JP5390786B2 - X線透視撮影装置、x線透視撮影方法 - Google Patents

X線透視撮影装置、x線透視撮影方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5390786B2
JP5390786B2 JP2008115534A JP2008115534A JP5390786B2 JP 5390786 B2 JP5390786 B2 JP 5390786B2 JP 2008115534 A JP2008115534 A JP 2008115534A JP 2008115534 A JP2008115534 A JP 2008115534A JP 5390786 B2 JP5390786 B2 JP 5390786B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
fluoroscopic
image
division
fluoroscopy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008115534A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009261684A (ja
Inventor
友治 坂井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP2008115534A priority Critical patent/JP5390786B2/ja
Publication of JP2009261684A publication Critical patent/JP2009261684A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5390786B2 publication Critical patent/JP5390786B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

本発明は、被検体の生体組織を撮影するX線透視撮影装置に関する。詳細には、X線照射前にX線条件を設定するX線透視撮影装置に関する。
X線透視撮影装置は、X線発生器から被検体にX線を照射し、被検体を透過したX線をX線検出器で検出しX線透視画像を構成して表示させる装置である。X線透視撮影装置は、X線検出器で検出された信号を、X線発生器にフィードバックしてX線条件(照射されるX線量等)を決定する。
従来、X線透視撮影装置は、X線を被検体に照射しつつ被検体を透過して検出されるX線の検出量によって、照射するX線量を最適化した後、被検体の生体組織の撮影を行っていた。
また、X線発生器の被検体側に設けられるX線絞りの位置が変更されると、被検体に対して曝射されるX線の範囲が変更される。従って、X線絞りの位置が変更されれば、その都度、照射するX線量を再び最適化する必要がある。
被検体の付加的なX線被曝を低減するために、X線絞りの位置を制御コンピュータに送信する発信器をX線絞りに設け、絞り位置に応じてビデオ信号の、絞りによる作用を模擬する方法が開示されている(例えば、[特許文献1]参照。)。
特開平5−103263号公報
しかしながら、[特許文献1]は、実際に被検体にX線を照射することなく、元になる撮影画像に対して、絞りによる作用を算出して模擬的に表示させる技術であって、実際に被検体の撮影画像を得る場合には、X線を照射しつつ設定された絞りに対して最適X線量を決定する必要がある。
従って、実際にX線絞りを調整しつつX線量の調整を行っている間、被検体は不要な被曝に曝されることになる。
従来のX線透視撮影装置では、透視X線量を最適化するため、X線を被検体に照射し始めてからX線量が安定するまでに時間を要し、不安定なX線量によって透視される画像は有効な画像ではなく、被検体にとっては不要な被曝になってしまうという課題があった。
特に、透視開始後に透視の停止・再開を繰り返す場合、透視を再開する毎にX線透視撮影装置がX線量を最適化するので、透視再開毎に被検体は不要な被曝を受けるという問題点があった。
透視停止から透視再開の間に、X線絞りの位置が変更された場合には、X線条件(X線量)の最適化には更に時間を要するため、被検体の不要な被曝が問題となっていた。
本発明は、以上の課題に鑑みてなされたものであり、被検体の被曝を低減し、迅速なX線条件の設定を可能とするX線透視撮影装置を提供することを目的とする。
前述した目的を達成するための本発明は、被検体にX線を照射するX線発生器と、前記被検体に照射するX線量を調整するX線絞りと、前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、検出されたX線情報に基づいてX線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるX線透視撮影装置であって、透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存手段と、前記X線透視画像の分割の形態と、分割の形態に応じた前記X線絞りの絞り位置情報及び有効視野が予め設定されている分割モード設定手段と、透視停止中に前記X線透視画像の分割の形態が選択された際に、前記分割モード設定手段に設定されている前記有効視野及び前記透視最終画像の画素値データを用いてX線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出手段と、前記X線条件フィードバック信号に基づいて透視再開後の前記X線発生器のX線条件を設定するX線条件設定手段と、具備することを特徴とするX線透視撮影装置である。
第1の発明のX線透視撮影装置は、透視停止時の透視最終画像を保存し、X線透視画像の分割の形態と、分割の形態に応じたX線絞りの絞り位置情報及び有効視野が予め設定され、透視停止中にX線透視画像の分割の形態が選択された際に、予め設定されている有効視野及び透視最終画像の画素値データを用いてX線条件フィードバック信号を算出し、X線条件フィードバック信号に基づいて透視再開後のX線発生器のX線条件を設定する。
X線絞りは、X線発生器の被検体側に配置される。X線絞りは、被検体に照射するX線束を必要視野に制限し、被曝や散乱線の発生を抑える。
透視最終画像は、X線透視撮影装置による透視・撮影停止の直近に取得された透視画像である。保存される透視最終画像は、透視・撮影停止毎に更新される。
X線条件フィードバック信号に基づいて設定されるX線条件は、X線発生器が印加する電圧・電流の値である。X線発生器5から出力されるX線量はX線条件である電圧・電流の値に依存して決まる。
第1の発明では、透視停止中にX線透視画像の分割の形態が選択された際に、予め設定されている有効視野及び透視最終画像の画素値データを用いてX線条件フィードバック信号を算出し、透視再開後のX線発生器のX線条件を設定するので、分割の形態の選択により有効視野を即座に得ることができるため、X線条件の迅速な設定が行われ、被検体への不要な被ばくを低減することができる。
また、X線透視撮影装置は、X線透視画像の分割の形態を手動で選択するための分割ボタンと、分割ボタンが選択されると、選択された分割の形態に応じたX線絞りの絞り位置情報に従ってX線絞りの位置を変更するX線絞り制御部と、を更に備えることが望ましい。予め分割モードに対するX線絞りの位置や有効視野が設定されているのでX線絞り位置情報の取得及び有効視野の算出が不要になり、迅速にX線条件フィードバック信号を算出することができる。また、分割ボタンの操作でX線絞り位置を切り替えることができる。
また、分割の形態は、少なくとも縦2分割、横2分割、及び4分割の形態のうち少なくともいずれか一つを含むことが望ましい。
第2の発明は、被検体にX線を照射するX線発生器と、前記被検体に照射するX線量を調整するX線絞りと、前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、検出されたX線情報に基づいてX線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるX線透視撮影装置におけるX線透視撮影方法であって、透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存ステップと、透視停止中に前記X線透視画像の分割の形態が選択された際に、分割の形態に応じて予め設定されている有効視野及び前記透視最終画像の画素値データを用いてX線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出ステップと、前記X線条件フィードバック信号に基づいて透視再開後の前記X線発生器のX線条件を設定するX線条件設定ステップと、を含むことを特徴とするX線透視撮影方法である。
第2の発明は、第1の発明のX線透視撮影装置におけるX線透視撮影方法に関する発明である。
本発明によれば、被検体の被曝を低減し、迅速なX線条件の設定を可能とするX線透視撮影装置を提供することができる。
以下添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。尚、以下の説明及び添付図面において、同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略することにする。
(1.X線透視撮影装置1の構成)
最初に、図1を参照しながら、X線透視撮影装置1の構成について説明する。
図1は、X線透視撮影装置1の構成を示す図である。
X線透視撮影装置1は、テーブル15に固定した被検体17にX線を照射するX線管3と、X線管3に電圧・電流を印加するX線発生器5と、不要なX線を遮断するX線可動絞り9と、X線管3と対向配置され被検体17を透過した照射X線13を検出するX線検出器19と、X線透視画像を表示する画像表示装置25等から構成される。
X線制御部7は、X線発生器5が印加する電圧・電流の値であるX線条件を制御する。X線発生器5から出力されるX線量はX線条件に依存する。X線制御部7は、フィードバック制御部31から送られるX線条件の変更指示情報(フィードバック信号45)に基づいてX線条件を変更する。
X線可動絞り制御部11は、操作部(絞り操作部)29から送られる絞り操作指示情報に応じてX線可動絞り9の位置や形状等を制御する。
