JP5371127B2 - Electronic component processing apparatus and processing method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体素子等の小型電子部品の搬送過程において、各種の工程処理を行うための電子部品の処理装置及びその処理方法に関するものである。 The present invention relates to an electronic component processing apparatus and a processing method therefor for performing various process processes in the process of transporting small electronic components such as semiconductor elements.
半導体素子は、前工程と呼ばれるプロセスで、Siウエハ上に多数作成された後、後工程と呼ばれるプロセスにて個片に分離され、電気特性検査、特性分類、マーキング、外観検査等の工程を経た後、テープ、コンテナチューブ等に梱包されて出荷される。 A number of semiconductor elements are produced on a Si wafer in a process called a pre-process, and then separated into individual pieces in a process called a post-process, and then subjected to processes such as electrical characteristic inspection, characteristic classification, marking, and appearance inspection. After that, it is packaged in a tape, a container tube or the like and shipped.
このような半導体素子は、個片に分離された後の工程において、保持機構に保持された状態で搬送機構により搬送されながら、搬送経路に設けられた各工程処理部において、電気特性検査等の上記各処理が施される。搬送機構による搬送方法としては、直線搬送、ターンテーブル搬送等があるが、いずれの場合でも、保持機構を所定の工程順に従って進行させるステップと、各工程処理部において半導体素子の処理開始から終了まで保持機構を停止させるステップを繰り返す、いわゆる間欠搬送が用いられることが多い。 In such a process after the semiconductor element is separated into individual pieces, it is transported by the transport mechanism while being held by the holding mechanism, and in each process processing unit provided in the transport path, an electrical characteristic inspection or the like is performed. Each said process is performed. The transfer method by the transfer mechanism includes linear transfer, turntable transfer, etc., but in any case, the step of moving the holding mechanism according to a predetermined process sequence and the start and end of processing of the semiconductor element in each process processing unit In many cases, so-called intermittent conveyance, in which the step of stopping the holding mechanism is repeated, is used.
ところで、上記のような間欠搬送による工程処理には、長い処理時間への対応、高速化が困難となるという問題がある。まず、1搬送サイクル時間=搬送時間+搬送停止時間であり、停止時間>最大工程処理時間+受け渡し時間である。ここで、最大工程処理時間を70ms、停止時間中の受け渡し時間を20msとすると、停止時間の下限は90msとなる。そして、搬送時間を30msとすると、1搬送サイクル時間の下限は120msとなり、これ以上の高速化は困難である。 By the way, the process processing by intermittent conveyance as described above has a problem that it is difficult to cope with a long processing time and to increase the speed. First, 1 transport cycle time = transport time + transport stop time, and stop time> maximum process processing time + delivery time. Here, if the maximum process processing time is 70 ms and the delivery time during the stop time is 20 ms, the lower limit of the stop time is 90 ms. If the transport time is 30 ms, the lower limit of one transport cycle time is 120 ms, and it is difficult to increase the speed further.
このように、高速化が困難となる理由としては、以下のものが挙げられる。
(1)機構上の制約から、搬送、停止を搬送機構全体で同時に行う必要がある。このため、最大工程処理時間で停止時間を決めざるを得ず、搬送停止時間を律速する。
(2)搬送の高速化で生産性を向上させてきたが、限界に達しつつある。例えば、上記の例では、搬送時間は1サイクル120ms中30msしかなく、これ以上の搬送時間の短縮は困難である。
(3)例えば、複雑なテストサイクルが要求される電気特性検査のように、長い処理が必要な工程が含まれる場合には、最大処理時間が長くなり、1搬送サイクル時間はさらに長くなる。
As described above, the reasons why it is difficult to increase the speed include the following.
(1) Due to mechanical limitations, it is necessary to simultaneously carry and stop the entire carrying mechanism. For this reason, the stop time must be determined by the maximum process processing time, and the transport stop time is limited.
(2) Although productivity has been improved by speeding up the transfer, it is reaching its limit. For example, in the above example, the transport time is only 30 ms in one cycle of 120 ms, and it is difficult to further shorten the transport time.
(3) For example, when a process that requires a long process is included, such as an electrical characteristic inspection that requires a complicated test cycle, the maximum processing time becomes longer and the one transport cycle time becomes longer.
このような間欠搬送を行う搬送機構を備えた電子部品の工程処理装置として、特許文献1には、ターンテーブルを複数配置し、順次受け渡すことにより、電子部品に対して各種の処理を行う装置が提案されている。これは、複数の半導体素子を並行して搬送しながら、工程処理も並列で行う装置であり、搬送も工程処理も並列で行うために、全体としての生産性が高まるというものである。また、搬送経路上に同一工程の処理機構を複数配置し、並列して工程処理を行う方法、すなわち、搬送=1個毎、工程処理=並列で行う方法も考えられる。
As a process processing apparatus for an electronic component provided with a transport mechanism for performing such intermittent transport,
ところで、上記のような従来技術のように、各工程を間欠的に搬送する処理では、時間の長い工程処理への個別的対応や、高速化及び装置構成の簡易化が困難である。例えば、図14に示すような、メインテーブルとサブテーブルとからなるターンテーブル搬送機構において、メインテーブルの円周等配の各位置に位置補正、方向転換、電気特性検査、外観検査、テーピング等の各処理を行う工程処理ユニットを配置し、サブテーブルの円周等配の各位置にマーキング、マーキング検査等の各処理を配置した場合を例にとる。 By the way, as in the prior art as described above, in the process of intermittently transporting each process, it is difficult to individually cope with a long-time process, to increase the speed and to simplify the apparatus configuration. For example, in a turntable transport mechanism composed of a main table and a sub table as shown in FIG. 14, position correction, direction change, electrical characteristic inspection, appearance inspection, taping, etc. An example is given in which process processing units for performing each process are arranged, and each process such as marking and marking inspection is arranged at each circumferentially equidistant position of the sub-table.
このようなターンテーブル搬送機構の場合、メインテーブルとサブテーブル間での電子部品の受け渡し機構及びこれに伴う制御技術の問題や、サブテーブルにおけるマーキングユニットの配置スペースの関係から、装置の高速化や装置構成及び制御技術の簡易化は困難であった。 In the case of such a turntable transport mechanism, the speed of the apparatus can be increased due to the problem of the electronic component delivery mechanism between the main table and the subtable and the control technology associated therewith, and the arrangement space of the marking unit in the subtable. It has been difficult to simplify the apparatus configuration and control technology.
また、並列処理を行う技術では、処理時間が短くて済む工程であっても、工程処理の長い工程と同数の処理機構を配置しなくてはならず、無駄が生じて装置のコストを増加させることになっていた。また、この並列処理のための高コスト化とともに、並列搬送のために搬送機構が複雑化し、装置稼働の信頼性の低下を招く可能性もあった。そして、個々の処理機構の処理条件にバラツキが発生するため、マッチング等の補正を定期的に行う必要も発生する可能性があった。搬送=1個毎、工程処理=並列で行う場合にも同様の問題が生じるとともに、搬送機構の慣性質量増大による駆動力増加、ランニングコスト増大につながっていた。 Further, in the technology for performing parallel processing, even in a process that requires a short processing time, the same number of processing mechanisms as processes having a long process time must be arranged, resulting in waste and increasing the cost of the apparatus. I was supposed to. In addition to the high cost for the parallel processing, there is a possibility that the transport mechanism becomes complicated for the parallel transport, and the reliability of the operation of the apparatus is lowered. In addition, since the processing conditions of the individual processing mechanisms vary, it may be necessary to periodically perform corrections such as matching. The same problem occurs when transport = one by one and process processing = parallel, leading to an increase in driving force and an increase in running cost due to an increase in inertial mass of the transport mechanism.
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものであり、その目的は、1つのターンテーブル内に、位置補正、方向転換、電気特性検査、マーキング、外観検査、テーピング等のすべての工程処理ユニットを納めることにより、搬送制御の高速処理が可能となり、かつ、装置の機構簡易化及び制御容易化を図ることができる電子部品の処理装置及びその処理方法を提供することにある。 The present invention has been proposed to solve the above-described problems of the prior art, and its purpose is to perform position correction, direction change, electrical property inspection, marking, appearance inspection in one turntable. By providing all process processing units such as taping, it is possible to provide a processing apparatus for electronic parts and a processing method thereof that enable high-speed processing of conveyance control and simplify the mechanism of the apparatus and facilitate control. There is to do.
また、本発明の第2の目的は、ターンテーブル周囲に設けられた工程処理ユニットのうち、工程処理時間の長い処理を衛星テーブルを用いて処理することで、他の工程処理に影響を与えることなく工程処理時間を確保し、全体として処理時間の短縮化を図ることのできる電子部品の処理装置及びその処理方法を提供することにある。 In addition, the second object of the present invention is to influence the other process processing by processing a process with a long process processing time using a satellite table among the process processing units provided around the turntable. It is another object of the present invention to provide an electronic component processing apparatus and a processing method thereof that can secure process processing time and shorten the processing time as a whole.
上記の目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、次の構成を有することを特徴とする。
(1) 電子部品を保持する保持機構を複数備え当該保持機構により電子部品を保持ながら回転と停止を1サイクルとして繰り返して間欠的に回転搬送するターンテーブルと、前記ターンテーブルの外周に設けられた複数の工程処理機構と、前記ターンテーブルと前記工程処理機構との間に連続して複数設けられた衛星テーブルとを備える。
(2) 前記衛星テーブルは、前記保持機構から電子部品を受け取る位置と、前記工程処理機構において電子部品を処理する位置と、前記保持機構へ工程処理後の電子部品を受け渡す位置とを備えている。
(3) 前記衛星テーブルは、その全てが同じタイミングで前記保持機構から電子部品を受取り前記工程処理機構の処理位置へ搬送し、工程処理を終えた電子部品を再度保持機構へ受け渡すように構成されている。
(4) 前記衛星テーブルの全てが、前記保持機構から電子部品を受け取り受け渡すのは、前記ターンテーブルが前記衛星テーブルの数分、前記サイクルを繰り返した後である。
また、請求項2に記載の発明は、次の構成を有することを特徴とする。
(5) 前記衛星テーブルは、前記処理位置を複数備えている。
(6) 前記衛星テーブルに対して、前記複数の処理位置に処理時間の近似する複数種類の工程処理機構が設けられている。
In order to achieve the above object, the invention described in
(1) Provided on the outer periphery of the turntable, which is provided with a plurality of holding mechanisms for holding electronic components, and which is rotated and stopped intermittently by repeating rotation and stop as one cycle while holding the electronic components by the holding mechanism A plurality of process processing mechanisms, and a plurality of satellite tables provided continuously between the turntable and the process processing mechanism .
(2) The satellite table includes a position for receiving an electronic component from the holding mechanism, a position for processing the electronic component in the process processing mechanism, and a position for delivering the electronic component after process processing to the holding mechanism. Yes.
(3) the satellite table, all of which carry from the holding mechanism at the same time to the processing position of said step processing mechanism receives the electronic components, as passed to the re-holding mechanism electronic components have been processed as Engineering It is configured.
(4) All the satellite tables receive and deliver electronic components from the holding mechanism after the turntable repeats the cycle for the number of satellite tables.
The invention described in
(5) The satellite table includes a plurality of the processing positions.
(6) A plurality of types of process processing mechanisms whose processing times approximate to the plurality of processing positions are provided for the satellite table.
また、前記のような電子部品の処理装置における各処理を実施する電子部品の処理方法も、本発明の一態様である。 Further, an electronic component processing method for performing each process in the electronic component processing apparatus as described above is also one aspect of the present invention.
本発明によれば、1つのターンテーブル内にすべての工程処理機構を納めることにより、また、電子部品の受渡し及び受取りの加工点を1ヵ所にすることにより、搬送制御の高速処理及び装置の簡易化を図ることができる電子部品の処理装置及びその処理方法を提供することができる。 According to the present invention, all process processing mechanisms are accommodated in one turntable, and electronic parts are delivered and received at a single processing point, so that high-speed processing of conveyance control and simple apparatus can be achieved. It is possible to provide an electronic component processing apparatus and a processing method thereof that can be realized.
また、ターンテーブル周囲に設けられた工程処理ユニットのうち、工程処理時間の長い処理を衛星テーブルを用いて処理することで、他の工程処理に影響を与えることなく工程処理時間を確保し、全体として処理時間の短縮化を図ることができる。 In addition, among the process processing units provided around the turntable, by processing a process with a long process time using the satellite table, process process time is ensured without affecting other process processes. As a result, the processing time can be shortened.
特に、衛星テーブルは、ターンテーブルの複数サイクルの動作のうち、最後のサイクルにおける停止時間内に、電子部品を受取り、工程処理位置に搬送することによって必要な工程処理を施す。そして、ターンテーブルが再び所定サイクル動作した後、回転しターンテーブルに処理の済んだ電子部品を受渡す。これにより、他の工程処理に比較して処理時間の長い電気特性検査において、その処理時間分衛星テーブルを用意し設置することによって、他の工程処理に影響を与えることなく工程処理時間を確保することができる。 In particular, the satellite table performs the necessary process processing by receiving the electronic component and transporting it to the process processing position within the stop time in the last cycle among the operations of the plurality of cycles of the turntable. Then, after the turntable operates again for a predetermined cycle, it rotates and delivers the processed electronic components to the turntable. As a result, in electrical characteristic inspections that require a longer processing time compared to other process processes, the process processing time is ensured without affecting other process processes by preparing and installing a satellite table for that process time. be able to.
次に、本発明の実施形態を、図1乃至図3を参照して説明する。図1は、本発明の装置の全体構成を示す平面図であり、図2は図1におけるA−A断面図である。また、図3は本発明の特徴的部分である衛星テーブルの断面を表している。図4は、本発明の第2の特徴的部分であるマーキングユニットの構成を示す図である。 Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of the apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. FIG. 3 shows a cross section of a satellite table which is a characteristic part of the present invention. FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a marking unit which is a second characteristic part of the present invention.
[1.第1の実施形態]
[1−1.基本構成]
図1及び図2に示すように、本実施形態の電子部品の処理装置1は、ダイレクトドライブモータ2により進行及び停止する間欠搬送サイクルを繰り返しながら回転するターンテーブル3と、パーツフィーダ等の搬送手段から送られてくる電子部品Sを供給する供給機構4と、ターンテーブル3の円周上等間隔に配置され電子部品Sに工程処理を施す各種の工程処理ユニット5a〜5kとを備える。
[1. First Embodiment]
[1-1. Basic configuration]
As shown in FIGS. 1 and 2, an electronic
また、電気特性検査、特性分類、マーキング、外観検査等の各工程処理のうち、処理ユニットが設置スペースを要するあるいは処理時間が相対的に長いマーキング及び外観検査工程を、それぞれ、マーキングユニット5f及び外観検査ユニット5iとすると、このマーキングユニット5f及び外観検査ユニット5iとターンテーブル3との間には、ターンテーブル3からマーキングユニット5f又は外観検査ユニット5iに電子部品Sを受け渡す衛星テーブル10a又は10bがそれぞれ設けられている。
Of the process processes such as electrical characteristic inspection, characteristic classification, marking, appearance inspection, etc., the marking
ターンテーブル3の円周等配位置には、このターンテーブル3から各工程処理ユニット5に対して電子部品Sの受渡し及び受取りを行う保持ユニット6が設けられ、図2に示すようにターンテーブル3上には保持ユニット6を上下方向に運動させる駆動ユニット7が設けられている。
A holding
また、保持ユニット6は、工程処理ユニット5に対して電子部品Sの受渡し及び受取りを行うため、吸着ノズル又はメカチャック等の吸着ノズル6aを備えている。これらの吸着ノズル6aは、ターンテーブル3が進行及び停止するサイクルに合わせて間欠回転するとともに、駆動ユニット7の上下に伴って搬送位置と処理位置とを上下動するように構成されている。
The holding
[1−2.衛星テーブルの構成]
図3を用いて、衛星テーブル10a,10b(以下、まとめて衛星テーブル10という。)の具体的な構成を説明する。同図に示すように、衛星テーブル10は、中心軸をターンテーブル3の回転外側に傾け(ここでは、45度)、90度間隔で電子部品Sを搭載する搭載面21を4箇所備える(図1参照)。また、搭載面21は、さらに前記中心軸に対して45度外側に向けて設けられるとともに、電子部品Sを吸着保持する吸着孔22を備え、この吸着孔22から図示しないバキューム装置へ連通することによって、電子部品Sが吸着保持されるように構成されている。
[1-2. Configuration of satellite table]
A specific configuration of the satellite tables 10a and 10b (hereinafter collectively referred to as the satellite table 10) will be described with reference to FIG. As shown in the figure, the satellite table 10 is provided with four mounting
この衛星テーブル10は、図1又は図3に示すように、ターンテーブル3に設けられた吸着ノズル6aの中心位置と上下同位置に電子部品Sの受渡し位置Tと、そこから180度回転した位置にマーキング又は外観検査等を行う電子部品Sの処理位置Dとを備えている。
As shown in FIG. 1 or FIG. 3, the satellite table 10 has an electronic component S delivery position T at the same vertical position as the center position of the
[1−3.マーキングユニットの構成]
本実施形態の電子部品の処理装置1は、上記のような構成からなる衛星テーブル10との組合せで用いるマーキングユニット5fにおいても構成上の特徴を有する。図4を用いて説明すると、マーキングユニット5fは、照射部31aからの照射により電子部品Sにマーキング処理を行うレーザマーキング本体31と、このレーザマーキング本体31を固定するプレート32と、このプレート32と連結しレーザマーキング本体31の傾き角度を変更可能に支持する支持台33とを備える。
[1-3. Configuration of marking unit]
The electronic
