JP2006047053A - 光画像計測装置及び光画像計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 周期的に強度変調された光ビームを出力する広帯域光源2と、光ビームを直線偏光に変換する偏光板3と、光ビームを信号光Sと参照光Rに分割し、更に信号光Sと参照光Rとを重畳させて干渉光Lを生成するハーフミラー6と、参照光Rを円偏光に変換する波長板7と、参照光Rの周波数をシフトさせる周波数シフタ8及びピエゾ素子9Aにより移動される参照鏡9と、干渉光LのS偏光成分L1とP偏光成分L2とを抽出する偏光ビームスプリッタ11と、偏光成分L1、L2をそれぞれ検出して検出信号を出力するCCD21、22と、その検出信号に基づいて干渉光Lの信号強度及び位相を算出する信号処理部20とを備え、その算出結果を基に被測定物体Oの画像を形成する。
【選択図】 図1
Description
〔装置構成〕
図1は、本発明の第1の実施形態の光画像計測装置1の概略構成を示している。光画像計測装置1は、例えば医療や工業分野における被測定物体Oの断層画像や表面画像の計測に利用可能な装置である。被測定物体Oは、例えば医療分野においては人眼等の散乱媒質からなる物体である。
続いて、本実施形態の光画像計測装置1により実行される干渉光Lの信号強度や位相の空間分布の測定形態、すなわちヘテロダイン信号の信号強度やその位相情報の測定形態について説明する。以下に詳述する信号処理は、図1に示した信号処理部20によって実行されるものである。
上記の構成では、参照光Rに周波数シフトを付与するための構成として、周波数シフタ8と、参照鏡9及びピエゾ素子9Aとの双方を考慮したが、これらの内の一方のみを備えていてもよい。例えば、周波数シフタ8を有さない光画像計測装置を形成し、参照鏡9のz−スキャンのみによって参照光Rに周波数シフトを付与するように構成しても、同様の測定を実行することができる。また、周波数シフタ8を用いる場合、信号光Sの光路上に設けるようにしてもよい。本発明に係る画像計測においては、重畳時における信号光Sの周波数と参照光Rの周波数とが相対的にシフトされていれば十分だからである。
本実施形態の光画像計測装置1は、以上に説明したように、広帯域光源2からの光ビームを周期的に強度変調し、その光ビームから異なる偏光特性の信号光Sと参照光Rを生成し、それらを重畳して干渉光Lを生成するとともに、この干渉光Lの異なる偏光成分(S偏光成分L1、P偏光成分L2)を抽出し、干渉光Lの信号強度や位相情報を算出する。したがって、従来のようなシャッタを用いたサンプリング処理を行う必要がないので、干渉光Lを高感度で検出できる。それにより、干渉光の信号強度や位相の空間分布を精度良く求めることができ、被測定物体Oの計測を有効に行うことが可能となる。
上述した第1の実施形態では、参照光Rの周波数をシフトさせるための構成として、電気光学的、音響光学的な周波数シフトを付与する周波数シフタ8と、ドップラー周波数シフトを付与する参照鏡9及びピエゾ素子9Aとを用いていた。一方、本実施形態においては、周波数シフタ8のみによって周波数シフトを行い、参照鏡9及びピエゾ素子9Aは、参照光Rにドップラー周波数シフトを付与する目的ではなく、被測定物体Oの深さ方向のスキャン(z−スキャン)に使用される。
以上に詳述した構成は、本発明に係る光画像計測装置を実施するための構成の一例に過ぎないものである。したがって、本発明の要旨の範囲内において各種の変形を施すことが可能である。
2 広帯域光源
3 偏光板
4、5 レンズ
6 ハーフミラー
7 波長板
8 周波数シフタ
9 参照鏡
9A ピエゾ素子
10 結像用レンズ群
11 偏光ビームスプリッタ
12 ビームスプリッタ
20 信号処理部
21、22、23 CCD
31 光源
32 ビームスプリッタ
33 固定鏡
34 フォトディテクタ
35 パルス駆動器
110 制御部
R 参照光
S 信号光
L 干渉光
L′ 干渉光の一部
L1 S偏光成分
L2 P偏光成分
O 被測定物体
Claims (22)
- 光ビームを周期的に強度変調させて出力する光ビーム出力手段と、
前記光ビームの偏光特性を直線偏光に変換する第1の変換手段と、
前記光ビームを被測定物体を経由する信号光と参照物体を経由する参照光とに分割する分割手段と、
直線偏光の前記信号光又は前記参照光の偏光特性を変換する第2の変換手段と、
前記信号光の周波数と前記参照光の周波数とを、前記光ビームの前記強度変調の周波数と略等しい量だけ相対的にシフトさせる周波数シフト手段と、
前記第1及び第2の変換手段により変換された偏光特性をそれぞれ有し、前記周波数シフト手段により周波数がシフトされ、前記被測定物体と前記参照物体とをそれぞれ経由した前記信号光と前記参照光とを重畳させて第1の干渉光を生成する重畳手段と、
前記生成された第1の干渉光の異なる複数の偏光成分を抽出する抽出手段と、
前記抽出された前記第1の干渉光の各偏光成分を検出する第1の検出手段と、
前記検出された前記各偏光成分に基づいて前記第1の干渉光の信号強度もしくは位相を算出する演算手段と、
を備え、前記算出された前記第1の干渉光の信号強度もしくは位相に基づいて前記被測定物体の画像を形成することを特徴とする光画像計測装置。 - 前記第1の検出手段は、所定の応答周波数で前記第1の干渉光の各偏光成分を検出する蓄積型光センサであることを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
- 前記第1の検出手段は、CCDカメラであることを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
- 前記光ビームの強度変調の周波数と前記第1の干渉光の周波数との差が前記第1の検出手段の応答周波数よりも十分小さくなるように前記強度変調の周波数が設定されることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の光画像計測装置。
- 前記第1の変換手段は、前記光ビームの所定方向の振動成分を透過させる偏光板であることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記第2の変換手段は、直線偏光の前記信号光又は前記参照光の互いに直交するP偏光成分とS偏光成分との間に位相差を与えて偏光特性を変換する波長板であることを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記第1の変換手段は、前記光ビームの偏光特性を、前記光ビームの進行方向に直交するxy平面のx軸及びy軸に対して45°の角度方向の直線偏光に変換し、
前記第2の変換手段は、前記45°の角度方向の直線偏光とされた前記信号光又は前記参照光の偏光特性を円偏光に変換する、
ことを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記抽出手段は、前記第1の干渉光の互いに直交するP偏光成分及びS偏光成分とを抽出することを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記参照物体は、前記参照光の光路に対し直交配置された反射面を有する参照鏡であり、
前記分割手段及び前記重畳手段は、前記出力された前記光ビーム、前記信号光及び前記参照光の各光路に対して斜設させたハーフミラーであり、
前記被測定物体、前記参照鏡及び前記ハーフミラーは、マイケルソン型の干渉計を形成する、
ことを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記第1の変換手段は、前記光ビームの進行方向に直交するxy平面のx軸及びy軸に対して45°の角度方向に振動する前記光ビームの振動成分を透過させる偏光板であり、
前記ハーフミラーは、前記偏光板により直線偏光に変換された前記光ビームを前記信号光と前記参照光とに分割し、
前記第2の変換手段は、前記ハーフミラーと前記参照鏡との間に設けられ、前記参照光の互いに直交するP偏光成分とS偏光成分との間に前記参照鏡による反射の前後にそれぞれ位相差π/4を与えることにより、前記参照光の偏光特性を直線偏光から円偏光に変換する1/8波長板である、
ことを特徴とする請求項9に記載の光画像計測装置。 - 前記抽出手段は、前記第1の干渉光のP偏光成分を透過させ、S偏光成分を反射する偏光ビームスプリッタを含むことを特徴とする請求項10に記載の光画像計測装置。
- 前記周波数シフト手段は、前記参照光の光路上に設けられた周波数シフタを含むことを特徴とする請求項1ないし請求項11にいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記周波数シフト手段は、前記参照鏡と、前記参照鏡を前記参照光の光路方向に連続的に移動させる駆動手段とを含むことを特徴とする請求項9ないし請求項11のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記周波数シフト手段は、前記参照光の光路上に設けられた周波数シフタであり、
前記参照鏡を前記参照光の光路方向に移動させる駆動手段と、
前記光ビーム出力手段による前記光ビームの前記強度変調に同期させて前記参照鏡を段階的に移動させるように前記駆動手段を制御する駆動制御手段と、を備えている、
ことを特徴とする請求項1ないし請求項11のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記駆動手段は、前記参照鏡の前記反射面の背面に設けられたピエゾ素子であることを特徴とする請求項13又は請求項14に記載の光画像計測装置。
- 前記光ビーム出力手段は、
レーザ光を出射するレーザ光源と、
前記出射されたレーザ光を前記周波数シフト手段を経由する第1のレーザ光と固定配置の反射鏡を経由する第2のレーザ光とに分割し、前記周波数シフトを受けた前記第1のレーザ光と前記反射鏡にて反射された前記第2のレーザ光とを重畳して第2の干渉光を生成する干渉光学系と、
前記生成された第2の干渉光を検出し、前記第2の干渉光と等しい周波数の電気信号を出力する第2の検出手段と、
前記出力された電気信号と等しい周波数のパルス信号を生成するパルス生成手段と、
前記生成されたパルス信号により駆動されて、当該パルス信号と等しい周波数のパルス状の光ビームを出力する光源と、
を含むことを特徴とする請求項1ないし請求項15のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記光ビーム出力手段は、前記周波数シフト手段による前記周波数のシフト量と略等しい周波数のパルス信号を生成するパルス生成手段と、前記パルス信号により駆動されパルス状の光ビームを出力する光源とを含むことを特徴とする請求項1ないし請求項15のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記光ビーム出力手段は、連続的な光ビームを出射する光源と、前記出射された前記光ビームを周期的に遮断するシャッタ手段とを含むことを特徴とする請求項1ないし請求項15のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記光源は、スーパールミネセントダイオード又は発光ダイオードであることを特徴とする請求項16ないし請求項18のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記光ビームは、低コヒーレント光であることを特徴とする請求項1ないし請求項19のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
- 前記重畳手段により生成された前記第1の干渉光の一部を分離する分離手段と、
前記分離された前記第1の干渉光の一部を検出する第3の検出手段と、
を備え、
前記演算手段は、前記第3の検出手段により検出された前記第1の干渉光の一部に基づいて前記第1の干渉光の背景成分の信号強度を算出する、
ことを特徴とする請求項1ないし請求項20のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 光ビームを周期的に強度変調させて出力する光ビーム出力ステップと、
前記出力された光ビームの偏光特性を直線偏光に変換する第1の変換ステップと、
前記変換された光ビームを被測定物体を経由する信号光と参照物体を経由する参照光とに分割する分割ステップと、
前記信号光又は前記参照光の偏光特性を変換する第2の変換ステップと、
前記信号光の周波数と前記参照光の周波数とを、前記光ビームの前記強度変調の周波数と略等しい量だけ相対的にシフトさせる周波数シフトステップと、
前記第1及び第2の変換ステップにより変換された偏光特性をそれぞれ有し、前記周波数シフトステップにより周波数がシフトされ、前記被測定物体と前記参照物体とをそれぞれ経由した前記信号光と前記参照光とを重畳させて第1の干渉光を生成する重畳ステップと、
前記生成された第1の干渉光の異なる複数の偏光成分を抽出する抽出ステップと、
前記抽出された前記第1の干渉光の各偏光成分を検出する検出ステップと、
前記検出された前記各偏光成分に基づいて前記第1の干渉光の信号強度もしくは位相を算出する演算ステップと、
を備え、前記算出された前記第1の干渉光の信号強度もしくは位相に基づいて前記被測定物体の画像を形成することを特徴とする光画像計測方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004226923A JP4409384B2 (ja) | 2004-08-03 | 2004-08-03 | 光画像計測装置及び光画像計測方法 |
US11/194,482 US7307733B2 (en) | 2004-08-03 | 2005-08-02 | Optical image measuring apparatus and optical image measuring method |
EP05016780.8A EP1630520B1 (en) | 2004-08-03 | 2005-08-02 | Apparatus and method of heterodyne interferometry for imaging |
CN2005100891280A CN1734253B (zh) | 2004-08-03 | 2005-08-02 | 光图像计测装置及光图像计测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004226923A JP4409384B2 (ja) | 2004-08-03 | 2004-08-03 | 光画像計測装置及び光画像計測方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007065822A Division JP4602372B2 (ja) | 2007-03-14 | 2007-03-14 | 光画像計測装置及び光画像計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006047053A true JP2006047053A (ja) | 2006-02-16 |
JP4409384B2 JP4409384B2 (ja) | 2010-02-03 |
Family
ID=35295652
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004226923A Expired - Fee Related JP4409384B2 (ja) | 2004-08-03 | 2004-08-03 | 光画像計測装置及び光画像計測方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7307733B2 (ja) |
EP (1) | EP1630520B1 (ja) |
JP (1) | JP4409384B2 (ja) |
CN (1) | CN1734253B (ja) |
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JPH03245135A (ja) | 1990-02-23 | 1991-10-31 | Mita Ind Co Ltd | 画像形成装置の光学系移動式露光装置 |
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-
2004
- 2004-08-03 JP JP2004226923A patent/JP4409384B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-08-02 EP EP05016780.8A patent/EP1630520B1/en not_active Not-in-force
- 2005-08-02 CN CN2005100891280A patent/CN1734253B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-08-02 US US11/194,482 patent/US7307733B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060028652A1 (en) | 2006-02-09 |
CN1734253B (zh) | 2010-05-12 |
US7307733B2 (en) | 2007-12-11 |
EP1630520A2 (en) | 2006-03-01 |
CN1734253A (zh) | 2006-02-15 |
EP1630520B1 (en) | 2013-04-10 |
EP1630520A3 (en) | 2012-01-25 |
JP4409384B2 (ja) | 2010-02-03 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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A977 | Report on retrieval |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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