JP5324246B2 - Multilayer capacitor - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer capacitor having high mechanical characteristics. <P>SOLUTION: The multilayer capacitor 100 having one face 100a and an opposing face 100b includes: a plurality of dielectric layers 110 formed between one face 100a and the opposing face 100b; a plurality of internal electrode layers 120 laminated via the dielectric layers; a via electrode 140 for electrically connecting the internal electrode layers; and an external electrode layer 150 arranged on one face and/or the opposing face while being electrically connected to the via electrode. The internal electrode layer 120, the via electrode 140, and the external electrode layer 150 include metal nickel as a main constituent; the dielectric layer 110 includes barium titanate as a main constituent; and a dielectric layer for composing respective surface layer sections 110a, 110b at one face side and at the opposing face side includes metal nickel. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は積層コンデンサに関する。更に詳しくは、複数のセラミック誘電体層と複数の内部電極層とが交互に積層された構造を有する積層コンデンサに関する。   The present invention relates to a multilayer capacitor. More specifically, the present invention relates to a multilayer capacitor having a structure in which a plurality of ceramic dielectric layers and a plurality of internal electrode layers are alternately stacked.

従来、複数のセラミック層と複数の内部電極層とが交互に積層された構造を有するビアアレイ型積層コンデンサが知られており、デカップリング用途に用いられている。デカップリング用途のビアアレイ型積層コンデンサのセラミック層には高容量化が可能なことからチタン酸バリウム(BaTiO)が多用されている。しかし、チタン酸バリウムは、誘電特性には優れるものの機械的特性には乏しいため、その高強度化が求められている。 Conventionally, a via array type multilayer capacitor having a structure in which a plurality of ceramic layers and a plurality of internal electrode layers are alternately stacked is known and used for decoupling applications. Barium titanate (BaTiO 3 ) is frequently used for the ceramic layer of the via array type multilayer capacitor for decoupling because it can be increased in capacity. However, although barium titanate is excellent in dielectric properties, it has poor mechanical properties, so that high strength is required.

特開平5−117016号公報JP-A-5-1117016 特開平5−279117号公報JP-A-5-279117 特開平6−096987号公報JP-A-6-096987 特開平9−148175号公報JP-A-9-148175

上記問題に対して上記特許文献1〜4が知られているが、より優れた機械的強度及び更に他の方法が求められている。
特に近年、積層コンデンサの使用環境がますます厳しくなっており、特にMPUの発熱量は大きくなっており、MPU用配線基板とこれに実装されるデカップリングコンデンサとは、大きな温度差を伴った急加熱・急冷却に曝される。加えて、近年の低背化及びスペースの狭小化の要求から、電子部品(コンデンサなど)のMPU用配線基板内への内蔵が求められるが、内蔵された電子部品は、配線基板を構成する樹脂材料との熱膨張差による大きな応力が定常的に負荷される環境に置かれることとなる。更に、各電子部品の実装には、高温の半田リフローが使用される場合があると共に、その工程数も1度のみならず複数回の半田リフロー工程に供される場合があり、ここでも大きな温度差を伴った急加熱・急冷却に曝されることとなる。
Although the said patent documents 1-4 are known with respect to the said problem, more excellent mechanical strength and another method are calculated | required.
In particular, in recent years, the usage environment of multilayer capacitors has become increasingly severe, and in particular, the amount of heat generated by the MPU has increased, and the MPU wiring board and the decoupling capacitor mounted thereon have a sudden temperature difference. Exposed to heating and rapid cooling. In addition, due to recent demands for low profile and narrow space, it is required to incorporate electronic components (capacitors, etc.) in the MPU wiring board. The built-in electronic components are resins that constitute the wiring board. A large stress due to a difference in thermal expansion with the material is placed in an environment in which it is constantly loaded. In addition, high-temperature solder reflow may be used for mounting each electronic component, and the number of processes may be used not only once but also for multiple solder reflow processes. It will be exposed to rapid heating and rapid cooling with a difference.

このため、高い誘電特性を維持しながら、このような近年のより過酷な熱衝撃や応力に曝される環境に対応し得る高い機械的特性を有する積層コンデンサが求められている。
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、特に高い機械的特性を有する積層コンデンサを提供することを目的とする。
Therefore, there is a demand for a multilayer capacitor having high mechanical characteristics that can cope with an environment exposed to such severer thermal shock and stress in recent years while maintaining high dielectric characteristics.
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a multilayer capacitor having particularly high mechanical characteristics.

即ち、本発明は以下に示す通りである。
(1)一面及び対面を有する積層コンデンサにおいて、
上記一面及び上記対面の間に形成された複数の誘電体層と、該誘電体層を介して積層された複数の内部電極層と、該内部電極層同士を電気的に接続している複数のビア電極と、該ビア電極と電気的に接続されると共に該一面及び/又は該対面に配設された外部電極層と、を備え、
上記内部電極層、上記ビア電極及び上記外部電極層は金属ニッケルを主成分とし、
上記誘電体層はチタン酸バリウムを主成分とすると共に、上記一面側及び上記対面側各表層部を有し、該表層部を構成する該誘電体層は、その全層に金属ニッケルを含み
上記外部電極層として、複数の上記ビア電極を連結した一体のものを少なくとも1つ有することを特徴とする積層コンデンサ。
(2)上記表層部に含まれる金属ニッケルは、各該表層部を100体積%とした場合に各々3〜30体積%である上記(1)に記載の積層コンデンサ。
(3)上記表層部の厚さは各々10〜100μmである上記(1)又は(2)に記載の積層コンデンサ。
That is, the present invention is as follows.
(1) In a multilayer capacitor having one surface and a facing surface,
A plurality of dielectric layers formed between the first surface and the facing, and dielectric material layer a plurality of internal electrode layers are stacked through, a plurality of electrically connected to each other internal electrode layer A via electrode, and an external electrode layer electrically connected to the via electrode and disposed on the one surface and / or the opposite surface,
The internal electrode layer, the via electrode and the external electrode layer are mainly composed of metallic nickel,
Together with the dielectric layer is composed mainly of barium titanate, it has a respective surface layer portion on one surface and the opposite side above, dielectric layer constituting the surface layer portion includes a metallic nickel on the entire layer ,
A multilayer capacitor comprising at least one external electrode layer connected with a plurality of the via electrodes .
(2) The multilayered capacitor according to (1), wherein the nickel metal contained in the surface layer portion is 3 to 30% by volume when each surface layer portion is 100% by volume.
(3) The multilayer capacitor according to (1) or (2), wherein each of the surface layer portions has a thickness of 10 to 100 μm.

本発明の積層コンデンサによれば、表層部に金属ニッケルが含有されるために著しく高い機械的強度を有する表層部が得られると共に、積層コンデンサ全体の機械的強度も高めることができる。更に、表層部に金属ニッケルが含有されることにより、金属ニッケルを主成分とする外部電極層との密着性が向上される。加えて、表層部に金属ニッケルが含有されることにより、表層部の熱伝導率が大きくなり、積層コンデンサ内の温度の均一化効果が得られると共に、内部電極層とビア電極との残留熱応力が緩和されて、熱衝撃が加わった際やハンドリングの際のクラック発生及び欠け発生が効果的に抑制される。
表層部に含まれる金属ニッケルが、各表層部を100体積%とした場合に各々3〜30体積%である場合は、高い絶縁性を維持しながら、優れた機械的強度を得ることができる。
表層部の厚さが各々10〜100μmである場合は、更に高い絶縁性を維持しながら、より優れた機械的強度を得ることができる。
According to the multilayer capacitor of the present invention, since the surface layer portion contains metallic nickel, a surface layer portion having a remarkably high mechanical strength can be obtained, and the mechanical strength of the entire multilayer capacitor can be increased. Furthermore, the adhesiveness with the external electrode layer which has metallic nickel as a main component is improved by containing metallic nickel in a surface layer part. In addition, by containing metallic nickel in the surface layer portion, the thermal conductivity of the surface layer portion is increased, the effect of equalizing the temperature in the multilayer capacitor is obtained, and the residual thermal stress between the internal electrode layer and the via electrode Is mitigated, and the occurrence of cracks and chipping during thermal shock and handling is effectively suppressed.
When the metal nickel contained in the surface layer part is 3 to 30% by volume when each surface layer part is 100% by volume, excellent mechanical strength can be obtained while maintaining high insulation.
When the thickness of the surface layer portions is 10 to 100 μm, it is possible to obtain more excellent mechanical strength while maintaining higher insulation.

積層コンデンサの概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of a multilayer capacitor. 表層部等の一部を拡大した概略断面図である。It is the schematic sectional drawing which expanded some surface layer parts. 積層コンデンサの内部電極層の一例を説明する概略平面図であり、(a)は第1群の内部電極層を表し、(b)は第2群の内部電極層を表す。It is a schematic plan view explaining an example of the internal electrode layer of a multilayer capacitor, (a) represents the 1st group internal electrode layer, (b) represents the 2nd group internal electrode layer. 外部電極層の一例の平面形状を説明する概略平面図である。It is a schematic plan view explaining the planar shape of an example of an external electrode layer. 外部電極層の他例の平面形状を説明する概略平面図である。It is a schematic plan view explaining the planar shape of the other example of an external electrode layer. 表面にめっき層が形成された外部電極層の一例の断面形状を説明する概略拡大断面図である。It is a general | schematic expanded sectional view explaining the cross-sectional shape of an example of the external electrode layer in which the plating layer was formed in the surface. 誘電体層と内部電極層との積層方法の一例の工程を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the process of an example of the lamination | stacking method of a dielectric material layer and an internal electrode layer. 誘電体層と内部電極層との積層方法の他例の工程を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the process of the other example of the lamination | stacking method of a dielectric material layer and an internal electrode layer. 未焼成積層体形成工程の一例を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining an example of an unbaking laminated body formation process. 未焼成ビア電極と未焼成外部電極層との接続面積Sと、未焼成外部電極層の平面面積Sとを説明する説明図である。A connection area S V of the non-fired via electrode unsintered outer electrode layer is an explanatory diagram for explaining a planar area S O unfired external electrode layer. 積層コンデンサを内蔵したキャパシタ内蔵配線基板の一例を説明する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing explaining an example of the wiring board with a built-in capacitor incorporating a multilayer capacitor. 実施例で確認された誘電体内に含まれた金属ニッケルを示すX線粉末回折測定によるチャートである。It is the chart by the X-ray powder diffraction measurement which shows the metallic nickel contained in the dielectric body confirmed in the Example.

[1]積層コンデンサ
以下、本発明において製造する積層コンデンサを図1〜11を参照して説明する。尚、便宜上、各部の符号として焼成前後で同じ符号を用いる。
本発明の積層コンデンサは、
一面及び対面を有する積層コンデンサにおいて、
上記一面及び上記対面の間に形成された複数の誘電体層と、該誘電体層を介して積層された複数の内部電極層と、該内部電極層同士を電気的に接続している複数のビア電極と、該ビア電極と電気的に接続されると共に該一面及び/又は該対面に配設された外部電極層と、を備え、
上記内部電極層、上記ビア電極及び上記外部電極層は金属ニッケルを主成分とし、
上記誘電体層はチタン酸バリウムを主成分とすると共に、上記一面側及び上記対面側各表層部を有し、該表層部を構成する該誘電体層は、その全層に金属ニッケルを含み
上記外部電極層として、複数の上記ビア電極を連結した一体のものを少なくとも1つ有することを特徴とする積層コンデンサ。
(2)上記表層部に含まれる金属ニッケルは、各該表層部を100体積%とした場合に各々3〜30体積%である上記(1)に記載の積層コンデンサ。
(3)上記表層部の厚さは各々10〜100μmである上記(1)又は(2)に記載の積層コンデンサ。
[1] Multilayer Capacitor Hereinafter, the multilayer capacitor manufactured in the present invention will be described with reference to FIGS. For convenience, the same reference numerals are used before and after firing as the reference numerals of the respective parts.
The multilayer capacitor of the present invention is
In the multilayer capacitor having one side and the opposite side,
A plurality of dielectric layers formed between the first surface and the facing, and dielectric material layer a plurality of internal electrode layers are stacked through, a plurality of electrically connected to each other internal electrode layer A via electrode, and an external electrode layer electrically connected to the via electrode and disposed on the one surface and / or the opposite surface,
The internal electrode layer, the via electrode and the external electrode layer are mainly composed of metallic nickel,
Together with the dielectric layer is composed mainly of barium titanate, it has a respective surface layer portion on one surface and the opposite side above, dielectric layer constituting the surface layer portion includes a metallic nickel on the entire layer ,
A multilayer capacitor comprising at least one external electrode layer connected with a plurality of the via electrodes .
(2) The multilayered capacitor according to (1), wherein the nickel metal contained in the surface layer portion is 3 to 30% by volume when each surface layer portion is 100% by volume.
(3) The multilayer capacitor according to (1) or (2), wherein each of the surface layer portions has a thickness of 10 to 100 μm.

