JP5460342B2 - 固体撮像素子および固体撮像素子の駆動方法 - Google Patents

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本発明は、デジタルカメラ等に用いられる固体撮像素子に関し、特に、MOSイメージセンサの画質改善に関する技術である。
従来のCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサのシャッター方式は、全画素で同時にフォトダイオードの信号電荷を転送領域に転送し、その後順次読み出しを行うグローバルシャッター方式である。そのため、CCDイメージセンサでは、全画素で同時刻の画像を得ることができる。
これに対し、MOS(Metal Oxide Semiconductor)型トランジスタを用いたMOSイメージセンサのシャッター方式は、行走査によりフォトダイオードからの信号読出しを行うローリングシャッター方式である。これまでのMOSイメージセンサにおいては、ローリングシャッターが一般的であり、この点は、グローバルシャッターを基本とするCCDイメージセンサとの主な違いの一つである(例えば、特許文献1)。
図5は、特許文献1に記載の固体撮像素子の動作タイミングを示すタイミングチャートである。この固体撮像素子は、奇数行と偶数行の2セットのブロックを持ち、画素からメモリへの信号転送は複数行ずつブロックに分割し、ブロック毎にリセットゲート駆動と転送ゲート駆動を行い、その後メモリへ順次転送する方式となっている。
例えば、図8の2行目(1)〜(9)のタイミングをみるとPRES2、PSEL2、PTX2、PC0R、PT2が激しく動いている最中にH1、H2、H3、PCHRESも同時に激しく動いている。これは、2行目の画素信号の回路ブロックに含まれる偶数行用のCT群に転送している最中にも同時並行して、1行目の画素データが回路ブロックに含まれる奇数行用のCT群から水平走査されながら読み出される動作である。
また、図8の3行目(1)〜(9)のタイミングになるとPRES3、PSEL3、PTX3、PC0R、PTが激しく動いている最中にH61、H62、H63、PCHRESも同時に激しく動いている。これは、3行目の画素信号の回路ブロックに含まれる奇数行用のCT群に転送している最中にも同時並行して、2行目の画素データが回路ブロックに含まれる偶数行用のCT群から水平走査されながら読み出される動作である。
特開2006−93816号公報
しかしながら、ローリングシャッター方式の固体撮像素子は、画面の行によって撮影時刻が異なる。したがって、ブロック内の先頭行と最終行では、画素信号の転送から読み出しまでの時間が異なるため、移動する物体を撮影したときに、画像が歪むといった現象が生じる。
そこで、本発明は、MOS型固体撮像素子における画像の歪みを軽減した固体撮像素子の駆動方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一形態における固体撮像素子は、行列状に配置され、入射光量に応じた画素信号を出力する複数の画素部と、前記複数の画素部を駆動する駆動信号、および、前記複数の画素部を行単位に選択する選択信号を生成し、前記画素部に行毎に供給する垂直走査回路と、前記複数の画素部の列毎に設けられ、前記画素部から出力される前記画素信号を転送するための列信号線と、前記列信号線毎に設けられ、前記列信号線から転送される前記画素信号を記憶するための複数の記憶部と、前記列信号線毎に設けられ、相関二重検出により、前記記憶部に記憶された前記画素信号からノイズを除去するCDS回路とを備え、各行に供給される前記駆動信号の有効期間の長さは同じであり、前記垂直走査回路は、各駆動信号の有効期間内に、他の行に対する駆動信号の有効期間を開始する。
この構成によれば、垂直走査回路は、各駆動信号の有効期間内に他の行に対する駆動信号の有効期間を開始するので、ある行の駆動パルス期間中に次の行を駆動することにより、複数行に渡り駆動パルスが与えられ画素信号を読み出すことができる。また、駆動信号を所定のタイミングで各行に少しずつ遅らせて供給し、複数の行を同時に駆動するので、画素信号が高速に転送され、行毎のシャッター時間差を小さくし画像歪みを軽減することができる。
ここで、前記画素部は、入射光量に応じた電荷を生成するフォトダイオードと、前記フォトダイオードに接続された転送トランジスタと、前記フォトダイオードから前記転送トランジスタを介して転送された電荷を電圧信号に変換するフローティングディフュージョンと、前記フローティングディフュージョンをリセットするリセットトランジスタと、前記フローティングディフュージョンにゲートが接続され、前記電圧信号および前記フローティングディフュージョンがリセットされたときのリセット信号を前記画素信号として出力する出力トランジスタとを備え、前記駆動信号は、前記リセットトランジスタを駆動するリセットゲート駆動信号を含むようにしてもよい。
また、前記画素部は、入射光量に応じた電荷を生成するフォトダイオードと、前記フォトダイオードに接続された転送トランジスタと、前記フォトダイオードから前記転送トランジスタを介して転送された電荷を電圧信号に変換するフローティングディフュージョンと、前記フローティングディフュージョンをリセットするリセットトランジスタと、前記フローティングディフュージョンにゲートが接続され、前記電圧信号および前記フローティングディフュージョンがリセットされたときのリセット信号を前記画素信号として出力する出力トランジスタとを備え、前記駆動信号は、前記転送トランジスタを駆動する転送ゲート駆動信号を含むようにしてもよい。