X線検出データ読出部21は、X線検出器19によって検出された透視画像情報を読出し、画像処理部23は読み出された透視画像情報の処理を行う。具体的には、画像処理部23は、読み出された透視画像情報に対してオフセット補正、ゲイン補正などの各種補正処理を行い、さらに、補正された透視画像情報にダイナミックレンジ圧縮処理、フィルタ処理等の各種の画像処理を施して1フレーム分のX線透視画像を生成する。画像処理部23は、例えば、1秒間に30フレームのX線透視画像を生成する。
CRTや液晶表示装置等の画像表示装置25は、画像処理の行われたX線透視画像を表示する。
操作部(絞り操作部)29は、操作者が手動で操作する絞り位置変更操作部や、分割ボタン等により予め設定された絞り位置を設定する絞り設定部である。例えば、縦方向の左右の絞りの位置、横方向の上下の絞りの位置は、操作者の手動操作によりそれぞれ独立した位置設定が可能である。また、例えば画像の縦2分割、横2分割、4分割等の分割ボタンが押下されると、予め登録されているそれぞれの絞り位置情報が読み出されて、絞り位置が設定される。
操作部(絞り操作部)29が操作されると、X線可動絞り制御部11、X線条件制御部27、フィードバック制御部31、及びX線制御部7によってX線発生器5のX線条件の変更処理が行われる。
操作部(絞り操作部)29が操作されると、X線可動絞り制御部11からX線可動絞り9に位置変更指示情報が送られて絞り位置が変更され、同時にX線条件制御部27に絞り位置変更情報(絞り位置情報43)が通知される。
X線条件制御部27は、X線可動絞り制御部11から送られる絞り位置変更情報(絞り位置情報43)と、画像処理部23から送られる透視画像情報(X線透視画像画素値41)に基づいて、X線条件変更に係る統計値(例えば平均画素値44)を算出してフィードバック制御部31に送る。X線条件制御部27の処理の詳細については後述する。
フィードバック制御部31は、X線条件の変更指示情報(フィードバック信号45)をX線制御部7に送る。
(2.X線条件制御部27の構成)
次に、図2を参照しながら、X線条件制御部27の構成と処理の詳細について説明する。
図2は、X線条件制御部27の構成を示す図である。
X線条件制御部27は、画像取得部33、画素値演算部35、絞り位置情報取得部37及び有効視野算出部39から構成される。画像取得部33は、画像処理部23から透視画像情報(X線透視画像画素値41)を取得し、画素値演算部35に送る。
絞り位置情報取得部37は、X線可動絞り制御部11から、絞り位置情報43を取得し有効視野算出部39に送る。有効視野算出部39は、X線の曝射範囲がX線可動絞り9によって制限されて実際にX線が照射される範囲を、有効視野として算出する。
画素値演算部35は、所定の画素領域(採光野領域)に対して透視画像情報(X線透視画像画素値41)と算出された有効視野に基づいて、X線条件を制御するための統計値(平均画素値44)を算出し、フィードバック制御部31に送る。
(3.X線条件制御部27のハードウェア構成)
図3は、X線条件制御部27のハードウェア構成を示す図である。
X線条件制御部27は、CPU101、主メモリ103、記憶装置105、表示メモリ107、画像表示装置25、コントローラ109に接続されたマウス111やキーボード113が、システムバス115によって接続されて構成される。X線条件制御部27は、システムバス115を介して他装置からの入力情報117を取得し、他装置へ出力情報119を送出する。
CPU101は、各構成要素の動作を制御する装置である。CPU101は、記憶装置105に格納されるプログラムやプログラム実行に必要なデータを主メモリ103にロードして実行する。記憶装置105は、X線透視撮影装置1により透視・撮影された透視画像情報を格納する装置である。また、記憶装置105には、CPU101が実行するプログラムやプログラム実行に必要なデータが格納される。主メモリ103は、CPU101が実行するプログラムや演算処理の途中経過を記憶するものである。
マウス111やキーボード113は、操作者がX線透視撮影装置1に対して操作指示を行う操作デバイスである。表示メモリ107は、液晶ディスプレイやCRT等の画像表示装置25に表示するための表示データを格納するものである。コントローラ109は、マウス111の状態を検出して、画像表示装置25上のマウスポインタの位置を検出し、検出信号をCPU101へ出力するものである。
入力情報117は、例えば、画像処理部23から送られるX線透視画像画素値41やX線可動絞り制御部11から送られる絞り位置情報43である。出力情報119は、例えば、フィードバック制御部31に送られる平均画素値44である。入力情報117や出力情報119は、システムバス115を介してオンラインで送受信するとしたが、ネットワーク等を介して送受信するようにしてもよい。
以上、X線条件制御部27のハードウェア構成について説明したが、X線検出データ読出部21、画像処理部23、X線可動絞り制御部11、X線制御部7、フィードバック制御部31等もそれぞれX線条件制御部27と同様な構成とするようにしてもよいし、部分的にハードウェア構成を共有するようにしてもよい。
<第1実施形態>
(4.X線透視撮影装置1の動作)
次に、図4〜図9を参照しながら、第1実施形態について説明する。
(4−1.全体動作)
図4は、X線透視撮影装置1の全体動作を示すフローチャートである。
操作者は、被検体17をテーブル15に固定し、X線透視スイッチをONにする(ステップ1001)。X線透視スイッチONにすると、X線管3から被検体17に向けてX線が照射される(ステップ1002)。
X線条件制御部27は、記憶装置105に透視最終画像が格納されているかどうかを判定する(ステップ1003)。尚、記憶装置105に格納される透視最終画像は、格納されてから所定時間(例えば30分)が経過すると消去されるようにしてもよい。また、被検体17に関する最初のX線透視撮影の開始時には、透視最終画像は格納されていない。
記憶装置105に透視最終画像が格納されていなければ(ステップ1003のNO)、X線条件制御部27はX線条件決定処理(1)を実行する(ステップ1004)。
(4−2.X線条件決定処理(1))
次に、図5を参照しながら、X線条件決定処理(1)について説明する。
図5は、X線条件決定処理(1)を示すフローチャートである。
照射X線13は被検体17を透過しX線検出器19で検出され、X線検出データ読出部21で読み出される。検出された透過X線は画像処理部23で処理される。X線条件制御部27の画像取得部33は、画像処理部23から透視画像情報(X線透視画像画素値41)を取得する(ステップ2001)。
図8は透視画像情報201と採光野領域59を説明する図である。採光野領域59は、フィードバック信号の算出対象となる画素領域である。
透視画像情報201は、画像表示装置25に表示される透視画像のデータであって、画像処理部23からX線透視画像画素値41として取得される。透視画像情報201の画素領域は、採光野領域59と一致するとは限らない。例えば、X線可動絞り9によって有効視野が狭められた場合、透視画像情報201の画素領域は、採光野領域59よりも狭くなることがある。
画素値演算部35は、透視画像情報201に基づいて、採光野領域59の全画素の平均画素値44を算出し、フィードバック制御部31に出力する(ステップ2002)。尚、画素値演算部35は、透視画像情報201の画素領域には含まれず、採光野領域59に属する画素の画素値を黒値(画素値「0」)として算出する。
フィードバック制御部31は、採光野領域59の平均画素値44をフィードバック信号45に変換する変換テーブル、又は変換式を有する。フィードバック制御部31は、平均画素値44をフィードバック信号45に変換してX線制御部7に送る(ステップ2003)。
X線制御部7は、フィードバック信号45に基づいてX線発生器5に印加する電圧・電流を変更し、X線発生器5が照射するX線量(X線条件)を変更する(ステップ2004)。
このように、X線条件決定処理(1)では、X線透視スイッチONの状態で、X線条件制御部27は採光野領域59の平均画素値44をフィードバック制御部31に送り、フィードバック制御部31は平均画素値44をフィードバック信号45に変換してX線制御部7に送り、X線制御部7はX線発生器5のX線条件を最適化する。
X線条件決定処理(1)(ステップ2001からステップ2004の処理)が実行されることにより、X線透視撮影装置1のX線条件は最適化され、被検体17の安定したX線透視画像を得ることができる。X線条件決定処理(1)実行後、ステップ1005(図4)に進む。
(4−3.X線透視撮影装置1の処理とX線照射時間の関係)
ここで、X線透視撮影装置1の処理とX線照射時間の関係について説明する。
図7は、X線透視撮影装置1の処理とX線照射時間の関係を示す図である。縦軸は時間51を示す。時間T〜時間Tは、所要時間を示す。
被検体17の最初の透視を透視(1)53とする。透視の停止後、再開した透視を透視(2)55、及び透視(3)57とする。透視(1)53、透視(2)55、及び透視(3)57に要する時間はそれぞれ時間T、時間T、及び時間Tであり、その間は被検体17に透視X線が照射される。
尚、時間T、時間Tの期間は、X線透視撮影装置1の透視が停止中であり、その間は被検体17に透視X線は照射されない。
最初の透視(1)53のX線条件決定処理(1)(ステップ2001からステップ2004の処理)に要する時間Tは、透視前にX線条件を最適化する時間である。X線条件決定処理(1)の時間Tの間、被検体17は不要な被曝を受けることになる。
(4−4.透視撮影実行と透視最終画像の保存)
X線条件決定処理(1)(図4:ステップ1004)の終了後、又はステップ1003(図4)において記憶装置105に透視最終画像が格納されている場合、X線透視撮影装置1は被検体17のX線透視撮影を実行する(ステップ1005)。後述するが、記憶装置105に透視最終画像が格納されている場合は、X線透視撮影装置1のX線条件は既に最適化されている。
尚、X線透視撮影を実行中(ステップ1005)、操作者によって絞りの位置が変更されると、採光野領域59の平均画素値44が変化するのでX線条件制御部27等によるフィードバック処理が行われX線条件が変更される。即ちステップ1004のX線条件決定処理(1)と同様に、採光野領域59の平均画素値44に基づいてフィードバック処理が行われX線条件が最適化される。
操作者は、X線透視撮影装置1のX線透視スイッチをOFFして、X線透視を停止する(ステップ1006)。ステップ1001からステップ1006の透視に要する時間は、透視(1)53(図7)の時間Tで示される。
X線透視撮影装置1は、X線透視スイッチOFFの直近の透視撮影画像を記憶装置105に保存する(ステップ1007)。X線透視スイッチOFFの直近の透視撮影画像を透視最終画像とする。
(4−5.X線条件決定処理(2))
X線透視撮影装置1は、X線透視スイッチOFFのあと、X線条件決定処理(2)を実行する(ステップ1008)。
図6を参照しながら、X線条件決定処理(2)について説明する。
図6は、X線条件決定処理(2)を示すフローチャートである。
X線条件制御部27は、画像処理部23からX線透視画像画素値41である透視最終画像を取得する(ステップ3001)。
次に、X線条件制御部27は、X線可動絞り制御部11から絞り位置情報43を取得する(ステップ3002)。取得された絞り位置情報43と、透視最終画像の有効視野の形状及び面積は対応している。
透視停止の状態で、絞り位置情報43に変更がない場合(ステップ3003のNO)、かつX線透視スイッチがOFFの場合(ステップ3009のNO)は、X線透視撮影装置1は処理を行わず透視停止の状態を保つ。
透視停止の状態で、絞り位置情報43に変更がない場合(ステップ3003のNO)、かつX線透視スイッチがONになった場合(ステップ3009のYES)、X線透視撮影装置1はX線条件決定処理(2)を終了し、X線条件は変更されずステップ1002(図4)に戻る。次のステップ1003では、透視最終画像が保存されているので(ステップ1003のYES)、X線透視撮影装置1はすぐにX線透視撮影処理を実行する(ステップ1005)。
X線透視スイッチON(ステップ3009のYES)からX線透視スイッチOFF(ステップ1006)までの透視処理は、透視(2)55(図7)で示され、透視処理に要する時間はTである。透視最終画像が保存されているので、透視(1)53の場合のようなX線条件決定処理(1)は不要になる。
ステップ3003(図6)に戻り、透視停止の状態で、操作者が操作部29を操作して絞り位置情報43に変更があった場合(ステップ3003のYES)、X線条件制御部27は、保存している透視最終画像に基づいて採光野領域59の平均画素値を算出する(ステップ3004)。
即ち、採光野領域59の全画素の画素値P〜Pの平均画素値Pを算出する。
X線条件制御部27は、X線可動絞り制御部11から、絞り位置変更後の絞り位置情報43を取得し、絞り位置情報43に基づいて有効視野を算出し、絞り位置変更後の採光野領域59の平均画素値44を算出する(ステップ3005)。
図9を参照しながら、絞り位置変更と絞り位置変更後の採光野領域59の平均画素値44の算出処理(X線条件算出処理)について説明する。
図9は、X線条件算出画像202を示す図である。
X線条件制御部27の絞り位置情報取得部37は絞り位置変更後の絞り位置情報43として、絞り左羽座標(X1)65−1、絞り右羽座標(X2)65−2、絞り上羽座標(Y1)65−3、絞り下羽座標(Y2)65−4を取得する。有効視野算出部39は、絞り位置変更後の有効視野(S2)63を算出する。
画素値演算部35は、採光野領域59にあって、絞り位置変更後に有効視野63の範囲にない画素の画素値を黒値(画素値「0」)に置き換えて、当初の採光野領域59の全画素の画素値をPm0〜Pmnに置き換える。画素値演算部35は、画素値Pm0〜Pmnの平均値Pmxを算出して採光野領域59の平均画素値44とする。
画素値演算部35は、絞り位置変更後の採光野領域59の平均画素値44をフィードバック制御部31に出力する(ステップ3006)。
フィードバック制御部31は、変換テーブル、又は変換式に基づいて平均画素値44(Pmx)をフィードバック信号45に変換してX線制御部7に送る(ステップ3007)。
X線制御部7は、フィードバック信号45に基づいてX線発生器5に印加する電圧・電流を変更し、X線発生器5が照射するX線量(X線条件)を変更する(ステップ3008)。
X線透視スイッチがOFFの間は(ステップ3009のNO)、X線条件制御部27はステップ3003からステップ3009の処理を繰り返し、絞り位置情報43に変更がある毎にX線条件を変更する処理を行う。
X線透視スイッチがONになると(ステップ3009のYES)、X線透視撮影装置1はX線条件決定処理(2)を終了し、ステップ1002(図4)に戻る。次のステップ1003では、透視最終画像が保存されているので(ステップ1003のYES)、X線透視撮影装置1はすぐにX線透視撮影処理を実行する(ステップ1005)。この場合、X線透視スイッチOFFの間にX線透視撮影装置1はX線条件決定処理(2)(ステップ1008)を実行し、X線条件を最適化している。
X線透視スイッチON(ステップ3009のYES)からX線透視スイッチOFF(ステップ1006)までの透視処理は、透視(3)57(図7)で示され、透視処理に要する時間はTである。透視(2)55終了後から透視(3)57開始時までの時間Tの間、X線条件決定処理(2)(ステップ1008)が実行され、絞り位置が変更される毎にX線条件が最適化される。透視(3)57の場合も、既に透視最終画像が保存されているので、透視(1)53の場合のようなX線条件決定処理(1)は不要になる。
尚、X線条件決定処理(2)では、X線条件制御部27が、絞り位置変更後の採光野領域59の全画素の平均画素値を算出してフィードバック制御部31に出力するとして説明したが、全画素の平均画素値の代わりに全画素の中央値を用いるようにしてもよい。
(4−6.第1実施形態の効果)
以上述べたように、第1実施形態では、X線透視撮影装置1は透視停止中のX線絞りの位置変更がある毎にX線発生器のX線条件を最適化するので、透視再開時には既にX線条件は適切に調整されている。従って、同一の被検体に対してX線透視撮影の停止・透視再開を繰り返す場合には、透視再開時のX線条件の最適化が不要なので効率的な撮影ができ、被検体への不要な被曝を低減することができる。
<第2実施形態>
(5.画像の分割モードの設定)
次に、図10〜図12を参照しながら、第2実施形態について説明する。
第2実施形態のX線透視撮影装置1は、操作部(絞り操作部)29として、予め画像の分割が設定されている分割ボタンを備える。
図10は、縦2分割ボタンによる縦2分割画面203を示す図である。操作者によって操作部(絞り操作部)29の縦2分割ボタンが選択されると、絞り位置が、予め登録されている絞り左羽座標(X1)69−1、絞り右羽座標(X2)69−2に変更になり、有効視野67が得られるよう予め設定されている。
図11は、横2分割ボタンによる横2分割画面204を示す図である。操作部(絞り操作部)29の横2分割ボタンが選択されると、絞り位置が、予め登録されている絞り上羽座標(Y1)73−1、絞り下羽座標(Y2)73−2に変更になり、有効視野71が得られるよう予め設定されている。
図12は、4分割ボタンによる4分割画面205を示す図である。操作部(絞り操作部)29の4分割ボタンが選択されると、絞り位置が、予め登録されている絞り左羽座標(X1)69−1、絞り右羽座標(X2)69−2、絞り上羽座標(Y1)73−1、絞り下羽座標(Y2)73−2に変更になり、有効視野75が得られるよう予め設定されている。
透視・撮影停止中に分割ボタンが選択されると、X線可動絞り9は予め分割ボタンに対応して登録されている絞り位置に切り替わり、X線条件制御部27は絞り位置に対応する有効視野を得る。X線条件制御部27は有効視野が変更された場合の採光野領域に対して、第1実施形態と同様に平均画素値44を算出してフィードバック制御部31に出力しX線条件の最適化を図る。
X線透視撮影装置1は、分割ボタンを選択することにより、X線条件制御部27による絞り位置情報の取得処理と、有効視野算出処理とが不要になるので、X線条件の最適化処理の効率化を図ることができる。
以上述べたように、第2実施形態では、分割ボタンの選択により有効視野を即座に得ることができるので、連続的に変化する絞り位置情報を検出して有効視野を算出する処理が不要になり、X線条件の最適化処理の効率化を図ることができる。
(6.その他)
以上、第1実施形態、第2実施形態について説明したが、これらを組み合わせてX線透視撮影装置1を構成してもよい。
また、フィードバック信号の算出は、予め登録している採光野領域の平均画素値とフィードバック信号値を対応させる所定のテーブルを用いて算出してもよいし、所定の関係式で算出するようにしてもよい。
以上、本発明に係るX線透視撮影装置の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
X線透視撮影装置1の構成を示す図 X線条件制御部27の構成を示す図 X線条件制御部27のハードウェア構成を示す図 X線透視撮影装置1の動作のフローチャートを示す図 X線条件決定処理(1)のフローチャートを示す図 X線条件決定処理(2)のフローチャートを示す図 X線透視撮影装置1の処理とX線照射時間の関係を示す図 透視画像情報201と採光野領域59を説明する図 X線条件算出画像202を示す図 縦2分割画面203を示す図 横2分割画面204を示す図 4分割画面205を示す図
符号の説明
1………X線透視撮影装置
3………X線管
5………X線発生器
7………X線制御部
9………X線可動絞り
11………X線可動絞り制御部
13………照射X線
15………テーブル
17………被検体
19………X線検出器
21………X線検出データ読出部
23………画像処理部
25………画像表示装置
27………X線条件制御部
29………操作部(絞り操作部)
31………フィードバック制御部
33………画像取得部
35………画素値演算部
37………絞り位置情報取得部
39………有効視野算出部
41………X線透視画像画素値
43………絞り位置情報
44………平均画素値
45………フィードバック信号
51………時間
53、55、57………撮影
59………採光野領域
60、63、67、71、75………有効視野
61………生体組織
65−1、65−2、65−3、65−4、69−1、69−2、73−1,73−2………絞り座標
101………CPU
103………主メモリ
105………記憶装置
107………表示メモリ
109………コントローラ
111………マウス
113………キーボード
115………システムバス
117………入力情報
119………出力情報
201………透視画像情報
202………X線条件算出画像
203………縦2分割画面
204………横2分割画面
205………4分割画面

Claims (4)

  1. 被検体にX線を照射するX線発生器と、前記被検体に照射するX線量を調整するX線絞りと、前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、検出されたX線情報に基づいてX線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるX線透視撮影装置であって、
