JP5189999B2 - マイクロ波プラズマ処理装置、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法 - Google Patents

マイクロ波プラズマ処理装置、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5189999B2
JP5189999B2 JP2009018021A JP2009018021A JP5189999B2 JP 5189999 B2 JP5189999 B2 JP 5189999B2 JP 2009018021 A JP2009018021 A JP 2009018021A JP 2009018021 A JP2009018021 A JP 2009018021A JP 5189999 B2 JP5189999 B2 JP 5189999B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microwave
inner conductor
dielectric plate
dielectric
plasma processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009018021A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010177420A (ja
Inventor
清隆 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP2009018021A priority Critical patent/JP5189999B2/ja
Publication of JP2010177420A publication Critical patent/JP2010177420A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5189999B2 publication Critical patent/JP5189999B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Plasma Technology (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

本発明は、マイクロ波を用いて生成されたプラズマにより半導体ウェハ、液晶用基板、有機EL素子等の被処理体をプラズマ処理するマイクロ波プラズマ処理装置に関する。
プラズマ処理は、半導体製造工程のエッチング、薄膜成膜等のプロセスに広く使用されている。近年、LSIの高集積化、高速化、小電力化の観点からLSIを構成する半導体のプロセスルール(ICの線幅)が益々微細化されている。配線間の距離が縮まると、従来の層間絶縁膜では絶縁できず、隣接する配線の信号と干渉するおそれがある。この干渉するおそれを解決するために、低誘電率(Low-k)の絶縁膜が求められている。しかし、従来から多用されている平行平板型や誘導結合型のプラズマ処理装置においては、電子温度が高いので、低誘電率の絶縁膜にダメージを与えてしまう。例えば、低誘電率の絶縁膜として知られている炭素とフッ素を含むCF膜を使用した場合、プラズマ処理のダメージによって絶縁膜の誘電率が上がってしまう。
さらに、半導体のウェハサイズも大口径化しており、これに伴って大口径の半導体ウェハに偏りなく均一に処理を行うことが要請されている。
そこで近年、高密度で低電子温度のプラズマを均一に形成することができるRLSA(Radial Line Slot Antenna)を用いたマイクロ波プラズマ処理装置が注目されている(例えば特許文献1参照)。マイクロ波プラズマ処置装置は、均一なマイクロ波を発するように配列された多数のスロットを有する平面状のマイクロ波アンテナから処理容器内にマイクロ波を放射し、マイクロ波の電界により処理容器内のガスを電離してプラズマを励起させる。このマイクロ波プラズマ処理装置によれば、アンテナ直下の広い領域に高いプラズマ密度を実現できるので、短時間で均一なプラズマ処理を行うことが可能である。しかも、低電子温度のプラズマを生成することができるので、被処理基板へのダメージを少なくすることができるという利点もある。
図1に示すように、このマイクロ波プラズマ処理装置において、処理容器1の天井部の開口は誘電体窓2により塞がれる。誘電体窓2の上にはマイクロ波アンテナ3が載せられる。矩形導波路4には、マイクロ波発生装置が接続される。マイクロ波発生装置が発するマイクロ波は、矩形導波路を伝播した後、モード変換器5によって同軸モードに変換される。モード変換されたマイクロ波は同軸導波管6を上下方向に伝播する。同軸導波管6を伝播したマイクロ波は、ディスク状の誘電体板7を半径方向に伝播する。誘電体板7内で波長が圧縮され、かつ共振するマイクロ波は、導電材料からなるスロット板8のスロットを透過し、誘電体窓2を介して処理容器1内に放射される。
同軸導波管6は、内導体6aと、内導体6aを囲む外導体6bと、から構成される。内導体6aの上端部は、モード変換器5に結合される。内導体6aの下端部は、スロット板8にねじ等で電気的に結合される。マイクロ波は内導体6aの外周面と外導体6bの内周面との間の環状の同軸導波路を伝播する。
特開2002−35550号公報
励起されたプラズマにより熱が生じると、マイクロ波アンテナ3には誘電体窓2を介して熱が伝達される。同軸導波管6の内導体6aと外導体6bとの間に温度差が生じた場合、図2に示すように、内導体6aの伸び量と外導体6bの熱による伸び量が異なるので、内導体6aに結合されたスロット板8が上下方向に変位する。スロット板8自身の剛性が低く、かつ内導体6aが長いことも一因である。スロット板8の上下方向の変位に伴い、スロット板8と誘電体板7との間に隙間ができたり、スロット板8が誘電体板7に押し付けられたりすると、スロット板8を透過するマイクロ波の導波路を乱し、均一なプラズマの生成を困難とし、プロセスに悪影響を与えてしまう。内導体6a及び外導体6bの熱膨張による伸び量を同一にすれば、スロット板8の位置を一定にできる。しかし、内導体6a及び外導体6bの熱膨張による伸び量を同一に制御するのは困難である。さらに、内導体6aは伸びるだけでなく、モード変換器5及びスロット板8を固定端にして撓むこともある。内導体6aが撓むと、同軸導波管6を伝播するマイクロ波の分布が乱れてしまう。
他方、図3に示すように、誘電体板7にスロット板としてのめっき等の導電膜9をパターニングし、内導体6aを誘電体板下面の導電膜9に電気的に接続したマイクロ波プラズマ処理装置も知られている。しかし、このプラズマ処理装置にあっても、熱により内導体6aが伸縮すると、内導体6aの下端の電気コンタクト板6cが変形したり、電気コンタクト板6cと誘電体板7の下面の導電膜9との電気的接触が不十分になったりするという問題がある。
そこで本発明は、同軸導波管の内導体が熱膨張・熱収縮しても、マイクロ波の伝播特性に悪影響を及ぼすことのないマイクロ波プラズマ処理装置、マイクロ波プラズマ処理装置用の誘電体板、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の一態様は、天井部が誘電体窓により画定される処理容器と、前記処理容器を減圧するガス排気系と、前記処理容器にプラズマ励起用ガスを供給するガス供給部と、前記処理容器の前記誘電体窓に載せられ、前記処理容器内にマイクロ波を供給するマイクロ波アンテナと、を備えるマイクロ波プラズマ処理装置において、前記マイクロ波アンテナは、マイクロ波を伝播する同軸導波管と、半径方向にマイクロ波を伝播すると共にマイクロ波の波長を圧縮する誘電体板と、マイクロ波を透過させるスロットを有するスロット板と、を含み、前記同軸導波管は、内導体と、内導体を囲む外導体と、を含み、前記内導体は、前記誘電体板及び前記スロット板の少なくとも一方に連結される誘電体板側の内導体と、前記誘電体板側の内導体から分離され、前記誘電体板側の内導体との間に空間が空けられる残りの内導体と、を含むマイクロ波プラズマ処理装置である。
本発明のさらに他の態様は、矩形導波路を伝播するマイクロ波をモード変換器によりモード変換し、内導体、及び内導体を囲む外導体を含む同軸導波管に伝播し、前記同軸導波管を伝播したマイクロ波を誘電体板で半径方向に伝播すると共に波長を圧縮するマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法において、前記マイクロ波は、前記モード変換器に連結されるモード変換器側の内導体の周囲、並びに、前記モード変換器側の内導体から空間を空けて配置される誘電体板側の内導体の周囲を伝播するマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法である。
同軸導波管の内導体を誘電体板側の内導体と残りの内導体(モード変換器側の内導体)とに分離し、誘電体板側の内導体のみを誘電体板やスロット板に連結するので、内導体が熱膨張・熱収縮しても、誘電体板側の内導体と残りの内導体との間の隙間が変化するだけであり、誘電体板側の内導体に熱膨張・熱収縮による応力が発生するのを防止できる。誘電体板側の内導体に連結される誘電体板やスロット板が変形するのを防止できるので、マイクロ波の伝播特性に悪影響を及ぼすことがない。
従来のマイクロ波プラズマ処理装置の断面図 従来のマイクロ波プラズマ処理装置の同軸導波管を示す詳細図 誘電体板にスロット板としての導電膜をパターニングした従来のマイクロ波プラズマ処理装置の断面図 本発明の一実施形態のマイクロ波プラズマ処理装置の断面図 同軸導波管の詳細図 誘電体板側の内導体及び誘電体板の他の例(変形例1)を示す断面図 導電膜が付着する誘電体板を示す図 誘電体板側の内導体及び誘電体板のさらに他の例(変形例2)を示す断面図 変形例2において、誘電体板の孔の内周面に導電膜を形成した例を示す断面図 誘電体板側の内導体及び誘電体板のさらに他の例(変形例3)を示す断面図 誘電体板側の内導体及び誘電体板のさらに他の例(変形例4)を示す断面図 実施例の同軸導波管を示す図 実施例の同軸導波管を用いたときの、電磁波周波数と透過比率との関係を示すグラフ
以下、添付図面を参照して、本発明のマイクロ波プラズマ処理装置の一実施形態を説明する。図4は、マイクロ波プラズマ処理装置の全体の構成図を示す。
マイクロ波プラズマ処理装置は、外壁によって区画される処理容器11と、処理容器11内に設けられ、被処理基板を静電チャックにより保持する窒化アルミニウム(AlN)又はアルミナ(Al23)からなる保持台16と、を備える。処理容器11には、保持台を囲む円環状の空間に周方向に均等に排気ポートが形成される。処理容器11は、排気ポートを介して真空ポンプにより排気・減圧される。
処理容器11は、アルミニウム(Al)好ましくはアルミニウム(Al)を含有するステンレス鋼からなり、内壁面には酸化処理により酸化アルミニウム(Al23)よりなる保護膜が形成されてもよい。処理容器11の天井部には、アルミナ(Al23)、石英等の誘電体からなる誘電体窓12が外壁の一部として設けられる。誘電体窓12は処理容器11の側壁にシールリング13を介して装着される。誘電体窓12は処理容器11の側壁の上部に取り付けられる誘電体窓押えリング14によって処理容器11に固定される。誘電体窓押えリング14は、処理容器11と同様にアルミニウム(Al)若しくはアルミニウム(Al)を含有するステンレス鋼からなる。