この構成によれば、垂直走査回路から駆動信号としてリセットゲート駆動信号および転送ゲート駆動信号の少なくとも一方が生成され、画素部に供給される。したがって、画素部は、リセット信号と画素信号を所定のタイミングで出力して、行毎のシャッター時間差を小さくすることができる。
また、前記垂直走査回路は、一の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給し、他の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給した後に、前記一の行の前記画素部に前記転送ゲート駆動信号を供給するようにしてもよい。
この構成によれば、画素部は、一の行の画素部にリセットゲート駆動信号を供給した後、一の行の画素部に転送ゲート駆動信号を供給する前に、他の行の画素部にリセットゲート駆動信号を供給するので、複数の行を同時に駆動して行毎のシャッター時間差を小さくすることができる。
また、前記垂直走査回路は、前記駆動信号の有効期間の一部で同じ行に対する前記選択信号を供給し、前記画素信号を列信号線に出力させるようにしてもよい。
また、前記垂直走査回路は、前記駆動信号の有効期間の終了直前の所定期間に、同じ行に対する前記選択信号を供給し、前記画素信号を列信号線に出力させるようにしてもよい。
この構成によれば、駆動信号の有効期間の一部で選択信号が画素部に供給されることにより、画素信号を各行の画素部から所定のタイミングで効率よく列信号線に出力することができる。
また、前記列信号線に、異なる行の前記リセット信号と前記電圧信号とが順に出力されるようにしてもよい。
この構成によれば、異なる行の画素部からリセット信号と電圧信号が順に出力されるので、これらの信号をより高速に転送して、行毎のシャッター時間差を小さくすることができる。
また、各列において、一の行の前記画素部から出力された前記リセット信号を一の記憶部に記憶した後に、他の行の前記画素部から出力された前記電圧信号を他の記憶部に記憶するようにしてもよい。
この構成によれば、異なる行の画素部から転送されたリセット信号および電圧信号を、それぞれ効率よく異なる記憶部に記憶して、行毎のシャッター時間差を小さくことができる。
また、前記画素信号を記憶する前記記憶部を選択するメモリ走査回路をさらに備え、前記メモリ走査回路は、前記垂直走査回路と同期して、前記リセット信号および前記電圧信号をそれぞれ記憶させる前記記憶部を選択するようにしてもよい。
この構成によれば、メモリ走査回路が垂直走査回路と同期して駆動するので、画素部から出力された画素信号を効率よく記憶部に記憶して、行毎のシャッター時間差を小さくすることができる。
また、前記列信号線は、前記出力トランジスタとともにソースフォロア回路を構成する負荷トランジスタを備え、前記ソースフォロア回路は、前記複数の画素部からの前記画素信号を前記列信号線に順に出力するようにしてもよい。
また、前記列信号線は、前記出力トランジスタとともに電流増幅型アンプ回路を構成する負荷トランジスタを備え、前記電流増幅型アンプ回路は、前記複数の画素部からの前記画素信号を前記列信号線に順に出力するようにしてもよい。
この構成によれば、列信号線にソースフォロア回路または電流増幅型アンプ回路が設けられているので、画素部から列信号線に効率よく画素信号を出力することができる。
また、前記複数の記憶部は、前記複数の画素部と同数個配置され、前記画素信号は、前記画素信号が出力された前記画素部に対応する前記記憶部に記憶されるようにしてもよい。
この構成によれば、記憶部が画素部と同数個配置され、各記憶部が各画素部とそれぞれ対応しているので、効率よく画素信号を記憶部に記憶することができる。
また、上記課題を達成するために、本発明の一形態における固体撮像素子の駆動方法は、前記固体撮像素子は、行列状に配置され、入射光量に応じた画素信号を出力する複数の画素部と、前記複数の画素部を駆動する駆動信号、および、前記複数の画素部を行単位に選択する選択信号を生成し、前記画素部に行毎に供給する垂直走査回路と、前記複数の画素部の列毎に設けられ、前記画素部から出力される前記画素信号を転送するための列信号線と、前記列信号線毎に設けられ、前記列信号線から転送される前記画素信号を記憶するための複数の記憶部と、前記列信号線毎に設けられ、相関二重検出により、前記記憶部に記憶された前記画素信号からノイズを除去するCDS回路とを備え、各行に供給される前記駆動信号の有効期間の長さは同じであり、前記垂直走査回路は、各駆動信号の有効期間内に、他の行に対する前記駆動信号の有効期間を開始する。
この構成によれば、垂直走査回路は、各駆動信号の有効期間内に他の行に対する駆動信号の有効期間を開始するので、ある行の駆動パルス期間中に次の行を駆動することにより、複数行に渡り駆動パルスが与えられ画素信号を読み出すことができる。また、駆動信号を所定のタイミングで各行に少しずつ遅らせて供給し、複数の行の画素信号を同時に駆動するので、画素信号が高速に転送され、行毎のシャッター時間差を小さくし画像歪みを軽減することができる。
また、前記駆動信号は、前記画素部のリセットトランジスタを駆動するリセットゲート駆動信号と、前記画素部の転送トランジスタを駆動する転送ゲート駆動信号とを含み、前記垂直走査回路は、一の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給し、他の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給した後に、前記一の行の前記画素部に前記転送ゲート駆動信号を供給するようにしてもよい。
この構成によれば、画素部は、一の行の画素部にリセットゲート駆動信号を供給した後、一の行の画素部に転送ゲート駆動信号を供給する前に、他の行の画素部にリセットゲート駆動信号を供給するので、複数の行を同時に駆動して行毎のシャッター時間差を小さくすることができる。
また、前記画素信号は、前記画素部のフローティングディフュージョンにより入射光量に応じた電荷を電圧信号に変換した電圧信号と、前記フローティングディフュージョンをリセットしたときのリセット信号とを含み、前記列信号線に、異なる行の前記リセット信号と前記電圧信号とが順に出力されるようにしてもよい。
この構成によれば、異なる行の画素部からリセット信号と電圧信号が順に出力されるので、これらの信号をより高速に転送して、行毎のシャッター時間差を小さくすることができる。
本発明にかかる固体撮像素子の駆動方法によれば、MOS型固体撮像素子における画像の歪みを軽減することができる。
本発明にかかる固体撮像素子の構成を示す概略図 固体撮像素子の構成を示す回路図 固体撮像素子の駆動タイミングを示す図 固体撮像素子の駆動タイミングを示す図 固体撮像素子の駆動タイミングを示す図 本発明の変形例にかかる固体撮像素子の構成を示す回路図 本発明の変形例にかかる固体撮像素子のバッファ回路の構成を示す回路図 従来の固体撮像素子の駆動タイミングを示す図
以下、本発明の実施の形態について、デジタルカメラに代表されるMOSイメージセンサを例にとり、図面を参照しながら説明する。なお、本発明について、以下の実施の形態および添付の図面を用いて説明を行うが、これは例示を目的としており、本発明がこれらに限定されることを意図しない。
本実施の形態における固体撮像素子は、行列状に配置され入射光量に応じた画素信号を出力する複数の画素部と、複数の画素部を駆動する駆動信号および複数の画素部を行単位に選択する選択信号を生成し画素部に行毎に供給する垂直走査回路と、複数の画素部の列毎に設けられ画素部から出力される画素信号を転送するための列信号線と、列信号線毎に設けられ列信号線から転送される画素信号を記憶するための複数の記憶部と、列信号線毎に設けられ相関二重検出により記憶部に記憶された前記画素信号からノイズを除去するCDS回路とを備え、各行に供給される駆動信号の有効期間の長さは同じであり、垂直走査回路は各駆動信号の有効期間内に他の行に対する駆動信号の有効期間を開始する固体撮像素子について説明する。この構成によれば、画素信号が高速に転送され、行毎のシャッター時間差を小さくし画像歪みを軽減することができる。
図1は、本発明における固体撮像素子としてのMOSイメージセンサ1の構成を示している。図1に示すように、MOSイメージセンサ1は、画素アレイ部2と、カラムアンプ部3と、メモリアレイ部4と、CDS回路部5と、水平走査回路6と、垂直走査回路7と、メモリ走査回路8とを備えている。
画素アレイ部2は、複数の画素部20を含む。カラムアンプ部3は、複数のカラムアンプ30を含む。メモリアレイ部4は、複数の記憶部40を含む。また、CDS回路部5は、複数のCDS回路50と、選択トランジスタ12とを含む。
また、MOSイメージセンサ1は、各列に第1列信号線9と、CDS回路50の入力線である第2列信号線10と、CDS回路50の出力線である第3列信号線11と、列選択信号線13と、出力信号線14とを備えている。なお、図1では、これらの線を1列分についてのみ示している。
画素部20から出力された画素信号は、第1列信号線9を介してカラムアンプ30および記憶部40に搬送される。また、記憶部40から出力された信号は、第2列信号線10を介してCDS回路50に入力される。CDS回路50から出力された信号は、選択トランジスタ12に搬送される。また、水平走査回路6から、列選択信号線13を介して選択トランジスタ12に駆動信号が供給される。
図1に示されるMOSイメージセンサ1の詳細な構成を図2に示す。
図2において、画素部20は、フォトダイオード21と、転送トランジスタ22と、リセットトランジスタ23と、出力トランジスタ24と、選択トランジスタ25とを備え、フォトダイオード21で光信号を光電変換し電気信号である画素信号を得る。
詳細には、フォトダイオード21は入射光量に応じた電荷を生成する。フォトダイオード21のアノードは接地され、カソードは転送トランジスタ22のドレインに接続される。
転送トランジスタ22のゲート端子は、図1における垂直走査回路7に接続され、転送ゲート駆動信号TRANが供給される。また、転送トランジスタ22のソースは、リセットトランジスタ23のソースおよび出力トランジスタ24のゲートに接続され、この領域はフローティングディフュージョン26と呼ばれる拡散容量を形成する。フローティングディフュージョン26はフォトダイオード21から転送トランジスタ22を介して転送された電荷を電圧信号に変換する。
リセットトランジスタ23のドレインは、電源VRSTに接続され、ゲート端子は図1における垂直走査回路7に接続されている。リセットトランジスタ23には、リセットゲート駆動信号RESETが供給され、フローティングディフュージョン26に転送された電荷をリセットする。
出力トランジスタ24は、フローティングディフュージョン26にゲートが接続され、電圧信号およびフローティングディフュージョンがリセットされたときのリセット信号を画素信号として出力する。
ここで、第1列信号線9に接続された負荷トランジスタ27は、出力トランジスタ24とともにソースフォロア回路28を構成し、画素部20からの画素信号を第1列信号線9に順に出力する。負荷トランジスタ27のゲートはLG1に接続され、DCバイアスされている。
選択トランジスタ25は、そのゲートが垂直走査回路7に接続され、垂直走査回路7から出力される選択信号OEに応じて導通または非導通となり、導通している期間は、出力トランジスタ24からの出力を第1列信号線9に出力する。
また、カラムアンプ30は、画素部20から第1列信号線9に出力された画素信号を増幅して記憶部40へ出力する。
また、記憶部40は、各画素部20に対応して設けられ、画素部20のフローティングディフュージョン26から出力された電圧信号およびリセット信号を記憶する。つまり、その各々はリセット信号用書込みトランジスタ41と、リセット信号用キャパシタ42と、電圧信号用書込みトランジスタ43と、電圧信号用キャパシタ44と、リセット信号用読出しトランジスタ45と、電圧信号用読み出しトランジスタ46と、選択トランジスタ47と、出力トランジスタ48とを備えている。なお、リセット信号用書込みトランジスタ41、電圧信号用書込みトランジスタ43、リセット信号用読出しトランジスタ45、電圧信号用読み出しトランジスタ46のゲートは、メモリ走査回路8に接続されている。
第2列信号線10に接続された負荷トランジスタ49は、負荷トランジスタ27と同様に、出力トランジスタ48とともにソースフォロア回路29を構成する。負荷トランジスタ49のゲートはLG2に接続され、DCバイアスされている。
CDS回路50は、容量51、52と、MOSトランジスタ53とで構成されている。第2列信号線10は、容量51の第1の端子に接続され、容量51の第2の端子は容量52の第1の端子とMOSトランジスタ53のドレインとに接続されている。容量52の第2の端子は接地されている。また、MOSトランジスタ53のゲートは端子VGに、ソースは端子VREFにそれぞれ接続されている。端子VREFは基準電圧Vrefに設定されている。このような構成により、CDS回路50は、記憶部40からフレーム単位で出力された電圧信号およびリセット信号を相関二重検出し、固定パターンノイズを除去して、画素部20のフォトダイオード21で検出された電圧信号に応じた出力信号を第3列信号線11に出力する。
また、CDS回路50の接続点Mは、図1に示す選択トランジスタ12に接続されている。選択トランジスタ12は、列選択信号線13を介して水平走査回路6から出力される信号に従って導通または非導通となり、選択トランジスタ12が導通している期間に、接続点Mの差電圧が出力信号線14へ出力される。
次に、MOSイメージセンサ1の基本動作の一具体例を図3に示す。
図3は、画素アレイ部2における第m行から第m+3行までに配置された各画素部20に対して、垂直走査回路7から供給されるリセットゲート駆動信号RESETおよび転送ゲート駆動信号TRANの供給タイミングの一例を示すタイミングチャートである。
各行のリセットトランジスタ23のゲートおよび転送トランジスタ22のゲートには、駆動信号であるリセットゲート駆動信号RESETおよび転送ゲート駆動信号TRANがそれぞれ供給される。図3に示すように、リセットゲート駆動信号RESETおよび転送ゲート駆動信号TRANは、所定期間Highレベルの信号を供給した後、Lowレベルの信号を供給する。なお、本実施の形態では、上記したHighレベルの信号が供給される期間を有効期間といい、リセットゲート駆動信号RESETおよび転送ゲート駆動信号TRANの有効期間は同一である。
また、リセットゲート駆動信号RESETの有効期間の終了直前の所定期間には、画素部20のフローティングディフュージョン26のリセット信号が記憶部40に転送される転送期間が設けられている。また、転送ゲート駆動信号TRANの有効期間の終了直前の所定期間には、画素部20のフローティングディフュージョン26の電圧信号が記憶部40に転送される転送期間が設けられている。
また、図3に示すように、例えば、第m+1行のリセットゲート駆動信号RESETの有効期間内に、第m行の転送ゲート駆動信号TRANの供給が開始され、第m−3行(図示せず)の転送ゲート駆動信号TRANの有効期間内に、第m+3行のリセットゲート駆動信号RESETの供給が開始される。つまり、一の行の画素部20においてリセット信号または電圧信号がフローティングディフュージョン26に転送されている間に、他の行に転送ゲート駆動信号TRANまたはRESETの供給が開始され、複数の行の画素部20においてリセット信号または電圧信号がフローティングディフュージョン26に転送される。この動作は、画素アレイ部2の全ての行について、例えば先頭の行から最終の行まで順に行われる。
図4は、第m行に供給されるリセットゲート駆動信号RESET、転送ゲート駆動信号TRAN、選択信号OE、リセット書込み信号WR、電圧書込み信号WS、メモリ選択信号RD、リセット読出し信号RR、電圧読出し信号RSの供給タイミングを示すタイミングチャートである。