    透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存手段と、
    前記X線透視画像の分割の形態と、分割の形態に応じた前記X線絞りの絞り位置情報及び有効視野が予め設定されている分割モード設定手段と、
    透視停止中に前記X線透視画像の分割の形態が選択された際に、前記分割モード設定手段に設定されている前記有効視野及び前記透視最終画像の画素値データを用いてX線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出手段と、
    前記X線条件フィードバック信号に基づいて透視再開後の前記X線発生器のX線条件を設定するX線条件設定手段と、
    を具備することを特徴とするX線透視撮影装置。
  2. 前記X線透視画像の分割の形態を手動で選択するための分割ボタンと、
    前記分割ボタンが選択されると、選択された分割の形態に応じたX線絞りの絞り位置情報に従ってX線絞りの位置を変更するX線絞り制御部と、
    を更に備えることを特徴とする請求項1に記載のX線透視撮影装置。
  3. 前記分割の形態は、少なくとも縦2分割、横2分割、及び4分割の形態のうち少なくともいずれか一つを含むことを特徴とする請求項1に記載のX線透視撮影装置。
  4. 被検体にX線を照射するX線発生器と、前記被検体に照射するX線量を調整するX線絞りと、前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、検出されたX線情報に基づいてX線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるX線透視撮影装置におけるX線透視撮影方法であって、
    透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存ステップと、
    透視停止中に前記X線透視画像の分割の形態が選択された際に、分割の形態に応じて予め設定されている有効視野及び前記透視最終画像の画素値データを用いてX線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出ステップと、
    前記X線条件フィードバック信号に基づいて透視再開後の前記X線発生器のX線条件を設定するX線条件設定ステップと、
    を含むことを特徴とするX線透視撮影方法。
JP2008115534A 2008-04-25 2008-04-25 X線透視撮影装置、x線透視撮影方法 Expired - Fee Related JP5390786B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008115534A JP5390786B2 (ja) 2008-04-25 2008-04-25 X線透視撮影装置、x線透視撮影方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008115534A JP5390786B2 (ja) 2008-04-25 2008-04-25 X線透視撮影装置、x線透視撮影方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009261684A JP2009261684A (ja) 2009-11-12
JP5390786B2 true JP5390786B2 (ja) 2014-01-15

Family

ID=41388296

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008115534A Expired - Fee Related JP5390786B2 (ja) 2008-04-25 2008-04-25 X線透視撮影装置、x線透視撮影方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5390786B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104135929A (zh) * 2012-02-01 2014-11-05 株式会社东芝 医用图像诊断装置
JP6241386B2 (ja) * 2014-07-23 2017-12-06 株式会社島津製作所 X線透視撮影装置
JP6798325B2 (ja) * 2017-01-20 2020-12-09 株式会社島津製作所 X線透視装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0241143A (ja) * 1988-07-29 1990-02-09 Shimadzu Corp X線テレビジョン装置
EP0500996B1 (de) * 1991-03-01 1994-01-19 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendiagnostikeinrichtung mit einer Primärstrahlenblende
JP4565683B2 (ja) * 1999-11-26 2010-10-20 株式会社日立メディコ X線撮影装置
JP4776798B2 (ja) * 2000-03-29 2011-09-21 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 X線診断装置
JP2003230555A (ja) * 2002-02-07 2003-08-19 Toshiba Corp X線透視撮影診断装置
JP2005118382A (ja) * 2003-10-17 2005-05-12 Toshiba Corp X線診断装置
JP4699167B2 (ja) * 2005-10-17 2011-06-08 株式会社日立メディコ X線画像診断装置
JP2007244484A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Toshiba Corp X線診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009261684A (ja) 2009-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8265224B2 (en) System for adjusting angiographic X-ray imaging parameters based on image content
JP2010263961A (ja) X線画像撮影装置およびx線画像撮影装置の制御方法
US10282829B2 (en) Image processing apparatus for processing x-ray image, radiation imaging system, image processing method, and storage medium
WO2015174206A1 (ja) 画像診断装置及び階調情報設定方法
US20170116730A1 (en) Medical image processing device and program
JP5390786B2 (ja) X線透視撮影装置、x線透視撮影方法
JP2018033578A (ja) 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム
US9820714B2 (en) Radiographic imaging system, radiographic imaging method and non-transitory recording medium
JP2001340321A (ja) X線診断装置
JP6083990B2 (ja) 放射線撮影装置、その制御方法及びプログラム
US10083503B2 (en) Image area specification device and method, and X-ray image processing device and method
JP4416823B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラム
JP4847041B2 (ja) X線撮影装置
JP2003230555A (ja) X線透視撮影診断装置
US9959614B2 (en) Image processing device and method
JP2010075555A (ja) X線画像診断装置
WO2021044757A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、およびプログラム
JP2008154893A (ja) X線撮影装置
JP2018149166A (ja) 放射線画像処理装置
JP2005295417A (ja) 画像処理装置
JP2017000675A (ja) 医用画像処理装置及びx線撮像装置
JP2007244484A (ja) X線診断装置
JP2003339685A (ja) 表示装置、画像処理装置、画像処理システム、表示方法、及び記憶媒体
JP7212530B2 (ja) 放射線撮影システム、制御装置および制御方法
JP2018175321A (ja) 放射線画像解析装置及び放射線画像撮影システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110408

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121031

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121120

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131001

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131011

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5390786

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees