JP5352054B2 - アプリケーション・ソフトウェア及びハードウェア検査を自動化するために仮想入力及び出力を使用する方法 - Google Patents
アプリケーション・ソフトウェア及びハードウェア検査を自動化するために仮想入力及び出力を使用する方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5352054B2 JP5352054B2 JP2007014856A JP2007014856A JP5352054B2 JP 5352054 B2 JP5352054 B2 JP 5352054B2 JP 2007014856 A JP2007014856 A JP 2007014856A JP 2007014856 A JP2007014856 A JP 2007014856A JP 5352054 B2 JP5352054 B2 JP 5352054B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- input
- embedded system
- output
- control system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
米国特許6,804,636
診断検査方法は、少なくとも2つのオペレーション方法がある。第1の方法においては、検査制御システムは、組み込みシステムの入力ポート及び/又は出力ポートでそれぞれ入力値及び出力値を監視する。検査制御システムは、組込システムにCANメッセージを送信し、関連する記憶場所の入力値及び/又は出力値の読み取りを可能にする。その後、組込システムは要求された入力及び/又は出力の値を含むレスポンスを送信する。このオペレーションモードでは、検査制御システムは、3つ可能なエリアで問題の検出を見込んでいる:(1)組込システム前、組込システムと入力デバイスを動作可能に結合する電気コンダクタを含む、(2)組み込みシステム、その組込システムの意思決定プロセスを含む、(3)組込システムの後、組込システムを出力デバイスに動作可能に結合する電気コンダクタを含む。数個の組込システムが結合された検査装置では、この検査制御システムは、どの組込システムが不完全であるかを決定するのに、各々の組込システムを個別に検査するよりも高速に行え、有用である。
変形例として、組込システムは、変更後の入力値に対し読み出し専用のアクセスを行う。組込システムに読み出し専用のアクセスを提供する目的は、入力値の変更を防止するためであり、メモリ中の入力値を変更する組込システムの能力を無力にすることである。代替変形例として、組込システムは、組込システム特有の記憶場所とは離れた記憶場所に変更後の入力値を格納する。
20 検査制御システム、
22 記憶場所、
30 組込システム、
32 入力ポート、
34 出力ポート、
36 メモリ、
36a 第1の記憶場所、
36b 第2の記憶場所、
38 意志決定者、
40 入力デバイス、
42 出力デバイス、
44、46 電気的コンダクタ、
Claims (25)
- 第1の入力、第2の入力及び第1の出力を有する組込システムと、前記第1の入力に動作可能に結合された入力デバイスと、前記第1の出力に動作可能に結合された出力デバイスと、前記第2の入力を介して組込システムに動作可能に結合された検査制御システムと、を用意する工程と、
前記検査制御システムにより、前記出力デバイスを制御する制御モードで前記組込システムを動作させ、前記組込システムが制御モードにおいて前記入力デバイスからの入力値に基づき前記出力デバイスに制御出力値を供給する工程と
前記検査制御システムにより、前記組込システムを検査モードで動作させ、前記組込システムが検査モードにおいて前記検査制御システムからの仮想値に基づいて、前記検査制御システムに検査出力値を供給する工程と、
前記仮想値と前記検査出力値との間で所望の関係にあるか比較する工程と、
を備えたことを特徴とする組込システムの自動診断検査方法。 - 前記検査制御システムに前記組込システムを動作可能に結合する前記検査制御システムに関連したコントローラー・エリア・ネットワークを用意する工程を備えたことを特徴とする請求項1に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 前記検査制御システムは前記仮想値へのアクセスを読み出し専用としたことを特徴とする請求項1に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 前記検査制御システムにより、前記仮想値を変更する工程を備えたことを特徴とする請求項1に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 前記入力デバイスは前記組込システムの前記第1の入力に前記入力値を供給し、前記検査制御システムは前記入力デバイスの前記入力値を上書きすることを特徴とする請求項4に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 前記検査制御システムは、前記組込システムに対し、前記仮想値へのアクセスを読み出し専用としたことを特徴とする請求項4に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 前記検査制御システムにより、前記検査制御システムに関連した第1のメモリに前記仮想値を書き込む工程を備え、前記第1のメモリは、前記組込システムが用いる第2のメモリとは離れた位置にあることを特徴とする請求項1に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 前記組込システムは第2の出力を有し、前記検査制御システムは前記第2の入力と前記第2の出力の両方に動作可能に結合していることを特徴とする請求項1に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 前記入力デバイスの前記入力値はエンジン・エリアで取得されたものであることを特徴とする請求項1に記載の組込システムの自動診断検査方法。
- 第1の入力、第2の入力及び第1の出力を備えた組込システムと、前記第1の入力に動作可能に結合された入力デバイスと、前記第1の出力に動作可能に結合された出力デバイスと、前記第2の入力を介して前記組込システムと動作可能に結合された検査制御システムと、を備え、
前記検査制御システムは、前記組込システムに仮想値を書き込むプログラムを有し、該組込システムに供給される前記仮想値と該組込システムから供給される出力値との関係を評価する構成としたことを特徴とする自動診断検査システム。 - 前記組込システムは電子制御器であることを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム。
- 前記検査制御システムに関連した通信網を備え、前記組込システムに前記検査制御システムを動作可能に結合したことを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム
- 前記検査制御システムは前記組込システムに関連する入力ポートに動作可能に結合され、前記プログラムは前記入力ポート又は前記組込システムに関連するメモリに前記仮想値を書き込むことを規定する入力プログラムを有することを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム。
- 前記検査制御システムは、前記組込システムに関連する出力ポートに動作可能に結合され、前記プログラムは前記出力値を読み取ることを規定する出力プログラムを有することを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム。
- 前記出力プログラムはさらに前記出力値を書き込むことを規定したことを特徴とする請求項14に記載の自動診断検査システム。
- 前記検査制御システムは前記組込システムに関連する入力ポートに動作可能に結合され、前記プログラムは前記入力ポート又は前記組込システムと関連するメモリに仮想値を書き込むことを規定した入力プログラムを有することを特徴とする請求項15に記載の自動診断検査システム。
- 前記組込システムは第2の出力を有し、前記検査制御システムは前記第2の入力と前記第2の出力の両方に動作可能に結合していることを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム。
- 前記入力デバイスは前記組込システムの前記第1の入力に入力値を供給し、前記検査制御システムは前記入力デバイスにより供給される前記入力値を上書きするように構成されていることを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム。
- 前記入力デバイスはエンジン・エリアのセンサで構成されることを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム。
- 前記出力デバイスは、エンジン・ファンであることを特徴とする請求項10に記載の自動診断検査システム。
- 第1の入力線、第2の入力線及び出力線に動作可能に結合された組込システムを用意する工程と、
入力デバイス及び出力デバイスをそれぞれ前記第1の入力線及び前記出力線を動作可能に結合することにより前記組込システムと結合する工程と、
検査制御システムを、前記第2の入力線を介して前記組込システムと結合する工程と、を備え、
前記検査制御システムは、前記組込システムに仮想値を書き込み、前記組込システムから出力値を受け取り、かつ前記仮想値と前記出力値との間の所望の関係にあることを検証するプログラムを有することを特徴とする組込システムの自動診断検査装置の使用方法。 - 前記検査制御システムを前記組込システムに動作可能に結合する工程には、コントローラー・エリア・ネットワークを用意する工程を含むことを特徴とする請求項21に記載の組込システムの自動診断検査装置の使用方法。
- 前記組込システムに書き込まれた前記仮想値を解析する工程を含むことを特徴とする請求項21に記載の組込システムの自動診断検査装置の使用方法。
- 前記組込システムの前記出力線に前記出力値を供給する工程を含むことを特徴とする請求項21に記載の組込システムの自動診断検査装置の使用方法。
- 前記入力デバイスにより前記組込システムの前記第1の入力線に入力値を供給し、前記入力値を前記検査制御システムの前記仮想値で上書きする工程を含むことを特徴とする請求項21に記載の組込システムの自動診断検査装置の使用方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/339,435 US8418013B2 (en) | 2006-01-25 | 2006-01-25 | Method of using virtual inputs and outputs to automate testing of application software and hardware |
US11/339,435 | 2006-01-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007200332A JP2007200332A (ja) | 2007-08-09 |
JP5352054B2 true JP5352054B2 (ja) | 2013-11-27 |
Family
ID=37963462
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007014856A Expired - Fee Related JP5352054B2 (ja) | 2006-01-25 | 2007-01-25 | アプリケーション・ソフトウェア及びハードウェア検査を自動化するために仮想入力及び出力を使用する方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8418013B2 (ja) |
EP (1) | EP1814036A3 (ja) |
JP (1) | JP5352054B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013103380A1 (en) | 2012-01-06 | 2013-07-11 | Ge Intelligent Platforms, Inc. | Apparatus and method for synchronization of control logic |
US9852036B2 (en) * | 2015-10-08 | 2017-12-26 | National Instruments Corporation | Configurable input/output sub-channels for optimized diagnostics |
US11107308B2 (en) * | 2018-02-02 | 2021-08-31 | Denso International America, Inc. | Automated hardware-in-the-loop tester for automotive electronic control units |
US20210089417A1 (en) * | 2019-09-23 | 2021-03-25 | Honeywell International Inc. | System and method for automated loop checking |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52113639A (en) | 1976-03-19 | 1977-09-22 | Nec Corp | Channel coupling device equipped with diagnostic fucntion |
JPS60164846A (ja) | 1984-02-08 | 1985-08-27 | Japan Electronic Control Syst Co Ltd | マイクロコンピユ−タのハ−ドウエア検査装置 |
US4692299A (en) * | 1985-10-18 | 1987-09-08 | Westinghouse Electric Corp. | Testing sensor signal processors |
US5463559A (en) * | 1993-07-19 | 1995-10-31 | Ingersoll-Rand Company | Diagnostic apparatus for an electronic controller |
KR0158132B1 (ko) * | 1993-09-22 | 1998-12-15 | 전성원 | 전자 제어장치의 자기 진단 시스템 및 그 진단방법 |
JP3607760B2 (ja) * | 1995-10-13 | 2005-01-05 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JP3578845B2 (ja) | 1995-10-25 | 2004-10-20 | 株式会社ケーヒン | 車両用コンピュータ搭載製品の検査方法および装置 |
US6405111B2 (en) * | 1997-05-16 | 2002-06-11 | Snap-On Technologies, Inc. | System and method for distributed computer automotive service equipment |
US6182245B1 (en) * | 1998-08-31 | 2001-01-30 | Lsi Logic Corporation | Software test case client/server system and method |
SE522408C2 (sv) * | 2000-04-27 | 2004-02-10 | Microsoft Corp | Datorprogram och förfarande för automatiserad testning av en dators funktionalitet |
JP3803019B2 (ja) | 2000-08-21 | 2006-08-02 | 富士通株式会社 | 制御プログラム開発支援装置 |
US7167811B2 (en) | 2001-05-24 | 2007-01-23 | Test Advantage, Inc. | Methods and apparatus for data analysis |
US6879526B2 (en) * | 2002-10-31 | 2005-04-12 | Ring Technology Enterprises Llc | Methods and apparatus for improved memory access |
US6968427B1 (en) * | 2002-12-02 | 2005-11-22 | Advanced Micro Devices, Inc. | Built-in self test circuit for testing cache tag array and compare logic |
WO2005001690A2 (de) * | 2003-06-30 | 2005-01-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur überwachung des programmlaufs in einem mikro-computer |
NO320841B1 (no) | 2004-06-08 | 2006-01-30 | Marine Cybernetics As | Fremgangsmate for testing av et kombinert dynamisk posisjonerings- og kraftreguleringssystem |
-
2006
- 2006-01-25 US US11/339,435 patent/US8418013B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-01-25 JP JP2007014856A patent/JP5352054B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-25 EP EP07250295A patent/EP1814036A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1814036A3 (en) | 2011-06-29 |
US8418013B2 (en) | 2013-04-09 |
EP1814036A2 (en) | 2007-08-01 |
US20070174751A1 (en) | 2007-07-26 |
JP2007200332A (ja) | 2007-08-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7060218B2 (ja) | プロセス制御装置情報を表示する方法、並びに、装置 | |
JP7298973B2 (ja) | コミッショニングのためのi/o仮想化 | |
JP3837010B2 (ja) | 単一のコンピュータ上で機能的に統合された分散型処理制御システム | |
CN107807881B (zh) | 代码覆盖率的测试方法、装置和计算机设备 | |
KR20150119869A (ko) | 프로토콜 독립적 디바이스 테스팅을 지원하기 위한 중앙 컨트롤러 컴퓨터 시스템 상에서의 gui 구현 | |
JP5531829B2 (ja) | プラント制御装置の試験装置 | |
JP5352054B2 (ja) | アプリケーション・ソフトウェア及びハードウェア検査を自動化するために仮想入力及び出力を使用する方法 | |
JP5452250B2 (ja) | 制御装置を調整するための方法および操作ユニット | |
US20170146987A1 (en) | Electronic control module testing system | |
JP2019200463A (ja) | 検査画像表示制御方法、検査画像表示制御装置及び検査画像表示制御システム | |
US20100312541A1 (en) | Program test device and program | |
RU2294015C2 (ru) | Способ автоматического моделирования системы управления процессом и система управления процессом | |
CN115060456A (zh) | 一种通用型风洞的传感器自动校准方法及系统 | |
JP6442131B2 (ja) | 制御システムおよび制御装置 | |
US9286124B2 (en) | Simulating the performance of medical-engineering procedures in a client-server environment | |
JP7103842B2 (ja) | 機器管理装置およびタグ名検証方法 | |
US20160224032A1 (en) | Retrieval of Measured Values, Diagnostic Information or Device Parameters | |
KR20180008629A (ko) | 테스트 응답 제공 방법 및 그 장치 | |
US20080263523A1 (en) | Method for testing engineering software | |
CN109483552B (zh) | 一种基板搬送机器人系统软硬件调试方法及设备 | |
KR102253549B1 (ko) | 오류 정형화를 이용한 발사통제기 자동 점검 방법 및 그 장치 | |
WO2023238262A1 (ja) | 情報処理装置、試験方法、及び試験プログラム | |
CN117554218B (zh) | 直馏沥青浇筑式钢桥面复合梁试件疲劳试验装置及方法 | |
JP4462326B2 (ja) | 画像処理装置 | |
JP2009081372A (ja) | シミュレータ、シミュレーションシステムおよびプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100116 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120914 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120926 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121225 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130709 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130712 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130807 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130826 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |