JP5315184B2 - 温度検出回路 - Google Patents

温度検出回路 Download PDF

Info

Publication number
JP5315184B2
JP5315184B2 JP2009213596A JP2009213596A JP5315184B2 JP 5315184 B2 JP5315184 B2 JP 5315184B2 JP 2009213596 A JP2009213596 A JP 2009213596A JP 2009213596 A JP2009213596 A JP 2009213596A JP 5315184 B2 JP5315184 B2 JP 5315184B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
temperature
detection circuit
output terminal
temperature detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009213596A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011064507A (ja
Inventor
亮一 安斎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP2009213596A priority Critical patent/JP5315184B2/ja
Publication of JP2011064507A publication Critical patent/JP2011064507A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5315184B2 publication Critical patent/JP5315184B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

本発明は、感温素子として抵抗を用いた温度検出回路に関する。
感温素子として抵抗を用いた温度検出回路として、例えば特許文献1に記載されているような温度検出回路(温度検出器)が知られている。この特許文献1記載の温度検出回路は、電源電圧を分圧するための、第1の抵抗体と第2の抵抗体とが直列接続された第1の電圧分圧回路と、前記電源電圧を分圧するための、第3の抵抗体と感温抵抗素子とが直列接続された第2の電圧分圧回路と、前記第1の抵抗体と前記第2の抵抗体との接続点の第1の電位及び前記第3の抵抗体と前記感温抵抗素子との接続点の第2の電位をアナログ/デジタルコンバータで読み取り、前記第1の電位と前記第2の電位との電位比を算出し、あらかじめ用意された所定の電位比−温度特性とから、前記算出された電位比に対応する温度を検出温度として取得することで温度検出を行っている。
従来の温度検出回路の温度検出技術は、電源電圧を分圧し基準電圧として用いることで、電源電圧変動による検出温度の誤差を低減する。すなわち、温度検出回路のレシオメトリックを実現している。
特開2001−272282号公報
しかしながら、従来の温度検出回路の温度検出技術では、信号が差動信号になっていないので、動作時の消費電流等によりグランド電位のコモンモード電位変動があった場合、検出温度に誤差を生じる問題がある。さらに、感温抵抗素子の電圧比は温度に対して非線形に変化する。従って電位比−温度変換テーブルが必要となる問題がある。
本発明は、以上のような課題を解決するために考案されたものであり、温度検出回路の出力電圧が電源電圧に比例するレシオメトリック動作であり、コモンモード電位変動があっても検出温度に誤差を生じない差動信号出力であり、且つ温度検出回路の出力電圧は温度に対して線形に変化する温度検出回路を提供することにある。
本発明の温度検出回路は、第一の抵抗と第二の抵抗で構成される第一の分圧回路と、第三の抵抗と第四の抵抗で構成される第二の分圧回路と、第一の分圧回路の出力端子が負極入力を入力され、第二の分圧回路の出力端子が正極入力に接続された全差動型誤差増幅器と、全差動型誤差増幅器の正極出力端子と第一の分圧回路の出力端子の間に接続された第五の抵抗と、全差動型誤差増幅器の負極出力端子と第二の分圧回路の出力端子の間に接続された第六の抵抗とを備え、第一の抵抗と前記第四の抵抗は第一の抵抗種で構成され、第二の抵抗と第三の抵抗と第五の抵抗と第六の抵抗は第二の抵抗種で構成され、全差動型誤差増幅器の負極出力端子と正極出力端子の電位差を出力とする構成とした。
本発明によれば抵抗値の逆数が温度に対して線形に変化する抵抗体と抵抗値が温度に対して線形に変化する抵抗体と全差動型誤差増幅器を用いて、温度検出回路の出力電圧が電源電圧に比例するレシオメトリック動作であり、コモンモード電位変動があっても検出温度に誤差を生じない差動信号出力であり、且つ温度検出回路の出力電圧は温度に対して線形に変化する温度検出回路を構成することができる
本発明の温度検出回路を示す回路図である。 本発明のディジタル出力の温度検出回路の回路図である。
以下、本発明の実施形態の温度検出回路を図面に基づいて説明する。
図1は、本実施形態の温度検出回路の回路図である。電源電圧Vddグランド電圧間を抵抗101と抵抗102で構成される分圧回路151と、電源電圧Vddグランド電圧間を抵抗103と抵抗104で構成される分圧回路150と、分圧回路151の出力端子110が負極入力を入力され、分圧回路150の出力端子111が正極入力に接続された全差動型誤差増幅器107と、全差動型誤差増幅器107の正極出力112と出力端子110の間に接続された抵抗105と、全差動型誤差増幅器107の負極出力113と出力端子111の間に接続された抵抗106で構成される。
ここで、抵抗101および抵抗104は、感温抵抗体で温度係数の大きい高抵抗ポリシリコンで構成される。便宜的にその抵抗値をR1で表すとする。また、抵抗102および抵抗103は温度係数の小さい低抵抗ポリシリコンで構成される。便宜的にその抵抗値をR3で表すとする。また、抵抗105および抵抗106は温度係数の小さい低抵抗ポリシリコンで構成される。便宜的にその抵抗値をR2で表すとする。
感温抵抗体である高抵抗ポリシリコンは、単位面積当たり抵抗値の逆数の温度特性が温度に対して線形に変化する。低抵抗ポリシリコンは、単位面積当たり抵抗値の温度特性が温度に対して線形に変化する。
図1の温度検出回路は、出力電圧が全差動型誤差増幅器107の正極出力112を基準とした負極出力113との電位差となる。便宜的にその電位差をVOUTとする。
便宜的に接続点110、111、112、113の電位をそれぞれV(110)、V(111)、V(112)、V(113)と表すとすると、接続点110についてミルマンの定理を適用すれば、式(1)が得られる。
Figure 0005315184
同様にして、接続点111についてミルマンの定理を適用すれば式(2)が得られる。
Figure 0005315184
全差動型誤差増幅器107の電圧利得は1よりも十分大きく、V(110)=V(111)と近似できるとすると式(1)、式(2)より式(3)を得る。
Figure 0005315184
式(3)より本発案の温度検出回路の出力電圧は電源電圧Vddに比例し、レシオメトリック出力となる。R1は感温抵抗体である高抵抗ポリシリコンで構成され、抵抗値の逆数は温度に対して線形に変化するのに対して、R2、R3は低抵抗ポリシリコンで構成され、抵抗値は温度に対して線形に変化する。
従って、式(3)の第一項であるR2/R1は温度に対して線形に大きく変化する項になり、第二項であるR2/R3は同じ低抵抗ポリシリコンで構成されているので温度が変化しても値の変化しない項になる。
よって、第一項であるR2/R1を適切に選ぶことで本発案の温度検出回路の温度感度が決まり、第二項であるR2/R3を適切に選ぶことで本発案の温度検出回路のオフセット電圧を決めることができる。
このようにして温度検出回路の出力電圧が電源電圧に比例するレシオメトリック動作であり、コモンモード電位変動があっても検出温度に誤差を生じない差動信号出力であり、且つ温度検出回路の出力電圧は温度に対して線形に変化する温度検出回路を構成することができる。
図2は、本発明のディジタル出力の温度検出回路の回路図である。
ディジタル出力の温度検出回路は、以下のような構成となっている。温度検出回路201の差動出力がアナログ/デジタルコンバータ(ADC)202のVIN入力に接続される。抵抗120、抵抗121、抵抗122で構成された基準電圧回路203の出力である接続点114、接続点115が該アナログ/デジタルコンバータ(ADC)202のVREF入力に接続される。
便宜的に抵抗120、抵抗121、抵抗122の抵抗値をそれぞれR4、R5、R6とし、接続点114、接続点115の電位をそれぞれV(114)、V(115)とすると、基準電圧回路203の出力電圧VREFはV(114)―V(115)で表され、式(4)のようになる。
Figure 0005315184
アナログ/デジタルコンバータ(ADC)202の出力コードはVOUT/VREFに比例するので式(5)に比例する。
Figure 0005315184
式(5)の値はVddの項が消去されるので電源電圧に影響されない。よって、電源電圧が変動しても検出温度が変化しないディジタル出力の温度検出回路を構成することができる。
101、104 高抵抗ポリシリコン抵抗
102、103、105、106 低抵抗ポリシリコン抵抗
107 全差動型誤差増幅器
201 温度検出回路
202 アナログ/デジタルコンバータ(ADC)
203 基準電圧回路

Claims (2)

  1. 第一の抵抗と第二の抵抗で構成される第一の分圧回路と、
    第三の抵抗と第四の抵抗で構成される第二の分圧回路と、
    前記第一の分圧回路の出力端子が負極入力を入力され、前記第二の分圧回路の出力端子が正極入力に接続された全差動型誤差増幅器と、
    前記全差動型誤差増幅器の正極出力端子と前記第一の分圧回路の出力端子の間に接続された第五の抵抗と、
    前記全差動型誤差増幅器の負極出力端子と前記第二の分圧回路の出力端子の間に接続された第六の抵抗と、を備え、
    前記第一の抵抗と前記第四の抵抗は、抵抗値の逆数が温度に対して線形に変化する高抵抗ポリシリコンで構成され、
    前記第二の抵抗と前記第三の抵抗と前記第五の抵抗と前記第六の抵抗は、抵抗値が温度に対して線形に変化する低抵抗ポリシリコンで構成され、
    前記全差動型誤差増幅器の負極出力端子と正極出力端子の電位差を出力とすることを特徴とする温度検出回路。
  2. 前記全差動型誤差増幅器の負極出力端子と正極出力端子が入力端子に接続されたアナログ/デジタルコンバータと、
    直列に接続された第七の抵抗、第八の抵抗及び第九の抵抗で構成され、前記第七の抵抗と前記第八の抵抗の接続点と前記第八の抵抗と前記第九の抵抗の接続点が前記アナログ/デジタルコンバータの基準電圧入力端子に接続された電源電圧分圧回路と、
    を備えたことを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
JP2009213596A 2009-09-15 2009-09-15 温度検出回路 Expired - Fee Related JP5315184B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009213596A JP5315184B2 (ja) 2009-09-15 2009-09-15 温度検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009213596A JP5315184B2 (ja) 2009-09-15 2009-09-15 温度検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011064507A JP2011064507A (ja) 2011-03-31
JP5315184B2 true JP5315184B2 (ja) 2013-10-16

Family

ID=43950927

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009213596A Expired - Fee Related JP5315184B2 (ja) 2009-09-15 2009-09-15 温度検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5315184B2 (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04132967A (ja) * 1990-09-25 1992-05-07 Murata Mfg Co Ltd 過熱保護回路
JP2000323940A (ja) * 1999-05-07 2000-11-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 全差動増幅器
JP2001272282A (ja) * 2000-03-24 2001-10-05 Toshiba Corp 温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置
JP2006284301A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Mitsubishi Materials Corp 温度検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011064507A (ja) 2011-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4990049B2 (ja) 温度検出回路
JP4602941B2 (ja) 静電容量センサ回路
JP5827759B2 (ja) 増幅回路及び増幅回路icチップ
JP6006913B2 (ja) 電流制限回路及び電源回路
JP5031535B2 (ja) 温度検出回路
TWI522601B (zh) Analog - to - digital conversion circuit with temperature sensing and its electronic device
JP2011119398A (ja) 赤外線センサの信号処理装置、赤外線センサ
JP2010251653A5 (ja) 抵抗ばらつき検出回路
JP4641164B2 (ja) 過熱検出回路
JP5315184B2 (ja) 温度検出回路
US9116028B2 (en) Thermal flow sensor and method of generating flow rate detection signal by the thermal flow sensor
CN110114638B (zh) 模拟输入单元以及基准电压稳定化电路
JP2009139213A (ja) 磁気センサ装置及びその制御方法
JP2012088230A (ja) 電圧検出回路
JP5696540B2 (ja) Ad変換器、ダイヤル式入力装置、及び抵抗−電圧変換回路
CN106092361A (zh) 一种温度采样电路
JP6097920B2 (ja) ブラシレスモータ制御装置
JP2010085319A (ja) センサ信号検出回路、レシオメトリック補正回路及びセンサ装置
JP2007218664A (ja) 電流検出装置
JP2009300293A (ja) 対数変換回路
US20240097632A1 (en) Integrated circuit and semiconductor device
JP2007132861A (ja) 検出回路
JP6166186B2 (ja) 温度検出装置
JP6529082B2 (ja) 電圧差における異常を検出する異常検出装置
JP2017188783A (ja) A/dコンバータ回路および電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120711

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130422

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130514

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130604

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130702

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130708

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5315184

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees