)
3 線量モニタ
5a 記憶部
6 加速器
b1 ビーム(粒子線)
C1 照射線量カウンタ(第1のカウンタ)
C2 漏れ線量カウンタ(第2のカウンタ)
d1 ディレイ(所定時間)
d2 ディレイ(所定時間)
P1 腫瘍部(照射対象)

Claims (4)

  1. 加速器から送られる粒子線を照射対象に照射する粒子線照射装置であって、
    前記照射対象に照射される粒子線の照射量を測定する線量モニタと、
    前記粒子線を前記照射対象に照射中の前記粒子線の線量を、前記線量モニタから送信される前記照射量の信号に基づいて、積算する第1のカウンタと、
    前記粒子線を前記照射対象に照射しないように設定される非照射時の意図せず前記照射対象に照射される前記粒子線の漏れ線量を、前記照射量の信号に基づいて、積算する第2のカウンタとを
    備え
    前記第1のカウンタは、前記照射対象への前記粒子線の照射停止から所定時間、前記線量の積算を継続して前記所定時間の経過後に前記線量の積算を終了し、
    前記第2のカウンタは、前記照射対象への前記粒子線の照射停止から前記所定時間経過後より前記粒子線の漏れ線量の積算を開始する
    ことを特徴とする粒子線照射装置。
  2. 前記第2のカウンタにより積算される前記非照射時の漏れ線量が所定の異常判定量を超えた場合、インターロックを作動させて、前記照射対象に対しての前記粒子線の照射を遮断する制御を行う制御部を備える
    ことを特徴とする請求項1に記載の粒子線照射装置。
  3. 前記所定の異常判定量は、予め測定された前記非照射時の前記第2のカウンタに入力されるリーク電流を差し引いた量である
    ことを特徴とする請求項2に記載の粒子線照射装置。
  4. 前記第2のカウンタで積算される前記漏れ線量は、記憶部に記憶される
    ことを特徴とする請求項1から請求項3のうちの何れか一項に記載の粒子線照射装置。
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