JP5378727B2 - Processing equipment equipped with a bite tool - Google Patents

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JP5378727B2 JP2008201953A JP2008201953A JP5378727B2 JP 5378727 B2 JP5378727 B2 JP 5378727B2 JP 2008201953 A JP2008201953 A JP 2008201953A JP 2008201953 A JP2008201953 A JP 2008201953A JP 5378727 B2 JP5378727 B2 JP 5378727B2
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a processing device including a cutting tool provided with a function to remove turning chips adhered to a cutting blade. <P>SOLUTION: This processing device includes a chuck table provided with a holding surface for holding a workpiece, a turning means provided with the cutting tool to turn the workpiece held by the chuck table, a processing feed mechanism for relatively moving the chuck table and the turning means in a processing feed direction, a cutting feed mechanism for moving the turning means in a direction perpendicular to the holding surface, a cutting tool mounting member mounted with the turning means on a rotating spindle and a lower end of the rotating spindle, the cutting tool mounted on the cutting tool mounting member at a position deviated from a rotary axial center. The processing device further includes a turning chip removal means applied to the cutting blade of the cutting tool to remove turning chips adhered to the cutting blade. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、被加工物を保持する保持面を備えたチャックテーブルに保持された被加工物を旋削するためのバイト工具を備えた加工装置に関する。   The present invention relates to a processing apparatus including a bite tool for turning a workpiece held on a chuck table having a holding surface for holding the workpiece.

複数個の半導体デバイスが格子状に形成された半導体ウエーハは、ダイシング装置等によって個々の半導体デバイスに分割され、この分割された半導体デバイスは携帯電話やパソコン等の電気機器に広く用いられている。
近年、電気機器の軽量化、小型化を可能にするために、半導体デバイスを積層可能に構成した積層デバイスが開発されている。この積層デバイスは、半導体デバイスの表面に50〜100μmの突起状のバンプ(電極)を形成し、このバンプをエポキシ樹脂やベンソシクロブテン(BCB)等の合成樹脂からなるアンダーフィル材によって埋設した後、バンプをアンダーフィル材の表面に露出させることによって、積層したデバイスのバンプが接続可能に構成されている。
A semiconductor wafer in which a plurality of semiconductor devices are formed in a lattice shape is divided into individual semiconductor devices by a dicing apparatus or the like, and the divided semiconductor devices are widely used in electric devices such as mobile phones and personal computers.
2. Description of the Related Art In recent years, in order to reduce the weight and size of electrical equipment, a stacked device configured so that semiconductor devices can be stacked has been developed. In this laminated device, bumps (electrodes) of 50 to 100 μm are formed on the surface of a semiconductor device, and the bumps are embedded with an underfill material made of a synthetic resin such as epoxy resin or benzocyclobutene (BCB). Thereafter, the bumps of the stacked devices are configured to be connectable by exposing the bumps to the surface of the underfill material.

このように、半導体デバイスの表面に形成されたバンプを埋設したアンダーフィル材の表面にバンプを露出する方法が、下記特許文献1に開示されている。この特許文献1に開示された方法は、半導体デバイスの表面に形成されたバンプを埋設したアンダーフィル材をバイト工具によって旋削することにより、バンプをアンダーフィル材の表面に露出させる方法である。
特開2000−173954号公報
A method of exposing the bumps to the surface of the underfill material in which the bumps formed on the surface of the semiconductor device are embedded is disclosed in Patent Document 1 below. The method disclosed in Patent Document 1 is a method in which a bump is exposed to the surface of the underfill material by turning the underfill material in which the bump formed on the surface of the semiconductor device is embedded with a bite tool.
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-173954

而して、半導体デバイスの表面に形成されたバンプを埋設したアンダーフィル材をバイト工具によって旋削すると、合成樹脂からなるアンダーフィル材は高温になると粘性があがるためバイト工具の切れ刃の先端に旋削屑付着し、旋削抵抗が増大してバイト工具の磨耗が促進されるという問題がある。   Therefore, if the underfill material with embedded bumps formed on the surface of the semiconductor device is turned with a bite tool, the underfill material made of synthetic resin will become viscous at high temperatures, so turning at the tip of the cutting edge of the bite tool. There is a problem that scraps adhere, the turning resistance increases, and the wear of the cutting tool is promoted.

本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、切れ刃に付着した旋削屑を除去する機能を具備したバイト工具を備えた加工装置を提供することにある。   This invention is made | formed in view of the said fact, The main technical subject is to provide the processing apparatus provided with the cutting tool provided with the function which removes the turning waste adhering to a cutting blade.

上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、被加工物を保持する保持面を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を旋削するためのバイト工具を備えた旋削手段と、該チャックテーブルと該旋削手段とを該保持面と平行な水平面内において加工送り方向に相対移動せしめる加工送り機構と、該旋削手段を該保持面に対して垂直な方向に移動せしめる切り込み送り機構とを具備し、該旋削手段が回転スピンドルと該回転スピンドル下端に装着されたバイト工具装着部材と該バイト工具装着部材に回転軸芯から偏芯した位置に装着されたバイト工具を具備している、バイト工具を備えた加工装置において、
該バイト工具の切れ刃に作用し該バイト工具の切れ刃に付着した旋削屑を除去する旋削屑除去手段を具備し、
該旋削屑除去手段は、該チャックテーブルに隣接して配設され該チャックテーブルとともに該加工送り方向に移動する被旋削ボードを供えており、該バイト工具の切れ刃が該被旋削ボードを旋削することにより、該バイト工具の切れ刃に付着した旋削屑を除去する、
ことを特徴とするバイト工具を備えた加工装置が提供される。
In order to solve the above main technical problem, according to the present invention, a chuck table having a holding surface for holding a workpiece and a bite tool for turning the workpiece held on the chuck table are provided. Turning means, a machining feed mechanism for moving the chuck table and the turning means in a machining feed direction in a horizontal plane parallel to the holding surface, and moving the turning means in a direction perpendicular to the holding surface A cutting feed mechanism, and the turning means includes a rotating spindle, a cutting tool mounting member mounted on the lower end of the rotating spindle, and a cutting tool mounted on the cutting tool mounting member at a position eccentric from the rotational axis. In a processing device equipped with a cutting tool,
Comprising turning turning removal means for acting on the cutting edge of the cutting tool and removing the turning scrap attached to the cutting edge of the cutting tool ;
The turning scrap removing means is provided adjacent to the chuck table, and provided with a turning board that moves in the machining feed direction together with the chuck table, and the cutting edge of the cutting tool turns the turning board. By removing turning scraps adhering to the cutting edge of the bite tool,
There is provided a machining apparatus provided with a cutting tool characterized by the above.

上記旋削屑除去手段は、被旋削ボードを保持するボード保持基台と、該ボード保持基台をバイト工具の切れ刃が被旋削ボードを旋削する作用位置と該作用位置より下方の退避位置に位置付けるボード位置付け手段を具備していることが望ましい。
また、上記旋削屑除去手段は、上記ボード保持基台を水平面内で回動する回動手段を具備していることが望ましい。
The turning scrap removing means positions the board holding base for holding the turning board, the working position where the cutting edge of the cutting tool turns the turning board, and the retracted position below the working position. It is desirable to have board positioning means.
The turning scrap removing means preferably includes a turning means for turning the board holding base in a horizontal plane.

本発明による加工装置は、バイト工具の切れ刃に作用しバイト工具の切れ刃に付着した旋削屑を除去する旋削屑除去手段を具備し、該旋削屑除去手段はチャックテーブルに隣接して配設されチャックテーブルとともに加工送り方向に移動する被旋削ボードを供えており、バイト工具の切れ刃が被旋削ボードを旋削することにより、バイト工具の切れ刃に付着した旋削屑を除去するので、旋削屑除去手段によってバイト工具の切れ刃に付着した旋削屑が除去されるため、旋削屑がバイト工具の切れ刃に付着することによって生ずる旋削抵抗の増大を抑制することができ、バイト工具の切れ刃の磨耗が抑制される。 The processing apparatus according to the present invention includes turning scrap removing means that acts on the cutting edge of the cutting tool and removes turning scrap attached to the cutting edge of the cutting tool, and the turning scrap removing means is disposed adjacent to the chuck table. In addition, a turning board that moves together with the chuck table in the machining feed direction is provided. Since the turning scrap attached to the cutting edge of the cutting tool is removed by the removing means, it is possible to suppress an increase in turning resistance caused by the attachment of the turning scrap to the cutting edge of the cutting tool. Wear is suppressed.

以下、本発明に従って構成されたバイトを備えた加工装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, a preferred embodiment of a processing apparatus having a cutting tool constructed according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1には本発明に従って構成されたバイト工具を備えた加工装置の斜視図が示されている。
図示の実施形態における加工装置は、全体を番号2で示す装置ハウジングを具備している。装置ハウジング2は、細長く延在する直方体形状の主部21と、該主部21の後端部(図1において右上端)に設けられ実質上鉛直に上方に延びる直立壁22とを有している。直立壁22の前面には、上下方向に延びる一対の案内レール221、221が設けられている。この一対の案内レール221、221に旋削手段としての旋削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されている。
FIG. 1 is a perspective view of a machining apparatus having a bite tool constructed according to the present invention.
The processing apparatus in the illustrated embodiment includes an apparatus housing denoted as a whole by the number 2. The apparatus housing 2 includes a rectangular parallelepiped main portion 21 that extends elongated and an upright wall 22 that is provided at a rear end portion (upper right end in FIG. 1) of the main portion 21 and extends substantially vertically upward. Yes. A pair of guide rails 221 and 221 extending in the vertical direction are provided on the front surface of the upright wall 22. A turning unit 3 as a turning means is mounted on the pair of guide rails 221 and 221 so as to be movable in the vertical direction.

旋削ユニット3は、移動基台31と該移動基台31に装着されたスピンドルユニット32を具備している。移動基台31は、後面両側に上下方向に延びる一対の脚部311、311が設けられており、この一対の脚部311、311に上記一対の案内レール221、221と摺動可能に係合する被案内溝312、312が形成されている。このように直立壁22に設けられた一対の案内レール221、221に摺動可能に装着された移動基台31の前面には支持部材313が装着され、この支持部材313にスピンドルユニット32が取り付けられる。   The turning unit 3 includes a moving base 31 and a spindle unit 32 attached to the moving base 31. The movable base 31 is provided with a pair of legs 311 and 311 extending in the vertical direction on both sides of the rear surface. The pair of legs 311 and 311 is slidably engaged with the pair of guide rails 221 and 221. Guided grooves 312 and 312 are formed. A support member 313 is mounted on the front surface of the movable base 31 slidably mounted on the pair of guide rails 221 and 221 provided on the upright wall 22, and the spindle unit 32 is attached to the support member 313. It is done.

スピンドルユニット32は、支持部材313に装着されたスピンドルハウジング321と、該スピンドルハウジング321に回転自在に配設された回転スピンドル322と、該回転スピンドル322を回転駆動するための駆動源としてのサーボモータ323とを具備している。回転スピンドル322の下端部はスピンドルハウジング321の下端を越えて下方に突出せしめられており、その下端には円板形状のバイト工具装着部材324が設けられている。なお、バイト工具装着部材324には、バイト工具33が着脱可能に装着される。   The spindle unit 32 includes a spindle housing 321 mounted on a support member 313, a rotating spindle 322 rotatably disposed on the spindle housing 321, and a servo motor as a drive source for rotationally driving the rotating spindle 322. 323. The lower end of the rotary spindle 322 protrudes downward beyond the lower end of the spindle housing 321, and a disk-shaped tool tool mounting member 324 is provided at the lower end. The tool tool 33 is detachably mounted on the tool tool mounting member 324.

ここで、バイト工具33のバイト工具装着部材324への着脱構造について、図2を参照して説明する。
バイト工具装着部材324には、回転軸芯から偏芯した外周部の一部に上下方向に貫通するバイト取り付け穴324aが設けられているとともに、このバイト取り付け穴324aと対応する外周面からバイト取り付け穴324aに達する雌ネジ穴324bが設けられている。このように構成されたバイト工具装着部材324のバイト取り付け穴324aにバイト工具33を挿入し、雌ネジ穴324bに締め付けボルト330を螺合して締め付けることにより、バイト工具33はバイト工具装着部材324に着脱可能に装着される。なお、バイト工具33は、図示の実施形態においては超鋼合金等の工具鋼によって棒状に形成されたバイト本体331と、該バイト本体331の先端部に設けられたダイヤモンド等で形成された切れ刃332とによって構成したものが用いられている。このように構成されバイト工具装着部材324に装着されているバイト工具33は、上記回転スピンドル322が回転することにより、後述するチャックテーブルの被加工物を保持する保持面と平行な水平面内で回転せしめられる。
Here, the attachment / detachment structure of the cutting tool 33 to the cutting tool mounting member 324 will be described with reference to FIG.
The tool tool mounting member 324 is provided with a tool mounting hole 324a penetrating in a vertical direction in a part of the outer peripheral portion eccentric from the rotation axis, and the tool mounting is performed from the outer peripheral surface corresponding to the tool mounting hole 324a. A female screw hole 324b reaching the hole 324a is provided. The bite tool 33 is inserted into the bite mounting hole 324a of the bite tool mounting member 324 having the above-described configuration, and the tightening bolt 330 is screwed into the female screw hole 324b to be tightened. Removably attached to the. In the illustrated embodiment, the cutting tool 33 is composed of a cutting tool body 331 formed in a rod shape with tool steel such as super steel alloy, and a cutting blade formed of diamond or the like provided at the tip of the cutting tool body 331. 332 is used. The tool tool 33 configured as described above and mounted on the tool tool mounting member 324 is rotated in a horizontal plane parallel to a holding surface for holding a workpiece of a chuck table, which will be described later, by rotating the rotary spindle 322. I'm damned.

図1に戻って説明を続けると、図示の実施形態における加工装置は、上記旋削ユニット3を上記一対の案内レール221、221に沿って上下方向(後述するチャックテーブルの保持面と垂直な方向)に移動せしめる切り込み送り機構4を備えている。この切り込み送り機構4は、直立壁22の前側に配設され実質上鉛直に延びる雄ねじロッド41を具備している。この雄ねじロッド41は、その上端部および下端部が直立壁22に取り付けられた軸受部材42および43によって回転自在に支持されている。上側の軸受部材42には雄ねじロッド41を回転駆動するための駆動源としてのパルスモータ44が配設されており、このパルスモータ44の出力軸が雄ねじロッド41に伝動連結されている。移動基台31の後面にはその幅方向中央部から後方に突出する連結部(図示していない)も形成されており、この連結部には鉛直方向に延びる貫通雌ねじ穴が形成されており、この雌ねじ穴に上記雄ねじロッド41が螺合せしめられている。従って、パルスモータ44が正転すると移動基台31即ち旋削ユニット3が下降即ち前進せしめられ、パルスモータ44が逆転すると移動基台31即ち旋削ユニット3が上昇即ち後退せしめられる。   Referring back to FIG. 1, the machining apparatus in the illustrated embodiment moves the turning unit 3 up and down along the pair of guide rails 221 and 221 (in a direction perpendicular to a holding surface of a chuck table described later). A cutting feed mechanism 4 is provided. The cutting feed mechanism 4 includes a male screw rod 41 disposed on the front side of the upright wall 22 and extending substantially vertically. The male screw rod 41 is rotatably supported by bearing members 42 and 43 whose upper end and lower end are attached to the upright wall 22. The upper bearing member 42 is provided with a pulse motor 44 as a drive source for rotationally driving the male screw rod 41, and the output shaft of the pulse motor 44 is connected to the male screw rod 41 by transmission. A connecting portion (not shown) that protrudes rearward from the center portion in the width direction is also formed on the rear surface of the movable base 31, and a through female screw hole that extends in the vertical direction is formed in the connecting portion, The male screw rod 41 is screwed into the female screw hole. Therefore, when the pulse motor 44 rotates forward, the moving base 31, that is, the turning unit 3 is lowered or advanced, and when the pulse motor 44 reversely moves, the moving base 31, that is, the turning unit 3 is raised or retracted.

