JP5275396B2 - 電子ビーム照射装置 - Google Patents
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Description
図1は、第1の実施形態に係わる電子ビーム描画装置を示す概略構成図である。
図3(a)(b)は、第2の実施形態に係わる電子ビーム描画装置の要部構成を説明するためのもので、(a)は反射防止機構の構成を示す平面図、(b)は反射電子の軌道及び反射防止機構の構成を示す断面図である。なお、対物レンズ10及び他の電子光学系の構成は、先に説明した第1の実施形態と同様であるので、ここでは省略する。
図13(a)(b)は、第3の実施形態に係わる電子ビーム描画装置の要部構成を説明するためのものである。図13(a)は反射防止機構をビームの上流から見た図、図13(c)は反射防止機構をビームの下流から見た図である。図13(b)は図13(c)のA−A断面の下流開口部と図13(a)のB−B断面の上流開口部を結ぶ直線孔を示す断面図である。
なお、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではない。
20…試料面
21…試料
30…電子検出器
40,50,60…反射防止機構
42,52(521 〜52n ),62…孔
51(511 〜51n )…反射防止薄板
53…ピン孔
54…位置決めピン
100…電子光学鏡筒
101…電子銃
102…各種レンズ
103…各種偏向器
104…各種アパーチャ
111…電子ビーム
112…反射電子の螺旋軌道
117…反射点
119…光軸
Claims (4)
- 電子ビームを試料面上に照射するための対物レンズと、
前記対物レンズと前記試料面との間に配置され、前記試料面から放出される反射電子或いは二次電子を検出する電子検出器と、
前記電子検出器と前記試料面との間に配置され、前記試料面から放出される反射電子或いは二次電子の螺旋軌道に沿った複数の孔を有し、前記反射電子或いは二次電子の前記試料面側への再反射を防止し、且つ前記反射電子或いは二次電子の一部を前記電子検出器に導くための反射防止機構と、
を具備し、
前記反射防止機構は、複数の開口を持つ同一の薄板を複数枚重ねて構成され、前記複数の薄板を前記電子ビームの軸を中心に位相をずらして積層させることで、前記孔を前記螺旋軌道に沿った形状にしたことを特徴とする電子ビーム照射装置。 - 電子ビームを試料面上に照射するための対物レンズと、
前記対物レンズと前記試料面との間に配置され、前記試料面から放出される反射電子或いは二次電子を検出する電子検出器と、
前記電子検出器と前記試料面との間に配置され、前記試料面から放出される反射電子或いは二次電子の螺旋軌道に沿った複数の孔を有し、前記反射電子或いは二次電子の前記試料面側への再反射を防止し、且つ前記反射電子或いは二次電子の一部を前記電子検出器に導くための反射防止機構と、
を具備し、
前記反射防止機構の孔は、前記電子ビームの軸方向から眺めたときの前記反射電子或いは二次電子の螺旋軌道と同じ位相方向に傾いている直線孔であって、前記ビームの軸に対して内側の孔よりも外側の孔の方で、前記反射防止機構の底面と垂直な軸に対する傾き角度を大きくしたことを特徴とする電子ビーム照射装置。 - 前記薄板に設ける開口はハニカム構造であることを特徴とする請求項1に記載の電子ビーム照射装置。
- 前記対物レンズは、電磁レンズであり、前記電磁レンズによる前記電子ビームの軸方向の磁場のピークを前記試料面近傍に生成するものであることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の電子ビーム照射装置。
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