JP5253836B2 - Packaging method of semiconductor device - Google Patents

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Description

本発明は、半導体装置の製造技術に関し、特に、半導体装置をキャリアテープに梱包するテーピング梱包方法に適用して有効な技術に関するものである。   The present invention relates to a manufacturing technique of a semiconductor device, and more particularly to a technique effective when applied to a taping packing method for packing a semiconductor device on a carrier tape.

一般にテープをテープ用リールに巻送させる場合、テープ用リール同士に巻き掛けられているテープの開放部分において振動が生ずる。テープが振動している状態のまま巻き取りを行うとテープの巻き状態が乱れるため、テープの搬送機構にはガイドローラ等を設置してテープの振動を抑制している。   In general, when a tape is wound around a tape reel, vibration is generated in an open portion of the tape wound around the tape reels. If the winding is performed while the tape is vibrating, the winding state of the tape is disturbed. Therefore, a guide roller or the like is provided in the tape transport mechanism to suppress the vibration of the tape.

例えば特開2005−116093号公報(特許文献1)には、磁気テープの幅方向に対する変位量をテープ変位検出手段によって検出し、変位量を出力信号として出力し、出力信号に基づいて、磁気テープのずれとは反対側へ変位量と同じ量だけ該磁気テープを移動させることで磁気テープの幅方向位置を補正する磁気テープの搬送方法が記載されている。
特開2005−116093号公報
For example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-116093 (Patent Document 1), a displacement amount with respect to the width direction of a magnetic tape is detected by a tape displacement detection means, and the displacement amount is output as an output signal. There is described a method of transporting a magnetic tape in which the position in the width direction of the magnetic tape is corrected by moving the magnetic tape to the opposite side to the displacement by the same amount as the displacement.
Japanese Patent Laid-Open No. 2005-116093

本発明者は製品(半導体装置)を出荷する際、エンボスキャリアテープの窪みに半導体装置を収納するテーピング梱包を用いている。半導体装置をテーピング梱包するテーピング装置では、エンボスキャリアテープの形状に合わせた固定式のレールであるテーピングレールが用いられている。   When shipping the product (semiconductor device), the inventor uses a taping package that houses the semiconductor device in a recess of the embossed carrier tape. In a taping device that taps and packages a semiconductor device, a taping rail that is a fixed rail matched to the shape of the embossed carrier tape is used.

しかしながら、本発明者らの検討によれば、テーピング梱包については、以下に説明する種々の技術的課題が存在することが分かった。   However, according to the study by the present inventors, it has been found that taping packaging has various technical problems described below.

すなわち、小型の半導体装置(半導体パッケージ)、例えば縦横寸法が1mm以下の小型の半導体装置をテーピング梱包するためには、半導体装置の位置決め精度の向上だけでなく、梱包部材であるキャリアテープの精度の良い位置決めが必要となる。従来の固定式のレールでは、キャリアテープのテープ幅方向の部品クリアランス、例えば固定ブロックとシム板との挟み込みを狭くしてキャリアテープのテープ幅方向を固定している。しかし、この場合、キャリアテープのテープ幅方向に変動(例えば寸法公差内でのばらつき等)があると、テープ送り方向に摺動抵抗が発生してキャリアテープが定位置まで送られず、半導体装置がキャリアテープの窪みに収納されずに、半導体装置がキャリアテープ上に乗り上げるまたは破損するなどの半導体装置の収納トラブルが発生してしまう。特に、キャリアテープの幅は、JEITA(Japan Electronics and Information Technology Industries Association)の規格に基づいて、8±0.1mmと定められており、許容範囲の誤差が大きい。そのため、最も広い幅に合わせてガイドレールを準備した場合、最も細い幅のキャリアテープが搬送されてきた時に、テープの送り動作中に幅方向において、位置ずれが発生し、半導体装置の収納トラブルが発生してしまう。この様な半導体装置の収納トラブルが発生すると、テーピング装置を停止して半導体装置を取り除くまたは部品クリアランスを再調整する等の処置を行わなくてはならず、テーピング装置の稼働率が低下して、テーピング梱包の生産効率が低下してしまう。   That is, in order to tap and package a small semiconductor device (semiconductor package), for example, a small semiconductor device having a vertical and horizontal dimension of 1 mm or less, not only the positioning accuracy of the semiconductor device is improved, but also the accuracy of the carrier tape as a packing member is improved. Good positioning is required. In the conventional fixed type rail, the clearance in the tape width direction of the carrier tape, for example, the sandwiching between the fixed block and the shim plate is narrowed to fix the tape width direction of the carrier tape. However, in this case, if there is a variation in the tape width direction of the carrier tape (for example, variation within a dimensional tolerance), a sliding resistance is generated in the tape feeding direction, and the carrier tape is not sent to a fixed position. However, the semiconductor device is not stored in the recess of the carrier tape, and the semiconductor device may be stored on the carrier tape, or the semiconductor device may be damaged. In particular, the width of the carrier tape is determined to be 8 ± 0.1 mm based on the standard of JEITA (Japan Electronics and Information Technology Industries Association), and the tolerance error is large. Therefore, when the guide rail is prepared for the widest width, when the carrier tape with the narrowest width is transported, misalignment occurs in the width direction during the tape feeding operation, resulting in storage trouble of the semiconductor device. Will occur. When such a storage trouble of the semiconductor device occurs, it is necessary to stop the taping device and remove the semiconductor device or readjust the component clearance, and the operation rate of the taping device is reduced. The production efficiency of taping packaging is reduced.

本発明の目的は、半導体装置をテーピング梱包するテーピング装置の稼働率を向上させて、テーピング梱包の生産効率を向上させることのできる技術を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a technique capable of improving the operation rate of a taping device for taping and packing a semiconductor device and improving the production efficiency of taping packing.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。   The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

本願において開示される発明のうち、一実施例を簡単に説明すれば、次のとおりである。   An embodiment of the invention disclosed in the present application will be briefly described as follows.

本実施例は、キャリアテープをテーピングレールに沿って搬送させて、キャリアテープのテープ送り方向に複数設けられた窪みに半導体装置を順次収納する半導体装置の梱包方法である。テープ送り方向に直交するテープ幅方向の一方側のテーピングレールに調節駒が固定され、テープ送り方向に直交するテープ幅方向の他方側で、調節駒と対向する位置のテーピングレールにばね性を持たせた押さえが設けられている。ばね性を持たせた押さえの一部はキャリアテープの一方の側面と接触して、キャリアテープの一方の側面の形状に追従して動くことができる。   This embodiment is a semiconductor device packaging method in which a carrier tape is transported along a taping rail and the semiconductor devices are sequentially stored in a plurality of recesses provided in the tape feeding direction of the carrier tape. The adjustment piece is fixed to the taping rail on one side in the tape width direction perpendicular to the tape feed direction, and the taping rail at the position facing the adjustment piece on the other side in the tape width direction perpendicular to the tape feed direction has springiness. A presser foot is provided. A part of the presser having a spring property comes into contact with one side surface of the carrier tape and can move following the shape of the one side surface of the carrier tape.

本願において開示される発明のうち、一実施例によって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。   Among the inventions disclosed in the present application, the effects obtained by one embodiment will be briefly described as follows.

半導体装置のキャリアテープへの収納トラブルが減少することにより、半導体装置をテーピング梱包するテーピング装置の稼働率が向上するので、テーピング梱包の生産効率を向上させることができる。   Since the trouble of storing the semiconductor device in the carrier tape is reduced, the operation rate of the taping device for taping and packing the semiconductor device is improved, so that the production efficiency of the taping packing can be improved.

本実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良い。さらに、本実施の形態において、その構成要素(要素ステップ等も含む)は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。同様に、本実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。   In the present embodiment, when referring to the number of elements (including the number, numerical value, quantity, range, etc.), unless otherwise specified, the number is clearly limited to a specific number in principle. It is not limited to a specific number, and may be a specific number or more. Further, in the present embodiment, the constituent elements (including element steps and the like) are not necessarily essential unless particularly specified and apparently essential in principle. Yes. Similarly, in this embodiment, when referring to the shape, positional relationship, etc. of the component, etc., the shape, etc. substantially, unless otherwise specified, or otherwise considered in principle. It shall include those that are approximate or similar to. The same applies to the above numerical values and ranges.

また、本実施の形態で用いる図面においては、平面図であっても図面を見易くするためにハッチングを付す場合もある。また、本実施の形態を説明するための全図において、同一機能を有するものは原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。   In the drawings used in the present embodiment, hatching may be added even in a plan view for easy understanding of the drawings. In all the drawings for explaining the embodiments, components having the same function are denoted by the same reference numerals in principle, and repeated description thereof is omitted. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

本発明の一実施の形態による半導体装置をキャリアテープに梱包するテーピング梱包方法を図1〜図8を用いて説明する。図1はテーピング装置の構成図、図2(a)、(b)および(c)はそれぞれキャリアテープの要部平面図、同図(a)のA−A′線における要部断面図および同図(a)のB−B′線における要部断面図、図3は図1のC−C′線における要部断面をキャリアテープの送り方向側から見た図、図4(a)および(b)はそれぞれキャリアテープの窪みに半導体装置が収納された要部上面図および同図(a)のD−D′線における要部断面図、図5はテーピング装置に備わるキャリアテープの位置決め部分の概略平面図、図6はテーピング装置に備わるキャリアテープの位置決め部分の一部を拡大した模式図、図7はテーピング装置に備わるキャリアテープの位置決め押さえの各種形状を示す図、図8は図1のE−E′線における要部断面をキャリアテープの送り方向側から見た図である。   A taping packing method for packing a semiconductor device according to an embodiment of the present invention on a carrier tape will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a block diagram of the taping device, FIGS. 2A, 2B and 2C are plan views of the main part of the carrier tape, and a cross-sectional view of the main part taken along the line AA 'in FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view of the main part taken along line BB ′ of FIG. 1A, FIG. 3 is a view of the cross-section of the main part taken along line CC ′ of FIG. FIG. 5B is a top view of the main part in which the semiconductor device is housed in the recess of the carrier tape, and a cross-sectional view of the main part taken along the line DD ′ of FIG. FIG. 6 is a schematic enlarged view of a part of the positioning portion of the carrier tape provided in the taping device, FIG. 7 is a diagram showing various shapes of the positioning presser of the carrier tape provided in the taping device, and FIG. Cross-section of the main part at line EE It is a view seen from the feed direction of the Yariatepu.

図1に示すように、テーピング装置1には、キャリアテープ2を供給するキャリアテープ供給リール3とキャリアテープ2を巻き取る完成テープ巻き取りリール4とが備わっており、キャリアテープ供給リール3から完成テープ巻き取りリール4までの間には、キャリアテープ2を搬送経路に沿って所定の方向へ送る搬送機構が備わっている。この搬送機構は主に、キャリアテープ供給リール3側に設置された第1テープ送りローラ5と、テーピングレール6と、完成テープ巻き取りリール4側に設置された第2テープ送りローラ7とで構成される。第1テープ送りローラ5と第2テープ送りローラ7との距離は、例えば250〜300mm程度である。   As shown in FIG. 1, the taping device 1 includes a carrier tape supply reel 3 that supplies a carrier tape 2 and a complete tape take-up reel 4 that winds up the carrier tape 2, and is completed from the carrier tape supply reel 3. Between the tape take-up reel 4, a transport mechanism for feeding the carrier tape 2 in a predetermined direction along the transport path is provided. This transport mechanism mainly includes a first tape feed roller 5 installed on the carrier tape supply reel 3 side, a taping rail 6, and a second tape feed roller 7 installed on the finished tape take-up reel 4 side. Is done. The distance between the first tape feed roller 5 and the second tape feed roller 7 is, for example, about 250 to 300 mm.

さらに、テーピングレール6には、半導体装置をキャリアテープ2の窪みに収納するデバイス収納部6a、キャリアテープ2の窪みに収納された半導体装置の外観検査を行う外観検査部6b、キャリアテープ2の窪みを覆うカバーテープ8をキャリアテープ2上に載せるカバーテープ装着部6c、およびキャリアテープ2にカバーテープ8を熱圧着により貼るカバーテープ熱圧着部6d等が備わっている。   Further, the taping rail 6 includes a device storage portion 6 a for storing the semiconductor device in the recess of the carrier tape 2, an appearance inspection portion 6 b for inspecting the appearance of the semiconductor device stored in the recess of the carrier tape 2, and the recess of the carrier tape 2. A cover tape mounting portion 6c for placing the cover tape 8 on the carrier tape 2 and a cover tape thermocompression bonding portion 6d for attaching the cover tape 8 to the carrier tape 2 by thermocompression bonding.

まず、キャリアテープ2は、キャリアテープ供給リール3からテーピングレール6へと送られる。図2(a)、(b)および(c)に示すように、キャリアテープ2は、テープ送り方向を列とし、これに直交する方向(テープ幅方向)を行とすると、半導体装置が1つ収納される窪み2aが1行複数列に配置された構成となっている。ここではキャリアテープ2に窪み2aを1行複数列に配置したが、これに限定されるものではなく、例えば2行複数列に配置してもよい。キャリアテープ2は、例えばポリプロピレンからなり、その厚さは、例えば0.2mm、その幅は、例えば8±0.1mmである。また、キャリアテープ2の窪み2aのテープ送り方向の寸法は、例えば0.42±0.05mm、テープ幅方向の寸法は、例えば0.72±0.05mmである。   First, the carrier tape 2 is sent from the carrier tape supply reel 3 to the taping rail 6. As shown in FIGS. 2A, 2B, and 2C, the carrier tape 2 has one semiconductor device when the tape feeding direction is a row and the direction orthogonal to the row (tape width direction) is a row. The recesses 2a to be housed are arranged in one row and multiple columns. Here, the depressions 2a are arranged in one row and a plurality of columns on the carrier tape 2, but the present invention is not limited to this. For example, the depressions 2a may be arranged in two rows and a plurality of columns. The carrier tape 2 is made of polypropylene, for example, and has a thickness of, for example, 0.2 mm and a width of, for example, 8 ± 0.1 mm. Further, the dimension of the recess 2a of the carrier tape 2 in the tape feeding direction is, for example, 0.42 ± 0.05 mm, and the dimension in the tape width direction is, for example, 0.72 ± 0.05 mm.