図1および図3を参照して説明を続けると、ハウジング2の主部21の後半部上には略矩形状の加工作業部211が形成されており、この加工作業部211にはチャックテーブル機構5が配設されている。チャックテーブル機構5は、支持基台51とこの支持基台51に実質上鉛直に延びる回転中心軸線を中心として回転自在に配設された円板形状のチャックテーブル52とを含んでいる。支持基台51は、上記加工作業部211上に前後方向(直立壁22の前面に垂直な方向)である矢印23aおよび23bで示す方向に延在する一対の案内レール23、23上に摺動自在に載置されており、後述する加工送り機構56によって図1に示す被加工物搬入・搬出域24(図3において実線で示す位置)と上記スピンドルユニット32を構成するバイト工具33と対向する加工域25(図3において2点鎖線で示す位置)との間で移動せしめられる。   1 and FIG. 3, a substantially rectangular machining work portion 211 is formed on the rear half of the main portion 21 of the housing 2, and the machining work portion 211 includes a chuck table mechanism. 5 is disposed. The chuck table mechanism 5 includes a support base 51 and a disk-shaped chuck table 52 disposed on the support base 51 so as to be rotatable about a rotation center axis extending substantially vertically. The support base 51 slides on a pair of guide rails 23 and 23 extending in the direction indicated by the arrows 23a and 23b in the front-rear direction (the direction perpendicular to the front surface of the upright wall 22) on the processing work unit 211. The workpiece loading / unloading area 24 shown in FIG. 1 (position indicated by a solid line in FIG. 3) and the bite tool 33 constituting the spindle unit 32 are opposed to each other by a machining feed mechanism 56 described later. It is moved between the machining area 25 (position indicated by a two-dot chain line in FIG. 3).

次に、上記チャックテーブル52について説明する。
図示の実施形態におけるチャックテーブル52は、ステンレス鋼等の金属材によって円柱状に形成されており、上記支持基台51上に配設されている。チャックテーブル52の上面である保持面には、同心円状に形成された複数の環状溝からなる吸引溝521が設けられている。この吸引溝521は、図示しない吸引手段に連通されている。従って、図示しない吸引手段を作動すると吸引溝521に負圧が作用し、チャックテーブル52の上面である保持面に載置された被加工物が吸引保持される。
Next, the chuck table 52 will be described.
The chuck table 52 in the illustrated embodiment is formed in a columnar shape by a metal material such as stainless steel, and is disposed on the support base 51. The holding surface, which is the upper surface of the chuck table 52, is provided with suction grooves 521 composed of a plurality of annular grooves formed concentrically. The suction groove 521 communicates with suction means (not shown). Accordingly, when a suction means (not shown) is operated, a negative pressure is applied to the suction groove 521, and the workpiece placed on the holding surface which is the upper surface of the chuck table 52 is sucked and held.

図3を参照して説明を続けると、図示のチャックテーブル機構5は、チャックテーブル52を挿通する穴を有し上記支持基台51およびチャックテーブル52とともに移動可能に配設されたカバー部材54を備えている。   3, the illustrated chuck table mechanism 5 includes a cover member 54 that has a hole through which the chuck table 52 is inserted and is movably disposed together with the support base 51 and the chuck table 52. I have.

上述したチャックテーブル機構5は、チャックテーブル52に隣接しチャックテーブル52の研磨域25側に配設され上記バイト工具33の切れ刃332に作用し該バイト工具33の切れ刃332に付着した旋削屑を除去する旋削屑除去手段6を具備している。以下、ド旋削屑除去手段6について、図4を参照して説明する。   The chuck table mechanism 5 described above is disposed on the polishing area 25 side of the chuck table 52 adjacent to the chuck table 52 and acts on the cutting edge 332 of the cutting tool 33 and adheres to the cutting edge 332 of the cutting tool 33. A turning scrap removing means 6 is provided. Hereinafter, the scraped turning removal means 6 will be described with reference to FIG.

図示の実施形態における旋削屑除去手段6は、上記バイト工具33の切れ刃332によって旋削される被旋削ボード61と、該被旋削ボード61を保持するボード保持基台62と、該ボード保持基台62をバイト工具33の切れ刃332が被旋削ボード61を旋削する作用位置と該作用位置より下方の退避位置に位置付けるボード位置付け手段63を具備している。   The turning scrap removing means 6 in the illustrated embodiment includes a turned board 61 that is turned by the cutting edge 332 of the cutting tool 33, a board holding base 62 that holds the turned board 61, and the board holding base. 62 is provided with an action position where the cutting edge 332 of the cutting tool 33 turns the work board 61 and a board positioning means 63 located at a retracted position below the action position.

被旋削ボード61は、図4に示す実施形態においては矩形状に形成されている。この被旋削ボード61は、例えば縦が50mm、横が30mm、厚さが10mm程度のカーボンプレートまたは銅プレートによって形成されている。このように形成された被旋削ボード61は、矩形状に形成されボード保持基台62の上面に吸引保持される。即ち、ボード保持基台62の上面には複数の吸引孔(図示せず)が開口して設けられており、この複数の吸引孔が図示しない吸引手段に連通されている。従って、図示しない吸引手段を作動すると複数の吸引孔に負圧が作用し、ボード保持基台62の上面に載置された被旋削ボード61が吸引保持される。なお、被旋削ボード61は、ボード保持基台62の上面に例えば70℃の温度で溶融するワックス等のボンド剤によって貼着してもよい。   The turning board 61 is formed in a rectangular shape in the embodiment shown in FIG. The turned board 61 is formed of, for example, a carbon plate or a copper plate having a length of 50 mm, a width of 30 mm, and a thickness of about 10 mm. The turning board 61 formed in this way is formed in a rectangular shape and sucked and held on the upper surface of the board holding base 62. That is, a plurality of suction holes (not shown) are provided on the upper surface of the board holding base 62 so as to communicate with suction means (not shown). Therefore, when a suction means (not shown) is operated, negative pressure acts on the plurality of suction holes, and the turned board 61 placed on the upper surface of the board holding base 62 is sucked and held. The turned board 61 may be adhered to the upper surface of the board holding base 62 with a bonding agent such as wax that melts at a temperature of 70 ° C., for example.

上述したボード保持基台62を上記作用位置と退避位置に位置付けるボード位置付け手段63は、ボード保持基台62を支持する移動基板631と、該移動基板631の上下方向の移動を案内する4本の案内ロッド632(図4には3本が示されている)と、移動基板631を案内ロッド632に沿って移動せしめる昇降手段633とを具備している。上記移動基板631は矩形状に形成されており、その4隅部に上下方向に貫通する4個の被案内穴631a(図4には3個が示されている)が設けられている。この4個の被案内穴631aを上記支持基台51に立設された4本の案内ロッド632にそれぞれ挿通することにより、移動基板631は案内ロッド632に沿って上下方向に移動可能に構成される。このように構成された移動基板631の上面に適宜の固定手段によってボード保持基台62が固定される。移動基板631を案内ロッド632に沿って移動せしめる昇降手段633は、上記支持基台51上に配設され正転・逆転可能なパルスモータ633aおよび該パルスモータ633aによって駆動されるスクリュー機構633bを含んでおり、パルスモータ633aを正転駆動すると移動基板631を上昇せしめ、パルスモータ633aを逆転駆動すると移動基板631を下降せしめる。そして、昇降手段633は、被旋削ボード61の上面を図5の(a)に示すようにチャックテーブル52上に保持された被加工物Wの上面より上方の作用位置と、図5の(b)に示すように被旋削ボード61の上面を上記作用位置より下方であるチャックテーブル52の上面付近の退避位置に位置付けるようになっている。   The board positioning means 63 for positioning the board holding base 62 at the operation position and the retracted position described above includes a moving board 631 that supports the board holding base 62 and four guides that guide the movement of the moving board 631 in the vertical direction. Guide rods 632 (three are shown in FIG. 4) and lifting / lowering means 633 for moving the moving substrate 631 along the guide rods 632 are provided. The moving substrate 631 is formed in a rectangular shape, and four guided holes 631a (three are shown in FIG. 4) penetrating in the vertical direction are provided at the four corners. The movable substrate 631 is configured to be movable in the vertical direction along the guide rod 632 by inserting the four guided holes 631a through the four guide rods 632 provided on the support base 51. The The board holding base 62 is fixed to the upper surface of the movable substrate 631 configured in this manner by appropriate fixing means. The lifting / lowering means 633 for moving the moving substrate 631 along the guide rod 632 includes a pulse motor 633a disposed on the support base 51 and capable of normal / reverse rotation, and a screw mechanism 633b driven by the pulse motor 633a. When the pulse motor 633a is driven forward, the moving substrate 631 is raised, and when the pulse motor 633a is driven reversely, the moving substrate 631 is lowered. And the raising / lowering means 633 has the operation position above the upper surface of the workpiece W held on the chuck table 52 as shown in FIG. ), The upper surface of the to-be-turned board 61 is positioned at a retracted position near the upper surface of the chuck table 52 which is below the operation position.

