JP5242641B2 - 発光装置の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、基板に搭載された発光素子(半導体発光素子)が封止樹脂に覆われてなる発光装置、およびその製造方法に関するものであり、特に、封止樹脂を基板から剥離し難くする技術に関するものである。
LED(Light Emitting Diode:発光ダイオード)は、近年の効率向上に伴い、電球あるいは蛍光灯よりも省エネルギーの光源として、表示装置のバックライトや照明器具に広く用いられるようになってきている。従来、LEDのような発光素子を用いた発光装置は多く提案されており、特に、基板に搭載した発光素子を、蛍光体(蛍光粒子)を含有した樹脂で封止してなる発光装置が知られている。
このような発光装置では、蛍光体によって発光素子から発せられた短波長の光を励起し2次光を発生させることにより、発光素子からの光と蛍光体からの光とを合成することで、所定の色度の光を得ている。例えば、青色発光素子と黄色蛍光体とを組み合わせることにより、青色発光素子から発した青色光を蛍光体で黄色光に変換し、青色光と黄色光とを合成することによって、白色光を得ることができる。
ここで、封止樹脂を形成する方法として、例えば、金型を用いた圧縮成形がある(例えば、特許文献1参照)。しかし、圧縮成形では、液状の蛍光体含有樹脂を硬化するために温度を上げると、樹脂粘度の低下が往々にして発生する。その際、樹脂中の蛍光体が重力によって沈降し、下型の凹部の底、すなわち完成した発光装置の封止樹脂の頂上部に、蛍光体が集中することがある。封止樹脂の頂上部に蛍光体が集中すると、発光素子から蛍光体が離れることになり、蛍光体の波長変換効率が低下する。このため、蛍光体を多く添加する必要があるが、コスト面から好ましくない。
また、発光素子に対し上方に出射される光は、蛍光体を通過するので発光波長スペクトルが広がる一方、発光素子に対し側方に出射される光は蛍光体を通過しないため、その発光波長スペクトルは発光素子の発光波長スペクトルに近いものとなる。このため、発光装置全体としては、方向によって発光波長スペクトル、すなわち色が異なることがある。
したがって、圧縮成形を用いて封止樹脂を形成した場合、発光装置として適切でないものとなることがあった。金型を回転することで発光素子および基板側に重力が作用するようにすれば上記の蛍光体が沈降する問題は解決できるが、成形機が煩雑になるなど問題が多い。
そこで、上記の蛍光体が沈降する問題を回避するため、また、全体的なコスト削減の要求に応じてコストをできる限り抑えるために、金型を用いた圧縮成形を使用しない封止方法も提案されている。このような封止方法としては、発光素子が搭載された側の基板表面に、発光素子を収容可能な貫通孔が形成されたダムシート(堰き止め部材)を貼り付けた後、液状の蛍光体含有樹脂を貫通孔に注入し加熱硬化することによって、封止樹脂を形成する方法がある。
この封止方法によれば、ダムシートにより液状の蛍光体含有樹脂を貫通孔内に堰き止めて、封止樹脂を形成することができる。また、加熱硬化時に樹脂中の蛍光体が重力によって沈降しても、蛍光体は発光素子側に沈降することになり、発光素子を覆うようになるので、方向による発光波長スペクトル、すなわち色の変動が抑制される。
しかしながら、上記の封止方法では、封止毎にダムシートを捨てていたため、コスト高になるという問題があった。そこで、ダムシートの替わりに、撥水膜を用いる方法が提案されている。
例えば特許文献2には、複数の発光素子を配設した平面基板上において、封止層の形成範囲を取り囲むように、撥水性の液状樹脂(例えば、フッ素樹脂)からなるリング状枠部を形成した後、液状の透明樹脂(例えば、シリコーン樹脂またはエポキシ樹脂など)をリング状枠部内に注入し加熱硬化することによって、封止層を形成する方法が記載されている。撥水膜としてのリング状枠部は、液状樹脂がリング状枠部を超えて拡がることを阻止することから、最終的に液状樹脂がリング状枠部内に均一な厚さとして保持され、目的とする寸法を有する封止層を得ることができる。
一方、近年においては、発光効率の一層の向上が求められている。そこで、発光効率を向上させるために、基板に搭載した発光素子を封止する蛍光体含有樹脂を、さらに透明樹脂で覆う構造を有する、2重封止型の発光装置が提案されている。上記の構造を撥水膜を用いて製造する場合、上述のように撥水膜を用いて発光素子を封止するように蛍光体含有樹脂を形成した後、蛍光体含有樹脂を覆うように透明樹脂を形成している。
特開2007−194287号公報(2007年8月2日公開) 特開平10−294498号公報(1998年11月4日公開)
しかしながら、従来の封止方法を用いて作製された発光装置では、封止樹脂に外部からの応力が加わると、封止樹脂が基板から剥離しやすいという問題点を有している。例えば、近年、特に大型の表示装置に対して薄型化の要求が強まっている。それゆえ、表示装置は薄型化の傾向にあるため、表示装置に発光装置を組み込む際に、表示装置の筐体と発光装置の封止樹脂とが接触し、基板と封止樹脂との界面で剥離が生じてしまうことがある。基板と封止樹脂との界面で剥離が起こると、最悪の場合、基板に形成された配線パターンと発光素子とを電気的に接続するワイヤーが断線し、接続不良となる。
また、基板に搭載した発光素子を蛍光体含有樹脂および透明樹脂で封止する、2重封止型の発光装置では、撥水膜を用いて蛍光体含有樹脂を形成すると、透明樹脂が撥水膜の上に形成されることになる。しかし、透明樹脂は撥水膜との密着性が低いため、透明樹脂に外部からの応力が加わると、非常に剥離しやすい。
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、封止樹脂を剥離し難くすることができる発光装置、および、発光装置の製造方法を提供することにある。