処理容器11の側壁には、プラズマ励起用ガスを処理容器11内に供給するための例えば環状のガス供給部15が設けられる。ガス供給部15にはガス供給系が接続されている。Arガス、Krガス等のプラズマ励起用ガスや、プラズマ処理の種類に応じた処理ガスがガス供給部から処理容器11に供給される。かかるプラズマ処理には、ラジカル酸化処理、ラジカル窒化処理、ラジカル酸窒化処理、プラズマCVD処理等が含まれる。ガス供給部からC48,C58又はC46等のフルオロカーボンガスや、F系あるいはCl系等のエッチングガスを供給し、保持台16上に高周波電源から高周波電圧を印加することにより、被処理基板に対して処理を行う。
処理容器11の側壁には、被処理基板を搬入及び搬出するための図示しない搬出入口が設けられる。搬出入口はゲートバルブによって開閉される。
誘電体窓12上には、処理容器11内のプラズマ励起用ガスを励起するマイクロ波アンテナ18が載せられる。マイクロ波アンテナは、矩形導波管21、同軸導波管24、冷却板25、誘電体板26及びスロット板27を含む。矩形導波管21には、整合器を介してマグネトロン等のマイクロ波発生装置が接続される。マイクロ波発生装置は、例えば周波数2.45GHz,8.35GHz,1.98GHz,915MHz等のマイクロ波を発生する。整合器は、マイクロ波発生装置から発生するマイクロ波を矩形導波管21及び同軸導波管24を介して誘電体板26へ伝播させる。
水平方向に伸びる矩形導波管21は、垂直方向に伸びる同軸導波管24の上端部に接続される。同軸導波管24は、垂直方向に伸びる内導体22と、内導体22を囲む筒状の外導体23と、からなる。内導体22と外導体23との間に断面環状の同軸導波路20が形成される。内導体22及び外導体23は、例えば銀めっきした銅からなる。矩形導波管21と同軸導波管24の接続部には、円錐形のモード変換器29が設けられる。矩形導波管21を伝播するマイクロ波はモード変換器29によって同軸モードに変換され、同軸導波路20を上下方向に伝播する。
同軸導波管24を上下方向に伝播したマイクロ波は、ディスク状の誘電体板26を半径方向に伝播する。誘電体板26は、アルミナ(Al23)、石英等の誘電体からなる。誘電体板26の上面には、誘電体板26を冷却するアルミニウム(Al)等に金属からなる冷却板25が設けられる。冷却板25には冷却水流路25aが形成される。冷却水流路25aに冷却水を流すことにより、誘電体板26が冷却される。誘電体板26の下面には、銅板等の導電材料からなるスロット板27が設けられる。
マイクロ波は、電界と磁界が非常に速く変化しながら伝搬する電磁波である。誘電体板26の下面には金属からなるスロット板27が設けられ、誘電体板26の上面には金属からなる冷却板25が設けられる。金属面に当たったマイクロ波は、金属内には入らず、ごく表面に電流を流し、大部分が反射する。このため、同軸導波路20から誘電体板26に侵入したマイクロ波は、スロット板27及び冷却板25を反射しながら誘電体板26を半径方向に伝搬する。また、同軸導波路20から誘電体板26に入るとき、マイクロ波の媒質が空気から誘電体に変化するので、マイクロ波の波長が圧縮される。誘電体板26の厚みは、TEモードで(電界が厚み方向にだけできるように)伝搬するように決められる。誘電体板26内におけるマイクロ波の波長の1/4以下であれば問題ないが、あまり薄いと強度の問題があり、厚すぎると撓みにくくなる。アルミナ(Al23)の場合で3〜6mm程度が最適な厚みになる。
スロット板27には、マイクロ波を透過させる多数のスロットが形成される。誘電体板26内で共振したマイクロ波は、スロット板27の多数のスロットを透過し、誘電体窓12を介して処理容器11内に放射される。
マイクロ波アンテナ18は、誘電体窓押え14に取り付けられるアンテナ押え30によって誘電体窓12に固定される。アンテナ押え30は処理容器11と同様にアルミニウム(Al)若しくはアルミニウム(Al)を含有するステンレス鋼からなる。冷却板25とアンテナ押え30との間には、電磁遮蔽弾力体31が設けられる。電磁遮蔽弾力体31は電磁シールドの機能、及びマイクロ波アンテナ18を誘電体窓12に押しつける機能を持つ。スロット板27のスロットを透過するマイクロ波は全てがプラズマに吸収されるわけではなく、一部がスロット板27と誘電体窓12との間の小さな隙間から外側に漏れ出す。電磁遮蔽弾力体31は漏れ出したマイクロ波をシールドする。マイクロ波アンテナ18が誘電体窓12上に単に載っているだけだと、熱膨張によってマイクロ波アンテナ18と誘電体窓12との間に隙間が生ずる。隙間が発生するのを防止するために、電磁遮蔽弾力体31はマイクロ波アンテナ18を強い力で誘電体窓12に押し付ける。
図5に示すように、同軸導波管24を構成する内導体22は、スロット板に接続される誘電体板側の内導体22bと、モード変換器29又は矩形導波管21に連結される残りの内導体であるモード変換器側の内導体22aと、に分離される。モード変換器側の内導体22aはモード変換器29から垂直下方に伸びる。モード変換器側の内導体22aの軸線方向の途中には、円盤状に張り出すフランジ部32aが設けられてもよい。
誘電体板側の内導体22bは垂直方向に伸びる。誘電体板側の内導体22bはスロット板27及び誘電体板26を貫通する。誘電体板側の内導体22bの下端には、スロット中心固定板33が設けられる。スロット中心固定板33はスロット板27にねじ等で結合される。誘電体板側の内導体22bの上部には、円盤状に張り出すフランジ部32bが設けられる。なお、この図5には、誘電体板26とスロット板27との間、及びスロット板27と誘電体窓12との間に隙間があるように示されているが、実際にはこれらの間には隙間はない。
モード変換器側の内導体22aの下端と誘電体板側の内導体22bの上端との間には、空間が空けられる。この空間は大気で充満されてもよいし、真空であってもよい。力が伝達するのを防止するために、モード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとの間には介在物がない。すなわち、モード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとは物理的に不連続である。モード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとの間の隙間は、例えば3〜5mmに設定される。3mm未満だと、モード変換器側の内導体22a及び誘電体板側の内導体22bの熱膨張により、これらが物理的に接触するおそれがある。5mmを超えると、マイクロ波の均一な伝搬に必要な、後述する誘電体板側の内導体22bの長さaを十分に確保できなくなる。
同軸導波管24の内導体22を、モード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとに分離し、誘電体板側の内導体22bをスロット板27に連結するので、内導体22が熱膨張・熱収縮しても、誘電体板側の内導体22bとモード変換器側の内導体22aとの間の隙間が変化するだけであり、誘電体板側の内導体22bに熱膨張・熱収縮による応力が発生するのを防止できる。誘電体板側の内導体22bに連結されるスロット板27が変形するのを防止できるので、マイクロ波の伝播特性に悪影響を及ぼすことがない。
もしモード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとが物理的に連続していれば、マイクロ波はこれらの内導体22の周囲を伝播する。しかし、本実施形態のように、モード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとの間に隙間を空けたならば、隙間でマイクロ波が反射する。マイクロ波の反射を矯正し、マイクロ波を整形するために、フランジ部32a,32bが設けられる。マイクロ波が内導体22の周囲を伝播するとき、内導体22の表面にはマイクロ波の電界による電流と電界の変化に伴う変位電流が流れる。この変位電流に対し、フランジ部が32a,32bコンデンサのように機能し(図中二点鎖線で囲まれる範囲)、隙間に高周波の変位電流を流す。このため、高周波の変位電流が当該隙間で遮断されることはなく、インピーダンスも隙間で急激に変化することがない。隙間及びフランジ部32a,32bの大きさを調整することにより(例えば隙間を空けた分、フランジ部32a,32bの外径と外導体23との間の隙間を縮めることにより)、マイクロ波を減衰することなく同軸導波路20内を伝播させることができる。
誘電体板側の内導体22bの長さaは、同軸導波管24におけるマイクロ波の波長の1/4から1波長までの範囲内にあるのが望ましい。ここで、誘電体板側の内導体22bの長さaとは、誘電体板側の内導体22bが同軸導波管24の内導体として機能する部分の長さであり、具体的には、誘電体板26の上面からフランジ部32bの下端までの高さである。モード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとの間に隙間を空けると、当該隙間で一旦マイクロ波が乱れる。誘電体板側の内導体22bの長さをマイクロ波の波長の1/4以上にし、当該内導体22bに沿ってマイクロ波を伝搬させることで、マイクロ波の乱れを矯正できる。また、モード変換器側の内導体22aと誘電体板側の内導体22bとの中心のずれが生じても、誘電体板側の内導体22bに沿ってマイクロ波を伝搬させることで、中心のずれに起因するマイクロ波の乱れを矯正できるので、対称性のよいマイクロ波の分布が形成される。誘電体板側の内導体22bの長さが1波長を超えると、誘電体板側の内導体22b自身がマイクロ波によって加熱されるので、破損等の問題が生じる可能性がある。
図6は、誘電体板側の内導体22b及び誘電体板26の他の例(変形例1)を示す。この例の誘電体板側の内導体22bは、アルミナ(Al23)、石英等の誘電体からなり、その表面には導電性を有する導電膜36が形成される。導電膜36は、例えば金属をめっきすることにより形成される。誘電体板側の内導体22bは、誘電体板26の中心部の孔26aに嵌められる。誘電体板側の内導体22bは、誘電体板26に一体化される。具体的には、圧入、ロウ付け、拡散接合、溶融、その他の手法により、誘電体板側の内導体22bが誘電体板26に一体化される。マイクロ波により金属の表面にのみ電流が流れる。
図7は、導電膜38が形成される誘電体板26の詳細図を示す。誘電体板26の上面、下面及び外周面には、金属の層からなる導電膜38が例えばめっきされる。誘電体板26の中心部には、誘電体板側の内導体22bに接続される孔26aが開けられる。誘電体板26の下面の導電膜38は、誘電体板側の内導体22bに電気的に接続され、誘電体板26の上面の導電膜38は、冷却板25を介して同軸導波管24の外導体23に電気的に接続される(図6参照)。
誘電体板26の下面側の導電膜38には、マイクロ波を透過させる多数のスロット38aが形成される。隣接する一組のスロット38aは、直交するようにT字状に配列される。多数のスロット38aは導電膜38に例えば同心円状に配置される。スロット38aの長さや配列は、スロット38aから処理容器11に強い電界が放射されるように、誘電体板26によって圧縮されたマイクロ波の波長に応じて適宜決定される。スロット38aの形状は直線形状の他に円弧形状でもよく、スロット38aの配列は同心円状の他に螺旋状や放射状でもよい。
