JP5308406B2 - パターンドメディアの検査装置及びパターンドメディア用スタンパの検査方法 - Google Patents
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ターンをナノインプリントにより転写するスタンパの不良を検出する方法において、基板を回転させた状態で一方向に連続的に移動させながらスタンパを用いてナノインプリントにより基板のレジスト膜に形成したパターンに多波長の照明光を照射し、この多波長の照明光を照射した基板の領域からの反射光を分光して検出し、分光して検出した分光波形データとナノインプリントする前の基板の分光波形データとの比を算出して求めた分光反射率波形データと予め記憶しておいた参照データとの波長ごとの差分値を求めてこの差分値の合計が予め設定した値よりも大きい個所を基板上に形成したレジスト膜のパターンに異常が発生した領域として抽出し、この抽出した異常が発生した領域の情報を基板を検査する直前に検査した同じスタンパを用いてナノインプリントされた複数の基板の検査データと比較し、異常が発生した領域と同じ領域に直前に検査した複数の基板にも異常が検出されていた場合には、このスタンパが不良であると判定するようにした。
次に、データ処理部300で検出データを処理する流れの詳細を図3を用いて説明する。
先ず、リニア検出器112で検出された分光波形を分光波形処理部301でA/D変換してデジタル分光波形信号を得る(S301)。次に、このデジタル分光波形信号からデジタル分光反射率波形データを求め、これを欠陥領域抽出部302でステージ制御部403からの回転ステージ201と直進ステージ202との位置情報を受けて基準波形である正常パターンの分光反射率波形データと比較し(S302)、異常値を試料1上の欠陥領域として抽出する(S303)。ここで異常が検出されなければ、次の領域の分光波形データについて同様な処理を検査終了まで繰返す(S304)。
ナノインプリンタをストップさせる(S310)。
全体制御ユニット401から指令を出して入出力部404の異常表示画面650上にスタンパ異常表示領域651にスタンパ異常を知らせる表示をし(例えば、図6の場合は、スタンパ異常表示領域651を点滅させる)、不良と推定されたスタンパを特定する情報(例えば、スタンパの登録番号)を領域652に表示し、その特定したスタンパの不良領域を試料(ディスク)の半径方向の位置情報を表示領域653に表示する。これらの異常情報の表示を終了させるには、画面下側の「終了」ボタンをクリックすればよい。
Claims (8)
- 基板に塗布されたレジスト膜に微細なパターンをナノインプリントにより転写するスタ
ンパの不良を検出する方法であって、
前記基板を回転させた状態で一方向に連続的に移動させながら前記スタンパを用いてナノインプリントにより前記基板のレジスト膜に形成したパターンに多波長の照明光を照射し、
該多波長の照明光を照射した基板の領域からの反射光を分光して検出し、
該分光して検出した分光波形データと前記ナノインプリントする前の基板の分光波形データとの比を算出して求めた分光反射率波形データと予め記憶しておいた参照データとの波長ごとの差分値を求めて該差分値の合計が予め設定した値よりも大きい個所を前記基板上に形成したレジスト膜のパターンに異常が発生した領域として抽出し、
該抽出した異常が発生した領域の情報を前記基板を検査する直前に検査した前記スタン
パを用いてナノインプリントされた複数の基板の検査データと比較し、
前記異常が発生した領域と同じ領域に前記直前に検査した複数の基板にも異常が検出されていた場合には前記スタンパの不良と判定する
ことを特徴とするパターンドメディア用スタンパの検査方法。 - 前記スタンパの不良と判定した結果として、不良と判定したスタンパを特定する情報と
、スタンパ上の不良発生箇所を特定する情報とを出力することを特徴とする請求項1記載
のパターンドメディア用スタンパの検査方法。 - 前記過去に別な基板を検査したデータと比較する工程において、前記抽出した異常が発
生した領域の前記基板の中心からの半径方向の位置情報を前記過去に別な基板を検査して
検出した欠陥領域の基板の中心から半径方向の位置情報と比較することを特徴とする請求
項1又は2に記載のパターンドメディア用スタンパの検査方法。 - 前記スタンパの不良を判定する工程において、前記異常が発生した領域と同じ領域に前
記直前に検査した複数の基板に連続して異常が検出された回数が予め設定した回数を超え
たときに前記スタンパの不良と判定することを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載
のパターンドメディア用スタンパの検査方法。 - 基板を載置して該基板を回転させると共に該基板を平面内で一方向に連続的に移動させるテーブル手段と、
該テーブル手段に載置されて回転しながら一方向に連続的に移動している基板に塗布されたレジスト膜にスタンパを用いて形成したパターンに多波長の照明光を照射する照明光照射手段と、
該照明光照射手段で照明光を照射した基板からの反射光を分光して検出する分光検出手
段と、
分光反射率波形の参照データと過去の検査データを記憶しておく記憶手段と、
該分光検出手段で分光して検出した分光波形データと前記スタンパを用いてパターンを形成する前の基板の分光波形データとの比を算出して求めた分光反射率波形データと前記記憶手段に記憶しておいた分光反射率波形の参照データとの波長ごとの差分値を求めて該差分値の合計が予め設定した値よりも大きい個所を前記基板上に形成したレジスト膜のパターンに異常が発生した領域として抽出する欠陥領域抽出手段と、
該欠陥領域抽出手段で抽出した異常が発生した領域の情報を前記記憶手段に記憶してお
いた前記基板を検査する直前に検査した前記スタンパを用いてナノインプリントされた複
数の基板を検査したデータと比較するデータ比較手段と、
前記データ比較手段で比較した結果前記基板上の異常が発生した領域と同じ領域に前記基板を検査する直前に検査した複数の基板に渡って異常が検出された場合には前記スタンパの不良と判定する異常判定手段と
を備えたことを特徴とするパターンドメディアの検査装置。 - 前記異常判定手段でスタンパの不良と判定した結果として、不良と判定したスタンパを
特定する情報と、スタンパ上の不良発生箇所を特定する情報とを出力する出力手段を更に
備えたことを特徴とする請求項5記載のパターンドメディアの検査装置。 - 前記データ比較手段は、前記欠陥領域抽出手段で抽出した異常が発生した領域の前記基
板の中心からの半径方向の位置情報を前記基板を検査する直前に検査した複数の基板から
検出した欠陥領域の基板の中心から半径方向の位置情報と比較することを特徴とする請求
項5又は6に記載のパターンドメディアの検査装置。 - 前記異常判定手段は、前記異常が発生した領域と同じ領域に前記直前に検査した複数の
基板に連続して異常が検出された回数が予め設定した回数を超えたときに前記スタンパの
不良と判定することを特徴とする請求項5乃至7の何れかに記載のパターンドメディアの検査装置。
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