次に、デバイス収納部6aにおいて、吸着コレット9を用いてキャリアテープ2の窪み2aに半導体装置(半導体パッケージ)10を収納する。図3に示すように、テーピングレール6には、キャリアテープ2の形状に合わせて窪み6eが形成されており、その窪み6eの底には半導体装置10をキャリアテープ2の窪み2aに定着させる機能を有する磁石6fが設けられている。また、テーピングレール6上には、キャリアテープ2および半導体装置10を覆うようにテーピングレールカバー20が貼られている。テーピングレールカバー20を貼ることにより、キャリアテープ2の窪み2aに収納された半導体装置10が外部に飛び出さないように保持することができる。   Next, the semiconductor device (semiconductor package) 10 is stored in the recess 2 a of the carrier tape 2 using the suction collet 9 in the device storage portion 6 a. As shown in FIG. 3, the taping rail 6 has a recess 6e formed in accordance with the shape of the carrier tape 2, and the function of fixing the semiconductor device 10 to the recess 2a of the carrier tape 2 at the bottom of the recess 6e. There is provided a magnet 6f having A taping rail cover 20 is stuck on the taping rail 6 so as to cover the carrier tape 2 and the semiconductor device 10. By sticking the taping rail cover 20, the semiconductor device 10 housed in the recess 2a of the carrier tape 2 can be held so as not to jump out.

図4(a)および(b)に示すように、半導体装置10に搭載される半導体素子は、例えばダイオードであり、詳細には、チップ搭載部である第1リード10aと、第1リード10aの隣に設けられた第2リード10bと、第1リード10a上に搭載された半導体チップ10cを含む。また、この半導体チップ10cは、アノードとなる電極が形成された主面と、この主面と反対側に位置し、カソードとなる電極が形成された裏面を有しており、半導体チップ10cは、半導体チップの裏面が第1リード10aの表面と対向するように、第1リード10a上に搭載されている。また、半導体チップ10cの主面は、導電性部材であるワイヤ10dを介して、第2リード10bと電気的に接続されている。また、第1リード10aおよび第2リード10bのそれぞれの裏面を露出するように、半導体チップ10cおよびワイヤ10dを封止する樹脂体10eが形成されている。   As shown in FIGS. 4A and 4B, the semiconductor element mounted on the semiconductor device 10 is, for example, a diode, and more specifically, a first lead 10a that is a chip mounting portion and a first lead 10a. A second lead 10b provided next to the semiconductor chip 10c mounted on the first lead 10a is included. The semiconductor chip 10c has a main surface on which an electrode to be an anode is formed, and a back surface on the opposite side of the main surface, on which an electrode to be a cathode is formed. The semiconductor chip is mounted on the first lead 10a so that the back surface of the semiconductor chip faces the surface of the first lead 10a. The main surface of the semiconductor chip 10c is electrically connected to the second lead 10b via a wire 10d that is a conductive member. Further, a resin body 10e for sealing the semiconductor chip 10c and the wire 10d is formed so as to expose the back surfaces of the first lead 10a and the second lead 10b.

この半導体装置10の寸法(縦(L1)×横(L2)×厚さ)は、例えば0.62±0.02mm×0.32±0.03mm×0.30±0.03mmである。従って、キャリアテープ2の窪み2aと、その窪み2aに収納された半導体装置10とのスペース(L3)は0.05mm程度となる。このため、デバイス収納部6aには、精度の良いキャリアテープ2の位置決めが要求される。そこで、本発明の一実施の形態によるテーピング装置1では、デバイス収納部6aに調節駒とばね性を持たせた押さえとから構成されるキャリアテープ2の位置決め用の押さえが設けられている。   The dimensions (length (L1) × width (L2) × thickness) of the semiconductor device 10 are, for example, 0.62 ± 0.02 mm × 0.32 ± 0.03 mm × 0.30 ± 0.03 mm. Therefore, the space (L3) between the recess 2a of the carrier tape 2 and the semiconductor device 10 accommodated in the recess 2a is about 0.05 mm. For this reason, the device storage portion 6a is required to position the carrier tape 2 with high accuracy. Therefore, the taping device 1 according to the embodiment of the present invention is provided with a pressing member for positioning the carrier tape 2 which is composed of an adjustment piece and a pressing member having a spring property in the device storage portion 6a.

図5に示すように、テープ幅方向の一方側のテーピングレール6には金属ブロックからなる調節駒11が設けられており、この調節駒11はねじ12により固定されている。テープ送り方向に沿う調整駒11の長さは、例えば10mm程度である。さらに、テープ幅方向の他方側で、調節駒11と対向する位置のテーピングレール6には、ばね性を持たせた押さえが設けられている。ばね性を持たせた押さえは、例えばばね鋼からなる板状のばね13であり、板状のばね13の一部はキャリアテープ2の一方の側面に点接触し、キャリアテープ2の一方の側面の形状に追従した柔軟な動きを可能としている。ばね鋼は炭素系、シリコンマンガン系、マンガンクロム系、クロムバナジウム系などの鋼で、ばね性が付与された鋼である。板状のばね13の他の一部は金属ブロック14にセットねじ15によって固定されている。   As shown in FIG. 5, an adjustment piece 11 made of a metal block is provided on the taping rail 6 on one side in the tape width direction, and the adjustment piece 11 is fixed by a screw 12. The length of the adjustment piece 11 along the tape feeding direction is, for example, about 10 mm. Further, the taping rail 6 at a position facing the adjustment piece 11 on the other side in the tape width direction is provided with a presser having a spring property. The presser having a spring property is a plate-like spring 13 made of, for example, spring steel, and a part of the plate-like spring 13 is in point contact with one side surface of the carrier tape 2, and one side surface of the carrier tape 2. Flexible movement that follows the shape of the Spring steel is a steel of carbon-type, silicon-manganese-type, manganese-chromium-type, chromium-vanadium-type, etc., and is provided with spring properties. Another part of the plate-like spring 13 is fixed to the metal block 14 with a set screw 15.

図6に示すように、キャリアテープ2のテープ幅方向に、例えば寸法公差(±0.1mm)内でのばらつき等による変動があっても、板状のばね13がそのキャリアテープ2の一方の側面の形状に追従して柔軟に動くので、テープ送り方向の摺動抵抗を小さく抑えることができる。さらに、板状のばね13のキャリアテープ2と接触する部分は所定の曲率半径を有する曲面となっており、キャリアテープ2との接触面積を小さくしている。板状のばね13の厚さ(d)は、例えば0.2mm、その幅は、例えば3.0mmである。板状のばね13とキャリアテープ2との接触面積が大きくなると、キャリアテープ2に負荷がかかり、テープ送り方向に摺動抵抗が発生してキャリアテープ2が定位置まで送られなくなるが、板状のばね13とキャリアテープ2との接触面積を小さくしているので、テープ送り方向の摺動抵抗を小さく抑えることができる。   As shown in FIG. 6, even if there is a variation in the tape width direction of the carrier tape 2 due to, for example, a variation within a dimensional tolerance (± 0.1 mm), the plate-like spring 13 is one of the carrier tapes 2. Since it moves flexibly following the shape of the side surface, the sliding resistance in the tape feeding direction can be kept small. Further, the portion of the plate-like spring 13 that comes into contact with the carrier tape 2 is a curved surface having a predetermined radius of curvature, thereby reducing the contact area with the carrier tape 2. The plate-like spring 13 has a thickness (d) of 0.2 mm, for example, and a width of 3.0 mm, for example. When the contact area between the plate-like spring 13 and the carrier tape 2 is increased, a load is applied to the carrier tape 2 and sliding resistance is generated in the tape feeding direction, so that the carrier tape 2 cannot be fed to a fixed position. Since the contact area between the spring 13 and the carrier tape 2 is reduced, the sliding resistance in the tape feeding direction can be kept small.

図7(a)、(b)および(c)に、ばね性を持たせた押さえの他の例を示す。図7(a)に示す押さえはばね鋼からなる板状のばね16であり、板状のばね16のキャリアテープ2の一方の側面と接触する部分が曲げられて、その部分が平面となっている。図7(b)に示す押さえはばね鋼からなる板状のばね17であり、板状のばね17のキャリアテープ2の一方の側面と接触する部分は面取りがしてあり、丸く加工されている。図7(c)に示す押さえは金属ブロック18aにばね18bを取り付けたものであり、金属ブロック18aのキャリアテープ2の一方の側面と接触する部分は曲面となっている。なお、ばね性を持たせた押さえの例としては、上記形状に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形できることはいうまでもない。   FIGS. 7A, 7B, and 7C show other examples of a presser having a spring property. The press shown in FIG. 7A is a plate-like spring 16 made of spring steel, and a portion of the plate-like spring 16 that contacts one side surface of the carrier tape 2 is bent so that the portion becomes a flat surface. Yes. The press shown in FIG. 7B is a plate-like spring 17 made of spring steel, and a portion of the plate-like spring 17 that contacts one side surface of the carrier tape 2 is chamfered and rounded. . The press shown in FIG. 7C is obtained by attaching a spring 18b to a metal block 18a, and a portion of the metal block 18a that contacts one side surface of the carrier tape 2 is a curved surface. In addition, as an example of the holding | suppressing which gave spring property, it is not limited to the said shape, and it cannot be overemphasized that it can change variously in the range which does not deviate from the summary.

このように、キャリアテープ2の位置決め用の押さえとして、調整駒11およびばね性を持たせた押さえによってキャリアテープ2のテープ幅方向を挟むことにより、キャリアテープ2の幅に変動があっても、テープ送り方向の摺動抵抗を小さく抑えることができるので、キャリアテープ2を定位置へ正確に移動させることができる。これにより、例えば半導体装置10がキャリアテープ2上に乗り上げるまたは破損するなどの半導体装置10の収納トラブルが減少するので、テーピング装置1の停止回数が減少して稼働率が向上する。その結果、テーピング梱包の生産効率が向上する。   Thus, even if there is a fluctuation in the width of the carrier tape 2 by sandwiching the tape width direction of the carrier tape 2 with the adjusting piece 11 and the press having springiness as a press for positioning the carrier tape 2, Since the sliding resistance in the tape feeding direction can be kept small, the carrier tape 2 can be accurately moved to a fixed position. As a result, for example, the storage trouble of the semiconductor device 10 such as the semiconductor device 10 riding on or being damaged on the carrier tape 2 is reduced, so that the number of times the taping device 1 is stopped is reduced and the operating rate is improved. As a result, the production efficiency of taping packaging is improved.

次に、外観検査部6bにおいて、外観検査装置19を用いてキャリアテープ2の窪み2aに収納された半導体装置10の外観検査を行う。外観検査装置19は、図示は省略するが、半導体装置10へ光を照射する光源、半導体装置10から反射した光を取り込むカメラおよび画像処理装置等を備えている。この外観検査部6bにも、キャリアテープ2の位置決め用の押さえとして、前述したキャリアテープ2の位置決めを行うための調節駒11およびばね性を持たせた押さえが設けられている。   Next, in the appearance inspection unit 6b, the appearance inspection of the semiconductor device 10 accommodated in the recess 2a of the carrier tape 2 is performed using the appearance inspection device 19. Although not shown, the appearance inspection device 19 includes a light source that irradiates light to the semiconductor device 10, a camera that captures light reflected from the semiconductor device 10, an image processing device, and the like. The appearance inspection section 6b is also provided with a control piece 11 for positioning the carrier tape 2 and a presser with springiness as a press for positioning the carrier tape 2.

次に、図8に示すように、カバーテープ装着部6cにおいて、キャリアテープ2の窪み2aを覆うカバーテープ8をキャリアテープ2上に載せた後、カバーテープ熱圧着部6dにおいて、キャリアテープ2とカバーテープ8とを熱圧着により貼り合わせて、半導体装置10をキャリアテープ2に梱包する。   Next, as shown in FIG. 8, after the cover tape 8 covering the recess 2a of the carrier tape 2 is placed on the carrier tape 2 in the cover tape mounting portion 6c, the carrier tape 2 The cover tape 8 is bonded together by thermocompression bonding, and the semiconductor device 10 is packed in the carrier tape 2.

次に、キャリアテープ2を完成テープ巻き取りリール4に巻き取る。その後、完成テープ巻き取りリール4は、例えば防湿された袋に収納された状態で、出荷される。   Next, the carrier tape 2 is wound around the finished tape take-up reel 4. Thereafter, the finished tape take-up reel 4 is shipped in a state of being stored in, for example, a moisture-proof bag.

以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。   As mentioned above, the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiment. However, the present invention is not limited to the embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

例えば前記実施の形態では、半導体装置をキャリアテープに梱包するテーピング装置のキャリアテープ位置決めに本発明を適用した実施の形態を説明したが、例えば磁気テープの巻き取り装置等にも適用することができる。   For example, in the above-described embodiment, the embodiment in which the present invention is applied to the carrier tape positioning of the taping device that packs the semiconductor device on the carrier tape has been described. However, the present invention can also be applied to, for example, a magnetic tape winding device. .

本発明は、半導体装置をキャリアテープに梱包するテーピング装置のキャリアテープの位置決め機構に適用することができる。   The present invention can be applied to a carrier tape positioning mechanism of a taping device that packs a semiconductor device on a carrier tape.

本発明の一実施の形態によるテーピング装置の構成図である。It is a lineblock diagram of a taping device by one embodiment of the present invention. (a)、(b)および(c)はそれぞれ本発明の一実施の形態によるキャリアテープの要部平面図、同図(a)のA−A′線における要部断面図および同図(a)のB−B′線における要部断面図である。(A), (b), and (c) are the principal part top views of the carrier tape by one Embodiment of this invention, respectively, A principal part sectional drawing in the AA 'line of the figure (a), and the figure (a) It is principal part sectional drawing in the BB 'line of (). 本発明の一実施の形態による図1のC−C′線における要部断面をキャリアテープの送り方向側から見た図である。It is the figure which looked at the principal part cross section in the CC 'line | wire of FIG. 1 by one Embodiment of this invention from the feed direction side of the carrier tape. (a)および(b)はそれぞれ本発明の一実施の形態によるキャリアテープの窪みに半導体装置が収納された要部上面図および同図(a)のD−D′線における要部断面図である。(A) And (b) is the principal part top view by which the semiconductor device was accommodated in the hollow of the carrier tape by one Embodiment of this invention, respectively, and the principal part sectional drawing in the DD 'line of the figure (a). is there. 本発明の一実施の形態によるテーピング装置に備わるキャリアテープの位置決め部分の概略平面図である。It is a schematic plan view of the positioning part of the carrier tape with which the taping apparatus by one embodiment of this invention is equipped. テーピング装置に備わるキャリアテープの位置決め部分の一部を拡大した模式図である。It is the schematic diagram which expanded a part of positioning part of the carrier tape with which a taping apparatus is equipped. 本発明の一実施の形態によるテーピング装置に備わるキャリアテープの位置決め押さえの各種形状を示す図である。It is a figure which shows the various shapes of the positioning press of the carrier tape with which the taping apparatus by one embodiment of this invention is equipped. 本発明の一実施の形態による図1のE−E′線における要部断面をキャリアテープの送り方向側から見た図である。It is the figure which looked at the principal part cross section in the EE 'line | wire of FIG. 1 by one Embodiment of this invention from the feed direction side of the carrier tape.

符号の説明Explanation of symbols

1 テーピング装置
2 キャリアテープ
2a 窪み
3 キャリアテープ供給リール
4 完成テープ巻き取りリール
5 第1テープ送りローラ
6 テーピングレール
6a デバイス収納部
6b 外観検査部
6c カバーテープ装着部
6d カバーテープ熱圧着部
6e 窪み
6f 磁石
7 第2テープ送りローラ
8 カバーテープ
9 吸着コレット
10 半導体装置(半導体パッケージ)
10a 第1リード
10b 第2リード
10c 半導体チップ
10d ワイヤ
10e 樹脂体
11 調節駒
12 ねじ
13 板状のばね
14 金属ブロック
15 セットねじ
16,17 板状のばね
18a 金属ブロック
18b ばね
19 外観検査装置
20 テーピングレールカバー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Taping apparatus 2 Carrier tape 2a hollow 3 Carrier tape supply reel 4 Completed tape take-up reel 5 First tape feed roller 6 Taping rail 6a Device storage part 6b Appearance inspection part 6c Cover tape mounting part 6d Cover tape thermocompression bonding part 6e Depression 6f Magnet 7 Second tape feed roller 8 Cover tape 9 Adsorption collet 10 Semiconductor device (semiconductor package)
10a 1st lead 10b 2nd lead 10c Semiconductor chip 10d Wire 10e Resin body 11 Adjustment piece 12 Screw 13 Plate spring 14 Metal block 15 Set screw 16, 17 Plate spring 18a Metal block 18b Spring 19 Appearance inspection device 20 Taping Rail cover

Claims (6)