上記「積層コンデンサ100」の概形は特に限定されないが、通常、直方体形状であり、特に板状が好ましい。また、積層コンデンサ100の対面100bは、積層コンデンサ100の一面100aに対向する面であり、これらの面は搭載時(実装時)にいずれの面が上方、下方、又は側方に向いて配置されてもよい。更に、積層コンデンサ100を構成する誘電体層110、内部電極層120、ビア電極140及び外部電極層150は、未焼成体を同時焼成することにより一体に形成することができる。これらのうち誘電体層110と内部電極層120とは、それぞれ複数層が交互に積層されてなる積層体(積層コンデンサ100のうちの誘電体層110及び内部電極層120のみからなる積層体)を構成する。更に、ビア電極140は、通常、1個の積層コンデンサ100内に複数本形成され、これらのビア電極140はアレイ状に配置されている。   The general shape of the “multilayer capacitor 100” is not particularly limited, but is usually a rectangular parallelepiped shape, and a plate shape is particularly preferable. The facing surface 100b of the multilayer capacitor 100 is a surface facing the one surface 100a of the multilayer capacitor 100, and these surfaces are arranged so that any of the surfaces faces upward, downward, or laterally when mounted (mounted). May be. Furthermore, the dielectric layer 110, the internal electrode layer 120, the via electrode 140, and the external electrode layer 150 constituting the multilayer capacitor 100 can be integrally formed by simultaneously firing the unfired body. Among these, the dielectric layer 110 and the internal electrode layer 120 are each a laminated body in which a plurality of layers are alternately laminated (a laminated body including only the dielectric layer 110 and the internal electrode layer 120 in the multilayer capacitor 100). Configure. Furthermore, a plurality of via electrodes 140 are usually formed in one multilayer capacitor 100, and these via electrodes 140 are arranged in an array.

上記「誘電体層110」は、図1に示されるように、一面100aと一面側の内部電極層120(一面100aに最も近い内部電極層)との間に配置された誘電体層である表層部110aと、対面100bと対面側の内部電極層120(対面100bに最も近い内部電極層)との間に配置された誘電体層である表層部110bと、これら表層部110a及び表層部110b以外の誘電体層(各内部電極層120同士の間に配置された誘電体層)と、を有する。   As shown in FIG. 1, the “dielectric layer 110” is a surface layer that is a dielectric layer disposed between the one surface 100 a and the internal electrode layer 120 on the one surface side (the internal electrode layer closest to the one surface 100 a). A surface layer portion 110b which is a dielectric layer disposed between the portion 110a, the facing surface 100b and the internal electrode layer 120 on the facing side (an internal electrode layer closest to the facing surface 100b), and other than the surface layer portion 110a and the surface layer portion 110b Dielectric layers (dielectric layers disposed between the internal electrode layers 120).

これらの誘電体層110は、チタン酸バリウム(BaTiO)を主成分とする。この「チタン酸バリウムを主成分とする」とは、誘電体層110を100体積%とした場合に、チタン酸バリウムが95体積%以上含有されることを意味する。この含有量は、表層部110a及び表層部110b以外の誘電体層では、95〜99体積%が好ましく、96〜98体積%がより好ましい。
誘電体層に含まれるチタン酸バリウムの含有量は、電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)の波長分散型X線分光器(WDX)により定量分析して測定し、酸化物換算して算出する。
These dielectric layers 110 are mainly composed of barium titanate (BaTiO 3 ). The phrase “mainly composed of barium titanate” means that barium titanate is contained at 95 volume% or more when the dielectric layer 110 is 100 volume%. This content is preferably 95 to 99% by volume and more preferably 96 to 98% by volume in dielectric layers other than the surface layer part 110a and the surface layer part 110b.
The content of barium titanate contained in the dielectric layer is measured by quantitative analysis with a wavelength dispersive X-ray spectrometer (WDX) of an electron probe microanalyzer (EPMA), and is calculated in terms of oxide.

チタン酸バリウム以外には、チタン酸バリウムに対する燒結助剤及び添加剤を含有できる。燒結助剤としては、二酸化ケイ素、ケイ酸塩等が挙げられる。また、添加剤としては、酸化カルシウム、二酸化マンガン、イットリア(酸化イットリウム)、酸化マグネシウム、酸化コバルト、酸化ストロンチウム及び各種の希土類酸化物等が挙げられる。この燒結助剤及び添加剤は各々1種のみ含有されていてもよく、2種以上含有されていてよい。なかでも、添加剤としては、酸化カルシウム、二酸化マンガン及びイットリアの3種併用が好ましい。燒結助剤及び添加剤の含有量は特に限定されないものの、通常、チタン酸バリウム100体積部に対して、合計で1〜5体積部である。   In addition to barium titanate, sintering aids and additives for barium titanate can be included. Examples of the sintering aid include silicon dioxide and silicate. Examples of the additive include calcium oxide, manganese dioxide, yttria (yttrium oxide), magnesium oxide, cobalt oxide, strontium oxide, and various rare earth oxides. Each of these sintering aids and additives may be contained alone or in combination of two or more. Especially, as an additive, 3 types combined use of calcium oxide, manganese dioxide, and yttria is preferable. Although content of a sintering aid and an additive is not specifically limited, Usually, it is 1-5 volume parts with respect to 100 volume parts of barium titanate.

また、誘電体層110のうち、表層部110a及び表層部110bには、金属ニッケルが含有されるが、その他の誘電体層110と同様に、チタン酸バリウムを主成分とする。表層部110a又は表層部110bには、これらの各々を100体積%とした場合に、チタン酸バリウムが65体積%以上含有される。この含有量は、これら表層部110a及び表層部110bでは、65〜96体積%が好ましく、65〜95体積%がより好ましい。   Further, in the dielectric layer 110, the surface layer portion 110a and the surface layer portion 110b contain metallic nickel, but, like the other dielectric layers 110, contain barium titanate as a main component. The surface layer part 110a or the surface layer part 110b contains 65% by volume or more of barium titanate when each of these is 100% by volume. In the surface layer part 110a and the surface layer part 110b, the content is preferably 65 to 96% by volume, and more preferably 65 to 95% by volume.

表層部110a及び表層部110bの各々における金属ニッケルの含有量は特に限定されないが、表層部110a及び表層部110bの各々を100体積%(100質量%)とした場合に、3〜30体積%(4.39〜38.9質量%)、更に5〜30体積%(7.2〜38.9質量%)、特に5〜25体積%(7.2〜33.1質量%)であることが好ましい(表層部110a及び表層部110bで含有量が異なってもよい)。金属ニッケルの含有量が3〜30体積%の範囲では、電気抵抗率を低く維持しながら飛躍的に高い機械的特性を得ることができる。
尚、表層部に含まれる金属ニッケルの体積割合は、表層部断面から得られる走査式電子顕微鏡(SEM)の反射電子像(BEI)において明暗のコントラストが異なるため視野内に占める金属ニッケル相の面積の割合(体積割合とみなすことができる)として算出される。
Although content of the metallic nickel in each of the surface layer part 110a and the surface layer part 110b is not specifically limited, when each of the surface layer part 110a and the surface layer part 110b is 100 volume% (100 mass%), 3-30 volume% ( 4.39-38.9% by mass), 5-30% by volume (7.2-38.9% by mass), especially 5-25% by volume (7.2-33.1% by mass). It is preferable (content may differ in the surface layer part 110a and the surface layer part 110b). When the content of metallic nickel is in the range of 3 to 30% by volume, dramatically high mechanical properties can be obtained while keeping the electrical resistivity low.
In addition, the volume ratio of the metallic nickel contained in the surface layer part is the area of the metallic nickel phase in the visual field because the contrast of light and dark is different in the reflected electron image (BEI) of the scanning electron microscope (SEM) obtained from the surface layer part cross section. As a ratio (which can be regarded as a volume ratio).

また、誘電体層110の厚さは特に限定されないが、内部電極層120間の誘電体層(即ち、表層部110a及び表層部110b以外の誘電体層)の厚さは1〜10μm、特に1〜5μmであることが好ましい。
一方、表層部110a及び表層部110bの厚さは、各々10〜100μmが好ましく、15〜80μmがより好ましく、20〜70μmが更に好ましく、20〜60μmが特に好ましい。但し、表層部110aと表層部110bとの厚さは同じであってもよく異なっていてもよい。この表層部110a及び表層部110bは、これら以外の誘電体層に比べて、通常、厚く形成され、表層部への金属ニッケルの含有により機械的特性を向上させると共に、内部電極層と外部電極層の絶縁を十分に得ることができる。
誘電体層110の全層数は特に限定されないが、表層部110a及び表層部100bを含めて(これらの層は各々1層と換算)、例えば、30〜200層、特に50〜160層とすることができる。
The thickness of the dielectric layer 110 is not particularly limited, but the thickness of the dielectric layer between the internal electrode layers 120 (that is, the dielectric layer other than the surface layer portion 110a and the surface layer portion 110b) is 1 to 10 μm, particularly 1 It is preferably ~ 5 μm.
On the other hand, the thickness of the surface layer part 110a and the surface layer part 110b is preferably 10 to 100 μm, more preferably 15 to 80 μm, still more preferably 20 to 70 μm, and particularly preferably 20 to 60 μm. However, the thickness of the surface layer portion 110a and the surface layer portion 110b may be the same or different. The surface layer portion 110a and the surface layer portion 110b are usually formed thicker than other dielectric layers, and the mechanical properties are improved by the inclusion of metallic nickel in the surface layer portion, and the internal electrode layer and the external electrode layer It is possible to obtain sufficient insulation.
The total number of the dielectric layers 110 is not particularly limited, but includes the surface layer portion 110a and the surface layer portion 100b (each of these layers is converted to one layer), for example, 30 to 200 layers, particularly 50 to 160 layers. be able to.

また、金属ニッケルは、本発明の積層コンデンサでは、表層部110a及び表層部110bの全体に亘って含有されるが、厚さ方向の一部にのみ層状に含有させることもできる。このうち、厚さ方向の一部にのみ層状に金属ニッケルが含有された表層部は、積層コンデンサの製造に際して未焼成誘電体層を複数層積層して未焼成表層部を形成し、これを焼成して表層部とする場合に、複数の未焼成誘電体層のうちの1部の層にのみ金属ニッケルを含有させることで形成することができる。 The metal nickel, the multilayer capacitor of the present invention, but Ru are contained throughout the surface layer portion 110a and the surface layer portion 110b, it may be contained in layers only on a part of the thickness direction. Of these, the surface layer part containing metallic nickel in a layer shape only in a part in the thickness direction is formed by laminating a plurality of unfired dielectric layers in the production of the multilayer capacitor, and forming the unfired surface layer part. When the surface layer portion is formed, it can be formed by including metallic nickel in only one portion of the plurality of unfired dielectric layers.

即ち、図2に例示されるように、表層部110a(表層部110bについても同様)が、4層のグリーンシートに由来してなる、層110a−1、層110a−2、層110a−3、層110a−4を備える(実際には各層は焼成により一体化されている)場合、本発明の積層コンデンサでは、層110a−1〜層110a−4の全層に金属ニッケルが含有される。本発明に含まれない積層コンデンサでは、表層部の両表面部には含まれない態様とすることもできる。即ち、層110a−1及び層110a−4には金属ニッケルが含有されず、層110a−2〜層110a−3にのみ金属ニッケルが含まれる態様や、層110a−1、層110a−2及び層110a−4には金属ニッケルが含有されず、層110a−3にのみ金属ニッケルが含まれる態様や、層110a−1、層110a−3及び層110a−4には金属ニッケルが含有されず、層110a−2にのみ金属ニッケルが含まれる態様などである。このように表層部の両表面部を除いた厚さ方向の一部にのみ層状に金属ニッケルが含有された態様では、表層部への金属ニッケルの含有による機械的特性の向上を実現させながら、内部電極層と外部電極層との間のより高い絶縁を得ることができる。また、この効果は、図2に例示された4層構成以外に、3層以上の構成を有すればどのような態様においても有効である。
尚、金属ニッケルが含有されないとは、意図的な含有、及び、意図的な層間移動による金属ニッケルの含有、のいずれもないことを意味し、この領域をX線回折測定した場合に金属Niのピークが確認されないことを意味する。
That is, as illustrated in FIG. 2, the surface layer portion 110a (the same applies to the surface layer portion 110b) is derived from four layers of green sheets, the layers 110a-1, 110a-2, 110a-3, when provided with a layer 110a-4 (which is integrated by actually firing each layer), the multilayer capacitor of the present invention, metallic nickel Ru are contained in all the layers of the layer 110a-. 1 to layer 110a-4. In the multilayer capacitor not included in the present invention, an aspect that is not included in both surface portions of the surface layer portion may be employed. That is, the layer 110a-1 and the layer 110a-4 do not contain metallic nickel, and the layer 110a-2 to the layer 110a-3 contain metallic nickel, or the layer 110a-1, the layer 110a-2, and the layer. 110a-4 does not contain metallic nickel, and the layer 110a-3 contains metallic nickel only, or the layers 110a-1, 110a-3 and 110a-4 contain no metallic nickel, For example, metallic nickel is included only in 110a-2. Thus, in an aspect in which metallic nickel is contained in a layer shape only in a part of the thickness direction excluding both surface portions of the surface layer portion, while realizing improvement in mechanical properties due to the inclusion of metallic nickel in the surface layer portion, Higher insulation between the internal electrode layer and the external electrode layer can be obtained. Further, this effect is effective in any mode as long as it has a configuration of three or more layers other than the four-layer configuration illustrated in FIG.
Note that the absence of metallic nickel means neither intentional inclusion nor intentional inclusion of metallic nickel, and when this region is subjected to X-ray diffraction measurement, It means that no peak is confirmed.

