JP5426459B2 - マイクロメータ - Google Patents

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Description

本発明は、スピンドルの軸方向の変位量から被測定物の寸法等を測定するマイクロメータに関する。
スピンドルの軸方向の変位量から被測定物の寸法等を測定するマイクロメータにおいて、片手操作を容易にした定圧機構を備えたものが知られている(特許文献1参照)。
これは、本体と、この本体に固定された固定スリーブと、この固定スリーブに螺合され軸方向へ進退されるスピンドルと、固定スリーブの外周に回転可能に装着され外端部がスピンドルの外端部に連結されたシンブルと、このシンブルの外周からスピンドルの外端にかけて被嵌された操作スリーブと、この操作スリーブの外端とスピンドルの外端との間に配置され、スピンドルに一定以上の負荷がかかったときにスピンドルに対して操作スリーブを空転させる定圧機構とを備える構造である。
このような構成のマイクロメータにおいて、片手操作する場合、片手(中指、薬指、小指)で本体を持ちながら、その片手の親指と人差し指とで操作スリーブを回転させる。すると、操作スリーブの回転が定圧機構を介してスピンドルに伝達されるから、スピンドルが進出される。スピンドルの先端が被測定物に当接し、スピンドルに一定以上の負荷がかかると、定圧機構が作動し、操作スリーブが空転されるから、被測定物に対して略一定の測定力で測定を行える。
特開2001−141402号公報
ところが、上述した構造のマイクロメータでは、片手操作を有利にするため、シンブルを軸として操作スリーブが面接触して回転する構造になっている。
このような構造のため、操作スリーブを回転させると、定圧機構で発生する測定力以外にも、操作スリーブとシンブルとの摩擦抵抗により発生する回転力がシンブルを介してスピンドルに伝達される。特に、片手操作により操作スリーブを回転させる際、操作スリーブの軸に対して斜めの力が加わりやすいため、操作スリーブとシンブルとの摩擦抵抗が増大し、これにより発生する回転力がシンブルを介してスピンドルに伝達されやすい。すると、測定力がばらつき、その結果、測定値がばらつく。
本発明の目的は、測定値のばらつきの要因を排除し、繰り返し精度を向上させることができるマイクロメータを提供することにある。
本発明のマイクロメータは、本体に固定された固定スリーブと、この固定スリーブに螺合され軸方向へ進退されるスピンドルと、前記固定スリーブの外周に回転可能に被嵌されるとともに外端が前記スピンドルに連結されたシンブルと、このシンブルの外周から前記スピンドルの外端にかけて被嵌され前記シンブルに対して回転可能な操作スリーブと、この操作スリーブと前記スピンドルとの間に配置され、前記操作スリーブの回転を前記スピンドルへ伝達するとともに、前記スピンドルに一定以上の負荷がかかったときに前記操作スリーブを前記スピンドルに対して空転させる定圧機構とを備えたマイクロメータにおいて、前記シンブルと前記操作スリーブとの間には、摩擦低減部材が配置されている、ことを特徴とする。
このような構成によれば、操作スリーブを回転させると、その操作スリーブの回転が定圧機構に伝達される。スピンドルにかかる負荷が一定未満の場合には、定圧機構を介して操作スリーブの回転がスピンドルに伝達される。すると、スピンドルは固定スリーブに螺合されているから、軸方向へ進退される。
スピンドルの進出によって、スピンドルが被測定物に当接すると、スピンドルに一定以上の負荷がかかる。すると、定圧機構によって操作スリーブの回転がスピンドルに伝達されない。つまり、操作スリーブが空転される。これにより、被測定物に対して測定力が一定の力で測定することができる。
本発明では、シンブルと操作スリーブとの間に、摩擦低減部材が配置されているから、操作スリーブとシンブルとの間の摩擦抵抗が低減されている。そのため、操作スリーブとシンブルとの摩擦抵抗によって発生する回転力も抑えることができるから、安定した測定力で測定できる。よって、測定値のばらつきの要因を排除でき、繰り返し精度を向上させることができる。
本発明のマイクロメータにおいて、前記操作スリーブは、前記シンブルの外周に被嵌された第1操作部と、この第1操作部の外端部に連結され前記シンブルの径より小さい径に形成された第2操作部とを有し、前記摩擦低減部材は、前記シンブルの外周面と前記第1操作部との間に配置されている、ことが好ましい。
