JP5266118B2 - 物体表面の欠陥検査方法および欠陥検査装置 - Google Patents
物体表面の欠陥検査方法および欠陥検査装置 Download PDFInfo
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Description
本実施の形態にかかる欠陥検査装置Aについて、図1〜3を用いて説明を行う。欠陥検査装置Aは、図1に示すとおり、例えば板状の対象物1の検査面10の欠陥を検査する欠陥検査装置であり、検査面10に対して検査用の平行光束5を照射する照明装置2と、検査面10を撮像して検査用の検査画像を出力する撮像装置3と、検査画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出装置4とを備える。
本実施の形態にかかる欠陥検査装置Aでは、閾値メモリ43に、実施の形態1で説明した閾値Th1、Th2に加えて、明度差の判定に用いる閾値Th3が記憶されており、画像処理部42は閾値Th3に基づいて欠陥を検出する。この点を除いては、実施の形態1と同様の構成であるので共通する構成要素には同一の符号を付してその説明は省略する。
10 検査面
2 照明装置
3 撮影手段
4 欠陥検出装置
43 閾値メモリ(記憶部)
5 平行光束
6 検査画像(表面画像)
61 明部候補領域(明部)
62 暗部候補領域(暗部)
63 暗部候補領域(暗部)
64 明部候補領域(明部)
Claims (6)
- 対象物の検査面に対して検査面の法線方向と斜めに交差する方向から平行光束を照射させた状態で、前記検査面を法線方向から撮像した表面画像の明度を検出する処理と、
前記表面画像から記憶部に記憶された第1の閾値よりも明度が低い部位を暗部、前記記憶部に記憶された第2の閾値よりも明度が高い部位を明部として抽出する処理と、
明部及び暗部が前記平行光束の照射方向に沿って連続して存在する場合に、明部及び暗部の組合せにおける長手方向の中間点を通り前記長手方向と直交する方向における前記明部と前記暗部の第1の明度差と、前記長手方向における前記明部と前記暗部の第2の明度差とを演算する処理と、
前記第1、第2の明度差のうち少なくとも一方の明度差が、前記記憶部に記憶された第3の閾値よりも大きい場合に、前記明部及び前記暗部の組合わせを欠陥部として検知する処理とを行うことを特徴とする欠陥検査方法。 - 前記表面における凸部の高さおよび凹部の深さを計測した計測値に応じて、前記照射角度を変更することを特徴とする請求項1記載の欠陥検査方法。
- 点光源と、前記点光源からの光を平行光束に変換するレンズとを用いて検査光を表面に照射することを特徴とする請求項1又は2の何れか1項に記載の欠陥検査方法。
- 前記点光源として、レーザー発振器を用いることを特徴とする請求項3に記載の欠陥検査方法。
- 前記点光源として、放電管を用いることを特徴とする請求項3に記載の欠陥検査方法。
- 前記閾値を記憶する記憶部と、
前記検査面に対して法線方向と斜めに交差する方向から平行光束を照射する照明手段と、
前記検査面を法線方向から撮像する撮像手段と、
請求項1乃至5の何れか1項に記載の欠陥検査方法により、撮像手段が撮像した表面画像を処理して対象物の欠陥を検知する凹凸検知部を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
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