本発明の発光装置の製造方法は、上記課題を解決するために、少なくとも1つの発光素子と該発光素子を覆う第1封止樹脂とを有する発光部が、基板の第1の面に少なくとも1つ搭載されている発光装置の製造方法であって、基板の第1の面の少なくとも上記発光部を搭載させる領域に、酸化シリコン系絶縁膜を形成する工程と、上記酸化シリコン系絶縁膜を覆うように上記基板の第1の面に、撥水膜を形成する工程と、上記発光部を搭載させる領域に形成した酸化シリコン系絶縁膜を露出させるための開口部を、上記撥水膜に形成する工程と、上記基板に設けられた配線パターンの電極を覆っている上記酸化シリコン系絶縁膜を、加熱された金線によって突き破って当該配線パターンの電極に到達させて、当該配線パターンの電極と、上記発光素子の電極とを当該金線を用いてワンヤボンディングすることによって、上記開口部の酸化シリコン系絶縁膜の上に、上記発光素子を搭載する工程と、上記発光素子を覆うように上記開口部に液状樹脂を注入し、該液状樹脂を硬化させることによって上記第1封止樹脂を形成する工程と、上記第1封止樹脂の形成後、上記撥水膜を除去する工程と、上記第1封止樹脂を覆うように上記酸化シリコン系絶縁膜の上面に、第2封止樹脂を直接形成する工程とを含むことを特徴としている。
上記の構成によれば、開口部に液状樹脂を注入すると、樹脂の表面張力で自己整合的に半球状となるため、発光素子を覆うことが可能となる。また、液状樹脂を硬化する際に温度を上げると、樹脂の粘度が下がり、樹脂自体が広がろうとするが、撥水膜によってはじかれるので、半球状に保たれた第1封止樹脂を形成することが可能となる。
また、第1封止樹脂は、基板に直接形成された酸化シリコン系絶縁膜に直接形成されている。それゆえ、従来のように第1封止樹脂が基板に直接形成される場合の密着強度に比べて、基板と酸化シリコン系絶縁膜との密着強度、および、酸化シリコン系絶縁膜と第1封止樹脂との密着強度の方が強いため、基板に対する第1封止樹脂の密着性を向上することが可能となる。したがって、外部からの応力が第1封止樹脂に加わっても、第1封止樹脂を剥離し難くすることが可能となる。
さらに、上記の構成によれば、撥水膜が除去されているので、第2封止樹脂は、撥水膜の上に形成されることなく、酸化シリコン系絶縁膜の上面に形成されることになる。よって、第2封止樹脂は優れた密着性を有することが可能となり、外部からの応力が第2封止樹脂に加わっても、第2封止樹脂が剥離する可能性を低くすることが可能となる。
また、本発明の発光装置の製造方法では、上記酸化シリコン系絶縁膜を形成する工程は、上記酸化シリコン系絶縁膜を形成する前に、上記基板の第1の面の全域に、アルミナ系絶縁膜を直接形成する工程と、上記アルミナ系絶縁膜の上面の、少なくとも上記発光部を搭載させる領域に、酸化シリコン系絶縁膜を直接形成する工程とからなり、上記撥水膜を形成する工程では、上記アルミナ系絶縁膜の上面における酸化シリコン系絶縁膜が形成されていない領域と、上記酸化シリコン系絶縁膜を覆う領域とに、上記撥水膜を形成することを特徴としている。
上記の構成によれば、開口部に液状樹脂を注入すると、樹脂の表面張力で自己整合的に半球状となるため、発光素子を覆うことが可能となる。また、液状樹脂を硬化する際に温度を上げると、樹脂の粘度が下がり、樹脂自体が広がろうとするが、撥水膜によってはじかれるので、半球状に保たれた第1封止樹脂を形成することが可能となる。さらに、基板にはアルミナ系絶縁膜が形成されているので、基板の表面状態および材質の影響による、撥水膜の撥水性低下を防止することが可能となる。
また、第1封止樹脂は酸化シリコン系絶縁膜に直接形成され、酸化シリコン系絶縁膜は、基板に直接形成されたアルミナ系絶縁膜に直接形成されている。それゆえ、従来のように第1封止樹脂が基板に直接形成される場合の密着強度に比べて、基板とアルミナ系絶縁膜との密着強度、アルミナ系絶縁膜と酸化シリコン系絶縁膜との密着強度、および、酸化シリコン系絶縁膜と第1封止樹脂との密着強度の方が強いため、基板に対する第1封止樹脂の密着性を向上することが可能となる。したがって、外部からの応力が第1封止樹脂に加わっても、第1封止樹脂を剥離し難くすることが可能となる。
また、本発明の発光装置の製造方法では、上記酸化シリコン系絶縁膜を形成する工程では、上記基板の第1の面の少なくとも上記発光部を搭載させる領域に、酸化シリコン系絶縁膜を直接形成することが好ましい。
本発明の発光装置の製造方法は、基板の第1の面の少なくとも上記発光部を搭載させる領域に、酸化シリコン系絶縁膜を形成する工程と、上記酸化シリコン系絶縁膜を覆うように上記基板の第1の面に、撥水膜を形成する工程と、上記発光部を搭載させる領域に形成した酸化シリコン系絶縁膜を露出させるための開口部を、上記撥水膜に形成する工程と、上記基板に設けられた配線パターンの電極を覆っている上記酸化シリコン系絶縁膜を、加熱された金線によって突き破って当該配線パターンの電極に到達させて、当該配線パターンの電極と、上記発光素子の電極とを当該金線を用いてワンヤボンディングすることによって、上記開口部の酸化シリコン系絶縁膜の上に、上記発光素子を搭載する工程と、上記発光素子を覆うように上記開口部に液状樹脂を注入し、該液状樹脂を硬化させることによって上記第1封止樹脂を形成する工程と、上記第1封止樹脂の形成後、上記撥水膜を除去する工程と、上記第1封止樹脂を覆うように上記酸化シリコン系絶縁膜の上面に、第2封止樹脂を直接形成する工程とを含む方法である。
それゆえ、第1封止樹脂は、基板に直接形成された酸化シリコン系絶縁膜に直接形成されているので、基板に対する第1封止樹脂の密着性を向上することができる。したがって、外部からの応力が第1封止樹脂に加わっても、第1封止樹脂を剥離し難くすることができるという効果を奏する。
本発明における発光装置の実施の一形態を示す断面図である。 図1の発光装置の平面図である。 図1の発光装置の製造工程の流れを示すフローチャートである。 図1の発光装置の製造工程を示しており、アルミナ系絶縁膜および酸化シリコン系絶縁膜を形成したときの構成を示す断面図である。 図1の発光装置の製造工程を示しており、フッ素系撥水膜を形成したときの構成を示す断面図である。 図1の発光装置の製造工程を示しており、フッ素系撥水膜に開口部を形成したときの構成を示す図である。 図1の発光装置の製造工程を示しており、LEDチップを搭載したときの構成を示す断面図である。 図1の発光装置の製造工程を示しており、蛍光体含有封止樹脂を形成している様子を示す断面図である。 図1の発光装置の製造工程を示しており、フッ素系撥水膜を除去したときの構成を示す図である。 本発明における発光装置の他の実施の形態を示す平面図である。 本発明における発光装置のさらに他の実施の形態を示す平面図である。 本発明における発光装置のさらに他の実施の形態を示す断面図である。 図12の発光装置の製造工程の流れを示すフローチャートである。 図12の発光装置の製造工程を示しており、透光性樹脂ドームおよび透光性樹脂層を形成している様子を示す図である。
〔実施の形態1〕