以下の工程を含むことを特徴とする半導体装置の梱包方法:
(a)第1窪みを有するテープを前記テープの形状に合わせた第2窪みを有するテーピングレールに収容した状態で、前記テーピングレールに沿って、前記テープを搬送させる工程;
(b)前記(a)工程の後、前記テーピングレールが備えるデバイス収納部において、前記テープの前記第1窪みに前記半導体装置を収納する工程;
ここで、
前記テーピングレールの前記デバイス収納部には、テープ送り方向に直交するテープ幅方向の一方側に固定される調節駒、および前記テープ幅方向の他方側で、前記調節駒と対向する位置に固定され、かつ、ばね性を持たせた押さえが設けられており、
前記テーピングレールの前記第2窪みの前記テープ幅方向の開口幅は、前記テープの幅よりも広く、
前記(b)工程では、前記調整駒と前記押さえで前記テープを挟み、前記押さえの一部が前記テープの一方の側面と点接触することで、前記テープ幅方向の前記テープの位置決めを行った後、前記テープの前記第1窪みに前記半導体装置を収納する。
A semiconductor device packaging method comprising the following steps:
(A) in a state of being accommodated in a taping rail having a second recess the combined tape to the shape of the tape having a first recess, along the taping rail, the step of conveying the tape;
(B) After the step (a), in the device storage section provided in the taping rail , storing the semiconductor device in the first recess of the tape;
here,
In the device storage portion of the taping rail, an adjustment piece fixed to one side in the tape width direction orthogonal to the tape feeding direction and a position facing the adjustment piece on the other side in the tape width direction are fixed. And a presser with springiness is provided,
The opening width in the tape width direction of the second recess of the taping rail is wider than the width of the tape,
In the step (b), the tape is sandwiched between the adjustment piece and the presser, and a part of the presser is in point contact with one side surface of the tape, thereby positioning the tape in the tape width direction. after, you accommodating the semiconductor device wherein the first recess of said tape.
請求項記載の半導体装置の梱包方法において、
前記半導体装置の平面形状は四角形からなり、
前記半導体装置の平面視における寸法は、0.62±0.02mm×0.32±0.03mmであり、
前記テープの前記第1窪みの平面形状は四角形からなり、
前記テープの前記第1窪みの平面視における寸法は、0.72±0.05mm×0.42±0.05mmであることを特徴とする半導体装置の梱包方法。
The packaging method for a semiconductor device according to claim 1 ,
The planar shape of the semiconductor device is a quadrangle,
The dimension in plan view of the semiconductor device is 0.62 ± 0.02 mm × 0.32 ± 0.03 mm,
The planar shape of the first recess of the tape is a quadrangle,
The semiconductor device packaging method, wherein a dimension of the first depression of the tape in a plan view is 0.72 ± 0.05 mm × 0.42 ± 0.05 mm.
請求項記載の半導体装置の梱包方法において、
前記(b)工程では、吸着コレットを用いることを特徴とする半導体装置の梱包方法。
The method for packing a semiconductor device according to claim 2 ,
In the step (b), a semiconductor device packaging method using an adsorption collet.
請求項1記載の半導体装置の梱包方法において、
(c)前記(b)工程の後、前記テーピングレールに設けられた外観検査部において、前記テープの前記第1窪みに収納された前記半導体装置の外観検査を行う工程、をさらに含み、
前記外観検査部には、前記テープの前記第1窪みに収納された前記半導体装置の画像を取得し検査する画像処理装置と、
前記テープ幅方向の一方側に固定される第2の調節駒、および前記テープ幅方向の他方側で、前記第2の調節駒と対向する位置に固定され、かつ、ばね性を持たせた第2の押さえが設けられており、
前記(c)工程では、前記第2の調整駒と前記第2の押さえで前記テープを挟み、前記押さえの一部が前記テープの一方の側面と点接触することで、前記テープ幅方向の前記テープの位置決めを行った後、前記半導体装置の外観検査を行うことを特徴とする半導体装置の梱包方法
The packaging method for a semiconductor device according to claim 1,
(C) after the step (b), further including a step of performing an appearance inspection of the semiconductor device housed in the first recess of the tape in an appearance inspection section provided on the taping rail;
In the appearance inspection unit, an image processing apparatus that acquires and inspects an image of the semiconductor device stored in the first depression of the tape;
A second adjustment piece fixed to one side in the tape width direction, and a second adjustment piece fixed to a position facing the second adjustment piece on the other side in the tape width direction, and having a spring property There are 2 pressers,
In the step (c), the tape is sandwiched between the second adjustment piece and the second presser, and a part of the presser is in point contact with one side surface of the tape, whereby the tape width direction A packaging method of a semiconductor device, wherein after the tape is positioned, an appearance inspection of the semiconductor device is performed .
請求項4記載の半導体装置の梱包方法において、The method of packing a semiconductor device according to claim 4,
(d)前記(c)工程の後、前記テープの前記第1窪みに収納された前記半導体装置を覆うカバーテープを、熱圧着により前記テープに貼り付ける工程、をさらに含むことを特徴とする半導体装置の梱包方法。(D) After the step (c), the semiconductor further includes a step of attaching a cover tape covering the semiconductor device housed in the first depression of the tape to the tape by thermocompression bonding. How to pack the device.
請求項1記載の半導体装置の梱包方法において、The packaging method for a semiconductor device according to claim 1,
前記テーピングレール上の一部に、前記テープおよび前記半導体装置を覆うテーピングレールカバーが設置されていることを特徴とする半導体装置の梱包方法。A packaging method for a semiconductor device, wherein a taping rail cover that covers the tape and the semiconductor device is installed on a part of the taping rail.
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