以上のように構成された被旋削ボード61およびボード位置付け手段63は、チャックテーブル52の後側即ち研磨域25側に配設される。そして、被旋削ボード61およびボード保持基台62が図3に示すように上記カバー部材54の後端部に形成された矩形状の切欠部541に位置するように配置される。   The turning board 61 and the board positioning means 63 configured as described above are disposed on the rear side of the chuck table 52, that is, on the polishing area 25 side. Then, the turned board 61 and the board holding base 62 are arranged so as to be positioned in a rectangular cutout 541 formed at the rear end of the cover member 54 as shown in FIG.

図3を参照して説明を続けると、図示の実施形態における加工装置は、上記チャックテーブル機構5を一対の案内レール23、23に沿って上記チャックテーブル52の保持面と平行な水平面内において矢印23aおよび23bで示す加工送り方向に移動せしめる加工送り機構56を具備している。加工送り機構56は、一対の案内レール23、23間に配設され一対の案内レール23、23と平行に延びる雄ねじロッド561と、該雄ねじロッド561を回転駆動するサーボモータ562を具備している。雄ねじロッド561は、上記支持基台51に設けられたネジ穴511と螺合して、その先端部が一対の案内レール23、23を連結して取り付けられた軸受部材563によって回転自在に支持されている。サーボモータ562は、その駆動軸が雄ねじロッド561の基端と伝動連結されている。従って、サーボモータ562が正転すると支持基台51即ちチャックテーブル機構5が矢印23aで示す方向に移動し、サーボモータ562が逆転すると支持基台51即ちチャックテーブル機構5が矢印23bで示す方向に移動せしめられる。このようにして矢印23aおよび23bで示す方向に移動せしめられるチャックテーブル機構5は、図3において実線で示す被加工物搬入・搬出域と2点鎖線で示す加工域に選択的に位置付けられる。また、チャックテーブル機構5は、加工域においては所定範囲に渡って矢印23aおよび23bで示す加工送り方向に往復動せしめられる   Continuing the description with reference to FIG. 3, the machining apparatus in the illustrated embodiment moves the chuck table mechanism 5 along the pair of guide rails 23, 23 in the horizontal plane parallel to the holding surface of the chuck table 52. A machining feed mechanism 56 for moving in the machining feed direction indicated by 23a and 23b is provided. The processing feed mechanism 56 includes a male screw rod 561 that is disposed between the pair of guide rails 23, 23 and extends in parallel with the pair of guide rails 23, 23, and a servo motor 562 that rotationally drives the male screw rod 561. . The male screw rod 561 is screwed into a screw hole 511 provided in the support base 51, and the tip end portion thereof is rotatably supported by a bearing member 563 attached by connecting a pair of guide rails 23 and 23. ing. The servo motor 562 has a drive shaft connected to the base end of the male screw rod 561 by transmission. Accordingly, when the servo motor 562 rotates in the forward direction, the support base 51, that is, the chuck table mechanism 5, moves in the direction indicated by the arrow 23a. When the servo motor 562 rotates in the reverse direction, the support base 51, that is, the chuck table mechanism 5, moves in the direction indicated by the arrow 23b. It can be moved. The chuck table mechanism 5 that is moved in the direction indicated by the arrows 23a and 23b in this manner is selectively positioned in the workpiece loading / unloading area indicated by the solid line and the machining area indicated by the two-dot chain line in FIG. Further, the chuck table mechanism 5 is reciprocated in a machining feed direction indicated by arrows 23a and 23b over a predetermined range in the machining area.

図1に戻って説明を続けると、上記チャックテーブル機構5を構成する支持基台51の移動方向両側には、横断面形状が逆チャンネル形状であって、上記一対の案内レール23、23や雄ねじロッド561およびサーボモータ562等を覆っている蛇腹手段71および72が付設されている。蛇腹手段71および72はキャンパス布の如き適宜の材料から形成することができる。蛇腹手段71の前端は加工作業部211の前面壁に固定され、後端はチャックテーブル機構5のカバー部材54の前端面に固定されている。蛇腹手段72の前端はチャックテーブル機構5のカバー部材54の後端面に固定され、後端は装置ハウジング2の直立壁22の前面に固定されている。チャックテーブル機構5が矢印23aで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段71が伸張されて蛇腹手段72が収縮され、チャックテーブル機構5が矢印23bで示す方向に移動せしめられる際には蛇腹手段71が収縮されて蛇腹手段72が伸張せしめられる。   Returning to FIG. 1, the description will be continued. On the both sides in the moving direction of the support base 51 constituting the chuck table mechanism 5, the cross-sectional shape is a reverse channel shape, and the pair of guide rails 23, 23 and male screws Bellows means 71 and 72 covering the rod 561 and the servomotor 562 are attached. The bellows means 71 and 72 can be formed from any suitable material such as campus cloth. The front end of the bellows means 71 is fixed to the front wall of the processing unit 211, and the rear end is fixed to the front end surface of the cover member 54 of the chuck table mechanism 5. The front end of the bellows means 72 is fixed to the rear end surface of the cover member 54 of the chuck table mechanism 5, and the rear end is fixed to the front surface of the upright wall 22 of the apparatus housing 2. When the chuck table mechanism 5 is moved in the direction indicated by the arrow 23a, the bellows means 71 is expanded and the bellows means 72 is contracted, and when the chuck table mechanism 5 is moved in the direction indicated by the arrow 23b, the bellows means. 71 is contracted and the bellows means 72 is extended.

図1に基づいて説明を続けると、装置ハウジング2の主部21における前半部上には、第1のカセット載置部11aと、第2のカセット載置部12aと、被加工物仮置き部13aと、洗浄部14aが設けられている。上記第1のカセット載置部11aには加工前の被加工物を収容する第1のカセット11が載置され、上記第2のカセット載置部12aには加工後の被加工物を収容する第2のカセット12が載置されるようになっている。上記被加工物仮置き部13aには、第1のカセット載置部11aに載置された第1のカセット11から搬出された加工前の被加工物を仮置きする被加工物仮載置き手段13が配設されている。また、上記洗浄部14aには、加工後の被加工物を洗浄する洗浄手段14が配設されている。   The description will be continued based on FIG. 1. On the front half of the main portion 21 of the apparatus housing 2, a first cassette mounting portion 11 a, a second cassette mounting portion 12 a, and a workpiece temporary storage portion are provided. 13a and a cleaning unit 14a are provided. A first cassette 11 that accommodates a workpiece before processing is placed on the first cassette mounting portion 11a, and a workpiece after processing is accommodated on the second cassette mounting portion 12a. The second cassette 12 is placed. The workpiece temporary placement section 13a temporarily places a workpiece temporary placement means for temporarily placing the workpiece before being carried out from the first cassette 11 placed on the first cassette placement portion 11a. 13 is disposed. The cleaning unit 14a is provided with cleaning means 14 for cleaning the processed workpiece.

上記第1のカセット載置部11aと第2のカセット載置部12aとの間には被加工物搬送手段15が配設されている。この被加工物搬送手段15は、第1のカセット載置部11aに載置された第1のカセット11内に収納されている加工前の被加工物を被加工物仮置き手段13に搬出するとともに、洗浄手段14で洗浄された加工後の被加工物を第2のカセット載置部12aに載置された第2のカセット12に搬送する。上記被加工物仮置き部13aと被加工物を被加工物搬入・搬出域24との間には被加工物搬入手段16が配設されている。この被加工物搬入手段16は、被加工物仮置き手段13に載置された加工前の被加工物を被加工物搬入・搬出域24に位置付けられたチャックテーブル機構5のチャックテーブル52上に搬送する。上記被加工物を被加工物搬入・搬出域24と洗浄部14aとの間には被加工物搬出手段17が配設されている。この被加工物搬出手段17は、被加工物搬入・搬出域24に位置付けられたチャックテーブル52上に載置されている加工後の被加工物を洗浄手段14に搬送する。   A workpiece transfer means 15 is disposed between the first cassette mounting portion 11a and the second cassette mounting portion 12a. The workpiece conveying means 15 carries the workpiece before processing stored in the first cassette 11 placed on the first cassette placing portion 11 a to the workpiece temporary placing means 13. At the same time, the processed workpiece cleaned by the cleaning means 14 is transported to the second cassette 12 mounted on the second cassette mounting portion 12a. A workpiece carrying means 16 is disposed between the workpiece temporary placing portion 13a and the workpiece loading / unloading area 24. The workpiece carrying-in means 16 places the workpiece before processing placed on the workpiece temporary placing means 13 on the chuck table 52 of the chuck table mechanism 5 positioned in the workpiece carrying-in / out area 24. Transport. A workpiece unloading means 17 is disposed between the workpiece loading / unloading area 24 and the cleaning unit 14a. The workpiece unloading means 17 conveys the processed workpiece placed on the chuck table 52 positioned in the workpiece loading / unloading area 24 to the cleaning means 14.