このような構成によれば、操作スリーブは、シンブルの外周に被嵌された第1操作部と、第1操作部の外端に連結されシンブルの径より小さい径に形成された第2操作部とを有しているから、本体を持った片手の親指と人差し指とで第1操作部を回転操作することができる。従って、片手操作で測定を行える。
しかも、第1操作部とシンブルとの間に摩擦低減部材が配置されているから、つまり、回転速度が遅くなる操作スリーブの大径部分に摩擦低減部材が配置されているから、操作スリーブの回転速度を安定化させることができる。そのため、回転速度のばらつきも抑えることができるから、安定した測定力で測定できる。
本発明のマイクロメータにおいて、前記摩擦低減部材は、転がり軸受によって構成されている、ことが好ましい。
このような構成によれば、操作スリーブに斜めの力が加わっても、転がり軸受によって操作スリーブをシンブルに対して円滑に回転させることができる。
本発明のマイクロメータにおいて、前記転がり軸受は、前記スピンドルの軸方向に離れた少なくとも2箇所の位置に配置されたボールベアリングによって構成されている、ことが好ましい。
このような構成によれば、スピンドルの軸方向に離れた少なくとも2箇所の位置にボールベアリングが配置されているから、操作スリーブが傾いて回転するのを防止でき、安定した測定力で測定できる。しかも、ボールベアリングによって構成できるから、比較的安価にかつ簡易に構成できる。
本発明の第1実施形態に係るデジタル表示式マイクロメータの正面図。 同上実施形態の部分断面図。 図2のIII−III線断面図。 本発明の第2実施形態に係るデジタル表示式マイクロメータの部分断面図。
<第1実施形態>
第1実施形態を図1〜図3に基づいて説明する。ここでは、デジタル表示式マイクロメータの例を説明する。
デジタル表示式マイクロメータは、図1に示すように、略U字形の本体1と、この本体1に固定された固定スリーブ20と、この固定スリーブ20に螺合され軸方向へ進退されるスピンドル10と、固定スリーブ20の外周に回転可能に被嵌されるとともに外端(図1中右端)がスピンドル10に連結されたシンブル30と、このシンブル30の外周からスピンドルの外端にかけて被嵌されシンブル30に対して回転可能な操作スリーブ40と、この操作スリーブ40とスピンドル10との間に配置され、操作スリーブ40の回転をスピンドル10へ伝達するとともに、スピンドル10に一定以上の負荷がかかったときに操作スリーブ40をスピンドル10に対して空転させる定圧機構50とを備える。
本体1の一端にはアンビル3が固定され、他端にはスピンドル10を摺動自在に支持する軸受筒4が設けられている。また、本体1の他端内部にはスピンドル10の変位量を検出するエンコーダ(図示省略)が設けられているとともに、このエンコーダによって検出されたスピンドル10の変位量(測定値)を表示するデジタル表示器2が本体1の正面に設けられている。
スピンドル10は、内端側が軸受筒4に挿通支持されているとともに、図2に示すように、外端側が固定スリーブ20に螺合支持されている。スピンドル10は、内端側に形成された丸棒状の軸部11と、この軸部11の外端に一体的に形成された雄ねじ部12と、この雄ねじ部12の外端側に形成されたテーパ部13とを有する。これらは1本の円柱状部材から形成されていてもよく、また、それぞれ別部材で形成されていてもよい。
固定スリーブ20は、図2に示すように、内端が本体1に固定されスピンドル10の雄ねじ部12の外周を覆う円筒状のインナースリーブ21と、このインナースリーブ21の外周面に固定された円筒状のアウタースリーブ26とを含んで構成されている。
インナースリーブ21には、内周面の外端側にスピンドル10の雄ねじ部12に螺合する雌ねじ部22が所定距離に渡って形成されているとともに、外周面の外端側テーパ面に軸方向へ延びる複数本のスリット23および雄ねじ部24が形成されている。雄ねじ部24には、スピンドル10の雄ねじ部12とインナースリーブ21の雌ねじ部22との螺合状態、つまり、クリアランスを調整するためのナット部材25が螺合されている。
アウタースリーブ26は、インナースリーブ21の内端から雄ねじ部24の位置までを覆う長さに形成されているとともに、外周面軸方向に沿って主尺目盛27が1.0mmピッチで形成されている(図1参照)。
シンブル30は、図2に示すように、外端がスピンドル10のテーパ部13に螺合された軸部材15および抑え板16を介してスピンドル10のテーパ部13に一体的に結合されているとともに、外周面内端側に副尺目盛32が円周方向に一定ピッチで形成されている(図1参照)。