本発明の一実施形態について図面に基づいて説明すれば、以下の通りである。本実施の形態では、照明装置および表示装置などの光源として利用することが可能な発光装置について説明する。なお、以下の説明では、図1の上側および下側を、発光装置の上側および下側とする。
図1は、本実施の形態の発光装置10の一構成例を示す断面図である。図2は、発光装置10の平面図である。図1および図2に示すように、発光装置10は、基板11、アルミナ系絶縁膜12、酸化シリコン系絶縁膜13、LEDチップ14(発光素子)、および蛍光体含有封止樹脂16(第1封止樹脂)を備えている。なお、図2では、LEDチップ14を明示するために、蛍光体含有封止樹脂16を適宜透視して記載している。
基板11は、単層構造の平面基板である。基板11の材質は、表面の反射作用が高いものが好ましく、セラミックなどが好適である。基板11の上面(以下、実装面と称する)に、アルミナ系絶縁膜12、酸化シリコン系絶縁膜13、LEDチップ14、および蛍光体含有封止樹脂16が設けられている。また、基板11の実装面には、電極を含む配線パターン(図示せず)が形成されている。配線パターンは、LEDチップ14の搭載位置に応じて、予め定められた位置に設けられている。配線パターンには、いわゆるソルダーレジストは形成されていない。
アルミナ系絶縁膜12は、基板11の表面状態および材質の影響による、発光装置10の製造工程にて形成するフッ素系撥水膜17(後述する)の撥水性低下を防止するための、調整膜としての機能を奏する。アルミナ系絶縁膜12は、アルミナを主体とする樹脂からなる絶縁膜であればよい。アルミナ系絶縁膜12は、基板11の実装面の全域に直接形成されている。
酸化シリコン系絶縁膜13は、蛍光体含有封止樹脂16の密着性を高めるためのものである。酸化シリコン系絶縁膜13は、酸化シリコンを主体とする樹脂からなる絶縁膜であればよく、例えば、シリコン酸化膜などでもよい。酸化シリコン系絶縁膜13は、アルミナ系絶縁膜12の上面の全域に直接形成されている。
LEDチップ14は、発光ピーク波長が450nm付近の青色光を発光する発光ダイオードであるが、これに限るものではない。LEDチップ14は、基板11の実装面、厳密には酸化シリコン系絶縁膜13の上に、複数個(本実施例では4個)搭載されている。LEDチップ14の電気的接続は、金線15を用いたワイヤボンディングによって行われている。LEDチップ14は、金線15により、基板11の配線パターンに電気的に接続されている。金線15は、例えば金からなる。
蛍光体含有封止樹脂16は、蛍光体を含有する樹脂からなる樹脂層である。蛍光体含有封止樹脂16は、LEDチップ14毎に設けられており、LEDチップ14および当該LEDチップ14に直接接続された金線15を覆うように形成されている。蛍光体含有封止樹脂16は、半球状(ドーム状)の外観形状を有している。
上記蛍光体としては、赤色蛍光体(Sr、Ca)AlSiN:Eu、および、緑色蛍光体Ca(Sc、Mg)Si12:Ceを用いる。但し、これに限らず、蛍光体としては、例えば、BOSE(Ba、O、Sr、Si、Eu)や、SOSE(Sr、Ba、Si、O、Eu)、YAG(Ce賦活イットリウム・アルミニウム・ガーネット)、αサイアロン((Ca)、Si、Al、O、N、Eu)、βサイアロン(Si、Al、O、N、Eu)などを好適に用いることもできる。LEDチップ14の発光色との組合せにより、発光装置10から所定の色(色度)の発光を得るような蛍光体を、適宜選択することができる。
上記構成を有する発光装置10では、それぞれの蛍光体含有封止樹脂16の表面から光が出射される。つまり、発光装置10では、1つのLEDチップ14と該LEDチップ14を覆う蛍光体含有封止樹脂16とが発光部を構成しており、この発光部が複数搭載されている。発光部は、図2に示すように、平面視で2行2列のマトリクス状に配置されているが、等間隔である必要は無く、発光部の配置は特に限定されない。但し、発光部個々の輝点状発光になることを抑制するためには、例えばマトリクス状や放射状などの等間隔な配列で、集積度の高いパターンとすることが好ましい。
なお、発光部は、発光装置10に設定する光の強度などに応じて、その個数が決まるものである。それゆえ、発光部は、複数搭載されている場合に限らず、少なくとも1つ搭載されていればよい。
(発光装置の製造方法)
次に、発光装置10の製造方法について説明する。
図3は、発光装置10の製造工程の流れを示すフローチャートである。図4〜図9は、発光装置10の各製造工程を簡略的に示している。
図3に示すように、発光装置10の製造工程は、絶縁膜形成工程(ステップS11)、撥水膜形成工程(ステップS12)、撥水パターン形成工程(ステップS13)、LEDチップダイボンド工程およびワイヤーボンド工程(ステップS14)、蛍光体含有封止樹脂作製工程(ステップS15)、および撥水膜除去工程(ステップS16)を含む。以下、工程毎に詳細に説明する。
なお、絶縁膜形成工程の前に、基板11に配線パターンを形成する工程があるが、この工程では、配線パターンを従来一般的に知られた材料および形成方法で形成するため、ここではその説明を省略する。
<ステップS11:絶縁膜形成工程>
まず、図4に示すように、配線パターン(図示せず)が実装面に形成された基板11に、アルミナ系絶縁膜12および酸化シリコン系絶縁膜13をこの順番に形成する。具体的には、配線パターンが実装面に形成された基板11をチャンバー(図示せず)内に設置し、基板11の実装面を酸素プラズマを用いて洗浄・活性化させる。そして、反応ガスとして、100℃に加熱し気化させた酸化アルミニウム(Al)を、予め55℃に加熱したチャンバー内に導入する。その後、該チャンバー内に0.23〜0.50torrの圧力を印加し、Åレベルの膜厚で、基板11の実装面全域にアルミナ系絶縁膜12を成膜する。
続いて、同一チャンバー内で、アルミナ系絶縁膜12の上面を酸素プラズマを用いて洗浄・活性化させた後、反応ガスとして、100℃に加熱し気化させたシラン基系成膜材料と触媒(HO)とを、予め55℃に加熱したチャンバー内に導入する。その後、該チャンバー内に0.23〜0.50torrの圧力を印加し、Åレベルの膜厚で、アルミナ系絶縁膜12の上面全域に酸化シリコン系絶縁膜13を成膜する。なお、アルミナ系絶縁膜12および酸化シリコン系絶縁膜13の形成方法はこれに限定されない。
これにより、アルミナ系絶縁膜12および酸化シリコン系絶縁膜13が、基板11側からこの順番で、基板11の実装面全域に積層される。基板11の配線パターンは、アルミナ系絶縁膜12および酸化シリコン系絶縁膜13により被覆される。最適な膜厚は、例えば、アルミナ系絶縁膜12は10nm〜12nm、酸化シリコン系絶縁膜13は10nm〜12nmである。
<ステップS12:撥水膜形成工程>
続いて、図5に示すように、酸化シリコン系絶縁膜13の上面全域に、フッ素系撥水膜17(撥水膜)を形成する。具体的には、ナノプリント技術を用いて、酸化シリコン系絶縁膜13の上面全域に、フッ素系撥水膜17(FDTS(perfluorodecyltrichlorosilane))を成膜する。なお、フッ素系撥水膜17の形成方法はこれに限定されない。
これにより、フッ素系撥水膜17が、酸化シリコン系絶縁膜13の上面全域に積層される。つまりは、アルミナ系絶縁膜12、酸化シリコン系絶縁膜13、およびフッ素系撥水膜17が、基板11側からこの順番で、基板11の実装面全域に積層される。フッ素系撥水膜17の最適な膜厚は、例えば、1.5nm〜2.0nmである。
<ステップS13:撥水パターン形成工程>
続いて、撥水パターンを形成する。言い換えると、図6に示すように、リアクティブイオンエッチング(RIE)プラズマ装置において、蛍光体含有封止樹脂16の搭載領域に対応する開口部19を形成するように、フッ素系撥水膜17にパターニングを施す。撥水パターンは、蛍光体含有封止樹脂16の形成領域を規定するための、フッ素系撥水膜17に搭載されたパターンである。
具体的には、まず、パターンマスク18を、フッ素系撥水膜17の上に設置する(被せる)。パターンマスク18は、ステンレス製の基材であり、開口部19を形成するための開口部(貫通穴)が予め形成されている。続いて、図6に示すように、パターンマスク18が搭載された基板11をチャンバー100内に設置する。チャンバー100には、カソード電極101とアノード電極102とが対向して配置されている。基板11は、カソード電極101の上に配置する。そして、RIEによって、パターンマスク18に基づいて、フッ素系撥水膜17に対しエッチングを行う。エッチング後、パターンマスク18を除去する。
これにより、フッ素系撥水膜17は部分的に除去される、すなわちフッ素系撥水膜17に開口部19が形成される。開口部19は、蛍光体含有封止樹脂16を形成する領域に対応するように形成される。開口部19の上面視形状は、例えば円形(角部が丸みを有する長方形や、楕円形、真円形などを含む)であることが好ましいが、これに限らない。開口部19の平面視形状によって、蛍光体含有封止樹脂16の平面視外形形状が決まる。本実施例では、開口部19の平面視形状は、角部が丸みを有する長方形となっている。
<ステップS14:LEDチップダイボンド工程およびワイヤーボンド工程>
続いて、図7に示すように、LEDチップ14を基板11に実装する。具体的には、まず、各LEDチップ14を、例えばシリコーン樹脂などの接着樹脂を用いて、開口部19により露出した酸化シリコン系絶縁膜13の上に、順次ダイボンディングする。これにより、1箇所の開口部19につき、1つのLEDチップ14が設けられる。その後、各LEDチップ14に対して順次、金線15を用いて、LEDチップ14の電極と基板11の配線パターンの電極とをワイヤボンディングする。このとき、基板11の配線パターンの電極は、アルミナ系絶縁膜12および酸化シリコン系絶縁膜13により覆われているが、これらの絶縁膜は比較的薄いため、加熱された金線15は、これらの絶縁膜を突き破って配線パターンの電極に到達することが可能となっている。
<ステップS15:蛍光体含有封止樹脂作製工程>
続いて、図8に示すように、蛍光体含有封止樹脂16を形成する。具体的には、ディスペンサー110を用いて液状の蛍光体入り樹脂を、各開口部19に順次注入する。蛍光体入り樹脂は、液状のシリコーン樹脂に粒子状蛍光体を分散させたものである。ディスペンサー110からは、所定の量、すなわち、LEDチップ14および金線15を覆う程度の蛍光体入り樹脂を吐出させる。開口部19に液状の蛍光体入り樹脂を注入すると、樹脂の表面張力で自己整合的に半球状となるため、LEDチップ14および金線15を覆うことが可能となる。
蛍光体入り樹脂を注入した後は、上記の基板11を、80℃で90分保持し、蛍光体入り樹脂の粘度を低下させ、蛍光体を沈降させる。その後、120℃、60分の条件で蛍光体入り樹脂を硬化させる。この際、温度を上げると、蛍光体入り樹脂の粘度が下がり、樹脂自体が拡がろうとするが、フッ素系撥水膜17によってはじかれる。フッ素系撥水膜17は、液状の蛍光体入り樹脂をはじく性質を有しており、開口部19に注入した蛍光体入り樹脂を、開口部19以外に流出して拡がらせないように働く。よって、半球状を保持したまま、蛍光体入り樹脂を硬化させることが可能となっている。
これにより、LEDチップ14毎に、LEDチップ14および該LEDチップ14に直接接続された金線15を覆う(封止する)蛍光体含有封止樹脂16が形成される。LEDチップ14は、例えば、縦400μm×横250μm×高30μmの外形を有しており、蛍光体含有封止樹脂16は、少なくともこれを覆う程度の大きさで作製される。
<ステップS16:撥水膜除去工程>
続いて、図9に示すように、フッ素系撥水膜17を除去する。除去方法としては、例えば、前の撥水パターン形成工程で使用したリアクティブイオンエッチング(RIE)、および、プラズマ電圧での反応性の高いラジカル雰囲気を用いた等方性処理プラズマエッチングモード(PE)、などを使用することができる。図9は、RIEを使用した場合の様子を示している。フッ素系撥水膜17の除去後は、基板11をチャンバー100から取り出す。このようにして、図1に示した発光装置10を作製し得る。
なお、場合によっては、184nm〜254nmの波長を利用した紫外光(UV)による有機膜除去も可能であるが、照射時間が長くなることで基板11の励起による変色が現れることがあるため、注意が必要である。
以上のように、発光装置10は、LEDチップ14と蛍光体含有封止樹脂16とを有する発光部が、基板11の実装面に複数搭載され、基板11と発光部との間に介在する、アルミナ系絶縁膜12および酸化シリコン系絶縁膜13を備え、アルミナ系絶縁膜12は、基板11の実装面の全域に直接形成され、酸化シリコン系絶縁膜13は、アルミナ系絶縁膜12の上面の全域に直接形成され、蛍光体含有封止樹脂16は、LEDチップ14を覆うように酸化シリコン系絶縁膜13の上に直接形成されている構成を有する。
この構成によれば、蛍光体含有封止樹脂16は酸化シリコン系絶縁膜13に直接形成され、酸化シリコン系絶縁膜13は、基板11に直接形成されたアルミナ系絶縁膜12に直接形成されている。それゆえ、従来のように蛍光体含有封止樹脂16が基板11に直接形成される場合の密着強度に比べて、基板11とアルミナ系絶縁膜12との密着強度、アルミナ系絶縁膜12と酸化シリコン系絶縁膜13との密着強度、および、酸化シリコン系絶縁膜13と蛍光体含有封止樹脂16との密着強度の方が強いため、基板11に対する蛍光体含有封止樹脂16の密着性を向上することが可能となる。したがって、外部からの応力が蛍光体含有封止樹脂16に加わっても、蛍光体含有封止樹脂16を剥離し難くすることが可能となる。発光装置10は、蛍光体含有封止樹脂16と下地層との密着性に優れている。
また、発光装置10では、蛍光体含有封止樹脂16は、フッ素系撥水膜17を用いて形成されている。この形成方法によれば、金型が不要であるので、コストダウンを図ることが可能となる。
さらに、基板11を下側に設置した状態(基板11の実装面が上を向く状態)で成形を行うことができる。それゆえ、硬化時の温度上昇による樹脂の粘度低下により、樹脂中の蛍光体が、重力によってLEDチップ14側に沈降している。よって、蛍光体はLEDチップ14を覆うように配置されることになるので、蛍光体の波長変換効率が向上し、蛍光体の含有量は少なくても所望の波長スペクトルを得ることが可能となる。また、方向による波長スペクトル、すなわち色の変動も抑制することが可能となる。
なお、発光装置10では、酸化シリコン系絶縁膜13は、アルミナ系絶縁膜12の上面の全域に形成されているが、これに限るものではなく、アルミナ系絶縁膜12の上面の、少なくとも発光部が搭載されている領域(蛍光体含有封止樹脂16を成形する領域)に形成(成膜)されていればよい。全域に形成する方が酸化シリコン系絶縁膜13を簡単に形成することができるが、選択的に形成する場合においても、上述の、基板11に対する蛍光体含有封止樹脂16の密着性向上の効果を略同様に得ることができる。
また、酸化シリコン系絶縁膜13が上記のように部分的に形成されている場合は、アルミナ系絶縁膜12が基板11の実装面の全域に形成されているので、フッ素系撥水膜17は、部分的に、アルミナ系絶縁膜12の上に形成されることとなる。それゆえ、アルミナ系絶縁膜12によって、基板11の表面状態および材質の影響による、フッ素系撥水膜17の撥水性低下を防止することが可能となる。
但し、発光装置10では、アルミナ系絶縁膜12を必ずしも備える必要はない。つまりは、アルミナ系絶縁膜12は、上述のように調整膜であるため、基板11の材質によっては必ずしも必須構成ではない。フッ素系撥水膜17の撥水性低下を防止するための調整は、フッ素系撥水膜17の成膜条件や、基板11の改質で、別途調整可能である。
アルミナ系絶縁膜12を削除する場合であっても、蛍光体含有封止樹脂16は、基板11に直接形成された酸化シリコン系絶縁膜13に直接形成されている。それゆえ、従来のように蛍光体含有封止樹脂16が基板11に直接形成される場合の密着強度に比べて、基板11と酸化シリコン系絶縁膜13との密着強度、および、酸化シリコン系絶縁膜13と蛍光体含有封止樹脂16との密着強度の方が強いため、基板11に対する蛍光体含有封止樹脂16の密着性を向上することが可能となる。したがって、外部からの応力が蛍光体含有封止樹脂16に加わっても、蛍光体含有封止樹脂16を剥離し難くすることが可能となる。
また、発光装置10では、LEDチップ14を、蛍光体を含有する蛍光体含有封止樹脂16で封止しているが、蛍光体を含有しない透明樹脂で封止してもよい。発光装置10から所定の色(色度)の発光を得るように、LEDチップ14の発光色、蛍光体の有無、および蛍光体の種類を選択することができる。
また、LEDチップ14の接続方法としてワイヤボンディングを用いているが、フリップチップによるボンディングも可能である。ワイヤボンディングの特色は、金線(ワイヤー)は既存の技術および設備を用いることが可能であり、低コストで製造が可能である反面、金線のエリアおよび金線が影になることによって、光束が低下することがある。フリップチップの特色は、既存の設備の流用が不可能なため、設備投資が必要となりコストアップとなる反面、ワイヤボンディングのようにLEDチップから発光された光を遮る金線が存在しないので、光束が向上する。
なお、発光装置10では、1つのLEDチップ14と該LEDチップ14を覆う蛍光体含有封止樹脂16とが発光部を構成していたが、これに限らず、発光部には、複数のLEDチップ14が含まれていてもよい。すなわち、複数のLEDチップ14と、該複数のLEDチップ14を一括して覆う蛍光体含有封止樹脂16とが発光部を構成してもよい。
このような発光部を備える発光装置の一例を、図10および図11に示す。図10に示す発光装置10aは、3つのLEDチップ14と、該3つのLEDチップ14を一括して覆う蛍光体含有封止樹脂16とを有する発光部が、基板11の実装面に1つ搭載されている構成を有する。図11に示す発光装置10bは、8つのLEDチップ14と、該8つのLEDチップ14を一括して覆う蛍光体含有封止樹脂16とを有する発光部が、基板11の実装面に1つ搭載されている構成を有する。
発光装置10a・10bでは、LEDチップ14は整列しているが、不整列であってもよいし、個数もこれに限らない。1〜5個のLEDチップ14を蛍光体含有封止樹脂16内に収める場合、縦×横×高が、例えば1000×1000×85μm〜400×250×30μmの外形サイズのLEDチップ14を用いることができる。また、発光部は複数搭載されていてもよい。上述のように、発光部は、発光装置に設定する光の強度などに応じて、その個数が決まるものである。
ここで、上述した発光装置10では、フッ素系撥水膜17を用いた方法で蛍光体含有封止樹脂16を形成していたが、封止樹脂を剥離し難くすることができる発光装置を提供するという観点で言えば、蛍光体含有封止樹脂16はいずれの方法で形成されていてもよい。つまりは、例えばダムシートや圧縮成形などを用いた方法で形成した蛍光体含有封止樹脂16’を備える発光装置10’(図示せず)においても、酸化シリコン系絶縁膜13を備えているので、蛍光体含有封止樹脂16’の密着性を向上し、剥離し難くするという効果を奏することができる。
なお、参考までに、平面視が円形の蛍光体含有封止樹脂を形成する場合、フッ素系撥水膜17を用いた方法で蛍光体含有封止樹脂16は半球状となるが、ダムシートを用いた方法で形成した蛍光体含有封止樹脂16’は、上面が平坦に近くなり、円柱状の形状となる。ゆえに、外観に差異がある。
但し、フッ素系撥水膜17を用いた方法では、ダムシートや圧縮成形などを用いた方法よりも有利な効果を奏することは、既に述べたとおりであり、特に、上述した本実施例の発光装置10の製造方法によれば、LEDチップ14を2層の樹脂で封止する、いわゆる2重封止型の発光装置において顕著な効果を奏する。これについては、本発明の他の実施形態として次に説明する。
〔実施の形態2〕
本発明の他の実施の形態について図面に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態1と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態1の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
図12は、本実施の形態の発光装置20の一構成例を示す断面図である。図12に示すように、発光装置20は、前記実施の形態1の発光装置10の構成に加えて、透光性樹脂ドーム21(第2封止樹脂)および透光性樹脂層22を備えている。発光装置20は、LEDチップ14を2層の樹脂で封止する、いわゆる2重封止型の発光装置である。
透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22は、例えば透光性シリコーン樹脂などの、透光性を有する樹脂からなる樹脂層である。透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22は、蛍光体を含有しない蛍光体非含有層である。透光性樹脂ドーム21は、LEDチップ14毎に設けられており、LEDチップ14を覆う蛍光体含有封止樹脂16を覆うように形成されている。透光性樹脂ドーム21は、半球状(ドーム状)の形状を有している。透光性樹脂層22は、透光性樹脂ドーム21間における酸化シリコン系絶縁膜13の上に形成されている。透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22は、一体化(一体成形)されている。
(発光装置の製造方法)
次に、上記構成を有する発光装置20の製造方法について説明する。
図13は、発光装置20の製造工程の流れを示すフローチャートである。図14は、発光装置20の透光性封止樹脂作製工程を簡略的に示している。
発光装置20の製造工程は、発光装置10の製造工程に加えて、透光性封止樹脂作製工程(ステップS17)を含む。すなわち、発光装置20の製造工程は、図13に示すように、絶縁膜形成工程(ステップS11)、撥水膜形成工程(ステップS12)、撥水パターン形成工程(ステップS13)、LEDチップダイボンド工程およびワイヤーボンド工程(ステップS14)、蛍光体含有封止樹脂作製工程(ステップS15)、撥水膜除去工程(ステップS16)、および透光性封止樹脂作製工程(ステップS17)を含む。以下では、透光性封止樹脂作製工程について説明する。
<ステップS17:透光性樹脂層作製工程>
撥水膜除去工程(ステップS16)の後、透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22を形成する。具体的には、図14に示すような圧縮形成によって、透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22を形成する。
圧縮成形では、図14に示すように、固定上型121および可動下型122を備える成形型を用いる。可動下型122には、半球状(ドーム状)の小キャビティ(個別キャビティ)123と、大キャビティ124とが設けられている。小キャビティ(個別キャビティ)123の個数および配置は、圧縮成形を施す発光装置20の発光部(LEDチップ14および蛍光体含有封止樹脂16)の個数および配置に対応する。
まず、可動下型122を固定上型121から開けた(離した)状態で、フッ素系撥水膜17を除去した基板11を、蛍光体含有封止樹脂16が下側を向くように、固定上型121のセット部にセットする。すなわち、基板11の裏面を固定上型121のセット部にセットする。そして、可動下型122の小キャビティ123に、後に透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22となる所要量の液状樹脂23を、ディスペンサー110から均等に注入して満たす。ある小キャビティ123への液状樹脂23が一杯になると、大キャビティ124を通って、別の小キャビティ123へ液状樹脂23が流れ込むので、均一に分配される。注入後、蛍光体含有封止樹脂16を小キャビティ123に没入するように、可動下型122を固定上型121側に移動させ、固定上型121により型締めする。
続いて、固定上型121および可動下型122を所要の型締圧力にて型締めすることにより、小キャビティ123内の液状樹脂23に蛍光体含有封止樹脂16を浸漬させながら、該小キャビティ123内の液状樹脂23を圧縮成形する。このとき、大キャビティ124は、各小キャビティ123間の液状樹脂23の連通路として作用することになるので、各小キャビティ123間における液状樹脂23の過少を効率良く防止して、均等に分配することができる。
固定上型121および可動下型122を型締めしたときの大キャビティ124の隙間は、例えば、50μm程度が好ましい。薄くしすぎると、液状樹脂23の流動性が低下し、液状樹脂23が基板11全体に流動できないため、気泡が発生してしまう。
続いて、この状態のまま、150℃の温度で1分程度保持し、液状樹脂23を硬化させる。その後、150℃、5時間の条件でアフターキュアを行い、固定上型121および可動下型122を取り除く。これにより、図12に示したように蛍光体含有封止樹脂16を覆う透光性樹脂ドーム21と、酸化シリコン系絶縁膜13を平坦に覆う透光性樹脂層22とを形成することができる。例えば、基板11から透光性樹脂ドーム21の高さは1.4mm、基板11から透光性樹脂層22の高さは0.05mmである。
以上のように、発光装置20は、蛍光体含有封止樹脂16を覆う透光性樹脂ドーム21と、透光性樹脂ドーム21間一面に形成された透光性樹脂層22とを備えている。
よって、蛍光体含有封止樹脂16からの出射光を、均一化して透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22から出射させることが可能となる。したがって、発光部個々の輝点状発光になることを抑制するとともに、高い発光効率を得ることが可能となる。
また、従来において2重封止型の発光装置を撥水膜を用いて製造する場合、撥水性の材料の上に上層の透明樹脂が形成されることに起因する透明樹脂の剥離の問題があったが、発光装置20では、フッ素系撥水膜17が除去されているので、透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22は、フッ素系撥水膜17の上に形成されることなく、酸化シリコン系絶縁膜13の上に形成されることになる。よって、透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22は優れた密着性を有することが可能となり、外部からの応力が透光性樹脂ドーム21に加わっても、透光性樹脂ドーム21および透光性樹脂層22が剥離する可能性を低くすることが可能となる。
なお、発光装置20では、透光性樹脂層22を必ずしも備える必要はない。つまりは、透光性樹脂層22は、上述のように圧縮成形時に連通路として作用させる部分であるため、透光性樹脂ドーム21の成形方法によっては必ずしも必須構成ではない。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明は、基板に搭載された発光素子が封止樹脂に覆われてなる発光装置に関する分野に好適に用いることができるだけでなく、発光装置の製造方法、特に封止樹脂の形成方法に関する分野に好適に用いることができ、さらには、発光装置を複数備えてなる発光モジュール、およびそれを備える表示装置などの分野にも広く用いることができる。
10,10a,10b,20 発光装置
11 基板
12 アルミナ系絶縁膜
13 酸化シリコン系絶縁膜
14 LEDチップ(発光素子)
15 金線
16 蛍光体含有封止樹脂(第1封止樹脂)
17 フッ素系撥水膜(撥水膜)
18 パターンマスク
19 開口部
21 透光性樹脂ドーム(第2封止樹脂)
22 透光性樹脂層
100 チャンバー
110 ディスペンサー
121 固定上型
122 可動下型

Claims (3)

  1. 少なくとも1つの発光素子と該発光素子を覆う第1封止樹脂とを有する発光部が、基板の第1の面に少なくとも1つ搭載されている発光装置の製造方法であって、
    基板の第1の面の少なくとも上記発光部を搭載させる領域に、酸化シリコン系絶縁膜を形成する工程と、
    上記酸化シリコン系絶縁膜を覆うように上記基板の第1の面に、撥水膜を形成する工程と、
    上記発光部を搭載させる領域に形成した酸化シリコン系絶縁膜を露出させるための開口部を、上記撥水膜に形成する工程と、
    上記基板に設けられた配線パターンの電極を覆っている上記酸化シリコン系絶縁膜を、加熱された金線によって突き破って当該配線パターンの電極に到達させて、当該配線パターンの電極と、上記発光素子の電極とを当該金線を用いてワンヤボンディングすることによって、上記開口部の酸化シリコン系絶縁膜の上に、上記発光素子を搭載する工程と、
    上記発光素子を覆うように上記開口部に液状樹脂を注入し、該液状樹脂を硬化させることによって上記第1封止樹脂を形成する工程と、
    上記第1封止樹脂の形成後、上記撥水膜を除去する工程と、
    上記第1封止樹脂を覆うように上記酸化シリコン系絶縁膜の上面に、第2封止樹脂を直接形成する工程とを含むことを特徴とする発光装置の製造方法。
  2. 上記酸化シリコン系絶縁膜を形成する工程は、
    上記酸化シリコン系絶縁膜を形成する前に、上記基板の第1の面の全域に、アルミナ系絶縁膜を直接形成する工程と、
    上記アルミナ系絶縁膜の上面の、少なくとも上記発光部を搭載させる領域に、酸化シリコン系絶縁膜を直接形成する工程とからなり、
    上記撥水膜を形成する工程では、上記アルミナ系絶縁膜の上面における酸化シリコン系絶縁膜が形成されていない領域と、上記酸化シリコン系絶縁膜を覆う領域とに、上記撥水膜を形成することを特徴とする請求項1に記載の発光装置の製造方法。
  3. 上記酸化シリコン系絶縁膜を形成する工程では、上記基板の第1の面の少なくとも上記発光部を搭載させる領域に、酸化シリコン系絶縁膜を直接形成することを特徴とする請求項1に記載の発光装置の製造方法。
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Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5563918B2 (ja) * 2010-07-22 2014-07-30 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 回路装置の製造方法
US8866274B2 (en) * 2012-03-27 2014-10-21 Infineon Technologies Ag Semiconductor packages and methods of formation thereof
JP5983157B2 (ja) * 2012-07-31 2016-08-31 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
WO2014020809A1 (ja) * 2012-08-03 2014-02-06 パナソニック株式会社 窒化物半導体装置および窒化物半導体装置の製造方法
JP6209874B2 (ja) 2012-08-31 2017-10-11 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
WO2014057752A1 (ja) * 2012-10-09 2014-04-17 シャープ株式会社 発光素子およびこれを備えた発光装置
DE102012219461A1 (de) * 2012-10-24 2014-04-24 Osram Gmbh Träger für leuchtvorrichtung mit begrenzungsstruktur für auflagefläche
KR101467923B1 (ko) * 2012-10-26 2014-12-02 주식회사지엘에스 전자 소자 조립체와 그 제조 방법
TWI541068B (zh) * 2012-12-26 2016-07-11 鴻海精密工業股份有限公司 發光二極體的點膠方法
JP6068175B2 (ja) 2013-02-12 2017-01-25 新光電気工業株式会社 配線基板、発光装置、配線基板の製造方法及び発光装置の製造方法
WO2014162776A1 (ja) * 2013-04-04 2014-10-09 シャープ株式会社 発光素子パッケージの製造方法及び発光素子パッケージ
JP6139979B2 (ja) * 2013-05-23 2017-05-31 シャープ株式会社 発光装置及び発光装置の製造方法
CN110010750B (zh) 2014-06-18 2021-11-09 艾克斯展示公司技术有限公司 微组装led显示器
KR102374170B1 (ko) * 2015-01-14 2022-03-15 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광소자 패키지, 및 이를 포함하는 조명시스템
US11061276B2 (en) * 2015-06-18 2021-07-13 X Display Company Technology Limited Laser array display
US10380930B2 (en) 2015-08-24 2019-08-13 X-Celeprint Limited Heterogeneous light emitter display system
JP2015216408A (ja) * 2015-09-01 2015-12-03 株式会社東芝 半導体発光装置
US10230048B2 (en) 2015-09-29 2019-03-12 X-Celeprint Limited OLEDs for micro transfer printing
US10066819B2 (en) 2015-12-09 2018-09-04 X-Celeprint Limited Micro-light-emitting diode backlight system
US10193025B2 (en) 2016-02-29 2019-01-29 X-Celeprint Limited Inorganic LED pixel structure
US10153257B2 (en) 2016-03-03 2018-12-11 X-Celeprint Limited Micro-printed display
US10199546B2 (en) 2016-04-05 2019-02-05 X-Celeprint Limited Color-filter device
US11137641B2 (en) 2016-06-10 2021-10-05 X Display Company Technology Limited LED structure with polarized light emission
US10782002B2 (en) 2016-10-28 2020-09-22 X Display Company Technology Limited LED optical components
US10347168B2 (en) 2016-11-10 2019-07-09 X-Celeprint Limited Spatially dithered high-resolution
CN107331648A (zh) * 2017-08-17 2017-11-07 京东方科技集团股份有限公司 封装结构及其密封性检测方法和制造方法
JP6940775B2 (ja) * 2018-10-30 2021-09-29 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5282922A (en) * 1989-11-16 1994-02-01 Polycon Corporation Hybrid circuit structures and methods of fabrication
JPH10294498A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Stanley Electric Co Ltd Led表示器の製造方法
US5959316A (en) * 1998-09-01 1999-09-28 Hewlett-Packard Company Multiple encapsulation of phosphor-LED devices
JP5123466B2 (ja) * 2005-02-18 2013-01-23 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP4953578B2 (ja) * 2005-02-18 2012-06-13 日亜化学工業株式会社 発光装置
TW201403859A (zh) 2005-02-18 2014-01-16 Nichia Corp 具備控制配光特性用之透鏡之發光裝置
JP2006294925A (ja) * 2005-04-12 2006-10-26 Seiko Epson Corp 発光素子、発光素子の製造方法および発光装置
JP4996096B2 (ja) * 2006-01-06 2012-08-08 新光電気工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP4825521B2 (ja) 2006-01-17 2011-11-30 住友重機械工業株式会社 圧縮成形による樹脂封止装置及び樹脂封止方法
JP4820184B2 (ja) * 2006-02-20 2011-11-24 シチズン電子株式会社 発光装置とその製造方法
JP2009158655A (ja) * 2007-12-26 2009-07-16 Panasonic Corp 発光装置
JP2010073755A (ja) * 2008-09-16 2010-04-02 Alps Electric Co Ltd 電子部品の樹脂封止方法
WO2010058808A1 (ja) 2008-11-19 2010-05-27 ローム株式会社 Ledランプ
JP2010129953A (ja) * 2008-12-01 2010-06-10 Rohm Co Ltd Ledランプおよびその製造方法
JP2010129508A (ja) * 2008-12-01 2010-06-10 Rohm Co Ltd Ledランプ

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