また、支持台33に支持されるレーザマーキング本体31が照射角度に傾いた際に、プレート32に接して、レーザマーキング本体31の傾きを維持する受台34を備える。この受台34がプレート32と接する支持部位にはストッパ35が設けられている。すなわち、レーザマーキング本体31を下限位置まで下げた場合に、プレート32の下端がこのストッパ35に当たり、レーザマーキング本体31を支持するように構成されている。
Further, the laser marking
次に、プレート32と支持台33との連結構成について説明すると、プレート32は、支持台33に対して、ピン36が軸となって回動自在に連結されるとともに、固定ネジ37によってレーザマーキング本体31が照射角度で固定される。
Next, the connection configuration of the
また、レーザマーキング本体31のレーザ照射側の面には、レーザマーキング時に発生するススがレーザマーキングのレンズに付着するのを防止する防塵用フィルム38及び防塵カバー39が設けられている。この防塵用フィルム38は、レーザマーキング本体31の照射部31aにおける照射レンズを覆うようにして、これに着脱可能に設けられている。
The surface of the
また、防塵カバー39は、レーザマーキング本体31の照射部分をすっぽり包み込むようにボックス形状に構成されている。そして、この防塵カバー39からはチューブ40が引き出され、集塵機41にてススを吸収するように構成されている。
Further, the
[1−4.作用]
以上のような構成を有する本実施形態の作用について、図1乃至図6を参照して説明する。まず、前工程を終了し、パーツフィーダ等の搬送手段を介して、図2に示す供給機構4から、本実施形態の電子部品の処理装置1へ搬送されてきた電子部品Sは、ターンテーブル3がダイレクトドライブモータ2の駆動によって間欠回転し、各工程処理ユニット5a〜5kにおいて順次各工程処理が施される。
[1-4. Action]
The operation of the present embodiment having the above configuration will be described with reference to FIGS. First, the pre-process is completed, and the electronic component S conveyed from the
次に、ターンテーブル3と衛星テーブル10を中心として、本実施形態の各機構の動作タイミングについて、図5のタイミングチャートと図6を用いて説明する。図5に示すように、ターンテーブル3は、1サイクルで回転と停止を繰返す間欠回転を行う。また、吸着ノズル6aは、このターンテーブル3が停止すると下降を開始し、停止中は下降位置を保持するとともに、ターンテーブル3が再度回転動作を再開する前に上昇して、回転時には上昇位置を保持するように構成されている。すなわち、吸着ノズル6aは、ターンテーブル3の回転が停止している間に、下降して供給機構や工程処理ユニットに電子部品を受渡し、また受け取る。
Next, with reference to the
次に、衛星テーブル10とターンテーブル3及び吸着ノズル6aの動作タイミングについてマーキングユニット5fの場合を例にとって説明する。まず、図5及び図6の(a)に示すように、吸着ノズル6aは、ターンテーブル3の回転によって電子部品S1を保持した状態で衛星テーブル10上の吸着ノズル6a上昇位置に移動する。このときターンテーブル3及び衛星テーブル10は停止している。
Next, the operation timing of the satellite table 10, the
両図(b)に示すように、吸着ノズル6aが下降動作を開始し下降位置に達すると、吸着ノズル6aから衛星テーブル10の搭載面21へ電子部品S1が受け渡される。そして、衛星テーブル10は4分の1回転し、すでにマーキングが済んだ電子部品S4が吸着ノズル6aの位置まで来る。この時の状態が両図(c)の状態である。次に、吸着ノズル6aは停止している衛星テーブル10から電子部品S4を受け取り、図の(d)に示すように上昇動作を行う。
As shown in FIGS. 2B and 2B, when the
このように図5及び図6の(a)から(d)の状態までは、ターンテーブル3は停止しており、衛星テーブル10だけが1/4回転する。また、(d)から(a)に移る間は、ターンテーブル3は回転し、衛星テーブル10は停止している。そしてこのとき、マーキングユニット5fのマーキング位置にある電子部品S2がマーキングされる。
In this way, from the states (a) to (d) of FIGS. 5 and 6, the
ここで、マーキングユニット5fは、図4に示すように、電子部品Sに捺印処理を行うレーザマーキング本体31がプレート32に固定され、さらに、支持台33によりプレート32と連結してレーザマーキング本体31の傾き角度を変更可能に支持している。
Here, in the
すなわち、レーザマーキング本体31は、レーザマーキング本体31の傾きを維持する受台34のストッパ35がプレート32に接することによって照射角度に傾いた状態で維持されている。そして、このプレート32と支持台33とは、ピン36が軸となって回動自在に連結されるとともに、固定ネジ37によってレーザマーキング本体31が照射角度で固定されている。
That is, the laser marking
このように、本実施形態のマーキングユニット5fは、レーザマーキング本体31を回転可能な支持機構により構成しているため、プレート32ごとピン36を中心に回転することができる。回転位置が決まると、固定ネジ37によりその位置及び角度を固定することができる。したがって、衛星テーブル10のメンテナンス時等、マーキングユニット5fを使用しない場合には、レーザマーキング本体31を上方に固定しておくことができるため、メンテナンスの邪魔となることがない。
Thus, since the marking
また、レーザマーキング本体31のレーザ照射側の面に設けられた防塵用フィルム38及び防塵カバー39によって、レーザマーキング時に発生するススがレーザマーキングのレンズに付着するのを防止する。防塵カバー39は、レーザマーキング本体31の照射部分をすっぽり包み込むようにボックス形状に構成され、この防塵カバー39から引き出されたチューブ40を介して、集塵機41にてススを吸収する。
Further, the dust-
なお、上述の作用では、マーキングユニット5fにおけるマーキング工程を例にとって説明したが、外観検査ユニット5iの外観検査工程の場合も同様に行うことができる。
In the above-described operation, the marking process in the
[1−5.効果]
このように、本実施形態によれば、衛星テーブルにおいて、ターンテーブルの回転時に停止を維持し、ターンテーブルの停止時に回転動作を行うが、その動作時間はターンテーブルの動作時間と比較し、回転時間は短く停止時間は長い。そのため、ターンテーブルの停止時において、電子部品を受け取り、4分の1回転し、次の電子部品を受け渡す、という動作を行い得るとともに、ターンテーブルよりも停止時間を十分に確保することにより、この停止時間内に一連の動作を終了させればよいので、吸着ノズルの上昇・下降動作を緩やかにすることができ、衝撃の緩和を図ることができる。また、相対的に処理時間の長いマーキングあるいは外観検査を確実に行うことが可能となる。
[1-5. effect]
Thus, according to this embodiment, in the satellite table, the stop is maintained when the turntable is rotated, and the rotation operation is performed when the turntable is stopped. The operation time is compared with the operation time of the turntable. The time is short and the stop time is long. Therefore, when the turntable is stopped, the electronic component is received, rotated by a quarter, and the next electronic component is delivered, and by securing a sufficient stop time than the turntable, Since a series of operations may be completed within this stop time, the raising / lowering operation of the suction nozzle can be moderated, and the impact can be mitigated. In addition, it is possible to reliably perform marking or appearance inspection with a relatively long processing time.
また、衛星テーブルは従来のサブテーブル機構に比べ、サイズ縮小化、機構簡単化及び制御簡易化により、高速処理が可能となる。このことを図13を用いて説明する。図13(a)に示すように、従来のメインテーブル・サブテーブル方式では、電子部品の受渡し及び受取りの加工点を2ヵ所必要としていたため、メインテーブルの回転タイミングでサブテーブルも回転しなければならなかった。したがって、電子部品の受渡し・受取りに伴う制御の高速化が困難であった。また、電子部品の受渡し・受取りの加工点を2ヵ所設けていたので、その分のスペースも必要であった。 Further, the satellite table can be processed at high speed by reducing the size, simplifying the mechanism and simplifying the control as compared with the conventional sub-table mechanism. This will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 13 (a), the conventional main table / sub table method requires two processing points for delivery and receipt of electronic components, so the sub table must also be rotated at the rotation timing of the main table. did not become. Therefore, it has been difficult to increase the speed of control associated with delivery / reception of electronic components. In addition, since there were two processing points for delivery / reception of electronic parts, it was necessary to have enough space.
これに対し、図13(b)に示すように、本実施形態の衛星テーブルによれば、電子部品の受渡し・受取りの加工点を1ヵ所とし、保持機構1回の上昇・下降動作及び衛星テーブルの回転だけで済むので制御が簡単となり高速処理が可能となる。 On the other hand, as shown in FIG. 13 (b), according to the satellite table of the present embodiment, the processing point for delivery / reception of electronic parts is set to one place, and the ascending / descending operation of the holding mechanism once and the satellite table. Therefore, the control is simple and high-speed processing is possible.
さらに、衛星テーブルの中心軸をターンテーブル円周方向外側に傾けて構成したことにより、水平面上にテーブルを設ける場合に比して、ターンテーブルと工程処理ユニットとの間隔を狭めることができ、装置全体の省スペース化を図ることができる。 Furthermore, since the center axis of the satellite table is inclined to the outside in the circumferential direction of the turntable, the distance between the turntable and the process processing unit can be narrowed compared to the case where the table is provided on a horizontal plane, The entire space can be saved.
このように、衛星テーブルを設け、1つのターンテーブル内にすべての工程処理ユニットを納めたことにより、サブテーブルを設ける必要がなく、電子部品の受渡し・受取りの加工点を、従来の2ヵ所から1ヵ所に簡易化することができる。また、受渡し・受取りに伴う制御の簡易化を図ることができるので、高速処理及び装置の簡易化を図ることができるようになる。さらに、広いスペースを必要とするマーキングユニットをターンテーブルから取り除き、別ユニット化することができる。 In this way, the satellite table is provided, and all process processing units are placed in one turntable, so there is no need to provide a sub-table, and the processing points for delivery / reception of electronic components can be changed from two conventional locations. It can be simplified to one place. In addition, since control associated with delivery / reception can be simplified, high-speed processing and simplification of the apparatus can be achieved. Furthermore, a marking unit that requires a large space can be removed from the turntable to form a separate unit.
また、本実施形態のマーキングユニット5fは、レーザマーキング本体31を回転可能な支持機構により構成しているため、プレート32ごとピン36を中心に回転することができる。回転位置が決まると、固定ネジ37によりその位置及び角度を固定することができる。したがって、衛星テーブル10のメンテナンス時等、マーキングユニット5fを使用しない場合には、レーザマーキング本体31を上方に固定しておくことができる。ため、メンテナンスの邪魔となることがない。
In addition, since the marking
また、レーザマーキング本体31のレーザ照射部に防塵用フィルム38及び防塵カバー39が設けられていることにより、レーザマーキング時に発生するススがレーザマーキングのレンズに付着するのを防止することができる。さらに、防塵用フィルム38は、レーザマーキング本体31に対して着脱可能に設けられているため、フィルムがススで汚れるたびにワンタッチで交換することができる。
Further, since the dust-
防塵カバー39は、レーザマーキング本体31の照射部分をすっぽり包み込むようにボックス形状に構成されており、この防塵カバー39からはチューブ40が引き出され、集塵機41にてススを吸収することができるため、レーザマーキング時に発生するススを効率よく吸収することが可能となっている。
The dust-
[2.第2の実施形態]
[2−1.構成]
第2の実施形態は、第1の実施形態における衛星テーブルの構成並びにターンテーブルと衛星テーブルとの動作タイミングに改良を加えたものである。なお、第1の実施形態と同様の構成には同じ符号を付し、特に変更がない場合は説明を省略する。
[2. Second Embodiment]
[2-1. Constitution]
In the second embodiment, the configuration of the satellite table and the operation timing of the turntable and the satellite table in the first embodiment are improved. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to 1st Embodiment, and description is abbreviate | omitted when there is no change in particular.
図7に示すとおり、ターンテーブル3の周囲には、例えばマーキングユニット5fの下流側に、小型の衛星テーブル50a〜50dが4つ連続して設けられている。そして、この衛星テーブル50a〜50dのターンテーブル3からみて外延側には、電気特性検査ユニット(以下、「テストコンタクト」という。)5nが各衛星テーブルごとに設けられている。
As shown in FIG. 7, around the
この衛星テーブル50a〜50dは、すべて同様の構成からなり、図8の断面図に示すとおり、電子部品Sを搭載する搭載面51がテーブルの直径上に一対、すなわち2つ設けられている。また、この搭載面51は電子部品Sを吸着保持する吸着孔52を備え、この吸着孔52から図示しないバキューム装置へ連通することによって、載置される電子部品Sが吸着保持されるように構成されている。
All of the satellite tables 50a to 50d have the same configuration, and as shown in the cross-sectional view of FIG. 8, a pair, that is, two mounting
また、この衛星テーブル50a〜50dは、図7又は図8に示すように、ターンテーブル3に設けられた吸着ノズル6aの中心位置と上下同位置に設けられた電子部品Sの受渡し位置Tと、そこから180度回転した位置にテストコンタクトに電子部品Sを受け渡す処理位置Dとを備えている。すなわち、この衛星テーブル50a〜50dは、ターンテーブル3の吸着ノズル6aに保持されて搬送されてくる電子部品Sを載置面51に載置することにより受け取り、受け取った電子部品Sを載置面51上で吸着保持したまま180度回転して、工程処理機構に受け渡すように構成されている。
Further, as shown in FIG. 7 or FIG. 8, the satellite tables 50a to 50d are provided with a delivery position T of the electronic component S provided at the same vertical position as the center position of the
なお、本実施形態では、工程処理の一例としてテストコンタクト5nの処理に衛星テーブル50a〜50dを用いることとしているが、第1の実施形態と同様、マーキングユニット又は外観検査ユニット等、どの工程処理ユニットにおいても用いることは可能である。
In this embodiment, the satellite tables 50a to 50d are used for the processing of the
[2−2.作用]
次に、衛星テーブル50a〜50dの作用について、ターンテーブル3の間欠回転タイミング、吸着ノズル6aの上下動作のタイミング、テストコンタクトの処理タイミングとについて、図9のタイミングチャートと図10の概念図を用いて説明する。
[2-2. Action]
Next, regarding the operation of the satellite tables 50a to 50d, the intermittent rotation timing of the
まず、前工程を終了し、パーツフィーダ等の搬送手段を介して、図7に示す供給機構4から、本実施形態の電子部品の処理装置1へ搬送されてきた電子部品Sは、吸着ノズル6aに保持された状態で、ダイレクトドライブモータ2の駆動によるターンテーブル3の間欠回転に伴って、各工程処理ユニット5において順次各工程処理が施されながら、電子部品Sは衛星テーブル50上まで搬送されてくる。
First, the pre-process is completed, and the electronic component S conveyed from the
図9に示すように、衛星テーブル50a〜50dは、ターンテーブル3が4サイクル回転するうち、1度のみ電子部品Sを受け取り、受渡し、また回転するものである。これを図10を用いて説明すると、仮に、電子部品aが処理開始後、最も最初に搬送される電子部品であるとすると、衛星テーブル50a〜50dは、ターンテーブル3が回転と停止を1サイクルとして4サイクルするまで、動作をしないため、初期状態には、電子部品aが衛星テーブル50aから衛星テーブル50dまで進んだ状態、すなわち図10の(1)に示した状態となる。これを図9においても、(1)として示す。
As shown in FIG. 9, the satellite tables 50a to 50d receive, deliver, and rotate the electronic component S only once while the
次に、ターンテーブル3が4サイクル動作をした後であるため、図9に示すように、吸着ノズル6aが下降し、真空破壊して衛星テーブル50の載置面51に受け渡すと、載置面51の吸着孔52から電子部品は真空吸着される。そして、この状態で、衛星テーブル50a〜50dは、一斉に回転する。なお、この間、図9に示すようにテストコンタクトはOFFの状態となっている。
Next, since the
衛星テーブル50a〜50dが、180度回転し、停止すると、衛星テーブル50は、電子部品a〜dをテストコンタクト5nに受渡し、テストコンタクト5nでは電気特性検査が行われる。次に、ターンテーブル3は、間欠回転し、図10に示す(2)の状態、すなわち、次の電子部品eが吸着ノズル6aに保持され、衛星テーブル50a上に搬送されてくる。
When the satellite tables 50a to 50d rotate by 180 degrees and stop, the satellite table 50 delivers the electronic components a to d to the
衛星テーブル50a〜50dは、ターンテーブル3が4サイクル動作するまでは電子部品Sの受け取り、受渡し及び回転動作を行わない。すなわち、ターンテーブル3が4サイクル動作する間は、図9に示すように、テストコンタクトが電気特性検査を継続的に実行している。
The satellite tables 50a to 50d do not receive, deliver and rotate the electronic component S until the
ターンテーブル3は、図9又は図10の(3),(4),(5)と進む。そうすると、図10に示すように、ターンテーブル3の吸着ノズル6a側、すなわち、受渡し位置Tには、電子部品e〜hが保持された状態となる。また、衛星テーブル50a〜50dの処理位置Dにおける載置面51上には、電子部品a〜dが保持された状態となる。
The
この状態から、処理位置Dにおいて電子部品a〜dの電気特性検査がOFFになるとともに、衛星テーブル50a〜50dは吸着ノズル6aから電子部品e〜dを受渡し位置Tで載置面51に載置して受け取り、次に、180度回転して、図10(6)に示す状態となり、吸着ノズル6aに電気特性検査の終了した電子部品a〜dを受け渡す。電子部品a〜dを吸着ノズル6aに受け渡した後は、テストコンタクト5nが電子部品e〜hに対する電気特性検査を開始する。以上のように、処理がなされた電子部品a〜dは、次工程へと順次搬送されていくこととなる。また、電子部品e〜hに対しては、図9又は図10において示した(2)〜(6)の処理が繰り返される。
From this state, the electrical characteristics inspection of the electronic components a to d is turned off at the processing position D, and the satellite tables 50a to 50d place the electronic components ed from the
[2−3.効果]
以上のような本実施形態によれば、衛星テーブルは、ターンテーブルの複数サイクル(ここでは、4サイクル。)の動作のうち、最後のサイクルにおける停止時間内に、電子部品を受取り、工程処理位置に搬送することによって電気特性検査処理を施す。そして、ターンテーブルが再び所定サイクル動作した後、回転しターンテーブルに処理の済んだ電子部品を受渡す。これにより、他の工程処理に比較して処理時間の長い電気特性検査において、その処理時間分衛星テーブルを用意し設置することによって、他の工程処理に影響を与えることなく工程処理時間を確保することができる。
[2-3. effect]
According to the present embodiment as described above, the satellite table receives the electronic component within the stop time in the last cycle among the operations of a plurality of cycles (here, four cycles) of the turntable, and the process processing position. The electrical property inspection process is performed by transporting to the surface. Then, after the turntable operates again for a predetermined cycle, it rotates and delivers the processed electronic components to the turntable. As a result, in electrical characteristic inspections that require a longer processing time compared to other process processes, the process processing time is ensured without affecting other process processes by preparing and installing a satellite table for that process time. be able to.
例えば、ターンテーブル周囲に、すべての工程処理ユニットを均等に並べて、特に衛星テーブルも設けず処理を行った場合には、ターンテーブルの停止時間を最も長い処理時間に合わせなければならなくなる。そのため、本来短時間で処理が終わる外観検査等では、必要以上に停止時間が長くなり、時間をもてあますこととなってしまう。一方で、本実施形態では、衛星テーブルを複数設け、ターンテーブルが複数回回転する間に1回回転して、工程処理ユニットに電子部品を受け渡すような構成とすることによって、ある特定の工程処理ユニットについてのみ処理時間を長くとることができるようになる。 For example, when processing is performed with all process processing units arranged evenly around the turntable, and without a satellite table, the turntable stop time must be set to the longest processing time. For this reason, in an appearance inspection or the like that normally ends in a short time, the stop time becomes longer than necessary, and time is taken. On the other hand, in this embodiment, a specific process is provided by providing a plurality of satellite tables and rotating the turntable one time while delivering the electronic components to the process processing unit. The processing time can be increased only for the processing unit.
より具体的に言えば、衛星テーブルを3つ連続的に設け、これらの衛星テーブルにおける電子部品の受け取り、受渡し及び回転の処理をターンテーブルが3サイクル回転するうちの1回とすれば、ターンテーブルの3サイクル分の時間を工程処理ユニットによる工程処理に費やすことができる。また、衛星テーブルが2つであれば、ターンテーブルの2サイクル分の時間を工程処理に費やすことができるし、5つであれば5サイクル分の時間を工程処理に費やすことができる。 More specifically, if three satellite tables are provided in succession and electronic components are received, delivered, and rotated in these satellite tables once in one turn of the three turntables, the turntable These three cycles can be spent on the process processing by the process processing unit. In addition, if there are two satellite tables, the time for two cycles of the turntable can be spent on the process process, and if five satellite tables, the time for five cycles can be spent on the process process.
このように、衛星テーブルの数を任意に設定することによって、各工程処理の処理時間に応じた柔軟な処理が可能となり、全体として処理時間の短縮化を図ることが可能となる。 In this way, by arbitrarily setting the number of satellite tables, flexible processing according to the processing time of each process can be performed, and the processing time can be shortened as a whole.
[他の実施形態]
なお、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、次のような他の実施の形態も包含するものである。すなわち、衛星テーブルを円形のターンテーブル状で構成したが、本発明では、この構成に限られることなく、受け取り位置及び受渡し位置を共通にしターンテーブルの停止中に保持機構から電子部品を受け取るとともに工程処理済みの電子部品を受け渡すことのできる構成であれば、例えば、三角形で構成する等、その形状あるいは搭載箇所の数は適宜変更可能である。
[Other Embodiments]
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, The following other embodiment is also included. That is, the satellite table is configured in the shape of a circular turntable. However, the present invention is not limited to this configuration, and the receiving position and the delivery position are made common and the electronic component is received from the holding mechanism while the turntable is stopped. As long as the processed electronic component can be delivered, the shape or the number of mounting locations can be changed as appropriate, for example, a triangular shape.
また、第1の実施形態では、衛星テーブルの中心軸を傾け、より省スペース化を狙ったが、中心軸を垂直に設けても本発明の作用効果を奏することができることは言うまでもない。逆に、第2の実施形態では、衛星テーブルの中心軸を垂直に設ける態様を示したが、この実施形態においても、より省スペース化を狙って衛星テーブルの中心軸を傾けて構成することも可能である。 In the first embodiment, the central axis of the satellite table is tilted to reduce the space, but it goes without saying that the effects of the present invention can be obtained even if the central axis is provided vertically. On the contrary, in the second embodiment, the aspect in which the central axis of the satellite table is provided vertically is shown. However, in this embodiment, the central axis of the satellite table may be inclined to further save space. Is possible.
上記実施形態では、マーキングユニットと外観検査ユニットを図1に示すように異なる位置に設け、それぞれの工程において衛星テーブルを設けていたが、本発明はこのような場合に限られるものではない。すなわち、図11に示すように、同一の衛星テーブル上に、複数種類の工程処理、例えば、マーキングユニット5lと外観検査ユニットmを衛星テーブル10上の異なる処理位置に設け、一つの衛星テーブル上で、複数種類の工程処理を同時に処理することも可能である。 In the above embodiment, the marking unit and the appearance inspection unit are provided at different positions as shown in FIG. 1 and the satellite table is provided in each step. However, the present invention is not limited to such a case. That is, as shown in FIG. 11, a plurality of types of process processing, for example, a marking unit 5l and an appearance inspection unit m are provided at different processing positions on the satellite table 10 on the same satellite table. It is also possible to process a plurality of types of process processes simultaneously.
この場合のタイミングチャートは、図12に示すようになる。この場合、タイミングチャートに示すように、衛星テーブル上に設ける複数種類の工程処理は、処理時間が近似するものであることが望ましい。これにより、図1に示した外観検査ユニットをマーキングユニットとターンテーブルに対して同一の処理位置に設けることができ、結果として、工程処理位置の数を減少させることができるので、装置全体の簡易化・シンプル化を図ることができるようになる。 The timing chart in this case is as shown in FIG. In this case, as shown in the timing chart, it is desirable that a plurality of types of process processing provided on the satellite table have approximate processing times. Accordingly, the appearance inspection unit shown in FIG. 1 can be provided at the same processing position with respect to the marking unit and the turntable, and as a result, the number of process processing positions can be reduced. Can be simplified and simplified.
さらに、上記実施形態では、衛星テーブルを介在させて設ける工程処理ユニットとしてマーキングユニットと外観検査ユニットを例に挙げたが、衛星テーブルを用いる工程処理を何にするかは、装置の目的等に応じて適宜変更可能である。 Furthermore, in the above embodiment, the marking unit and the appearance inspection unit are given as examples of the process processing unit provided with the satellite table interposed therebetween. However, what the process processing using the satellite table is performed depends on the purpose of the apparatus. Can be changed as appropriate.
1…電子部品の処理装置
2…ダイレクトドライブモータ
3…ターンテーブル
4…供給機構
5,5a〜5k…工程処理ユニット
5f,5l…マーキングユニット
5i,5m…外観検査ユニット
5n…電気特性検査ユニット
6…保持ユニット
6a…保持機構
7…駆動ユニット
10,10a,10b…衛星テーブル
21…搭載面
22…吸着孔
31…レーザマーキング本体
32…プレート
33…支持台
34…受台
35…ストッパ
36…ピン
37…固定ネジ
38…防塵用フィルム
39…防塵カバー
40…チューブ
41…集塵機
D…電子部品の処理位置
S…電子部品
T…電子部品の受渡し位置
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記衛星テーブルは、
前記保持機構から電子部品を受け取る位置と前記保持機構へ工程処理後の電子部品を受け渡す位置とが共通する受取受渡位置と、
前記工程処理機構において電子部品を処理する処理位置と、を備え、
前記衛星テーブルは、その全てが同じタイミングで前記保持機構から電子部品を受取り前記工程処理機構の処理位置へ搬送し、工程処理を終えた電子部品を再度保持機構へ受け渡すように構成され、
前記衛星テーブルの全てが、前記保持機構から電子部品を受け取り受け渡すのは、前記ターンテーブルが前記衛星テーブルの数分、前記サイクルを繰り返した後であることを特徴とする電子部品の処理装置。 A plurality of holding mechanisms for holding electronic components, a turntable for rotating and stopping intermittently as one cycle while holding electronic components by the holding mechanism, and a plurality of steps provided on the outer periphery of the turntable a processing mechanism, a processor of an electronic component and a plurality provided satellite table in succession between said turntable step processing mechanism,
The satellite table is
A delivery / delivery position in which a position for receiving the electronic component from the holding mechanism and a position for delivering the electronic component after process processing to the holding mechanism are common ;
And a processing position for processing of electronic parts in the step processing mechanism,
The satellite table, all are configured to pass from the holding mechanism at the same time conveyed to the processing position of said step processing mechanism receives the electronic components, the re-holding mechanism electronic components have been processed as Engineering,
The all- satellite table receives and delivers the electronic component from the holding mechanism after the turntable repeats the cycle by the number of the satellite table.
前記衛星テーブルに対して、前記複数の処理位置に処理時間の近似する複数種類の工程処理機構が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の処理装置。The electronic component processing apparatus according to claim 1, wherein a plurality of types of process processing mechanisms whose processing times approximate to the plurality of processing positions are provided for the satellite table.
前記衛星テーブルは、前記ターンテーブルが回転している間は停止し、前記工程処理機構の処理位置に電子部品を停止させる処理を行い、
前記衛星テーブルの全ては、前記ターンテーブルがこの衛星テーブルの個数分前記サイクルを繰り返し最後のサイクルの停止時間において、前記保持機構から電子部品を受け取り、回転し、工程処理後の電子部品を前記受け取り位置と同じ位置で前記保持機構へ受け渡す処理を行うことを特徴とする電子部品の処理方法。 A turntable that includes a plurality of holding mechanisms for holding electronic components, holds the electronic components by the holding mechanism, and rotates and stops repeatedly as one cycle. The turntable is provided on the outer periphery of the turntable. A plurality of process processing mechanisms that perform predetermined processing, and a plurality of process processing mechanisms that are continuously provided between the turntable and the process processing mechanism, receive an electronic component at a receiving position of the electronic component, and move to the processing position of the process processing mechanism In the electronic component processing method performed using the satellite table that conveys the electronic component,
The satellite table stops while the turntable is rotating, and performs processing to stop the electronic component at the processing position of the process processing mechanism,
All of the satellite tables receive the electronic components from the holding mechanism, rotate and receive the electronic components after process processing at the stop time of the last cycle by repeating the cycle for the number of the satellite tables. A method of processing an electronic component, wherein a process of delivering to the holding mechanism is performed at the same position as the position.
前記衛星テーブルは、前記ターンテーブルが回転している間は停止し、前記工程処理機構の各処理位置に順次電子部品を停止させる処理を行い、The satellite table is stopped while the turntable is rotating, and performs processing to sequentially stop electronic components at each processing position of the process processing mechanism,
前記衛星テーブルは、前記ターンテーブルがこの衛星テーブルの個数分前記サイクルを繰り返し最後のサイクルの停止時間において、前記保持機構から電子部品を受け取り、回転し、処理時間が近似する複数種類の工程処理後の電子部品を前記受け取り位置と同じ位置で前記保持機構へ受け渡す処理を行うことを特徴とする請求項3に記載の電子部品の処理方法。The satellite table repeats the cycle as many times as the number of the satellite table, receives the electronic components from the holding mechanism at the stop time of the last cycle, rotates, and performs a plurality of types of process processing that approximate the processing time. The electronic component processing method according to claim 3, wherein the electronic component is transferred to the holding mechanism at the same position as the receiving position.
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