外導体23、内導体22及び誘電体板26の中心の位置決め精度は、50ミクロン以下が要求される。しかし、現状では50ミクロン以下の精度で位置決めするのは困難であり、これらの位置ずれが機差(同一処理を行う装置毎の差)の原因になっている。誘電体板側の内導体22bを誘電体板26に一体化することで、誘電体板26と給電部分との中心の位置決め精度がよくなり、昇温時の熱膨張の量も同一であるので、マイクロ波の伝搬路を乱さず、マイクロ波によって発生するプラズマの均一性を向上できる。さらに、誘電体板26と誘電体板側の内導体22bをアルミナ(Al23)や石英等の同じ材料からなる誘電体で一体に構成すれば、熱膨張率が同一であるため、昇温時にも熱膨張の量が同一であり、隙間等が生じることがなく、マイクロ波伝搬路を乱さず、均一にマイクロ波を供給することができる。
誘電体板側の内導体22bを誘電体板26に一体化したとき、これらの間に熱膨張の差があると、誘電体板側の内導体22b及び誘電体板26が割れるおそれがある。誘電体板側の内導体22bを金属でなく、誘電体板26と同一の材質又は熱膨張係数が実質的に等しい材料から製造することでその割れを防止することができる。
図8は、誘電体板側の内導体22b及び誘電体板26のさらに他の例(変形例2)を示す。この例の誘電体板26には、同軸導波管24の同軸導波路20にせり出す首部26bが設けられる。誘電体板26の孔26aの下部には、円錐形状のテーパ部26cが形成される。誘電体板26の首部26bの外周面及び誘電体板26の下面のテーパ部26cには、導電膜38が形成される。誘電体板26の孔26aには、導電性の表面を有する誘電体板側の内導体22bが嵌められる。誘電体板側の内導体22bの導電膜36は、誘電体板26の下面の導電膜38に電気的に接続される。誘電体板26の首部26bの外周面の導電膜38は冷却板25に電気的に接続される。誘電体板26に首部26bを設けることで、誘電体板26と誘電体板側の内導体22bを嵌め合い構造にできるだけでなく、誘電体板26と冷却板25とを嵌め合い構造にすることができる。
図9に示すように、誘電体板26の孔26aの内周面に導電膜38を形成してもよい。導電膜38は孔26aの内周面の一部に形成されてもよい。孔26aの内周面に導電膜38を形成することで、内導体22bと導電膜38との電気的なコンタクトを強くすることができる。
この例においても、誘電体板側の内導体22bの長さaは、同軸導波管24におけるマイクロ波の波長の1/4から1波長までの範囲内にあるのが望ましい。ここで、誘電体板側の内導体22bの長さaとは、冷却板25に接触する誘電体板26の上面からフランジ部32bの下端までの高さである。なお、空気中を伝播するときと誘電体を伝播するときとでは、空気と誘電体の境界を境にしてマイクロ波の波長が異なる。誘電体板側の内導体22bの長さaは、空気中を伝播するときの波長分と誘電体を伝播するときの波長分を合算した波長で表わされる。
図10は、誘電体板側の内導体22b及び誘電体板26のさらに他の例(変形例3)を示す。この例の誘電体板26の首部26bの上面には、円錐形状のテーパ部40が形成される。テーパ部40により、首部26bの外周側のせり出し高さは内周側よりも高くなる。誘電体板26の首部26bの外周面のせり出し高さbは、同軸導波管24におけるマイクロ波の波長の1/4以上であるとよい。
誘電体板26の首部26bの外周面は冷却板25に電気的に接続される。誘電体板26の首部26bの外周面の上端39には、冷却板25との間に僅かな隙間が発生する。この隙間が周方向に不均一になると、マイクロ波が周方向に均等に分散しなくなる。誘電体板26の首部26bの外周面のせり出し高さbをマイクロ波の波長の1/4以上にすることで、誘電体板26から隙間を遠ざけることができる。そして、マイクロ波の波長の1/4以上の長さの首部26bの導電膜38に沿ってマイクロ波を伝搬させることで、マイクロ波の乱れを矯正できる。また、首部26bの上面のテーパ部40と誘電体板26の下面のテーパ部26cの傾斜を逆にすることで、首部26bのテーパ部40におけるマイクロ波の反射と、誘電体板26の下面のテーパ部26cにおけるマイクロ波の反射を打ち消し合うことができ、マイクロ波のロスを少なくすることができる。
なお、この例においても、誘電体板側の内導体22bの長さは、同軸導波管24におけるマイクロ波の波長の1/4から1波長までの範囲内であることが望ましい。空気中を伝播するときと誘電体を伝播するときとでは、空気と誘電体の境界を境にしてマイクロ波の波長が異なる。誘電体板側の内導体22bの長さaは、テーパ部40の中心((テーパ部40の内径+テーパ部40の外径)/2の位置)において、空気中を伝播するときの波長分と誘電体を伝播するときの波長分を合算した波長で表わされる。
図11は、誘電体板側の内導体22b及び誘電体板26のさらに他の例(変形例4)を示す。同軸導波管24の外導体23(正確には外導体23を構成する冷却板25)には、表面が導電性を有する円筒形状の外導体ブロック42が嵌められる。外導体ブロック42は、アルミナ(Al23)、石英等の誘電体からなり、その表面には導電性を有する導電膜43が形成されている。誘電体板26は、誘電体板側の内導体22bと外導体ブロック42との間にせり出す首部26bを有する。外導体ブロック42は誘電体板26の首部26bの外周面に嵌められ、外導体ブロック42と誘電体板26とは一体化される。誘電体板26には誘電体板側の内導体22bが一体化される。このためこの例においては、誘電体板側の内導体22b,誘電体板26,及び外導体ブロック42が一体化される。外導体ブロック42の外周面は冷却板25に電気的に接続され、外導体ブロック42の下面は誘電体板26の上面の導電膜38に電気的に接続される。そして、誘電体板側の内導体22bの導電膜36は、誘電体板26の下面の導電膜38に電気的に接続される。