上記第1のカセット11に収容される加工前の被加工物は、図6に示すように表面に複数個のデバイス110が格子状に形成され半導体ウエーハ10からなっている。半導体ウエーハ10に形成された複数個のデバイス110の表面には、それぞれ複数個のスタッドバンプ(電極)120が形成されている。このように各デバイス110の表面のスタッドバンプ(電極)120が形成され半導体ウエーハ10の表面には、図7に示すように合成樹脂からなるアンダーフィル材130が被覆され、スタッドバンプ(電極)120が埋設された状態となっている。   The workpiece before processing accommodated in the first cassette 11 includes a semiconductor wafer 10 having a plurality of devices 110 formed in a lattice shape on the surface as shown in FIG. A plurality of stud bumps (electrodes) 120 are formed on the surfaces of the plurality of devices 110 formed on the semiconductor wafer 10. The stud bumps (electrodes) 120 on the surface of each device 110 are thus formed, and the surface of the semiconductor wafer 10 is covered with an underfill material 130 made of a synthetic resin as shown in FIG. Is buried.

上述した被加工物としての半導体ウエーハ10を収容した第1のカセット11は、装置ハウジング2の第1のカセット載置部11aに載置される。そして、第1のカセット載置部11aに載置された第1のカセット11に収容されていた加工前の半導体ウエーハ10が全て搬出されると、空になったカセット11に代えて複数個の加工前の半導体ウエーハ10を収容した新しいカセット11が手動で第1のカセット載置部11aに載置される。一方、装置ハウジング2の第2のカセット載置部12aに載置された第2のカセット12に所定数の加工後の半導体ウエーハ10が搬入されると、かかる第2のカセット12が手動で搬出され、新しい空の第2のカセット12が載置される。   The first cassette 11 containing the semiconductor wafer 10 as the workpiece is mounted on the first cassette mounting portion 11 a of the apparatus housing 2. When all the unprocessed semiconductor wafers 10 accommodated in the first cassette 11 placed on the first cassette placement portion 11a are carried out, a plurality of empty wafers 11 are replaced. A new cassette 11 containing the unprocessed semiconductor wafer 10 is manually mounted on the first cassette mounting portion 11a. On the other hand, when a predetermined number of processed semiconductor wafers 10 are loaded into the second cassette 12 mounted on the second cassette mounting portion 12a of the apparatus housing 2, the second cassette 12 is manually unloaded. Then, a new empty second cassette 12 is placed.

図示の実施形態における加工装置は以上のように構成されており、以下その作動について主に図1を参照して説明する。
第1のカセット11に収容された被加工物としての加工前の半導体ウエーハ10は被加工物搬送手段15の上下動作および進退動作により搬送され、被加工物仮置き手段13に載置される。被加工物仮置き手段13に載置された半導体ウエーハ10は、ここで中心合わせが行われた後に被加工物搬入手段16の旋回動作によって被加工物搬入・搬出域24に位置付けられているチャックテーブル機構5のチャックテーブル52上に載置される。チャックテーブル52上に半導体ウエーハ10が載置されたならば、図示しない吸引手段を作動することにより、チャックテーブル52の上面である保持面に載置された半導体ウエーハ10が吸引保持される。
The processing apparatus in the illustrated embodiment is configured as described above, and the operation thereof will be described mainly with reference to FIG.
The unprocessed semiconductor wafer 10 as a workpiece accommodated in the first cassette 11 is conveyed by the vertical movement and advancing / retreating operation of the workpiece conveyance means 15 and placed on the workpiece temporary placement means 13. The semiconductor wafer 10 placed on the workpiece temporary placement means 13 is positioned in the workpiece loading / unloading area 24 by the turning operation of the workpiece loading means 16 after being centered here. It is placed on the chuck table 52 of the table mechanism 5. When the semiconductor wafer 10 is placed on the chuck table 52, the semiconductor wafer 10 placed on the holding surface which is the upper surface of the chuck table 52 is sucked and held by operating a suction means (not shown).

チャックテーブル52上に半導体ウエーハ10を吸引保持したならば、加工送り機構56(図3参照)を作動してチャックテーブル機構5を矢印23aで示す方向に移動し、半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル52を加工域25に位置付ける。このようにして半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル52が加工領域25に位置付けられたならば、半導体ウエーハ10の表面に被覆されたアンダーフィル材130を旋削し、半導体チップ110の表面に形成された複数個のスタッドバンプ(電極)120をアンダーフィル材130の表面に露出させる旋削工程を実施する。このとき、昇降手段633は、図5の(b)に示すように被旋削ボード61の上面をチャックテーブル52の上面付近の退避位置に位置付けている。   When the semiconductor wafer 10 is sucked and held on the chuck table 52, the machining feed mechanism 56 (see FIG. 3) is operated to move the chuck table mechanism 5 in the direction indicated by the arrow 23a, and the chuck table holding the semiconductor wafer 10 is held. 52 is positioned in the machining area 25. When the chuck table 52 holding the semiconductor wafer 10 is positioned in the processing region 25 in this way, the underfill material 130 covered on the surface of the semiconductor wafer 10 is turned and formed on the surface of the semiconductor chip 110. A turning process of exposing a plurality of stud bumps (electrodes) 120 to the surface of the underfill material 130 is performed. At this time, the lifting / lowering means 633 positions the upper surface of the turned board 61 at a retracted position near the upper surface of the chuck table 52 as shown in FIG.

上記旋削工程について、図8を参照して説明する。
旋削工程は、回転スピンドル322を回転駆動し、バイト工具33が取り付けられたバイト工具装着部材324を図8において矢印で示す方向に例えば6000rpmの回転速度で回転する。そして、旋削ユニット3を下降させバイト工具33を所定の切り込み位置に位置付ける。次に、例えばバイト工具33の切れ刃332の旋削幅が20数μmの場合には、半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル52を図8において実線で示す位置から右方に例えば2mm/秒の送り速度で図8において2点鎖線で示す位置まで移動する。この結果、バイト工具装着部材324の回転に伴って回転するバイト工具33の切れ刃332によって半導体ウエーハ10の表面に被覆されたアンダーフィル材130を旋削するとともに、半導体デバイス110の表面に形成された複数個のスタッドバンプ(電極)120が旋削され、図9に示すように半導体ウエーハ10の表面に被覆されたアンダーフィル材130の表面にスタッドバンプ(電極)120が露出せしめられる。
The turning process will be described with reference to FIG.
In the turning process, the rotary spindle 322 is driven to rotate, and the tool tool mounting member 324 to which the tool tool 33 is attached rotates in the direction indicated by the arrow in FIG. Then, the turning unit 3 is lowered to position the cutting tool 33 at a predetermined cutting position. Next, when the turning width of the cutting edge 332 of the cutting tool 33 is 20 μm, for example, the chuck table 52 holding the semiconductor wafer 10 is fed to the right from the position indicated by the solid line in FIG. It moves to the position indicated by the two-dot chain line in FIG. As a result, the underfill material 130 coated on the surface of the semiconductor wafer 10 is turned by the cutting edge 332 of the cutting tool 33 rotating with the rotation of the cutting tool mounting member 324, and formed on the surface of the semiconductor device 110. A plurality of stud bumps (electrodes) 120 are turned, and the stud bumps (electrodes) 120 are exposed on the surface of the underfill material 130 coated on the surface of the semiconductor wafer 10 as shown in FIG.

