JP5199437B2 - Wiring board and manufacturing method thereof - Google Patents

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本発明は、配線板及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a wiring board and a manufacturing method thereof.

特許文献1には、層間絶縁層に孔を形成することと、その孔の壁面に無電解銅めっき膜を形成することと、その孔内に電気銅めっきを充填することと、を含む配線板の製造方法(詳しくは、層間接続としてのフィルドビアの形成方法)、及びこの製造方法により製造される配線板が開示されている。   Patent Document 1 discloses a wiring board including forming a hole in an interlayer insulating layer, forming an electroless copper plating film on a wall surface of the hole, and filling electrolytic copper plating in the hole Manufacturing method (specifically, a method for forming a filled via as an interlayer connection) and a wiring board manufactured by this manufacturing method are disclosed.

特開2003−31952号公報JP 2003-31952 A

特許文献1に開示される配線板の製造方法においては、下記のような条件で、孔内に電気銅めっきが充填される。すなわち、銅のめっき液として「液組成が硫酸銅170〜240g/L,硫酸30〜80g/L,塩素イオン20〜60mg/Lであり、更にここに、例えばキューブライトVF−II(商品名、荏原ユージライト社製)を添加剤としたもの」(特許文献1の段落「0035」を参照)を用い、めっき条件として「浴温20〜30℃,電流密度2〜5A/dm、好ましくは2〜3A/dmに設定し、エアー方式または噴流方式でめっき液を攪拌する」(特許文献1の段落「0036」を参照)。 In the method for manufacturing a wiring board disclosed in Patent Document 1, electrolytic copper plating is filled in the holes under the following conditions. That is, as a copper plating solution, “a liquid composition is 170 to 240 g / L of copper sulfate, 30 to 80 g / L of sulfuric acid, and 20 to 60 mg / L of chloride ions, and further, for example, Cubelite VF-II (trade name, “Used as an additive” (see paragraph “0035” of Patent Document 1), and plating conditions of “bath temperature 20-30 ° C., current density 2-5 A / dm 2 , preferably It is set to 2 to 3 A / dm 2 and the plating solution is stirred by an air method or a jet method ”(see paragraph“ 0036 ”of Patent Document 1).

しかしながら、こうした電解めっきでは、導体層上に形成された小径のビアホール内にめっき金属を充填してフィルド導体を形成する場合に、導体層とフィルド導体との間にシームが発生し易い。また、給電層として良質の無電解銅めっき膜を得るためには、還元剤としてはホルマリン等が、また、触媒としてレアメタルであるパラジウム(Pb)等が必要になるため、環境負荷又はコストの面で不利になり易い。   However, in such electrolytic plating, when a filled metal is formed by filling a small diameter via hole formed on a conductor layer to form a filled conductor, a seam is likely to occur between the conductor layer and the filled conductor. In addition, in order to obtain a good electroless copper plating film as a power feeding layer, formalin or the like is required as a reducing agent, and palladium (Pb) that is a rare metal is required as a catalyst. It tends to be disadvantageous.

本発明は、こうした実情に鑑みてなされたものであり、導体層とフィルド導体との間のシーム発生を抑制することを目的とする。また、本発明は、小さな環境負荷又は低コストで良質の給電層を得ることを目的とする。また、本発明は、高い生産性でフィルド導体を形成することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to suppress seam generation between a conductor layer and a filled conductor. It is another object of the present invention to obtain a good power supply layer with a small environmental load or low cost. Another object of the present invention is to form a filled conductor with high productivity.

本発明に係る配線板は、
第1面及びその反対側の第2面を有するコア絶縁層と、
前記コア絶縁層の前記第1面側に形成される複数の第1面側導体層と、
前記コア絶縁層の前記第2面側に形成される複数の第2面側導体層と、
前記第1面側導体層同士の層間に形成される第1面側層間絶縁層と、
前記第2面側導体層同士の層間に形成される第2面側層間絶縁層と、
一端が前記第1面側導体層に接続され、他端が前記第2面側導体層に接続されるスルーホール導体と、
を有する配線板であって、
前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々には、給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含むビア導体が形成され、
前記スルーホール導体は、無電解めっきからなる給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含み、
前記スルーホール導体の一端が接続される前記第1面側導体層下の前記第1面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の前記給電層と、前記スルーホール導体の他端が接続される前記第2面側導体層下の前記第2面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の前記給電層とはそれぞれ、無電解めっきからなり、それ以外の前記ビア導体の前記給電層はそれぞれ、無電解めっきとは異なる材料からなる。
The wiring board according to the present invention is
A core insulating layer having a first surface and a second surface opposite thereto;
A plurality of first surface side conductor layers formed on the first surface side of the core insulating layer;
A plurality of second surface side conductor layers formed on the second surface side of the core insulating layer;
A first surface side interlayer insulating layer formed between the first surface side conductor layers;
A second surface side interlayer insulating layer formed between the second surface side conductor layers,
A through hole conductor having one end connected to the first surface side conductor layer and the other end connected to the second surface side conductor layer;
A wiring board having
Via conductors including a power supply layer and electrolytic plating formed on the power supply layer are formed in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer,
The through-hole conductor includes a power feeding layer made of electroless plating, and electrolytic plating formed on the power feeding layer,
The feed layer of the via conductor formed in the first surface side interlayer insulating layer below the first surface side conductor layer to which one end of the through hole conductor is connected is connected to the other end of the through hole conductor. Each of the power supply layers of the via conductor formed in the second surface side interlayer insulating layer under the second surface side conductor layer is made of electroless plating, and the other power supply layers of the via conductor are Each is made of a material different from electroless plating.

前記無電解めっきとは異なる材料は、グラファイトである、ことが好ましい。   The material different from the electroless plating is preferably graphite.

前記スルーホール導体は、当該配線板を貫通し、最外層の前記第1面側導体層と最外層の前記第2面側導体層とを互いに電気的に接続する、ことが好ましい。   It is preferable that the through-hole conductor penetrates the wiring board and electrically connects the outermost first surface side conductor layer and the outermost layer second surface side conductor layer to each other.

前記第1面側導体層の層数及び前記第2面側導体層の層数はそれぞれ、5層以上である、ことが好ましい。   It is preferable that the number of the first surface-side conductor layers and the number of the second surface-side conductor layers are each 5 or more.

前記スルーホールの壁面において、内層の前記第1面側導体層及び内層の前記第2面側導体層の少なくとも一方と、前記スルーホール導体とが、互いに電気的に接続される、ことが好ましい。   In the wall surface of the through hole, it is preferable that at least one of the first surface side conductor layer of the inner layer and the second surface side conductor layer of the inner layer is electrically connected to the through hole conductor.

前記コア絶縁層には、該コア絶縁層を貫通する孔が形成され、
前記配線板は、前記孔の壁面に、前記コア絶縁層の前記第1面上に形成された前記第1面側導体層と前記コア絶縁層の前記第2面上に形成された前記第2面側導体層とを、互いに電気的に接続する接続導体を有し、
前記接続導体は、グラファイトからなる給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含む、
ことが好ましい。
A hole penetrating the core insulating layer is formed in the core insulating layer,
The wiring board is formed on the wall surface of the hole on the first surface side conductor layer formed on the first surface of the core insulating layer and on the second surface of the core insulating layer. Having a connection conductor for electrically connecting the surface-side conductor layers to each other;
The connection conductor includes a power feeding layer made of graphite, and electrolytic plating formed on the power feeding layer.
It is preferable.

前記コア絶縁層を貫通する前記孔には、前記給電層及び前記電解めっきが充填されている、ことが好ましい。   The hole penetrating the core insulating layer is preferably filled with the power feeding layer and the electrolytic plating.

前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々に形成された前記ビア導体はそれぞれ、前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々に形成されたビアホールに、前記給電層及び前記電解めっきが充填されてなる、ことが好ましい。   The via conductor formed in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer is formed in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer. It is preferable that the via hole is filled with the power feeding layer and the electrolytic plating.

前記第1面側導体層及び前記第2面側導体層はそれぞれ、無電解めっき及び金属箔の少なくとも一方からなる給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含む、ことが好ましい。   The first surface side conductor layer and the second surface side conductor layer each include a power feeding layer made of at least one of electroless plating and metal foil, and electrolytic plating formed on the power feeding layer. Is preferred.

本発明に係る配線板の製造方法は、
第1面及びその反対側の第2面を有するコア絶縁層を準備することと、
前記コア絶縁層の前記第1面側に形成される複数の第1面側導体層と、該第1面側導体層同士の層間に形成される第1面側層間絶縁層とを形成することと、
前記コア絶縁層の前記第2面側に形成される複数の第2面側導体層と、該第2面側導体層同士の層間に形成される第2面側層間絶縁層とを形成することと、
前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々に、ビアホールを形成し、該ビアホール内にビア導体を形成することと、
前記コア絶縁層、前記第1面側層間絶縁層、及び前記第2面側層間絶縁層に、スルーホールを形成し、該スルーホール内に、一端が前記第1面側導体層に接続され、他端が前記第2面側導体層に接続されるスルーホール導体を形成することと、
を含む配線板の製造方法であって、
前記スルーホール導体の形成、前記スルーホール導体の一端が接続される前記第1面側導体層下の前記第1面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の形成、及び前記スルーホール導体の他端が接続される前記第2面側導体層下の前記第2面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の形成ではそれぞれ、無電解めっきからなる給電層を形成した後、該給電層に給電しながら電解めっきを行って該給電層の上に電解めっきを形成し、
それ以外の前記ビア導体の形成では、無電解めっきとは異なる材料からなる給電層を形成した後、該給電層に給電しながら電解めっきを行って該給電層の上に電解めっきを形成する。
A method for manufacturing a wiring board according to the present invention includes:
Providing a core insulating layer having a first surface and a second surface opposite the first surface;
Forming a plurality of first surface-side conductor layers formed on the first surface side of the core insulating layer and a first surface-side interlayer insulating layer formed between the first surface-side conductor layers; When,
Forming a plurality of second surface side conductor layers formed on the second surface side of the core insulating layer and a second surface side interlayer insulating layer formed between the second surface side conductor layers; When,
Forming a via hole in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer, and forming a via conductor in the via hole;
A through hole is formed in the core insulating layer, the first surface side interlayer insulating layer, and the second surface side interlayer insulating layer, and one end is connected to the first surface side conductor layer in the through hole, Forming a through-hole conductor having the other end connected to the second surface side conductor layer;
A method of manufacturing a wiring board including:
Formation of the through-hole conductor, formation of the via conductor formed in the first-surface-side interlayer insulating layer under the first-surface-side conductor layer to which one end of the through-hole conductor is connected, and the through-hole conductor In the formation of the via conductors formed in the second surface side interlayer insulating layer below the second surface side conductor layer to which the other end is connected, after forming a power supply layer made of electroless plating, the power supply layer Electrolytic plating is performed while supplying power to the electroplating layer on the power supply layer,
In the formation of the other via conductors, after forming a power feeding layer made of a material different from electroless plating, electrolytic plating is performed while feeding power to the power feeding layer to form electrolytic plating on the power feeding layer.

前記無電解めっきとは異なる材料は、グラファイトである、ことが好ましい。   The material different from the electroless plating is preferably graphite.

前記スルーホール導体は、当該配線板を貫通し、最外層の前記第1面側導体層と最外層の前記第2面側導体層とを互いに電気的に接続する、ことが好ましい。   It is preferable that the through-hole conductor penetrates the wiring board and electrically connects the outermost first surface side conductor layer and the outermost layer second surface side conductor layer to each other.

前記スルーホールの形成により、内層の前記第1面側導体層及び内層の前記第2面側導体層の少なくとも一方が削られ、その削られた導体層は前記スルーホールの壁面に露出する、ことが好ましい。   By forming the through hole, at least one of the first-surface-side conductor layer of the inner layer and the second-surface-side conductor layer of the inner layer is scraped, and the scraped conductor layer is exposed to the wall surface of the through-hole. Is preferred.

本発明によれば、導体層とフィルド導体との間のシーム発生を抑制することが可能になる。また、本発明によれば、この効果に加えて又はこの効果に代えて、小さな環境負荷又は低コストで良質の給電層が得られるという効果が奏される場合がある。また、本発明によれば、この効果に加えて又はこの効果に代えて、高い生産性でフィルド導体を形成できるという効果が奏される場合がある。   According to the present invention, it is possible to suppress seam generation between the conductor layer and the filled conductor. Further, according to the present invention, in addition to or instead of this effect, there may be an effect that a high-quality power supply layer can be obtained with a small environmental load or low cost. Moreover, according to this invention, in addition to this effect or instead of this effect, the effect that a filled conductor can be formed with high productivity may be show | played.

本発明の実施形態1に係る配線板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施形態1に係る配線板のスルーホール及びフィルドスタックの配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of the through-hole and filled stack of the wiring board which concern on Embodiment 1 of this invention. 図1の一部を拡大して示す図である。It is a figure which expands and shows a part of FIG. 本発明の実施形態1に係る配線板の最外層のビア導体を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the via conductor of the outermost layer of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施形態1に係る配線板の内層のビア導体を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the via conductor of the inner layer of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施形態1に係る配線板のコア部の接続導体を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the connection conductor of the core part of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、コア部を形成する第1の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 1st process of forming a core part in the manufacturing method of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention. 図5Aの工程の後の第2の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 2nd process after the process of FIG. 5A. 図5Bの工程の後の第3の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 3rd process after the process of FIG. 5B. 図5Cの工程の後の第4の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 4th process after the process of FIG. 5C. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、有底孔の壁面に、給電層を形成する第1の工程を説明するための断面図である。In the manufacturing method of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention, it is sectional drawing for demonstrating the 1st process of forming an electric power feeding layer in the wall surface of a bottomed hole. 図6の工程の後の第2の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 2nd process after the process of FIG. 図6及び図7の工程により形成された給電層の形態の例を示す平面図である。It is a top view which shows the example of the form of the electric power feeding layer formed by the process of FIG.6 and FIG.7. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、パルス電源により電解めっきを行うための装置の構成例を模式的に示す図である。In the manufacturing method of the wiring board concerning Embodiment 1 of the present invention, it is a figure showing typically the example of composition of the device for performing electroplating with a pulse power supply. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、パルス電源により電解めっきを行う場合の、第1電極と第2電極との間の電圧波形の例を模式的に示す図である。In the manufacturing method of the wiring board concerning Embodiment 1 of the present invention, it is a figure showing typically the example of the voltage waveform between the 1st electrode and the 2nd electrode in the case of performing electroplating with a pulse power supply. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、電解めっきにより有底孔がめっき金属で充填される様子を示す断面図である。In the manufacturing method of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention, it is sectional drawing which shows a mode that a bottomed hole is filled with a plating metal by electrolytic plating. 無電解めっき(化学銅)からなる給電層を有する配線板に直流電源により電解めっきを行う例において、第1電極と第2電極との間の電圧を示す図である。It is a figure which shows the voltage between a 1st electrode and a 2nd electrode in the example which performs electroplating with the DC power supply on the wiring board which has an electric power feeding layer which consists of electroless plating (chemical copper). 図12の例において、電解めっきにより有底孔がめっき金属で充填される様子を示す断面図である。In the example of FIG. 12, it is sectional drawing which shows a mode that a bottomed hole is filled with a plating metal by electrolytic plating. 異なる材料からなる各給電層についての電解めっき特性を示す図である。It is a figure which shows the electroplating characteristic about each electric power feeding layer which consists of a different material. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、エッチングレジストを形成する工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the process of forming an etching resist in the manufacturing method of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、図15Aに示すエッチングレジストを用いてエッチングする工程を説明するための断面図である。FIG. 15B is a cross-sectional view for explaining a step of etching using the etching resist shown in FIG. 15A in the wiring board manufacturing method according to Embodiment 1 of the present invention. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、コア部の両面に内層ビルドアップ部を形成する第1の工程を説明するための断面図である。In the manufacturing method of the wiring board concerning Embodiment 1 of this invention, it is sectional drawing for demonstrating the 1st process of forming an inner layer buildup part on both surfaces of a core part. 図16Aの工程の後の第2の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 2nd process after the process of FIG. 16A. 図16Bの工程の後の第3の工程を説明するための断面図である。FIG. 16D is a cross-sectional view for explaining a third step after the step of FIG. 16B. 図16Cの工程の後の第4の工程を説明するための断面図である。FIG. 16D is a cross-sectional view for explaining a fourth step after the step of FIG. 16C. 図16Dの工程の後の第5の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 5th process after the process of FIG. 16D. 図17の工程の後の第6の工程を説明するための断面図である。FIG. 18 is a cross-sectional view for explaining a sixth step after the step of FIG. 17. 本発明の実施形態1に係る配線板の製造方法において、当該配線板の最外層及びスルーホール導体を形成する第1の工程を説明するための断面図である。In the manufacturing method of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention, it is sectional drawing for demonstrating the 1st process of forming the outermost layer and through-hole conductor of the said wiring board. 図19の工程の後の第2の工程を説明するための断面図である。FIG. 20 is a cross-sectional view for explaining a second step after the step of FIG. 19. 図20の工程により形成されるスルーホールを拡大して示す断面図である。It is sectional drawing which expands and shows the through hole formed by the process of FIG. 図20の工程により削られる導体層の平面形状の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the planar shape of the conductor layer shaved by the process of FIG. 図20の工程の後の第3の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 3rd process after the process of FIG. 図23Aの工程の後の第4の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 4th process after the process of FIG. 23A. 最外層の給電層としてグラファイトを用いる配線板の製造方法において、給電層を形成する第1の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 1st process of forming a power feeding layer in the manufacturing method of the wiring board which uses a graphite as a power feeding layer of the outermost layer. 図24Aの工程の後の第2の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 2nd process after the process of FIG. 24A. 図23Bの工程の後の第5の工程を説明するための断面図である。FIG. 24C is a cross-sectional view for explaining a fifth step after the step of FIG. 23B. 図25Aの工程の後の第6の工程を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating the 6th process after the process of FIG. 25A. 本発明の実施形態1に係る配線板の表面に電子部品を実装した例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the example which mounted the electronic component on the surface of the wiring board which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の他の実施形態において、電子部品を内蔵する配線板を示す断面図である。In other embodiment of this invention, it is sectional drawing which shows the wiring board which incorporates an electronic component. 本発明の実施形態2に係る配線板を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the wiring board which concerns on Embodiment 2 of this invention. 図28Aの一部を拡大して示す図である。It is a figure which expands and shows a part of FIG. 28A. 本発明の実施形態2に係る配線板の第1面側スルーホール絶縁層及び第2面側スルーホール絶縁層に形成されたビア導体を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the via conductor formed in the 1st surface side through-hole insulating layer and 2nd surface side through-hole insulating layer of the wiring board which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施形態2に係る配線板の非スルーホール絶縁層に形成されたビア導体を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the via conductor formed in the non-through-hole insulating layer of the wiring board which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の他の実施形態において、切欠からなるスルーホールが形成された配線板を示す図である。In other embodiment of this invention, it is a figure which shows the wiring board in which the through hole which consists of a notch was formed. 本発明の他の実施形態において、切欠からなるスルーホールと孔からなるスルーホールとの両方が形成された配線板を示す図である。In other embodiment of this invention, it is a figure which shows the wiring board in which both the through hole which consists of a notch, and the through hole which consists of a hole were formed. 本発明の他の実施形態において、切欠からなるスルーホールの形成方法の一例を説明するための図である。In other embodiment of this invention, it is a figure for demonstrating an example of the formation method of the through hole which consists of notches. 本発明の他の実施形態において、コア部の接続導体がスルーホール導体である配線板を示す図である。In other embodiment of this invention, it is a figure which shows the wiring board whose connection conductor of a core part is a through-hole conductor. 本発明の実施形態において、最外層の導体層の構造の変形例を示す図である。In embodiment of this invention, it is a figure which shows the modification of the structure of the outermost conductor layer. 本発明の実施形態において、コア部の接続導体、ビルドアップ部のビア導体、及びスルーホール導体の平面形状の第1の変形例を示す図である。In embodiment of this invention, it is a figure which shows the 1st modification of the planar shape of the connection conductor of a core part, the via conductor of a buildup part, and a through-hole conductor. 本発明の実施形態において、コア部の接続導体、ビルドアップ部のビア導体、及びスルーホール導体の平面形状の第2の変形例を示す図である。In embodiment of this invention, it is a figure which shows the 2nd modification of the planar shape of the connection conductor of a core part, the via conductor of a buildup part, and a through-hole conductor. 本発明の実施形態において、コア部の接続導体、ビルドアップ部のビア導体、及びスルーホール導体の平面形状の第3の変形例を示す図である。In embodiment of this invention, it is a figure which shows the 3rd modification of the planar shape of the connection conductor of a core part, the via conductor of a buildup part, and a through-hole conductor.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、図中、矢印Z1、Z2は、それぞれ配線板の主面(表裏面)の法線方向に相当する配線板の積層方向(又は配線板の厚み方向)を指す。一方、矢印X1、X2及びY1、Y2は、それぞれ積層方向に直交する方向(又は各層の側方)を指す。配線板の主面は、X−Y平面となる。また、配線板の側面は、X−Z平面又はY−Z平面となる。積層方向において、配線板のコアに近い側を下層(又は内層側)、コアから遠い側を上層(又は外層側)という。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the figure, arrows Z1 and Z2 indicate the stacking direction of the wiring boards (or the thickness direction of the wiring boards) corresponding to the normal direction of the main surface (front and back surfaces) of the wiring boards. On the other hand, arrows X1 and X2 and Y1 and Y2 respectively indicate directions orthogonal to the stacking direction (or sides of each layer). The main surface of the wiring board is an XY plane. The side surface of the wiring board is an XZ plane or a YZ plane. In the stacking direction, the side closer to the core of the wiring board is referred to as a lower layer (or inner layer side), and the side far from the core is referred to as an upper layer (or outer layer side).

導体層は、一乃至複数の導体パターンで構成される層である。導体層は、電気回路を構成する導体パターン、例えば配線(グランドも含む)、パッド、又はランド等を含む場合もあれば、電気回路を構成しない面状の導体パターン等を含む場合もある。   The conductor layer is a layer composed of one or more conductor patterns. The conductor layer may include a conductor pattern that constitutes an electric circuit, for example, a wiring (including a ground), a pad, a land, or the like, or a planar conductor pattern that does not constitute an electric circuit.

ビアホールとは、例えば絶縁層の一側に導体層(主に下層側の導体層)がある状態で穴開けを行うことによって形成され、絶縁層の他側からその導体層に至る開口部をいう。ビアホール内に形成される導体(以下、ビア導体という)は、絶縁層の一側に導体層がある状態で形成されるため、ビア導体と絶縁層の少なくとも一側の導体層とは、非連続になり、両者の間には界面が形成される。一方、スルーホールとは、絶縁層の一側又は両側に導体層がある場合はその導体層も含めて絶縁層を貫通するように形成される開口部をいう。スルーホール内に形成される導体(以下、スルーホール導体という)は、通常、めっき等により、絶縁層の両側の導体層と一緒に形成されるため、スルーホール導体と絶縁層の両側の導体層とは、少なくとも一部で連続している。   A via hole is, for example, an opening formed by drilling in a state where a conductor layer (mainly a lower-layer conductor layer) is present on one side of an insulating layer and reaching the conductor layer from the other side of the insulating layer. . A conductor formed in a via hole (hereinafter referred to as a via conductor) is formed with a conductor layer on one side of the insulating layer, so that the via conductor and the conductor layer on at least one side of the insulating layer are not continuous. Thus, an interface is formed between the two. On the other hand, the through hole means an opening formed so as to penetrate the insulating layer including the conductor layer when the conductor layer is provided on one side or both sides of the insulating layer. The conductor formed in the through hole (hereinafter referred to as the through hole conductor) is usually formed together with the conductor layers on both sides of the insulating layer by plating or the like, so that the through hole conductor and the conductor layers on both sides of the insulating layer are formed. Is at least partially continuous.

開口部には、孔や溝のほか、切欠や切れ目等も含まれる。例えばスルーホールには、孔のほか、切欠等も含まれる(後述の図30A、図30B、図31参照)。   The openings include notches and cuts in addition to holes and grooves. For example, the through hole includes not only a hole but also a notch (see FIGS. 30A, 30B, and 31 described later).

開口部内に形成される導体(ビア導体やスルーホール導体等)のうち、開口部の壁面(側面及び底面)に形成された導体膜をコンフォーマル導体といい、開口部に充填された導体をフィルド導体という。   Of the conductors (via conductors and through-hole conductors) formed in the opening, the conductor film formed on the wall surface (side and bottom) of the opening is called the conformal conductor, and the conductor filled in the opening is filled. It is called a conductor.

めっきとは、金属や樹脂などの表面に層状に導体(例えば金属)を析出させることと、析出した導体層(例えば金属層)をいう。めっきには、電解めっきや無電解めっき等の湿式めっきのほか、PVD(Physical Vapor Deposition)やCVD(Chemical Vapor Deposition)等の乾式めっきも含まれる。   Plating refers to depositing a conductor (for example, metal) in a layered manner on the surface of a metal, resin, or the like, and a deposited conductor layer (for example, a metal layer). In addition to wet plating such as electrolytic plating and electroless plating, plating includes dry plating such as PVD (Physical Vapor Deposition) and CVD (Chemical Vapor Deposition).

(実施形態1)
本実施形態に係る配線板100は、例えば図1に示すような多層プリント配線板である。本実施形態の配線板100は、両面リジッド配線板である。ただし、本発明に係る配線板は、リジッド配線板には限定されず、例えばフレキシブル配線板又はフレックスリジッド配線板であってもよい。また、本発明に係る配線板は、両面配線板に限定されず、片面配線板であってもよい。また、配線板100において、導体層及び絶縁層の寸法、層数等は、任意に変更することができる。
(Embodiment 1)
The wiring board 100 according to the present embodiment is a multilayer printed wiring board as shown in FIG. The wiring board 100 of this embodiment is a double-sided rigid wiring board. However, the wiring board which concerns on this invention is not limited to a rigid wiring board, For example, a flexible wiring board or a flex rigid wiring board may be sufficient. The wiring board according to the present invention is not limited to a double-sided wiring board, and may be a single-sided wiring board. In the wiring board 100, the dimensions and the number of layers of the conductor layer and the insulating layer can be arbitrarily changed.

配線板100は、図1に示すように、コア絶縁層10aと、絶縁層20a、30a、40a、50a、60a、70a、80a、90aと、導体層11a、11b、21、31、41、51、61、71、81、91と、接続導体12及びビア導体22、32、42、52、62、72、82、92と、を有する。コア絶縁層10aは、第1面F1(Z1側)及びその反対側の第2面F2(Z2側)を有する。コア絶縁層10a、接続導体12、及び導体層11a、11bは、コア部に相当する。また、コア部よりも上層の絶縁層20a〜90a等は、ビルドアップ部に相当する。   As shown in FIG. 1, the wiring board 100 includes a core insulating layer 10a, insulating layers 20a, 30a, 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, 90a, and conductor layers 11a, 11b, 21, 31, 41, 51. , 61, 71, 81, 91, and the connection conductor 12 and the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72, 82, 92. The core insulating layer 10a has a first surface F1 (Z1 side) and a second surface F2 (Z2 side) opposite thereto. The core insulating layer 10a, the connection conductor 12, and the conductor layers 11a and 11b correspond to a core portion. In addition, the insulating layers 20a to 90a and the like above the core portion correspond to the build-up portion.

コア絶縁層10aの第1面F1側には、5層の導体層11a、21、41、61、81(それぞれ第1面側導体層)と4層の絶縁層20a、40a、60a、80a(それぞれ第1面側層間絶縁層)とが交互に積層されている。図1に示すように、絶縁層20a、40a、60a、80aはそれぞれ、導体層11a、21、41、61、81の各層間に形成される。ただしこれに限られず、第1面側導体層の層数は任意である。   On the first surface F1 side of the core insulating layer 10a, five layers of conductor layers 11a, 21, 41, 61, 81 (first surface side conductor layers, respectively) and four layers of insulating layers 20a, 40a, 60a, 80a ( The first surface side interlayer insulating layers) are alternately stacked. As shown in FIG. 1, the insulating layers 20a, 40a, 60a, and 80a are formed between the conductor layers 11a, 21, 41, 61, and 81, respectively. However, the present invention is not limited to this, and the number of first surface side conductor layers is arbitrary.

コア絶縁層10aの第2面F2側には、5層の導体層11b、31、51、71、91(それぞれ第2面側導体層)と4層の絶縁層30a、50a、70a、90a(それぞれ第2面側層間絶縁層)とが交互に積層されている。図1に示すように、絶縁層30a、50a、70a、90aはそれぞれ、導体層11b、31、51、71、91の各層間に形成される。ただしこれに限られず、第2面側導体層の層数は任意である。   On the second surface F2 side of the core insulating layer 10a, five conductor layers 11b, 31, 51, 71, 91 (second surface side conductor layers, respectively) and four insulating layers 30a, 50a, 70a, 90a ( The second surface side interlayer insulating layers) are alternately stacked. As shown in FIG. 1, the insulating layers 30a, 50a, 70a, and 90a are formed between the conductor layers 11b, 31, 51, 71, and 91, respectively. However, the present invention is not limited to this, and the number of second surface side conductor layers is arbitrary.

コア絶縁層10aには、コア絶縁層10aを貫通する接続孔12a(ビアホール)が形成されている。接続導体12は、フィルド導体であり、接続孔12aに導体が充填されて構成される(後述の図4C参照)。本実施形態では、接続導体12がビア導体である。ビア導体はスルーホール導体よりも容易に形成できるため、こうした構造は、コスト低減等に有利である。ただしこれに限られず、接続導体12は、スルーホール導体であってもよい(例えば後述の図32参照)。   In the core insulating layer 10a, a connection hole 12a (via hole) penetrating the core insulating layer 10a is formed. The connection conductor 12 is a filled conductor, and is configured by filling the connection hole 12a with a conductor (see FIG. 4C described later). In the present embodiment, the connection conductor 12 is a via conductor. Since the via conductor can be formed more easily than the through-hole conductor, such a structure is advantageous for cost reduction and the like. However, the present invention is not limited to this, and the connection conductor 12 may be a through-hole conductor (see, for example, FIG. 32 described later).

コア絶縁層10aは、例えばエポキシ樹脂からなる。エポキシ樹脂は、例えば樹脂含浸処理により、ガラス繊維(例えばガラス布又はガラス不織布)やアラミド繊維(例えばアラミド不織布)等の補強材を含んでいることが好ましい。補強材は、主材料(本実施形態ではエポキシ樹脂)よりも熱膨張率の小さい材料である。ただしこれに限定されず、コア絶縁層10aの材料は任意である。例えばエポキシ樹脂に代えて、ポリエステル樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂(BT樹脂)、イミド樹脂(ポリイミド)、フェノール樹脂、又はアリル化フェニレンエーテル樹脂(A−PPE樹脂)等を用いることができる。また、コア絶縁層10aは、補強材を含んでいなくてもよい。   The core insulating layer 10a is made of, for example, an epoxy resin. The epoxy resin preferably contains a reinforcing material such as glass fiber (for example, glass cloth or glass nonwoven fabric) or aramid fiber (for example, aramid nonwoven fabric) by, for example, resin impregnation treatment. The reinforcing material is a material having a smaller coefficient of thermal expansion than the main material (in the present embodiment, epoxy resin). However, it is not limited to this, The material of the core insulating layer 10a is arbitrary. For example, instead of an epoxy resin, a polyester resin, a bismaleimide triazine resin (BT resin), an imide resin (polyimide), a phenol resin, an allylated phenylene ether resin (A-PPE resin), or the like can be used. Further, the core insulating layer 10a may not include a reinforcing material.

接続導体12の形状は、例えばコア絶縁層10aの第1面F1から第2面F2に向かって縮径されるようにテーパしたテーパ円柱(円錐台)であり、接続導体12の平面形状(X−Y平面)は例えば真円である。しかしこれに限定されず、接続導体12の形状は任意である(例えば後述の図34A〜図34C参照)。   The shape of the connection conductor 12 is, for example, a tapered cylinder (conical frustum) tapered so as to be reduced in diameter from the first surface F1 to the second surface F2 of the core insulating layer 10a. -Y plane) is, for example, a perfect circle. However, it is not limited to this, and the shape of the connection conductor 12 is arbitrary (for example, refer to FIGS. 34A to 34C described later).

絶縁層20a、30a、40a、50a、60a、70a、80a、90aには、それぞれビア導体22、32、42、52、62、72、82、92が形成される。これらビア導体22等はそれぞれ、フィルド導体であり、ビアホール22a、32a、42a、52a、62a、72a、82a、92aに導体が充填されて構成される(後述の図4A及び図4B参照)。ビア導体22、42、62、82の形状は、例えばコア絶縁層10aに向かって縮径されるようにテーパしたテーパ円柱(円錐台)であり、ビア導体22、42、62、82の平面形状(X−Y平面)は例えば真円である。また、ビア導体32、52、72、92の形状は、例えばコア絶縁層10aに向かって縮径されるようにテーパしたテーパ円柱(円錐台)であり、ビア導体32、52、72、92の平面形状(X−Y平面)は例えば真円である。しかしこれに限定されず、ビア導体22等の形状は任意である(例えば後述の図34A〜図34C参照)。   Via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72, 82, and 92 are formed in the insulating layers 20a, 30a, 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, and 90a, respectively. Each of the via conductors 22 and the like is a filled conductor, and is configured by filling the via holes 22a, 32a, 42a, 52a, 62a, 72a, 82a, and 92a with a conductor (see FIGS. 4A and 4B described later). The shape of the via conductors 22, 42, 62, 82 is, for example, a tapered cylinder (conical frustum) that is tapered so as to be reduced in diameter toward the core insulating layer 10a, and the planar shape of the via conductors 22, 42, 62, 82. (XY plane) is, for example, a perfect circle. The via conductors 32, 52, 72, and 92 are, for example, tapered cylinders (conical frustums) tapered so as to be reduced in diameter toward the core insulating layer 10 a, and the via conductors 32, 52, 72, and 92 are The planar shape (XY plane) is, for example, a perfect circle. However, the present invention is not limited to this, and the shape of the via conductor 22 and the like is arbitrary (for example, see FIGS. 34A to 34C described later).

絶縁層20a、30a、40a、50a、60a、70a、80a、90aはそれぞれ、例えばエポキシ樹脂に、補強材を樹脂含浸してなる。補強材としては、例えばガラス繊維又はアラミド繊維等の無機材料を用いることができる。ただしこれに限られず、各層間絶縁層の材料は任意である。例えばエポキシ樹脂に代えて、ポリエステル樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂(BT樹脂)、イミド樹脂(ポリイミド)、フェノール樹脂、又はアリル化フェニレンエーテル樹脂(A−PPE樹脂)等を用いることができる。また、各層間絶縁層は、補強材を含んでいなくてもよい。   Each of the insulating layers 20a, 30a, 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, and 90a is formed by impregnating a reinforcing material into an epoxy resin, for example. As the reinforcing material, for example, an inorganic material such as glass fiber or aramid fiber can be used. However, it is not limited to this, and the material of each interlayer insulating layer is arbitrary. For example, instead of an epoxy resin, a polyester resin, a bismaleimide triazine resin (BT resin), an imide resin (polyimide), a phenol resin, an allylated phenylene ether resin (A-PPE resin), or the like can be used. In addition, each interlayer insulating layer may not include a reinforcing material.

本実施形態の配線板100は、コア部(コア絶縁層10a)の接続導体12、及びビルドアップ部(絶縁層20a、30a、40a、50a、60a、70a、80a、90a)のビア導体22、32、42、52、62、72、82、92が同軸(Z軸)上に積重されて構成されるフィルドスタックSを有する。ただし、これら接続導体12及びビア導体22等が、同軸(Z軸)上に積重されることは必須ではない。   The wiring board 100 of the present embodiment includes a connection conductor 12 of a core part (core insulating layer 10a), and a via conductor 22 of a build-up part (insulating layers 20a, 30a, 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, 90a), 32, 42, 52, 62, 72, 82, and 92 have a filled stack S configured by being stacked on the same axis (Z axis). However, it is not essential that the connection conductor 12 and the via conductor 22 are stacked on the same axis (Z axis).

フィルドスタックSでは、隣接するフィルド導体同士が密着(接触)し、互いに導通する。フィルドスタックSは、配線板100の両面の導体層、すなわち最外の導体層81及び91を相互に電気的に接続する。   In the filled stack S, adjacent filled conductors are brought into close contact (contact) and conducted to each other. The filled stack S electrically connects the conductor layers on both sides of the wiring board 100, that is, the outermost conductor layers 81 and 91 to each other.

本実施形態のフィルドスタックSは、全層のフィルド導体が積重された構造、いわゆるフルスタック構造になっている。このため、配線スペースの確保が容易になり、配線パターンの設計自由度が高くなる。また、X方向又はY方向の配線を省略できるため、配線長の短縮を図ることができる。   The filled stack S of this embodiment has a so-called full stack structure in which filled conductors of all layers are stacked. For this reason, it becomes easy to secure the wiring space, and the degree of freedom in designing the wiring pattern is increased. Further, since the wiring in the X direction or the Y direction can be omitted, the wiring length can be shortened.

本実施形態では、1つのフィルドスタックSが、例えば図2に示すように、配線板100の中央に配置される。なお、フィルドスタックSの配置や数は、任意である。例えばフィルドスタックSが複数あってもよい。   In the present embodiment, one filled stack S is disposed at the center of the wiring board 100 as shown in FIG. The arrangement and number of filled stacks S are arbitrary. For example, there may be a plurality of filled stacks S.

本実施形態の配線板100には、図1に示すように、配線板100の全層を貫通するスルーホール102aが形成される。スルーホール102aは、配線板100をZ方向(積層方向)に貫通する。本実施形態では、スルーホール導体102の一端が、最外層の導体層81(詳しくは、導体層81に含まれるランド81a)に接続され、スルーホール導体102の他端が、最外層の導体層91(詳しくは、導体層91に含まれるランド91a)に接続される。   In the wiring board 100 of the present embodiment, as shown in FIG. 1, a through hole 102 a penetrating all layers of the wiring board 100 is formed. The through hole 102a penetrates the wiring board 100 in the Z direction (stacking direction). In the present embodiment, one end of the through-hole conductor 102 is connected to the outermost conductor layer 81 (specifically, a land 81a included in the conductor layer 81), and the other end of the through-hole conductor 102 is the outermost conductor layer. 91 (specifically, a land 91a included in the conductor layer 91).

スルーホール102aの形状は、例えば円柱であり、スルーホール102aの開口形状は、例えば図2に示すように、長円である。スルーホール102aの開口形状が長円であることで、X−Y平面における広い領域の強度を効果的に向上させることができると考えられる。   The shape of the through hole 102a is, for example, a cylinder, and the opening shape of the through hole 102a is, for example, an ellipse as shown in FIG. It is considered that the strength of a wide region in the XY plane can be effectively improved by the oval shape of the through hole 102a.

スルーホール102aは、例えば図2に示すように、配線板100の周縁部に配置される。ただし、スルーホール102aの数、開口形状、及び配置等は任意である。   The through hole 102a is disposed on the peripheral portion of the wiring board 100, for example, as shown in FIG. However, the number, opening shape, arrangement, etc. of the through holes 102a are arbitrary.

図3に、図1の一部(スルーホール近傍)を拡大して示す。   FIG. 3 is an enlarged view of a part (near the through hole) of FIG.

図3に示すように、本実施形態では、スルーホール102aの壁面F10に、スルーホール導体102が形成される。スルーホール導体102は、コンフォーマル導体からなる。コンフォーマル導体は、スルーホール102aに導体が充填されるフィルド導体とは異なり、スルーホール102aの壁面F10のみに導体を有するため、スルーホール102a内に空洞が形成され、配線板100の歪みが緩和され易くなる。ただしこれに限定されず、コンフォーマル導体に代えて、フィルド導体を用いてもよい。   As shown in FIG. 3, in the present embodiment, the through-hole conductor 102 is formed on the wall surface F10 of the through-hole 102a. The through-hole conductor 102 is made of a conformal conductor. Unlike the filled conductor in which the conductor is filled in the through hole 102a, the conformal conductor has a conductor only on the wall surface F10 of the through hole 102a, so that a cavity is formed in the through hole 102a and the distortion of the wiring board 100 is reduced. It becomes easy to be done. However, the present invention is not limited to this, and a filled conductor may be used instead of the conformal conductor.

