JP5633950B2 - Taping unit, electronic component accommodation method, and electronic component inspection apparatus - Google Patents

Taping unit, electronic component accommodation method, and electronic component inspection apparatus Download PDF

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    • H05K13/02Feeding of components
    • H05K13/021Loading or unloading of containers

Description

本発明は、電子部品を収容するテーピングユニット、電子部品収容方法、及びテーピングユニットを備えた電子部品検査装置に関する。   The present invention relates to a taping unit for storing electronic components, an electronic component storing method, and an electronic component inspection apparatus including the taping unit.

半導体素子等の電子部品は、ダイシング、マウンティング、ボンディング、及びシーリング等の各組み立て工程を経て個片に分離された後、各種検査等の工程が行われる。この工程は、一般的にはテストハンドラーと呼ばれる電子部品検査装置で行われる。これは、メインテーブルを回転させ、搬送部の電子部品を吸着ノズル等の保持手段に保持し、各検査装置に対して搬送して検査を行うものである。検査を終えた電子部品は、テーピングユニットにおいてキャリアテープのポケットに収容される。   Electronic components such as semiconductor elements are separated into individual pieces through various assembly processes such as dicing, mounting, bonding, and sealing, and then various processes such as inspection are performed. This process is generally performed by an electronic component inspection apparatus called a test handler. In this method, the main table is rotated, the electronic components of the transport unit are held by a holding means such as a suction nozzle, and transported to each inspection apparatus for inspection. The electronic component that has been inspected is accommodated in the pocket of the carrier tape in the taping unit.

電子部品を収容したキャリアテープは巻き取りモータによって巻き取られるが、その前に外観検査を行う。外観検査は、電子部品がポケットに正しい方向で収容されていない、収容された電子部品に傷がある、ポケットが空である、等の不良を検出するためのものである。検査の方法としては、スプロケットを用いてキャリアテープを間欠的に移送し、移送路上に電子部品を撮像する撮像手段を配置して電子部品を撮像する。撮像手段の撮像画像から不良が検出された場合には、吸着ノズル等の除去手段を用いて電子部品をポケットから取り除く。そして、キャリアテープを移送方向とは逆方向に移送し、空のポケットを電子部品の収容位置に戻して新たな電子部品を収容する(例えば、特許文献1参照)。   The carrier tape containing the electronic components is taken up by a take-up motor, but before that, an appearance inspection is performed. The appearance inspection is for detecting defects such as an electronic component not stored in the pocket in the correct direction, a scratch on the stored electronic component, or an empty pocket. As an inspection method, the carrier tape is intermittently transferred using a sprocket, and an imaging means for imaging the electronic component is arranged on the transfer path to image the electronic component. When a defect is detected from the captured image of the imaging unit, the electronic component is removed from the pocket using a removing unit such as a suction nozzle. Then, the carrier tape is transported in the direction opposite to the transport direction, and the empty pocket is returned to the electronic component housing position to accommodate a new electronic component (see, for example, Patent Document 1).

国際公開 WO2010/089275号公報International Publication No. WO2010 / 089275

テーピングユニットにおいては、電子部品の不良を速やかに検出して除去し、空いたポケットには新たな電子部品を収容することが望ましい。したがって、電子部品を撮像して不良を検出する不良検出位置は、収容位置に対して移送方向下流側の近接した位置に設けることが好ましい。そうなると、除去手段は、不良検出位置よりさらに移送方向下流側に配置することとなる。この場合、ポケットを収容位置に戻して新たな電子部品を収容するためには、キャリアテープを移送方向と逆方向に大きく戻さなくてはならなかった。   In the taping unit, it is desirable to quickly detect and remove a defect in the electronic component and accommodate a new electronic component in the vacant pocket. Therefore, it is preferable to provide a defect detection position for detecting a defect by imaging an electronic component at a position close to the accommodation position on the downstream side in the transfer direction. If it becomes so, a removal means will be arrange | positioned further to a conveyance direction downstream from a defect detection position. In this case, in order to return the pocket to the accommodation position and accommodate a new electronic component, the carrier tape has to be largely returned in the direction opposite to the transport direction.

一方、特許文献1では、メインテーブルを1/2ピッチ逆回転させて保持手段を収容位置から退避させ、その収容位置に除去手段を移動させて電子部品を除去する構成を開示している。この構成では、キャリアテープを逆方向に移送する距離は減らせるが、メインテーブルを駆動するダイレクトドライブモータを逆回転させる必要がある。   On the other hand, Patent Document 1 discloses a configuration in which the main table is reversely rotated by 1/2 pitch to retract the holding means from the accommodation position, and the removal means is moved to the accommodation position to remove the electronic component. In this configuration, the distance for transferring the carrier tape in the reverse direction can be reduced, but it is necessary to reversely rotate the direct drive motor that drives the main table.

すなわち、処理工程の1つであるテーピングユニットでの動作のために、電子部品検査装置のメインテーブル全体を制御する必要がある。さらにメインテーブルの1/2ピッチマイナス方向という動作は制御を複雑化させる。さらに逆回転の動作により、各工程において不良なしと判定された電子部品に、製品落下や位置ずれといった不具合が生じる可能性もある。また、装置の寸法や保持手段の数によっては、メインテーブルの保持手段のピッチが狭い場合もある。この場合は、保持手段を1/2ピッチずらしても、除去手段の十分な可動範囲を確保できない可能性がある。   That is, it is necessary to control the entire main table of the electronic component inspection apparatus for the operation of the taping unit which is one of the processing steps. Further, the movement of the main table in the ½ pitch minus direction complicates the control. Furthermore, due to the reverse rotation operation, there is a possibility that problems such as product dropping and positional deviation may occur in electronic components that are determined to be free in each step. Further, depending on the size of the apparatus and the number of holding means, the pitch of the holding means of the main table may be narrow. In this case, there is a possibility that a sufficient movable range of the removing means cannot be secured even if the holding means is shifted by 1/2 pitch.

本発明は、上記のような問題点を解決するために提案されたもので、電子部品の不良検出及び除去のためにメインテーブルの逆回転や細かい制御を必要とせず、キャリアテープの移送距離も低減し、作業効率を向上させたテーピングユニット、電子部品収容方法、及び電子部品検査装置を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed to solve the above-described problems, and does not require reverse rotation or fine control of the main table for detecting and removing defects in electronic components, and also has a carrier tape transfer distance. It is an object of the present invention to provide a taping unit, an electronic component housing method, and an electronic component inspection apparatus which are reduced and work efficiency is improved.

本発明に係るテーピングユニットは、長手方向に複数の収容部を並べたキャリアテープに電子部品を収容して移送経路上を移送するものであり、以下を備えることを特徴としている。
(a)移送路上の第1の位置で収容部に電子部品が収容されたキャリアテープを、移送路に沿って移送する移送手段
(b)キャリアテープの移送により、移送路上の第1の位置より移送方向下流側の第2の位置に移送された電子部品を撮像する撮像手段
(c)撮像手段による撮像結果から、前記電子部品の不良を検出する不良検出手段
(d)不良が検出された電子部品を、キャリアテープの収容部内から除去する除去手段
(e)除去手段をキャリアテープに対して相対的に移動させ、除去手段を待機位置から第2の位置に位置させる移動機構
The taping unit according to the present invention accommodates an electronic component on a carrier tape in which a plurality of accommodating portions are arranged in the longitudinal direction and transfers the electronic component on a transfer path, and includes the following.
(A) Transfer means for transferring the carrier tape in which the electronic component is accommodated in the accommodating portion at the first position on the transfer path along the transfer path. (B) By the transfer of the carrier tape, from the first position on the transfer path. Imaging means for imaging the electronic component transferred to the second position downstream in the transfer direction (c) Defect detection means for detecting a defect of the electronic component from the imaging result by the imaging means (d) Electron in which the defect is detected Removal means for removing the component from the carrier tape accommodating portion (e) A moving mechanism for moving the removal means relative to the carrier tape and positioning the removal means from the standby position to the second position.

本発明の一態様によれば、撮像手段の少なくとも一部の機構を、第2の位置に配置するように構成しても良い。   According to one aspect of the present invention, at least a part of the mechanism of the imaging unit may be arranged at the second position.

本発明の一態様によれば、移動機構を移送方向に直交する方向に移動可能に設け、撮像手段の少なくとも一部の機構と除去手段とを、移送方向に直交する方向に隣接するように配置して移動機構に連結し、移動機構の移動によって撮像手段の少なくとも一部の機構を第2の位置から退避させ、除去手段を待機位置から第2の位置に移動させるように構成しても良い。   According to one aspect of the present invention, the moving mechanism is provided so as to be movable in a direction orthogonal to the transfer direction, and at least a part of the mechanism of the imaging unit and the removing unit are arranged adjacent to each other in the direction orthogonal to the transfer direction. Then, it is connected to the moving mechanism, and at least a part of the mechanism of the imaging unit is retracted from the second position by moving the moving mechanism, and the removing unit is moved from the standby position to the second position. .

本発明の一態様によれば、撮像手段は機構の一部として電子部品の像を屈折してカメラに導くプリズムを備え、このプリズムが第2の位置に配置されるようにしても良い。   According to an aspect of the present invention, the imaging unit may include a prism that refracts an image of the electronic component and guides it to the camera as a part of the mechanism, and this prism may be arranged at the second position.

本発明の一態様によれば、除去手段を、空気を吹き付けて収容部の底面から電子部品を浮き上がらせるブローノズルと、底面から浮き上がった電子部品を保持する保持手段とから構成しても良い。   According to one aspect of the present invention, the removing unit may be configured by a blow nozzle that blows air to lift the electronic component from the bottom surface of the housing portion and a holding unit that holds the electronic component that is lifted from the bottom surface.

さらに、上記テーピングユニットに対応する電子部品収容方法と、上記テーピングユニットを備えた電子部品検査装置も、本発明の一態様である。   Furthermore, an electronic component housing method corresponding to the taping unit and an electronic component inspection apparatus including the taping unit are also one aspect of the present invention.