図4に示すように、第m行のリセットゲート駆動信号RESETの転送期間には、垂直走査回路7は、第m行の画素部20の選択トランジスタ25のゲートに選択信号OEを供給し、選択トランジスタ25をオンにする。同時に、メモリ走査回路8は、第m行の画素部20に対応する記憶部40のリセット信号用書込みトランジスタ41のゲートへリセット書込み信号WRを供給し、リセット信号用書込みトランジスタ41オンにする。これにより、第m行の画素部20のフローティングディフュージョン26のリセット信号は、第1列信号線9に出力され、第m行の画素部20に対応する記憶部40のリセット信号用キャパシタ42に記憶される。
また、転送ゲート駆動信号TRANの転送期間には、垂直走査回路7は、第m行の画素部20の選択トランジスタ25のゲートに選択信号OEを供給し、選択トランジスタ25をオンにする。同時に、メモリ走査回路8は、第m行の画素部20に対応する記憶部40の電圧信号用書込みトランジスタ43のゲートへ電圧書込み信号WSを供給し、電圧信号用書込みトランジスタ43をオンにする。これにより、フォトダイオード21から転送された電荷を保持するフローティングディフュージョン26の電圧信号は、第1列信号線9に出力され、第m行の画素部20に対応する記憶部40の電圧信号用キャパシタ44に記憶される。
このような動作により、第1列信号線9には、図3および図4に示すように、第m行における画素部20のリセット信号Rm→第m行からn行(図4では、n=3)の間隔をおいた第m−n行における画素部20の電圧信号Sm−n→第m+1行における画素部20のリセット信号Rm+1→第m+1行からn行の間隔をおいた第m+1−n行における画素部20の電圧信号Sm+1−n→・・・という順に、異なる行のリセット信号と電圧信号が順に出力され、記憶部40に記憶される。
その後、第m行について、メモリ走査回路8は、記憶部40の選択トランジスタ47のゲートへメモリ選択信号RDを供給し、選択トランジスタ47をオンにし、リセット信号用読出しトランジスタ45のゲートへリセット読出し信号RRを供給し、リセット信号用読出しトランジスタ45をオンにする。これにより、図4に示すように、リセット信号用キャパシタ42に記憶されていたリセット信号Rmは、第2列信号線10に出力される。
続けて、メモリ走査回路8は、記憶部40の電圧信号用読出しトランジスタ46のゲートへ電圧読出し信号RSを供給し、電圧信号用読出しトランジスタ46をオンにする。これにより、リセット信号用キャパシタ42に記憶されていた電圧信号Sm+3−n(n=3)が、第2列信号線10に出力される。
その後、第2列信号線10に出力されたリセット信号Rm、電圧信号Sm+3−n(n=3)は、CDS回路50により相関二重検出され、画素部20のフォトダイオード21の入射光量に応じた出力信号Dm+3−n(n=3)、つまり、Dmが出力される。
なお、第m行以外のその他の行についても、それぞれ同様の動作である。
また、図5は、第m−4行から第m+3行までに配置された各画素部20に対して垂直走査回路7から供給されるリセットゲート駆動信号RESETおよび転送ゲート駆動信号TRANの供給タイミングを示すタイミングチャートである。以下、図5においてn=3としたときの、MOSイメージセンサ1の基本動作の詳細を説明する。
(1)時刻t1
垂直走査回路7は、第m行の画素部20のリセットトランジスタ23のゲートにリセットゲート駆動信号RESETの有効期間を開始する。この信号により、リセットトランジスタ23がオンになり、第m行の画素部20のフローティングディフュージョン26のリセットが開始される。
(2)時刻t2
垂直走査回路7は、第m−3行の画素部20の転送トランジスタ22のゲートに転送ゲート駆動信号TRANの有効期間を開始する。この信号により、転送トランジスタ22がオンになり、第m−3行の画素部20のフォトダイオード21からフローティングディフュージョン26に電荷の転送が開始される。
(3)時刻t3
垂直走査回路7は、第m+1行の画素部20のリセットトランジスタ23にリセットゲート駆動信号RESETの有効期間を開始する。この信号により、第m+1行の画素部20のリセットトランジスタ23がオンになり、第m+1行の画素部20のフローティングディフュージョン26のリセットが開始される。
(4)時刻t4
垂直走査回路7は、第m−2行の画素部20の転送トランジスタ22のゲートに転送ゲート駆動信号TRANの有効期間を開始する。この信号により、転送トランジスタ22がオンになり、第m−2行の画素部20のフォトダイオード21からフローティングディフュージョン26に電荷の転送が開始される。
(5)時刻t5
垂直走査回路7は、図4に示したように、第m行の画素部20の選択トランジスタ25に選択信号OEを供給し、選択トランジスタ25をオンにし、記憶部40へリセット信号の転送を開始する。同時に、メモリ走査回路8は、第m行の画素部20に対応する記憶部40のリセット信号用書込みトランジスタ41へリセット書込み信号WRを供給し、リセット信号用書込みトランジスタ41オンにする。これにより、時刻t1でリセットされた第m行の画素部20のフローティングディフュージョン26のリセット信号Rmは、第1列信号線9に出力され、第m行の画素部20に対応する記憶部40のリセット信号用キャパシタ42に記憶される。
また、t5からt6の期間に、垂直走査回路7は、第m−1行に転送ゲート駆動信号TRANの有効期間を開始する。
(6)時刻t6
垂直走査回路7は、図4に示したように、第m−3行の画素部20の選択トランジスタ25に選択信号OEを供給し、選択トランジスタ25をオンにし、記憶部40へ電圧信号の転送を開始する。同時に、メモリ走査回路8は、第m−3行の画素部20に対応する記憶部40の電圧信号用書込みトランジスタ43へ電圧書込み信号WSを供給し、電圧信号用書込みトランジスタ43をオンにする。これにより、時刻t2においてフォトダイオード21からフローティングディフュージョン26に転送された電荷に応じた電圧信号Sm−3は、第1列信号線9に出力され、第m−3行の画素部20に対応する記憶部40の電圧信号用キャパシタ44に記憶される。
また、t6からt7の期間に、垂直走査回路7は、第m+3行にリセットゲート駆動信号RESETの有効期間を開始する。
(7)時刻t7
垂直走査回路7は、図4に示したように、第m+1行の画素部20の選択トランジスタ25に選択信号OEを供給し、選択トランジスタ25をオンにし、記憶部40へリセット信号の転送を開始する。同時に、メモリ走査回路8は、第m+1行の画素部20に対応する記憶部40のリセット信号用書込みトランジスタ41へリセット書込み信号WRを供給し、リセット信号用書込みトランジスタ41をオンにする。これにより、時刻t3でリセットされた第m+1行の画素部20のフローティングディフュージョン26のリセット信号Rm+1は、第1列信号線9に出力され、第m+1行の画素部20に対応する記憶部40のリセット信号用キャパシタ42に記憶される。
また、t7からt8の期間に、垂直走査回路7は、第m行に転送ゲート駆動信号TRANの有効期間を開始する。
(8)時刻t8
垂直走査回路7は、図4に示したように、第m−2行の画素部20の選択トランジスタ25に選択信号OEを供給し、選択トランジスタ25をオンにし、記憶部40へ電圧信号の転送を開始する。同時に、メモリ走査回路8は、第m−2行の画素部20に対応する記憶部40の電圧信号用書込みトランジスタ43へ電圧書込み信号WSを供給し、電圧信号用書込みトランジスタ43をオンにする。これにより、時刻t4においてフォトダイオード21からフローティングディフュージョン26に転送された電荷に応じた電圧信号Sm−2は、第1列信号線9に出力され、第m−2行の画素部20に対応する記憶部40の電圧信号用キャパシタ44に記憶される。
また、t8からt9(図示せず)の期間に、垂直走査回路7は、第m+4行(図示せず)に転送ゲート駆動信号TRANの有効期間を開始する。
このような読出し動作を繰り返すことにより、第m行のリセット信号Rm→第m−3行の電圧信号Sm−3→第m+1行のリセット信号Rm+1→第m−2行の電圧信号Sm−2→第m+2行のリセット信号Rm+2→・・・が順に列信号線に出力される。つまり、第m行のリセット信号Rm→第m−n行の電圧信号Sm−n→第m+1行のリセット信号Rm+1→第m−(n−1)行の電圧信号Sm−(n−1)→第m+2行のリセット信号Rm+2→・・・が順次列信号線に出力される。さらに、それぞれの画素部20に対応する記憶部40にこれらのリセット信号、電圧信号が記憶され、後に記憶部40からフレーム単位でこれらの信号を読み出すことになる。具体的には、各記憶部40のリセット信号用読出しトランジスタ45、電圧信号用読出しトランジスタ46、選択トランジスタ47により、CDS回路50にリセット信号用キャパシタ42、電圧信号用キャパシタ44の信号レベルを転送し、固定パターンノイズが除去されて、各画素部20の画素信号が得られる。
これにより、例えば、図5に示したt5からt6の期間では、第m−3行から第m+2行までの6行が、転送ゲート駆動信号TRANまたはリセットゲート駆動信号RESETにより同時に駆動されている状態となっている。
他方、従来のMOSイメージセンサでは画素部から一行分の情報を一括してCDS回路に読出した後に、水平転送を行い一行分の画素信号を出力してから次の行の画素信号の読み出しをしているため、一行毎に(一行の画素数)×(転送レート)分の時間が必要となり、一画面分の読み読出しを行うのに相当の時間がかかる。そのため一行目と最後の行ではフレームレートに相当する時刻のズレが生じるため、動きのあるものを撮影したりすると歪んで見える。
これに対し、本MOSイメージセンサでは、上述の通り、読出しの際には、ある行の駆動期間中に他の行の駆動が開始され、複数行に渡り駆動信号が供給されることで、メモリアレイ部4に一画面分の信号を高速に転送し、そして、その後記憶部40の情報を読み出すことで、信号の出力転送時間に寄らず、ほぼ同時刻のズレの少ない画像を得ることが可能となり、ローリングシャッターによる画像歪を低減することができる。
また、上述の読出し方式によると、フォトダイオード21からフローティングディフュージョン26への電荷転送から、フローティングディフュージョン26からの信号読出しまでの間隔が一定となるので、従来技術における各画素部で上記間隔が異なることに基づくノイズ発生量のバラつきという問題点を解消することができる。
なお、メモリアレイ部4に配置される記憶部40は、画素部20の数だけ配置してもよいし、各列に少なくとも同時に駆動される行数分の記憶部40を備えていればよい。例えば、図5に示した駆動方法(n=3)の場合には、各列に少なくとも6つの記憶部を備えていればよい。
(変形例)
本発明における実施の形態の変形例について説明する。本変形例では、MOSイメージセンサ1が、負荷トランジスタ27を利用したソースフォロア回路ではなく、電流増幅型アンプ回路を用いている点であり、これ以外は上記した実施の形態と同様である。