上記旋削工程においては、半導体デバイス110の表面に形成された(電極)120を埋設したアンダーフィル材130をバイト工具33によって旋削すると、合成樹脂からなるアンダーフィル材130は高温になると粘性があがるため旋削工程を続けるとバイト工具33の切れ刃332の先端に旋削屑が付着する。このようにバイト工具33の切れ刃332の先端に旋削屑が付着すると、旋削抵抗が増大してバイト工具の磨耗が促進されるという問題がある。このような問題を解消するために、上述した実施形態においては、例えば半導体ウエーハ10を1枚加工したならば、バイト工具33の切れ刃332に付着した研削屑を除去する。   In the above turning process, if the underfill material 130 embedded with the (electrode) 120 formed on the surface of the semiconductor device 110 is turned by the bite tool 33, the underfill material 130 made of synthetic resin becomes viscous at a high temperature. When the turning process is continued, turning scraps adhere to the tip of the cutting edge 332 of the cutting tool 33. Thus, when turning scraps adhere to the tip of the cutting edge 332 of the cutting tool 33, there is a problem that the turning resistance increases and the wear of the cutting tool is promoted. In order to solve such a problem, in the above-described embodiment, for example, if one semiconductor wafer 10 is processed, the grinding dust adhering to the cutting edge 332 of the cutting tool 33 is removed.

バイト工具33の切れ刃332に付着した研削屑を除去するには、加工送り機構56(図3参照)を作動してチャックテーブル機構5に配設された旋削屑除去手段6を図10に示すように加工域に位置付ける。そして、旋削屑除去手段6は、昇降手段633のパルスモータ633aを正転駆動して被旋削ボード61の上面を図5の(a)に示す作用位置に位置付ける。次に、旋削ユニット3を下降させバイト工具33を所定の切り込み位置に位置付ける。そして、回転スピンドル322を回転駆動し、バイト工具33が取り付けられたバイト工具装着部材324を図10において矢印で示す方向に例えば6000rpmの回転速度で回転し、チャックテーブル機構5を図10において実線で示す位置から右方に例えば2mm/秒の送り速度で図10において2点鎖線で示す位置まで移動する。この結果、バイト工具装着部材324の回転に伴って回転するバイト工具33の切れ刃332が被旋削ボード61に作用し、被旋削ボード61を切削することにより、上記旋削工程においてバイト工具33の切れ刃332に付着した研削屑が除去される。このように、バイト工具33の切れ刃332に付着した研削屑が除去されることにより、次の半導体ウエーハ10を加工する際にバイト工具33の切れ刃332に研削屑が付着していることによる旋削抵抗の増大はなく、バイト工具の磨耗が抑制される。   In order to remove the grinding waste adhering to the cutting edge 332 of the cutting tool 33, the turning waste removal means 6 disposed in the chuck table mechanism 5 by operating the machining feed mechanism 56 (see FIG. 3) is shown in FIG. Position it in the machining area. Then, the turning scrap removing means 6 drives the pulse motor 633a of the elevating means 633 in the normal direction so as to position the upper surface of the board to be turned 61 at the operation position shown in FIG. Next, the turning unit 3 is lowered to position the cutting tool 33 at a predetermined cutting position. Then, the rotary spindle 322 is driven to rotate, and the tool tool mounting member 324 to which the tool tool 33 is attached is rotated at a rotational speed of, for example, 6000 rpm in the direction indicated by the arrow in FIG. From the position shown to the right, it moves to the position shown by the two-dot chain line in FIG. As a result, the cutting edge 332 of the cutting tool 33 that rotates with the rotation of the cutting tool mounting member 324 acts on the turning board 61, and the cutting board 61 is cut to cut the cutting tool 33 in the turning process. Grinding waste adhering to the blade 332 is removed. Thus, by removing the grinding waste adhering to the cutting edge 332 of the cutting tool 33, the grinding scrap is attached to the cutting edge 332 of the cutting tool 33 when the next semiconductor wafer 10 is processed. There is no increase in turning resistance, and wear of the bite tool is suppressed.

上述したように半導体ウエーハ10の表面に被覆されたアンダーフィル材130を旋削し、半導体チップ110の表面に形成された複数個のスタッドバンプ(電極)120をアンダーフィル材130の表面に露出させる旋削工程が終了するとともに、バイト工具33の切れ刃332に付着した旋削屑を除去する旋削屑除去工程が終了したら、旋削ユニット3を上昇せしめる。次に、チャックテーブル52を図1において矢印23bで示す方向に移動して被加工物搬入・搬出域24に位置付け、チャックテーブル52上の旋削加工された半導体ウエーハ10の吸引保持を解除する。そして、チャックテーブル52による吸引保持が解除された半導体ウエーハ10は、被加工物搬出手段17により搬出されて洗浄手段14に搬送される。洗浄手段14に搬送された半導体ウエーハ10は、ここで洗浄される。洗浄手段14で洗浄された半導体ウエーハ10は、被加工物搬送手段15よって第2のカセット12の所定位置に収納される。   As described above, the underfill material 130 coated on the surface of the semiconductor wafer 10 is turned, and a plurality of stud bumps (electrodes) 120 formed on the surface of the semiconductor chip 110 are exposed to the surface of the underfill material 130. When the process is finished and the turning scrap removing process for removing the turning scrap attached to the cutting edge 332 of the cutting tool 33 is finished, the turning unit 3 is raised. Next, the chuck table 52 is moved in the direction indicated by the arrow 23b in FIG. 1 to be positioned in the workpiece loading / unloading area 24, and the suction holding of the turned semiconductor wafer 10 on the chuck table 52 is released. Then, the semiconductor wafer 10 whose suction and holding by the chuck table 52 is released is carried out by the workpiece carrying-out means 17 and conveyed to the cleaning means 14. The semiconductor wafer 10 conveyed to the cleaning means 14 is cleaned here. The semiconductor wafer 10 cleaned by the cleaning unit 14 is stored in a predetermined position of the second cassette 12 by the workpiece transfer unit 15.

次に、旋削屑除去手段6の他の実施形態について、図11を参照して説明する。
図11に示す旋削屑除去手段6aは、上記バイト工具33の切れ刃332によって旋削される被旋削ボード61aと、該被旋削ボード61aを保持するボード保持基台62aと、該ボード保持基台62aを水平面内で回動する回動手段としてのパルスモータ64aと、バイト工具33の切れ刃332が被旋削ボード61を旋削する作用位置と該作用位置より下方の退避位置に位置付けるボード位置付け手段63を具備している。
Next, another embodiment of the turning scrap removing means 6 will be described with reference to FIG.
The turning scrap removing means 6a shown in FIG. 11 includes a turned board 61a turned by the cutting edge 332 of the cutting tool 33, a board holding base 62a for holding the turned board 61a, and the board holding base 62a. A pulse motor 64a serving as a rotating means for rotating the workpiece in a horizontal plane, and an operating position where the cutting edge 332 of the cutting tool 33 turns the workpiece board 61 and a board positioning means 63 positioned at a retracted position below the operating position. It has.

被旋削ボード61aは、図11に示す実施形態においては円形状に形成されている。この被旋削ボード61aは、例えば直径が50mm、厚さが10mm程度のカーボンプレートまたは銅プレートによって形成されている。このように形成された被旋削ボード61aは、円形状に形成されボード保持基台62aの上面に吸引保持される。即ち、ボード保持基台62aの上面には複数の吸引孔(図示せず)が開口して設けられており、この複数の吸引孔が図示しない吸引手段に連通されている。従って、図示しない吸引手段を作動すると複数の吸引孔に負圧が作用し、ボード保持基台62aの上面に載置された被旋削ボード61aが吸引保持される。なお、被旋削ボード61aは、ボード保持基台62aの上面に例えば70℃の温度で溶融するワックス等のボンド剤によって貼着してもよい。上記パルスモータ64aは、ボード位置付け手段63の移動基板631の上面に配設され、円形状のボード保持基台62aを水平面内で回動せしめる。なお、ボード位置付け手段63は、上記図4に示す旋削屑除去手段6におけるボード位置付け手段63と同一の構成であるため、同一部材には同一符号を付してその説明を省略する。   The turned board 61a is formed in a circular shape in the embodiment shown in FIG. The turned board 61a is formed of, for example, a carbon plate or a copper plate having a diameter of about 50 mm and a thickness of about 10 mm. The turning board 61a formed in this way is formed in a circular shape and sucked and held on the upper surface of the board holding base 62a. That is, a plurality of suction holes (not shown) are provided on the upper surface of the board holding base 62a so as to communicate with suction means (not shown). Accordingly, when a suction means (not shown) is operated, negative pressure acts on the plurality of suction holes, and the turned board 61a placed on the upper surface of the board holding base 62a is sucked and held. The turned board 61a may be attached to the upper surface of the board holding base 62a with a bonding agent such as wax that melts at a temperature of 70 ° C., for example. The pulse motor 64a is disposed on the upper surface of the moving substrate 631 of the board positioning means 63, and rotates the circular board holding base 62a in a horizontal plane. Since the board positioning means 63 has the same configuration as the board positioning means 63 in the turning scrap removing means 6 shown in FIG. 4, the same members are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