副尺目盛32は、例えば、シンブル30の外周を100等分する間隔で形成されている。
操作スリーブ40は、図2に示すように、シンブル30の外周に被嵌された前スリーブ41と、この前スリーブ41の外端部に螺合、連結され定圧機構50の外周を覆う後スリーブ42とを有し、これらにより、シンブル30の外周を覆う第1操作部43と、シンブル30の外径よりも小さい径で定圧機構50を覆う第2操作部44とが形成されている。
定圧機構50は、図2に示すように、軸部材15にボルト55を介して回転可能に装着され内端面外周に沿って鋸歯状歯を有する第1ラチェット車51と、この第1ラチェット車51と操作スリーブ40の後スリーブ42との間に設けられ操作スリーブ40の回転を第1ラチェット車51に伝達する伝達ピン52(図3参照)と、軸部材15に対して回転不能かつ軸方向へ移動可能に設けられ第1ラチェット車51に噛み合う鋸歯状歯を有する第2ラチェット車53と、この第2ラチェット車53を第1ラチェット車51に向かって付勢するコイルばね54とを含んで構成されている。
本実施形態では、シンブル30の外周面と操作スリーブ40の後スリーブ42の内周面との間に摩擦低減部材60が配置されている。
摩擦低減部材60は、シンブル30の外周面と操作スリーブ40の後スリーブ42の内周面との間において、スピンドル10の軸方向に離れた2箇所に配置された転がり軸受けとしての2個のボールベアリング61と、この2個のボールベアリング61を離れた状態に保持するベアリング保持具62とを備えて構成されている。
このような構成において、操作スリーブ40を回転させると、その操作スリーブ40の回転が定圧機構50に伝達される。スピンドル10にかかる負荷が一定未満の場合には、定圧機構50を介して操作スリーブ40の回転がスピンドル10に伝達される。すると、スピンドル10はインナースリーブ21の雌ねじ部22に螺合されているから、軸方向へ進退される。
スピンドル10の進出によって、スピンドル10が被測定物に当接すると、スピンドル10に一定以上の負荷がかかる。すると、定圧機構50によって、操作スリーブ40が空転される。つまり、スピンドル10に一定以上の負荷がかかっている状態において、操作スリーブ40を更に回転させようとすると、第2ラチェット車53は回転しづらい状態にあるため、コイルばね54に抗して第1ラチェット車51から離れる方向へ逃げるため、第1ラチェット車51の回転力が第2ラチェット車53に伝達されず、操作スリーブ40は空転し、定圧状態に維持される。
これにより、被測定物に対して測定力が一定の力で測定することができる。スピンドル10の回転は図示省略のエンコーダにより検出されたのち、スピンドル10の軸方向の変位量に変換されてデジタル表示器2に表示されるから、デジタル表示器2の表示値を読み取れば、被測定物の寸法を測定できる。あるいは、主尺目盛27と副尺目盛32とから読み取ることもできる。
第1実施形態では、操作スリーブ40がシンブル30の外周面にボールベアリング61を介して回転可能に保持されているから、操作スリーブ40とシンブル30との間の摩擦抵抗が低減されている。そのため、操作スリーブ40を回転させてスピンドル10を進出させる際、操作スリーブ40に対して斜めの力が加わっても、操作スリーブ40とシンブル30との摩擦抵抗によって発生する回転力も抑えることができるから、安定した測定力で測定できる。よって、測定値のばらつきの要因を排除でき、繰り返し精度を向上させることができる。
とくに、シンブル30の外周面と操作スリーブ40の後スリーブ42の内周面との間において、スピンドル10の軸方向に離れた2箇所に2個のボールベアリング61が配置されているから、操作スリーブ40がスピンドル10の軸に対して傾くのを防止できる。そのため、操作スリーブ40が傾いて回転するのを防止できるから、安定した測定力で測定できる。
しかも、2個のボールベアリング61を離れた状態に保持するベアリング保持具62とを備えているから、操作スリーブ40の傾きをより効果的に抑制できる。
また、操作スリーブ40は、シンブル30の外周に被嵌された第1操作部43と、シンブル30の径より小さい径を有する第2操作部44とを有しているから、本体1を持った片手の親指と人差し指とで第1操作部43を回転操作することができる。従って、片手操作で測定を行える。
しかも、第1操作部43とシンブル30の外周面との間にボールベアリング61が配置されているから、つまり、回転速度が遅くなる操作スリーブ40の大径部分にボールベアリング61が配置されているから、操作スリーブ40の回転速度を安定化させることができる。このことからも、安定した測定力で測定できる。
<第2実施形態>
第2実施形態を図4に基づいて説明する。なお、図4の説明において、第1実施形態と同一構成要件については、同一符号を付し、その説明を省略する。
第2実施形態は、第1実施形態に対して、次の点が異なる。
(a)第1実施形態では操作スリーブ40がシンブル30および定圧機構50を覆う形状であったが、第2実施形態では、操作スリーブ40Aがシンブル30の部分を覆う長さ寸法に形成されている点。
(b)第1実施形態では操作スリーブ40の中間部分に摩擦低減部材60が配置されていたが、第2実施形態では、操作スリーブ40の両端側に摩擦低減部材60Aが配置されている点。
(c)第1実施形態では、操作スリーブ40とスピンドル10との間に定圧機構50が配置されていたが、第2実施形態では、操作スリーブ40とシンブル30との間に定圧機構50Aが配置されている点。
具体的に説明すると、操作スリーブ40Aは、シンブル30の外周面を覆う筒状で、後端がスピンドル10の後端に向かってテーパ筒状に縮径した形状に形成されている。そのため、スピンドル10の外端は操作スリーブ40Aから露出され、その露出部にスピンドル10の径よりも大きくかつアウタースリーブ26の径より小さい操作つまみ17が一体的に形成されている。操作つまみ17は、径が小さいため、指で操作したとき、スピンドル10を早く回転させることができる。
摩擦低減部材60Aは、シンブル30の外周面と操作スリーブ40Aの後スリーブ42の内周面との間において、スピンドル10の軸方向に離れた2箇所、ここでは、操作スリーブ40Aの両端側に配置された転がり軸受けとしての2個のボールベアリング61と、この2個のボールベアリング61を離れた状態に保持するベアリング保持具62とを備えて構成されている。
定圧機構50Aは、シンブル30の後端にスピンドル10の軸に対して直角にかつ軸方向へ摺動可能に設けられた摺動ピン56と、この摺動ピン56の先端をベアリング保持具62の内面に向かって付勢する付勢手段としてのコイルばね57とを含んで構成されている。
このような構成において、操作スリーブ40Aを回転させると、その操作スリーブ40Aの回転が定圧機構50Aに伝達される。スピンドル10にかかる負荷が一定未満の場合には、定圧機構50Aを介して操作スリーブ40Aの回転がスピンドル10に伝達される。すると、スピンドル10はインナースリーブ21の雌ねじ部22に螺合されているから、軸方向へ進退される。
スピンドル10の進出によって、スピンドル10が被測定物に当接すると、スピンドル10に一定以上の負荷がかかる。すると、定圧機構50Aによって、操作スリーブ40Aが空転される。つまり、スピンドル10に一定以上の負荷がかかっている状態において、操作スリーブ40Aを更に回転させようとすると、ベアリング保持具62が摺動ピン56の先端に対して摺動しながら回転するため、操作スリーブ40Aの回転力がシンブル30、スピンドル10に伝達されず、操作スリーブ40Aは空転し、定圧状態に維持されるから、一定の測定圧で測定できる。
第2実施形態においても、操作スリーブ40Aはシンブル30の外周面にボールベアリング61を介して回転可能に保持されているから、操作スリーブ40Aとシンブル30との摩擦抵抗が低減されている。そのため、操作スリーブ40Aとシンブル30との摩擦抵抗によって発生する回転力も抑えることができるから、安定した測定力で測定できる。よって、測定値のばらつきの要因を排除でき、繰り返し精度を向上させることができる。
とくに、第2実施形態では、2つのボールベアリング61がスピンドル10の軸方向に離れて配置され、操作スリーブ40Aの両端側に位置しているから、操作スリーブ40Aの斜めの力が加わっても、操作スリーブ40Aを傾くことなく回転させることができる。そのため、安定した測定力で測定できる。
<変形例>
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は、本発明に含まれる。
前記実施形態では、摩擦低減部材60として、ボールベアリング61を配置したが、これに限られない。例えば、ニードルベアリングなどであってもよく、あるいは、筒状の保持部材の外周部分に多数のボールを回転可能に埋め込んだ軸受部材でもよい。
定圧機構50,50Aについては、前記実施形態で説明した構造に限られない。スピンドル10に一定以上の負荷がかかったときに、操作スリーブがスピンドルに対して空転する構造であれば、他の構造であってもよい。
前記実施形態では、固定スリーブ20を、インナースリーブ21とアウタースリーブ26との2部材から構成したが、これらを一体的に構成してもよい。
前記実施形態では、デジタル表示式マイクロメータを例示したが、これに限られない。例えば、エンコーダやデジタル表示器を備えないアナログ式マイクロメータであってもよい。
本発明は、スピンドルの軸方向の変位量から、被測定物の寸法等を測定するマイクロメータとして利用できる。
1…本体、
10…スピンドル、
20…固定スリーブ、
30…シンブル、
40,40A…操作スリーブ、
43…第1操作部、
44…第2操作部、
50,50A…定圧機構、
60,60A…摩擦低減部材、
61…ボールベアリング(転がり軸受)。

Claims (4)

  1. 本体に固定された固定スリーブと、この固定スリーブに螺合され軸方向へ進退されるスピンドルと、前記固定スリーブの外周に回転可能に被嵌されるとともに外端が前記スピンドルに連結されたシンブルと、このシンブルの外周から前記スピンドルの外端にかけて被嵌され前記シンブルに対して回転可能な操作スリーブと、この操作スリーブと前記スピンドルとの間に配置され、前記操作スリーブの回転を前記スピンドルへ伝達するとともに、前記スピンドルに一定以上の負荷がかかったときに前記操作スリーブを前記スピンドルに対して空転させる定圧機構とを備えたマイクロメータにおいて、
    前記シンブルと前記操作スリーブとの間には、摩擦低減部材が配置されている、ことを特徴とするマイクロメータ。
  2. 請求項1に記載のマイクロメータにおいて、
    前記操作スリーブは、前記シンブルの外周に被嵌された第1操作部と、この第1操作部の外端部に連結され前記シンブルの径より小さい径に形成された第2操作部とを有し、
    前記摩擦低減部材は、前記シンブルの外周面と前記第1操作部との間に配置されている、ことを特徴とするマイクロメータ。
  3. 請求項1または請求項2に記載のマイクロメータにおいて、
    前記摩擦低減部材は、転がり軸受によって構成されている、ことを特徴とするマイクロメータ。
  4. 請求項3に記載のマイクロメータにおいて、
    前記転がり軸受は、前記スピンドルの軸方向に離れた少なくとも2箇所の位置に配置されたボールベアリングによって構成されている、ことを特徴とするマイクロメータ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102023120014A1 (de) 2022-07-29 2024-02-01 Mitutoyo Corporation Automatische messvorrichtung und steuerungsverfahren derselben

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5426459B2 (ja) * 2010-04-08 2014-02-26 株式会社ミツトヨ マイクロメータ
JP5426464B2 (ja) * 2010-04-16 2014-02-26 株式会社ミツトヨ 変位測定器
JP5986790B2 (ja) 2012-04-23 2016-09-06 株式会社ミツトヨ マイクロメータ
USD729659S1 (en) 2013-09-02 2015-05-19 Mitutoyo Corporation Micrometer
USRE47140E1 (en) * 2013-12-11 2018-11-27 Tesa Sa Micrometer
US9482509B2 (en) 2014-12-12 2016-11-01 Mitutoyo Corporation Ergonomic micrometer including two modes of adjustment
CN105066832B (zh) * 2015-07-17 2018-02-06 河海大学 螺旋式轴压实验位移计
KR101788129B1 (ko) 2015-10-28 2017-10-19 두산중공업 주식회사 마이크로미터 세팅지그

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1279338B (de) * 1959-06-11 1968-10-03 Mauser Messzeug G M B H Zaehlwerk-Mikrometer
JPS54104867A (en) * 1978-01-28 1979-08-17 Koraaru Robeeru Micrometer head
JPS5635761A (en) 1979-08-31 1981-04-08 Nec Corp Manufacture of tungsten cylindrical body
JPS59112202A (ja) 1982-12-20 1984-06-28 Mitsutoyo Mfg Co Ltd マイクロメ−タ
JPS6126803A (ja) 1984-07-16 1986-02-06 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 低定圧装置
JP3245900B2 (ja) 1991-09-02 2002-01-15 日本精工株式会社 ボールラップ盤及びその使用方法
DE69818241T2 (de) * 1998-07-16 2004-07-15 Tesa Sa Vorrichtung für longitudinale Messungen
EP0973008B1 (fr) * 1998-07-17 2003-11-19 Tesa Sa Micromètre électronique
JP3724995B2 (ja) * 1999-11-10 2005-12-07 株式会社ミツトヨ マイクロメータ
DE10037812A1 (de) 2000-08-03 2002-02-14 Schaeffler Waelzlager Ohg Anordnung eines Abdeckbandes an einer Linearführung
JP3766801B2 (ja) * 2001-12-28 2006-04-19 株式会社ミツトヨ 測定器
JP2004053300A (ja) * 2002-07-17 2004-02-19 Hara Doki Kk 巻尺
JP4117829B2 (ja) 2002-09-18 2008-07-16 東洋鋼鈑株式会社 導電層積層材の製造方法および導電層積層材を用いた部品の製造方法
WO2004109223A1 (ja) * 2003-06-09 2004-12-16 Mitutoyo Corporation 測定器
JP4023426B2 (ja) 2003-09-30 2007-12-19 ブラザー工業株式会社 網膜走査型ディスプレイ装置
CN1546939A (zh) * 2003-12-05 2004-11-17 廖�燕 一种尺带收放灵活的卷尺
DE102004046889B3 (de) 2004-09-28 2006-06-14 Carl Mahr Holding Gmbh Messschraube mit nicht drehendem Messbolzen
CN2742381Y (zh) * 2004-10-27 2005-11-23 哈尔滨量具刃具集团有限责任公司 带有豆皮型弹簧片的外径千分尺
US20060162178A1 (en) * 2005-01-27 2006-07-27 Freidin Philip M System for wireless local display of measurement data from electronic measuring tools and gauges
CN100462666C (zh) * 2007-04-30 2009-02-18 南车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司 一种狭缝规
JP5601910B2 (ja) * 2009-09-11 2014-10-08 株式会社ミツトヨ 防熱カバー及びマイクロメータ
JP5426459B2 (ja) * 2010-04-08 2014-02-26 株式会社ミツトヨ マイクロメータ
JP5426464B2 (ja) * 2010-04-16 2014-02-26 株式会社ミツトヨ 変位測定器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102023120014A1 (de) 2022-07-29 2024-02-01 Mitutoyo Corporation Automatische messvorrichtung und steuerungsverfahren derselben

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