図6は、本変形例におけるMOSイメージセンサ1の構成を示す回路図である。
図6に示すように、本変形例におけるMOSイメージセンサ1は、画素部20と、カラムアンプ30と、記憶部40と、CDS回路50とを備え、さらに電流増幅型アンプ回路60を備えている。
電流増幅型アンプ回路60は、負荷トランジスタ66、67、68、69を備えている。負荷トランジスタ66、67のドレインは電源VDDに接続されている。負荷トランジスタ66、67のゲートは共通接続され、負荷トランジスタ66のソースに接続されている。負荷トランジスタ66のソースは、共通信号線62に接続される。
負荷トランジスタ68のドレインとゲートは、負荷トランジスタ67のソースに共通に接続され、第1列信号線9およびカラムアンプ30を介して記憶部40に接続されている。負荷トランジスタ68のソースは、共通信号線61に接続される。
負荷トランジスタ69のドレインは、共通信号線61に接続され、ソースは接地されている。また、ゲートはLG1に接続され、DCバイアスされている。
このとき、MOSイメージセンサ1は、等価的に図7に示すバッファ回路として動作する。画素部20の出力トランジスタ24が、図7に示すバッファ回路の入力トランジスタとして機能する。
図6の共通信号線62は、図7の回路部分Gに相当し、バッファ回路の入力端子であるフローティングディフュージョン26に大きい振幅の信号電圧が入力されても、共通信号線62に相当する回路部分Gの電圧振幅は小さく、共通信号線62の浮遊容量の影響が少なくなり、高速動作が可能となる。すなわち、出力トランジスタ24に対応するフローティングディフュージョン26の初期化電圧は高速に記憶部40に転送される。
このように、MOSイメージセンサ1の構成を、図6に示すような電流増幅型アンプ回路60を用いた構成とすることにより、画素信号の記憶部40への高速な転送動作が可能となる。
画素部20から記憶部40に情報を転送する際に、図2に示したようなソースフォロア回路28では出力が安定するまでに時間がかかるため、高速転送にあまり適していない。そこで、図6に示すように、電流増幅型アンプ回路60を用いれば、第1列信号線9の振幅がソースフォロア型より小さくなるため、高速に出力電圧を安定化することが可能となる。
なお、本発明は、上記した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変形を行ってもよい。
例えば、同時に駆動される画素の行数は、上記した実施の形態に示した例に限らず、適宜変更してもよい。
また、記憶部は、画素部と同数だけ配置してもよいし、各列に少なくとも同時に駆動される行数分の記憶部を備えていればよい。
また、本発明にかかる固体撮像素子には、上記実施の形態における任意の構成要素を組み合わせて実現される別の実施の形態や、実施の形態に対して本発明の主旨を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例や、本発明にかかる固体撮像素子を備えた各種デバイスなども本発明に含まれる。例えば、本発明にかかる固体撮像素子を備えたムービーカメラも本発明に含まれる。
本発明にかかる固体撮像素子は、MOSイメージセンサ特有のローリングシャッターによるデジタル一眼レフカメラ、高級コンパクトカメラなど高画質、高機能が求められる撮像機器向けイメージセンサとして有用である。
1 MOSイメージセンサ(固体撮像素子)
7 垂直走査回路
8 メモリ走査回路
9 第1列信号線(列信号線)
10 第2列信号線(列信号線)
11 第3列信号線(列信号線)
12、25、47 選択トランジスタ
20 画素部
21 フォトダイオード
22 転送トランジスタ
23 リセットトランジスタ
24、48 出力トランジスタ
26 フローティングディフュージョン
27、49、66、67、68、69 負荷トランジスタ
28、29 ソースフォロア回路
40 記憶部
50 CDS回路
60 電流増幅型アンプ回路
61、62 共通信号線(列信号線)
OE 選択信号
RESET リセットゲート駆動信号
TRAN 転送ゲート駆動信号

Claims (12)

  1. 行列状に配置され、入射光量に応じた画素信号を出力する複数の画素部と、
    前記複数の画素部を駆動する駆動信号、および、前記複数の画素部を行単位に選択する選択信号を生成し、前記画素部に行毎に供給する垂直走査回路と、
    前記複数の画素部の列毎に設けられ、前記画素部から出力される前記画素信号を転送するための列信号線と、
    前記列信号線毎に設けられ、前記列信号線から転送される前記画素信号を記憶するための複数の記憶部と、
    前記列信号線毎に設けられ、相関二重検出により、前記記憶部に記憶された前記画素信号からノイズを除去するCDS回路とを備え、
    前記画素部は、
    入射光量に応じた電荷を生成するフォトダイオードと、
    前記フォトダイオードに接続された転送トランジスタと、
    前記フォトダイオードから前記転送トランジスタを介して転送された電荷を電圧信号に変換するフローティングディフュージョンと、
    前記フローティングディフュージョンをリセットするリセットトランジスタと、
    前記フローティングディフュージョンにゲートが接続され、前記電圧信号および前記フローティングディフュージョンがリセットされたときのリセット信号を前記画素信号として出力する出力トランジスタとを備え、
