JP5323098B2 - X線コンピュータ断層撮影装置及びx線コンピュータ断層撮影法による対象物の検査方法 - Google Patents
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- − X線放射(6)を生成するためのX線源(3)と、
− 前記X線放射(6)を検出するためのX線検出器(4)と、
− 検査対象物(2)を前記X線源(3)と前記X線検出器(4)との間に位置決めするための対象物支持体(5)と、
− 前記検出されたX線放射(6)を評価するための評価ユニット(18)と、
を含む、X線コンピュータ断層撮影法により対象物を検査するためのX線コンピュータ断層撮影装置において、
− 前記X線放射(6)の第1の強度(I0)を計測するための第1の強度計測装置(13)が、前記X線源(3)と前記対象物支持体(5)との間に配置され、
− 前記X線放射(6)の第2の強度(I1)を計測するための第2の強度計測装置(15)が、前記対象物(2)の投影領域(10)の外側で前記対象物支持体(5)と前記X線検出器(4)との間に配置され、
− 両方の前記強度計測装置(13、15)が、前記計測された強度(I0、I1)を送信するため前記評価ユニット(18)に接続され、及び
− 前記評価ユニット(18)が、前記計測された強度(I0、I1)に応じて少なくとも1つの散乱放射補正係数(F)を計算することができるように構成されていることを特徴とする、X線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記第1の強度計測装置(13)の前記X線源(3)からの軸方向最短距離として定義される第1の間隔(A1)が、前記第1の強度計測装置(13)の前記対象物支持体(5)からの軸方向最短距離として定義される第2の間隔(A2)に対して、1/2より小さく、特に1/4より小さく、特に1/8より小さいことを特徴とする、請求項1に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記第1の強度計測装置(13)が、前記対象物(2)の照射領域(9)の外側に配置されていることを特徴とする、請求項1又は2に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記第2の強度装置(15)の前記X線検出器(4)からの軸方向最短距離として定義される第3の間隔(A3)が、前記第2の強度計測装置(15)の前記対象物支持体(5)からの軸方向最短距離として定義される第4の間隔(A4)に対して、1/2より小さく、特に1/4より小さく、特に1/8より小さいことを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 両方の前記強度計測装置(13、15)が電子線量計として構成されていることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 両方の前記強度計測装置(13、15)が同一のものとして構成されていることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記第1の強度計測装置(13)が、減衰していない一次X線放射(6a)の強度を前記第1の強度(I0)として計測可能であるように配置され、且つ前記第2の強度計測装置(15)が、前記減衰していない一次X線放射(6a)の強度と二次X線放射(6c)の強度とで構成された強度を前記第2の強度(I1)として計測可能であるように配置されていることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 両方の前記強度計測装置(13、15)が計測領域(11)に配置され、そこでは、前記減衰していない一次X線放射(6a)が、前記検査対象物(2)に衝突することなく前記X線源(3)から前記X線検出器(4)に届くことを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- − 検査対象物(2)をX線源(3)とX線検出器(4)との間に位置決めするステップと、
− 前記対象物(2)にX線放射(6)を照射するステップと、
− 前記X線放射(6)を検出するステップと、
− 評価ユニット(18)を用いて前記検出されたX線放射(6)を評価するステップと、
を有する、X線コンピュータ断層撮影法による対象物の検査方法であって、
− 前記対象物(2)の照射中、前記X線源(3)と前記対象物(2)との間の前記X線放射(6)の第1の強度(I0)を計測し、
− 前記対象物(2)の照射中、前記対象物(2)の投影領域(10)の外側で前記対象物(2)と前記X線検出器(4)との間の前記X線放射(6)の第2の強度(I1)を計測し、及び
− 評価中、前記計測された強度(I0、I1)に応じて少なくとも1つの散乱放射補正係数(F)を計算し、前記検出されたX線放射(6)を、前記少なくとも1つの散乱放射補正係数(F)により補正することを特徴とする、方法。 - 両方の前記強度(I0、I1)を同時に計測することを特徴とする、請求項10に記載の方法。
- 前記第1の強度(I0)を、前記対象物(2)の照射領域(9)の外側で計測することを特徴とする、請求項10又は11に記載の方法。
- 前記対象物(2)の少なくとも1つのモンテカルロ散乱放射分布(M)を前記評価ユニット(18)に格納し、それに応じて前記少なくとも1つの散乱放射補正係数(F)を計算することを特徴とする、請求項10〜12のいずれか一項に記載の方法。
- 前記対象物(2)を複数の投影方向(φ)から照射し、少なくとも1つの散乱放射補正係数(F)を各投影方向(φ)について計算することを特徴とする、請求項10〜13のいずれか一項に記載の方法。
- 減衰していない一次X線放射(6a)の強度を前記第1の強度(I0)として計測し、前記減衰していない一次X線放射(6a)の強度と二次X線放射(6c)の強度とで構成された強度を前記第2の強度(I1)として計測することを特徴とする、請求項10〜14のいずれか一項に記載の方法。
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