JP6105020B2 - 眼科装置 - Google Patents
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Landscapes
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Description
12・・光源
14・・干渉光学系
20・・干渉計
22・・参照ミラー
24・・ビームスプリッタ
26・・受光素子
28,34・・ミラー
30・・0点調整機構
32・・コーナキューブ
40・・焦点調整機構
42・・凹レンズ
44・・凸レンズ
46・・入射角調整機構
46a・・ガルバノミラー
48・・ホットミラー
50・・観察光学系
54・・第1駆動装置
56・・第2駆動装置
58・・第3駆動装置
60・・第4駆動装置
62・・モニタ
64・・演算装置
Claims (3)
- 光源と、
光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、
光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、
測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子と、
受光素子で受光される干渉光から、被検眼内部の第1の測定対象部位の位置と第2の測定対象部位の位置を特定し、それら特定した各位置から第1の測定対象部位から第2の測定対象部位までの眼軸方向の寸法を算出する演算装置と、を有しており、
測定光学系は、
光源からの光の焦点位置をその光軸方向に変化させる焦点調整機構と、
参照光路長と物体光路長とが一致する0点の位置を調整する0点調整機構と、を有しており、
演算装置は、第1の測定対象部位の近傍に焦点位置及び0点の位置を合せたときに受光素子で受光される干渉光から第1の測定対象部位の位置を特定し、第2の測定対象部位の近傍に焦点位置及び0点の位置を合せたときに受光素子で受光される干渉光から第2の測定対象部位の位置を特定し、
第1の測定対象部位は、角膜の前面、角膜の後面、水晶体の前面、水晶体の後面及び網膜の前面のいずれか1つであり、
第2の測定対象部位は、第1の測定対象部位以外であって、角膜の前面、角膜の後面、水晶体の前面、水晶体の後面及び網膜の前面のいずれか1つである、眼科装置。 - 測定光学系は、被検眼に照射される光の被検眼への入射角を被検眼の視軸に対して所定の角度範囲で変更する入射角度変更手段を有しており、
演算装置は、入射角変更手段によって所定の角度範囲で入射角を変更したときに受光素子で受光される複数の干渉光のうち干渉光の強度が所定の強度を超えている角度範囲において得られた干渉光から、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定する、請求項1に記載の眼科装置。 - 光源と、
光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、
光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、
測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子と、
受光素子で受光される干渉光から、被検眼内部の第1の測定対象部位の位置と第2の測定対象部位の位置を特定し、それら特定した各位置から第1の測定対象部位から第2の測定対象部位までの眼軸方向の寸法を算出する演算装置と、を有しており、
測定光学系は、
光源からの光の焦点位置をその光軸方向に変化させる焦点調整機構と、
参照光路長と物体光路長とが一致する0点の位置を調整する0点調整機構と、を有しており、
演算装置は、第1の測定対象部位の近傍に焦点位置及び0点の位置を合せたときに受光素子で受光される干渉光から第1の測定対象部位の位置を特定し、第2の測定対象部位の近傍に焦点位置及び0点の位置を合せたときに受光素子で受光される干渉光から第2の測定対象部位の位置を特定し、
測定光学系は、被検眼に照射される光の被検眼への入射角を被検眼の視軸に対して所定の角度範囲で変更する入射角度変更手段をさらに有しており、
演算装置は、入射角変更手段によって所定の角度範囲で入射角を変更したときに受光素子で受光される複数の干渉光のうち干渉光の強度が所定の強度を超えている角度範囲において得られた干渉光から、被検眼内部の測定対象部位の位置を特定する、眼科装置。
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