本実施形態では、スルーホール導体102が、最外層の導体層81(第1面側導体層)と最外層の導体層91(第2面側導体層)とを電気的に接続する。また、スルーホール102aの壁面F10において、内層の導体層11a(第1面側導体層)及び内層の導体層11b(第2面側導体層)等と、スルーホール導体102とが、互いに接触し、電気的に接続されている。ただし、スルーホール102aの壁面F10において、内層の導体層とスルーホール導体102とが、互いに接触していることは必須ではない。スルーホール導体102は、配線板100のグランドライン等と電気的に接続されていても、あるいは他の導体の全てと絶縁されて電気的に孤立していてもよい。   In the present embodiment, the through-hole conductor 102 electrically connects the outermost conductor layer 81 (first surface side conductor layer) and the outermost layer conductor layer 91 (second surface side conductor layer). Further, on the wall surface F10 of the through hole 102a, the inner conductor layer 11a (first surface side conductor layer), the inner layer conductor layer 11b (second surface side conductor layer) and the like and the through hole conductor 102 are in contact with each other. Are electrically connected. However, it is not essential that the inner conductor layer and the through-hole conductor 102 are in contact with each other on the wall surface F10 of the through-hole 102a. The through-hole conductor 102 may be electrically connected to the ground line or the like of the wiring board 100, or may be electrically isolated from all other conductors.

コア絶縁層10aの第1面F1側の最外層の導体層81(第1面側導体層)は、例えば絶縁層80a(第1面側層間絶縁層)上に、銅箔201aと、例えば銅の無電解めっき膜202aと、例えば銅の電解めっき203aとが、この順で積層されて構成される。すなわち、導体層81は、銅箔201a及び無電解めっき膜202aからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203aと、を含む。   The outermost conductor layer 81 (first surface side conductor layer) on the first surface F1 side of the core insulating layer 10a is, for example, a copper foil 201a and, for example, copper on an insulating layer 80a (first surface side interlayer insulating layer). The electroless plating film 202a and, for example, copper electrolytic plating 203a are laminated in this order. That is, the conductor layer 81 includes a power feeding layer made of the copper foil 201a and the electroless plating film 202a, and an electrolytic plating 203a formed on the power feeding layer.

スルーホール導体102は、例えばスルーホール102aの壁面F10上に、例えば銅の無電解めっき膜202bと、例えば銅の電解めっき203bとが、この順で積層されて構成される。すなわち、スルーホール導体102は、無電解めっき膜202bからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203bと、を含む。   The through-hole conductor 102 is configured, for example, by laminating, for example, a copper electroless plating film 202b and, for example, a copper electrolytic plating 203b in this order on the wall surface F10 of the through-hole 102a. That is, the through-hole conductor 102 includes a power feeding layer made of the electroless plating film 202b and an electrolytic plating 203b formed on the power feeding layer.

コア絶縁層10aの第2面F2側の最外層の導体層91(第2面側導体層)は、例えば絶縁層90a(第2面側層間絶縁層)上に、銅箔201cと、例えば銅の無電解めっき膜202cと、例えば銅の電解めっき203cとが、この順で積層されて構成される。すなわち、導体層91は、銅箔201c及び無電解めっき膜202cからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203cと、を含む。   The outermost conductor layer 91 (second surface side conductor layer) on the second surface F2 side of the core insulating layer 10a is, for example, on the insulating layer 90a (second surface side interlayer insulating layer) and a copper foil 201c, for example, copper The electroless plating film 202c and, for example, copper electrolytic plating 203c are laminated in this order. That is, the conductor layer 91 includes a power feeding layer composed of the copper foil 201c and the electroless plating film 202c, and an electrolytic plating 203c formed on the power feeding layer.

スルーホール102aは、絶縁層の両面の導体層(例えば銅箔)も含めて絶縁層を貫通するように形成される(後述の図19〜図22参照)。また、スルーホール導体102は、めっきにより、絶縁層の両側の導体層81、91と一緒に形成される(後述の図23A、図23B参照)。このため、スルーホール導体102と絶縁層の両側の導体層81、91とは、少なくとも一部で連続している。具体的には、図3に示すように、スルーホール導体102及びその両端の導体層81、91においては、無電解めっき膜202aと、無電解めっき膜202bと、無電解めっき膜202cとが、互いに一体的に形成され、また、電解めっき203aと、電解めっき203bと、電解めっき203cとが、互いに一体的に形成される。   The through hole 102a is formed so as to penetrate the insulating layer including the conductor layers (for example, copper foil) on both sides of the insulating layer (see FIGS. 19 to 22 described later). The through-hole conductor 102 is formed together with conductor layers 81 and 91 on both sides of the insulating layer by plating (see FIGS. 23A and 23B described later). For this reason, the through-hole conductor 102 and the conductor layers 81 and 91 on both sides of the insulating layer are at least partially continuous. Specifically, as shown in FIG. 3, in the through-hole conductor 102 and the conductor layers 81 and 91 at both ends thereof, the electroless plating film 202a, the electroless plating film 202b, and the electroless plating film 202c are The electroplating 203a, the electroplating 203b, and the electroplating 203c are integrally formed with each other.

最外層のビア導体82、92はそれぞれ、例えば図4Aに示すように、ビアホール82a、92a内に、例えば銅の無電解めっき膜202dと、例えば銅の電解めっき203dと、が充填されて構成される。具体的には、ビアホール82a、92aの内面(壁面及び底面)上に、無電解めっき膜202dが形成され、その内側に、電解めっき203dが充填される。すなわち、ビア導体82及び92はそれぞれ、無電解めっき膜202dからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203dと、を含む。   For example, as shown in FIG. 4A, the outermost via conductors 82 and 92 are configured by filling, for example, copper electroless plating film 202d and, for example, copper electrolytic plating 203d, in via holes 82a and 92a. The Specifically, the electroless plating film 202d is formed on the inner surfaces (wall surface and bottom surface) of the via holes 82a and 92a, and the inner side thereof is filled with the electrolytic plating 203d. That is, each of the via conductors 82 and 92 includes a power feeding layer made of the electroless plating film 202d and an electrolytic plating 203d formed on the power feeding layer.

内層の導体層21、31、41、51、61、71はそれぞれ、例えば図4Bに示すように、絶縁層20a、30a、40a、50a、60a、70a上に、銅箔211aと、例えば銅の電解めっき212aとが、この順で積層されて構成される。すなわち、導体層21、31、41、51、61、71はそれぞれ、銅箔211aからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき212aと、を含む。   As shown in FIG. 4B, for example, the inner conductor layers 21, 31, 41, 51, 61, and 71 are respectively formed on the insulating layers 20a, 30a, 40a, 50a, 60a, and 70a with a copper foil 211a. Electrolytic plating 212a is laminated in this order. That is, each of the conductor layers 21, 31, 41, 51, 61, 71 includes a power feeding layer made of the copper foil 211a and an electrolytic plating 212a formed on the power feeding layer.

内層のビア導体22、32、42、52、62、72はそれぞれ、例えば図4Bに示すように、ビアホール22a、32a、42a、52a、62a、72a内に、グラファイト膜210と、例えば銅の電解めっき212bと、が充填されて構成される。具体的には、ビアホール22a、32a、42a、52a、62a、72aの内面(詳しくは、壁面)上に、グラファイト膜210が形成され、その内側に、電解めっき212bが充填される。すなわち、ビア導体22、32、42、52、62、72はそれぞれ、グラファイト膜210からなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき212bと、を含む。   As shown in FIG. 4B, for example, the inner via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 are formed in the via holes 22a, 32a, 42a, 52a, 62a, 72a. The plating 212b is filled. Specifically, the graphite film 210 is formed on the inner surfaces (specifically, wall surfaces) of the via holes 22a, 32a, 42a, 52a, 62a, 72a, and the inner side thereof is filled with the electrolytic plating 212b. That is, each of the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 includes a power feeding layer made of the graphite film 210 and an electrolytic plating 212 b formed on the power feeding layer.

コア部の導体層11a、11bはそれぞれ、例えば図4Cに示すように、コア絶縁層10a上に、銅箔221a、231aと、例えば銅の電解めっき222a、232aとが、この順で積層されて構成される。すなわち、導体層11a、11bはそれぞれ、銅箔221a、231aからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき222a、232aと、を含む。   For example, as shown in FIG. 4C, each of the conductor layers 11a and 11b in the core portion is formed by laminating copper foils 221a and 231a and, for example, copper electrolytic platings 222a and 232a in this order on the core insulating layer 10a. Composed. That is, each of the conductor layers 11a and 11b includes a power feeding layer made of copper foils 221a and 231a and electrolytic plating 222a and 232a formed on the power feeding layer.

コア部の接続導体12は、例えば図4Cに示すように、接続孔12a内に、グラファイト膜220と、例えば銅の電解めっき222bと、が充填されて構成される。具体的には、接続孔12aの内面(詳しくは、壁面)上に、グラファイト膜220が形成され、その内側に、電解めっき222bが充填される。すなわち、接続導体12は、グラファイト膜220からなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき222bと、を含む。   For example, as shown in FIG. 4C, the connecting conductor 12 in the core portion is configured by filling the connecting hole 12a with a graphite film 220 and, for example, copper electrolytic plating 222b. Specifically, the graphite film 220 is formed on the inner surface (specifically, the wall surface) of the connection hole 12a, and the inner side thereof is filled with the electrolytic plating 222b. That is, the connection conductor 12 includes a power feeding layer made of the graphite film 220 and an electrolytic plating 222b formed on the power feeding layer.

接続孔12a及びビアホール22a、32a、42a、52a、62a、72a、82a、92aはそれぞれ、絶縁層の一側に導体層がある状態で穴開けを行うことによって形成され、絶縁層の他側からその導体層に至る(後述の図5B、図16B、図20参照)。接続導体12及びビア導体22、32、42、52、62、72、82、92はそれぞれ、絶縁層の一側に導体層がある状態で形成されるため、ビア導体と絶縁層の一側の導体層とは、非連続になり、両者の間には界面が形成される。具体的には、例えば図4Aに示すように、ビア導体82、92及びその上層側の導体層81、91においては、無電解めっき膜202aと、無電解めっき膜202dとが、互いに一体的に形成され、また、電解めっき203aと、電解めっき203dとが、互いに一体的に形成される。しかし、ビア導体82、92とその下層側の導体層61、71とは、非連続になり、両者の間には界面が形成される(図1及び図4A参照)。また、例えば図4Bに示すように、ビア導体22、32、42、52、62、72及びその上層側の導体層21、31、41、51、61、71においては、電解めっき212aと、電解めっき212bとが、互いに一体的に形成される。しかし、ビア導体22、32、42、52、62、72とその下層側の導体層11a、11b、21、31、41、51とは、非連続になり、両者の間には界面が形成される(図1及び図4B参照)。また、例えば図4Cに示すように、接続導体12及びその一側の導体層11aにおいては、電解めっき222aと、電解めっき222bとが、互いに一体的に形成される。しかし、接続導体12と他側の導体層11bとは、非連続になり、両者の間には界面が形成される(図1及び図4C参照)。   Each of the connection hole 12a and the via holes 22a, 32a, 42a, 52a, 62a, 72a, 82a, and 92a is formed by drilling with a conductor layer on one side of the insulating layer, and from the other side of the insulating layer. The conductor layer is reached (see FIGS. 5B, 16B, and 20 described later). Since the connection conductor 12 and the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72, 82, and 92 are each formed with a conductor layer on one side of the insulating layer, the via conductor and one side of the insulating layer are formed. The conductor layer is discontinuous, and an interface is formed between the two. Specifically, for example, as shown in FIG. 4A, in the via conductors 82 and 92 and the upper conductor layers 81 and 91, the electroless plating film 202a and the electroless plating film 202d are integrated with each other. In addition, the electrolytic plating 203a and the electrolytic plating 203d are integrally formed with each other. However, the via conductors 82 and 92 and the lower conductor layers 61 and 71 are discontinuous, and an interface is formed between them (see FIGS. 1 and 4A). For example, as shown in FIG. 4B, in the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 and the conductor layers 21, 31, 41, 51, 61, 71 on the upper layer side, The plating 212b is integrally formed with each other. However, the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 and the conductor layers 11 a, 11 b, 21, 31, 41, 51 on the lower side are discontinuous, and an interface is formed between them. (See FIGS. 1 and 4B). For example, as shown in FIG. 4C, in the connection conductor 12 and the conductor layer 11a on one side thereof, the electrolytic plating 222a and the electrolytic plating 222b are integrally formed with each other. However, the connection conductor 12 and the conductor layer 11b on the other side are discontinuous, and an interface is formed between them (see FIGS. 1 and 4C).

本実施形態では、絶縁層20a、40a、60a、80a(それぞれ第1面側層間絶縁層)及び絶縁層30a、50a、70a、90a(それぞれ第2面側層間絶縁層)の各々に、給電層(無電解めっき膜202d、グラファイト膜210)と、その給電層の上に形成される電解めっき203d、212bと、を含むビア導体22、32、42、52、62、72、82、92が形成される(図4A及び図4B参照)。そして、絶縁層20a、30a、40a、50a、60a、70a、80a、90aの各々において、最外層にあるビア導体82、92の給電層(無電解めっき膜202d)は、無電解めっきからなり、それ以外の層にあるビア導体22、32、42、52、62、72の給電層(グラファイト膜210)は、グラファイトからなる。   In this embodiment, each of the insulating layers 20a, 40a, 60a, and 80a (first surface side interlayer insulating layer) and the insulating layers 30a, 50a, 70a, and 90a (respectively second surface side interlayer insulating layer) are provided with a power feeding layer. Via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72, 82, 92 including (electroless plating film 202 d, graphite film 210) and electrolytic plating 203 d, 212 b formed on the power feeding layer are formed. (See FIGS. 4A and 4B). In each of the insulating layers 20a, 30a, 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, and 90a, the power supply layer (electroless plating film 202d) of the via conductors 82 and 92 in the outermost layer is made of electroless plating. The power feeding layer (graphite film 210) of the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 in the other layers is made of graphite.

また、本実施形態では、コア絶縁層10aに、コア絶縁層10aを貫通する孔(接続孔12a)が形成されている。また、本実施形態の配線板100は、接続孔12aの壁面に、コア絶縁層10aの第1面F1上に形成された導体層11a(第1面側導体層)とコア絶縁層の第2面F2上に形成された導体層11b(第2面側導体層)とを、互いに電気的に接続する接続導体12を有する。そして、接続導体12は、グラファイトからなる給電層(グラファイト膜220)と、その給電層の上に形成される電解めっき222bと、を含む(図4C参照)。   In the present embodiment, a hole (connection hole 12a) penetrating the core insulating layer 10a is formed in the core insulating layer 10a. Further, the wiring board 100 of the present embodiment has a conductor layer 11a (first surface side conductor layer) formed on the first surface F1 of the core insulating layer 10a and a second core insulating layer on the wall surface of the connection hole 12a. It has the connection conductor 12 which electrically connects the conductor layer 11b (2nd surface side conductor layer) formed on the surface F2 mutually. The connection conductor 12 includes a power supply layer (graphite film 220) made of graphite and an electrolytic plating 222b formed on the power supply layer (see FIG. 4C).

これにより、本実施形態の配線板100のビルドアップ部における電気的接続(特に、層間接続)の信頼性を向上させることが可能になる(詳しくは、後述の製造方法の説明を参照)。   Thereby, it becomes possible to improve the reliability of electrical connection (particularly, interlayer connection) in the build-up portion of the wiring board 100 of the present embodiment (for details, refer to the description of the manufacturing method described later).

これにより、本実施形態の配線板100のコア部における電気的接続(特に、コア絶縁層10a両面間の電気的接続)の信頼性を向上させることが可能になる(詳しくは、後述の製造方法の説明を参照)。   Thereby, it becomes possible to improve the reliability of the electrical connection (particularly, the electrical connection between both surfaces of the core insulating layer 10a) in the core portion of the wiring board 100 of the present embodiment (more specifically, a manufacturing method described later) See description).

本実施形態では、配線板100に含まれる全ての導体パターン(各導体層の導体パターン)が、単一の金属材料(例えば銅)からなる。しかしこれに限定されず、導体パターンごと(例えば機能などで区別して)異なる導体材料で形成してもよい。   In the present embodiment, all conductor patterns (conductor patterns of each conductor layer) included in the wiring board 100 are made of a single metal material (for example, copper). However, the present invention is not limited to this, and each conductor pattern may be formed of a different conductor material (for example, distinguished by function).

本実施形態では、コア絶縁層10aの第1面F1側に形成される導体層(第1面側導体層)の層数及びコア絶縁層10aの第2面F2側に形成される導体層(第2面側導体層)の層数がそれぞれ、5層以上である。本実施形態の配線板100では、上記構造によりビルドアップ部における電気的接続(特に、層間接続)の信頼性が向上するため、こうした多層配線板についても、高い歩留まりで製造することが可能になる。   In the present embodiment, the number of conductor layers (first surface side conductor layers) formed on the first surface F1 side of the core insulating layer 10a and the conductor layers formed on the second surface F2 side of the core insulating layer 10a ( The number of layers of the second surface side conductor layer) is 5 or more. In the wiring board 100 of the present embodiment, the reliability of electrical connection (particularly, interlayer connection) in the build-up portion is improved by the above-described structure. Therefore, such a multilayer wiring board can be manufactured with a high yield. .

以下、本実施形態に係る配線板100の製造方法について説明する。   Hereinafter, a method for manufacturing the wiring board 100 according to the present embodiment will be described.

まず、図5Aに示すように、出発材料として、例えば積層板1000(両面銅張積層板)を準備する。積層板1000は、コア絶縁層10aと、金属箔1001及び1002(それぞれ例えば銅箔)と、を有する。コア絶縁層10aの第1面F1には金属箔1001が形成され、コア絶縁層10aの第2面F2には金属箔1002が形成される。コア絶縁層10aの材料は、例えば補強材入りのエポキシ樹脂である。金属箔1001、1002はそれぞれ、はじめから所定の厚さ(薄い状態)で貼り付けてもよいし、比較的厚い金属箔を絶縁層に貼り付けた後、エッチング等によりその金属箔を薄くして所定の厚さに調整してもよい。   First, as shown in FIG. 5A, for example, a laminate 1000 (double-sided copper-clad laminate) is prepared as a starting material. The laminated plate 1000 includes a core insulating layer 10a and metal foils 1001 and 1002 (for example, copper foils, respectively). A metal foil 1001 is formed on the first surface F1 of the core insulating layer 10a, and a metal foil 1002 is formed on the second surface F2 of the core insulating layer 10a. The material of the core insulating layer 10a is, for example, an epoxy resin containing a reinforcing material. Each of the metal foils 1001 and 1002 may be attached with a predetermined thickness (thin state) from the beginning, or after a relatively thick metal foil is attached to the insulating layer, the metal foil is thinned by etching or the like. The thickness may be adjusted to a predetermined thickness.

続けて、例えば黒色酸化処理法により、金属箔1001、1002の表面(例えば全面)を黒化処理する。これにより、レーザの吸収性が高まり、レーザ工程の処理効率を向上させることができると考えられる。   Subsequently, the surface (for example, the entire surface) of the metal foils 1001 and 1002 is blackened by, for example, a black oxidation method. Thereby, it is considered that the absorbability of the laser is increased and the processing efficiency of the laser process can be improved.

続けて、図5Bに示すように、例えばCOレーザにより、積層板1000に接続孔12aを形成する。接続孔12aは、金属箔1001及びコア絶縁層10aを貫通するが、金属箔1002までは貫通しない。これにより、コア絶縁層10aの第1面F1から金属箔1002に至る接続孔12aが形成される。その後、必要に応じて、デスミアやソフトエッチをする。 Subsequently, as shown in FIG. 5B, the connection holes 12a are formed in the laminated plate 1000 by, for example, a CO 2 laser. The connection hole 12a penetrates the metal foil 1001 and the core insulating layer 10a, but does not penetrate to the metal foil 1002. Thereby, the connection hole 12a from the first surface F1 of the core insulating layer 10a to the metal foil 1002 is formed. Then, desmear or soft etch is performed as necessary.

