JP7361416B2 - 光断層画像撮影装置及びそれに用いる光源装置 - Google Patents

Description

本明細書に開示する技術は、光断層画像撮影装置及びそれに用いる光源装置に関する。

被検眼の眼軸長や被検眼内の各部位の位置等を測定する光断層画像撮影装置が開発されている。例えば、特許文献１の光断層画像撮影装置は、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系を備えている。測定の際には、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とを合成した干渉光から、被検眼内部の対象部位の位置を特定する。

特開２０１７－１７６８４２号公報

特許文献１に記載されるような光断層画像撮影装置では、通常、１～２ｍｍ程度の比較的小さい直径を有する光が被検眼に照射される。しかしながら、例えば、白内障等によって被検眼の水晶体に混濁部位があると、光源装置から被検眼に照射された光が混濁部位で減衰し、網膜まで到達する光量が少なくなることがある。その結果、網膜からの反射光が検出し難くなり、網膜の位置や眼軸長等を測定することが困難になるという問題があった。本明細書は、被検眼の網膜から反射される光の信号強度を高くできる技術を開示する。

本明細書に開示する第１の光断層画像撮影装置は、被検眼の光断層画像を撮影する。光断層画像撮影装置は、波長掃引型の光源装置と、光源装置から出力される光を被検眼に照射する測定光学系と、を備えている。光源装置から被検眼に照射される光の直径をＤとし、光源装置の波長掃引周波数をＳとし、光源装置から被検眼に照射される光の中心波長をλとすると、Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１となる。

上記の光断層画像撮影装置では、被検眼に上記の条件を満たす光を照射することによって、信号の受信感度を向上させることができる。このため、網膜からの反射光の信号を高感度で取得することができる。

また、本明細書に開示する光源装置は、被検眼の断層画像を撮影する光断層画像撮影装置に装備され、被検眼に照射される光を出力する波長掃引型の光源装置である。光源装置は、被検眼に照射される光の直径をＤとし、波長掃引周波数をＳとし、中心波長をλとすると、Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１となるように、波長掃引周波数Ｓと中心波長λの少なくとも一方を調整可能に構成されている。

上記の光源装置では、被検眼に上記の条件を満たす光を照射するように、波長掃引周波数Ｓと中心波長λの少なくとも一方を調整できる。このため、上記の光断層画像撮影装置と同様の作用効果を奏することができる。

また、本明細書に開示する第２の光断層画像撮影装置は、被検眼の光断層画像を撮影する。光断層画像撮影装置は、波長掃引型の光源装置と、光源装置から出力される光を被検眼に照射する測定光学系と、を備えている。光源装置から被検眼に照射される光の直径Ｄが３ｍｍ以上となる。

上記の光断層画像撮影装置では、被検眼に照射される光の直径Ｄが３ｍｍ以上となるため、網膜に到達する光を多くすることができる。このため、被検眼の水晶体に混濁部位があっても、網膜からの反射光の信号を取得することができる。

実施例に係る光断層画像撮影装置の光学系の概略構成を示す図。 実施例に係る光断層画像撮影装置の制御系を示すブロック図。 ０点調整機構の機能を説明するための図。 焦点調整機構によって、被検眼に入射される光の直径を変化させる機能を説明するための図。 被検眼の水晶体に混濁部位が生じている場合に、被検眼に入射される光を模式的に示す図であり、（ａ）は光の直径が小さい場合を示し、（ｂ）は光の直径が大きい場合を示す。 干渉信号波形を処理する手順を説明するための図。

以下に説明する実施例の主要な特徴を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。

（特徴１）本明細書が開示する光断層画像撮影装置では、直径Ｄが３ｍｍ以上であってもよい。

（特徴２）本明細書が開示する光断層画像撮影装置では、波長掃引周波数Ｓが１０Ｈｚ以上、かつ、５０００Ｈｚ以下であってもよい。このような構成によると、信号の受信感度をより向上させることができると共に、アーチファクトの発生を低減することができる。

（特徴３）本明細書が開示する光断層画像撮影装置では、中心波長λが７００ｎｍ以上、かつ、１４００ｎｍ以下であってもよい。このような構成によると、光が眼内を伝播する間に光の強度が減衰することを低減でき、信号の受信感度をより向上させることができる。

（特徴４）本明細書が開示する光断層画像撮影装置は、光源装置を制御する制御装置をさらに備えていてもよい。光源装置は、波長掃引周波数Ｓと中心波長λの少なくとも１つを調整可能に構成されていてもよい。制御装置は、光源装置から出力される光の波長掃引周波数Ｓと中心波長λの少なくとも１つを調整してもよい。このような構成によると、被検眼に照射される光の直径Ｄに応じて、光源装置から出力される光の波長掃引周波数Ｓと中心波長λの少なくとも１つを調整することで、上記の条件式を満たすことが容易となる。

（特徴５）本明細書が開示する光断層画像撮影装置では、測定光学系は、被検眼に照射される光の直径Ｄを調整可能に構成されていてもよい。測定光学系は、被検眼の瞳孔径以下となるように直径Ｄを調整してもよい。このような構成によると、被検眼の瞳孔径に合わせて被検眼に照射する光の直径Ｄを調整することができる。このため、被検眼に効率よく光を照射することができる。

（特徴６）本明細書が開示する光断層画像撮影装置では、測定光学系は、被検眼に照射される光の焦点位置を調整可能な焦点調整機構を備えていてもよい。このような構成によると、焦点調整機構を用いることによって、直径Ｄを容易に調整することができる。

（特徴７）本明細書が開示する光断層画像撮影装置は、被検眼からの反射光を受光してその光の強度に応じた信号を出力する受光素子と、受光素子から出力される信号をサンプリングするサンプリング回路と、光源装置から出力される光の周波数に基づいて信号をサンプリングするタイミングを規定するクロック信号を生成するサンプルクロック生成装置と、をさらに備えていてもよい。このような構成によると、サンプリングされる信号に歪みが生じることを抑制することができ、より精度の高い断層画像を取得できる。

以下、実施例に係る光断層画像撮影装置について説明する。図１に示すように、光断層画像撮影装置は、光源装置１２と、被検眼１００を検査するための測定部１０と、Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置６０を備えている。光源装置１２から出射される光は、ビームスプリッタ１８に照射され、ビームスプリッタ１８で測定部１０に導かれる光とＫ－ｃｌｏｃｋ発生装置６０に導かれる光に分岐される。

測定部１０は、被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、被検眼１００の前眼部を観察する観察光学系５０と、被検眼１００に対して測定部１０を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント光学系（図示省略）を有している。アライメント光学系は、公知の光断層画像撮影装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。

干渉光学系１４は、光源装置１２からの光を被検眼１００の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源装置１２からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を受光する受光素子２６によって構成されている。

光源装置１２は、波長掃引型の光源装置であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源装置１２から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被検眼１００の深さ方向の各部位から反射される光のうち参照光と干渉を生じる反射光の反射位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼１００の内部の各部位（すなわち、水晶体１０４や網膜１０６）の位置を特定することが可能となる。

ここで、光源装置１２は、波長（詳細には、中心波長）が７００ｎｍ以上、かつ、１４００ｎｍ以下の光を出力することが好ましい。波長が７００ｎｍ以下の光は、可視光となる。このため、波長が７００ｎｍ以上の光を出力することによって、被検者が眩しさを感じることを回避できると共に、被検眼１００の瞳孔が縮瞳することを抑制することができる。また、波長が１４００ｎｍ以上の光は、水に吸収され易い。このため、波長が１４００ｎｍ以下の光を出力することによって、光が眼内を伝播する間に光の強度が減衰することを抑制することができ、受光素子２６で受光する光の検出感度が低下することを抑制することができる。本実施例では、光源装置１２は、波長が７００ｎｍの光を出力している。さらに、光源装置１２の波長掃引周波数は、１０Ｈｚ以上、かつ、５０００Ｈｚ以下であることが好ましい。波長掃引周波数を低くすると、受光素子２６で受光する光の検出感度が向上する。このため、波長掃引周波数を５０００Ｈｚ以下とすることによって、受光素子２６で干渉光を良好に検出することができる。また、光断層画像を撮影する間に被検眼１００が移動すると、取得される光断層画像にアーチファクトが発生する。撮影中の被検眼１００が移動する一因として、被検者の拍動（１～２Ｈｚ）による振動がある。このため、波長掃引周波数を１０Ｈｚ以上とすることによって、波長掃引周波数が被検者の拍動より速くなるため、撮影中に被検者の拍動による振動で被検眼１００が移動することを抑制でき、取得される光断層画像にアーチファクトが発生ことを抑制することができる。本実施例では、光源装置１２の波長掃引周波数を１３００Ｈｚとしている。なお、光源装置１２から出力される光の波長掃引周波数は制御装置６４によって調整可能であり、この構成については後述する。

測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ミラー２８と、０点調整機構３０と、ミラー３４と、焦点調整機構４０と、ミラー４６と、ホットミラー４８によって構成されている。光源装置１２から出射された光は、ビームスプリッタ１８を介して測定部１０に導かれる。測定部１０に導かれた光は、ビームスプリッタ２４、ミラー２８、０点調整機構３０、ミラー３４、焦点調整機構４０、ミラー４６、及びホットミラー４８を介して被検眼１００に照射される。被検眼１００からの反射光は、ホットミラー４８、ミラー４６、焦点調整機構４０、ミラー３４、０点調整機構３０、ミラー２８、及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。０点調整機構３０と焦点調整機構４０については、後で詳述する。

参照光学系は、ビームスプリッタ２４と、参照ミラー２２によって構成されている。ビームスプリッタ１８で測定部１０に導かれる光の一部は、ビームスプリッタ２４で反射され、参照ミラー２２に照射され、参照ミラー２２によって反射される。参照ミラー２２で反射された光は、ビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。参照ミラー２２とビームスプリッタ２４と受光素子２６は、干渉計２０内に配置され、その位置が固定されている。このため、本実施例の光断層画像撮影装置では、参照光学系の参照光路長は一定で変化しない。

受光素子２６は、参照光学系により導かれた光と測定光学系により導かれた光とを合成した干渉光を検出する。受光素子２６としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。

観察光学系５０は、被検眼１００にホットミラー４８を介して観察光を照射すると共に、被検眼１００から反射される反射光（すなわち、照射された観察光の反射光）を撮影する。ここで、ホットミラー４８は、干渉光学系１４の光源装置１２からの光を反射する一方で、観察光学系５０の光源装置からの光を透過する。このため、本実施例の光断層画像撮影装置では、干渉光学系１４による測定と、観察光学系５０による前眼部の観察を同時に行うことができる。なお、観察光学系５０には、公知の光断層画像撮影装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な構成については説明を省略する。

ここで、測定光学系に設けられる０点調整機構３０と焦点調整機構４０について説明する。０点調整機構３０は、コーナキューブ３２と、コーナキューブ３２をミラー２８，３４に対して進退動させる第２駆動装置５６（図２に図示）を備えている。第２駆動装置５６がコーナキューブ３２を図１の矢印Ａの方向に駆動することで、光源装置１２から被検眼１００までの光路長（すなわち、測定光学系の物体光路長）が変化する。図３に示すように、光源装置１２から被検眼１００の検出面（図３では角膜表面）までの物体光路長（詳細には、光源装置１２～検出面＋検出面～受光素子２６）と、光源装置１２から参照ミラー２２までの参照光路長（詳細には、光源１２～参照ミラー２２＋参照ミラー２２～受光素子２６）とに光路差ΔＺが存在する場合、光路差ΔＺが大きくなるほど、検出面から反射される反射光と参照光とを合成した干渉光の強度は弱くなる。逆に、光路差ΔＺが小さいほど、干渉光の強度は強くなる。このため、本実施例では、０点調整機構３０により物体光路長を変化させることで、参照光路長と物体光路長とが一致する位置（いわゆる、０点）を角膜１０２の表面から網膜１０６の表面まで変化させることができる。

焦点調整機構４０は、光源装置１２側に配置される凸レンズ４２と、被検眼１００側に配置される凸レンズ４４と、凸レンズ４２に対して凸レンズ４４を光軸方向に進退動させる第３駆動装置５８（図２に図示）を備えている。凸レンズ４２と凸レンズ４４は、光軸上に配置され、入射する平行光の焦点の位置を変化させる。すなわち、第３駆動装置５８が凸レンズ４４を図１の矢印Ｂの方向に駆動することで、被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。

焦点調整機構４０において、凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整することで、被検眼１００に光が入射される位置（すなわち、角膜１０２の前面の位置）における光の直径Ｄ（以下、単に「光の直径Ｄ」ともいう）を変化させることができる。具体的には、凸レンズ４４から照射される光が平行光となるように凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整すると、図４（ａ）に示すように、被検眼１００に平行光が入射される。一方、図４（ａ）の状態から凸レンズ４４を凸レンズ４２から離れる方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は収束光となり、図４（ｂ）に示すように、被検眼１００に収束光が入射される。このとき、被検眼１００に入射される光の直径Ｄは、被検眼１００に平行光が入射されるとき（すなわち、図４（ａ）のとき）の光の直径Ｄより小さくなる。また、図４（ａ）の状態から凸レンズ４４を凸レンズ４２に近づく方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は発散光となり、図４（ｃ）に示すように、被検眼１００に発散光が入射される。このとき、被検眼１００に入射される光の直径Ｄは、被検眼１００に平行光が入射されるとき（すなわち、図４（ａ）のとき）の光の直径Ｄより大きくなる。このように、光の直径Ｄを変化させることによって、被検眼１００に照射する光の直径を変化させることができる。

例えば、被検眼１００の水晶体１０４に、白内障等により混濁部位１０５が生じていることがある。図５は、被検眼１００の水晶体１０４に混濁部位１０５が生じている場合に被検眼１００に入射される光を模式的に示している。なお、図５では、説明を容易にするため、光の直径Ｄの大きさに関わらず、被検眼１００に入射される光を平行光で示している。図５（ａ）に示すように、光の直径Ｄが小さい場合には、光源装置１２から出力された光が混濁部位１０５で減衰し、網膜１０６に到達する光量が少なくなる。一方、図５（ｂ）に示すように、光の直径Ｄが大きい場合には、入射される光の一部は混濁部位１０５で減衰されるものの、入射される光の他の部分は混濁部位１０５を通過することなく網膜１０６まで到達する。このため、被検眼１００に入射される光の直径Ｄを大きくすることによって、水晶体１０４に混濁部位１０５がある被検眼１００に対しても、網膜１０６から反射される光の信号強度を高くすることができる。光の直径Ｄは、３ｍｍ以上、かつ、被検眼１００の瞳孔径以下であることが好ましい。光の直径Ｄを３ｍｍ以上とすることによって、網膜１０６まで光が到達し易くなる。また、光の直径Ｄを被検眼１００の瞳孔径以下とすることによって、効率よく眼内に光を照射できる。なお、測定の際には、散瞳剤等によって被検眼１００の瞳孔径を大きくしてもよい。被検眼１００の瞳孔径を大きくすることによって、光の直径Ｄを大きくすることができる。

Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置６０は、等間隔周波数（光の周波数に対して均等な周波数間隔）にて干渉信号のサンプリングを行うために、ビームスプリッタ１８から分岐された光からサンプルクロック（Ｋ－ｃｌｏｃｋ）信号を光学的に生成する。そして、生成されたＫ－ｃｌｏｃｋ信号は、制御装置６４に向けて出力される。これにより、干渉信号の歪みが抑えられ、分解能が悪化することが防止される。

また、本実施例の光断層画像撮影装置では、被検眼１００に対して測定部１０（詳細には、測定部１０のうち干渉計２０を除いた部分の光学系）の位置を調整するための位置調整機構１６（図２に図示）と、その位置調整機構１６を駆動する第１駆動装置５４（図２に図示）を備えている。なお、位置調整機構１６による位置を調整する処理については後述する。

次に、本実施例の光断層画像撮影装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、光断層画像撮影装置は制御装置６４によって制御される。制御装置６４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。制御装置６４には、光源装置１２と、第１～第３駆動装置５４～５８と、モニタ６２と、観察光学系５０が接続されている。制御装置６４は、光源装置１２のオン／オフを制御すると共に、光源装置１２から出力される光の波長掃引周波数を制御する。したがって、制御装置６４は、光源装置１２から出力される光の波長掃引周波数を変更することができる。また、制御装置６４は、第１～第３駆動装置５４～５８を制御することで各機構１６、３０、４０を駆動し、また、観察光学系５０を制御して観察光学系５０で撮像される前眼部像をモニタ６２に表示する。

上述したように、制御装置６４は、光源装置１２から出力される光の波長掃引周波数を調整可能であり、第３駆動装置５８を制御して焦点調整機構４０を駆動することによって被検眼１００に入射する光の直径Ｄを調整可能である。したがって、制御装置６４は、光源装置１２から出力される光の波長掃引周波数Ｓと、被検眼１００に入射する光の直径Ｄを調整して、Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１となるように調整できる。なお、Ｓは波長掃引周波数を示し、λは光の波長を示す。Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１を満足するように光の直径Ｄを大きくすると、網膜１０６まで到達する光量を多くすることができる。また、Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１を満足するように光の波長掃引周波数Ｓを小さくすると、受光素子２６で受光する光の検出感度が向上する。従来においては、処理能力を高くするため、波長掃引周波数Ｓを高くして被検眼１００を測定していた。しかしながら、本発明者が、水晶体１０４に混濁部位１０５がある被検眼１００においても良好な断層画像を得るという観点から種々検討したところ、光の直径Ｄ、波長掃引周波数Ｓ、波長λの関係が測定に影響を及ぼすことがわかった。そして、本発明者が直径Ｄ、波長掃引周波数Ｓ、波長λの関係をさらに検討した結果、Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１となる光を照射すると、水晶体１０４に混濁部位１０５がある被検眼１００においても良好な測定結果が得られることがわかった。

なお、本実施例では、制御装置６４は、光源装置１２から出力される光の波長掃引周波数Ｓを変更（調整）可能であったが、このような構成に限定されない。制御装置６４は、光源装置１２から出力される光の波長λを調整可能であってもよいし、波長掃引周波数Ｓと波長λの両方を調整可能であってもよい。

また、制御装置６４には、受光素子２６と、Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置６０が接続されている。制御装置６４には、受光素子２６で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力する。また、制御装置６４には、Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置６０で生成されたＫ－ｃｌｏｃｋ信号が入力する。制御装置６４は、受光素子２６からの干渉信号をＫ－ｃｌｏｃｋ信号に基づいてサンプリングする。すなわち、本実施例において、制御装置６４は、「サンプリング回路」の一例として機能している。そして、制御装置６４は、サンプリングされた干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）の位置を特定し、被検眼１００の眼軸長を算出する。

次に、実施例に係る光断層画像撮影装置を用いて、水晶体１０４に混濁部位１０５がある被検眼１００の光断層画像を撮影する手順について説明する。まず、検査者は図示しないジョイスティック等の操作部材を操作して、被検眼１００に対して測定部１０の位置合わせを行う。すなわち、制御装置６４は、検査者の操作部材の操作に応じて、第１駆動装置５４により位置調整機構１６を駆動する。これによって、被検眼１００に対する測定部１０のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。また、制御装置６４は、第２駆動装置５６を駆動して、０点調整機構３０を調整する。これによって、物体光路長と参照光路長が一致する０点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となる。

次いで、制御装置６４は、第３駆動装置５８を駆動して、焦点調整機構４０を調整する。これによって、被検眼１００に入射する光の直径Ｄが調整される。また、制御装置６４は、光源装置１２から出力される光の波長掃引周波数Ｓを調整する。詳細には、制御装置６４は、Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１となるように光の直径Ｄと波長掃引周波数Ｓを調整する。なお、制御装置６４は、Ｄ／Ｓ×λ＞１．６１となるように、光の直径Ｄ又は波長掃引周波数Ｓのいずれか一方を調整してもよい。

次いで、制御装置６４は、光源装置１２から照射される光の周波数を変化させながら、受光素子２６で検出される信号を取り込む。既に説明したように、光源装置１２から照射される光の周波数を変化させると、測定光と参照光とが干渉して干渉波を生じる位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。このため、受光素子２６から出力される干渉信号は、図６に示すように、信号強度が時間によって変化する信号となり、この信号には被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された各反射光と参照光とを合成した干渉波による信号となる。そこで、制御装置６４は、受光素子２６から入力する信号をフーリエ変換することで、その信号から被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）から反射された反射光による干渉信号成分を分離する。これにより、制御装置６４は、被検眼１００の各部の位置を特定することができる。

以上、本明細書に開示の技術の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。

１０：測定部
１２：光源装置
１４：干渉光学系
１６：位置調整機構
２６：受光素子
３０：０点調整機構
４０：焦点調整機構
５０：観察光学系
６２：Ｋ－ｃｌｏｃｋ発生装置
６４：制御装置
１００：被検眼

Claims (6)

1. 被検眼の光断層画像を撮影する光断層画像撮影装置であって、
   波長掃引型の光源装置と、
   前記光源装置から出力される光を前記被検眼に照射する測定光学系と、を備えており、
   前記測定光学系は、前記光源装置から出力される光が前記被検眼に入射される位置における光の直径を調整可能に構成されており、
   前記直径が３ｍｍ以上であり、
   前記光源装置の波長掃引周波数が１０Ｈｚ以上、かつ、５０００Ｈｚ以下である、光断層画像撮影装置。
2. 前記光源装置から前記被検眼に照射される光の中心波長が７００ｎｍ以上、かつ、１４００ｎｍ以下である、請求項１に記載の光断層画像撮影装置。
3. 前記光源装置を制御する制御装置をさらに備えており、
   前記光源装置は、前記光源装置の波長掃引周波数と前記光源装置から前記被検眼に照射される光の中心波長との少なくとも１つを調整可能に構成されており、
   前記制御装置は、前記光源装置から出力される光の前記波長掃引周波数と前記中心波長との少なくとも１つを調整する、請求項１又は２に記載の光断層画像撮影装置。
4. 前記測定光学系は、前記被検眼の瞳孔径以下となるように前記直径を調整可能である、請求項１～３のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
5. 前記測定光学系は、前記被検眼に照射される光の焦点位置を調整可能な焦点調整機構を備える、請求項１～４のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
6. 前記被検眼からの反射光を受光してその光の強度に応じた信号を出力する受光素子と、
   前記受光素子から出力される信号をサンプリングするサンプリング回路と、
   前記光源装置から出力される光の周波数に基づいて前記信号をサンプリングするタイミングを規定するクロック信号を生成するサンプルクロック生成装置と、をさらに備える、請求項１～５のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
   

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