    各行に供給される前記駆動信号の有効期間の長さは同じであり、
    前記垂直走査回路は、各駆動信号の有効期間内に、他の行に対する駆動信号の有効期間を開始し、
    前記列信号線に、異なる行の前記リセット信号と前記電圧信号とが一行分ずつ交互に出力される
    固体撮像素子。
  2. 記駆動信号は、前記リセットトランジスタを駆動するリセットゲート駆動信号、または、前記転送トランジスタを駆動する転送ゲート駆動信号を含む
    請求項1に記載の固体撮像素子。
  3. 前記垂直走査回路は、
    一の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給し、他の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給した後に、前記一の行の前記画素部に前記転送ゲート駆動信号を供給する
    請求項に記載の固体撮像素子。
  4. 前記垂直走査回路は、前記駆動信号の有効期間の一部で同じ行に対する前記選択信号を供給し、前記画素信号を列信号線に出力させる
    請求項1〜のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  5. 前記垂直走査回路は、前記駆動信号の有効期間の終了直前の所定期間に、同じ行に対する前記選択信号を供給し、前記画素信号を列信号線に出力させる
    請求項1〜のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  6. 各列において、
    一の行の前記画素部から出力された前記リセット信号を一の記憶部に記憶した後に、
    他の行の前記画素部から出力された前記電圧信号を他の記憶部に記憶する
    請求項のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  7. 前記画素信号を記憶する前記記憶部を選択するメモリ走査回路をさらに備え、
    前記メモリ走査回路は、前記垂直走査回路と同期して、前記リセット信号および前記電圧信号をそれぞれ記憶させる前記記憶部を選択する
    請求項のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  8. 前記列信号線は、前記出力トランジスタとともにソースフォロア回路を構成する負荷トランジスタを備え、
    前記ソースフォロア回路は、前記複数の画素部からの前記画素信号を前記列信号線に順に出力する
    請求項のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  9. 前記列信号線は、前記出力トランジスタとともに電流増幅型アンプ回路を構成する負荷トランジスタを備え、
    前記電流増幅型アンプ回路は、前記複数の画素部からの前記画素信号を前記列信号線に順に出力する
    請求項のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  10. 前記複数の記憶部は、前記複数の画素部と同数個配置され、
    前記画素信号は、前記画素信号が出力された前記画素部に対応する前記記憶部に記憶される
    請求項1〜のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  11. 固体撮像素子の駆動方法であって、
    前記固体撮像素子は、
    行列状に配置され、入射光量に応じた画素信号を出力する複数の画素部と、
    前記複数の画素部を駆動する駆動信号、および、前記複数の画素部を行単位に選択する選択信号を生成し、前記画素部に行毎に供給する垂直走査回路と、
    前記複数の画素部の列毎に設けられ、前記画素部から出力される前記画素信号を転送するための列信号線と、
    前記列信号線毎に設けられ、前記列信号線から転送される前記画素信号を記憶するための複数の記憶部と、
    前記列信号線毎に設けられ、相関二重検出により、前記記憶部に記憶された前記画素信号からノイズを除去するCDS回路とを備え、
    各行に供給される前記駆動信号の有効期間の長さは同じであり、
    前記垂直走査回路は、各駆動信号の有効期間内に、他の行に対する前記駆動信号の有効期間を開始し、
    前記画素信号は、前記画素部のフローティングディフュージョンにより入射光量に応じた電荷を電圧信号に変換した電圧信号と、前記フローティングディフュージョンをリセットしたときのリセット信号とを含み、
    前記列信号線に、異なる行の前記リセット信号と前記電圧信号とが一行分ずつ交互に出力される
    固体撮像素子の駆動方法。
  12. 前記駆動信号は、前記画素部のリセットトランジスタを駆動するリセットゲート駆動信号と、前記画素部の転送トランジスタを駆動する転送ゲート駆動信号とを含み、
    前記垂直走査回路は、一の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給し、他の行の前記画素部に前記リセットゲート駆動信号を供給した後に、前記一の行の前記画素部に前記転送ゲート駆動信号を供給する
    請求項11に記載の固体撮像素子の駆動方法。
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