本発明によれば、テーピングユニットにおいてポケットに収容した電子部品の不良を検出した際に、不良検出位置である第2の位置に除去手段を位置させる移動機構を設けることによって、メインテーブルを逆回転させずにキャリアテープの小さい距離の移動のみで不良電子部品を速やかに除去できるため、作業効率を向上することができる。   According to the present invention, when the defect of the electronic component housed in the pocket is detected in the taping unit, the main table is rotated in the reverse direction by providing the moving mechanism that positions the removing means at the second position that is the defect detection position. Since the defective electronic component can be quickly removed only by moving the carrier tape over a small distance without making it, the working efficiency can be improved.

本発明の第1の実施形態に係るテーピングユニットの概略的な構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the taping unit which concerns on the 1st Embodiment of this invention. テーピングユニットの要部を拡大した斜視図である。It is the perspective view which expanded the principal part of the taping unit. テーピングユニットの要部を拡大した正面図である。It is the front view which expanded the principal part of the taping unit. テーピングユニットの要部を拡大し、除去手段を省いた側面図である。It is the side view which expanded the principal part of the taping unit and omitted the removal means. テーピングユニットの作用を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the effect | action of a taping unit. 図5のステップS01に対応したテーピングユニットの作用を示す模式図である。(a)はメインテーブルの状態を示し、(b)は正面から見たテーピングユニットの状態を示し、(c)は上面から見たテーピングユニットの状態を示す。It is a schematic diagram which shows the effect | action of the taping unit corresponding to step S01 of FIG. (A) shows the state of the main table, (b) shows the state of the taping unit seen from the front, and (c) shows the state of the taping unit seen from the top. 図5のステップS02〜S03に対応したテーピングユニットの作用を示す模式図である。(a)はメインテーブルの状態を示し、(b)は正面から見たテーピングユニットの状態を示し、(c)は上面から見たテーピングユニットの状態を示す。It is a schematic diagram which shows the effect | action of the taping unit corresponding to step S02 to S03 of FIG. (A) shows the state of the main table, (b) shows the state of the taping unit seen from the front, and (c) shows the state of the taping unit seen from the top. 図5のステップS05に対応したテーピングユニットの作用を示す模式図である。(a)はメインテーブルの状態を示し、(b)は正面から見たテーピングユニットの状態を示し、(c)は上面から見たテーピングユニットの状態を示す。It is a schematic diagram which shows the effect | action of the taping unit corresponding to step S05 of FIG. (A) shows the state of the main table, (b) shows the state of the taping unit seen from the front, and (c) shows the state of the taping unit seen from the top. 図5のステップS06に対応したテーピングユニットの作用を示す模式図である。(a)はメインテーブルの状態を示し、(b)は正面から見たテーピングユニットの状態を示し、(c)は上面から見たテーピングユニットの状態を示す。(d)は除去手段による電子部品の除去の態様を示す。It is a schematic diagram which shows the effect | action of the taping unit corresponding to step S06 of FIG. (A) shows the state of the main table, (b) shows the state of the taping unit seen from the front, and (c) shows the state of the taping unit seen from the top. (D) shows the aspect of removal of the electronic component by the removing means. 図5のステップS07に対応したテーピングユニットの作用を示す模式図である。(a)はメインテーブルの状態を示し、(b)は正面から見たテーピングユニットの状態を示し、(c)は上面から見たテーピングユニットの状態を示す。It is a schematic diagram which shows the effect | action of the taping unit corresponding to step S07 of FIG. (A) shows the state of the main table, (b) shows the state of the taping unit seen from the front, and (c) shows the state of the taping unit seen from the top. 図5のステップS08に対応したテーピングユニットの作用を示す模式図である。(a)はメインテーブルの状態を示し、(b)は正面から見たテーピングユニットの状態を示し、(c)は上面から見たテーピングユニットの状態を示す。It is a schematic diagram which shows the effect | action of the taping unit corresponding to step S08 of FIG. (A) shows the state of the main table, (b) shows the state of the taping unit seen from the front, and (c) shows the state of the taping unit seen from the top. 図5のステップS08後のテーピングユニットの作用を示す模式図である。(a)はメインテーブルの状態を示し、(b)は正面から見たテーピングユニットの状態を示し、(c)は上面から見たテーピングユニットの状態を示す。It is a schematic diagram which shows the effect | action of the taping unit after step S08 of FIG. (A) shows the state of the main table, (b) shows the state of the taping unit seen from the front, and (c) shows the state of the taping unit seen from the top. 本発明の第2の実施形態に係るテーピングユニットの構成を示す模式図である。(a)は電子部品の不良検出の状態を示し、(b)は不良電子部品の除去の状態を示している。It is a schematic diagram which shows the structure of the taping unit which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. (A) shows the state of detection of a defective electronic component, and (b) shows the state of removal of the defective electronic component. 本発明の第3の実施形態に係るテーピングユニットの構成を示す模式図である。(a)は電子部品の不良検出の状態を示し、(b)は不良電子部品の除去の状態を示している。It is a schematic diagram which shows the structure of the taping unit which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. (A) shows the state of detection of a defective electronic component, and (b) shows the state of removal of the defective electronic component. 本発明の第4の実施形態に係るテーピングユニットの構成を示す模式図である。(a)は電子部品の不良検出の状態を示し、(b)は不良電子部品の除去の状態を示している。It is a schematic diagram which shows the structure of the taping unit which concerns on the 4th Embodiment of this invention. (A) shows the state of detection of a defective electronic component, and (b) shows the state of removal of the defective electronic component. 本発明の第5の実施形態に係るテーピングユニットの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the taping unit which concerns on the 5th Embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るテーピングユニットの、電子部品検査装置への適用例を示す図である。(a)は電子部品検査装置の上面図であり、(b)はその側面図である。It is a figure which shows the example of application to the electronic component inspection apparatus of the taping unit which concerns on embodiment of this invention. (A) is a top view of an electronic component inspection apparatus, and (b) is a side view thereof.

以下、本発明の実施形態に係るテーピングユニットの実施形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
なお、実施形態においては、例えば図2に示すように、互いに直交するX、Y、Zの3軸を設定し、X軸が装置長手方向、Y軸が装置幅方向、Z軸が装置高さ方向を示すものとして説明する。
Hereinafter, an embodiment of a taping unit according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
In the embodiment, for example, as shown in FIG. 2, three axes X, Y, and Z orthogonal to each other are set, the X axis is the apparatus longitudinal direction, the Y axis is the apparatus width direction, and the Z axis is the apparatus height. Description will be made assuming that the direction is indicated.

(第1の実施形態)
(1.テーピングユニットの概要構成)
本実施形態のテーピングユニットの全体構成を、図1及び図2を参照して説明する。
テーピングユニット1は、電子部品検査装置における各種工程処理の一つを行うユニットとして設けられており、様々な検査工程を経た電子部品Dを梱包するユニットである。電子部品Dは、電子部品検査装置のメインテーブルに設けられた保持手段の吸着ノズル111によってテーピングユニット1に搬送され、キャリアテープTに収容される。電子部品Dは電気製品に使用される部品であって、半導体素子が含まれる。半導体素子としては、トランジスタや集積回路が挙げられる。キャリアテープTは、テープにエンボス加工を施してポケットUを設けたもので、長手方向に電子部品Dの収容部となる複数のポケットUが並んでいる。
(First embodiment)
(1. Outline configuration of taping unit)
The overall configuration of the taping unit of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2.
The taping unit 1 is provided as a unit that performs one of various process processes in an electronic component inspection apparatus, and is a unit that packs an electronic component D that has undergone various inspection processes. The electronic component D is conveyed to the taping unit 1 by the suction nozzle 111 of the holding means provided on the main table of the electronic component inspection apparatus, and is accommodated in the carrier tape T. The electronic component D is a component used for an electrical product, and includes a semiconductor element. Examples of the semiconductor element include a transistor and an integrated circuit. The carrier tape T is obtained by embossing the tape to provide pockets U, and a plurality of pockets U that serve as receiving portions for the electronic components D are arranged in the longitudinal direction.

テーピングユニット1は、キャリアテープTに収容された電子部品Dを、X軸方向に間欠的に移送して巻き取りモータへ送る移送手段10を備える。テーピングユニット1はさらに、キャリアテープTのポケットUに収容された電子部品Dを撮像する撮像手段20、撮像手段20による撮像結果から電子部品Dの不良を検出する不良検出部30、不良が検出された電子部品DをポケットUから除去する除去手段40、及び除去手段40と撮像手段20の少なくとも一部の機構をY軸方向に移動する移動機構50を備えている。   The taping unit 1 includes transfer means 10 that intermittently transfers the electronic component D accommodated in the carrier tape T to the take-up motor by transferring it in the X-axis direction. The taping unit 1 further includes an imaging unit 20 that images the electronic component D accommodated in the pocket U of the carrier tape T, a defect detection unit 30 that detects a defect of the electronic component D from the imaging result of the imaging unit 20, and a defect is detected. The removal means 40 for removing the electronic component D from the pocket U, and the moving mechanism 50 for moving at least a part of the removal means 40 and the imaging means 20 in the Y-axis direction are provided.

(2.各部構成)
以下、テーピングユニット1の各部の構成を図1〜4を参照して説明する。
(2−1.移送手段)
図2に示すように、移送手段10は、テーピングユニット1の本体部11上に設けられた移送路12と、本体部11の端部に設けられたスプロケット13と、スプロケット13を駆動するモータ14から構成される。
(2. Configuration of each part)
Hereinafter, the structure of each part of the taping unit 1 will be described with reference to FIGS.
(2-1. Transfer means)
As shown in FIG. 2, the transfer means 10 includes a transfer path 12 provided on the main body 11 of the taping unit 1, a sprocket 13 provided at the end of the main body 11, and a motor 14 that drives the sprocket 13. Consists of

移送路12は本体部11上にX軸方向に延びる。キャリアテープTはこの移送路12上を移送される。スプロケット13は、中心部をモータ14の回転軸が挿通しており、モータ14の駆動によって回転する。スプロケット13の周面には等間隔で突起が設けられている。また、キャリアテープTの底面には、図示しないスプロケット穴が設けられている。スプロケット13が回転されると、この突起がスプロケット穴に係合することによってキャリアテープTを移送する。スプロケット13の回転方向により、キャリアテープTは、図1においてX軸上の紙面右から左の方向、すなわち移送方向と、X軸上の紙面左から右の方向、すなわち移送方向の逆方向に移送される。なお、キャリアテープTの移送において、ポケットUのX軸方向長さ分の距離が、1ピッチとなる。   The transfer path 12 extends on the main body 11 in the X-axis direction. The carrier tape T is transferred on the transfer path 12. The sprocket 13 has a rotating shaft of the motor 14 inserted through the center thereof, and rotates by driving the motor 14. Projections are provided on the peripheral surface of the sprocket 13 at equal intervals. A sprocket hole (not shown) is provided on the bottom surface of the carrier tape T. When the sprocket 13 is rotated, the carrier tape T is transferred by engaging the projection with the sprocket hole. Depending on the rotation direction of the sprocket 13, the carrier tape T is transferred in the direction from the right to the left on the X axis in FIG. 1, that is, the transfer direction, and from the left to the right on the X axis, that is, the direction opposite to the transfer direction. Is done. In the transfer of the carrier tape T, the distance corresponding to the length of the pocket U in the X-axis direction is one pitch.

図1及び図3に示すように、移送路12上の移送方向上流側には、電子部品検査装置の吸着ノズル111から真空破壊により離脱された電子部品DをポケットUに収容する収容位置P1が設けられている。さらに、移送方向において収容位置より1ピッチ下流側には、ポケットUに収容された電子部品の不良を検出する不良検出位置P2が設けられている。   As shown in FIGS. 1 and 3, on the upstream side in the transfer direction on the transfer path 12, there is a storage position P <b> 1 for storing the electronic component D released from the suction nozzle 111 of the electronic component inspection apparatus by vacuum break in the pocket U. Is provided. Furthermore, a defect detection position P2 for detecting a defect of the electronic component accommodated in the pocket U is provided on the downstream side of the accommodation position by one pitch in the transfer direction.

(2−2.撮像手段)
図1に示すように、撮像手段20は、ポケットUに収容された電子部品Dを撮像するカメラ21と、カメラ21に電子部品Dの像を導く直角プリズム27a,27bとを備える。本実施形態では、直角プリズム27aは、移送路12上の不良検出位置P2に配置されている。直角プリズム27bはそこから数ピッチ下流に配置され、カメラ21は直角プリズム27bの直上に配置されている。
(2-2. Imaging means)
As shown in FIG. 1, the imaging means 20 includes a camera 21 that images the electronic component D accommodated in the pocket U, and right-angle prisms 27 a and 27 b that guide the image of the electronic component D to the camera 21. In the present embodiment, the right-angle prism 27 a is disposed at the defect detection position P <b> 2 on the transfer path 12. The right angle prism 27b is arranged several pitches downstream from the right angle prism 27b, and the camera 21 is located immediately above the right angle prism 27b.

直角プリズム27a,27bは、X軸方向に延びるプリズムホルダ28内に一体的に収納されている。図示しないが、プリズムホルダ28の、直角プリズム27aが位置する端部には入射用の窓が設けられ、直角プリズム27bが位置する端部には出射用の窓が設けられている。プリズムホルダ28は、後述する移動機構50に接続され、Y軸方向に移動可能となっている。   The right-angle prisms 27a and 27b are housed integrally in a prism holder 28 extending in the X-axis direction. Although not shown, an entrance window is provided at the end of the prism holder 28 where the right-angle prism 27a is located, and an exit window is provided at the end where the right-angle prism 27b is located. The prism holder 28 is connected to a moving mechanism 50 described later, and is movable in the Y-axis direction.

カメラ21のレンズ21aは下方に延びて、直角プリズム27bの出射用の窓に面している。図2に示すように、レンズ21aはクランプ22にクランプされる。クランプ22はY軸方向後方に位置するブラケット23に支持されている。ブラケット23は側方に位置するスタンド25に支持されている。スタンド25は本体部11に立設している。   The lens 21a of the camera 21 extends downward and faces the exit window of the right-angle prism 27b. As shown in FIG. 2, the lens 21 a is clamped to the clamp 22. The clamp 22 is supported by a bracket 23 located rearward in the Y-axis direction. The bracket 23 is supported by a stand 25 located on the side. The stand 25 is erected on the main body 11.

クランプ22とブラケット23は、Y軸方向調整用長穴24aを介して接続されている。これによって、カメラ21は長穴の長さ分Y軸方向へ位置調整可能である。ブラケット23とスタンド25は、Z軸方向調整用長穴24bを介して接続されている。これによって、カメラ21はZ軸方向へ位置調整可能である。スタンド25は不図示のX軸方向調整用長穴を介して本体部11に接続されている。これによって、カメラ21は長穴の長さ分X軸方向へ位置調整可能である。   The clamp 22 and the bracket 23 are connected via a Y-axis direction adjusting slot 24a. Thereby, the position of the camera 21 can be adjusted in the Y-axis direction by the length of the long hole. The bracket 23 and the stand 25 are connected via a Z-axis direction adjusting slot 24b. Thereby, the position of the camera 21 can be adjusted in the Z-axis direction. The stand 25 is connected to the main body 11 through an X-axis direction adjustment slot not shown. Thereby, the position of the camera 21 can be adjusted in the X-axis direction by the length of the long hole.

(2−3.不良検出部30)
図1に示すように、撮像手段20は不良検出部30に接続されている。カメラ21が撮像した画像は不良検出部30に送信される。不良検出部30は撮像画像から電子部品Dの不良の有無を判定し、不良が検出された場合には不良検出信号を不図示の制御装置へ送信する。
(2-3. Defect detection unit 30)
As shown in FIG. 1, the imaging unit 20 is connected to a defect detection unit 30. An image captured by the camera 21 is transmitted to the defect detection unit 30. The defect detection unit 30 determines whether or not the electronic component D is defective from the captured image, and transmits a defect detection signal to a control device (not shown) when a defect is detected.

(2−4.除去手段40)
除去手段40は、真空の発生及び破壊により電子部品Dを吸着及び離脱させるバキュームパイプ41と、ポケットU及び電子部品Dに対して空気を吹き付けるブローノズル42とから構成される。
(2-4. Removal means 40)
The removing means 40 includes a vacuum pipe 41 that sucks and detaches the electronic component D by generating and breaking a vacuum, and a blow nozzle 42 that blows air against the pocket U and the electronic component D.

図2に示すように、バキュームパイプ41とブローノズル42は、移送方向に直交する方向において、直角プリズム27aと隣接するように設けられている。言い換えれば、移送方向と直交する方向において、不良検出位置P2に隣接する位置に設けられている。バキュームパイプ41とブローノズル42は、パイプホルダ43の貫通孔に通挿されて保持され、これらの先端部がテープユニット1の本体部11の表面近傍に位置するように設けられている。パイプホルダ43は後述する移動機構50に連結されているため、バキュームパイプ41とブローノズル42はY軸方向に一体的に移動可能となっている。   As shown in FIG. 2, the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 are provided so as to be adjacent to the right-angle prism 27a in a direction orthogonal to the transfer direction. In other words, it is provided at a position adjacent to the defect detection position P2 in the direction orthogonal to the transfer direction. The vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 are inserted into and held in the through hole of the pipe holder 43, and are provided so that their tip portions are located near the surface of the main body 11 of the tape unit 1. Since the pipe holder 43 is connected to a moving mechanism 50 described later, the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 can move integrally in the Y-axis direction.

(2−5.移動機構)
移動機構50は、Y軸方向に水平移動するエアシリンダ51から構成される。エアシリンダ51は、Z軸方向下方に位置するプリズムホルダ28と移送方向上流側に位置するバキュームパイプ41及びブローノズル42に連結され、これらを一体的にY軸方向に移動可能にするものである。
(2-5. Movement mechanism)
The moving mechanism 50 includes an air cylinder 51 that moves horizontally in the Y-axis direction. The air cylinder 51 is connected to the prism holder 28 positioned below the Z-axis direction and the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 positioned on the upstream side in the transfer direction so that they can be moved integrally in the Y-axis direction. .

エアシリンダ51は、移送路12上部の、不良検出位置P2の移送方向下流側に設けられている。図4に示すように、エアシリンダ51は、固定部51aとY軸方向へ移動可能な可動部51bから構成される。固定部51aの側面から伸びるロッドの先端部が、可動部51bに設けられた案内溝に遊嵌される。固定部51aの上面はプレート52に連結されている。プレート52は本体部11に固定されている。エアシリンダ51は、空気供給用の継手56を備えており、この継手56を介した空気の出し入れにより可動部51bをY軸方向に水平移動させる。   The air cylinder 51 is provided in the upper part of the transfer path 12 on the downstream side in the transfer direction of the defect detection position P2. As shown in FIG. 4, the air cylinder 51 includes a fixed portion 51a and a movable portion 51b that can move in the Y-axis direction. The tip of the rod extending from the side surface of the fixed portion 51a is loosely fitted in the guide groove provided in the movable portion 51b. The upper surface of the fixed portion 51 a is connected to the plate 52. The plate 52 is fixed to the main body 11. The air cylinder 51 includes a joint 56 for supplying air, and the movable portion 51b is horizontally moved in the Y-axis direction by taking in and out air through the joint 56.

可動部51bの底面にパイプホルダ43が連結されている。具体的には、図3に示すように、パイプホルダ43の一部が接続部43aとして移送方向下流側へ延びる。この接続部43aはエアシリンダ51とプリズムホルダ28との間に位置し、可動部51bの底面に連結される。これによってパイプホルダ43に保持されるバキュームパイプ41及びブローノズル42は、可動部51bと一体になってY軸方向に移動する。   A pipe holder 43 is connected to the bottom surface of the movable portion 51b. Specifically, as shown in FIG. 3, a part of the pipe holder 43 extends to the downstream side in the transfer direction as a connecting portion 43a. The connecting portion 43a is located between the air cylinder 51 and the prism holder 28, and is connected to the bottom surface of the movable portion 51b. As a result, the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 held by the pipe holder 43 are moved integrally with the movable portion 51b in the Y-axis direction.

パイプホルダ43の接続部43aはプリズムホルダ28と接続している。具体的には、図4に示すように、接続部43aはユニット奥側の端部から下方に延びる連接部分43bを有し、この連接部分43bにX軸方向に摺動可能なリニアガイド54が取り付けられている。このリニアガイド54にプリズムホルダ28が連結されている。さらには、図3に示すように、接続部43aのユニット正面側の端部底面から下方にロッドが延び、ロッドの先端部と、プリズムホルダ28に設けられた係合部28aとが、X軸方向に伸縮可能な引っ張りバネ55を介して接続されている。   The connecting portion 43 a of the pipe holder 43 is connected to the prism holder 28. Specifically, as shown in FIG. 4, the connecting portion 43a has a connecting portion 43b extending downward from the end on the back side of the unit, and a linear guide 54 slidable in the X-axis direction is provided on the connecting portion 43b. It is attached. The prism holder 28 is connected to the linear guide 54. Furthermore, as shown in FIG. 3, the rod extends downward from the bottom surface of the end portion of the connecting portion 43a on the unit front side, and the tip portion of the rod and the engaging portion 28a provided on the prism holder 28 are connected to the X axis. It is connected via a tension spring 55 that can expand and contract in the direction.

このように、プリズムホルダ28はパイプホルダ43を介してエアシリンダ51と接続されている。そのため、プリズムホルダ28に収納された直角プリズム27a及び27bは、バキュームパイプ41及びブローノズル42と共に、エアシリンダ51の可動部51bと一体になってY軸方向に移動する。さらに、プリズムホルダ28を引っ張ると引っ張りバネ55が伸び、リニアガイド54がX軸方向に摺動するので、プリズムホルダ28だけをX軸方向に位置をずらすことができる。これは、状況に応じて不良電子部品Dを手作業で取り出すことを可能にするためである。   As described above, the prism holder 28 is connected to the air cylinder 51 through the pipe holder 43. Therefore, the right-angle prisms 27a and 27b accommodated in the prism holder 28 move together with the movable part 51b of the air cylinder 51 in the Y-axis direction together with the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42. Further, when the prism holder 28 is pulled, the tension spring 55 is extended and the linear guide 54 slides in the X-axis direction, so that only the prism holder 28 can be shifted in the X-axis direction. This is because the defective electronic component D can be manually removed depending on the situation.

移送手段10、撮像手段20、不良検出部30、除去手段40、及び移動機構50はそれぞれ不図示の制御装置に接続されている。制御装置は移送手段10の移送速度や停止・駆動のタイミングを制御し、撮像手段20の撮像タイミングを制御する。さらに、不良検出部30から送信された不良検出信号に基づいて、移動機構50や除去手段40を駆動させる。   The transfer means 10, the imaging means 20, the defect detection unit 30, the removal means 40, and the moving mechanism 50 are each connected to a control device (not shown). The control device controls the transfer speed and stop / drive timing of the transfer means 10 and controls the imaging timing of the imaging means 20. Further, the moving mechanism 50 and the removing unit 40 are driven based on the defect detection signal transmitted from the defect detection unit 30.

(3.テーピングユニットの作用)
本実施形態のテーピングユニット1の作用を、図5のフローチャートに沿って説明する。また、各ステップにおけるテーピングユニット1の動作については、電子部品検査装置のメインテーブルの動作と関連させて、図6〜図12を参照して説明する。さらに、テーピングユニット1の作用の説明においては、キャリアテープTの移送方向を+X軸方向、移送方向の逆方向を−X軸方向と定義する。さらに、Y軸上のテーピングユニット1の奥から正面への方向を+Y軸方向、正面から奥への方向を−Y軸方向と定義する。
(3. Action of taping unit)
The operation of the taping unit 1 of the present embodiment will be described along the flowchart of FIG. The operation of the taping unit 1 in each step will be described with reference to FIGS. 6 to 12 in association with the operation of the main table of the electronic component inspection apparatus. Furthermore, in the description of the operation of the taping unit 1, the carrier tape T transfer direction is defined as the + X axis direction, and the reverse direction of the transfer direction is defined as the −X axis direction. Furthermore, the direction from the back to the front of the taping unit 1 on the Y axis is defined as the + Y axis direction, and the direction from the front to the back is defined as the −Y axis direction.

(ステップS01)
図6に示すように、メインテーブルMが旋回し、外周に設けられた保持手段の吸着ノズル111に保持された電子部品D1が、テーピングユニット1の収容位置P1に搬送される。電子部品Dは、真空破壊により吸着ノズル111から離脱して収容位置P1に位置するキャリアテープTのポケットU1に収容される。
(Step S01)
As shown in FIG. 6, the main table M turns and the electronic component D <b> 1 held by the suction nozzle 111 of the holding means provided on the outer periphery is conveyed to the accommodation position P <b> 1 of the taping unit 1. The electronic component D is separated from the suction nozzle 111 by vacuum break and is accommodated in the pocket U1 of the carrier tape T located at the accommodating position P1.

(ステップS02)
図7に示すように、キャリアテープTを1ピッチ+X軸方向に移送する。この結果、ポケットU1は不良検出位置P2に位置する。メインテーブルMは次の電子部品D2を保持している保持手段との間隔分、すなわち1ピッチ回転する。これによって、次の電子部品D2がテーピングユニット1に搬送され、収容位置P1に位置するポケットU2に収容される。
この時、図7(b)及び(c)に示すように、直角プリズム27aが不良検出位置P2に位置している。一方、除去手段40は不良検出位置P2に対して−Y軸方向の隣接位置にある。すなわち、除去手段40は待機位置にて待機している状態である。
(Step S02)
As shown in FIG. 7, the carrier tape T is transferred in the 1 pitch + X-axis direction. As a result, the pocket U1 is located at the defect detection position P2. The main table M rotates by an interval corresponding to the holding means holding the next electronic component D2, that is, by one pitch. As a result, the next electronic component D2 is transported to the taping unit 1 and stored in the pocket U2 located at the storage position P1.
At this time, as shown in FIGS. 7B and 7C, the right-angle prism 27a is located at the defect detection position P2. On the other hand, the removing means 40 is adjacent to the defect detection position P2 in the −Y axis direction. That is, the removing means 40 is in a standby state at the standby position.

(ステップS03)
同じく図7に示すように、カメラ21は、不良検出位置P2に位置するポケットU1に収容された電子部品D1を撮像する。電子部品D1の像は、不良検出位置P2に設けられた直角プリズム27aによって+X軸方向に屈折し、数ピッチ下流に設けられた直角プリズム27bによってZ軸方向上方に屈折して、直角プリズム27bの上に設けられたカメラ21に入射し、撮像される。
(Step S03)
Similarly, as shown in FIG. 7, the camera 21 images the electronic component D1 accommodated in the pocket U1 located at the defect detection position P2. The image of the electronic component D1 is refracted in the + X-axis direction by the right-angle prism 27a provided at the defect detection position P2, and is refracted upward in the Z-axis direction by the right-angle prism 27b provided a few pitches downstream. The light is incident on the camera 21 provided above and imaged.

撮像結果は、不良検出部30に送信される。不良検出部30は、電子部品D1がポケットUに正しい方向で収容されていない、あるいは電子部品D1の外観に傷がある等の不良を検出する。   The imaging result is transmitted to the defect detection unit 30. The defect detection unit 30 detects a defect such that the electronic component D1 is not accommodated in the pocket U in the correct direction or the appearance of the electronic component D1 is scratched.

(ステップS04)
ステップS03において、不良検出部30が不良を検出しなかった場合(ステップS03:No)、キャリアテープTを1ピッチ+X軸方向に移送し、不良検出位置P2に位置した次部品である電子部品D2について、撮像及び不良検出を行う。
(Step S04)
In step S03, when the defect detection unit 30 does not detect a defect (step S03: No), the carrier tape T is transferred in the 1 pitch + X-axis direction, and the electronic component D2 is the next component positioned at the defect detection position P2. The imaging and the defect detection are performed.

(ステップS05)
ステップS03において電子部品D1に不良が検出された場合(ステップS03:Yes)、不良検出部30から不図示の制御装置へ不良検出信号が送信される。制御装置はキャリアテープTの移送を停止する。同時に、メインテーブルMの回転も停止する。同時に、エアシリンダ51を+Y軸方向に水平に駆動する。エアシリンダ51に連結されたプリズムホルダ28と除去手段40も+Y軸方向に移動するため、それぞれがキャリアテープTに対して移動することになる。その結果、図8に示すように、プリズムホルダ28内の直角プリズム27aは不良検出位置P2から退避して+Y軸方向の隣接位置に移動する。除去手段40は待機位置から不良検出位置P2に移動する。
(Step S05)
When a defect is detected in the electronic component D1 in step S03 (step S03: Yes), a defect detection signal is transmitted from the defect detection unit 30 to a control device (not shown). The control device stops the transfer of the carrier tape T. At the same time, the rotation of the main table M is also stopped. At the same time, the air cylinder 51 is driven horizontally in the + Y-axis direction. Since the prism holder 28 and the removing means 40 connected to the air cylinder 51 also move in the + Y-axis direction, each moves relative to the carrier tape T. As a result, as shown in FIG. 8, the right-angle prism 27a in the prism holder 28 retreats from the defect detection position P2 and moves to the adjacent position in the + Y-axis direction. The removing means 40 moves from the standby position to the defect detection position P2.

(ステップS06)
図9に示すように、除去手段40を用いて、電子部品D1をポケットU1から除去する。図9(d)は、除去の具体的態様の一例を示している。除去は除去手段40のバキュームパイプ41及びブローノズル42を用いて行う。まず、予備動作として、ブローノズル42から空気をポケットUの側面に向かって吹き付ける。これによって、電子部品D1とポケットU1との間に空気が入り込むので、電子部品D1は離脱しやすくなる。この後、バキュームパイプ41の真空吸着により、電子部品D1をポケットU1から吸い上げて除去する。
(Step S06)
As shown in FIG. 9, the electronic device D1 is removed from the pocket U1 using the removing means 40. FIG. 9D shows an example of a specific mode of removal. The removal is performed using the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 of the removing means 40. First, as a preliminary operation, air is blown from the blow nozzle 42 toward the side surface of the pocket U. Thereby, since air enters between the electronic component D1 and the pocket U1, the electronic component D1 is easily detached. Thereafter, the electronic component D1 is sucked and removed from the pocket U1 by vacuum suction of the vacuum pipe 41.

(ステップS07)
エアシリンダ51を−Y軸方向に水平に駆動する。エアシリンダ51に連結されたプリズムホルダ28と除去手段40も−Y軸方向に移動するため、それぞれがキャリアテープTに対して移動することになる。その結果、図10に示すように、除去手段40は不良検出位置P2から退避して待機位置に移動する。プリズムホルダ28内の直角プリズム27aは、+Y軸方向の隣接位置から不良検出位置P2に移動する。カメラ21は、不良検出位置P2に位置するポケットU1を撮像し、電子部品D1が適切に除去されたかを確認する。不良の電子部品D1は、バキュームパイプ41から不図示の不良品排出部へ排出される。
(Step S07)
The air cylinder 51 is driven horizontally in the −Y axis direction. Since the prism holder 28 and the removing means 40 connected to the air cylinder 51 also move in the −Y axis direction, each moves relative to the carrier tape T. As a result, as shown in FIG. 10, the removing means 40 is retracted from the defect detection position P2 and moved to the standby position. The right-angle prism 27a in the prism holder 28 moves from the adjacent position in the + Y axis direction to the defect detection position P2. The camera 21 captures an image of the pocket U1 located at the defect detection position P2, and confirms whether the electronic component D1 has been properly removed. The defective electronic component D1 is discharged from the vacuum pipe 41 to a defective product discharge unit (not shown).

(ステップS08)
キャリアテープTを1ピッチ−X軸方向に移送する。この結果、図11に示すように、空のポケットU1は収容位置P1に戻る。同時にメインテーブルMを1ピッチ回転し、新たな電子部品D3をテーピングユニット1に搬送する。
(Step S08)
The carrier tape T is transferred in the 1 pitch-X axis direction. As a result, as shown in FIG. 11, the empty pocket U1 returns to the accommodation position P1. At the same time, the main table M is rotated by one pitch, and a new electronic component D3 is conveyed to the taping unit 1.

この後、テーピングユニット1はステップS02からの動作を繰り返す。すなわち、図12に示すように、新たな電子部品D3をポケットU1に収容する。次にキャリアテープTを+X軸方向に移送して、不良検出位置P2にて撮像により不良検出を行う。電子部品D3の後に順次収容される電子部品についても、同様の処理を行う。なお、ポケットU1の後続のポケットU2にはすでに電子部品D2が収容されているため、メインテーブルMは空のポケットU3が収容位置P1に位置するまで停止する。このように電子部品Dを収容したキャリアテープTは移送方向に移送され、不図示の巻き取りモータにより巻き取られる。   Thereafter, the taping unit 1 repeats the operation from step S02. That is, as shown in FIG. 12, a new electronic component D3 is accommodated in the pocket U1. Next, the carrier tape T is transported in the + X-axis direction, and defect detection is performed by imaging at the defect detection position P2. The same processing is performed for the electronic components sequentially accommodated after the electronic component D3. Since the electronic component D2 is already accommodated in the pocket U2 subsequent to the pocket U1, the main table M stops until the empty pocket U3 is located at the accommodation position P1. Thus, the carrier tape T containing the electronic component D is transported in the transport direction and is wound by a winding motor (not shown).

(効果)
(1)本実施形態において、テーピングユニット1は、移送路12上の収容位置P1で、キャリアテープTのポケットUに電子部品Dを収容する。キャリアテープTは移送手段10により移送される。電子部品Dは、収容位置P1より移送方向下流側の不良検出位置P2で撮像手段20により撮像される。撮像手段20による撮像結果から、不良検出部30において電子部品Dの不良が検出される。電子部品Dに不良が検出された場合は、移動機構50により除去手段40を待機位置から不良検出位置P2に位置させる。除去手段40によって、電子部品Dは除去される。
(effect)
(1) In the present embodiment, the taping unit 1 accommodates the electronic component D in the pocket U of the carrier tape T at the accommodation position P1 on the transfer path 12. The carrier tape T is transferred by the transfer means 10. The electronic component D is imaged by the imaging means 20 at the defect detection position P2 on the downstream side in the transfer direction from the accommodation position P1. A defect of the electronic component D is detected by the defect detection unit 30 from the imaging result obtained by the imaging unit 20. When a defect is detected in the electronic component D, the moving unit 50 moves the removing unit 40 from the standby position to the defect detection position P2. The electronic component D is removed by the removing means 40.

このように、除去手段40を不良検出位置P2に位置させる移動機構50を備えることによって、電子部品Dの不良検出及び除去を、移送路12上の同位置において行うことができる。したがって、収容位置P1と不良検出位置P2が近接している場合でも、除去手段40を移送方向下流に設ける必要がなく、キャリアテープTの移送方向及び逆歩行への移送距離を小さくすることができる。あるいは、除去手段40を一時的に収容位置P1に配置するために、電子部品検査装置のメインテーブルMを1/2ピッチ逆回転させる必要がない。したがって、不良の電子部品の除去を、テーピングユニット1の動作の制御のみで概ね完結させることができる。メインテーブルMについては複雑な動作を必要とせず、回転と停止のタイミングのみ制御すればよい。除去手段40は不良検出位置P2に位置されるため、メインテーブルMの構成に影響されず、十分な可動範囲を確保できる。さらに、上述したようなメインテーブルMの逆回転によって生じる可能性のある不具合を防ぐことができる。   Thus, by providing the moving mechanism 50 that positions the removing means 40 at the defect detection position P2, the electronic component D can be detected and removed at the same position on the transfer path 12. Therefore, even when the accommodation position P1 and the defect detection position P2 are close to each other, it is not necessary to provide the removing means 40 downstream in the transfer direction, and the transfer direction of the carrier tape T and the transfer distance to the reverse walking can be reduced. . Alternatively, it is not necessary to reversely rotate the main table M of the electronic component inspection apparatus by ½ pitch in order to temporarily arrange the removing means 40 at the storage position P1. Therefore, removal of defective electronic components can be almost completed only by controlling the operation of the taping unit 1. The main table M does not require complicated operations, and only the rotation and stop timings need be controlled. Since the removing means 40 is located at the defect detection position P2, it is possible to ensure a sufficient movable range without being affected by the configuration of the main table M. Further, it is possible to prevent a problem that may occur due to the reverse rotation of the main table M as described above.

以上述べたように、不良が検出された電子部品Dを効率良く除去できる構成により、テーピングユニット1におけるテーピング処理の作業効率を向上することができる。   As described above, the work efficiency of the taping process in the taping unit 1 can be improved by the configuration that can efficiently remove the electronic component D in which a defect is detected.

(2)また、本実施形態では、撮像手段20の一部である直角プリズム27aを不良検出位置P2に配置した。そして、直角プリズム27a,27bから導かれた電子部品Dの像を撮像するカメラ21は、不良検出位置P2よりも移送方向下流側に配置した。これによって、収容位置P1の近接した位置に不良検出位置P2を確保しつつ、大きなスペースを必要とするカメラ自体は、別の位置に配置することが可能である。 (2) In the present embodiment, the right-angle prism 27a, which is a part of the imaging unit 20, is arranged at the defect detection position P2. The camera 21 that captures an image of the electronic component D guided from the right-angle prisms 27a and 27b is disposed on the downstream side in the transport direction from the defect detection position P2. As a result, the camera itself that requires a large space can be arranged at another position while securing the defect detection position P2 at a position close to the accommodation position P1.

(3)さらに、本実施形態では、移動機構50として、Y軸方向に移動可能なエアシリンダ51を配置した。除去手段40であるバキュームパイプ41及びブローノズル42と、撮像手段20の一部である直角プリズム27aとを、Y軸方向に隣接するように配置した。そして、バキュームパイプ41、ブローノズル42、及び直角プリズム27aを収納するプリズムホルダ28をエアシリンダ51に連結した。この構成によって、電子部品Dの不良検出時には、エアシリンダ51をY軸方向に駆動することで、プリズムホルダ28を不良検出位置P2から退避させ、バキュームパイプ41及びブローノズル42を待機位置から不良検出位置P2に移動させることができる。すなわち、撮像手段20と除去手段40のそれぞれに移動機構を設けて別個に制御する必要がなく、電子部品Dの不良検出及び除去における制御が簡単となる。 (3) Furthermore, in this embodiment, the air cylinder 51 that can move in the Y-axis direction is disposed as the moving mechanism 50. The vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 that are the removing means 40 and the right-angle prism 27a that is a part of the imaging means 20 are arranged so as to be adjacent to each other in the Y-axis direction. Then, a prism holder 28 that accommodates the vacuum pipe 41, the blow nozzle 42, and the right-angle prism 27 a is connected to the air cylinder 51. With this configuration, when detecting a defect in the electronic component D, the prism holder 28 is retracted from the defect detection position P2 by driving the air cylinder 51 in the Y-axis direction, and the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 are detected from the standby position. It can be moved to position P2. That is, it is not necessary to separately provide a moving mechanism for each of the imaging unit 20 and the removing unit 40, and the control for detecting and removing the electronic component D is simplified.

(4)さらに、除去手段40を、空気を吹き付けてポケットUの底面から電子部品Dを浮き上がらせるブローノズル42と、底面から浮き上がった電子部品を保持するバキュームパイプ41とから構成した。ブローノズル42によって予備的に吹き付けを行うことによって、電子部品Dをより確実にポケットUから除去することができる。 (4) Further, the removing means 40 is composed of a blow nozzle 42 that blows air to lift the electronic component D from the bottom surface of the pocket U, and a vacuum pipe 41 that holds the electronic component that floats from the bottom surface. By preliminarily spraying with the blow nozzle 42, the electronic component D can be more reliably removed from the pocket U.

(第2の実施形態)
第1の実施形態では、プリズムホルダ28と除去手段40とを、エアシリンダ51に連結してY軸方向に移動させていた。第2の実施形態では、エアシリンダ51の代わりに、キャリアテープTをY軸方向に移動させる機構を設ける。その一例として、図13に示すように、架台にレール120を設け、その上にキャリアテープTを搭載した本体部11を摺動可能に設置した。不良検出位置P2で不良が検出された場合、本体部11に設けられたモータ121を駆動して、キャリアテープTを−Y軸方向に移動させ、直角プリズム27aの下に位置していたポケットUを、除去手段40の下に移動させる。除去手段40を用いてポケットUから電子部品Dを除去した後は、再びモータ121を駆動してキャリアテープTを+Y軸方向に移動させ、元の位置に戻す。
(Second Embodiment)
In the first embodiment, the prism holder 28 and the removing means 40 are connected to the air cylinder 51 and moved in the Y-axis direction. In the second embodiment, a mechanism for moving the carrier tape T in the Y-axis direction is provided instead of the air cylinder 51. As an example, as shown in FIG. 13, a rail 120 is provided on a gantry, and a main body 11 on which a carrier tape T is mounted is slidably installed. When a defect is detected at the defect detection position P2, the motor 121 provided in the main body 11 is driven to move the carrier tape T in the -Y axis direction, and the pocket U located under the right-angle prism 27a. Is moved under the removing means 40. After removing the electronic component D from the pocket U using the removing means 40, the motor 121 is driven again to move the carrier tape T in the + Y-axis direction and return to the original position.

このように、第2の実施形態では、レール120とモータ121によってキャリアテープTをY軸方向に移動し、不良の電子部品Dをプリズム27aの下から除去手段40の下へ移動している。言い換えれば、第1実施形態と同様に、除去手段40をキャリアテープTに対して相対的に移動させて、除去手段40を移送路12上の不良検出位置P2に位置させる移動機構が設けられている。このような構成により、電子部品Dの不良検出及び除去を、移送路12上の同位置において行うことができるため、作業効率を向上することができる。   Thus, in the second embodiment, the carrier tape T is moved in the Y-axis direction by the rail 120 and the motor 121, and the defective electronic component D is moved from below the prism 27a to below the removing means 40. In other words, as in the first embodiment, there is provided a moving mechanism that moves the removing means 40 relative to the carrier tape T and positions the removing means 40 at the defect detection position P2 on the transfer path 12. Yes. With such a configuration, the defect detection and removal of the electronic component D can be performed at the same position on the transfer path 12, so that the work efficiency can be improved.

また、第1の実施形態ではプリズムホルダ28と除去手段40は一体的に移動するようにエアシリンダ51に連結されていたが、この実施形態においては、キャリアテープT自体が移動するため、プリズムホルダ28と除去手段40はY軸方向に隣接していれば足りるため、両者を連結しなくてもよい。その他の部分の構成については、第1の実施形態と同様のため、説明は省略する。   In the first embodiment, the prism holder 28 and the removing means 40 are connected to the air cylinder 51 so as to move integrally. However, in this embodiment, the carrier tape T itself moves, so the prism holder Since it is sufficient that 28 and the removing means 40 are adjacent to each other in the Y-axis direction, it is not necessary to connect them. Since the configuration of other parts is the same as that of the first embodiment, description thereof is omitted.

(第3の実施形態)
第1の実施形態では、直角プリズム27aと除去手段40を水平に移動させるエアシリンダ51を用いた。第3の実施形態では、エアシリンダ51の代わりに、直角プリズム27aと除去手段40を円周方向に移動させる部材を用いてもよい。具体的には、図14に示すように、円盤部材130の円周上に、間隔を空けて直角プリズム27aと除去手段40とを配置する。円盤部材130は、円中心から通る垂直線が不良検出位置P2に位置するように配置する。電子部品Dの撮像を行う際は、不良検出位置P2の直上に直角プリズム27aを位置させる。不良を検出すると、円盤部材250は直角プリズム27aと除去手段40との間隔となる角度分回転する。それによって、除去手段40が不良検出位置P2に位置することとなる。
(Third embodiment)
In the first embodiment, the air cylinder 51 that moves the right-angle prism 27a and the removing means 40 horizontally is used. In the third embodiment, instead of the air cylinder 51, a member that moves the right-angle prism 27a and the removing means 40 in the circumferential direction may be used. Specifically, as shown in FIG. 14, the right-angle prism 27 a and the removing unit 40 are arranged on the circumference of the disk member 130 with a space therebetween. The disk member 130 is arranged so that the vertical line passing from the center of the circle is located at the defect detection position P2. When imaging the electronic component D, the right-angle prism 27a is positioned directly above the defect detection position P2. When a defect is detected, the disk member 250 rotates by an angle that is the distance between the right-angle prism 27a and the removing means 40. As a result, the removing means 40 is positioned at the defect detection position P2.

このように、第3の実施形態では、円盤部材130により、除去手段40をキャリアテープTに対して移動させ、移送路12上の不良検出位置P2に除去手段40を位置させている。これにより、第1の実施形態と同様に、電子部品Dの不良検出及び除去を移送路12上の同位置において行うことができるため、作業効率を向上することができる。
その他の部分の構成については、第1の実施形態と同様のため、説明は省略する。
As described above, in the third embodiment, the removing unit 40 is moved with respect to the carrier tape T by the disk member 130, and the removing unit 40 is positioned at the defect detection position P <b> 2 on the transfer path 12. Thereby, since the defect detection and removal of the electronic component D can be performed at the same position on the transfer path 12 as in the first embodiment, work efficiency can be improved.
Since the configuration of other parts is the same as that of the first embodiment, description thereof is omitted.

(第4の実施形態)
また、第1の実施形態では、プリズムホルダ28は移送路12の表面に近い位置に設けていたが、電子部品からの像が届く範囲内であれば、移送路12の表面から離れた高い位置に設けてもよい。その場合は、図15に示すように、直角プリズム27bは像をZ軸方向下方に屈折させるように配置するとよい。さらに、カメラ21は直角プリズム27bからの像が入射するように、レンズ21aを上向きにして設置するとよい。エアシリンダ51には、プリズムホルダ28は連結させず、除去手段40のみを連結させる。不良検出時には、除去手段40が+Y軸方向に移動して、直角プリズム27aの下に位置させる。
(Fourth embodiment)
In the first embodiment, the prism holder 28 is provided at a position close to the surface of the transfer path 12. However, the prism holder 28 is located at a high position away from the surface of the transfer path 12 as long as the image from the electronic component can be reached. May be provided. In that case, as shown in FIG. 15, the right-angle prism 27b may be arranged so as to refract the image downward in the Z-axis direction. Further, the camera 21 may be installed with the lens 21a facing upward so that the image from the right-angle prism 27b is incident. The prism holder 28 is not connected to the air cylinder 51, but only the removing means 40 is connected. When a defect is detected, the removing means 40 moves in the + Y-axis direction and is positioned below the right-angle prism 27a.

このように、第4の実施形態によれば、プリズムホルダ28を不良検出位置P2から退避させなくても、第1の実施形態と同様に電子部品Dの不良検出及び除去を移送路12上の同位置において行うことができる。その他の部分の構成については、第1の実施形態と同様のため、説明は省略する。   As described above, according to the fourth embodiment, the defect detection and removal of the electronic component D can be performed on the transfer path 12 as in the first embodiment without retracting the prism holder 28 from the defect detection position P2. It can be done in the same position. Since the configuration of other parts is the same as that of the first embodiment, description thereof is omitted.

(第5の実施形態)
第1の実施形態では、バキュームパイプ41とブローノズル42とは、パイプホルダ43に一体的に保持され、ブローノズル42はポケットUに対して上方から空気を吹き付けている。しかしながら、キャリアテープの種類によっては、ポケットの底面に穴が設けられたものがある。この種のキャリアテープを用いる場合には、図16に示すように、ブローノズル42を収容位置P2の移送路12の下に設けても良い。この場合、ブローノズル42を用いて、ポケットUの底面に空気を吹き付けることができるので、電子部品DをポケットUから浮き上がらせ、バキュームパイプ41による吸着保持を確実にすることができる。
(Fifth embodiment)
In the first embodiment, the vacuum pipe 41 and the blow nozzle 42 are integrally held by a pipe holder 43, and the blow nozzle 42 blows air against the pocket U from above. However, depending on the type of carrier tape, there is one in which a hole is provided on the bottom surface of the pocket. When this type of carrier tape is used, a blow nozzle 42 may be provided below the transfer path 12 at the storage position P2, as shown in FIG. In this case, since air can be blown to the bottom surface of the pocket U using the blow nozzle 42, the electronic component D can be lifted from the pocket U, and suction and retention by the vacuum pipe 41 can be ensured.

さらには、ブローノズル42を、吹き上げと吸い込みの両方が可能なノズルとし、このノズルを不良検出位置P2だけでなく、移送路12の下に、1ピッチ間隔又は数ピッチ間隔で設けてもよい。これらのノズルが通常移送時には、吸い込みを行う。ポケットUの底面の穴を介して、電子部品DはポケットUの底面に吸い付けられるので、移送中に起こる電子部品Dの位置ずれを防止することができる。   Furthermore, the blow nozzle 42 may be a nozzle capable of both blowing up and sucking, and this nozzle may be provided not only at the defect detection position P2 but also below the transfer path 12 at intervals of one pitch or several pitches. These nozzles perform suction during normal transfer. Since the electronic component D is attracted to the bottom surface of the pocket U through the hole on the bottom surface of the pocket U, the displacement of the electronic component D that occurs during transfer can be prevented.

(第6の実施形態)
第1〜第5の実施形態で示したテーピングユニット1の、電子部品検査装置への適用例を示す。図17の(a)は、電子部品検査装置の上面図、(b)は電子部品検査装置の側面図である。
(Sixth embodiment)
An application example of the taping unit 1 shown in the first to fifth embodiments to an electronic component inspection apparatus will be described. 17A is a top view of the electronic component inspection apparatus, and FIG. 17B is a side view of the electronic component inspection apparatus.

電子部品検査装置100は、搬送機構及び各種の工程処理機構を備えている。搬送機構
は、メインテーブルMを含んで構成される。メインテーブルMは、下方に配置されたダイ
レクトドライブモータ101の駆動軸で中心が支持されている。このメインテーブルMは、ダイレクトドライブモータ101の駆動に伴って間欠的に所定角度回転する。
The electronic component inspection apparatus 100 includes a transport mechanism and various process processing mechanisms. The transport mechanism includes a main table M. The center of the main table M is supported by the drive shaft of the direct drive motor 101 disposed below. The main table M rotates intermittently at a predetermined angle as the direct drive motor 101 is driven.

メインテーブルMの外周端には、電子部品Dを保持する複数の保持手段110がメインテーブルMの外周に沿って等間隔離間して取り付けられている。メインテーブルMを回転させることで電子部品Dは外周方向に搬送される。保持手段110の配置間隔は、メインテーブルMの1ピッチの回転角度と等しい。   A plurality of holding means 110 for holding the electronic component D are attached to the outer peripheral end of the main table M at regular intervals along the outer periphery of the main table M. By rotating the main table M, the electronic component D is conveyed in the outer circumferential direction. The arrangement interval of the holding means 110 is equal to the rotation angle of one pitch of the main table M.

保持手段110は、電子部品Dを吸着及び離脱させる吸着ノズル111を備える。この吸着ノズル111は、メインテーブルMの外周部に取り付けられた支持部112によって、その下端をメインテーブルMの下面に突出させるように支持されている。   The holding unit 110 includes a suction nozzle 111 that sucks and removes the electronic component D. The suction nozzle 111 is supported by a support portion 112 attached to the outer peripheral portion of the main table M so that the lower end protrudes from the lower surface of the main table M.

保持手段110の各停止位置Lには、ノズル駆動部113が配置されている。ノズル駆動部113は、具体的にはモータであり、操作ロッド114を上下動させる。操作ロッド114は、吸着ノズル111に当接し、押圧力を付与して吸着ノズル111を下方に押し下げる。   A nozzle driving unit 113 is disposed at each stop position L of the holding unit 110. The nozzle driving unit 113 is specifically a motor, and moves the operation rod 114 up and down. The operation rod 114 abuts on the suction nozzle 111 and applies a pressing force to push the suction nozzle 111 downward.

このような電子部品搬送装置100は、図示しない搬送制御部を備え、ダイレクトドライブモータ101、吸着ノズル111を昇降させるノズル駆動部113、真空発生装置、及び各種の工程処理ユニットに電気信号を送出することで、これらの動作タイミングを制御している。すなわち、搬送制御部は、制御プログラムを格納するROM、CPU、及びドライバを備え、制御プログラムに従い、インターフェースを介して各駆動機構に各タイミングで動作信号を出力している。なお、この搬送制御部は、テーピングユニットの制御部と同一の制御部でもよく、または制御部と送受信が可能な別個の制御部であってもよい。   Such an electronic component transport apparatus 100 includes a transport control unit (not shown), and sends an electrical signal to the direct drive motor 101, the nozzle drive unit 113 that moves the suction nozzle 111 up and down, the vacuum generator, and various process processing units. Thus, these operation timings are controlled. That is, the conveyance control unit includes a ROM, a CPU, and a driver that store a control program, and outputs an operation signal at each timing to each drive mechanism through an interface according to the control program. In addition, this conveyance control part may be the same control part as the control part of the taping unit, or may be a separate control part capable of transmitting and receiving with the control part.

各種の工程処理機構は、メインテーブルMを取り囲んで外周方向に等間隔離間して配置
されている。配置間隔は、メインテーブルMの1ピッチの回転角度と同一若しくは整数倍
に等しい。各種の工程処理機構としては、メインテーブルMの回転方向に順に、例えば、
パーツフィーダ102、マーキングユニット103、外観検査ユニット104、テストコンタクトユニット105、フォーミングユニット106、分類ソートユニット107、テーピングユニット1が配置される。
Various process processing mechanisms surround the main table M and are arranged at equal intervals in the outer circumferential direction. The arrangement interval is the same as or equal to an integral multiple of the rotation angle of one pitch of the main table M. As various process processing mechanisms, in order in the rotation direction of the main table M, for example,
A parts feeder 102, a marking unit 103, an appearance inspection unit 104, a test contact unit 105, a forming unit 106, a sorting / sorting unit 107, and a taping unit 1 are arranged.

以上のような電子部品検査装置100において、テーピングユニット1の収容位置P1は、保持手段110の停止位置Lにある。停止位置Lにおいて、保持手段110の吸着ノズル111から、真空破壊により離脱した電子部品Dは、収容位置P1に位置するポケットUに収容される。そして、上述の実施形態で説明したように、不良検出位置P2で不良の有無が検査された後、巻き取りモータへ送られる。   In the electronic component inspection apparatus 100 as described above, the accommodation position P1 of the taping unit 1 is at the stop position L of the holding means 110. At the stop position L, the electronic component D detached from the suction nozzle 111 of the holding means 110 by vacuum breakage is accommodated in the pocket U located at the accommodation position P1. Then, as described in the above embodiment, the presence or absence of a defect is inspected at the defect detection position P2, and then sent to the winding motor.

(その他の実施形態)
(1)上述の実施形態では直角プリズム27a,27bはプリズムホルダ28に一体的に収納されていたが、光路形成用の窓を設けた別々のホルダに収納しても良い。これによって、不良検出時には、撮像手段20のうち直角プリズム27aのみを移動させることができる。
(Other embodiments)
(1) In the above-described embodiment, the right-angle prisms 27a and 27b are integrally stored in the prism holder 28, but may be stored in separate holders provided with windows for forming an optical path. Thereby, at the time of defect detection, only the right-angle prism 27a of the imaging means 20 can be moved.

(2)上述の実施形態では、不良検出位置P2には直角プリズム27aを設けて、カメラ21は別位置に設ける構成とした。しかしながら、超小型カメラを用いることでカメラ21自体を不良検出位置P2に設けることも可能である。 (2) In the above-described embodiment, the right angle prism 27a is provided at the defect detection position P2, and the camera 21 is provided at another position. However, it is also possible to provide the camera 21 itself at the defect detection position P2 by using a microminiature camera.

(3)上述の実施形態では、収容位置P1に対して、1ピッチ下流に不良検出位置P2を設けたが、ポケットUのサイズに応じて、2ピッチ以上下流に不良検出位置P2を設けても良い。その場合は、キャリアテープTの逆方向への移送が大きくなり過ぎない範囲に不良検出位置P2を設けることが好ましい。 (3) In the above-described embodiment, the defect detection position P2 is provided one pitch downstream with respect to the accommodation position P1, but the defect detection position P2 may be provided more than two pitches downstream depending on the size of the pocket U. good. In that case, it is preferable to provide the defect detection position P2 in a range where the transfer of the carrier tape T in the reverse direction does not become too large.

(4)上述の実施形態では、除去手段40を不良検出位置P2に近接した位置に配置しているが、移動機構50の構成によっては、除去手段40を不良検出位置P2から間隔を設けた位置に配置してもよい。 (4) In the above-described embodiment, the removing unit 40 is disposed at a position close to the defect detection position P2. However, depending on the configuration of the moving mechanism 50, the removing unit 40 is positioned at a distance from the defect detection position P2. You may arrange in.

(5)上述の実施形態では、除去手段40としてバキュームパイプ41を用いたが、静電吸着方式、ベルヌーイチャック方式、又は電子部品Dを機械的に挟持するチャック機構の保持機構としてもよい。 (5) In the above-described embodiment, the vacuum pipe 41 is used as the removing means 40. However, an electrostatic adsorption method, a Bernoulli chuck method, or a holding mechanism of a chuck mechanism that mechanically clamps the electronic component D may be used.

(6)上述の実施形態では、カメラ21に電子部品Dの像を導く機構として直角プリズム27a,27bを設けたが、直角プリズムに代えてミラーを用いて構成しても良い。また、プリズムとミラーの両方を組み合わせても良い。 (6) In the above-described embodiment, the right-angle prisms 27a and 27b are provided as a mechanism for guiding the image of the electronic component D to the camera 21, but a mirror may be used instead of the right-angle prism. Moreover, you may combine both a prism and a mirror.

(7)本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。 (7) The present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage. In addition, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of components disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, constituent elements over different embodiments may be appropriately combined.

1 テーピングユニット
10 移送手段
11 本体部
12 移送路
13 スプロケット
14 モータ
20 撮像手段
21 カメラ
22 クランプ
23 ブラケット
24a Y軸方向調整用長穴
24b Z軸方向調整用長穴
25 スタンド
27a,27b 直角プリズム
28 プリズムホルダ
28a 係合部
30 不良検出部
40 除去手段
41 バキュームパイプ
42 ブローノズル
43 パイプホルダ
43a 接続部
43b 連接部分
50 移動機構
51 エアシリンダ
51a 固定部
51b 可動部
52 プレート
54 リニアガイド
55 引っ張りバネ
56 継手
100 電子部品検査装置
101 ダイレクトドライブモータ
102 パーツフィーダ
103 マーキングユニット
104 外観検査ユニット
105 テストコンタクトユニット
106 フォーミングユニット
107 分類ソートユニット
110 保持手段
111 吸着ノズル
112 支持部
113 ノズル駆動部
114 操作ロッド
120 レール
121 モータ
130 円盤部材
D,D1,D2,D3 電子部品
M メインテーブル
P1 収容位置
P2 不良検出位置
T キャリアテープ
U,U1,U2,U3 ポケット

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Taping unit 10 Transfer means 11 Main-body part 12 Transfer path 13 Sprocket 14 Motor 20 Imaging means 21 Camera 22 Clamp 23 Bracket 24a Y-axis direction adjustment long hole 24b Z-axis direction adjustment long hole 25 Stand 27a, 27b Right angle prism 28 Prism Holder 28a Engagement section 30 Defect detection section 40 Removal means 41 Vacuum pipe 42 Blow nozzle 43 Pipe holder 43a Connection section 43b Connection section 50 Moving mechanism 51 Air cylinder 51a Fixed section 51b Movable section 52 Plate 54 Linear guide 55 Tension spring 56 Joint 100 Electronic component inspection apparatus 101 Direct drive motor 102 Parts feeder 103 Marking unit 104 Appearance inspection unit 105 Test contact unit 106 Forming unit 107 Sorting and sorting Knit 110 Holding means 111 Suction nozzle 112 Support section 113 Nozzle drive section 114 Operation rod 120 Rail 121 Motor 130 Disk member D, D1, D2, D3 Electronic component M Main table P1 Housing position P2 Defect detection position T Carrier tape U, U1, U2, U3 pocket

Claims (7)

長手方向に複数の収容部を並べたキャリアテープに電子部品を収容して移送路上を移送するテーピングユニットであって、
前記移送路上の第1の位置で前記収容部に電子部品が収容された前記キャリアテープを、前記移送路に沿って移送する移送手段と、
前記キャリアテープの移送により、前記移送路上の第1の位置より移送方向下流側の第2の位置に移送された前記電子部品を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段による撮像結果から前記電子部品の不良を検出する不良検出手段と、
不良が検出された前記電子部品を前記キャリアテープの前記収容部内から除去する除去手段と、を備え、
前記撮像手段の少なくとも一部の機構は、前記電子部品の撮像時に前記第2の位置に位置し、前記電子部品の不良が検出された際に前記第2の位置から退避し、
前記除去手段は、前記電子部品の不良が検出された際に待機位置から前記第2の位置に移動することを特徴とするテーピングユニット。
A taping unit that accommodates an electronic component in a carrier tape in which a plurality of accommodating portions are arranged in the longitudinal direction and moves on a transfer path,
Transfer means for transferring the carrier tape in which the electronic component is stored in the storage portion at a first position on the transfer path, along the transfer path;
Imaging means for imaging the electronic component transferred to the second position downstream in the transfer direction from the first position on the transfer path by the transfer of the carrier tape;
A defect detecting means for detecting a defect of the electronic component from an imaging result by the imaging means;
Removing means for removing the electronic component in which a defect has been detected from within the housing portion of the carrier tape , and
At least a part of the mechanism of the imaging unit is located at the second position during imaging of the electronic component, and retracts from the second position when a defect of the electronic component is detected,
It said removal means taping unit, characterized that you move to the second position from the standby position when the electronic component failure is detected.
前記移送方向に直交する方向に移動可能に設けられ、前記除去手段に連結された移動機構を更に備え、
前記移動機構には、前記撮像手段の少なくとも一部の機構が前記除去手段と前記移送方向に直交する方向に隣接するように連結され、
前記電子部品の不良が検出された際に、前記移動機構の移動によって、前記撮像手段の少なくとも一部の機構前記第2の位置から退避、前記除去手段前記待機位置から前記第2の位置に移動することを特徴とする請求項記載のテーピングユニット。
A moving mechanism provided to be movable in a direction perpendicular to the transfer direction and connected to the removing means;
The moving mechanism is connected so that at least a part of the mechanism of the imaging unit is adjacent to the removing unit in a direction orthogonal to the transfer direction ,
When the electronic component failure is detected, the by the movement of the moving mechanism, retracts from at least a portion of mechanism the second position of said imaging means, said removing means from said waiting position the second The taping unit according to claim 1 , wherein the taping unit moves to a position.
前記撮像手段は、機構の一部として前記電子部品の像を屈折してカメラに導くプリズムを備え、
前記プリズムが前記第2の位置に配置されていることを特徴とする請求項1又は2記載のテーピングユニット。
The imaging means includes a prism that refracts an image of the electronic component and guides it to a camera as a part of the mechanism,
The taping unit according to claim 1 or 2, wherein the prism is arranged at the second position.
前記除去手段は、空気を吹き付けて前記収容部の底面から前記電子部品を浮き上がらせるブローノズルと、底面から浮き上がった前記電子部品を保持する保持機構とから構成されることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載のテーピングユニット。 2. The removing means includes a blow nozzle that blows air to raise the electronic component from the bottom surface of the housing portion, and a holding mechanism that holds the electronic component that floats from the bottom surface. The taping unit as described in any one of -3 . 電子部品を搬送しながら各種の工程処理を行う電子部品検査装置であって、
前記電子部品の各種の工程処理に対する搬送経路と、
前記電子部品を保持して前記搬送経路に沿って間欠移動する保持手段と、
前記保持手段の停止位置の一つに設けられ、前記保持手段に保持された電子部品を、長手方向に複数の収容部を並べたキャリアテープに電子部品を収容して移送路上を移送するテーピングユニットと、を備え、
前記テーピングユニットは、
前記移送路上の第1の位置で前記収容部に電子部品が収容された前記キャリアテープを、前記移送路に沿って移送する移送手段と、
前記キャリアテープの移送により、前記移送路上の第1の位置より移送方向下流側の第2の位置に移送された前記電子部品を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段による撮像結果から前記電子部品の不良を検出する不良検出手段と、
不良が検出された前記電子部品を前記キャリアテープの前記収容部内から除去する除去手段と、を備え、
前記撮像手段の少なくとも一部の機構は、前記電子部品の撮像時に前記第2の位置に位置し、前記電子部品の不良が検出された際に前記第2の位置から退避し、
前記除去手段は、前記電子部品の不良が検出された際に待機位置から前記第2の位置に移動することを特徴とする電子部品検査装置。
An electronic component inspection apparatus that performs various process processes while conveying electronic components,
A transport path for various processes of the electronic component;
Holding means for holding the electronic component and intermittently moving along the conveyance path;
A taping unit that is provided at one of the holding positions of the holding means and that transports the electronic components held on the holding means on a transfer path by storing the electronic components in a carrier tape in which a plurality of receiving portions are arranged in the longitudinal direction. And comprising
The taping unit is
Transfer means for transferring the carrier tape in which the electronic component is stored in the storage portion at a first position on the transfer path, along the transfer path;
Imaging means for imaging the electronic component transferred to the second position downstream in the transfer direction from the first position on the transfer path by the transfer of the carrier tape;
A defect detecting means for detecting a defect of the electronic component from an imaging result by the imaging means;
Removing means for removing the electronic component in which a defect has been detected from within the housing portion of the carrier tape , and
At least a part of the mechanism of the imaging unit is located at the second position during imaging of the electronic component, and retracts from the second position when a defect of the electronic component is detected,
It said removal means electronic component inspection apparatus characterized that you move to the second position from the standby position when the electronic component failure is detected.
長手方向に複数の収容部を並べたキャリアテープに電子部品を収容して移送路上を移送する電子部品収容方法であって、
前記移送路上の第1の位置で前記キャリアテープの収容部に電子部品を収容するステップと、
前記キャリアテープの移送により、前記移送路上の前記第1の位置より移送方向下流側の第2の位置に移送するステップと、
前記第2の位置に移送された前記電子部品を、前記第2の位置に少なくとも一部の機構が位置する撮像手段により撮像するステップと、
撮像結果から前記電子部品の不良を検出するステップと、
前記第2の位置から前記撮像手段の少なくとも一部の機構を退避させ、除去手段を待機位置から前記第2の位置に位置させ、不良が検出された前記電子部品を前記キャリアテープの前記収容部内から除去するステップと、
を備えることを特徴とする電子部品収容方法。
An electronic component housing method for housing an electronic component in a carrier tape in which a plurality of housing portions are arranged in the longitudinal direction and transporting it on a transport path,
Accommodating an electronic component in the carrier tape accommodating portion at a first position on the transfer path; and
Transferring to a second position downstream of the first position on the transfer path by a transfer of the carrier tape; and
Imaging the electronic component transferred to the second position by an imaging means in which at least a part of the mechanism is located at the second position ;
Detecting a defect of the electronic component from an imaging result;
At least a part of the mechanism of the imaging unit is retracted from the second position , a removing unit is positioned from the standby position to the second position, and the electronic component in which a defect is detected is placed in the housing portion of the carrier tape. Removing from
An electronic component housing method comprising the steps of:
前記キャリアテープを前記移送方向と逆の方向に移送して、前記電子部品が除去された前記収容部を前記第1の位置に位置させ、前記収容部に新たな電子部品を収容するステップを更に有することを特徴とする請求項記載の電子部品収容方法。 A step of transporting the carrier tape in a direction opposite to the transport direction, positioning the housing portion from which the electronic component has been removed at the first position, and housing a new electronic component in the housing portion; The electronic component housing method according to claim 6, further comprising :
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