JP5268846B2 - 計測データの補正方法、光断層計測装置及びプログラム - Google Patents
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Description
前記補正係数を用いて、前記第1の計測データと前記第1の基準計測データから、前記試料の前記注目部位を通過する平面に沿う光断層画像の再構築に用いる計測データとする補正計測データを生成する補正手段と、して機能させる。
DS(x、θ、m)=Dr(x、θ、m)−α・Ds(x、θ、m)
などとして演算する。データ処理装置16では、補正処理部166で補正処理された補正計測データDS(x、θ、m)を用いて、光断層画像の再構築が行われる。
a 光源ヘッド58に発光素子として用いている半導体レーザから発せられる副発光。
などがある。
e 計測対象自体が発する蛍光。
などがある。
α=Ds(m)/Dr(m)=3.409/3.222=1.058
として得られる。
DS(x、θ、m)=Dr(x、θ、m)−α・Ds(x、θ、m)
として演算される。図13(C)には、補正係数αの設定するときに指定された計測位置xnにおける補正計測データDS(xn、θ、m)が示されている。
12 マウス(生体)
12A サンプルマウス(試料)
12B コントロールマウス(基準試料)
14 光計測装置(第1及び第2の取得手段)
16 データ処理装置
30 検体ホルダ
50 計測ユニット
58 光源ヘッド
60(60A〜60K) 受光ヘッド(受光手段)
150 読込部(第1及び第2の取得手段)
158 断層情報生成部
160 画像構築部
162 計測データ記憶部
164 補正係数設定部
168 補正処理部
Claims (11)
- 生体を試料として、試料に投与した蛍光物質から励起光によって発せられる蛍光を、前記試料の注目部位を通過する平面上で試料の周囲の複数箇所で受光手段により受光され、前記注目部位を通過する平面に沿う前記試料の光断層画像の再構築に用いられる計測データの補正方法であって、
前記注目部位を通過する平面上での計測データとする第1の計測データ及び、前記試料の前記注目部位と異なる関心部位を通過する平面上での計測データとする第2の計測データを取得すると共に、
前記試料に対して予め設定された基準試料を用いて、前記注目部位の平面に対応する平面上の計測データとする第1の基準計測データ及び、前記関心部位の平面に対応する計測データとする第2の基準計測データを取得し、
前記試料の前記関心部位に対応する前記第2の計測データと前記第2の基準計測データとを用い、前記第2の基準計測データを前記第2の計測データで相殺する補正係数を設定し、
前記補正係数を用いて、前記第1の計測データと前記第1の基準計測データから、前記試料の前記注目部位を通過する平面に沿う光断層画像の再構築に用いる計測データとする補正計測データを生成する、
計測データの補正方法。 - 前記試料には、前記蛍光物質として体内の特定部位に特異的に付着して蛍光を発する蛍光識別剤が投与され、前記特定部位を前記注目部位として、前記第1の計測データが取得される、請求項1に記載の計測データの補正方法。
- 前記基準試料が、前記試料と同種の生体であり、かつ、前記特定部位への付着が抑制された状態の蛍光物質が投与された生体である、請求項2に記載の計測データの補正方法。
- 前記蛍光識別剤の投与前の前記試料を前記基準試料とする、請求項2に記載の計測データの補正方法。
- 前記蛍光識別剤が投与された前記試料を、該蛍光識別剤が体内に拡散され、かつ、前記特定部位に付着する前のタイミングで前記基準試料として用いる、請求項2に記載の計測データの補正方法。
- 前記基準試料は、前記励起光に対して蛍光が発せられない材質で、かつ、光に対する表面状態が前記試料の光に対する表面状態にあわせられた前記試料の模型である、請求項2に記載の計測データの補正方法。
- 前記模型の光に対する吸収係数を含む光学特性が、前記試料の光に対する吸収係数を含む光学的特性に合わせられている、請求項6に記載の計測データの補正方法。
- 前記特定部位に付着することなく前記試料の体内で拡散されて蛍光を発する蛍光物質識を、前記試料に投与して前記基準試料としている、請求項2記載の計測データの補正方法。
- 生体を試料として、試料に投与した蛍光物質から励起光によって発せられる蛍光を、前記試料の注目部位を通過する平面上で試料の周囲の複数箇所で受光手段により受光することにより得られる計測データから、前記注目部位を通過する平面に沿う前記試料の光断層画像の再構築を行う光断層計測装置であって、
前記受光手段により前記注目部位を通過する平面上での計測データとする第1の計測データ及び、前記試料の前記注目部位と異なる関心部位を通過する平面上での計測データとする第2の計測データを取得する第1の取得手段と、
前記試料に対して予め設定された基準試料を用いて、前記受光手段により前記注目部位を含む平面に対応する平面上の計測データとする第1の基準計測データ及び、前記関心部位を含む平面に対応する計測データとする第2の基準計測データを取得する第2の取得手段と、
前記試料の前記関心部位に対応する前記第2の計測データと前記第2の基準計測データとを用い、前記第2の基準計測データを前記第2の計測データで相殺する補正係数を設定する補正係数設定手段と、
前記補正係数を用いて、前記第1の計測データと前記第1の基準計測データから、前記試料の前記注目部位を通過する平面に沿う光断層画像の再構築に用いる計測データとする補正計測データを生成する補正手段と、
を含む光断層計測装置。 - 前記試料で前記関心部位を選択する選択手段を含み、
前記第1の取得手段が、前記試料の前記注目部位を含む平面及び該平面と平行でかつそれぞれが前記試料を通過する複数の平面のそれぞれに沿う計測データを取得し、
前記第2の取得手段が、前記第1の取得手段により取得される前記複数の平面のそれぞれに対応する平面に沿う補正計測データを取得すると共に、
前記補正係数設定手段が、前記選択手段により選択された前記関心部位を含む平面に対応する計測データ及び補正計測データを、前記第2の計測データ及び前記第2の補正計測データとして前記補正係数を設定する、
請求項9に記載の光断層計測装置。 - 生体を試料として、試料に投与した蛍光物質から励起光によって発せられる蛍光を、前記試料の注目部位を通過する平面上で試料の周囲の複数箇所で受光手段により受光することにより得られる計測データから、前記注目部位を通過する平面に沿う前記試料の光断層画像の再構築を行う光断層計測装置に設けられるコンピュータを、
前記受光手段により前記注目部位を通過する平面上での計測データとする第1の計測データ及び、前記試料の前記注目部位と異なる関心部位を通過する平面上での計測データとする第2の計測データを取得する第1の取得手段と、
前記試料に対して予め設定された基準試料を用いて、前記受光手段により前記注目部位を含む平面に対応する平面上の計測データとする第1の基準計測データ及び、前記関心部位を含む平面に対応する計測データとする第2の基準計測データを取得する第2の取得手段と、
前記試料の前記関心部位に対応する前記第2の計測データと前記第2の基準計測データとを用い、前記第2の基準計測データを前記第2の計測データで相殺する補正係数を設定する補正係数設定手段と、
前記補正係数を用いて、前記第1の計測データと前記第1の基準計測データから、前記試料の前記注目部位を通過する平面に沿う光断層画像の再構築に用いる計測データとする補正計測データを生成する補正手段と、
して機能させるプログラム。
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