上記「内部電極層120」は、誘電体層110を介して対向配置された導電層である。この内部電極層120は金属ニッケルを主成分とする。「金属ニッケルを主成分とする」とは、内部電極層を100質量%とした場合、金属ニッケルの含有量が77.6質量%以上(100質量%であってもよい)であることを意味する。この含有量は77.6〜90.0質量%が好ましく、77.6〜85.6質量%がより好ましい。また、導電材料に他の金属が含有される場合、この他の金属の種類は特に限定されず、例えば、銅、タングステン、金、白金、パラジウム及び銀等が挙げられる。これらの他の金属は1種のみ含有されていてもよく、2種以上含有されていてよい。2種以上が含有される場合にあっては合金の形態で含有されてもよい。
尚、内部電極層120に含有される金属ニッケルの含有量はEPMAにより測定される。ビア電極140及び外部電極層150についても同様である。
The “internal electrode layer 120” is a conductive layer disposed so as to face the dielectric layer 110. The internal electrode layer 120 contains metallic nickel as a main component. “Containing metal nickel as a main component” means that the content of metal nickel is 77.6% by mass or more (may be 100% by mass) when the internal electrode layer is 100% by mass. To do. This content is preferably 77.6-90.0% by mass, more preferably 77.6-85.6% by mass. Moreover, when another metal contains in a conductive material, the kind of this other metal is not specifically limited, For example, copper, tungsten, gold | metal | money, platinum, palladium, silver etc. are mentioned. These other metals may be contained alone or in combination of two or more. When two or more kinds are contained, they may be contained in the form of an alloy.
The content of metallic nickel contained in the internal electrode layer 120 is measured by EPMA. The same applies to the via electrode 140 and the external electrode layer 150.

内部電極層120には、ニッケル等の金属を除く他の成分が含有されていてもよい。この金属を除く他の成分としては、誘電体層110を構成するチタン酸バリウムが挙げられる。内部電極層120にチタン酸バリウムが含有されることで、内部電極層120と誘電体層110との焼成後の密着性及び接合強度等をより向上させることができる。電極内に含有されるチタン酸バリウムの含有量は、内部電極層100体積%に対して1〜30体積%が好ましく、5〜30体積%がより好ましく、15〜25体積%が更に好ましい。
尚、内部電極層120を構成する導電材料は、後記のビア電極及び外部電極層の各々を構成する導電材料と組成が同じでもよく、異なっていてもよいが、それぞれの電極同士の密着性及び接合強度等の観点で同じであることが好ましい。
The internal electrode layer 120 may contain other components excluding metals such as nickel. As other components excluding this metal, barium titanate constituting the dielectric layer 110 can be cited. By containing barium titanate in the internal electrode layer 120, the adhesion and bonding strength after firing of the internal electrode layer 120 and the dielectric layer 110 can be further improved. 1-30 volume% is preferable with respect to 100 volume% of internal electrode layers, as for content of barium titanate contained in an electrode, 5-30 volume% is more preferable, and 15-25 volume% is still more preferable.
The conductive material constituting the internal electrode layer 120 may have the same composition as or different from the conductive material constituting each of the via electrode and the external electrode layer described later. The same is preferable in terms of bonding strength and the like.

内部電極層120の平面形状及び厚さ等は特に限定されないが、その厚さは内部電極層120間の誘電体層110より薄いことが好ましく、より具体的には、0.5〜5μm、特に0.5〜2μmであることが好ましい。更に、内部電極層120の層数(積層数)も特に限定されないが、例えば、内部電極層120間の誘電体層110より1層多い層数とすることができる。   The planar shape and thickness of the internal electrode layer 120 are not particularly limited, but the thickness is preferably thinner than the dielectric layer 110 between the internal electrode layers 120, more specifically 0.5 to 5 μm, particularly It is preferable that it is 0.5-2 micrometers. Furthermore, the number of layers (stacking number) of the internal electrode layers 120 is not particularly limited. For example, the number of layers may be one more than the dielectric layer 110 between the internal electrode layers 120.

上記「ビア電極140」は、複数の内部電極層120同士を電気的に接続している導電体である。ビア電極140は、通常、複数の誘電体層110(表層部110a、110bを含む。)と複数の内部電極層120とを積層方向に貫通して配置される。また、各々のビア電極140の端面は外部電極層150と接続される。更に、ビア電極140は、その側面において一部の内部電極層120と電気的に接続される。このビア電極140は金属ニッケルを主成分とし、ビア電極140を100質量%とした場合に金属ニッケルを77.6質量%以上(100質量%であってもよい)含有する。この含有量は77.6〜90.0質量%が好ましく、77.6〜85.6質量%がより好ましい。また、この導電材料に、ニッケルを除く他の金属、及び金属を除く他の成分が含有されていてもよいことは内部電極層120の場合と同様である。   The “via electrode 140” is a conductor that electrically connects the plurality of internal electrode layers 120. The via electrode 140 is generally disposed through the plurality of dielectric layers 110 (including the surface layer portions 110a and 110b) and the plurality of internal electrode layers 120 in the stacking direction. Further, the end face of each via electrode 140 is connected to the external electrode layer 150. Furthermore, the via electrode 140 is electrically connected to a part of the internal electrode layer 120 on its side surface. The via electrode 140 contains metallic nickel as a main component, and contains 77.6 mass% or more (or 100 mass%) of metallic nickel when the via electrode 140 is 100 mass%. This content is preferably 77.6-90.0% by mass, more preferably 77.6-85.6% by mass. Further, as in the case of the internal electrode layer 120, this conductive material may contain other metals other than nickel and other components other than the metal.

上記「外部電極層150」は、積層コンデンサ100の外表面のうちの一面100a及び/又は対面100bに配設されるとともに、ビア電極140の端面と電気的に接続されている導電体である。この外部電極層150は、積層コンデンサ100の一面100a及び対面100bの両面に形成されていてもよく、一面100a又は対面100bのみに形成されていてもよい。外部電極層150は、積層コンデンサ100において、外部からの電源供給用端子、及びグランド接続用端子等として機能させることができる。   The “external electrode layer 150” is a conductor that is disposed on one surface 100 a and / or the opposite surface 100 b of the outer surface of the multilayer capacitor 100 and is electrically connected to the end surface of the via electrode 140. The external electrode layer 150 may be formed on both the one surface 100a and the facing surface 100b of the multilayer capacitor 100, or may be formed only on the one surface 100a or the facing surface 100b. The external electrode layer 150 can function as an external power supply terminal, a ground connection terminal, and the like in the multilayer capacitor 100.

外部電極層150の形態は特に限定されず、(1)各々のビア電極140に対応して個別に形成された電極であってもよく(図4参照)、(2)複数のビア電極140に共用される電極であってもよい(図5参照)が、本発明の積層コンデンサでは、上記(2)を含む。上記(1)の形態では、それぞれの外部電極層150の平面形状は特に限定されないが、例えば、円形、楕円形、四角形以上の多角形、及び十字形等とすることができる。これらの形状は1個の積層コンデンサ100において同じであってもよく、異なっていてもよい。更に、上記(2)の形態では、外部電極層150の平面形状は特に限定されないが、例えば、内部電極層120と同様に、後記のように、他群のビア電極との接続を避けるためのクリアランスホール153を備える連続した一体の外部電極層150とすることができる(図5参照)。 The form of the external electrode layer 150 is not particularly limited, and may be (1) an electrode formed individually corresponding to each via electrode 140 (see FIG. 4), or (2) a plurality of via electrodes 140. Although the electrode may be shared (see FIG. 5) , the multilayer capacitor of the present invention includes (2) above . In the form of (1), the planar shape of each external electrode layer 150 is not particularly limited, but may be, for example, a circle, an ellipse, a quadrilateral or more, and a cross. These shapes may be the same or different in one multilayer capacitor 100. Furthermore, in the form of (2) above, the planar shape of the external electrode layer 150 is not particularly limited. For example, as in the case of the internal electrode layer 120, as described later, to avoid connection with other groups of via electrodes. It can be set as the continuous integral external electrode layer 150 provided with the clearance hole 153 (refer FIG. 5).

また、外部電極層150は金属ニッケルを主成分とし、外部電極層を100質量%とした場合に金属ニッケルを77.6質量%以上(100質量%であってもよい)含有する。この含有量は77.6〜90.0質量%が好ましく、77.6〜85.6質量%がより好ましい。また、この導電材料に、ニッケルを除く他の金属、及び金属を除く他の成分が含有されていてもよいことは内部電極層120及びビア電極140の場合と同様である。   Further, the external electrode layer 150 contains metallic nickel as a main component, and contains 77.6 mass% or more (or 100 mass%) of metallic nickel when the external electrode layer is 100 mass%. This content is preferably 77.6-90.0% by mass, more preferably 77.6-85.6% by mass. In addition, as in the case of the internal electrode layer 120 and the via electrode 140, the conductive material may contain other metals other than nickel and other components other than the metal.

更に、図6に例示されるように、外部電極層150は、その外表面(誘電体層110及びビア電極140と接していない表面)に、他の金属を用いてなるめっき層160を有することができる。後述するような積層コンデンサを内蔵したキャパシタ内蔵配線基板等として利用する場合には、配線基板の導体として汎用されている銅との接続性に優れることから、めっき層160として銅を用いることができる。また、金属ニッケルに比べてより酸化し難いことから、めっき層160として金を用いることができる。また、外部電極層150にチタン酸バリウム等の金属以外の他の成分が含有されている場合は、外部電極層150とめっき層160とをより十分に密着させるために、2層以上の複層のめっき層160とすることができる。即ち、例えば、外部電極層150の外表面に接して形成された金属ニッケルめっき層162と、この金属ニッケルめっき層162の外表面に接して形成された金めっき層161と、の2層のめっき層160とすることができる(図6参照)。   Furthermore, as illustrated in FIG. 6, the external electrode layer 150 has a plating layer 160 made of another metal on the outer surface (the surface not in contact with the dielectric layer 110 and the via electrode 140). Can do. When used as a wiring board with a built-in capacitor having a built-in multilayer capacitor as will be described later, copper can be used as the plating layer 160 because it has excellent connectivity with copper, which is widely used as a conductor of the wiring board. . Further, since it is more difficult to oxidize compared to metallic nickel, gold can be used as the plating layer 160. In addition, when the external electrode layer 150 contains a component other than a metal such as barium titanate, two or more layers are used in order to more fully adhere the external electrode layer 150 and the plating layer 160. The plating layer 160 can be obtained. That is, for example, two-layer plating of a metal nickel plating layer 162 formed in contact with the outer surface of the external electrode layer 150 and a gold plating layer 161 formed in contact with the outer surface of the metal nickel plating layer 162. It can be layer 160 (see FIG. 6).

ここで、積層コンデンサ100が備える各々の電極の相関について詳しく説明する。
積層コンデンサ100が備える、内部電極層120、ビア電極140及び外部電極層150は、通常、それぞれ互いに電気的に絶縁された少なくとも2個の群からなる。例えば、内部電極層120は、第1群の内部電極層121と、第1群の内部電極層121とは絶縁された第2群の内部電極層122と、を有する。同様に、ビア電極140は、第1群のビア電極141と、第1群のビア電極141とは絶縁された第2群のビア電極142と、を有する。更に、外部電極層150は、第1群の外部電極層151と、第1群の外部電極層151とは絶縁された第2群の内部電極層152と、を有する。この電気的に絶縁された各々の群は、上記のように2群でもよく、3群以上であってもよい。
Here, the correlation between the electrodes of the multilayer capacitor 100 will be described in detail.
The internal electrode layer 120, the via electrode 140, and the external electrode layer 150 included in the multilayer capacitor 100 are usually composed of at least two groups that are electrically insulated from each other. For example, the internal electrode layer 120 includes a first group of internal electrode layers 121 and a second group of internal electrode layers 122 insulated from the first group of internal electrode layers 121. Similarly, the via electrode 140 includes a first group of via electrodes 141 and a second group of via electrodes 142 that are insulated from the first group of via electrodes 141. Further, the external electrode layer 150 includes a first group of external electrode layers 151 and a second group of internal electrode layers 152 that are insulated from the first group of external electrode layers 151. Each electrically insulated group may be two groups as described above, or three or more groups.

上記2群よりなる場合についてより具体的に説明すれば、図1及び図9のように、第1群の内部電極層121、第1群のビア電極141、及び第1群の外部電極層151は、互いに電気的に接続されている。また、第2群の内部電極層122、第2群のビア電極142、及び第2群の外部電極層152は、互いに電気的に接続されている。そして、第1群の内部電極層121、第1群のビア電極141、及び第1群の外部電極層151は、第2群の内部電極層122、第2群のビア電極142、及び第2群の外部電極層152と絶縁されている。これらのうち、第1群の内部電極層121と第2群の内部電極層122とは、互いに誘電体層110を介して対向配置されることで絶縁され、これによってコンデンサとして機能することになる。   More specifically, the case of the two groups will be described. As shown in FIGS. 1 and 9, the first group of internal electrode layers 121, the first group of via electrodes 141, and the first group of external electrode layers 151. Are electrically connected to each other. The second group of internal electrode layers 122, the second group of via electrodes 142, and the second group of external electrode layers 152 are electrically connected to each other. The first group of internal electrode layers 121, the first group of via electrodes 141, and the first group of external electrode layers 151 include the second group of internal electrode layers 122, the second group of via electrodes 142, and the second group. It is insulated from the external electrode layer 152 of the group. Among these, the first group of internal electrode layers 121 and the second group of internal electrode layers 122 are insulated by being opposed to each other via the dielectric layer 110, thereby functioning as a capacitor. .

第1群と第2群は、第1群のビア電極141と第1群の内部電極層121とは電気的に接続される一方、第1群のビア電極141と第2群の内部電極層122とはクリアランスホール123を介して絶縁され、同様に、第2群の内部電極層122と第2群のビア電極142とは電気的に接続される一方、第2群のビア電極142と第1群の内部電極層121とはクリアランスホール123(図3参照)を介して絶縁されるような構成となっている。   In the first group and the second group, the first group of via electrodes 141 and the first group of internal electrode layers 121 are electrically connected, while the first group of via electrodes 141 and the second group of internal electrode layers are electrically connected. 122 is insulated through a clearance hole 123. Similarly, the second group of internal electrode layers 122 and the second group of via electrodes 142 are electrically connected, while the second group of via electrodes 142 and the second group of via electrodes 142 are electrically connected to each other. It is configured to be insulated from the group of internal electrode layers 121 via clearance holes 123 (see FIG. 3).

[2]積層コンデンサの製造方法
本発明の積層コンデンサを製造する方法は特に限定されないが、例えば、以下のようにして製造することができる。
積層コンデンサ100は、未焼成積層体形成工程(P1)と、貫通孔形成工程(P2)と、未焼成ビア電極形成工程(P3)と、未焼成外部電極層形成工程(P4)と、をこの順に備える方法によって製造することができる(図9参照)。
尚、以下、未焼成積層体形成工程(P1)で形成された未焼成積層体を「未焼成第1積層体131」、貫通孔形成工程(P2)で未焼成第1積層体に貫通孔が形成された積層体を「未焼成第2積層体132」、未焼成ビア電極形成工程(P3)で未焼成第2積層体に未焼成ビア電極が形成された積層体を「未焼成第3積層体133」、未焼成外部電極層形成工程(P4)で未焼成第3積層体に未焼成外部電極層が形成された積層体を「未焼成第4積層体134」、という。
[2] Method for Manufacturing Multilayer Capacitor The method for manufacturing the multilayer capacitor of the present invention is not particularly limited. For example, the multilayer capacitor can be manufactured as follows.
The multilayer capacitor 100 includes an unsintered laminated body forming step (P1), a through-hole forming step (P2), an unfired via electrode forming step (P3), and an unfired external electrode layer forming step (P4). It can manufacture by the method of providing in order (refer FIG. 9).
Hereinafter, the unfired laminated body formed in the unfired laminated body forming step (P1) is referred to as “unfired first laminated body 131”, and the through-hole is formed in the unfired first laminated body in the through-hole forming step (P2). The formed laminate is “unfired second laminate 132”, and the laminate in which the unfired via electrode is formed on the unfired second laminate in the unfired via electrode formation step (P3) is referred to as “unfired third laminate”. Body 133 ”, and the laminate in which the unfired external electrode layer is formed on the unfired third laminate in the unfired external electrode layer forming step (P4) is referred to as“ unfired fourth laminate 134 ”.

未焼成積層体形成工程(P1)は、誘電体層110となる未焼成誘電体層110と、内部電極層用ペーストを印刷して形成した内部電極層120となる未焼成内部電極層120と、が交互に積層された構造を有する未焼成第1積層体131を形成する工程である。また、この未焼成第1積層体131は、誘電体層110のうちの一面側の表層部110aが形成されることとなる未焼成表層部110aと、対面側の表層部110bが形成されることとなる未焼成表層部110bと、を備える。   The unfired laminated body forming step (P1) includes an unfired dielectric layer 110 to be the dielectric layer 110, an unfired internal electrode layer 120 to be the internal electrode layer 120 formed by printing the internal electrode layer paste, Is a step of forming an unfired first laminated body 131 having a structure in which are alternately laminated. In addition, the unfired first laminated body 131 is formed with an unfired surface layer portion 110a on which the surface layer portion 110a on one side of the dielectric layer 110 is formed and a surface layer portion 110b on the facing side. And an unfired surface layer portion 110b.

未焼成誘電体層110(表層部110a、110bを含む。)は、焼成後に誘電体層110となる未焼成体であり、誘電体層110を構成することとなるチタン酸バリウム粉末と必要に応じて燒結助剤粉末などとが含有される。また、表層部110a及び表層部110bとなる未焼成体には、チタン酸バリウム粉末と焼成後に金属ニッケルを与えるニッケル成分と必要に応じて燒結助剤粉末などとが含有される。
上記ニッケル成分はどのようなものであってもよく、金属ニッケル、ニッケル塩(粉末状及び水溶液状などとして利用)、酸化ニッケル、及び他のニッケル化合物(ニッケル塩及び酸化ニッケルを除く)等が挙げられる。これらは1種のみを用いてもよく、2種以上を併用してもよい。このうちニッケル塩としては、硝酸ニッケル、炭酸ニッケル、酢酸ニッケル等が挙げられる。他のニッケル化合物としては水酸化ニッケル等が挙げられる。
The unsintered dielectric layer 110 (including the surface layer portions 110a and 110b) is an unsintered body that becomes the dielectric layer 110 after firing, and a barium titanate powder that forms the dielectric layer 110 and, if necessary. And a sintering aid powder. In addition, the unfired bodies that become the surface layer portion 110a and the surface layer portion 110b contain a barium titanate powder, a nickel component that gives metallic nickel after firing, and a sintering aid powder as necessary.
The nickel component may be any material, such as metallic nickel, nickel salt (used as powder and aqueous solution), nickel oxide, and other nickel compounds (excluding nickel salt and nickel oxide). It is done. These may use only 1 type and may use 2 or more types together. Among these, examples of the nickel salt include nickel nitrate, nickel carbonate, and nickel acetate. Examples of other nickel compounds include nickel hydroxide.

上記表層部110a及び表層部110bとなる未焼成体中のニッケルは、ニッケル塩、酸化ニッケル及び他のニッケル化合物の状態で含有されてもよいものの、金属ニッケルとして含有されること好ましい。この金属ニッケルは、どのようにして形成してもよいが、好ましくは、チタン酸バリウム粉末及びチタン酸バリウムに対する燒結助剤粉末及び添加剤粉末(CaO、SiO、MnO、Yなど)を含む混合粉末と、ニッケル塩を溶解させた液体(水又は有機溶剤を溶媒として利用できる)と、を湿式混合した後、得られたペーストを還元雰囲気下で仮焼(600〜800℃)することで得る。得られたチタン酸バリウム、燒結助剤及び金属ニッケルが含有された仮焼粉末と有機成分(バインダー、可塑剤、分散剤及び溶剤など)とを混合し、シート成形することで表層部110a及び表層部110bとなるグリーンシートが得られる。得られたグリーンシートは1枚のみで表層部110a及び表層部110bとなる未焼成体として用いてもよく、複層化して表層部110a及び表層部110bとなる未焼成体として用いてもよい。 The nickel in the green body that becomes the surface layer part 110a and the surface layer part 110b may be contained in the form of nickel salt, nickel oxide, and other nickel compounds, but is preferably contained as metallic nickel. The metallic nickel may be formed by any method, but preferably, a barium titanate powder and a sintering aid powder and additive powder (CaO, SiO 2 , MnO 2 , Y 2 O 3, etc.) for barium titanate. ) And a liquid in which a nickel salt is dissolved (water or an organic solvent can be used as a solvent), and the resulting paste is calcined in a reducing atmosphere (600 to 800 ° C.) To get it. The obtained calcined powder containing barium titanate, a sintering aid and metallic nickel and an organic component (binder, plasticizer, dispersant, solvent, etc.) are mixed and formed into a sheet to form a surface layer portion 110a and a surface layer. A green sheet serving as the portion 110b is obtained. The obtained green sheet may be used alone as an unsintered body that becomes the surface layer part 110a and the surface layer part 110b, or may be used as an unsintered body that becomes the surface layer part 110a and the surface layer part 110b.

未焼成内部電極層120は、内部電極用ペーストを用いて形成された未焼成体であり、焼成後に内部電極層120となる。また、未焼成内部電極層120は、通常、内部電極用ペーストを未焼成誘電体層110の表面に印刷して形成される。更に、内部電極用ペーストは、内部電極層120に関して説明したように、一部のビア電極140との絶縁を図るため、クリアランスホール123が形成されるように印刷される。このクリアランスホール123の形状は特に限定されないが、通常、円形である(図3参照)。寸法も特に限定されないが、コンデンサとしての性能の観点では、十分に絶縁させることができる範囲であり、且つ可能な限り径小であることが好ましい。特に、クリアランスホール123の直径Hと、後記のビア電極用の貫通孔の直径Hとの比(H/H)が2〜3であることが好ましい。 The unfired internal electrode layer 120 is an unfired body formed using an internal electrode paste, and becomes the internal electrode layer 120 after firing. The unfired internal electrode layer 120 is usually formed by printing an internal electrode paste on the surface of the unfired dielectric layer 110. Furthermore, the internal electrode paste is printed so that clearance holes 123 are formed in order to insulate it from some of the via electrodes 140 as described with respect to the internal electrode layer 120. The shape of the clearance hole 123 is not particularly limited, but is usually circular (see FIG. 3). The dimensions are not particularly limited, but from the viewpoint of performance as a capacitor, it is preferable that the dimensions are within a range that can be sufficiently insulated and that the diameter is as small as possible. In particular, the ratio (H 1 / H 2 ) between the diameter H 1 of the clearance hole 123 and the diameter H 2 of the through hole for a via electrode described later is preferably 2 to 3.

内部電極用ペーストは、印刷することで未焼成内部電極層120を形成するペーストである。この内部電極用ペーストには、焼成後に内部電極層120となる金属ニッケル粒子が主成分として含有される。その他、このペーストには、通常、誘電体層110との焼成後の密着性及び接合強度等を向上させるためのチタン酸バリウム等のセラミック粉末が含有される。また、ペーストの性状の調整等を目的として、有機バインダ、可塑剤、溶剤等の有機成分が含有される。更に、ペーストには、金属粒子の全量を100質量%とした場合に、1質量%以下の他の金属粒子、例えば、銅、タングステン、金、白金、パラジウム及び銀等の金属粒子が含有されていてもよいが、特に含有させる必要はなく、金属粒子の全量が金属ニッケル粒子であることが好ましい。   The internal electrode paste is a paste that forms the unfired internal electrode layer 120 by printing. This internal electrode paste contains, as a main component, metallic nickel particles that become the internal electrode layer 120 after firing. In addition, this paste usually contains ceramic powder such as barium titanate for improving the adhesion and bonding strength after firing with the dielectric layer 110. Moreover, organic components, such as an organic binder, a plasticizer, and a solvent, are contained for the purpose of adjusting the properties of the paste. Furthermore, when the total amount of metal particles is 100% by mass, the paste contains other metal particles of 1% by mass or less, for example, metal particles such as copper, tungsten, gold, platinum, palladium and silver. However, it is not particularly necessary to contain the metal particles, and the total amount of the metal particles is preferably metal nickel particles.

有機バインダとしては、アルキルセルロース(エチルセルロース、メチルセルロース等)及びニトロセルロースなどのセルロース類、アクリルエステル系樹脂(ポリメチルメタクリレートなど)等のアクリル系樹脂、ポリビニルブチラール等のブチラール系樹脂、フェノール系樹脂、並びにポリエステル系樹脂(アルキド樹脂等)などが挙げられる。また、可塑剤としては、フタル酸エステル(フタル酸ジエチル等)などが挙げられ、この可塑剤は、有機バインダの種類によって適宜選択して用いることが好ましい。更に、溶剤としては、ケトン系溶剤(アセトン、メチルエチルケトン等)、炭化水素系溶剤(シクロヘキサン、トルエン等)、1価アルコール(ターピネオール、ブチルカルビトール等)、及び多価アルコール(エチレングリコール、ジエチレングリコール等)などが挙げられる。有機バインダ、可塑剤及び溶剤は、それぞれ1種のみ用いてもよく、2種以上を併用してもよい。   Examples of the organic binder include celluloses such as alkyl cellulose (ethyl cellulose, methyl cellulose, etc.) and nitrocellulose, acrylic resins such as acrylic ester resins (polymethyl methacrylate, etc.), butyral resins such as polyvinyl butyral, phenol resins, and Polyester resin (alkyd resin etc.) etc. are mentioned. Examples of the plasticizer include phthalic acid esters (such as diethyl phthalate). The plasticizer is preferably selected and used depending on the type of organic binder. Furthermore, as solvents, ketone solvents (acetone, methyl ethyl ketone, etc.), hydrocarbon solvents (cyclohexane, toluene, etc.), monohydric alcohols (terpineol, butyl carbitol, etc.), and polyhydric alcohols (ethylene glycol, diethylene glycol, etc.) Etc. Only one type of organic binder, plasticizer and solvent may be used, or two or more types may be used in combination.

内部電極用ペーストに含有されるニッケル粒子、セラミック粉末、有機成分等の各々の成分の含有量は特に限定されない。適量のニッケル粒子、セラミック粉末、有機成分等を含有させることにより、未焼成積層体形成時の印刷性に優れ、また、ビア電極用ペースト及び外部電極用ペーストとの相関において、各々の導電体との密着性等が向上し、且つ焼成時の収縮挙動の相違による問題を生じないため好ましい。   The content of each component such as nickel particles, ceramic powder, and organic component contained in the internal electrode paste is not particularly limited. By including an appropriate amount of nickel particles, ceramic powder, organic components, etc., it is excellent in printability at the time of forming the unfired laminate, and in the correlation with the via electrode paste and the external electrode paste, This is preferable because the adhesion and the like are improved and a problem due to the difference in shrinkage behavior during firing does not occur.

未焼成第1積層体131は、未焼成誘電体層110と、未焼成内部電極層120とが交互に積層された構造を有する。また、一面側には未焼成表層部110a、及び対面側には未焼成表層部100bを備える。そして、この未焼成第1積層体131は、その後、未焼成第2積層体132、未焼成第3積層体133及び未焼成第4積層体134の形態を経た後、焼成され、積層コンデンサ100が製造される。   The unfired first stacked body 131 has a structure in which unfired dielectric layers 110 and unfired internal electrode layers 120 are alternately stacked. Further, an unfired surface layer portion 110a is provided on one side, and an unfired surface layer portion 100b is provided on the opposite side. The unfired first laminated body 131 is then fired after passing through the form of the unfired second laminated body 132, the unfired third laminated body 133, and the unfired fourth laminated body 134, and the multilayer capacitor 100 is formed. Manufactured.

未焼成第1積層体131の形成方法は特に限定されず種々の方法により形成することができる。例えば、複数の未焼成誘電体層110の各々の表面に未焼成内部電極層120を印刷形成した後、この未焼成内部電極層120が設けられた複数の未焼成誘電体層110を、一面側に形成された未焼成表層部110a、及び対面側に形成された未焼成表層部110bを含め、一括積層して未焼成第1積層体131を形成することができる(図7参照、未焼成表層部110a、110bは図示せず。)。また、1層の未焼成誘電体層110の一面に未焼成内部電極層120を印刷形成した後、この未焼成内部電極層120を覆うように他の未焼成誘電体層110を積層し、次いで、他の未焼成誘電体層110の表面に更に未焼成内部電極層120を印刷形成するという工程を繰り返して未焼成第1積層体131を形成することもできる(図8参照、未焼成表層部110a、110bは図示せず。)。   The method for forming the unfired first laminate 131 is not particularly limited, and can be formed by various methods. For example, after printing the unfired internal electrode layer 120 on the surface of each of the unfired dielectric layers 110, the unfired dielectric layer 110 provided with the unfired internal electrode layers 120 is formed on one side. The unfired first layered product 131 can be formed by stacking together the unfired surface layer part 110a formed on the surface and the unfired surface layer part 110b formed on the opposite side (see FIG. 7, unfired surface layer). (The parts 110a and 110b are not shown.) Further, after printing the unfired internal electrode layer 120 on one surface of the unfired dielectric layer 110, another unfired dielectric layer 110 is laminated so as to cover the unfired internal electrode layer 120, The unfired first laminated body 131 can also be formed by repeating the process of printing the unfired internal electrode layer 120 on the surface of another unfired dielectric layer 110 (see FIG. 8, unfired surface layer portion). 110a and 110b are not shown.)

貫通孔形成工程(P2)は、未焼成第1積層体131の一面及び対面の間を貫通する貫通孔132cを形成し、未焼成第2積層体132(未焼成ビア電極140が充填されていない貫通孔132cを有する未焼成積層体)とする工程である(図9参照)。貫通孔132cの形成方法は特に限定されず、パンチングによる穿孔でもよく、レーザー光照射による穿孔でもよく、これらの方法を併用してもよい。更に、その他の方法であってもよい。また、貫通孔132cの直径は特に限定されないが、通常、50μm以上であり、特に貫通孔132cの直径(即ち、未焼成ビア電極の外径)が70〜140μmである場合は、この製造方法とすることにより、密着性をより十分に向上させることができる。この直径は85〜130μmであることがより好ましい。   In the through-hole forming step (P2), a through-hole 132c penetrating between one surface and the opposite surface of the unfired first stacked body 131 is formed, and the unfired second stacked body 132 (unfired via electrode 140 is not filled). This is a step of forming an unfired laminated body having through-holes 132c (see FIG. 9). The method for forming the through-hole 132c is not particularly limited, and may be perforation by punching, perforation by laser light irradiation, or a combination of these methods. Furthermore, other methods may be used. Further, the diameter of the through hole 132c is not particularly limited, but is usually 50 μm or more, and particularly when the diameter of the through hole 132c (that is, the outer diameter of the unfired via electrode) is 70 to 140 μm, By doing so, adhesiveness can be improved more fully. This diameter is more preferably 85 to 130 μm.

未焼成ビア電極形成工程(P3)は、貫通孔132c内にビア電極140となるビア電極用ペーストを充填して未焼成ビア電極140を形成し、未焼成第3積層体133(未焼成ビア電極140を有し、且つ未焼成外部電極層150を有さない未焼成積層体)とする工程である(図9参照)。ビア電極用ペーストを貫通孔132c内に充填する方法は特に限定されず、スクリーン印刷等の印刷法により充填してもよく、ディスペンサーを用いて充填してもよく、これらの方法を併用してもよい。更に、その他の方法であってもよい。   In the unfired via electrode formation step (P3), the via electrode paste is formed by filling the through hole 132c with the via electrode paste to form the unfired via electrode 140, and the unfired third stacked body 133 (unfired via electrode) 140 and a non-fired laminate having no green external electrode layer 150) (see FIG. 9). The method for filling the via electrode paste into the through-hole 132c is not particularly limited, and it may be filled by a printing method such as screen printing, may be filled using a dispenser, or these methods may be used in combination. Good. Furthermore, other methods may be used.

ビア電極用ペーストは、貫通孔132c内に充填することで未焼成ビア電極140を形成するペーストである。このビア電極用ペーストには、焼成後にビア電極140となる金属ニッケル粒子が主成分として含有される。その他、内部電極用ペーストと同様に、チタン酸バリウム等のセラミック粉末、及び有機バインダ、可塑剤、溶剤等が含有される。また、内部電極用ペーストと同様に、他の金属粒子が含有されていてもよいが、特に含有させる必要はなく、金属粒子の全量が金属ニッケル粒子であることが好ましい。更に、ビア電極用ペーストに含有されるニッケル粒子、セラミック粉末、有機成分等の各々の成分の含有量は特に限定されず、適量を含有させることができる。   The via electrode paste is a paste for forming the unfired via electrode 140 by filling the through hole 132c. This via electrode paste contains, as a main component, metallic nickel particles that become the via electrode 140 after firing. In addition, similar to the internal electrode paste, ceramic powder such as barium titanate, organic binder, plasticizer, solvent and the like are contained. Further, similar to the internal electrode paste, other metal particles may be contained, but it is not particularly necessary to contain them, and the total amount of the metal particles is preferably metal nickel particles. Furthermore, the content of each component such as nickel particles, ceramic powder, and organic component contained in the via electrode paste is not particularly limited, and an appropriate amount can be contained.

未焼成外部電極層形成工程(P4)は、一面及び対面のうちの少なくとも一方の面に、外部電極層用ペーストを印刷して未焼成ビア電極140と接続される未焼成外部電極層150を形成する工程である(図9参照)。この未焼成外部電極層形成工程により、未焼成第4積層体134(未焼成ビア電極140及びこれに接続された未焼成外部電極層150を有する未焼成積層体)が形成される。この工程で形成される焼成後に外部電極層150となる未焼成外部電極層150の形態は特に限定されず、前記の積層コンデンサ100における外部電極層150の形態を説明した記載をそのまま適用することができる。   In the unfired external electrode layer forming step (P4), the unfired external electrode layer 150 connected to the unfired via electrode 140 is formed by printing the paste for the external electrode layer on at least one of the one side and the opposite side. (See FIG. 9). By this unfired external electrode layer forming step, unfired fourth stacked body 134 (unfired stacked body having unfired via electrode 140 and unfired external electrode layer 150 connected thereto) is formed. The form of the unfired external electrode layer 150 that becomes the external electrode layer 150 after firing formed in this step is not particularly limited, and the description of the form of the external electrode layer 150 in the multilayer capacitor 100 can be applied as it is. it can.

外部電極層用ペーストは、印刷することで未焼成外部電極層150を形成するペーストである。この外部電極層用ペーストには、焼成後に外部電極層150となる金属ニッケル粒子が主成分として含有される。その他、内部電極用ペーストと同様に、チタン酸バリウム等のセラミック粉末、及び有機バインダ、可塑剤、溶剤等が含有される。また、内部電極用ペーストと同様に、他の金属粒子が含有されていてもよいが、特に含有させる必要はなく、金属粒子の全量が金属ニッケル粒子であることが好ましい。更に、外部電極用ペーストに含有されるニッケル粒子、セラミック粉末、有機成分等の各々の成分の含有量は特に限定されず、適量を含有させることができる。   The external electrode layer paste is a paste that forms the unfired external electrode layer 150 by printing. This external electrode layer paste contains, as a main component, metallic nickel particles that become the external electrode layer 150 after firing. In addition, similar to the internal electrode paste, ceramic powder such as barium titanate, organic binder, plasticizer, solvent and the like are contained. Further, similar to the internal electrode paste, other metal particles may be contained, but it is not particularly necessary to contain them, and the total amount of the metal particles is preferably metal nickel particles. Furthermore, the content of each component such as nickel particles, ceramic powder, and organic component contained in the external electrode paste is not particularly limited, and an appropriate amount can be contained.

この未焼成外部電極層形成工程(P4)において形成する未焼成外部電極層150の形状及び寸法等は、前記の外部電極層150を形成することができればよく、特に限定されないが、1個の未焼成ビア電極140の未焼成外部電極層150との接続面積(未焼成ビア電極の端面の面積)をSとし、1個の未焼成外部電極層150の面積をSとした場合に、S/S≧1.5となる寸法であることが好ましい(図10参照)。即ち、通常、未焼成外部電極層150は、未焼成ビア電極140との接触面積を最大とするため、未焼成ビア電極140の端面の全面と接触することが好ましいが、S/S≧1.5であれば、未焼成ビア電極140の端面の全面を確実に未焼成外部電極層150と接触させることができる。 The shape and dimensions of the unfired external electrode layer 150 formed in the unfired external electrode layer formation step (P4) are not particularly limited as long as the external electrode layer 150 can be formed. contact area between the unfired outer electrode layer 150 of the firing via electrodes 140 (the area of the end face of the unfired via electrodes) and S V, the area of one unfired external electrode layer 150 in case of the S O, S The dimensions are preferably O 2 / S V ≧ 1.5 (see FIG. 10). That is, normally, the unfired external electrode layer 150 is preferably in contact with the entire end face of the unfired via electrode 140 in order to maximize the contact area with the unfired via electrode 140, but S O / S V ≧ If 1.5, the entire end face of the unfired via electrode 140 can be reliably brought into contact with the unfired external electrode layer 150.

更に、未焼成外部電極層150の寸法が大きいほど、ビア電極140及び誘電体層110と、外部電極層150との間の密着性を向上させることができる。即ち、図4のように、個別のビア電極140の各々に対応する未焼成外部電極層150を形成するよりも、図5のように、複数のビア電極140に共用される未焼成外部電極層150を形成するほうが、焼成後、ビア電極140及び誘電体層110と、外部電極層150との間の密着性をより顕著に向上させることができる。   Furthermore, the larger the dimension of the unfired external electrode layer 150, the better the adhesion between the via electrode 140 and the dielectric layer 110 and the external electrode layer 150 can be improved. That is, the unfired external electrode layer shared by the plurality of via electrodes 140 as shown in FIG. 5 is formed rather than the unfired external electrode layer 150 corresponding to each individual via electrode 140 as shown in FIG. Forming 150 can remarkably improve the adhesion between the via electrode 140 and the dielectric layer 110 and the external electrode layer 150 after firing.

第4未焼成積層体134を構成する各々の未焼成導電体の積層方向における厚さは、通常、未焼成内部電極層<未焼成外部電極層<未焼成ビア電極の順に大きく、積層方向の焼成収縮もこの順に大きくなる。そのため、上記のように、未焼成外部電極層150及び未焼成ビア電極140に含有されるセラミック粉末の含有量を、未焼成内部電極層120に含有されるセラミック粉末の含有量より多くすることで、それぞれの導電体と、未焼成誘電体層110との焼成収縮挙動をより巧く合わせ込むことができ、焼成後のクラック及び剥がれ等をより効果的に抑えることができる。   The thickness of each unfired conductor constituting the fourth unfired stacked body 134 in the stacking direction is usually larger in the order of unfired internal electrode layer <unfired external electrode layer <unfired via electrode, and is fired in the stacking direction. Shrinkage also increases in this order. Therefore, as described above, by making the content of the ceramic powder contained in the unfired external electrode layer 150 and the unfired via electrode 140 greater than the content of the ceramic powder contained in the unfired internal electrode layer 120, Further, the firing shrinkage behavior of each conductor and the unfired dielectric layer 110 can be combined more effectively, and cracks and peeling after firing can be more effectively suppressed.

[3]キャパシタ内蔵配線基板用の積層コンデンサ
本発明の積層コンデンサ100は、そのまま1個の部品として用いてもよいが、キャパシタ内蔵配線基板用の積層コンデンサ(基板内蔵用積層コンデンサ)として特に好適である。
キャパシタ内蔵配線基板10(図11参照)は、通常、基板コア部20と、基板コア部20内に収容されたキャパシタ部21(例えば、本発明の積層コンデンサ100が内蔵されてなる。)と、半導体素子90を搭載可能であり、且つ少なくともキャパシタ部21の両面側に積層されたビルドアップ部30a、30bと、を備える。
[3] Multilayer Capacitor for Capacitor-Incorporated Wiring Substrate The multilayer capacitor 100 of the present invention may be used as a single component as it is, but is particularly suitable as a multilayer capacitor for a capacitor-embedded wiring substrate (a multilayer capacitor for incorporating a substrate). is there.
The wiring board 10 with a built-in capacitor (see FIG. 11) usually has a board core part 20 and a capacitor part 21 (for example, the multilayer capacitor 100 of the present invention is housed) housed in the board core part 20. The semiconductor element 90 can be mounted, and at least build-up parts 30a and 30b stacked on both sides of the capacitor part 21 are provided.

基板コア部20は、キャパシタ部21を収容し、配線基板10全体を支持するコアである。基板コア20は、単なる板状体であってもよいが、通常、キャパシタ部21を収容する収容部201を有する。収容部201は、基板コア部20に設けられた貫通孔及び/又は有底孔により形成される。基板コア部20を構成する材料は特に限定されないが、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミド・トリアジン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂等の耐熱性を有する高分子材料を用いることが好ましい。更に、より優れた強度及び熱特性を有する基板コア部20とするため、ガラス繊維、ガラス繊維織布、ガラス繊維不織布、ポリアミド繊維、ポリアミド繊維不織布、ポリアミド繊維織布等を芯材として備えていてもよい。
尚、基板コア部20には、図11のように、その上面側20aと下面側20bとを導通するスルーホール導体202を設けることができる。このスルーホール導体はスルーホールの内部全体に充填されていてもよいが、スルーホール壁面に形成されたスルーホール導体202を除く他部が絶縁性硬化体203により閉塞された形態であってもよい。
The substrate core portion 20 is a core that accommodates the capacitor portion 21 and supports the entire wiring substrate 10. The substrate core 20 may be a simple plate-like body, but usually has a housing portion 201 that houses the capacitor portion 21. The accommodating part 201 is formed by a through hole and / or a bottomed hole provided in the substrate core part 20. Although the material which comprises the board | substrate core part 20 is not specifically limited, It is preferable to use the polymeric material which has heat resistance, such as an epoxy resin, a polyimide resin, a bismaleimide triazine resin, a polyphenylene ether resin. Further, in order to obtain the substrate core portion 20 having more excellent strength and thermal characteristics, glass fiber, glass fiber woven fabric, glass fiber nonwoven fabric, polyamide fiber, polyamide fiber nonwoven fabric, polyamide fiber woven fabric and the like are provided as a core material. Also good.
In addition, the through-hole conductor 202 which conducts the upper surface side 20a and the lower surface side 20b can be provided in the substrate core part 20 as shown in FIG. This through-hole conductor may be filled in the entire interior of the through-hole, but the other part except the through-hole conductor 202 formed on the wall surface of the through-hole may be closed with an insulating hardened body 203. .

キャパシタ部21は、基板コア部20内に収容された本発明の積層コンデンサ100により構成される。このキャパシタ部21は、通常、基板コア部20内に収容された状態で、エポキシ樹脂等の樹脂材料などの充填剤204によって収容部201内に固定されている(図11参照)。   The capacitor unit 21 includes the multilayer capacitor 100 of the present invention housed in the substrate core unit 20. The capacitor unit 21 is usually fixed in the storage unit 201 with a filler 204 such as a resin material such as an epoxy resin while being stored in the substrate core unit 20 (see FIG. 11).

ビルドアップ部30a、30bは、通常、基板コア部20及び基板コア部20に収容されたキャパシタ部21の両面側に積層され、導体層(31a及び31b)と層間絶縁層(32a及び32b)とを交互に積層して形成され、且つ最外層には、通常、レジスト層(321a及び321b)を備える。このビルドアップ部30a、30bは、配線基板10の一面側にのみ形成されてもよいが、通常、両面側に形成され、更には積層方向に対称形状に形成されることが好ましい。一般に、キャパシタ内蔵配線基板10の半導体素子90側の接続端子311aの端子間ピッチと、キャパシタ内蔵配線基板10のマザーボード側の接続端子311bの端子間ピッチとには大きな差がある。そのため、ビルドアップ部30a、30bを設けることで、このビルドアップ部30a、30b内でピッチを自在に調整して配線基板10の上面側(半導体素子搭載側)から下面側(マザーボード搭載側)へ異なる端子間ピッチの出力を行うようにすることができる(図11参照)。   The build-up portions 30a and 30b are usually stacked on both sides of the substrate core portion 20 and the capacitor portion 21 accommodated in the substrate core portion 20, and are composed of conductor layers (31a and 31b) and interlayer insulating layers (32a and 32b). Are alternately laminated, and the outermost layer is usually provided with resist layers (321a and 321b). The build-up portions 30a and 30b may be formed only on one surface side of the wiring substrate 10, but are usually formed on both surface sides and further preferably formed symmetrically in the stacking direction. In general, there is a large difference between the terminal pitch of the connection terminals 311a on the semiconductor element 90 side of the capacitor built-in wiring board 10 and the terminal pitch of the connection terminals 311b on the motherboard side of the capacitor built-in wiring board 10. Therefore, by providing the build-up portions 30a and 30b, the pitch can be freely adjusted in the build-up portions 30a and 30b, so that the wiring board 10 can be adjusted from the upper surface side (semiconductor element mounting side) to the lower surface side (motherboard mounting side). It is possible to output different pitches between terminals (see FIG. 11).

また、ビルドアップ部30a、30bの層間絶縁層32a、32bを構成する材料は特に限定されないが、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミド・トリアジン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂等の耐熱性を有する高分子材料を用いることが好ましい。更に、ビルドアップ部30a、30bを構成する導体層31a、31bは、必要に応じて、他層の導体層とビア等を通じて導通していてもよい。ビアを用いる場合、各々のビアの直上を避けて接続する非スタックドビア方式(各ビアはフィルドビアであってもよく、コンフォーマルビアであってもよい。)で積層してもよく、それぞれのビアの直上にビアを形成するスタックドビア方式(各ビアは、通常、フィルドビアである。)で積層してもよい。また、各々のビアの形式は、上面側のビルドアップ部30aと下面側のビルドアップ部30bとで同じでもよく、異なっていてもよい。   In addition, the material constituting the interlayer insulating layers 32a and 32b of the build-up portions 30a and 30b is not particularly limited, but a heat-resistant polymer material such as an epoxy resin, a polyimide resin, a bismaleimide / triazine resin, or a polyphenylene ether resin is used. It is preferable to use it. Furthermore, the conductor layers 31a and 31b constituting the build-up portions 30a and 30b may be electrically connected to other conductor layers through vias or the like as necessary. When using vias, they may be stacked in a non-stacked via method (each via may be a filled via or a conformal via) that is connected to avoid being directly above each via. A stacked via method in which a via is formed immediately above (each via is usually a filled via) may be stacked. The form of each via may be the same or different between the buildup portion 30a on the upper surface side and the buildup portion 30b on the lower surface side.

以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
[1]金属ニッケルを含むチタン酸バリウムの特性評価
(1)金属ニッケルの含有確認
チタン酸バリウム粉末と燒結助剤粉末(酸化カルシウム粉末、二酸化マンガン粉末及びイットリア粉末)とを混合した混合粉末に、ニッケル塩(硝酸ニッケル)を溶媒(エタノール)に溶解させた液体を加えて、湿式混合した。その後、混合物を乾燥させた後、還元雰囲気下700〜800℃で仮焼して、仮焼粉末を得た。得られた仮焼粉末をX線粉末回折測定(X線回折測定装置、株式会社リガク製、形式「Miniflex」)に供し、図12に示すX線回折チャートを得た。得られたピークからは、チタン酸バリウムのピークと金属ニッケルのピークとが認められたものの、酸化ニッケルのピークは認められなかった(図12参照)。
Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples.
[1] Characteristic evaluation of barium titanate containing metallic nickel (1) Confirmation of inclusion of metallic nickel In mixed powder in which barium titanate powder and sintering aid powder (calcium oxide powder, manganese dioxide powder and yttria powder) were mixed, A liquid in which a nickel salt (nickel nitrate) was dissolved in a solvent (ethanol) was added and wet mixed. Thereafter, the mixture was dried and calcined at 700 to 800 ° C. in a reducing atmosphere to obtain a calcined powder. The obtained calcined powder was subjected to X-ray powder diffraction measurement (X-ray diffraction measurement device, manufactured by Rigaku Corporation, format “Miniflex”) to obtain an X-ray diffraction chart shown in FIG. From the obtained peak, a peak of barium titanate and a peak of metallic nickel were recognized, but a peak of nickel oxide was not recognized (see FIG. 12).

(2)3点曲げ強度の評価
上記(1)と同様にして金属ニッケルの含有量が異なる8種類の仮焼粉末を得た。バインダ、分散剤及び溶剤を添加した上で造粒して造粒粉末を得た。得られた造粒粉末を粉末プレス成形した後、脱脂及び焼成(還元雰囲気下1100〜1300℃で焼成)して粗片を得た。得られた粗片の表面を研削加工して、金属ニッケル含有量が、0体積%、5体積%、10体積%、15体積%、20体積%、25体積%、30体積%及び35体積%である8種類の3点曲げ強度測定用の試験片(6mm×4mm×25mmの四角柱形状の試験片)を得た。
得られた試験片を用いて、スパン間隔16mm、曲げ速度0.5mm/分で3点曲げ強度の測定を行った。この結果を表1に示した。
(2) Evaluation of three-point bending strength Eight types of calcined powders having different metallic nickel contents were obtained in the same manner as (1) above. After adding a binder, a dispersant and a solvent, granulation was performed to obtain a granulated powder. The obtained granulated powder was powder press-molded and then degreased and fired (fired at 1100 to 1300 ° C. in a reducing atmosphere) to obtain coarse pieces. The surface of the obtained rough piece was ground and the metal nickel content was 0% by volume, 5% by volume, 10% by volume, 15% by volume, 20% by volume, 25% by volume, 30% by volume and 35% by volume. Eight types of test pieces for measuring the three-point bending strength (6 mm × 4 mm × 25 mm square columnar test pieces) were obtained.
Using the obtained test piece, three-point bending strength was measured at a span interval of 16 mm and a bending speed of 0.5 mm / min. The results are shown in Table 1.

(3)電気抵抗率の評価
上記(2)と同様にして8種類の仮焼粉末を用いて得られた各造粒粉末を粉末プレス成形した後、脱脂及び焼成(還元雰囲気下1100〜1300℃で焼成)して粗片を得た。得られた粗片の表面を研削加工して、金属ニッケル含有量が、0体積%、5体積%、10体積%、15体積%、20体積%、25体積%、30体積%及び35体積%である8種類の電気抵抗率測定用の試験片(厚さ1mm×直径14〜15mmの円板形状の試験片)を得た。得られた試験片の表裏面に銀電極(直径14mm)を焼き付け形成し、ハイレジスタンスメータ(Hewlett packard社製、形式「4339B」)を用い、100Vの電圧を60秒間負荷したときの電気的効率を測定し、その結果を表1に示した。
(3) Evaluation of electrical resistivity After granulating each granulated powder obtained using 8 types of calcined powder in the same manner as in (2) above, degreasing and firing (1100 to 1300 ° C. in a reducing atmosphere) To obtain coarse pieces. The surface of the obtained rough piece was ground and the metal nickel content was 0% by volume, 5% by volume, 10% by volume, 15% by volume, 20% by volume, 25% by volume, 30% by volume and 35% by volume. The eight types of test pieces for electrical resistivity measurement (thickness 1 mm × diameter 14-15 mm disk-shaped test pieces) were obtained. Silver electrodes (diameter 14 mm) were formed by baking on the front and back surfaces of the obtained test piece, and the electrical efficiency when a voltage of 100 V was applied for 60 seconds using a high resistance meter (manufactured by Hewlett Packard, model “4339B”) The results are shown in Table 1.

(4)熱伝導率の評価
上記(3)と同様にして、金属ニッケル含有量が、0体積%、5体積%、10体積%、15体積%、20体積%、25体積%、30体積%及び35体積%である8種類の熱伝導率測定用の試験片(厚さ1〜2mm×直径9〜10mmの円板形状の試験片)を得た。得られた試験片について熱伝導測定装置を用い、初期定常温度30℃に設定し、レーザーフラッシュ法により熱伝導率を測定した。尚、各試験片の密度は、アルキメデス法にて実測した。その結果を表1に示した。
(4) Evaluation of thermal conductivity In the same manner as (3) above, the metal nickel content is 0% by volume, 5% by volume, 10% by volume, 15% by volume, 20% by volume, 25% by volume, 30% by volume. And eight kinds of test pieces for measuring thermal conductivity (disk-shaped test pieces having a thickness of 1 to 2 mm and a diameter of 9 to 10 mm) of 35% by volume. The obtained test piece was set to an initial steady temperature of 30 ° C. using a thermal conductivity measuring device, and the thermal conductivity was measured by a laser flash method. In addition, the density of each test piece was measured by the Archimedes method. The results are shown in Table 1.

(5)焼成収縮率(1300℃焼成)の評価
上記(3)と同様にして、金属ニッケル含有量が、0体積%、5体積%、10体積%、15体積%、20体積%、25体積%、30体積%及び35体積%である8種類の焼成収縮率測定用の試験片(3mm×3mm×20mmの四角柱形状の試験片)を得た。得られた試験片を200〜350℃で脱脂した後、熱機械分析装置(株式会社リガク製、形式「TMA8310」、長さが既知であるアルミナ片と上記試験片の両端に一定荷重の負荷をかけて温度に対する伸縮を検出棒を介して記録する装置)を用いて毎分5℃の速度で1300℃まで昇温させた際の収縮率を測定し、その結果を表1に示した。
(5) Evaluation of firing shrinkage (fired at 1300 ° C.) In the same manner as in (3) above, the metal nickel content is 0% by volume, 5% by volume, 10% by volume, 15% by volume, 20% by volume, 25% by volume. %, 30% by volume, and 35% by volume of test pieces for measuring the baking shrinkage rate (3 mm × 3 mm × 20 mm square columnar test pieces) were obtained. After degreasing the obtained test piece at 200 to 350 ° C., a thermomechanical analyzer (manufactured by Rigaku Corporation, model “TMA8310”, an alumina piece having a known length and a constant load applied to both ends of the above test piece The shrinkage rate when the temperature was raised to 1300 ° C. at a rate of 5 ° C. per minute was measured using a device that records the expansion and contraction with respect to the temperature through a detection rod. The results are shown in Table 1.

Figure 0005324246
尚、金属ニッケルの体積含有率(焼成後の各誘電体層100体積%に含まれる金属ニッケルの体積割合)を質量含有率(焼成後の各誘電体層100質量%に含まれる金属ニッケルの質量割合)に換算すると、5体積%は7質量%、10体積%は14質量%、15体積%は21質量%、20体積%は27質量%、25体積%は33質量%、30体積%は39質量%、35体積%は44質量%、である。
Figure 0005324246
The volume content of metallic nickel (volume ratio of metallic nickel contained in 100% by volume of each dielectric layer after firing) is the mass content (mass of metallic nickel contained in 100% by weight of each dielectric layer after firing). 5% by volume is 7% by mass, 10% by volume is 14% by mass, 15% by volume is 21% by mass, 20% by volume is 27% by mass, 25% by volume is 33% by mass, and 30% by volume is 39% by mass and 35% by volume are 44% by mass.

[2]ビアアレイ型積層コンデンサによる耐熱衝撃評価
(1)未焼成誘電体層となるグリーンシートの作製
前記[1](1)と同様にして金属ニッケルの含有量が異なる9種類(焼成後に金属ニッケル含有量が、0体積%、5体積%、10体積%、15体積%、20体積%、25体積%、30体積%及び35体積%となる9種)の仮焼粉末を得た。得られた仮焼粉末にブチラール系バインダ、可塑剤及び溶剤を混合してスラリーを調製した。次いで、このスラリーを用いてドクターブレード法によりシートを成形し、その後、加熱して溶剤を除去してグリーンシートを作製した。尚、グリーンシートは、厚さ20μmのグリーンシート(焼成後15μm)と、厚さ5μmのグリーンシート(焼成後3μm)と、を用意し、厚さ20μmのものを表層部用に利用し、厚さ5μmのものをその他の誘電体層用に利用した。
[2] Thermal shock evaluation by via array type multilayer capacitor (1) Production of green sheet to be unfired dielectric layer 9 types (metal nickel after firing) with different metal nickel contents as in [1] (1) Nine types of calcined powders having a content of 0 vol%, 5 vol%, 10 vol%, 15 vol%, 20 vol%, 25 vol%, 30 vol% and 35 vol% were obtained. A slurry was prepared by mixing the obtained calcined powder with a butyral binder, a plasticizer and a solvent. Next, using this slurry, a sheet was formed by a doctor blade method, and then heated to remove the solvent to produce a green sheet. For the green sheet, a 20 μm thick green sheet (15 μm after firing) and a 5 μm thick green sheet (3 μm after firing) were prepared, and the 20 μm thick one was used for the surface layer. A thickness of 5 μm was used for the other dielectric layers.

(2)導電ペーストの調製
(a)内部電極用ペースト
金属ニッケル粉末、チタン酸バリウム粉末及び有機成分(有機バインダ、可塑剤及び溶剤)を、湿式混合して内部電極用ペーストを調製した。
(b)ビア電極用ペースト
金属ニッケル粉末、チタン酸バリウム粉末及び有機成分(有機バインダ、可塑剤及び溶剤)を、湿式混合してビア電極用ペーストを調製した。
(c)外部電極層用ペースト
金属ニッケル粉末、チタン酸バリウム粉末及び有機成分(有機バインダ、可塑剤及び溶剤)を、湿式混合して外部電極層用ペーストを調製した。
(2) Preparation of conductive paste (a) Internal electrode paste Metal nickel powder, barium titanate powder and organic components (organic binder, plasticizer and solvent) were wet mixed to prepare an internal electrode paste.
(B) Via electrode paste Metal nickel powder, barium titanate powder and organic components (organic binder, plasticizer and solvent) were wet mixed to prepare a via electrode paste.
(C) External electrode layer paste External nickel electrode layer paste was prepared by wet mixing metallic nickel powder, barium titanate powder and organic components (organic binder, plasticizer and solvent).

(3)未焼成積層体形成工程(P1)
上記(1)で得られたグリーンシートと上記(2)で得られた各種ペーストとを組み合わせて、未焼成内部電極層120が形成されると共に表2に示した構成を有する未焼成表層部110b、未焼成内部電極層120が形成された未焼成誘電体層110を積層・圧着してなる未焼成内部電極層と未焼成誘電体層とが交互に積層された未焼成積層部、未焼成表層部110bと同じ構成を有する未焼成表層部110a、がこの順に積層・圧着された未焼成第1積層体131を形成した。
(3) Unbaked laminate forming step (P1)
The green sheet obtained in (1) above and the various pastes obtained in (2) above are combined to form the unfired internal electrode layer 120 and the unfired surface layer portion 110b having the structure shown in Table 2. An unsintered laminated portion in which unsintered internal electrode layers and unsintered dielectric layers obtained by laminating and press-bonding unsintered dielectric layer 110 on which unsintered internal electrode layer 120 is formed are alternately stacked, unsintered surface layer An unfired first laminated body 131 was formed in which the unfired surface layer portion 110a having the same configuration as the portion 110b was laminated and pressure-bonded in this order.

(4)貫通孔形成工程(P2)
上記(3)で形成した未焼成第1積層体131に、レーザーにより、ビアホール132cを穿孔し、未焼成第2積層体132を形成した。
(4) Through-hole forming step (P2)
Via holes 132c were drilled in the unfired first laminate 131 formed in the above (3) with a laser to form an unfired second laminate 132.

(5)未焼成ビア電極形成工程(P3)
上記(4)で形成した未焼成第2積層体132に穿設されたビアホール132c内に、上記(2)(b)で調製したビア電極用ペーストをスクリーン印刷により充填し、未焼成ビア電極140を有する未焼成第3積層体133を形成した。
(5) Unfired via electrode formation step (P3)
The via electrode paste prepared in (2) and (b) above is filled into the via hole 132c formed in the unfired second laminated body 132 formed in (4) by screen printing, and the unfired via electrode 140 is filled. An unsintered third laminated body 133 having the structure was formed.

(6)未焼成外部電極層形成工程(P4)
上記(5)で形成した未焼成第3積層体133の表面に、上記(2)、(c)で調製された外部電極層用ペーストをスクリーン印刷し、未焼成外部電極層150が形成された未焼成第4積層体134を形成した。
(6) Unfired external electrode layer forming step (P4)
The external electrode layer paste prepared in (2) and (c) above was screen-printed on the surface of the unfired third laminate 133 formed in (5) to form the unfired external electrode layer 150. An unsintered fourth laminate 134 was formed.

(7)焼成工程
上記(6)で形成した未焼成第4積層体134を、窒素雰囲気下で脱脂し、その後、加湿した窒素水素混合ガス雰囲気下、1100〜1400℃で焼成し、実験例9〜17(実施例;実験例10〜15、比較例;実験例9及び16、参考例;実験例17)の積層コンデンサ100を各々80個製造した。
得られた積層コンデンサ100は、全体厚さ0.8mm、平均誘電体層厚さ3μm、内部電極層間に配置された誘電体層総数150層、平均表層部厚さ60μm、表面部構成層数4層(焼成により一体化されている)、平均内部電極層厚さ1μm、内部電極層総数150層である。
(7) Firing step The unfired fourth laminate 134 formed in (6) above was degreased in a nitrogen atmosphere, and then fired at 1100 to 1400 ° C in a humidified nitrogen-hydrogen mixed gas atmosphere. 80 multilayer capacitors 100 of ˜17 (Examples; Experimental Examples 10-15, Comparative Example; Experimental Examples 9 and 16, Reference Example; Experimental Example 17 ) were manufactured.
The obtained multilayer capacitor 100 has an overall thickness of 0.8 mm, an average dielectric layer thickness of 3 μm, a total of 150 dielectric layers disposed between the internal electrode layers, an average surface layer thickness of 60 μm, and a surface portion constituting layer number of 4 Layer (integrated by firing), average internal electrode layer thickness 1 μm, total number of internal electrode layers 150.

一方、上記(5)で形成した未焼成第3積層体133を、上記(6)未焼成外部電極層形成工程(P4)を経ず、即ち、外部電極層を形成せずに、窒素雰囲気下で脱脂し、その後、加湿した窒素水素混合ガス雰囲気下、1100〜1400℃で焼成し、実験例9〜17(実施例;実験例10〜15及び17、比較例;実験例9及び16)の外部電極層を有さない積層コンデンサ試験片を各々80個製造した。この外部電極層を有さない積層コンデンサ試験片は後述する耐熱衝撃試験に供したうえでクラック発生評価に用いた。   On the other hand, the unfired third laminated body 133 formed in the above (5) is not subjected to the above (6) unfired external electrode layer forming step (P4), that is, without forming an external electrode layer, in a nitrogen atmosphere. And then calcined at 1100 to 1400 ° C. in a humidified nitrogen-hydrogen mixed gas atmosphere. Examples 9 to 17 (Examples; Experimental Examples 10 to 15 and 17, Comparative Examples; Experimental Examples 9 and 16) 80 multilayer capacitor test pieces each having no external electrode layer were produced. The multilayer capacitor specimen having no external electrode layer was subjected to a thermal shock test described later and used for crack generation evaluation.

(8)耐熱衝撃試験
上記(7)までに得られた外部電極層を有する積層コンデンサをピンセットで挟持し、予熱せずに、溶融はんだ槽に浸漬し、2秒経過後取り出すことで熱衝撃を加えた。この熱衝撃は、温度差(熱衝撃温度差)が250℃、270℃及び300℃となるように浴温度を設定し、各温度で積層コンデンサ10個づつに対して課した。
その後、積層コンデンサを厚さ方向(積層断面が目視できる方向)に切断し、切断面を研磨し、研磨面を光学顕微鏡により観察して下記層間の剥離の有無及び下記クラックの有無を確認した。
上記層間の剥離とは、光学顕微鏡によって200倍に拡大した画面において目視で確認できる表層部に隣接した内層電極層と表層部との間の剥離である。この層間剥離が1ヶ所以上認められる積層コンデンサの数を換算し、試験総数に対する百分率として表2に示した。
上記クラックとは、蛍光探傷法によって確認できる表層部に確認されるひび割れである。このクラックが1ヶ所以上認められる積層コンデンサの数を換算し、試験総数に対する百分率として表2に示した。
(8) Thermal shock test The multilayer capacitor having the external electrode layer obtained up to the above (7) is sandwiched with tweezers, immersed in a molten solder bath without preheating, and taken out after 2 seconds to cause thermal shock. added. In this thermal shock, the bath temperature was set so that the temperature difference (thermal shock temperature difference) was 250 ° C., 270 ° C., and 300 ° C., and was imposed on 10 multilayer capacitors at each temperature.
Thereafter, the multilayer capacitor was cut in the thickness direction (direction in which the multilayer cross section can be visually observed), the cut surface was polished, and the polished surface was observed with an optical microscope to confirm the presence or absence of the following delamination and the presence or absence of the following cracks.
The delamination between the layers is a delamination between the inner electrode layer adjacent to the surface layer portion and the surface layer portion that can be visually confirmed on a screen magnified 200 times with an optical microscope. The number of multilayer capacitors where one or more delaminations are recognized is converted and shown in Table 2 as a percentage of the total number of tests.
The crack is a crack confirmed in the surface layer portion that can be confirmed by a fluorescent flaw detection method. The number of multilayer capacitors in which one or more cracks were observed was converted and shown in Table 2 as a percentage of the total number of tests.

(9)端子間抵抗値の評価
ハイレジスタンスメータ(アドバンテスト株式会社製、形式「R8340A」)のプローブ端子を、耐熱衝撃試験を経た外部電極層を有する積層コンデンサの端子に接触させて電圧20Vを30秒間印加して端子間抵抗値を測定し、表2に示した。
(9) Evaluation of resistance value between terminals A probe terminal of a high resistance meter (model “R8340A” manufactured by Advantest Corporation) is brought into contact with a terminal of a multilayer capacitor having an external electrode layer subjected to a thermal shock test, and a voltage of 20 V is applied. The resistance value between terminals was measured by applying for 2 seconds and shown in Table 2.

Figure 0005324246
尚、表2中の表層部の「配分」における、1層目は、図2における層110a−1(110b−1)に対応し、2層目は、図2における層110a−2(110b−2)に対応し、3層目は、図2における層110a−3(110b−3)に対応し、4層目は、図2における層110a−4(110b−4)に対応する。
Figure 0005324246
Note that the first layer in the “distribution” of the surface layer portion in Table 2 corresponds to the layer 110a-1 (110b-1) in FIG. 2, and the second layer corresponds to the layer 110a-2 (110b− in FIG. 2). Corresponding to 2), the third layer corresponds to the layer 110a-3 (110b-3) in FIG. 2, and the fourth layer corresponds to the layer 110a-4 (110b-4) in FIG.

表1の結果によれば、表層部の金属ニッケルの含有量が5〜30体積%の積層コンデンサ(実験例2〜7)では、金属ニッケルが含有されない積層コンデンサ(実験例1)に比べて、2〜6.9倍もの飛躍的な機械的特性の向上が認められると共に、金属ニッケル含有量が35体積%の積層コンデンサ(実験例8)に比べて11オーダー程度高い電気抵抗率と68%以下と小さい熱伝導率とを両立させることができた。更に、1300℃における焼成収縮率も実験例2〜7では小さく抑えられていることが分かる。   According to the results of Table 1, in the multilayer capacitor (Experimental Examples 2 to 7) in which the content of metallic nickel in the surface layer portion is 5 to 30% by volume, compared with the multilayer capacitor not containing metallic nickel (Experimental Example 1), A remarkable improvement in mechanical properties of 2 to 6.9 times is recognized, and an electrical resistivity higher by about 11 orders than a multilayer capacitor (Experimental Example 8) having a metal nickel content of 35% by volume and 68% or less. And a low thermal conductivity. Furthermore, it turns out that the baking shrinkage rate in 1300 degreeC is also restrained small in Experimental Examples 2-7.

また、表2の結果によれば、表層部に5体積%以上の金属ニッケルが含有されることで、飛躍的に耐熱衝撃性が向上されていることが分かる。即ち、金属ニッケルが含有されない実験例9では層間剥離が認められるものの、金属ニッケルが含有された実験例10〜17ではいずれの温度にも認められない。更に、実験例16と他の実験例とを比較することで、金属ニッケルの含有量を30体積%以下とすることで端子間抵抗値を4オーダー程度向上させることができることが分かる。また、金属ニッケル含有量を15〜30体積%とすることでクラックを更に著しく低減できた。
更に、金属ニッケル含有量が同等である場合、表層部の両表面部を除いた厚さ方向の一部にのみ層状に金属ニッケルが集中的に含有させた態様とすることにより、表層部の広い範囲に分散含有させる態様に比べて、より優れた絶縁性が得られることが、実験例13と実験例17との比較との比較、から分かる。
Moreover, according to the result of Table 2, it turns out that the thermal shock resistance is remarkably improved by containing 5 volume% or more of metallic nickel in a surface layer part. That is, delamination was observed in Experimental Example 9 containing no metallic nickel, but none of the temperatures was observed in Experimental Examples 10 to 17 containing metallic nickel. Furthermore, by comparing the experimental example 16 with other experimental examples, it can be seen that the resistance value between terminals can be improved by about 4 orders of magnitude by setting the content of metallic nickel to 30% by volume or less. Moreover, the crack could be further remarkably reduced by setting the metal nickel content to 15 to 30% by volume.
Furthermore, when the metal nickel content is the same, the surface layer portion has a wide surface layer by making the metal nickel intensively contained only in a part of the thickness direction excluding both surface portions of the surface layer portion. It can be seen from the comparison between the experimental example 13 and the experimental example 17 that superior insulating properties can be obtained as compared with the embodiment in which the dispersion is contained in the range.

尚、本発明においては、上記の具体的実施例に示すものに限られず、目的、用途に応じて本発明の範囲内で種々変更した実施例とすることができる。
尚、本発明には含まれないものの、例えば、表層部への金属ニッケルの他の配合例としては、(1)1層目10体積%、2層目10体積%、3層目10体積%、4層目0体積%とし、表層部全体では7.5体積%の金属ニッケルが含有された構成としたり、(2)1層目10体積%、2層目10体積%、3層目0体積%、4層目0体積%とし、表層部全体では5体積%の金属ニッケルが含有された構成としたり、できる。
また、本発明には含まれないものの、本発明における表層部に含有される金属ニッケルは金属コバルトで機能的には代用できる。しかし、金属コバルトは金属ニッケルに比べて高価でありコスト的には代用が難しい。
In addition, in this invention, it can restrict to what is shown to said specific Example, It can be set as the Example variously changed within the range of this invention according to the objective and the use.
Although not included in the present invention, for example, other blending examples of metallic nickel in the surface layer part include (1) 10% by volume of the first layer, 10% by volume of the second layer, and 10% by volume of the third layer. The fourth layer has a volume of 0% by volume, and the entire surface layer portion contains 7.5% by volume of metallic nickel. (2) 10% by volume of the first layer, 10% by volume of the second layer, 0 of the third layer The volume% and the fourth layer may be 0 volume%, and the entire surface layer portion may contain 5 volume% metallic nickel.
Further, although not included in the present invention, the metallic nickel contained in the surface layer portion in the present invention can be functionally substituted with metallic cobalt. However, metallic cobalt is more expensive than metallic nickel and is difficult to substitute in terms of cost.

100;積層コンデンサ(未焼成積層コンデンサ)、100a;一面、100b;対面、
110;誘電体層(未焼成積層誘電体層)、110a;表層部、110b;表層部、
120;内部電極層(未焼成積層内電極層)、121;第1群の内部電極層、122;第2群の内部電極層、
131;未焼成第1積層体、132;未焼成第2積層体、133;未焼成第3積層体、134;未焼成第4積層体、
140;ビア電極(未焼成ビア電極)、
150;外部電極層(未焼成外部電極層)、
160;めっき層、161;外表面めっき層、162;層間めっき層、
10;キャパシタ内蔵配線基板、
20;基板コア部、201;収容部、204;充填剤、202;スルーホール導体、203;硬化体、21;キャパシタ部(積層コンデンサ)、30a;上面側のビルドアップ部、30b;下面側のビルドアップ部、31a、31b;導体層、311a、311b;接続端子(キャパシタ内蔵配線基板表面の接続端子)、32a、32b;層間絶縁層、321a、321b;ソルダーレジスト層、
90;半導体素子。
100; multilayer capacitor (unfired multilayer capacitor), 100a; one side, 100b;
110; dielectric layer (unfired laminated dielectric layer), 110a; surface layer portion, 110b; surface layer portion,
120; internal electrode layer (unfired laminated internal electrode layer), 121; first group of internal electrode layers, 122; second group of internal electrode layers,
131; unfired first laminate, 132; unfired second laminate, 133; unfired third laminate, 134; unfired fourth laminate,
140; via electrode (unfired via electrode),
150; external electrode layer (unfired external electrode layer),
160; plating layer, 161; outer surface plating layer, 162; interlayer plating layer,
10; capacitor built-in wiring board,
20; Substrate core portion, 201; Housing portion, 204; Filler, 202; Through-hole conductor, 203; Cured body, 21; Capacitor portion (multilayer capacitor), 30a; Build-up portion on the upper surface side, 30b; Build-up part, 31a, 31b; conductor layer, 311a, 311b; connection terminal (connection terminal on the surface of the capacitor built-in wiring board), 32a, 32b; interlayer insulation layer, 321a, 321b; solder resist layer,
90: Semiconductor element.

Claims (3)

一面及び対面を有する積層コンデンサにおいて、
上記一面及び上記対面の間に形成された複数の誘電体層と、該誘電体層を介して積層された複数の内部電極層と、該内部電極層同士を電気的に接続している複数のビア電極と、該ビア電極と電気的に接続されると共に該一面及び/又は該対面に配設された外部電極層と、を備え、
上記内部電極層、上記ビア電極及び上記外部電極層は金属ニッケルを主成分とし、
上記誘電体層はチタン酸バリウムを主成分とすると共に、上記一面側及び上記対面側各表層部を有し、該表層部を構成する該誘電体層は、その全層に金属ニッケルを含み
上記外部電極層として、複数の上記ビア電極を連結した一体のものを少なくとも1つ有することを特徴とする積層コンデンサ。
In the multilayer capacitor having one side and the opposite side,
A plurality of dielectric layers formed between the first surface and the facing, and dielectric material layer a plurality of internal electrode layers are stacked through, a plurality of electrically connected to each other internal electrode layer A via electrode, and an external electrode layer electrically connected to the via electrode and disposed on the one surface and / or the opposite surface,
The internal electrode layer, the via electrode and the external electrode layer are mainly composed of metallic nickel,
Together with the dielectric layer is composed mainly of barium titanate, it has a respective surface layer portion on one surface and the opposite side above, dielectric layer constituting the surface layer portion includes a metallic nickel on the entire layer ,
A multilayer capacitor comprising at least one external electrode layer connected with a plurality of the via electrodes .
上記表層部に含まれる金属ニッケルは、各該表層部を100体積%とした場合に各々3〜30体積%である請求項1に記載の積層コンデンサ。   2. The multilayer capacitor according to claim 1, wherein the metal nickel contained in the surface layer part is 3 to 30% by volume, with each surface layer part being 100% by volume. 3. 上記表層部の厚さは各々10〜100μmである請求項1又は2に記載の積層コンデンサ。   The multilayer capacitor according to claim 1 or 2, wherein each of the surface layer portions has a thickness of 10 to 100 µm.
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