続けて、図5Cに示すように、接続孔12a内に、グラファイトからなる給電層1003を形成し、図5Dに示すように、金属箔1001、1002及び給電層1003を用いて電解めっきを行うことで、電解めっき1004、1005を形成する。以下、これら給電層1003及び電解めっき1004、1005を形成する工程について、詳しく説明する。   Subsequently, as shown in FIG. 5C, a power feeding layer 1003 made of graphite is formed in the connection hole 12a, and electrolytic plating is performed using the metal foils 1001, 1002 and the power feeding layer 1003 as shown in FIG. 5D. Thus, electrolytic plating 1004 and 1005 are formed. Hereinafter, the process of forming these electric power feeding layer 1003 and electrolytic plating 1004 and 1005 is demonstrated in detail.

本実施形態では、図5Cに示すように、接続孔12aの壁面のみに選択的に給電層1003を形成する。   In the present embodiment, as shown in FIG. 5C, the power feeding layer 1003 is selectively formed only on the wall surface of the connection hole 12a.

具体的には、給電層1003の形成に先立って、接続孔12aが形成された積層板1000の表面(特に、図6に示す接続孔12aの壁面F21)のコンディショニングを行う。コンディショニングの好ましい一例では、例えば積層板1000を所定の時間コンディショナー溶液に浸漬した後、脱イオン水で水洗する。   Specifically, prior to the formation of the power feeding layer 1003, conditioning is performed on the surface of the laminated plate 1000 in which the connection holes 12a are formed (particularly, the wall surface F21 of the connection holes 12a shown in FIG. 6). In a preferred example of conditioning, for example, the laminate 1000 is immersed in a conditioner solution for a predetermined time and then washed with deionized water.

続けて、図6に示すように、コンディショニングされた積層板1000に、グラファイト膜1003aをコーティングする。コーティングの好ましい一例では、積層板1000を所定の時間グラファイト分散液に浸漬して、コロイド状のグラファイト(グラファイト膜1003a)を積層板1000の接続孔12aの壁面F21、底面F22、及び金属箔1001の上面F23に付着させる。その後、積層板1000を例えば硫酸溶液に浸漬して、グラファイト膜1003aを固定する。これにより、接続孔12aの壁面F21、接続孔12aの底面F22(金属箔1002上)、及び金属箔1001の上面F23(金属箔1001上)に一体的に、グラファイト膜1003aが形成される。   Subsequently, as shown in FIG. 6, the conditioned laminated plate 1000 is coated with a graphite film 1003a. In a preferred example of the coating, the laminated plate 1000 is immersed in a graphite dispersion for a predetermined time, and colloidal graphite (graphite film 1003a) is formed on the wall surface F21, the bottom surface F22 of the connection hole 12a of the laminated plate 1000, and the metal foil 1001. It adheres to the upper surface F23. Thereafter, the laminated plate 1000 is immersed in a sulfuric acid solution, for example, to fix the graphite film 1003a. Thereby, the graphite film 1003a is integrally formed on the wall surface F21 of the connection hole 12a, the bottom surface F22 of the connection hole 12a (on the metal foil 1002), and the upper surface F23 of the metal foil 1001 (on the metal foil 1001).

続けて、金属箔1001及び1002のエッチャント(例えば塩化第二銅又は塩化第二鉄)を用いたエッチング(ソフトエッチング)により、金属箔1001及び1002と共に、金属箔1001及び1002上のグラファイト膜1003aを除去する。エッチャントは、グラファイト膜1003a下に入り込んで、グラファイト膜1003a下の金属箔1001及び1002と共に、その上のグラファイト膜1003aを除去する。エッチャントは、グラファイト分子の隙間からグラファイト膜1003a下に入り込むと考えられる。これにより、図7及び図8に示すように、接続孔12aの壁面F21のみにグラファイト膜1003a(給電層1003)が残る。樹脂からなるコア絶縁層10aとグラファイトからなる給電層1003とは、密着性(接続強度)が高い。本実施形態では、金属箔1001及び1002の表面を、約0.2μm〜約3.0μmの範囲でエッチングする。   Subsequently, a graphite film 1003a on the metal foils 1001 and 1002 is formed together with the metal foils 1001 and 1002 by etching (soft etching) using an etchant (for example, cupric chloride or ferric chloride) of the metal foils 1001 and 1002. Remove. The etchant enters under the graphite film 1003a, and removes the graphite film 1003a on the metal foils 1001 and 1002 under the graphite film 1003a. It is considered that the etchant enters under the graphite film 1003a through the gap between the graphite molecules. As a result, as shown in FIGS. 7 and 8, the graphite film 1003a (power feeding layer 1003) remains only on the wall surface F21 of the connection hole 12a. The core insulating layer 10a made of resin and the power feeding layer 1003 made of graphite have high adhesion (connection strength). In this embodiment, the surfaces of the metal foils 1001 and 1002 are etched in the range of about 0.2 μm to about 3.0 μm.

給電層1003を厚く(例えば約0.3μm以上)形成する場合には、1回で形成せずに、上記コンディショニング、グラファイト膜1003aのコーティング(グラファイト膜1003aの形成)、並びに金属箔1001及び1002のソフトエッチング(グラファイト膜1003aの除去)を、2回以上繰り返す(グラファイト膜1003aの形成及び除去を交互に2回以上行う)ことで、段階的に形成することが好ましい。こうすることで、良質の(例えば抵抗の小さい)グラファイト膜が得られる。   When the power feeding layer 1003 is formed thick (for example, about 0.3 μm or more), the conditioning, the coating of the graphite film 1003a (formation of the graphite film 1003a), and the metal foils 1001 and 1002 are not formed once. It is preferable that the soft etching (removal of the graphite film 1003a) is repeated twice or more (formation and removal of the graphite film 1003a are performed twice or more alternately) to form in stages. By doing so, a high-quality (for example, low resistance) graphite film can be obtained.

図8中、給電層1003の厚みD1(最小厚み)は、0.3〜0.6μmの範囲にあることが好ましい。給電層1003の厚みD1がこうした範囲にあれば、電解めっき時の電気抵抗が下がることによって、製造効率が向上する。   In FIG. 8, the thickness D1 (minimum thickness) of the power feeding layer 1003 is preferably in the range of 0.3 to 0.6 μm. If the thickness D1 of the power feeding layer 1003 is in such a range, the manufacturing efficiency is improved by reducing the electric resistance during electrolytic plating.

続けて、銅のパネルめっきにより、金属箔1001、1002上及び接続孔12a内に、銅の電解めっきを形成する。   Subsequently, electrolytic plating of copper is formed on the metal foils 1001 and 1002 and in the connection holes 12a by copper panel plating.

具体的には、図9に示すように、給電層1003が形成された積層板1000と第1電極2001とを、容器2002a内の溶液2002に浸し、電源2003(パルス電源)の一端に、積層板1000(詳しくは、金属箔1001、1002、及び給電層1003の各々)を接続し、他端に第1電極2001を接続する。   Specifically, as shown in FIG. 9, a laminated plate 1000 on which a power feeding layer 1003 is formed and a first electrode 2001 are immersed in a solution 2002 in a container 2002a, and laminated at one end of a power source 2003 (pulse power source). The plate 1000 (specifically, each of the metal foils 1001 and 1002 and the power feeding layer 1003) is connected, and the first electrode 2001 is connected to the other end.

第1電極2001は、例えばめっきする金属(以下、めっき金属という)からなり、溶出極となる。ただしこれに限られず、第1電極2001は、不溶性極であってもよい。本実施形態では、第1電極2001が銅からなる。   The first electrode 2001 is made of, for example, a metal to be plated (hereinafter referred to as a plating metal) and serves as an elution electrode. However, the present invention is not limited to this, and the first electrode 2001 may be an insoluble electrode. In the present embodiment, the first electrode 2001 is made of copper.

積層板1000において、金属箔1001、1002、及び給電層1003はそれぞれ、第1電極2001と対をなす第2電極となる。第2電極は、被めっき材に相当する。   In the laminated plate 1000, the metal foils 1001 and 1002 and the power feeding layer 1003 are each a second electrode that makes a pair with the first electrode 2001. The second electrode corresponds to a material to be plated.

溶液2002は、めっき金属のイオンを含む。本実施形態では、溶液2002が硫酸銅溶液であり、めっき金属が銅であり、めっき金属のイオンがCu2+である。また、溶液2002には、必要に応じて、抑制剤又は促進剤等の添加剤が添加される。本実施形態の溶液2002には、抑制剤としてレベラーが添加され、促進剤としてブライトナーが添加される。 The solution 2002 contains plating metal ions. In the present embodiment, the solution 2002 is a copper sulfate solution, the plating metal is copper, and the ions of the plating metal are Cu 2+ . Moreover, additives, such as an inhibitor or a promoter, are added to the solution 2002 as necessary. In the solution 2002 of the present embodiment, a leveler is added as an inhibitor and a brightener is added as an accelerator.

電源2003は、図9に示すように、第1電極2001と第2電極(金属箔1001、1002、及び給電層1003)との間の電圧波形をパルス制御して、一定周期で極性を切り替える。電源2003は、整流器等から構成される。本実施形態では、第1電極2001と第2電極との間の電圧波形が、図10に示すような矩形波からなる。ただしこれに限定されず、電圧波形は任意である。   As shown in FIG. 9, the power supply 2003 performs pulse control on the voltage waveform between the first electrode 2001 and the second electrode (the metal foils 1001 and 1002, and the power feeding layer 1003), and switches the polarity at a constant cycle. The power supply 2003 is composed of a rectifier or the like. In the present embodiment, the voltage waveform between the first electrode 2001 and the second electrode is a rectangular wave as shown in FIG. However, the voltage waveform is not limited to this, and the voltage waveform is arbitrary.

時間T1では、第2電極において下記のような析出反応R1が進み、時間T2では、第2電極において下記のような分解反応R2が進む。
(析出反応R1)Cu2+ + 2e → Cu
(分解反応R2)Cu → Cu2+ + 2e
時間T1においては、第1電極2001と第2電極との間に析出電圧V1(>0V)が印加され、析出反応R1が進み、第2電極にめっき金属(例えば銅)が析出する。
At time T1, the following precipitation reaction R1 proceeds at the second electrode, and at time T2, the following decomposition reaction R2 proceeds at the second electrode.
(Precipitation reaction R1) Cu 2+ + 2e → Cu
(Decomposition reaction R2) Cu → Cu 2+ + 2e
At time T1, a deposition voltage V1 (> 0V) is applied between the first electrode 2001 and the second electrode, the deposition reaction R1 proceeds, and a plating metal (for example, copper) is deposited on the second electrode.

時間T2においては、第1電極2001と第2電極との間に分離電圧V2(<0V)が印加され、分解反応R2が進み、第2電極からめっき金属(例えば銅)が分離(離脱)する。   At time T2, a separation voltage V2 (<0V) is applied between the first electrode 2001 and the second electrode, the decomposition reaction R2 proceeds, and the plating metal (for example, copper) is separated (detached) from the second electrode. .

本実施形態では、一定の周期T3(=時間T1+時間T2)で、第1電極2001及び第2電極の極性が入れ替わる。   In the present embodiment, the polarities of the first electrode 2001 and the second electrode are switched at a constant period T3 (= time T1 + time T2).

本実施形態では、図10に示すように、第1電極2001(図9)と第2電極との間に析出電圧V1と分離電圧V2とを交互に印加しながら、第2電極(金属箔1001、1002、及び給電層1003)の各々にめっき金属1004aを析出させていく。これにより、図11に示すように、接続孔12a(有底孔)がめっき金属1004aで充填される。また、接続孔12aにめっき金属1004aが充填されるのと同時に、金属箔1001、1002上にそれぞれ、めっき金属1004aが析出する。その結果、図5Dに示すように、接続孔12a内に、給電層1003及び電解めっき1004が充填され、コア絶縁層10aに接続導体12が形成される。また、図5Dに示すように、金属箔1001、1002上にそれぞれ、電解めっき1004、1005が形成される。接続導体12において、給電層1003は、図4Cに示すグラファイト膜220に相当し、電解めっき1004は、図4Cに示す電解めっき222bに相当する。接続導体12の底面は、金属箔1002に接続される。なお、電解めっき1005は、電解めっき1004と同時に形成しても、別途形成してもよい。   In the present embodiment, as shown in FIG. 10, while the deposition voltage V1 and the separation voltage V2 are alternately applied between the first electrode 2001 (FIG. 9) and the second electrode, the second electrode (metal foil 1001). , 1002 and the power feeding layer 1003), the plating metal 1004a is deposited. Thereby, as shown in FIG. 11, the connection hole 12a (bottomed hole) is filled with the plating metal 1004a. Further, at the same time when the plating metal 1004a is filled in the connection hole 12a, the plating metal 1004a is deposited on the metal foils 1001 and 1002, respectively. As a result, as shown in FIG. 5D, the connection hole 12a is filled with the power feeding layer 1003 and the electrolytic plating 1004, and the connection conductor 12 is formed in the core insulating layer 10a. Also, as shown in FIG. 5D, electrolytic plating 1004 and 1005 are formed on the metal foils 1001 and 1002, respectively. In the connection conductor 12, the power feeding layer 1003 corresponds to the graphite film 220 shown in FIG. 4C, and the electrolytic plating 1004 corresponds to the electrolytic plating 222b shown in FIG. 4C. The bottom surface of the connection conductor 12 is connected to the metal foil 1002. Note that the electrolytic plating 1005 may be formed simultaneously with the electrolytic plating 1004 or separately.

電圧印加時の電位分布は、図11に示すように、接続孔12aの壁面F21及び底面F22が低電位部R11となり、金属箔1001の上面F23(表層及び肩)が高電位部R12となる。本実施形態では、第1電極2001(図9)と第2電極との間に析出電圧V1と分離電圧V2とを交互に印加しながらめっき金属1004aを析出させるため、低電位部R11に厚いめっきを形成し、高電位部R12に薄いめっきを形成することが可能になる。詳しくは、分解反応時には高析出部分(高電位部R12)ほど分解が速く進むことになるため、析出、分解を繰り返すうちに、めっきの付きまわりの部分差が小さくなり、ビア内部でも適正なめっき(めっき金属1004aの析出)が可能となる。   As shown in FIG. 11, the wall surface F21 and the bottom surface F22 of the connection hole 12a serve as the low potential portion R11, and the top surface F23 (surface layer and shoulder) of the metal foil 1001 serves as the high potential portion R12. In the present embodiment, since the plating metal 1004a is deposited while alternately applying the deposition voltage V1 and the separation voltage V2 between the first electrode 2001 (FIG. 9) and the second electrode, a thick plating is applied to the low potential portion R11. Thus, it is possible to form a thin plating on the high potential portion R12. Specifically, during the decomposition reaction, the higher the deposition portion (high potential portion R12), the faster the decomposition, so as the deposition and decomposition are repeated, the difference in the area around the plating becomes smaller, and proper plating is achieved even inside the via. (Precipitation of plating metal 1004a) becomes possible.

図12及び図13に、銅の無電解めっき(化学銅)からなる給電層1003bを有する配線板に直流電源により電解めっきを行う例について、第1電極と第2電極との間の電圧(図12)、及び、電解めっきにより接続孔12a(有底孔)がめっき金属1004aで充填される様子(図13)を示す。   FIGS. 12 and 13 show the voltage between the first electrode and the second electrode (FIG. 12) for an example in which electrolytic plating is performed by a DC power source on a wiring board having a power feeding layer 1003b made of copper electroless plating (chemical copper). 12) and a state in which the connection hole 12a (bottomed hole) is filled with the plating metal 1004a by electrolytic plating (FIG. 13).

この例では、図12に示すように、陽極(アノード)と給電層1003b(陰極:カソード)との間に一定の電圧V0を印加し、図13に示すように、電解めっきにより給電層1003b上にめっき金属1004a(銅)を析出させる。このため、低電位部R11に薄いめっき(銅)が形成され、高電位部R12に厚いめっき(銅)が形成される。   In this example, as shown in FIG. 12, a constant voltage V0 is applied between the anode (anode) and the power feeding layer 1003b (cathode: cathode), and as shown in FIG. The plating metal 1004a (copper) is deposited on the substrate. For this reason, thin plating (copper) is formed in the low potential portion R11, and thick plating (copper) is formed in the high potential portion R12.

本実施形態では、給電層1003が、めっき金属1004aよりも溶液2002に溶けにくい材料からなる。溶け易さは、例えば標準電極電位で比較することができる。詳しくは、標準電極電位が大きいほど溶けにくい。本実施形態では、給電層1003がグラファイトからなり、めっき金属1004aが銅からなる。グラファイトの標準電極電位は、銅の標準電極電位よりも大きい。   In the present embodiment, the power feeding layer 1003 is made of a material that is less soluble in the solution 2002 than the plated metal 1004a. The ease of melting can be compared, for example, with a standard electrode potential. Specifically, the larger the standard electrode potential is, the more difficult it is to dissolve. In the present embodiment, the power feeding layer 1003 is made of graphite, and the plated metal 1004a is made of copper. The standard electrode potential of graphite is larger than the standard electrode potential of copper.

本実施形態における分離電圧V2(図10)は、めっき金属1004aが溶液2002に溶け、且つ、給電層1003が溶液2002に溶けない範囲に設定される。これにより、給電層1003をほとんど溶かすことなく、分解反応R2が進むことになる。   The separation voltage V2 (FIG. 10) in the present embodiment is set in a range where the plating metal 1004a is dissolved in the solution 2002 and the power feeding layer 1003 is not dissolved in the solution 2002. Thereby, the decomposition reaction R2 proceeds with almost no melting of the power feeding layer 1003.

給電層1003が溶けて薄くなると、抵抗値が高くなって電解めっきの速度が遅くなったり、めっき金属1004aの析出が均一でなくなったりするおそれがある。また、給電層1003が完全に溶けて無くなると、電解めっきを行うことができなくなる。このため、給電層1003が溶け易い場合は、分離電圧V2を高くすること、又はめっき金属1004aの離脱時間(時間T2)を長くすることが難しい。この点、本実施形態では、給電層1003が、めっき金属1004aよりも溶液2002に溶けにくい材料からなる。これにより、分離電圧V2を高くすること、又はめっき金属1004aの離脱時間(時間T2)を長くすることが可能になる。その結果、高い生産性でフィルド導体を形成することが可能になる。また、分離電圧V2を高くすることで、金属箔1002と接続導体12との間のシーム発生を抑制することが可能になる。このため、小径のビアホールに電解めっきする場合でも、シームレスになり易くなる。   When the power feeding layer 1003 is melted and thinned, there is a possibility that the resistance value becomes high and the rate of electrolytic plating becomes slow, or the plating metal 1004a is not uniformly deposited. Further, when the power feeding layer 1003 is completely melted and disappears, it is impossible to perform electroplating. For this reason, when the power feeding layer 1003 is easily melted, it is difficult to increase the separation voltage V2 or lengthen the separation time (time T2) of the plated metal 1004a. In this regard, in the present embodiment, the power feeding layer 1003 is made of a material that is less soluble in the solution 2002 than the plated metal 1004a. As a result, the separation voltage V2 can be increased, or the detachment time (time T2) of the plated metal 1004a can be increased. As a result, a filled conductor can be formed with high productivity. Further, by increasing the separation voltage V2, it is possible to suppress seam generation between the metal foil 1002 and the connection conductor 12. For this reason, even when electrolytic plating is performed on a small diameter via hole, it becomes easy to be seamless.

図14に、電解めっきの給電層として化学銅を用いた場合の特性と、電解めっきの給電層として銅よりも標準電極電位の大きい各導電性材料を用いた場合の特性と、を対比して示す。   FIG. 14 compares the characteristics when chemical copper is used as a power supply layer for electrolytic plating and the characteristics when each conductive material having a higher standard electrode potential than copper is used as the power supply layer for electrolytic plating. Show.

図14に示されるように、厚さ50nmの化学銅の抵抗値は0.008Ωであり、厚さ300nmのグラファイトの抵抗値は0.08Ωであり、厚さ50nmのカーボンブラックの抵抗値は5Ωであり、厚さ約1nmのパラジウムの抵抗値は3Ωであり、厚さ約1nmの導電性ポリマの抵抗値は50Ωである。   As shown in FIG. 14, the resistance value of chemical copper having a thickness of 50 nm is 0.008Ω, the resistance value of graphite having a thickness of 300 nm is 0.08Ω, and the resistance value of carbon black having a thickness of 50 nm is 5Ω. The resistance value of palladium having a thickness of about 1 nm is 3Ω, and the resistance value of a conductive polymer having a thickness of about 1 nm is 50Ω.

本実施形態では、導体層81(スルーホール導体102の一端が接続される第1面側導体層)下の絶縁層80a(第1面側層間絶縁層)に形成されたビア導体82の給電層(無電解めっき膜202d)と、導体層91(スルーホール導体102の他端が接続される第2面側導体層)下の絶縁層90a(第2面側層間絶縁層)に形成されたビア導体92の給電層(無電解めっき膜202d)とを構成する材料(化学銅)が、それ以外のビルドアップ部に形成されたビア導体22、32、42、52、62、72の給電層(グラファイト膜210)を構成する材料(グラファイト)よりも抵抗値が低い。   In the present embodiment, the feed layer of the via conductor 82 formed in the insulating layer 80a (first surface side interlayer insulating layer) under the conductor layer 81 (first surface side conductive layer to which one end of the through-hole conductor 102 is connected). (Electroless plated film 202d) and via formed in insulating layer 90a (second surface side interlayer insulating layer) under conductor layer 91 (second surface side conductor layer to which the other end of through-hole conductor 102 is connected) The material (chemical copper) that constitutes the power supply layer (electroless plating film 202d) of the conductor 92 is the power supply layer of the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 formed in other build-up portions ( The resistance value is lower than that of the material (graphite) constituting the graphite film 210).

本実施形態では、図5C及び図7に示されるように、接続孔12aの壁面F21のみに選択的に給電層1003が形成される。このため、給電層1003を介在させず、金属箔1002上に直接、めっき金属1004aを析出させることが可能になる。これにより、金属箔1002とめっき金属1004aとの結合が金属同士の結合になるため、接合強度が向上する。   In the present embodiment, as shown in FIGS. 5C and 7, the power feeding layer 1003 is selectively formed only on the wall surface F <b> 21 of the connection hole 12 a. For this reason, it is possible to deposit the plating metal 1004a directly on the metal foil 1002 without the power feeding layer 1003 interposed. Thereby, since the coupling | bonding of the metal foil 1002 and the plating metal 1004a turns into a coupling | bonding of metals, joining strength improves.

しかしながら、金属箔1002と接続導体12との間に給電層1003の材料が残留すると、シームが発生し易くなる。この点、金属箔1002を構成する材料(銅)と同じ金属である化学銅は、実質的に、金属箔1002と区別がつかない(又は同一視できる)ため、金属箔1002上に残留しないと考えられる。また、非金属であるグラファイトは、完全に除去し易いため、金属箔1002上に残留しにくい。   However, if the material of the power feeding layer 1003 remains between the metal foil 1002 and the connection conductor 12, a seam is likely to occur. In this regard, chemical copper, which is the same metal as the material (copper) constituting the metal foil 1002, is substantially indistinguishable from (or can be identified with) the metal foil 1002, so that it does not remain on the metal foil 1002. Conceivable. In addition, graphite that is a non-metal is easily removed completely, and thus hardly remains on the metal foil 1002.

本実施形態では、給電層1003がグラファイトからなる。グラファイトは、金属箔1002上に残留しにくいため、金属箔1002と接続導体12との間のシーム発生を抑制するのに適している。また、図14に示されるように、グラファイトは、カーボンブラック、パラジウム、及び導電性ポリマに比べて、抵抗が小さい。このため、グラファイトからなる給電層1003は、電解めっきの第2電極(被めっき材)として適している。   In the present embodiment, the power feeding layer 1003 is made of graphite. Since graphite hardly remains on the metal foil 1002, it is suitable for suppressing seam generation between the metal foil 1002 and the connection conductor 12. Further, as shown in FIG. 14, graphite has a lower resistance than carbon black, palladium, and a conductive polymer. For this reason, the power feeding layer 1003 made of graphite is suitable as a second electrode (material to be plated) for electrolytic plating.

また、給電層1003を化学銅で形成する場合には、良質の無電解銅めっき膜を得るために、還元剤としてはホルマリン等が、また、触媒としてレアメタルであるパラジウム(Pb)等が必要になる。この点、本実施形態では、給電層1003をグラファイトで形成するため、ホルマリン及びパラジウムを使用することなく、良質の給電層を得ることができる。その結果、環境負荷の低減(例えば廃液量の低減)又は材料コストの低減が可能になる。   Further, when the power feeding layer 1003 is formed of chemical copper, in order to obtain a high quality electroless copper plating film, formalin or the like is required as a reducing agent, and palladium (Pb) that is a rare metal is required as a catalyst. Become. In this regard, in this embodiment, since the power feeding layer 1003 is formed of graphite, a good quality power feeding layer can be obtained without using formalin and palladium. As a result, it is possible to reduce the environmental load (for example, reduce the amount of waste liquid) or reduce material costs.

本実施形態では、金属箔1001及び1002がそれぞれ、めっき金属1004aと同じ金属(銅)からなる。これにより、めっき界面の不整合が抑制され、金属箔1001及び1002と接続導体12との間のシーム発生が抑制される。また、本実施形態では、給電層1003が、金属箔1001及び1002のいずれとも異なる導体材料からなる。具体的には、給電層1003をグラファイトで形成することで、環境負荷の低減又は材料コストの低減を図っている。   In the present embodiment, the metal foils 1001 and 1002 are each made of the same metal (copper) as the plating metal 1004a. Thereby, mismatching of the plating interface is suppressed, and seam generation between the metal foils 1001 and 1002 and the connection conductor 12 is suppressed. In the present embodiment, the power feeding layer 1003 is made of a conductive material different from any of the metal foils 1001 and 1002. Specifically, the environmental impact or the material cost is reduced by forming the power feeding layer 1003 from graphite.

続けて、リソグラフィ技術により、図5Dに示されるコア絶縁層10a上の導体層(金属箔1001、1002及び電解めっき1004、1005)をパターニングする。   Subsequently, the conductor layers (metal foils 1001 and 1002 and electrolytic plating 1004 and 1005) on the core insulating layer 10a shown in FIG. 5D are patterned by a lithography technique.

具体的には、図15Aに示すように、電解めっき1004上に、開口部1006aを有するエッチングレジスト1006を形成し、電解めっき1005上に、開口部1007aを有するエッチングレジスト1007を形成する。開口部1006a及び1007aはそれぞれ、導体層(金属箔1001、1002及び電解めっき1004、1005)をエッチングすべき部分に配置される。   Specifically, as illustrated in FIG. 15A, an etching resist 1006 having an opening 1006a is formed on the electrolytic plating 1004, and an etching resist 1007 having an opening 1007a is formed on the electrolytic plating 1005. The openings 1006a and 1007a are disposed at portions where the conductor layers (metal foils 1001 and 1002 and electrolytic plating 1004 and 1005) are to be etched, respectively.

続けて、図15Bに示すように、例えば塩化第二銅又は塩化第二鉄により、コア絶縁層10a上の導体層(金属箔1001、1002及び電解めっき1004、1005)をエッチングする。コア絶縁層10a上の導体層のうち、エッチングレジスト1006、1007で覆われている部分は、エッチングされずに残り、開口部1006a、1007aから露出する部分は、エッチングにより除去される。これにより、コア絶縁層10aの第1面F1上に、金属箔1001(下層)及び電解めっき1004(上層)から構成される導体層11aが形成され、コア絶縁層10aの第2面F2上に、金属箔1002(下層)及び電解めっき1005(上層)から構成される導体層11bが形成される。接続導体12は、導体層11aと導体層11bを相互に電気的に接続する。   Subsequently, as shown in FIG. 15B, the conductor layers (metal foils 1001 and 1002 and electrolytic plating 1004 and 1005) on the core insulating layer 10a are etched by, for example, cupric chloride or ferric chloride. Of the conductor layer on the core insulating layer 10a, the portions covered with the etching resists 1006 and 1007 remain without being etched, and the portions exposed from the openings 1006a and 1007a are removed by etching. Thereby, the conductor layer 11a composed of the metal foil 1001 (lower layer) and the electrolytic plating 1004 (upper layer) is formed on the first surface F1 of the core insulating layer 10a, and on the second surface F2 of the core insulating layer 10a. A conductor layer 11b composed of a metal foil 1002 (lower layer) and electrolytic plating 1005 (upper layer) is formed. The connection conductor 12 electrically connects the conductor layer 11a and the conductor layer 11b to each other.

導体層11aにおいて、金属箔1001は、図4Cに示す銅箔221aに相当し、電解めっき1004は、図4Cに示す電解めっき222aに相当する。また、導体層11bにおいて、金属箔1002は、図4Cに示す銅箔231aに相当し、電解めっき1005は、図4Cに示す電解めっき232aに相当する。   In the conductor layer 11a, the metal foil 1001 corresponds to the copper foil 221a shown in FIG. 4C, and the electrolytic plating 1004 corresponds to the electrolytic plating 222a shown in FIG. 4C. In the conductor layer 11b, the metal foil 1002 corresponds to the copper foil 231a shown in FIG. 4C, and the electrolytic plating 1005 corresponds to the electrolytic plating 232a shown in FIG. 4C.

導体層11aの最小厚みは、10〜30μmの範囲にあることが好ましい。本実施形態では、前述した析出電圧及び分離電圧の印加により、接続孔12a(有底孔)をめっき金属1004aで充填するのと同時に、金属箔1001上にめっき金属1004aを析出させて、コア絶縁層10a上に、最小厚みが10〜30μmの範囲にある導体層11aを形成する。導体層11aの最小厚みが下限値(10μm)より小さいと、ビアのリセスが解消できずに平坦性を損ね易くなる。   The minimum thickness of the conductor layer 11a is preferably in the range of 10 to 30 μm. In the present embodiment, by applying the above-described deposition voltage and separation voltage, the connection hole 12a (bottomed hole) is filled with the plating metal 1004a, and at the same time, the plating metal 1004a is deposited on the metal foil 1001 to provide core insulation. A conductor layer 11a having a minimum thickness in the range of 10 to 30 μm is formed on the layer 10a. If the minimum thickness of the conductor layer 11a is smaller than the lower limit (10 μm), the recess of the via cannot be eliminated and the flatness is easily lost.

続けて、例えば図16Aに示すように、コア絶縁層10aの第1面F1上及び導体層11a上に、絶縁層20a及び金属箔1011(例えば銅箔)を、この順で積層し、コア絶縁層10aの第2面F2上及び導体層11b上に、絶縁層30a及び金属箔1012(例えば銅箔)を、この順で積層する。この段階では、絶縁層20a及び30aは、例えばプリプレグ(半硬化状態の接着シート)となっている。ただし、プリプレグに代えて、RCF(Resin Coated copper Foil)などを用いることもできる。金属箔1011、1012はそれぞれ、はじめから所定の厚さ(薄い状態)で貼り付けてもよいし、比較的厚い金属箔を絶縁層に貼り付けた後、エッチング等によりその金属箔を薄くして所定の厚さに調整してもよい。   Subsequently, for example, as shown in FIG. 16A, the insulating layer 20a and the metal foil 1011 (for example, copper foil) are laminated in this order on the first surface F1 and the conductor layer 11a of the core insulating layer 10a, and the core insulation is performed. The insulating layer 30a and the metal foil 1012 (for example, copper foil) are laminated in this order on the second surface F2 of the layer 10a and the conductor layer 11b. At this stage, the insulating layers 20a and 30a are, for example, prepregs (semi-cured adhesive sheets). However, RCF (Resin Coated copper Foil) or the like can be used instead of the prepreg. Each of the metal foils 1011 and 1012 may be attached with a predetermined thickness (thin state) from the beginning, or after a relatively thick metal foil is attached to the insulating layer, the metal foil is thinned by etching or the like. The thickness may be adjusted to a predetermined thickness.

続けて、上記積層体をZ方向に加熱プレスする。すなわち、プレス及び加熱処理を同時に行う。プレス及び加熱により、プリプレグ(絶縁層20a、30a)は硬化し、部材同士は付着する。その結果、積層体は一体化する。なお、プレス及び加熱処理は、複数回に分けて行ってもよい。また、加熱処理とプレスとは別々に行ってもよいが、同時に行った方が効率は良い。加熱プレスの後、別途一体化のための加熱処理を行ってもよい。   Subsequently, the laminate is heated and pressed in the Z direction. That is, pressing and heat treatment are performed simultaneously. The prepreg (insulating layers 20a and 30a) is cured by pressing and heating, and the members adhere to each other. As a result, the laminate is integrated. Note that the pressing and heat treatment may be performed in a plurality of times. Moreover, although heat processing and a press may be performed separately, it is more efficient to perform it simultaneously. You may perform the heat processing for integration separately after a heat press.

続けて、例えば図16Bに示すように、例えばCOレーザにより、絶縁層20aにビアホール22aを形成し、絶縁層30aにビアホール32aを形成する。フィルドスタックSを形成するためのビアホール22a及び32aは、フィルドスタックSを構成する接続導体12と同軸(Z軸)上に形成する。なお、必要に応じて、穴開け(レーザ照射)の前に黒化処理を施すことが好ましい。また、穴開け後、必要に応じて、デスミアやソフトエッチをする。 Subsequently, as shown in FIG. 16B, for example, via holes 22a are formed in the insulating layer 20a, and via holes 32a are formed in the insulating layer 30a, for example, by a CO 2 laser. The via holes 22a and 32a for forming the filled stack S are formed on the same axis (Z axis) as the connection conductor 12 constituting the filled stack S. In addition, it is preferable to perform a blackening process before drilling (laser irradiation) as needed. In addition, after drilling, desmear or soft etch is performed as necessary.

続けて、図16Cに示すように、前述した接続導体12及び導体層11a、11bを形成する方法(図6〜図11参照)と同様にして、ビアホール22a、32a内にそれぞれ、グラファイトからなる給電層1013、1014を形成し、給電層1013、1014を用いて電解めっきを行うことで、電解めっき1015、1016を形成する。これにより、ビアホール22a、32aにはそれぞれ、電解めっき1015、1016が充填される。その結果、絶縁層20a、30aにそれぞれ、ビア導体22、32が形成される。フィルドスタックSを構成するビア導体22及び32は、フィルドスタックSを構成する他の接続導体12と同軸(Z軸)上に積重される。ビア導体22、32において、給電層1013、1014はそれぞれ、図4Bに示すグラファイト膜210に相当し、電解めっき1015、1016はそれぞれ、図4Bに示す電解めっき212bに相当する。   Subsequently, as shown in FIG. 16C, in the same manner as the method of forming the connection conductor 12 and the conductor layers 11a and 11b (see FIGS. 6 to 11) described above, power supply made of graphite is provided in the via holes 22a and 32a, respectively. The layers 1013 and 1014 are formed, and electrolytic plating is performed using the power feeding layers 1013 and 1014, whereby the electrolytic plating 1015 and 1016 are formed. As a result, the via holes 22a and 32a are filled with the electrolytic plating 1015 and 1016, respectively. As a result, via conductors 22 and 32 are formed in the insulating layers 20a and 30a, respectively. The via conductors 22 and 32 constituting the filled stack S are stacked on the same axis (Z axis) as the other connection conductors 12 constituting the filled stack S. In the via conductors 22 and 32, the power supply layers 1013 and 1014 respectively correspond to the graphite film 210 shown in FIG. 4B, and the electrolytic plating 1015 and 1016 correspond to the electrolytic plating 212b shown in FIG. 4B.

続けて、図16Dに示すように、例えば導体層11a、11bのパターニング(図15A及び図15B参照)と同様にして、両面の導体層(金属箔1011、1012及び電解めっき1015、1016)をパターニングする。これにより、絶縁層20a上に導体層21が形成され、絶縁層30a上に導体層31が形成される。導体層21、31において、金属箔1011、1012はそれぞれ、図4Bに示す銅箔211aに相当し、電解めっき1015、1016はそれぞれ、図4Bに示す電解めっき212aに相当する。   Subsequently, as shown in FIG. 16D, the conductive layers (metal foils 1011 and 1012 and electrolytic plating 1015 and 1016) on both sides are patterned in the same manner as the patterning of the conductive layers 11a and 11b (see FIGS. 15A and 15B), for example. To do. Thereby, the conductor layer 21 is formed on the insulating layer 20a, and the conductor layer 31 is formed on the insulating layer 30a. In the conductor layers 21 and 31, the metal foils 1011 and 1012 each correspond to the copper foil 211a shown in FIG. 4B, and the electroplating 1015 and 1016 each correspond to the electroplating 212a shown in FIG. 4B.

続けて、前述したビア導体22、32及び導体層21、31を形成する方法(図16A〜図16D参照)と同様にして、図17に示すように、絶縁層40a及び50a、ビアホール42a及び52a、ビア導体42及び52、並びに導体層41及び51を形成する。フィルドスタックSを構成するビア導体42及び52は、フィルドスタックSを構成する他の接続導体12等と同軸(Z軸)上に積重される。   Subsequently, in the same manner as the method of forming the via conductors 22 and 32 and the conductor layers 21 and 31 (see FIGS. 16A to 16D), as shown in FIG. 17, the insulating layers 40a and 50a and the via holes 42a and 52a are formed. The via conductors 42 and 52 and the conductor layers 41 and 51 are formed. The via conductors 42 and 52 constituting the filled stack S are stacked on the same axis (Z axis) as the other connection conductors 12 constituting the filled stack S.

続けて、前述したビア導体22、32及び導体層21、31を形成する方法(図16A〜図16D参照)と同様にして、図18に示すように、絶縁層60a及び70a、ビアホール62a及び72a、ビア導体62及び72、並びに導体層61及び71を形成する。フィルドスタックSを構成するビア導体62及び72は、フィルドスタックSを構成する他の接続導体12等と同軸(Z軸)上に積重される。   Subsequently, in the same manner as the method of forming the via conductors 22 and 32 and the conductor layers 21 and 31 (see FIGS. 16A to 16D), as shown in FIG. 18, the insulating layers 60a and 70a and the via holes 62a and 72a are formed. The via conductors 62 and 72 and the conductor layers 61 and 71 are formed. The via conductors 62 and 72 constituting the filled stack S are stacked on the same axis (Z axis) as the other connection conductors 12 constituting the filled stack S and the like.

続けて、例えば図19に示すように、絶縁層60a上及び導体層61上に、絶縁層80a及び金属箔1021(例えば銅箔)を、この順で積層し、絶縁層70a上及び導体層71上に、絶縁層90a及び金属箔1022(例えば銅箔)を、この順で積層する。この段階では、絶縁層80a及び90aは、例えばプリプレグ(半硬化状態の接着シート)となっている。ただし、プリプレグに代えて、RCF(Resin Coated copper Foil)などを用いることもできる。金属箔1021、1022はそれぞれ、はじめから所定の厚さ(薄い状態)で貼り付けてもよいし、比較的厚い金属箔を絶縁層に貼り付けた後、エッチング等によりその金属箔を薄くして所定の厚さに調整してもよい。   Subsequently, for example, as shown in FIG. 19, an insulating layer 80a and a metal foil 1021 (for example, copper foil) are laminated in this order on the insulating layer 60a and the conductor layer 61, and on the insulating layer 70a and the conductor layer 71. On top of this, an insulating layer 90a and a metal foil 1022 (for example, copper foil) are laminated in this order. At this stage, the insulating layers 80a and 90a are, for example, prepregs (semi-cured adhesive sheets). However, RCF (Resin Coated copper Foil) or the like can be used instead of the prepreg. Each of the metal foils 1021 and 1022 may be attached with a predetermined thickness (thin state) from the beginning, or after a relatively thick metal foil is attached to the insulating layer, the metal foil is thinned by etching or the like. The thickness may be adjusted to a predetermined thickness.

続けて、上記積層体をZ方向に加熱プレスする。すなわち、プレス及び加熱処理を同時に行う。プレス及び加熱により、プリプレグ(絶縁層80a、90a)は硬化し、部材同士は付着する。その結果、積層体は一体化する。なお、プレス及び加熱処理は、複数回に分けて行ってもよい。また、加熱処理とプレスとは別々に行ってもよいが、同時に行った方が効率は良い。加熱プレスの後、別途一体化のための加熱処理を行ってもよい。   Subsequently, the laminate is heated and pressed in the Z direction. That is, pressing and heat treatment are performed simultaneously. The prepreg (insulating layers 80a and 90a) is cured by pressing and heating, and the members adhere to each other. As a result, the laminate is integrated. Note that the pressing and heat treatment may be performed in a plurality of times. Moreover, although heat processing and a press may be performed separately, it is more efficient to perform it simultaneously. You may perform the heat processing for integration separately after a heat press.

続けて、図20に示すように、例えばCOレーザにより、絶縁層80aを貫通するビアホール82a、絶縁層90aを貫通するビアホール92a、及び全層を貫通するスルーホール102aを形成する。フィルドスタックSを形成するためのビアホール82a及び92aは、フィルドスタックSを構成する接続導体12等と同軸(Z軸)上に形成する。なお、必要に応じて、穴開け(レーザ照射)の前に黒化処理を施すことが好ましい。また、穴開け後、必要に応じて、デスミアやソフトエッチをする。 Subsequently, as shown in FIG. 20, a via hole 82a that penetrates the insulating layer 80a, a via hole 92a that penetrates the insulating layer 90a, and a through hole 102a that penetrates all layers are formed by, for example, a CO 2 laser. The via holes 82a and 92a for forming the filled stack S are formed on the same axis (Z axis) as the connection conductors 12 and the like constituting the filled stack S. In addition, it is preferable to perform a blackening process before drilling (laser irradiation) as needed. In addition, after drilling, desmear or soft etch is performed as necessary.

レーザの照射においては、例えば遮光マスクを設けた状態で被照射体の全面にレーザ光を照射する。ただしこれに限られず、遮光マスクを用いずに、非照射部分においてはレーザ照射を止めて、照射すべき部位のみにレーザ光を照射するようにしてもよい。また、レーザ光の走査中において、ビアホール82a及び92aを形成する部位よりも、スルーホール102aを形成する部位に照射するレーザ光の強度(光量)を強めることで、ビアホール82a及び92a、並びにスルーホール102aを、1回の走査で形成することができる。この際、レーザ強度(光量)の調整は、パルス制御で行うことが好ましい。具体的には、例えばレーザ強度を変更する場合には、1ショット(1回の照射)あたりのレーザ強度は変えずに、ショット数(照射回数)を変更するようにする。すなわち、1ショットでは所望のレーザ強度が得られない場合には、同じ照射位置に、再度レーザ光を照射する。こうした制御方法によれば、照射条件を変える時間を省略できるため、スループットが向上すると考えられる。ただしこれに限られず、レーザ強度の調整方法は任意である。例えば照射位置ごとに照射条件を決め、照射回数を一定(例えば1つの照射位置につき1ショット)にしてもよい。スルーホール102aは、配線板の一側のみからレーザ光を照射することによっても、あるいは配線板の両側から同時にレーザ光を照射することによっても、形成することができる。さらに、配線板の一側からレーザ光を照射して有底孔(非貫通孔)を形成した後、他側からレーザ光を照射してその底部を貫通させることにより、スルーホール102aを形成してもよい。また、ビアホール82a、92aはレーザで形成し、スルーホール102aは、ビアホール82a、92aとは別に、ドリルで形成してもよい。   In laser irradiation, for example, the entire surface of the irradiated object is irradiated with laser light in a state where a light-shielding mask is provided. However, the present invention is not limited to this, and the laser irradiation may be stopped in the non-irradiated portion without using the light shielding mask, and the laser beam may be irradiated only on the portion to be irradiated. Further, during the scanning of the laser beam, the via holes 82a and 92a and the through holes are increased by increasing the intensity (light quantity) of the laser beam applied to the site where the through holes 102a are formed rather than the site where the via holes 82a and 92a are formed. 102a can be formed by one scan. At this time, the laser intensity (light quantity) is preferably adjusted by pulse control. Specifically, for example, when changing the laser intensity, the number of shots (number of irradiations) is changed without changing the laser intensity per shot (one irradiation). That is, when a desired laser intensity cannot be obtained with one shot, the same irradiation position is irradiated with laser light again. According to such a control method, the time for changing the irradiation condition can be omitted, so that it is considered that the throughput is improved. However, the method is not limited to this, and the laser intensity adjustment method is arbitrary. For example, the irradiation conditions may be determined for each irradiation position, and the number of irradiations may be fixed (for example, one shot for one irradiation position). The through hole 102a can be formed by irradiating laser light only from one side of the wiring board or by simultaneously irradiating laser light from both sides of the wiring board. Furthermore, after forming a bottomed hole (non-through hole) by irradiating a laser beam from one side of the wiring board, a through hole 102a is formed by irradiating the laser beam from the other side and penetrating the bottom. May be. The via holes 82a and 92a may be formed by laser, and the through hole 102a may be formed by a drill separately from the via holes 82a and 92a.

本実施形態では、上記スルーホール102aの形成(レーザ又はドリル等)により、内層の導体層11a(第1面側導体層)及び内層の導体層11b(第2面側導体層)等が削られ、図21に示すように、その削られた各導体層(詳しくは、その側面F20)がスルーホールの壁面F10に露出する。ここで削られる導体層11a等は、例えば図22に示すように、面状の導体パターンからなる。ただしこれに限られず、上記スルーホール102aの形成により、線状の導体パターンが削られてもよい。本実施形態では、スルーホールの壁面F10に露出する内層の導体層11a等と、金属箔1021及び1022とが、同じ金属材料(銅)からなる。   In the present embodiment, the inner conductor layer 11a (first surface side conductor layer), the inner conductor layer 11b (second surface side conductor layer), and the like are removed by forming the through hole 102a (laser, drill, or the like). As shown in FIG. 21, each of the cut conductor layers (specifically, the side surface F20) is exposed on the wall surface F10 of the through hole. The conductor layer 11a and the like to be scraped here are composed of a planar conductor pattern, for example, as shown in FIG. However, the present invention is not limited to this, and the linear conductor pattern may be removed by forming the through hole 102a. In the present embodiment, the inner conductor layer 11a exposed on the wall surface F10 of the through hole and the metal foils 1021 and 1022 are made of the same metal material (copper).

続けて、図23Aに示すように、例えば銅のパネルめっきにより、金属箔1021上、ビアホール82a内、金属箔1022上、ビアホール92a内、及びスルーホール102a内にそれぞれ、例えば銅の無電解めっき膜1023(給電層)を形成する。無電解めっきは、例えば化学めっき法により行う。無電解めっきのめっき液としては、例えば還元剤等が添加された硫酸銅溶液などを用いることができる。   Subsequently, as shown in FIG. 23A, for example, copper electroless plating film is formed on the metal foil 1021, the via hole 82a, the metal foil 1022, the via hole 92a, and the through hole 102a by, for example, copper panel plating. 1023 (feeding layer) is formed. The electroless plating is performed by, for example, a chemical plating method. As a plating solution for electroless plating, for example, a copper sulfate solution to which a reducing agent or the like is added can be used.

続けて、例えば無電解めっき膜1023をめっき液に浸して、例えば直流電源(図12参照)により電解めっきを行い、図23Bに示すように、無電解めっき膜1023上に、例えば銅の電解めっき1024を形成する。電解めっきのめっき液としては、例えば硫酸銅溶液、ピロリン酸銅溶液、青(シアン)化銅溶液、又はホウフッ化銅溶液などを用いることができる。電解めっきの方法は、直流電源による電解めっきに限られず、例えば水平パルスめっき等でもよい。   Subsequently, for example, the electroless plating film 1023 is immersed in a plating solution, and electrolytic plating is performed using, for example, a DC power source (see FIG. 12). As shown in FIG. 23B, for example, copper electroplating is performed on the electroless plating film 1023. 1024 is formed. As a plating solution for electrolytic plating, for example, a copper sulfate solution, a copper pyrophosphate solution, a blue (cyanide) copper solution, or a copper borofluoride solution can be used. The method of electrolytic plating is not limited to electrolytic plating with a DC power source, and horizontal pulse plating or the like may be used, for example.

これにより、ビアホール82a、92aには、それぞれ無電解めっき膜1023及び電解めっき1024が充填され、スルーホール102aの壁面F10に、無電解めっき膜1023及び電解めっき1024が形成される。その結果、ビア導体82及び92、並びにスルーホール導体102が形成される。ビア導体82、92において、無電解めっき膜1023は、図4Aに示す無電解めっき膜202aに相当し、電解めっき1024は、図4Aに示す電解めっき203dに相当する。また、スルーホール導体102において、無電解めっき膜1023は、図3に示す無電解めっき膜202bに相当し、電解めっき1024は、図3に示す電解めっき203bに相当する。   Thus, the via holes 82a and 92a are filled with the electroless plating film 1023 and the electrolytic plating 1024, respectively, and the electroless plating film 1023 and the electrolytic plating 1024 are formed on the wall surface F10 of the through hole 102a. As a result, via conductors 82 and 92 and through-hole conductor 102 are formed. In the via conductors 82 and 92, the electroless plating film 1023 corresponds to the electroless plating film 202a shown in FIG. 4A, and the electrolytic plating 1024 corresponds to the electrolytic plating 203d shown in FIG. 4A. In the through-hole conductor 102, the electroless plating film 1023 corresponds to the electroless plating film 202b shown in FIG. 3, and the electrolytic plating 1024 corresponds to the electrolytic plating 203b shown in FIG.

スルーホールの壁面F10に露出していた各導体層(内層の導体層11a及び11b等)は、スルーホール102aの壁面F10において、スルーホール導体102と接触し、電気的に接続される。   Each conductor layer (inner conductor layers 11a and 11b, etc.) exposed on the wall surface F10 of the through hole is in contact with and electrically connected to the through hole conductor 102 on the wall surface F10 of the through hole 102a.

フィルドスタックSを構成するビア導体82及び92は、フィルドスタックSを構成する他の接続導体12等と同軸(Z軸)上に積重される。   The via conductors 82 and 92 constituting the filled stack S are stacked on the same axis (Z axis) as the other connection conductors 12 constituting the filled stack S.

本実施形態に係る配線板の製造方法は、第1面F1及びその反対側の第2面F2を有するコア絶縁層10aを準備することと、コア絶縁層10aの第1面F1側に形成される複数の第1面側導体層(導体層11a、21、41、61、81)と、第1面側導体層同士の層間に形成される第1面側層間絶縁層(絶縁層20a、40a、60a、80a)とを形成することと、コア絶縁層10aの第2面F2側に形成される複数の第2面側導体層(導体層11b、31、51、71、91)と、第2面側導体層同士の層間に形成される第2面側層間絶縁層(絶縁層30a、50a、70a、90a)とを形成することと、第1面側層間絶縁層及び第2面側層間絶縁層の各々に、給電層と、給電層の上に形成される電解めっきと、を含むビア導体22、32、42、52、62、72、82、92を形成することと、を含む。そして、本実施形態に係る配線板の製造方法において、第1面側層間絶縁層及び第2面側層間絶縁層の各々において、最外層にあるビア導体82、92の給電層は、無電解めっきからなり、それ以外の層にあるビア導体22、32、42、52、62、72の給電層は、グラファイトからなる。   The method for manufacturing a wiring board according to the present embodiment prepares a core insulating layer 10a having a first surface F1 and a second surface F2 on the opposite side, and is formed on the first surface F1 side of the core insulating layer 10a. A plurality of first surface side conductor layers (conductor layers 11a, 21, 41, 61, 81) and a first surface side interlayer insulating layer (insulating layers 20a, 40a) formed between the first surface side conductor layers. , 60a, 80a), a plurality of second surface side conductor layers (conductor layers 11b, 31, 51, 71, 91) formed on the second surface F2 side of the core insulating layer 10a, Forming a second surface side interlayer insulating layer (insulating layers 30a, 50a, 70a, 90a) formed between the two surface side conductor layers, and the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer; Via conductor 2 including a power feeding layer and electrolytic plating formed on the power feeding layer on each of the insulating layers. Comprises, forming a 32,42,52,62,72,82,92. In the method for manufacturing a wiring board according to the present embodiment, in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer, the power supply layers of the outermost via conductors 82 and 92 are electroless plated. The power supply layers of the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 in the other layers are made of graphite.

このため、本実施形態に係る配線板の製造方法によれば、配線板100を貫通するスルーホール102aの壁面F10にスルーホール導体102を形成する場合に、良質なスルーホール導体102を得やすくなる。   For this reason, according to the method for manufacturing a wiring board according to the present embodiment, when the through-hole conductor 102 is formed on the wall surface F10 of the through-hole 102a penetrating the wiring board 100, it is easy to obtain a good quality through-hole conductor 102. .

詳しくは、最外層でも内層と同様にして給電層としてグラファイトを用いる場合は、例えば図24Aに示すように、スルーホール102aの壁面F10、及び金属箔1021、1022上に、グラファイト膜1023aを形成する。その後、例えば金属箔1021及び1022のエッチャント(例えば銅のエッチャント)を用いたエッチングにより、金属箔1021及び1022上のグラファイト膜1023aを除去することで、スルーホール102aの壁面F10のみにグラファイト膜1023a(給電層)を残すようにする。しかしこの際、例えば図24Bに示すように、金属箔1021及び1022上のグラファイト膜1023aだけでなく、スルーホール102aの壁面F10と面一になる内層の導体層の側面F20上に形成されたグラファイト膜1023aもエッチングされてしまい、スルーホール102aの壁面F10に形成される給電層が不連続になってしまうことが懸念される。そして、こうした不連続の給電層によってスルーホール導体102を形成する場合には、電解めっきの析出不良により、スルーホール導体102も不連続になり易くなる。配線板が多層になるほど、こうした電解めっきの析出不良が生じ易くなる。   Specifically, when graphite is used as the power feeding layer in the outermost layer in the same manner as the inner layer, for example, as shown in FIG. 24A, a graphite film 1023a is formed on the wall surface F10 of the through hole 102a and the metal foils 1021, 1022. . Then, the graphite film 1023a (only the wall surface F10 of the through hole 102a is removed by removing the graphite film 1023a on the metal foils 1021 and 1022 by etching using, for example, an etchant (for example, copper etchant) of the metal foils 1021 and 1022. Leave the power feeding layer). However, at this time, for example, as shown in FIG. 24B, not only the graphite film 1023a on the metal foils 1021 and 1022, but also the graphite formed on the side surface F20 of the inner conductor layer flush with the wall surface F10 of the through hole 102a. There is a concern that the film 1023a is also etched, and the power supply layer formed on the wall surface F10 of the through hole 102a becomes discontinuous. When the through-hole conductor 102 is formed by such a discontinuous power feeding layer, the through-hole conductor 102 is likely to be discontinuous due to poor deposition of electrolytic plating. As the wiring board becomes multilayer, such electrolytic plating deposition defects are more likely to occur.

この点、本実施形態に係る配線板の製造方法では、第1面側層間絶縁層及び第2面側層間絶縁層の各々において、最外層にあるビア導体82、92の給電層は、無電解めっきからなり、それ以外の層にあるビア導体22、32、42、52、62、72の給電層は、グラファイトからなる。このため、切れ目のないスルーホール導体102を得やすくなる。   In this regard, in the method of manufacturing the wiring board according to the present embodiment, the power supply layers of the via conductors 82 and 92 in the outermost layer are electroless in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer. The power supply layers of the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72 made of plating and other layers are made of graphite. For this reason, it becomes easy to obtain the through-hole conductor 102 without a break.

本実施形態では、スルーホール102aへのめっきと、最外層のビアホール82a、92aへのめっきとが、同時に行われる。このため、工程数の削減、ひいてはコスト削減が図られると考えられる。ただしこれに限定されず、別々に行ってもよい。   In the present embodiment, plating on the through hole 102a and plating on the outermost via holes 82a and 92a are performed simultaneously. For this reason, it is thought that reduction of the number of processes and by extension, cost reduction can be achieved. However, it is not limited to this, and may be performed separately.

続けて、リソグラフィ技術により、図23Bに示される絶縁層80a、90a上の導体層(金属箔1021、1022、無電解めっき膜1023、及び電解めっき1024)をパターニングする。   Subsequently, the conductor layers (metal foils 1021, 1022, electroless plating film 1023, and electrolytic plating 1024) on the insulating layers 80a and 90a shown in FIG. 23B are patterned by lithography.

具体的には、図25Aに示すように、絶縁層80a上の導体層上に、開口部1031aを有するエッチングレジスト1031を形成し、絶縁層90a上の導体層上に、開口部1032aを有するエッチングレジスト1032を形成する。開口部1031a及び1032aはそれぞれ、導体層をエッチングすべき部分に配置される。   Specifically, as shown in FIG. 25A, an etching resist 1031 having an opening 1031a is formed on a conductor layer on the insulating layer 80a, and etching having an opening 1032a is formed on the conductor layer on the insulating layer 90a. A resist 1032 is formed. Each of the openings 1031a and 1032a is disposed at a portion where the conductor layer is to be etched.

続けて、図25Bに示すように、例えば塩化第二銅又は塩化第二鉄により、各導体層をエッチングする。導体層のうち、エッチングレジスト1031、1032で覆われている部分は、エッチングされずに残り、開口部1031a、1032aから露出する部分は、エッチングにより除去される。これにより、絶縁層80a上に、金属箔1021(下層)、無電解めっき膜1023(中間層)、及び電解めっき1024(上層)から構成される導体層81が形成され、絶縁層90a上に、金属箔1022(下層)、無電解めっき膜1023(中間層)、及び電解めっき1024(上層)から構成される導体層91が形成される。その結果、本実施形態の配線板100が完成する。導体層81、91において、金属箔1021、1022はそれぞれ、図4Aに示す銅箔201aに相当し、無電解めっき膜1023は、図4Aに示す無電解めっき膜202aに相当し、電解めっき1024は、図4Aに示す電解めっき203aに相当する。   Subsequently, as shown in FIG. 25B, each conductor layer is etched by, for example, cupric chloride or ferric chloride. Of the conductor layer, portions covered with the etching resists 1031 and 1032 remain without being etched, and portions exposed from the openings 1031a and 1032a are removed by etching. Thereby, the conductor layer 81 composed of the metal foil 1021 (lower layer), the electroless plating film 1023 (intermediate layer), and the electrolytic plating 1024 (upper layer) is formed on the insulating layer 80a, and on the insulating layer 90a, A conductor layer 91 composed of metal foil 1022 (lower layer), electroless plating film 1023 (intermediate layer), and electrolytic plating 1024 (upper layer) is formed. As a result, the wiring board 100 of this embodiment is completed. In the conductor layers 81 and 91, the metal foils 1021 and 1022 correspond to the copper foil 201a shown in FIG. 4A, the electroless plating film 1023 corresponds to the electroless plating film 202a shown in FIG. This corresponds to the electrolytic plating 203a shown in FIG. 4A.

その後、例えば最外層に外部接続端子を形成することで、その外部接続端子を通じて、配線板100を他の配線板と接続したり、配線板100に電子部品を実装したりすることが可能になる。具体的には、例えば図26に示すように、配線板100の表面に、開口部1033aを有するソルダーレジスト1033及び開口部1034aを有するソルダーレジスト1034を形成して、開口部1033a、1034aにそれぞれ、例えば半田1033b、1034bにより、電子部品200を実装してもよい。ソルダーレジスト1033及び1034はそれぞれ、例えばスクリーン印刷、スプレーコーティング、ロールコーティング、又はラミネート等により形成することができる。   After that, for example, by forming external connection terminals in the outermost layer, the wiring board 100 can be connected to other wiring boards or electronic components can be mounted on the wiring board 100 through the external connection terminals. . Specifically, for example, as shown in FIG. 26, a solder resist 1033 having an opening 1033a and a solder resist 1034 having an opening 1034a are formed on the surface of the wiring board 100, and the openings 1033a and 1034a are respectively formed. For example, the electronic component 200 may be mounted using the solder 1033b and 1034b. Each of the solder resists 1033 and 1034 can be formed by, for example, screen printing, spray coating, roll coating, or lamination.

図26の例では配線板100の両面に電子部品200が実装されているが、配線板100の片面のみに複数の電子部品200が実装されてもよい。また、電子部品の数は任意である。例えば1つの電子部品のみが配線板100に実装されていてもよい。   In the example of FIG. 26, the electronic components 200 are mounted on both sides of the wiring board 100, but a plurality of electronic components 200 may be mounted only on one side of the wiring board 100. Moreover, the number of electronic components is arbitrary. For example, only one electronic component may be mounted on the wiring board 100.

また、例えば図27に示すように、配線板100に電子部品200が内蔵されていてもよい。図27の例では2つの電子部品200が内蔵されているが、電子部品の数は任意である。例えば1つの電子部品のみが配線板100に内蔵されていてもよい。電子部品を内蔵する配線板100によれば、電子デバイスの高機能化が可能になる。   Further, for example, as shown in FIG. 27, an electronic component 200 may be built in the wiring board 100. In the example of FIG. 27, two electronic components 200 are incorporated, but the number of electronic components is arbitrary. For example, only one electronic component may be built in the wiring board 100. According to the wiring board 100 incorporating the electronic component, it is possible to enhance the functionality of the electronic device.

(実施形態2)
本発明の実施形態2について、上記実施形態1との相違点を中心に説明する。なおここでは、上記図1等に示した要素と同一の要素には各々同一の符号を付し、既に説明した共通の部分、すなわち説明が重複する部分については、その説明を省略又は簡略化する。
(Embodiment 2)
The second embodiment of the present invention will be described focusing on the differences from the first embodiment. Here, the same elements as those shown in FIG. 1 and the like are denoted by the same reference numerals, and the description of the already explained common parts, that is, the duplicated explanations, is omitted or simplified. .

本実施形態の配線板100aは、図28Aに示すように、スルーホール導体102が、配線板100a全体を貫通しない。すなわち、配線板100aは、内層にスルーホール導体102を有する。   In the wiring board 100a of the present embodiment, as shown in FIG. 28A, the through-hole conductor 102 does not penetrate the entire wiring board 100a. That is, the wiring board 100a has the through-hole conductor 102 in the inner layer.

以下、スルーホール導体102の一端が接続される第1面側導体層を、第1面側スルーホール導体層といい、スルーホール導体102の他端が接続される第2面側導体層を、第2面側スルーホール導体層という。また、第1面側スルーホール導体層下の第1面側層間絶縁層を、第1面側スルーホール絶縁層といい、第2面側スルーホール導体層下の第2面側層間絶縁層を、第2面側スルーホール絶縁層という。また、第1面側層間絶縁層及び第2面側層間絶縁層のうち、第1面側スルーホール絶縁層及び第2面側スルーホール絶縁層以外のものを、非スルーホール絶縁層という。本実施形態では、導体層21が、第1面側スルーホール導体層に相当し、導体層31が、第2面側スルーホール導体層に相当し、絶縁層20aが、第1面側スルーホール絶縁層に相当し、絶縁層30aが、第2面側スルーホール絶縁層に相当し、絶縁層40a、50a、60a、70a、80a、90aが、非スルーホール絶縁層に相当する。   Hereinafter, the first surface side conductor layer to which one end of the through hole conductor 102 is connected is referred to as a first surface side through hole conductor layer, and the second surface side conductor layer to which the other end of the through hole conductor 102 is connected, This is referred to as a second surface side through-hole conductor layer. The first surface side interlayer insulating layer below the first surface side through-hole conductor layer is referred to as a first surface side through-hole insulating layer, and the second surface side interlayer insulating layer below the second surface side through-hole conductor layer. This is referred to as a second surface side through-hole insulating layer. Of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer, those other than the first surface side through hole insulating layer and the second surface side through hole insulating layer are referred to as non-through hole insulating layers. In the present embodiment, the conductor layer 21 corresponds to the first surface side through-hole conductor layer, the conductor layer 31 corresponds to the second surface side through-hole conductor layer, and the insulating layer 20a corresponds to the first surface side through-hole conductor layer. The insulating layer 30a corresponds to the second surface side through-hole insulating layer, and the insulating layers 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, and 90a correspond to the non-through-hole insulating layers.

図28Bに、図28Aの一部(スルーホール近傍)を拡大して示す。   FIG. 28B shows an enlarged part of FIG. 28A (near the through hole).

図28Bに示すように、本実施形態では、スルーホール102aの壁面F10に、スルーホール導体102が形成される。スルーホール導体102は、コンフォーマル導体からなる。ただしこれに限定されず、コンフォーマル導体に代えて、フィルド導体を用いてもよい。   As shown in FIG. 28B, in the present embodiment, the through-hole conductor 102 is formed on the wall surface F10 of the through-hole 102a. The through-hole conductor 102 is made of a conformal conductor. However, the present invention is not limited to this, and a filled conductor may be used instead of the conformal conductor.

本実施形態では、スルーホール導体102の一端が、内層の導体層21(詳しくは、導体層21に含まれるランド21a)に接続され、スルーホール導体102の他端が、内層の導体層31(詳しくは、導体層31に含まれるランド31a)に接続される。スルーホール導体102は、導体層21(第1面側スルーホール導体層)と導体層31(第2面側スルーホール導体層)とを電気的に接続する。また、スルーホール102aの壁面F10において、導体層21(第1面側スルーホール導体層)よりも下層に位置する導体層11a(第1面側導体層)、及び導体層31(第2面側スルーホール導体層)よりも下層に位置する導体層11b(第2面側導体層)等と、スルーホール導体102とが、互いに接触し、電気的に接続されている。ただし、スルーホール102aの壁面F10において、スルーホール導体102の側方(第1面側スルーホール導体層又は第2面側スルーホール導体層よりも下層)に位置する導体層とスルーホール導体102とが、互いに接触していることは必須ではない。   In the present embodiment, one end of the through-hole conductor 102 is connected to the inner conductor layer 21 (specifically, the land 21a included in the conductor layer 21), and the other end of the through-hole conductor 102 is connected to the inner conductor layer 31 ( Specifically, it is connected to a land 31a) included in the conductor layer 31. The through-hole conductor 102 electrically connects the conductor layer 21 (first surface side through-hole conductor layer) and the conductor layer 31 (second surface side through-hole conductor layer). In addition, in the wall surface F10 of the through hole 102a, the conductor layer 11a (first surface side conductor layer) positioned below the conductor layer 21 (first surface side through hole conductor layer) and the conductor layer 31 (second surface side) The conductor layer 11b (second surface side conductor layer) positioned below the through-hole conductor layer) and the through-hole conductor 102 are in contact with each other and are electrically connected. However, on the wall surface F10 of the through hole 102a, the conductor layer and the through hole conductor 102 located on the side of the through hole conductor 102 (lower than the first surface side through hole conductor layer or the second surface side through hole conductor layer) However, it is not essential that they are in contact with each other.

導体層21(第1面側スルーホール導体層)は、絶縁層20a(第1面側スルーホール絶縁層)上に、銅箔201aと、例えば銅の無電解めっき膜202aと、例えば銅の電解めっき203aとが、この順で積層されて構成される。すなわち、導体層21は、銅箔201a及び無電解めっき膜202aからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203aと、を含む。   The conductor layer 21 (first surface side through-hole conductor layer) is formed on the insulating layer 20a (first surface side through-hole insulating layer) with a copper foil 201a, an electroless plating film 202a of copper, for example, and an electrolysis of copper. The plating 203a is laminated in this order. That is, the conductor layer 21 includes a power feeding layer composed of the copper foil 201a and the electroless plating film 202a, and an electrolytic plating 203a formed on the power feeding layer.

スルーホール導体102は、例えばスルーホール102aの壁面F10上に、例えば銅の無電解めっき膜202bと、例えば銅の電解めっき203bとが、この順で積層されて構成される。すなわち、スルーホール導体102は、無電解めっき膜202bからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203bと、を含む。   The through-hole conductor 102 is configured, for example, by laminating, for example, a copper electroless plating film 202b and, for example, a copper electrolytic plating 203b in this order on the wall surface F10 of the through-hole 102a. That is, the through-hole conductor 102 includes a power feeding layer made of the electroless plating film 202b and an electrolytic plating 203b formed on the power feeding layer.

導体層31(第2面側スルーホール導体層)は、絶縁層30a(第2面側スルーホール絶縁層)上に、銅箔201cと、例えば銅の無電解めっき膜202cと、例えば銅の電解めっき203cとが、この順で積層されて構成される。すなわち、導体層31は、銅箔201c及び無電解めっき膜202cからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203cと、を含む。   The conductor layer 31 (second surface side through-hole conductor layer) is formed on the insulating layer 30a (second surface side through-hole insulating layer) with a copper foil 201c, for example, an electroless plating film 202c of copper, and an electrolytic layer of copper, for example. The plating 203c is laminated in this order. That is, the conductor layer 31 includes a power feeding layer composed of the copper foil 201c and the electroless plating film 202c, and an electrolytic plating 203c formed on the power feeding layer.

絶縁層20a(第1面側スルーホール絶縁層)に形成されたビア導体22、及び絶縁層30a(第2面側スルーホール絶縁層)に形成されたビア導体32はそれぞれ、例えば図29Aに示すように、ビアホール22a、32a内に、例えば銅の無電解めっき膜202dと、例えば銅の電解めっき203dと、が充填されて構成される。具体的には、ビアホール22a、32aの内面(壁面及び底面)上に、無電解めっき膜202dが形成され、その内側に、電解めっき203dが充填される。すなわち、ビア導体22及び32はそれぞれ、無電解めっき膜202dからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき203dと、を含む。   The via conductor 22 formed in the insulating layer 20a (first surface side through-hole insulating layer) and the via conductor 32 formed in the insulating layer 30a (second surface side through-hole insulating layer) are shown in FIG. 29A, for example. Thus, the via holes 22a and 32a are filled with, for example, copper electroless plating film 202d and, for example, copper electrolytic plating 203d. Specifically, the electroless plating film 202d is formed on the inner surfaces (wall surface and bottom surface) of the via holes 22a and 32a, and the inner side thereof is filled with the electrolytic plating 203d. That is, each of the via conductors 22 and 32 includes a power feeding layer made of an electroless plating film 202d and an electrolytic plating 203d formed on the power feeding layer.

絶縁層40a、50a、60a、70a、80a、90a(それぞれ非スルーホール絶縁層)上に形成された導体層41、51、61、71、81、91はそれぞれ、例えば図29Bに示すように、各絶縁層上に、銅箔211aと、例えば銅の電解めっき212aとが、この順で積層されて構成される。すなわち、導体層41、51、61、71、81、91はそれぞれ、銅箔211aからなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき212aと、を含む。   The conductor layers 41, 51, 61, 71, 81, 91 formed on the insulating layers 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, 90a (each non-through-hole insulating layer) are, for example, as shown in FIG. On each insulating layer, copper foil 211a and, for example, copper electrolytic plating 212a are laminated in this order. That is, each of the conductor layers 41, 51, 61, 71, 81, 91 includes a power feeding layer made of the copper foil 211a and an electrolytic plating 212a formed on the power feeding layer.

絶縁層40a、50a、60a、70a、80a、90a(非スルーホール絶縁層)に形成されたビア導体42、52、62、72、82、92はそれぞれ、例えば図29Bに示すように、ビアホール42a、52a、62a、72a、82a、92a内に、グラファイト膜210と、例えば銅の電解めっき212bと、が充填されて構成される。具体的には、ビアホール42a、52a、62a、72a、82a、92aの内面(詳しくは、壁面)上に、グラファイト膜210が形成され、その内側に、電解めっき212bが充填される。すなわち、ビア導体42、52、62、72、82、92はそれぞれ、グラファイト膜210からなる給電層と、その給電層の上に形成される電解めっき212bと、を含む。   Via conductors 42, 52, 62, 72, 82, and 92 formed in the insulating layers 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, and 90a (non-through hole insulating layers) are respectively formed in via holes 42a as shown in FIG. 29B, for example. 52a, 62a, 72a, 82a, and 92a are filled with a graphite film 210 and, for example, copper electrolytic plating 212b. Specifically, the graphite film 210 is formed on the inner surfaces (specifically, wall surfaces) of the via holes 42a, 52a, 62a, 72a, 82a, and 92a, and the inner side thereof is filled with the electrolytic plating 212b. That is, each of the via conductors 42, 52, 62, 72, 82, 92 includes a power feeding layer made of the graphite film 210 and an electrolytic plating 212 b formed on the power feeding layer.

コア部の構成は、例えば実施形態1と同じである(図4C参照)。   The configuration of the core part is the same as that of the first embodiment, for example (see FIG. 4C).

本実施形態では、絶縁層20a、40a、60a、80a(それぞれ第1面側層間絶縁層)及び絶縁層30a、50a、70a、90a(それぞれ第2面側層間絶縁層)の各々に、給電層(無電解めっき膜202d、グラファイト膜210)と、その給電層の上に形成される電解めっき203d、212bと、を含むビア導体22、32、42、52、62、72、82、92が形成される(図29A及び図29B参照)。そして、スルーホール導体102は、無電解めっきからなる給電層(無電解めっき膜202b)と、その給電層の上に形成される電解めっき203bと、を含み、絶縁層20a(第1面側スルーホール絶縁層)に形成されたビア導体22の給電層(無電解めっき膜202d)と、絶縁層30a(第2面側スルーホール絶縁層)に形成されたビア導体32の給電層(無電解めっき膜202d)とはそれぞれ、無電解めっきからなり、絶縁層40a、50a、60a、70a、80a、90a(それぞれ非スルーホール絶縁層)に形成されたビア導体42、52、62、72、82、92の給電層(グラファイト膜210)はそれぞれ、無電解めっき(特に、銅の無電解めっき)とは異なる材料(例えばグラファイト)からなる。   In this embodiment, each of the insulating layers 20a, 40a, 60a, and 80a (first surface side interlayer insulating layer) and the insulating layers 30a, 50a, 70a, and 90a (respectively second surface side interlayer insulating layer) are provided with a power feeding layer. Via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72, 82, 92 including (electroless plating film 202 d, graphite film 210) and electrolytic plating 203 d, 212 b formed on the power feeding layer are formed. (See FIGS. 29A and 29B). The through-hole conductor 102 includes a power feeding layer (electroless plating film 202b) made of electroless plating and an electrolytic plating 203b formed on the power feeding layer, and includes an insulating layer 20a (first surface side through-hole). The feed layer (electroless plating film 202d) of the via conductor 22 formed in the hole insulating layer) and the feed layer (electroless plating) of the via conductor 32 formed in the insulating layer 30a (second surface side through-hole insulating layer). Each of the films 202d) is made of electroless plating, and is formed of via conductors 42, 52, 62, 72, 82 formed in the insulating layers 40a, 50a, 60a, 70a, 80a, 90a (respective non-through hole insulating layers). Each of the 92 power supply layers (graphite film 210) is made of a material (for example, graphite) different from electroless plating (particularly, electroless plating of copper).

これにより、本実施形態の配線板100aのビルドアップ部における電気的接続(特に、層間接続)の信頼性を向上させることが可能になる(詳しくは、実施形態1の製造方法の説明を参照)。   Thereby, it becomes possible to improve the reliability of electrical connection (particularly, interlayer connection) in the build-up portion of the wiring board 100a of the present embodiment (for details, refer to the description of the manufacturing method of the first embodiment). .

なお、本実施形態のスルーホール導体102は、一端が導体層21に接続され、他端が導体層31に接続されているが、これに限定されない。一端が第1面側導体層(例えば導体層21、41、61、81のいずれか)に接続され、他端が第2面側導体層(例えば導体層31、51、71、91のいずれか)に接続されるスルーホール導体であれば、上記効果に準ずる効果は得られる。   In addition, although the through-hole conductor 102 of this embodiment has one end connected to the conductor layer 21 and the other end connected to the conductor layer 31, it is not limited to this. One end is connected to the first surface side conductor layer (for example, any one of the conductor layers 21, 41, 61, 81), and the other end is connected to the second surface side conductor layer (for example, any one of the conductor layers 31, 51, 71, 91). If the through-hole conductor is connected to (), an effect similar to the above effect can be obtained.

本実施形態の配線板100aは、実施形態1の製造方法に準ずる方法によって、製造することができる。   The wiring board 100a of this embodiment can be manufactured by the method according to the manufacturing method of Embodiment 1.

すなわち、グラファイト膜210は、例えば図6及び図7に示される方法に準ずる方法で形成することができる。また、ビア導体42、52、62、72、82、92は、例えばグラファイト膜210に給電しながら電解めっきを行うことで、形成することができる(例えば図9〜図11参照)。また、導体層41、51、61、71、81、91は、例えば上記電解めっきによりビア導体42、52、62、72、82、92と一緒に形成された両面の導体層をエッチングでパターニングすることにより、形成することができる(例えば図15A及び図15B参照)。   That is, the graphite film 210 can be formed by a method similar to the method shown in FIGS. 6 and 7, for example. The via conductors 42, 52, 62, 72, 82, and 92 can be formed by performing electrolytic plating while supplying power to the graphite film 210, for example (see, for example, FIGS. 9 to 11). The conductor layers 41, 51, 61, 71, 81, 91 are patterned by etching the conductor layers on both sides formed together with the via conductors 42, 52, 62, 72, 82, 92 by, for example, electrolytic plating. This can be formed (see, for example, FIGS. 15A and 15B).

また、無電解めっき膜202b及び202dは、例えば図23Aに示される方法に準ずる方法で形成することができる。また、スルーホール導体102及びビア導体22、32は、例えば無電解めっき膜202b及び202dの各々に給電しながら電解めっきを行うことで、形成することができる(例えば図23B参照)。また、導体層21、31は、例えば上記電解めっきによりスルーホール導体102及びビア導体22、32と一緒に形成された両面の導体層をエッチングでパターニングすることにより、形成することができる(例えば図25A及び図25B参照)。なお、本実施形態では、スルーホール導体102を内層に形成した後、続けてその上層の形成を行い、ビルドアップ部を最外層まで形成する。   The electroless plating films 202b and 202d can be formed by a method similar to the method shown in FIG. 23A, for example. Further, the through-hole conductor 102 and the via conductors 22 and 32 can be formed, for example, by performing electroplating while supplying power to each of the electroless plating films 202b and 202d (see, for example, FIG. 23B). The conductor layers 21 and 31 can be formed by patterning the conductor layers on both sides formed together with the through-hole conductor 102 and the via conductors 22 and 32 by, for example, electrolytic plating (for example, FIG. 25A and FIG. 25B). In the present embodiment, after the through-hole conductor 102 is formed in the inner layer, the upper layer is subsequently formed, and the build-up portion is formed up to the outermost layer.

実施形態1と同様の構成及び処理については、本実施形態でも、前述した実施形態1の効果に準ずる効果が得られる。   With regard to the same configuration and processing as in the first embodiment, an effect similar to the effect of the first embodiment described above can also be obtained in this embodiment.

(他の実施形態)
上記実施形態において、第1面側スルーホール絶縁層又は第2面側スルーホール絶縁層に形成されたビア導体の給電層の材料としては、グラファイト以外の、無電解めっきとは異なる材料を採用することができる。例えばこれらの給電層の材料が、めっき金属よりも溶液2002に溶けにくい材料であれば、分離電圧V2を高くすること、又はめっき金属の離脱時間(時間T2)を長くすることが可能になる。また、これらの給電層の材料が、非金属の導電性材料であれば、金属からなる導体層上に残留しがちな不要な給電層の材料を完全に除去し易くなる。また、これらの給電層の材料が、グラファイト又はカーボンブラックなど、炭素を含む非金属の導電性材料であれば、高い導電性を付与し易くなり、樹脂からなる層間絶縁層との間で高い密着性が得られ易い。また、これらの給電層の材料として、銅の無電解めっきとは異なる材料を採用し、ホルマリンやパラジウム等を用いずに給電層を形成すれば、環境負荷又はコストの面で有利になる。また、これらの給電層の材料は、非スルーホール絶縁層に形成されたビア導体の給電層の材料よりも抵抗値が高い材料であることが好ましい。
(Other embodiments)
In the above embodiment, a material different from electroless plating other than graphite is adopted as the material for the power supply layer of the via conductor formed in the first surface side through-hole insulating layer or the second surface side through-hole insulating layer. be able to. For example, if the material of these power supply layers is a material that is less soluble in the solution 2002 than the plating metal, it is possible to increase the separation voltage V2 or to increase the separation time (time T2) of the plating metal. Further, if the material of the power feeding layer is a non-metallic conductive material, it becomes easy to completely remove the unnecessary material of the power feeding layer that tends to remain on the conductive layer made of metal. Further, if the material of the power feeding layer is a non-metallic conductive material containing carbon such as graphite or carbon black, it becomes easy to impart high conductivity, and high adhesion with the interlayer insulating layer made of resin. It is easy to obtain. Further, if a material different from the electroless plating of copper is adopted as a material for these power supply layers and the power supply layer is formed without using formalin or palladium, it is advantageous in terms of environmental load or cost. Moreover, it is preferable that the material of these electric power feeding layers is a material whose resistance value is higher than the material of the electric power feeding layer of the via conductor formed in the non-through-hole insulating layer.

上記実施形態の配線板100(図1)で用いた孔からなるスルーホール102aに代えて、図30Aに示すように、配線板100をZ方向(積層方向)に貫通する切欠からなるスルーホール102bを用いてもよい。スルーホール102bは、例えば配線板の側面に形成される。この場合も、上記実施形態と同様、スルーホール102bの壁面には、スルーホール導体が形成される。また、図30Bに示すように、孔からなるスルーホール102aと切欠からなるスルーホール102bとを併用してもよい。切欠からなるスルーホール102bは、例えば図31に示すように、孔からなるスルーホール102aを形成した後、線L10で、スルーホール102aを分割(切断)することによって形成することができる。   Instead of the through hole 102a made of the hole used in the wiring board 100 (FIG. 1) of the above embodiment, as shown in FIG. 30A, the through hole 102b made of a notch penetrating the wiring board 100 in the Z direction (stacking direction). May be used. The through hole 102b is formed on the side surface of the wiring board, for example. Also in this case, a through-hole conductor is formed on the wall surface of the through-hole 102b as in the above embodiment. As shown in FIG. 30B, a through hole 102a made of a hole and a through hole 102b made of a notch may be used in combination. For example, as shown in FIG. 31, the through hole 102b made of a notch can be formed by dividing (cutting) the through hole 102a with a line L10 after forming the through hole 102a made of a hole.

接続導体12は、ビア導体に限定されず、例えば図32に示すように、スルーホール導体であってもよい。この場合、接続導体12は、導体層11a、11bと少なくとも一部(例えばめっき層)で連続する。接続導体12は、例えばスルーホール導体102の製造方法に準ずる方法で製造することができる。   The connection conductor 12 is not limited to a via conductor, and may be a through-hole conductor, for example, as shown in FIG. In this case, the connection conductor 12 is continuous with the conductor layers 11a and 11b at least partially (for example, a plating layer). The connection conductor 12 can be manufactured by a method according to the manufacturing method of the through-hole conductor 102, for example.

スルーホール導体102の形状は、円柱に限られず任意であり、例えば両端から内側(例えばコア絶縁層10a)に向かって細くなる鼓状(砂時計状)であっても、一端から他端に向かって細くなるテーパ状(円錐台又は角錐台等)であってもよい。鼓状のスルーホール導体102は、例えば絶縁層の両側からレーザ光を照射することによって、形成することができる。また、テーパ状のスルーホール導体102は、例えば絶縁層の片側からレーザ光を照射することによって、形成することができる。   The shape of the through-hole conductor 102 is not limited to a cylindrical shape, and is arbitrary. For example, even if it has a drum shape (hourglass shape) that narrows from both ends toward the inside (for example, the core insulating layer 10a), it extends from one end to the other end. It may be tapered (conical or truncated pyramid). The drum-shaped through-hole conductor 102 can be formed, for example, by irradiating laser light from both sides of the insulating layer. The tapered through-hole conductor 102 can be formed, for example, by irradiating laser light from one side of the insulating layer.

その他の点についても、上記実施形態の配線板100の構成、特に、その構成要素の種類、性能、寸法、材質、形状、層数、又は配置等は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において任意に変更することができる。   With respect to other points as well, the configuration of the wiring board 100 of the above embodiment, in particular, the type, performance, dimensions, material, shape, number of layers, arrangement, etc. of the components are arbitrary within the scope of the present invention. Can be changed.

例えば図33(図4Aに対応する図)に示すように、導体層81、91は、銅箔を有さず、無電解めっき膜202a及び電解めっき203aから構成されていてもよい。   For example, as shown in FIG. 33 (a diagram corresponding to FIG. 4A), the conductor layers 81 and 91 may be configured by an electroless plating film 202 a and an electrolytic plating 203 a without having a copper foil.

上記実施形態1又は2において、接続導体12の給電層を、無電解めっきで形成してもよい。   In the first or second embodiment, the power feeding layer of the connection conductor 12 may be formed by electroless plating.

接続導体12、ビア導体22、32、42、52、62、72、82、92、スルーホール導体102、及びそれらの開口部(孔)の平面形状(X−Y平面)は、円(真円又は楕円等)に限られず任意である。これらの平面形状は、例えば図34Aに示されるように、略正方形であってもよい。また、略正六角形、略正八角形など、略正方形以外の略正多角形であってもよい。なお、多角形の角の形状は任意であり、例えば略直角でも、鋭角でも、鈍角でも、丸みを帯びていてもよい。ただし、熱応力の集中を防止する上では、角が丸みを帯びていた方が好ましい。   The planar shape (XY plane) of the connecting conductor 12, the via conductors 22, 32, 42, 52, 62, 72, 82, 92, the through-hole conductors 102, and their openings (holes) is a circle (perfect circle). Or an ellipse or the like. These planar shapes may be substantially square as shown in FIG. 34A, for example. Further, it may be a substantially regular polygon other than a substantially square, such as a substantially regular hexagon or a substantially regular octagon. In addition, the shape of the polygonal corner is arbitrary, and may be rounded, for example, substantially right angle, acute angle, obtuse angle. However, in order to prevent concentration of thermal stress, it is preferable that the corners are rounded.

さらに、上記平面形状の各々は、略長方形又は略三角形等であってもよいし、図34Bに示す略十字形又は図34Cに示す略正多角星形など、中心から放射状に直線を引いた形(複数の羽根を放射状に配置した形)であってもよい。   Further, each of the planar shapes may be a substantially rectangular shape or a substantially triangular shape, or a shape in which a straight line is drawn radially from the center, such as a substantially cross shape shown in FIG. 34B or a substantially regular polygonal star shape shown in FIG. 34C. (A shape in which a plurality of blades are arranged radially) may be used.

また、各導体(接続導体12等)の側面(又は各開口部の壁面)は、テーパしていても。テーパしていなくてもよい。   Moreover, the side surface (or the wall surface of each opening) of each conductor (such as the connection conductor 12) may be tapered. It does not have to be tapered.

本発明に係る配線板の製造方法は、実施形態で示した順序及び内容に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において任意に順序や内容を変更することができる。また、用途等に応じて、必要ない工程を割愛してもよい。   The method for manufacturing a wiring board according to the present invention is not limited to the order and contents shown in the embodiment, and the order and contents can be arbitrarily changed without departing from the gist of the present invention. Moreover, you may omit the process which is not required according to a use etc.

上記実施形態及び変形例は、任意に組み合わせることができる。用途等に応じて適切な組み合わせを選ぶことが好ましい。   The said embodiment and modification can be combined arbitrarily. It is preferable to select an appropriate combination according to the application.

以上、本発明の実施形態について説明したが、設計上の都合やその他の要因によって必要となる様々な修正や組み合わせは、「請求項」に記載されている発明や「発明を実施するための形態」に記載されている具体例に対応する発明の範囲に含まれると理解されるべきである。   The embodiment of the present invention has been described above. However, various modifications and combinations required for design reasons and other factors are not limited to the invention described in the “claims” or the “mode for carrying out the invention”. It should be understood that it is included in the scope of the invention corresponding to the specific examples described in the above.

本発明に係る配線板は、携帯電話などの回路基板に適している。本発明に係る配線板の製造方法は、そうした配線板の製造に適している。   The wiring board according to the present invention is suitable for a circuit board such as a mobile phone. The method for manufacturing a wiring board according to the present invention is suitable for manufacturing such a wiring board.

10a コア絶縁層
11a、11b 導体層
12 接続導体
12a 接続孔
20a、40a、60a、80a 絶縁層
21、41、61、81 導体層
22、42、62、82 ビア導体
22a、42a、62a、82a ビアホール
30a、50a、70a、90a 絶縁層
31、51、71、91 導体層
32、52、72、92 ビア導体
32a、52a、72a、92a ビアホール
100、100a 配線板
102 スルーホール導体
102a スルーホール
102b スルーホール
200 電子部品
201a、201c 銅箔
202a、202b、202c、202d 無電解めっき膜
203a、203b、203c、203d 電解めっき
210 グラファイト膜
211a 銅箔
212a、212b 電解めっき
220 グラファイト膜
221a、231a 銅箔
222a、222b、232a 電解めっき
1000 積層板
1001、1002 金属箔
1003 給電層
1003a グラファイト膜
1003b 給電層
1004a 金属
1006、1007 エッチングレジスト
1006a、1007a 開口部
1011、1012 金属箔
1013、1014 給電層
1021、1022 金属箔
1023 無電解めっき膜
1023a グラファイト膜
1031、1032 エッチングレジスト
1031a、1032a 開口部
1033、1034 ソルダーレジスト
1033a、1034a 開口部
1033b、1034b 半田
2001 第1電極
2002 溶液
2002a 容器
2003 電源
F1 第1面
F2 第2面
F10 壁面
F20 側面
F21 壁面
F22 底面
F23 上面
R11 低電位部
R12 高電位部
S フィルドスタック
10a Core insulating layer 11a, 11b Conductor layer 12 Connection conductor 12a Connection hole 20a, 40a, 60a, 80a Insulation layer 21, 41, 61, 81 Conductor layer 22, 42, 62, 82 Via conductor 22a, 42a, 62a, 82a Via hole 30a, 50a, 70a, 90a Insulating layer 31, 51, 71, 91 Conductor layer 32, 52, 72, 92 Via conductor 32a, 52a, 72a, 92a Via hole 100, 100a Wiring board 102 Through-hole conductor 102a Through hole 102b Through hole 200 Electronic component 201a, 201c Copper foil 202a, 202b, 202c, 202d Electroless plating film 203a, 203b, 203c, 203d Electroplating 210 Graphite film 211a Copper foil 212a, 212b Electroplating 220 Graphite film 221 231a Copper foil 222a, 222b, 232a Electroplating 1000 Laminate plate 1001, 1002 Metal foil 1003 Power feeding layer 1003a Graphite film 1003b Power feeding layer 1004a Metal 1006, 1007 Etching resist 1006a, 1007a Opening 1011, 1012 Metal foil 1013, 1014 Power feeding layer 1021, 1022 Metal foil 1023 Electroless plating film 1023a Graphite film 1031, 1032 Etching resist 1031a, 1032a Opening 1033, 1034 Solder resist 1033a, 1034a Opening 1033b, 1034b Solder 2001 First electrode 2002 Solution 2002a Container 2003 Power supply F1 First Surface F2 Second surface F10 Wall surface F20 Side surface F21 Wall surface F22 Bottom surface F23 Top surface R11 Potential portion R12 high potential portion S-filled stack

Claims (13)

第1面及びその反対側の第2面を有するコア絶縁層と、
前記コア絶縁層の前記第1面側に形成される複数の第1面側導体層と、
前記コア絶縁層の前記第2面側に形成される複数の第2面側導体層と、
前記第1面側導体層同士の層間に形成される第1面側層間絶縁層と、
前記第2面側導体層同士の層間に形成される第2面側層間絶縁層と、
一端が前記第1面側導体層に接続され、他端が前記第2面側導体層に接続されるスルーホール導体と、
を有する配線板であって、
前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々には、給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含むビア導体が形成され、
前記スルーホール導体は、無電解めっきからなる給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含み、
前記スルーホール導体の一端が接続される前記第1面側導体層下の前記第1面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の前記給電層と、前記スルーホール導体の他端が接続される前記第2面側導体層下の前記第2面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の前記給電層とはそれぞれ、無電解めっきからなり、それ以外の前記ビア導体の前記給電層はそれぞれ、無電解めっきとは異なる材料からなる、
ことを特徴とする配線板。
A core insulating layer having a first surface and a second surface opposite thereto;
A plurality of first surface side conductor layers formed on the first surface side of the core insulating layer;
A plurality of second surface side conductor layers formed on the second surface side of the core insulating layer;
A first surface side interlayer insulating layer formed between the first surface side conductor layers;
A second surface side interlayer insulating layer formed between the second surface side conductor layers,
A through hole conductor having one end connected to the first surface side conductor layer and the other end connected to the second surface side conductor layer;
A wiring board having
Via conductors including a power supply layer and electrolytic plating formed on the power supply layer are formed in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer,
The through-hole conductor includes a power feeding layer made of electroless plating, and electrolytic plating formed on the power feeding layer,
The feed layer of the via conductor formed in the first surface side interlayer insulating layer below the first surface side conductor layer to which one end of the through hole conductor is connected is connected to the other end of the through hole conductor. Each of the power supply layers of the via conductor formed in the second surface side interlayer insulating layer under the second surface side conductor layer is made of electroless plating, and the other power supply layers of the via conductor are Each is made of a material different from electroless plating.
A wiring board characterized by that.
前記無電解めっきとは異なる材料は、グラファイトである、
ことを特徴とする請求項1に記載の配線板。
The material different from the electroless plating is graphite,
The wiring board according to claim 1.
前記スルーホール導体は、当該配線板を貫通し、最外層の前記第1面側導体層と最外層の前記第2面側導体層とを互いに電気的に接続する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の配線板。
The through-hole conductor penetrates the wiring board and electrically connects the first surface side conductor layer of the outermost layer and the second surface side conductor layer of the outermost layer to each other.
The wiring board according to claim 1 or 2, wherein
前記第1面側導体層の層数及び前記第2面側導体層の層数はそれぞれ、5層以上である、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の配線板。
The number of layers of the first surface side conductor layer and the number of layers of the second surface side conductor layer are each 5 or more,
The wiring board as described in any one of Claims 1 thru | or 3 characterized by the above-mentioned.
前記スルーホールの壁面において、内層の前記第1面側導体層及び内層の前記第2面側導体層の少なくとも一方と、前記スルーホール導体とが、互いに電気的に接続される、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の配線板。
In the wall surface of the through hole, at least one of the first surface side conductor layer of the inner layer and the second surface side conductor layer of the inner layer and the through hole conductor are electrically connected to each other.
The wiring board as described in any one of Claims 1 thru | or 4 characterized by the above-mentioned.
前記コア絶縁層には、該コア絶縁層を貫通する孔が形成され、
前記孔の壁面に、前記コア絶縁層の前記第1面上に形成された前記第1面側導体層と前記コア絶縁層の前記第2面上に形成された前記第2面側導体層とを、互いに電気的に接続する接続導体を有し、
前記接続導体は、グラファイトからなる給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含む、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の配線板。
A hole penetrating the core insulating layer is formed in the core insulating layer,
On the wall surface of the hole, the first surface side conductor layer formed on the first surface of the core insulating layer and the second surface side conductor layer formed on the second surface of the core insulating layer; Having connection conductors that are electrically connected to each other,
The connection conductor includes a power feeding layer made of graphite, and electrolytic plating formed on the power feeding layer.
The wiring board according to any one of claims 1 to 5, wherein
前記コア絶縁層を貫通する前記孔には、前記給電層及び前記電解めっきが充填されている、
ことを特徴とする請求項6に記載の配線板。
The hole penetrating the core insulating layer is filled with the power feeding layer and the electrolytic plating,
The wiring board according to claim 6.
前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々に形成された前記ビア導体はそれぞれ、前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々に形成されたビアホールに、前記給電層及び前記電解めっきが充填されてなる、
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の配線板。
The via conductor formed in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer is formed in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer. The via hole filled with the power supply layer and the electrolytic plating,
The wiring board according to any one of claims 1 to 7, wherein
前記第1面側導体層及び前記第2面側導体層はそれぞれ、無電解めっき及び金属箔の少なくとも一方からなる給電層と、該給電層の上に形成される電解めっきと、を含む、
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の配線板。
The first surface-side conductor layer and the second surface-side conductor layer each include a power feeding layer made of at least one of electroless plating and metal foil, and electrolytic plating formed on the power feeding layer.
The wiring board according to any one of claims 1 to 8, wherein
第1面及びその反対側の第2面を有するコア絶縁層を準備することと、
前記コア絶縁層の前記第1面側に形成される複数の第1面側導体層と、該第1面側導体層同士の層間に形成される第1面側層間絶縁層とを形成することと、
前記コア絶縁層の前記第2面側に形成される複数の第2面側導体層と、該第2面側導体層同士の層間に形成される第2面側層間絶縁層とを形成することと、
前記第1面側層間絶縁層及び前記第2面側層間絶縁層の各々に、ビアホールを形成し、該ビアホール内にビア導体を形成することと、
前記コア絶縁層、前記第1面側層間絶縁層、及び前記第2面側層間絶縁層に、スルーホールを形成し、該スルーホール内に、一端が前記第1面側導体層に接続され、他端が前記第2面側導体層に接続されるスルーホール導体を形成することと、
を含む配線板の製造方法であって、
前記スルーホール導体の形成、前記スルーホール導体の一端が接続される前記第1面側導体層下の前記第1面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の形成、及び前記スルーホール導体の他端が接続される前記第2面側導体層下の前記第2面側層間絶縁層に形成された前記ビア導体の形成ではそれぞれ、無電解めっきからなる給電層を形成した後、該給電層に給電しながら電解めっきを行って該給電層の上に電解めっきを形成し、
それ以外の前記ビア導体の形成では、無電解めっきとは異なる材料からなる給電層を形成した後、該給電層に給電しながら電解めっきを行って該給電層の上に電解めっきを形成する、
ことを特徴とする配線板の製造方法。
Providing a core insulating layer having a first surface and a second surface opposite the first surface;
Forming a plurality of first surface-side conductor layers formed on the first surface side of the core insulating layer and a first surface-side interlayer insulating layer formed between the first surface-side conductor layers; When,
Forming a plurality of second surface side conductor layers formed on the second surface side of the core insulating layer and a second surface side interlayer insulating layer formed between the second surface side conductor layers; When,
Forming a via hole in each of the first surface side interlayer insulating layer and the second surface side interlayer insulating layer, and forming a via conductor in the via hole;
A through hole is formed in the core insulating layer, the first surface side interlayer insulating layer, and the second surface side interlayer insulating layer, and one end is connected to the first surface side conductor layer in the through hole, Forming a through-hole conductor having the other end connected to the second surface side conductor layer;
A method of manufacturing a wiring board including:
Formation of the through-hole conductor, formation of the via conductor formed in the first-surface-side interlayer insulating layer under the first-surface-side conductor layer to which one end of the through-hole conductor is connected, and the through-hole conductor In the formation of the via conductors formed in the second surface side interlayer insulating layer below the second surface side conductor layer to which the other end is connected, after forming a power supply layer made of electroless plating, the power supply layer Electrolytic plating is performed while supplying power to the electroplating layer on the power supply layer,
In the formation of the other via conductors, after forming a power feeding layer made of a material different from electroless plating, electrolytic plating is performed while feeding the power feeding layer to form electrolytic plating on the power feeding layer.
A method for manufacturing a wiring board.
前記無電解めっきとは異なる材料は、グラファイトである、
ことを特徴とする請求項10に記載の配線板の製造方法。
The material different from the electroless plating is graphite,
The method for manufacturing a wiring board according to claim 10.
前記スルーホール導体は、当該配線板を貫通し、最外層の前記第1面側導体層と最外層の前記第2面側導体層とを互いに電気的に接続する、
ことを特徴とする請求項10又は11に記載の配線板の製造方法。
The through-hole conductor penetrates the wiring board and electrically connects the first surface side conductor layer of the outermost layer and the second surface side conductor layer of the outermost layer to each other.
The method for manufacturing a wiring board according to claim 10 or 11, wherein:
前記スルーホールの形成により、内層の前記第1面側導体層及び内層の前記第2面側導体層の少なくとも一方が削られ、その削られた導体層は前記スルーホールの壁面に露出する、
ことを特徴とする請求項10乃至12のいずれか一項に記載の配線板の製造方法。
By forming the through hole, at least one of the first surface side conductor layer of the inner layer and the second surface side conductor layer of the inner layer is scraped, and the scraped conductor layer is exposed on the wall surface of the through hole.
The method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 10 to 12, wherein:
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