上述したように構成された旋削屑除去手段6aは、上記図4に示す旋削屑除去手段6と同様の位置に配置することができる。以下、図11に示す旋削屑除去手段6aを用いて実施する旋削屑除去工程について、図12を参照して説明する。
先ず、加工送り機構56(図3参照)を作動してチャックテーブル機構5に配設された旋削屑除去手段6を加工域に移動し、図12の(a)に示すように旋削屑除去手段6aの被旋削ボード61aの中心Pをバイト工具33の切れ刃332の回転軌跡上に位置付ける。そして、旋削屑除去手段6は、昇降手段633のパルスモータ633aを正転駆動し、被旋削ボード61の上面を図5の(a)に示す作用位置に位置付ける。次に、回転スピンドル322を回転駆動しバイト工具33が取り付けられたバイト工具装着部材324を図12の(a)において矢印で示す方向に例えば6000rpmの回転速度で回転しつつ、旋削ユニット3を下降させバイト工具33を所定の切り込み位置に位置付ける。この結果、バイト工具装着部材324の回転に伴って回転するバイト工具33の切れ刃332が被旋削ボード61に作用し、被旋削ボード61を旋削する。この旋削過程において、上記回動手段としてのパルスモータ64aを所定のタイミングで作動し、被旋削ボード61aを間欠的に所定角度回転せしめる。この結果、被旋削ボード61aは、図12の(b)に拡大して示すように被旋削位置610が移動し、同一個所が旋削されることがない。従って、加工送り機構56(図3参照)の作動を図12の(a)に示す位置で停止した状態で、被旋削ボード61aの全面を順次旋削することができ、上記旋削工程においてバイト工具33の切れ刃332に付着した研削屑が除去される。
The turning scrap removing means 6a configured as described above can be arranged at the same position as the turning scrap removing means 6 shown in FIG. Hereinafter, a turning scrap removing process performed using the turning scrap removing means 6a shown in FIG. 11 will be described with reference to FIG.
First, the machining feed mechanism 56 (see FIG. 3) is operated to move the turning scrap removing means 6 disposed in the chuck table mechanism 5 to the machining area, and as shown in FIG. The center P of the turned board 61a of 6a is positioned on the rotation locus of the cutting edge 332 of the cutting tool 33. Then, the turning scrap removing means 6 drives the pulse motor 633a of the elevating means 633 to rotate forward, and positions the upper surface of the board to be turned 61 at the operating position shown in FIG. Next, the turning unit 3 is lowered while rotating the rotating spindle 322 to rotate the cutting tool mounting member 324 to which the cutting tool 33 is attached in the direction indicated by the arrow in FIG. The cutting tool 33 is positioned at a predetermined cutting position. As a result, the cutting edge 332 of the cutting tool 33 rotating with the rotation of the cutting tool mounting member 324 acts on the turned board 61 to turn the turned board 61. In this turning process, the pulse motor 64a as the turning means is operated at a predetermined timing to rotate the turned board 61a intermittently at a predetermined angle. As a result, as shown in the enlarged view of FIG. 12B, the turning position 610 of the turned board 61a moves and the same portion is not turned. Therefore, the entire surface of the turning board 61a can be turned sequentially with the operation of the machining feed mechanism 56 (see FIG. 3) stopped at the position shown in FIG. Grinding debris adhering to the cutting edge 332 is removed.

次に、旋削屑除去手段6の更に他の実施形態について、図13を参照して説明する。
図13に示す実施形態における旋削屑除去手段6bは、上記図4に示す実施形態における旋削屑除去手段6の被旋削ボード61に対応する被旋削ボード61bは縦が50mm、横が200mm、厚さが10mm程度のカーボンプレートまたは銅プレートによって形成されている。そして、被旋削ボード61bは、チャックテーブル52の前側即ち被加工物搬入・搬出域24側(図13に(a)および(b)において左側)においてカバー部材54の前端部に形成された矩形状の切欠部541bに位置するように配置される。
Next, still another embodiment of the turning scrap removing means 6 will be described with reference to FIG.
The turning scrap removing means 6b in the embodiment shown in FIG. 13 has a turning board 61b corresponding to the turning board 61 of the turning scrap removal means 6 in the embodiment shown in FIG. Is formed by a carbon plate or a copper plate of about 10 mm. The turning board 61b is formed in a rectangular shape formed at the front end of the cover member 54 on the front side of the chuck table 52, that is, on the workpiece loading / unloading area 24 side (left side in FIGS. 13A and 13B). It arrange | positions so that it may be located in the notch part 541b.

上述したように旋削屑除去手段6bを用いることにより、上記旋削工程を実施しつつ上記旋削屑除去工程を交互に実施することができる。
即ち、上述したように被加工物搬入・搬出域24に位置付けられているチャックテーブル機構5のチャックテーブル52上に半導体ウエーハ10を吸引保持したならば、加工送り機構56(図3参照)を作動してチャックテーブル機構5を矢印23aで示す方向に移動し、半導体ウエーハ10を保持したチャックテーブル52を図13の(a)において実線で示す加工域に位置付ける。次に、回転スピンドル322を回転駆動し、バイト工具33が取り付けられたバイト工具装着部材324を図13の(a)において矢印で示す方向に例えば6000rpmの回転速度で回転する。そして、旋削ユニット3を下降させバイト工具33を所定の切り込み位置に位置付ける。次に、チャックテーブル機構5を図13の(a)に示す位置から右方に例えば2mm/秒の送り速度で矢印で示す方向に図13の(b)に示す位置まで移動する。この結果、バイト工具装着部材324の回転に伴って回転するバイト工具33の切れ刃332によって半導体ウエーハ10の表面に被覆されたアンダーフィル材130を旋削するとともに、半導体デバイス110の表面に形成された複数個のスタッドバンプ(電極)120が旋削され、上記図9に示すように半導体ウエーハ10の表面に被覆されたアンダーフィル材130の表面にスタッドバンプ(電極)120が露出せしめられる。
As described above, by using the turning scrap removing means 6b, the turning scrap removing step can be performed alternately while performing the turning step.
That is, if the semiconductor wafer 10 is sucked and held on the chuck table 52 of the chuck table mechanism 5 positioned in the workpiece loading / unloading area 24 as described above, the processing feeding mechanism 56 (see FIG. 3) is operated. Then, the chuck table mechanism 5 is moved in the direction indicated by the arrow 23a, and the chuck table 52 holding the semiconductor wafer 10 is positioned in the processing area indicated by the solid line in FIG. Next, the rotary spindle 322 is driven to rotate, and the cutting tool mounting member 324 to which the cutting tool 33 is attached is rotated in the direction indicated by the arrow in FIG. Then, the turning unit 3 is lowered to position the cutting tool 33 at a predetermined cutting position. Next, the chuck table mechanism 5 is moved rightward from the position shown in FIG. 13 (a) to the position shown in FIG. 13 (b) in the direction indicated by the arrow at a feed rate of 2 mm / second, for example. As a result, the underfill material 130 coated on the surface of the semiconductor wafer 10 is turned by the cutting edge 332 of the cutting tool 33 rotating with the rotation of the cutting tool mounting member 324, and formed on the surface of the semiconductor device 110. A plurality of stud bumps (electrodes) 120 are turned, and the stud bumps (electrodes) 120 are exposed on the surface of the underfill material 130 coated on the surface of the semiconductor wafer 10 as shown in FIG.

この旋削工程を実施する際には、旋削屑除去手段6bは上記図4に示す昇降手段633のパルスモータ633aを正転駆動して被旋削ボード61の上面を図5の(a)に示す作用位置に位置付ける。この結果、バイト工具33が1回転する毎に被旋削ボード61bを旋削する。このように、図13に示す実施形態においては、バイト工具33は、半導体ウエーハ10の表面に被覆されたアンダーフィル材130を旋削する旋削工程と、被旋削ボード61bを旋削してバイト工具33の切れ刃332に付着した研削屑を除去する旋削屑除去工程をバイト工具33が1回転する毎に交互に実施することになる。従って、バイト工具33の切れ刃332に付着した研削屑は直ちに除去されるので、バイト工具33の切れ刃332に研削屑が付着していることによる旋削抵抗の増大はなく、バイト工具の磨耗が抑制される。   When carrying out this turning process, the turning scrap removing means 6b drives the pulse motor 633a of the elevating means 633 shown in FIG. 4 to rotate forward so that the upper surface of the board 61 to be turned is the action shown in FIG. Position to position. As a result, the turned board 61b is turned each time the tool 33 is rotated once. As described above, in the embodiment shown in FIG. 13, the cutting tool 33 includes a turning process for turning the underfill material 130 coated on the surface of the semiconductor wafer 10, and turning the workpiece board 61 b. The turning scrap removing process for removing the grinding scrap adhering to the cutting edge 332 is alternately performed every time the cutting tool 33 rotates once. Accordingly, since the grinding waste adhering to the cutting edge 332 of the bite tool 33 is immediately removed, there is no increase in turning resistance due to the adhering of grinding debris to the cutting edge 332 of the bite tool 33, and wear of the bite tool is reduced. It is suppressed.

本発明に従って構成されたバイト工具を備えた加工装置の斜視図。The perspective view of the processing apparatus provided with the bite tool comprised according to this invention. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置に装備される旋削ユニットの斜視図。The perspective view of the turning unit with which the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 1 is equipped. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置に装備されるチャックテーブル機構および加工送り機構を示す斜視図。The perspective view which shows the chuck | zipper table mechanism with which the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置に装備される旋削屑除去手段の斜視図。The perspective view of the turning waste removal means with which the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 1 is equipped. 図4に示す旋削屑除去手段を構成する被旋削ボードを作用位置と退避位置に位置付けた状態を示す説明図。Explanatory drawing which shows the state which positioned the to-be-turned board which comprises the turning waste removal means shown in FIG. 4 in the action position and the retracted position. 被加工物としての半導体ウエーハの平面図。The top view of the semiconductor wafer as a to-be-processed object. 図6に示す半導体ウエーハの要部を拡大して示す断面図。Sectional drawing which expands and shows the principal part of the semiconductor wafer shown in FIG. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置による旋削工程の説明図。Explanatory drawing of the turning process by the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置によって旋削加工された半導体ウエーハの要部を拡大して示す断面図。Sectional drawing which expands and shows the principal part of the semiconductor wafer turned by the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置によって実施する旋削屑除去工程の説明図。Explanatory drawing of the turning waste removal process implemented by the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置に装備される旋削屑除去手段の他の実施形態を示す斜視図。The perspective view which shows other embodiment of the turning scrap removal means with which the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 1 is equipped. 図11に示す旋削屑除去手段によって実施する旋削屑除去工程の説明図。Explanatory drawing of the turning waste removal process implemented by the turning waste removal means shown in FIG. 図1に示すバイト工具を備えた加工装置に装備される旋削屑除去手段の更に他の実施形態を示す説明図。Explanatory drawing which shows other embodiment of the turning scrap removal means with which the processing apparatus provided with the cutting tool shown in FIG. 1 is equipped.

符号の説明Explanation of symbols

2:装置ハウジング
3:研削ユニット
31:移動基台
32:スピンドルユニット
321:スピンドルハウジング
322:回転スピンドル
323:サーボモータ
324、325:工具装着部材
33:バイト工具
331:バイト本体
332:切れ刃
4:旋削ユニット送り機構
5:チャックテーブル機構
51:支持基台
52:チャックテーブル
56:加工送り機構
6、6a、6b:旋削屑除去手段
61、61a、61b:被旋削ボード
62、62a:ボード保持基台
63:ボード位置付け手段
64a:パルスモータ
11:第1のカセット
12:第2のカセット
13:被加工物仮置き手段
14:洗浄手段
15:被加工物搬送手段
16:被加工物搬入手段
17:被加工物搬出手段
10:半導体ウエーハ
110:半導体チップ
111:電極板
120:バンプ(電極)
130:アンダーフィル材
2: Device housing 3: Grinding unit 31: Moving base 32: Spindle unit 321: Spindle housing 322: Rotary spindle 323: Servo motor 324, 325: Tool mounting member 33: Tool tool 331: Tool body 332: Cutting blade 4: Turning unit feeding mechanism 5: Chuck table mechanism 51: Support base 52: Chuck table 56: Work feeding mechanism 6, 6a, 6b: Turning scrap removing means 61, 61a, 61b: Turning board 62, 62a: Board holding base 63: Board positioning means 64a: Pulse motor 11: First cassette 12: Second cassette 13: Workpiece temporary placing means 14: Cleaning means 15: Workpiece conveying means 16: Workpiece carrying means 17: Workpiece Workpiece unloading means 10: Semiconductor wafer 110: Semiconductor chip 111: Electrode plate 120: Bump (electrode)
130: Underfill material

Claims (3)

被加工物を保持する保持面を備えたチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を旋削するためのバイト工具を備えた旋削手段と、該チャックテーブルと該旋削手段とを該保持面と平行な水平面内において加工送り方向に相対移動せしめる加工送り機構と、該旋削手段を該保持面に対して垂直な方向に移動せしめる切り込み送り機構とを具備し、該旋削手段が回転スピンドルと該回転スピンドル下端に装着されたバイト工具装着部材と該バイト工具装着部材に回転軸芯から偏芯した位置に装着されたバイト工具を具備している、バイト工具を備えた加工装置において、
該バイト工具の切れ刃に作用し該バイト工具の切れ刃に付着した旋削屑を除去する旋削屑除去手段を具備し、
該旋削屑除去手段は、該チャックテーブルに隣接して配設され該チャックテーブルとともに該加工送り方向に移動する被旋削ボードを供えており、該バイト工具の切れ刃が該被旋削ボードを旋削することにより、該バイト工具の切れ刃に付着した旋削屑を除去する、
ことを特徴とするバイト工具を備えた加工装置。
A chuck table having a holding surface for holding a workpiece, a turning means having a bite tool for turning the workpiece held on the chuck table, and holding the chuck table and the turning means A machining feed mechanism that relatively moves in a machining feed direction in a horizontal plane parallel to the surface, and a cutting feed mechanism that moves the turning means in a direction perpendicular to the holding surface, and the turning means includes a rotating spindle and In a machining apparatus provided with a bite tool, comprising a bite tool mounting member mounted on the lower end of the rotary spindle and a bite tool mounted on the bite tool mounting member at a position eccentric from the rotation axis.
Comprising turning turning removal means for acting on the cutting edge of the cutting tool and removing the turning scrap attached to the cutting edge of the cutting tool;
The turning scrap removing means is provided adjacent to the chuck table, and provided with a turning board that moves in the machining feed direction together with the chuck table, and the cutting edge of the cutting tool turns the turning board. By removing turning scraps adhering to the cutting edge of the bite tool,
A processing apparatus having a bite tool characterized by the above.
該旋削屑除去手段は、該被旋削ボードを保持するボード保持基台と、該ボード保持基台をバイト工具の切れ刃が被旋削ボードを旋削する作用位置と該作用位置より下方の退避位置に位置付けるボード位置付け手段を具備している、請求項1記載のバイト工具を備えた加工装置。   The turning scrap removing means includes a board holding base for holding the turned board, an operating position where the cutting edge of the bite tool turns the turned board, and a retracted position below the operating position. The processing apparatus with a bite tool according to claim 1, further comprising board positioning means for positioning. 該旋削屑除去手段は、該ボード保持基台を水平面内で回動する回動手段を具備している、請求項記載のバイト工具を備えた加工装置。 The processing apparatus with a bite tool according to claim 2 , wherein the turning scrap removing means includes a turning means for turning the board holding base in a horizontal plane.
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