JP5353805B2 - 試験機 - Google Patents
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Description
32 サーボ弁
33 変位計
34 荷重計
38 供試体
50 制御装置
51 設定信号発生部
52 ゲイン設定部
53 PID制御部
54 ピーク値検出回路
55 ピーク値記憶回路
56 スイッチ
61 除算器
62 偏差器
63 減算器
64 減算器
Claims (5)
- 供試体に対して繰り返して負荷を付与することにより、供試体に対する疲労試験または耐久試験を行う試験機において、
前記供試体に対して所定の負荷を付与するための設定信号を発生する設定信号発生手段と、
前記供試体に生じた変位、または、前記供試体に付与された荷重の測定信号を得るための測定手段と、
前記設定信号と前記測定信号と予め設定された制御パラメータのゲインとに基づいてフィードバック制御を実行することにより、負荷アクチュエータを駆動する制御部と、
前記測定信号の振幅と前記設定信号の振幅との比である振幅比率Pxと、初期の前記測定信号の振幅と前記設定信号の振幅との比である初期振幅比率P0との比が、設定値Cを越えた場合に、前記制御部におけるフィードバック制御の制御パラメータのゲインを再設定するゲイン設定手段と、
を備えたことを特徴とする試験機。 - 請求項1に記載の試験機において、
前記制御部は、PID制御を利用してフィードバック制御を実行するものであり、
前記ゲイン設定手段は、PID制御における比例制御のパラメータのゲインを再設定する試験機。 - 請求項2に記載の試験機において、
前記ゲイン設定手段は、前記振幅比率Pxを経時的に測定し、この振幅比率Pxと前記初期振幅比率P0との比に基づいて、PID制御における比例制御のパラメータのゲインを再設定する試験機。 - 請求項3に記載の試験機において、
前記ゲイン設定手段は、経時的に測定した振幅比率Pxと初期振幅比率P0との比を、PID制御における比例制御のパラメータのゲインに乗算することにより、PID制御における比例制御のパラメータのゲインを再設定する試験機。 - 請求項3に記載の試験機において、
前記ゲイン設定手段は、経時的に測定した振幅比率Pxと初期振幅比率P0との比よりも小さい値を、PID制御における比例制御のパラメータのゲインに乗算することにより、PID制御における比例制御のパラメータのゲインを再設定する試験機。
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