JP5209871B2 - 電極膜アセンブリ、その製造方法、それを備えた電気化学装置およびその使用 - Google Patents
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Description
・従来技術において要求されるものよりも純度の低い冷却用流体(例えば、水)を使用することができ、したがって産業上の観点からより安価であること。
・100℃を超える温度、例えば160℃までの温度における使用、および0℃を下回る温度、例えば−40℃までの温度における使用のため、例えば水/グリコールなど、水と高沸点の溶媒との混合物で形成される冷却用流体も使用できること。
・サブガスケットのMEAへの付着が長持ちすること。
・2つの電気触媒層のそれぞれの領域が、膜の領域よりも小さく、
・アイオノマー膜の両面のそれぞれに少なくとも1つのサブガスケットが存在し、
アイオノマー膜の縁が、前記サブガスケットの間に封じられており、各サブガスケットが、MEAの非活性領域に位置しているアセンブリまたはMEA装置である。
・膜の両面に2つの電気触媒層を配置して形成され、サブガスケットによって覆われていない活性領域(1)、
・前記アイオノマー膜の表面がサブガスケットによって覆われてなる領域(2)(図5および6を参照)、および
・前記サブガスケットが重なり合って前記膜の縁を封じている領域(3)(図5および6を参照)
を有しており、
前記電気触媒層の領域が、前記膜の領域よりも小さくなっており、前記アイオノマー膜と前記電気触媒層によって3層MEAが形成されている。
(A)1つ以上のフッ化モノマーから由来し、少なくとも1つのエチレン不飽和を含んでいるモノマー単位
(B)‐SO2Fスルホニル基を、アイオノマーが上述の範囲の当量を有するような量で含んでいるフッ化モノマー単位
・フッ化ビニリデン(VDF)、
・C2〜C8のパーフルオロオレフィン、好ましくはテトラフルオロエチレン(TFE)、
・クロロトリフルオロエチレン(CTFE)およびブロモトリフルオロエチレンといった、C2〜C8のクロロ‐および/またはブロモ‐および/またはヨード‐フルオロオレフィン、
・CF2=CFORf1の(パー)フルオロアルキルビニルエーテル(PAVE)(ここでRf1は、例えばトリフルオロメチル、ブロモジフルオロメチル、ペンタフルオロプロピルなどのC1〜C6の(パー)フルオロアルキル)、
・CF2=CFOXのパーフルオロ‐オキシアルキルビニルエーテル(ここでXは、例えばパーフルオロ‐2‐プロポキシ‐プロピルなど、1つ以上のエーテル基を有するC1〜C12のパーフルオロ‐オキシアルキル)、
・一般式CFXAI=CXAIOCF2ORAI(A‐I)のフルオロビニルエーテル(MOVE)(ここでRAIは、C1〜C6の直鎖または分岐(パー)フルオロアルキル基、あるいは1〜3個の酸素原子を含んでいるC5〜C6の環状(パー)フルオロオキシアルキル基またはC1〜C6の直鎖または可能であれば分岐(パー)フルオロオキシアルキル基である;RAIが上述のフルオロアルキルまたはフルオロオキシアルキルであるとき、H、Cl、Br、Iから選択される同じであっても異なっていてもよい1〜2個の原子を含むことができる;XAI=F、H、好ましくはF;好ましいフルオロビニルエーテルは、CF2=CFOCF2OCF2CF3(MOVE1)、CF2=CFOCF2OCF2CF2OCF3(MOVE2)、CF2=CFOCF2OCF3(MOVE3)である)
から選択される。
・F2C=CF‐O‐CF2‐CF2‐SO2F、
・F2C=CF‐O‐[CF2‐CXAF‐O]nA‐(CF2)nB‐SO2F(ここで、XA=Cl、F、またはCF3;nA=1〜10;nB=2、3)、
・F2C=CF‐O‐(CF2)nC‐SO2F(ここで、nC=3〜10)、
・F2C=CF‐Ar‐SO2F(ここで、Arは芳香環であり、1つ以上の自由位置が任意によりヘテロ原子を含んでいる炭素原子が1〜10個の脂肪族鎖によって置換されていてもよい)
のうちの1つ以上から選択される。
・F2C=CF‐O‐CF2‐CF2‐Y、
・F2C=CF‐O‐[CF2‐CXAF‐O]nA‐(CF2)nB‐Y(ここで、XA=Cl、F、またはCF3;nA=1〜10;nB=2、3)、
・F2C=CF‐O‐(CF2)nC‐Y(ここで、nC=3〜10)、
・F2C=CF‐Ar‐Y(ここで、Arはアリル基である)
であり、ここでYは、CN、COF、COOH、COORB、COO-Me+、CONR2BR3B(ここでRBは、C1〜C10、好ましくはC1〜C3のアルキルであり、R2BおよびR3Bは、同じであっても異なっていてもよい、HあるいはRBの意味を有しており、Meはアルカリ金属である)から選択されるカルボキシル基の前駆基である。
R1R2C=CH‐(CF2)m‐CH=CR5R6 (I)
ここで、m=2〜10、好ましくは4〜8、R1、R2、R5、R6は、同じであっても互いに異なっていてもよい、HまたはC1〜C5のアルキル基である。
・TFEから由来するモノマー単位、
・CF2=CF‐O‐CF2CF2SO2Fから由来するモノマー単位
を含んでいるアイオノマーから得られるパーフッ化アイオノマーを含んでいる。
・‐SO2F形の‐SO3 -Me+形への塩化(ここで、Meはアルカリ金属)
・‐SO3 -Me+形の‐SO3H形への酸化
・TFEから由来するモノマー単位、
・CF2=CF‐O‐CF2CF2SO2Fから由来するモノマー単位、
・式(I)のビスオレフィンから由来するモノマー単位、
・端部位置のヨウ素原子
を含んでいる。
置のヨウ素を含んでいるアイオノマーを使用する。
・ポリマーに対して0.5〜10重量%、好ましくは1〜7重量%の量の共架橋剤。共架橋剤の中でも、とりわけトリアリル‐シアヌレート;トリアリル‐イソシアヌレート(TAIC);トリス(ジアリルアミン)‐s‐トリアジン;トリアリルホスファイト;N,N‐ジアリル‐アクリルアミド;N,N,N’,N’‐テトラアリル‐マロンアミド;トリビニル‐イソシアヌレート;2,4,6‐トリビニル‐メチルトリシロキサン;N,N’‐ビスアリルビシクロ‐オクタ‐7‐エン‐ジスクシニミド(BOSA);式(I)のビスオレフィン、トリアジンを挙げることができる。
・ポリマーに対して1重量%〜15重量%、好ましくは2重量%〜10重量%の量の金属化合物。この金属化合物は、任意により例えばBa、Na、K、Pb、Caのステアレート、ベンゾアート、カーボネート、オキサラート、またはホスファイトなどの弱酸塩に組み合わせられた例えばMg、Zn、Ca、またはPbなどの二価の金属酸化物または水酸化物から選択される。
・増粘剤、顔料、抗酸化剤、安定剤、などの従来からの添加剤。
・好ましくはPTFEであり、任意により小繊維構造を有するPTFEである、無機またはポリマーの補強フィラー。好ましくは、フィラーは、10〜100nm、好ましくは10〜60nmの粒子サイズを有している。
・図7‐1に(7)で示されているサブガスケットの内側の空白領域は図4の活性領域(1)に相当し、本明細書においてサブガスケット内周と称されるサブガスケットの縁((7)の周囲)によって境界付けられている。
・外周(図7‐6または図7‐1の周囲(9))は、アイオノマー膜の周囲(周囲(10)、図7‐6または図7‐3を参照)よりも大きい。
・サブガスケットの開口(11)(図7‐6を参照)の周囲は膜の対応する開口(12)(図7‐3を参照)の周囲よりも小さい。
・アセンブリのサブガスケット(24)の周囲(23)が図7‐3に示した膜の周囲(10)よりも大きくなるように、アセンブリの外周が切断されており、
・図7‐3の開口(12)の周囲よりも小さな周囲を有する開口(11)が形成されている。
これは、この実施の形態によるプロセスの第6の最後の工程に相当する。
・図8‐1が、図7‐1に相当しており、
・図8‐2が、図7‐2に相当しており、
・図8‐3が、図7‐3に相当しており、
・図8‐4が、図7‐4に相当しており、
・図8‐5は、図7‐5に相当しているが、膜の2つの面にガス拡散電極が適用されておらず、DECAL(転写)プロセスによって触媒層(25)が適用されている点で相違しており、
・図8‐6は、上述の相違またはガス拡散電極を考慮に入れれば、図7‐6に相当している。
・図9‐1が、図7‐1に相当しており、
・図9‐2が、図7‐2に相当しており、
・図9‐3は、ガス拡散電極(22)が適用されてなる図9‐2のアセンブリの平面図を表わしており、
・図9‐4は、図9‐3のアセンブリの平面図を表わしており、
・サブガスケット(30)の外周が膜の外周と等しくなるように、アセンブリの外周(16)が切断されており、
・2つのサブガスケットおよび膜の両者において、同じ領域を有する開口(15)が形成されている。
・図10は、実施例8において説明される汚染耐性の実験に使用される設備の仕組みを示している。
Rf‐X1 -M+
の界面活性剤が使用され、ここで
X1は、‐COO、‐SO3に等しく、
Mは、H、NH4、またはアルカリ金属から選択され、
Rfは、約300〜約1,800、好ましくは300〜750の数平均分子量を好ましくは有する(パー)フルオロポリエーテル鎖を表わしており、この(パー)フルオロポリエーテル鎖が、
a)‐(C3F6O)‐、
b)‐(CF2CF2O)‐、
c)‐(CFL0O)‐(ここで、L0=‐F、‐CF3)、
d)‐CF2(CF2)Z'CF2O‐(ここで、Z’は整数1または2)、
e)‐CH2CF2CF2O‐
のうちの1つ以上から選択される繰り返し単位を含んでいる。
1)T‐(CF2O)a‐(CF2CF2O)b‐CF2‐
ここで、
b、aは整数であって、
b/aが0.3〜10(両極値を含む)であり、aはゼロでない整数。
2)T‐(CF2‐(CF2)Z'‐CF2O)b'‐CF2‐
ここで、
b’、z’は整数であって、
z’は、1または2に等しい整数。
3)T‐(C3F6O)r‐(C2F4O)b‐(CFL0O)t‐CF2‐
ここで、
r、b、tは整数であって、
r/bが0.5〜2.0の範囲にあり、bはゼロではなく、(r+b)/tが10〜30の範囲にあり、tがゼロではない。
a、b、b’、r、tは整数であり、これらの合計は、Rfが上述の数平均分子量の値を有するようにされ、T=‐OCF3または‐OCF2Clである。
サブガスケット付き7層MEAの作製
・中央の空白領域(7)は、鈍い角度を有する矩形の周囲によって画定され、MEA活性領域に相当する。
・(9)は図7‐6に表わされた最終のMEAよりも大きい外周(9)を示す。
・時間:5分間
・温度:100℃
・圧力:10kg/cm2
・時間:5分間
・温度:150℃
・圧力:10kg/cm2
・矩形部分の穴(11)が、穴(12)に比べて小さい周囲を有している。
・最終のアセンブリの外周(23)が、第1のアセンブリの外周(10)よりも大きい。
サブガスケット付き3層MEAの作製
・矩形部分の穴(11)が、穴(12)よりも小さい周囲を有している。
・外周(23)が、第1のアセンブリの外周(10)よりも大きい。
従来技術によるサブガスケット付き7層MEAの作製
触媒領域がアイオノマー膜の領域と同じく広がっており、サブガスケットがアセンブリの表面を覆っているサブガスケット付きアセンブリの作製
・温度:150℃
・圧力:272N/cm2
・時間:300秒間
・温度:100℃
・圧力:98N/cm2
・時間:300秒間
この結果、接着の後に各ガスケットは、50×20mmのサイズの自由縁(膜にも他方のサブガスケットにも貼り付いていない)を有する。
一方の表面がサブガスケットに覆われている膜で作られたアセンブリの作製
実施例4(比較例)および実施例5において作製したアセンブリの剥離テスト
実施例4(比較例)および実施例5において作製したアセンブリについて、水中で20℃〜80℃の間の冷却/加熱サイクルを繰り返した後の剥離テスト
[実施例8]
・実施例1のMEAによってもたらされる蛍光のピーク高さ(波長3742Å)は、未処理の基準試料のものと見分けることができなかった。
・実施例3(比較例)のMEAの活性領域によってもたらされる蛍光のピーク高さは、未処理の基準試料のものよりも22倍も高かった。
2 膜表面
3 サブガスケットにおける相互に接触した部分
4 膜(アイオノマー膜)
5、25 触媒層(電気触媒層)
7 空白領域
8、24、30 サブガスケット
9 外周
10 周囲
11 開口
12 開口
13 サブガスケットにて覆われていない膜の領域
20 膜領域
21 サブガスケット領域
22 ガス拡散電極
23 周囲
Claims (13)
- 反応および冷却用の流体の輸送のために設けられた開口を有するアイオノマー膜と、該アイオノマー膜の両面にそれぞれ配置された2つの電気触媒層と、前記アイオノマー膜の両面における前記電気触媒層にて覆われていない領域にそれぞれ配置されたサブガスケットとを備え、
前記2つの電気触媒層のそれぞれの領域が、前記アイオノマー膜の領域よりも小さく、
前記ガスケットは、前記アイオノマー膜上の前記電気触媒層に対応する位置に形成された空白領域と、前記アイオノマー膜の前記開口の位置にこの開口よりも小さいサイズで形成された開口と、前記アイオノマー膜の外周よりも大きいサイズの外周とを有し、
前記アイオノマー膜の外周および前記開口の縁が、前記サブガスケットによって封じられている電極膜アセンブリ。 - 2つ以上のサブガスケットが、前記アイオノマー膜の片面または両面に配置された請求項1に記載の電極膜アセンブリ。
- 前記アイオノマー膜の両面に前記電気触媒層が配置されてなる3層電極膜構造を有し、
前記アイオノマー膜の前記外周および前記開口の縁は、前記サブガスケットの外周および前記開口の縁が重なり合うことによって封じられている請求項1または2に記載の電極膜アセンブリ。 - 前記アイオノマー膜の両面に配置された各電気触媒層上に、アイオノマー膜と接触せずに、ガス・マイクロ拡散層がさらに配置されてなる5層電極膜構造を有する請求項3に記載の電極膜アセンブリ。
- 前記アイオノマー膜の両面に配置された各電気触媒層上の前記ガス・マイクロ拡散層上に、電気触媒層と接触せずに、ガス・マクロ拡散層がさらに配置されてなる7層電極膜構造を有する請求項4に記載の電極膜アセンブリ。
- 前記アイオノマー膜および2つの電気触媒層が、‐SO3H酸または塩化された形態および/または−COOH酸基の状態でスルホン基を有し、380g/eq〜1,600g/eqの当量を有している(パー)フッ化アイオノマーを使用することによって得られ、
(A)1つ以上のフッ化モノマーから由来し、少なくとも1つのエチレン不飽和を含んでいるモノマー単位、および
(B)‐SO2Fスルホニル基を加水分解によって得ることができる‐SO3H酸または塩化された形態および/または加水分解によって‐COOH酸の基へと変換される前駆基を含んでいるモノマー(B’)を、アイオノマーが前記範囲の当量を有するような量で含んでいるフッ化モノマー単位
を含んでいる請求項1〜5のいずれか1つに記載の電極膜アセンブリ。 - 前記アイオノマー膜および2つの電気触媒層が、
・TFEから由来するモノマー単位、および
・CF2=CF‐O‐CF2CF2SO2Fから由来するモノマー単位
を含んでいるアイオノマーから得られるパーフッ化アイオノマーを含んでいる請求項1〜6のいずれか1つに記載の電極膜アセンブリ。 - 前記サブガスケットが、熱可塑性ポリマーまたはエラストマーからなり、水素化またはフッ化されている請求項1〜7のいずれか1つに記載の電極膜アセンブリ。
- 請求項1〜8のいずれか1つに記載の電極膜アセンブリを作製するためのプロセスであって、
前記アイオノマー膜の両面にそれぞれサブガスケットを積層する工程と、
前記アイオノマー膜の両面にそれぞれ電気触媒層を積層する工程と、
前記アイオノマー膜の両面のサブガスケットによってアイオノマー膜の外周および前記開口の縁を封じる工程とを含むプロセス。 - 前記サブガスケットの前記アイオノマー膜への積層が、サブガスケットのホットプレス、または付着性にされたサブガスケットのカレンダ処理、あるいは射出成型によって行なわれる請求項9に記載のプロセス。
- 請求項1〜8のいずれか1つに記載の電極膜アセンブリを有している電気化学装置。
- 請求項1〜8のいずれか1つに記載の電極膜アセンブリを有している燃料電池。
- 請求項1〜8のいずれか1つに記載の電極膜アセンブリの電気化学装置または燃料電池における使用。
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