JP5400481B2 - 光画像計測装置 - Google Patents
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Description
この発明に係る計測原理について図1を参照しつつ説明する。この光画像計測装置1000は、光源から出力される光の強度変調を行うことによりフリンジウォッシュアウトの影響を改善するものである。
以上のような計測原理を適用した光画像計測装置の構成例を説明する。図2に示す光画像計測装置100は、従来と同様に、光源101からの出力光Mをビームスプリッタ102で信号光Sと参照光Rに分割し、被測定物体110に信号光Sを照射し、被測定物体110を経由した信号光Sと参照鏡103に反射された参照光Rとを重畳させて干渉光Lを生成し、この干渉光Lを光検出デバイス104で検出する。コンピュータ109は、この検出結果を解析して被測定物体110の画像を形成する。また、コンピュータ109は、光画像計測装置100の各部を制御する。
この発明に係る計測原理を適用したフルフィールドタイプのOCT装置(光画像計測装置)について説明する。このような光画像計測装置の構成例を図3に示す。この光画像計測装置200は、フルフィールドタイプのOCT装置を眼科に適用したものである。被検眼Eは生体眼とし、拍動や調節微動によって複雑に運動している。光画像計測装置200は、被検眼Eの眼底Efの画像を取得するために用いられる。なお、光画像計測装置200は角膜Ecの画像を取得可能に構成されていてもよい。
この発明に係る計測原理を適用した光画像計測装置の他の構成例を説明する。図7に示す光画像計測装置300は、フルフィールドタイプのOCT装置を眼科に適用したものであり、構成例2(図3を参照)とほぼ同様の構成を有する。構成例2と同様の構成部分については同じ符号を付して説明する。以下、構成例2と相違する部分について特に詳しく説明する。
この発明に係る計測原理を適用した光画像計測装置の他の構成例を説明する。図8に示す光画像計測装置400は、フルフィールドタイプのOCT装置を眼科に適用したものであり、構成例3(図7を参照)と同様の光学系を有する。構成例3と同様の構成部分については同じ符号を付して説明する。以下、構成例3と相違する部分について特に詳しく説明する。
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置の一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を施すことが可能である。
101 光源
201 光源ユニット
103、205 参照鏡
104 光検出デバイス
212、213 CCD
106、220 運動検出部
107、230 駆動制御部
108、240 光源駆動部
109、250 コンピュータ
M 出力光
S 信号光
R 参照光
L 干渉光
T 測定光
Claims (8)
- 光源から出力された光を信号光と参照光とに分割し、前記信号光を被測定物体に照射し、前記被測定物体を経由した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する光学系と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射方向における前記被測定物体の運動速度に応じた周波数で、前記光源により出力される光の強度を変調させる変調手段と、
前記強度が変調された光に基づき前記光学系により生成された前記干渉光の検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する形成手段と、
を備え、
前記変調手段は、前記照射方向における前記被測定物体の運動状態を測定する測定手段を含み、その測定結果に基づく周波数で前記光の強度を変調させる、
ことを特徴とする光画像計測装置。 - 前記測定手段は、測定光源と、前記測定光源から出力された測定光を前記照射方向に沿って前記被測定物体に照射する測定光学系と、該照射された測定光の前記被測定物体による反射光を受光する受光手段とを含み、前記受光手段による受光結果に基づいて前記照射方向における前記被測定物体の運動速度に応じたドップラー周波数シフト量を前記運動状態として求め、
前記変調手段は、前記ドップラー周波数シフト量に基づく周波数で前記光の強度を変調させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記測定光学系は、前記測定光源から出力された測定光の一部を反射させ一部を透過させるハーフミラーを含み、
前記受光手段は、前記ハーフミラーを透過した前記一部の測定光の前記被測定物体による反射光と、前記ハーフミラーに反射された前記一部の測定光との干渉光を受光し、
前記測定手段は、前記ドップラー周波数シフト量として、該受光された干渉光の周波数を求める、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記測定光学系は、前記測定光源から出力された測定光を二分割する測定光分割手段と、前記二分割された一方の測定光を反射する反射鏡とを含み、前記一方の測定光の前記反射光による反射光と他方の測定光の前記被測定物体による反射光との干渉光を生成する測定干渉計を備え、
前記受光手段は、前記測定干渉計により生成された干渉光を受光し、
前記測定手段は、前記ドップラー周波数シフト量として、該受光された干渉光の周波数を求める、
ことを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記測定手段は、前記参照光路を経由する光の周波数を所定周波数だけ変更する変更手段と、測定光源と、前記測定光源から出力された測定光を第1測定光と第2測定光とに分割し、前記第1測定光を前記被測定物体に照射し、前記被測定物体を経由した前記第1測定光と前記参照光路を経由して前記所定周波数だけ周波数が変更された前記第2測定光とを重畳させて測定干渉光を生成する測定光学系と、前記測定干渉光を受光する受光手段とを含み、前記受光手段による受光結果に基づいて前記測定干渉光の周波数を求め、前記測定干渉光の周波数と前記所定周波数とに基づいて前記照射方向における前記被測定物体の運動速度に応じたドップラー周波数シフト量を前記運動状態として求め、
前記変調手段は、前記ドップラー周波数シフト量に基づく周波数で前記光の強度を変調させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記変調手段は、前記光源から出力される光の波長と前記測定光の波長との比を前記ドップラー周波数シフト量に乗算して得られる周波数で前記光の強度を変調させる、
ことを特徴とする請求項2〜請求項5のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記光学系は、前記参照光の光路長を変更する光路長変更手段を含み、
前記測定手段により測定された前記運動状態に基づいて、前記照射方向における前記被測定物体の変位を求め、前記被測定物体の前記光路長変更手段を制御して前記光路長を前記変位の分だけ変更させる光路長制御手段を備える、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記光学系は、前記信号光及び前記参照光のうちの一方の光路上に設けられて前記一方の光の2つの偏光成分の間に2分の1波長分の光路差を付与する4分の1波長板と、前記干渉光を2つの偏光成分に分割する分割手段と、該分割された2つの偏光成分をそれぞれ検出して電気信号を出力する2つの検出手段と、
を含み、
前記形成手段は、前記2つの検出手段により略同時に検出された2つの偏光成分に基づく2つの前記電気信号に基づいて前記被測定物体の画像を形成する、
ことを特徴とする請求項1〜請求項7に記載の光画像計測装置。
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