外導体ブロック42の上部(冷却板25と接する部分)には、長さλ/2程度の奥行きを有する隙間45が形成される。これは、外導体23の内面と外導体ブロック42が接するように接続されると、マイクロ波電流が流れたとき、接触抵抗等により熱(ジュール熱)が発生するからである。この部分は電流値が大きいので、発熱量が大きくなり熱負荷が大きくなるので、破損等のおそれがある。そこで隙間45を設け、外導体23と外導体ブロック42が、隙間45の外導体内面からの距離がλ/4程度の位置で接触するように構成している。
外導体ブロック42の軸線方向の長さbは、同軸導波管24におけるマイクロ波の波長の1/4以上に設定されるのが望ましい。このようにすれば、外導体ブロック42の上端と冷却板25との間に生ずる隙間を、マイクロ波の波長の1/4以上誘電体板26から遠ざけることができる。このため、隙間を通過することによるマイクロ波の乱れを矯正することができる。外導体ブロック42の外周面と冷却板25の切欠き部25dの内周面との間には、これらの間に生ずる隙間を周方向に均一にするためのOリング44が装着される。
この例においても、誘電体板側の内導体22bの長さは同軸導波管24におけるマイクロ波の波長の1/4から1波長までの範囲内にあるのが望ましい。外導体ブロック42の軸線方向の長さb及び誘電体板側の内導体22bの長さaは、空気中を伝播するときの波長分と誘電体板26を伝播するときの波長分を合算した波長で表わされる。
図12に示す内導体及び外導体を製作し、内導体及び外導体との間の同軸導波路にマイクロ波を伝搬させた。図13に示すように。2.4〜2.6GHzの電磁波に対して、ほとんど損失することなく、マイクロ波が透過することがわかった。
なお、本発明は上記実施形態に限られることなく、本発明の要旨を変更しない範囲で様々に変更できる。例えば、モード変換器側の内導体及び誘電体板側の内導体に冷却ガス又は冷却水を流す通路を設け、これらの内導体を冷却してもよい。
誘電体板及び誘電体板側の内導体に付着する導電膜は、めっきの他、溶射、蒸着等の手法によって形成されてもよい。
アンテナ押えに冷却板及び誘電体板を誘電体窓に押さえ付ける電磁遮蔽弾力体を設けなくても、冷却板及び誘電体板の周囲を真空にすることによって、これらを誘電体窓に密着させてもよい。
さらに、誘電体窓に処理容器内にプラズマ励起用ガスを供給するプラズマ励起用ガス供給経路を形成し、誘電体窓と被処理基板との間に処理ガスを供給する中段シャワーヘッドを設けてもよい。
11…処理容器
12…誘電体窓
15…ガス供給部
18…マイクロ波アンテナ
20…同軸導波路
21…矩形導波管
22…内導体
22a…モード変換器側の内導体(残りの内導体)
22b…誘電体板側の内導体
23…外導体
24…同軸導波管
25…冷却板
26…誘電体板
26b…首部
27…スロット板
29…モード変換器
32a…フランジ部
32b…フランジ部
38…導電膜
42…外導体ブロック

Claims (10)

  1. 天井部が誘電体窓により画定される処理容器と、前記処理容器を減圧するガス排気系と、前記処理容器にプラズマ励起用ガスを供給するガス供給部と、前記処理容器の前記誘電体窓に載せられ、前記処理容器内にマイクロ波を供給するマイクロ波アンテナと、を備えるマイクロ波プラズマ処理装置において、
    前記マイクロ波アンテナは、マイクロ波を伝播する同軸導波管と、半径方向にマイクロ波を伝播すると共にマイクロ波の波長を圧縮する誘電体板と、マイクロ波を透過させるスロットを有するスロット板と、を含み、
    前記同軸導波管は、内導体と、内導体を囲む外導体と、を含み、
    前記内導体は、前記誘電体板及び前記スロット板の少なくとも一方に連結される誘電体板側の内導体と、前記誘電体板側の内導体から分離され、前記誘電体板側の内導体との間に空間が空けられる残りの内導体と、を含むマイクロ波プラズマ処理装置。
  2. 前記マイクロ波アンテナはさらに、マイクロ波を伝播する矩形導波管と、前記矩形導波管を伝播するマイクロ波のモードを変換するモード変換器と、を含み、
    前記残りの内導体は、前記モード変換器又は前記矩形導波管に連結されることを特徴とする請求項1に記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  3. 前記スロット板は、前記誘電体板に付着する導電膜からなることを特徴とする請求項1又は2に記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  4. 前記誘電体板側の内導体は、前記誘電体板に一体化されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  5. 前記誘電体板側の内導体は、前記誘電体板と同一の材質又は熱膨張係数が実質的に等しい材料からなり、かつその表面に導電性を有することを特徴とする請求項4に記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  6. 前記誘電体板側の内導体及び前記残りの内導体には、外側に張り出すフランジ部が設けられることを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  7. 前記誘電体板側の内導体の長さは、前記同軸導波管におけるマイクロ波の波長の1/4から1波長までの範囲内にあることを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  8. 前記誘電体板は、前記同軸導波管内にせり出す首部を有し、
    前記首部の外周面は導電性を有し、
    前記同軸導波管内にせり出す前記首部の外周面のせり出し高さが、前記同軸導波管におけるマイクロ波の波長の1/4以上であることを特徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  9. 前記同軸導波管の外導体には、表面が導電性を有する円筒形状の外導体ブロックが嵌められ、
    前記誘電体板は、前記内導体と前記外導体ブロックとの間にせり出す首部を有し、
    前記外導体ブロックの軸線方向の長さが、前記同軸導波管におけるマイクロ波の波長の1/4以上であることを特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  10. 矩形導波路を伝播するマイクロ波をモード変換器によりモード変換し、内導体、及び内導体を囲む外導体を含む同軸導波管に伝播し、前記同軸導波管を伝播したマイクロ波を誘電体板で半径方向に伝播すると共に波長を圧縮するマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法において、
    前記マイクロ波は、前記モード変換器に連結されるモード変換器側の内導体の周囲、並びに、前記モード変換器側の内導体から空間を空けて配置される誘電体板側の内導体の周囲を伝播するマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法。
JP2009018021A 2009-01-29 2009-01-29 マイクロ波プラズマ処理装置、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法 Expired - Fee Related JP5189999B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009018021A JP5189999B2 (ja) 2009-01-29 2009-01-29 マイクロ波プラズマ処理装置、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009018021A JP5189999B2 (ja) 2009-01-29 2009-01-29 マイクロ波プラズマ処理装置、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010177420A JP2010177420A (ja) 2010-08-12
JP5189999B2 true JP5189999B2 (ja) 2013-04-24

Family

ID=42708073

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009018021A Expired - Fee Related JP5189999B2 (ja) 2009-01-29 2009-01-29 マイクロ波プラズマ処理装置、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5189999B2 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101513579B1 (ko) 2011-08-11 2015-04-20 세메스 주식회사 기판 처리 장치
KR101870668B1 (ko) 2011-09-01 2018-08-02 세메스 주식회사 기판 처리 장치
KR101966797B1 (ko) 2011-10-13 2019-04-08 세메스 주식회사 기판 처리 장치
JP6010406B2 (ja) * 2012-01-27 2016-10-19 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波放射機構、マイクロ波プラズマ源および表面波プラズマ処理装置
JP5995468B2 (ja) * 2012-03-14 2016-09-21 東京エレクトロン株式会社 膜電極接合体の製造方法
JP6387242B2 (ja) * 2014-04-09 2018-09-05 株式会社Ihi マイクロ波プラズマ生成装置
JP6752117B2 (ja) * 2016-11-09 2020-09-09 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ源およびマイクロ波プラズマ処理装置
CN109698107B (zh) * 2017-10-24 2021-04-09 北京北方华创微电子装备有限公司 表面波等离子体设备
CN109302791B (zh) * 2018-10-26 2023-08-22 中国科学院合肥物质科学研究院 微波天线调控磁增强线形等离子体源产生系统
JP7426709B2 (ja) * 2019-10-23 2024-02-02 株式会社イー・エム・ディー プラズマ源

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2959508B2 (ja) * 1997-02-14 1999-10-06 日新電機株式会社 プラズマ発生装置
JP3549739B2 (ja) * 1998-08-27 2004-08-04 忠弘 大見 プラズマ処理装置
JP3625197B2 (ja) * 2001-01-18 2005-03-02 東京エレクトロン株式会社 プラズマ装置およびプラズマ生成方法
JP4402860B2 (ja) * 2001-03-28 2010-01-20 忠弘 大見 プラズマ処理装置
JP4113896B2 (ja) * 2001-03-28 2008-07-09 忠弘 大見 プラズマ処理装置
JP4209612B2 (ja) * 2001-12-19 2009-01-14 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
JP2007335346A (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Tokyo Electron Ltd マイクロ波導入装置及びプラズマ処理装置
JP2008124424A (ja) * 2006-10-16 2008-05-29 Tokyo Electron Ltd プラズマ成膜装置及びプラズマ成膜方法
US20100096362A1 (en) * 2007-06-11 2010-04-22 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus, power supply apparatus and method for operating plasma processing apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010177420A (ja) 2010-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5189999B2 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置、及びマイクロ波プラズマ処理装置のマイクロ波給電方法
KR101317018B1 (ko) 플라즈마 처리 장치
JP4694596B2 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置及びマイクロ波の給電方法
KR101258005B1 (ko) 플라즈마 처리 장치
KR100960424B1 (ko) 마이크로파 플라즈마 처리 장치
KR100927913B1 (ko) 기판 탑재 기구 및 기판 처리 장치
KR100920280B1 (ko) 처리 장치
US8419960B2 (en) Plasma processing apparatus and method
KR100794806B1 (ko) 플라즈마 처리 장치 및 방법과, 슬롯 안테나
US20110150719A1 (en) Microwave introduction mechanism, microwave plasma source and microwave plasma processing apparatus
US10546725B2 (en) Plasma processing apparatus
JP2017004641A (ja) マイクロ波プラズマ源およびプラズマ処理装置
KR101256850B1 (ko) 마이크로파 플라즈마 처리 장치
WO2018101065A1 (ja) プラズマ処理装置
US20180127880A1 (en) Microwave plasma source and microwave plasma processing apparatus
KR20090127219A (ko) 마이크로파 플라즈마 처리 장치
KR20120028331A (ko) 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리 장치용 냉각 장치
WO2010086950A1 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置、マイクロ波プラズマ処理装置用のスロット板付き誘電体板及びその製造方法
US10832892B2 (en) Antenna, plasma processing device and plasma processing method
JP2003168681A (ja) マイクロ波プラズマ処理装置および処理方法
JP2007059782A (ja) スペーサー部材およびプラズマ処理装置
US20170358835A1 (en) Microwave plasma processing apparatus and microwave plasma processing method
JP5916467B2 (ja) マイクロ波放射アンテナ、マイクロ波プラズマ源およびプラズマ処理装置
JP6700127B2 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
KR20230066062A (ko) 플라스마 처리 장치 및 반도체 디바이스의 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121212

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130115

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130125

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160201

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5189999

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees