JP5414977B2 - 超音波探傷検査装置及び超音波探傷検査方法 - Google Patents
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検査対象物に対する超音波信号の発信、及びその反射信号の受信を行う複数個の超音波発生素子が配列されて成るフェイズド・アレイ・プローブと、
前記超音波発生素子ごとに、超音波発生素子から送信された超音波が前記検査対象物で反射した反射信号を含む各超音波発生素子自身の超音波信号を用いて所定の素子特性値を演算する素子特性値演算手段と、
前記素子特性値演算手段が演算した素子特性値に基づき各超音波発生素子の異常を検出する異常素子検出手段と、
前記異常素子検出手段が異常を検出した超音波発生素子以外の正常な超音波発生素子に係るデータのみに基づき超音波探傷に関するデータ処理を行うデータ処理部と、
を備え、前記素子特性値演算手段が演算する素子特性値は、前記反射信号の最大ピーク値と、前記超音波発生素子自身の超音波信号のうちの前記反射信号の入力前期間であって前記ピーク値が含まれない設定期間内の定常状態にある信号群の設定期間内最大ピーク値との比で表される素子SN比であり、前記異常素子検出手段は、前記素子SN比が所定値以下である場合に異常検出信号を出力するものである、
を備えたことを特徴とする。
フェイズド・アレイ・プローブに配列されている複数個の超音波発生素子により、検査対象物に対する超音波信号の発信、及びその反射信号の受信を行わせ、
前記超音波発生素子ごとに、超音波発生素子から送信された超音波が前記検査対象物で反射した反射信号を含む各超音波発生素子自身の超音波信号を用いて各超音波発生素子の所定の素子特性値を演算し、
この演算した素子特性値に基づき各超音波発生素子の異常を検出し、
この異常を検出した超音波発生素子以外の正常な超音波発生素子に係るデータのみに基づき超音波探傷に関するデータ処理を行う方法であって、
前記素子特性値は、前記反射信号の最大ピーク値と、前記超音波発生素子自身の超音波信号のうちの前記反射信号の入力前期間であって前記ピーク値が含まれない設定期間内の、定常状態にある信号群の設定期間内最大ピーク値との比で表される素子SN比であり、
前記素子SN比が所定値以下である場合に異常検出信号を出力する、
ことを特徴とする。
L=2d/cosθ …… (1)
t=L/Vs …… (2)
2:超音波発生素子
3:超音波発信・受信制御部
4:素子特性値演算手段
5:異常素子検出手段
6:プローブ特性値演算手段
7:データ処理部
M:検査対象物
Cr:き裂
P:目標探傷位置
Claims (7)
- 検査対象物に対する超音波信号の発信、及びその反射信号の受信を行う複数個の超音波発生素子が配列されて成るフェイズド・アレイ・プローブと、
前記超音波発生素子ごとに、超音波発生素子から送信された超音波が前記検査対象物で反射した反射信号を含む各超音波発生素子自身の超音波信号を用いて所定の素子特性値を演算する素子特性値演算手段と、
前記素子特性値演算手段が演算した素子特性値に基づき各超音波発生素子の異常を検出する異常素子検出手段と、
前記異常素子検出手段が異常を検出した超音波発生素子以外の正常な超音波発生素子に係るデータのみに基づき超音波探傷に関するデータ処理を行うデータ処理部と、
を備え、前記素子特性値演算手段が演算する素子特性値は、前記反射信号の最大ピーク値と、前記超音波発生素子自身の超音波信号のうちの前記反射信号の入力前期間であって前記ピーク値が含まれない設定期間内の、定常状態にある信号群の設定期間内最大ピーク値との比で表される素子SN比であり、前記異常素子検出手段は、前記素子SN比が所定値以下である場合に異常検出信号を出力するものであることを特徴とする超音波探傷検査装置。 - 前記超音波発生素子が超音波を送信してから前記最大ピーク値が現れるまでの時間をtとしたときに、前記設定期間はt/2を基準に設定されることを特徴とする請求項1記載の超音波探傷検査装置。
- 前記素子特性値演算手段が演算する素子特性値は、各超音波発生素子からの入力信号レベルであり、
前記異常素子検出手段は、前記入力信号レベルが所定値以下である場合に異常検出信号を出力するものである、
ことを特徴とする請求項1記載の超音波探傷検査装置。 - 前記素子特性値演算手段が演算する素子特性値は、前記入力した反射信号の最大ピーク値と、この反射信号入力前の期間であって反射信号が存在しない設定期間内の定常状態にある信号群の最大ピーク値との比で表される素子SN比、及び各超音波発生素子からの入力信号レベルであり、
前記異常素子検出手段は、前記素子SN比が所定値以下である場合、又は前記入力信号レベルが所定値以下である場合に異常検出信号を出力するものである、
ことを特徴とする請求項1記載の超音波探傷検査装置。 - 前記異常素子検出手段が異常を検出した超音波発生素子以外の正常な超音波発生素子のみに基づき所定のプローブ特性値を演算するプローブ特性値演算手段を備えた、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の超音波探傷検査装置。 - 前記プローブ特性値演算手段が演算するプローブ特性値は、プローブ感度又はプローブSN比である、
ことを特徴とする請求項5記載の超音波探傷検査装置。 - フェイズド・アレイ・プローブに配列されている複数個の超音波発生素子により、検査対象物に対する超音波信号の発信、及びその反射信号の受信を行わせ、
前記超音波発生素子ごとに、超音波発生素子から送信された超音波が前記検査対象物で反射した反射信号を含む各超音波発生素子自身の超音波信号を用いて各超音波発生素子の所定の素子特性値を演算し、
この演算した素子特性値に基づき各超音波発生素子の異常を検出し、
この異常を検出した超音波発生素子以外の正常な超音波発生素子に係るデータのみに基づき超音波探傷に関するデータ処理を行う方法であって、
前記素子特性値は、前記反射信号の最大ピーク値と、前記超音波発生素子自身の超音波信号のうちの前記反射信号の入力前期間であって前記ピーク値が含まれない設定期間内の、定常状態にある信号群の設定期間内最大ピーク値との比で表される素子SN比であり、
前記素子SN比が所定値以下である場合に異常検出信号を出力する
ことを特徴とする超音波探傷検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007164908A JP5414977B2 (ja) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | 超音波探傷検査装置及び超音波探傷検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2007164908A JP5414977B2 (ja) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | 超音波探傷検査装置及び超音波探傷検査方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2009002832A JP2009002832A (ja) | 2009-01-08 |
JP5414977B2 true JP5414977B2 (ja) | 2014-02-12 |
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ID=40319372
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5414977B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011112395A (ja) * | 2009-11-24 | 2011-06-09 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波探傷システム、信号処理装置、制御方法、及びプログラム |
JP2012005789A (ja) * | 2010-06-28 | 2012-01-12 | Toshiba Corp | 超音波診断装置 |
JP6026245B2 (ja) * | 2012-11-28 | 2016-11-16 | 非破壊検査株式会社 | 超音波検査方法及び超音波検査装置 |
JP2017167107A (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-21 | 三菱日立パワーシステムズ株式会社 | 超音波探傷センサ、及び超音波探傷方法 |
JP7035116B2 (ja) * | 2020-06-08 | 2022-03-14 | 株式会社東芝 | 処理システム、処理方法、プログラム、及び記憶媒体 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62194456A (ja) * | 1986-02-20 | 1987-08-26 | Nippon Steel Corp | アレイ型探触子のチエツク方法 |
JP3658429B2 (ja) * | 1995-06-23 | 2005-06-08 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置 |
GB9819973D0 (en) * | 1998-09-15 | 1998-11-04 | Secr Defence | Improvements relating to beamformers |
JP2002159492A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-06-04 | Aloka Co Ltd | 超音波診断装置及び素子試験方法 |
-
2007
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009002832A (ja) | 2009-01-08 |
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