JP5180430B2 - 発光素子 - Google Patents

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Description

本発明は、発光素子に関し、特に、高発光効率で紫外光を発光する発光素子に関する。
従来の発光素子として、導電性及び透光性を有する基板として、SiC基板上にGaNからなるn型層およびp型層を積層したものが知られていたが、近年、SiC基板に替えてGa基板を用いた発光素子が提案されている。Ga基板は、可視領域から紫外領域までの光を透過する無色透明の導電体であるので、発光素子を垂直構造とすることが可能であり、基板側から紫外光から可視光までの光を取り出すことができるという特徴がある。
このGa基板を用いた発光素子として、Ga基板に窒化処理を施すことにより、Ga基板とその上に積層されるGaN系半導体層との格子定数の不一致を低減して結晶不良を減らすものが知られている(例えば、特許文献1)。また、Ga基板を用い、バッファ層としてAlGaNバッファ層を形成し、このバッファ層の上にInGaN発光層を有したダブルヘロテ構造のGaN系半導体層を形成した発光素子が知られている(例えば、特許文献2)。
特開2005−64153号公報 特開2004−56098号公報
しかし、Ga基板に窒化処理を施して形成されたGaN系半導体層を有する発光素子は、格子定数の不一致を低減して結晶不良を減らす効果はあるものの、波長が300nm以下の紫外光に対して不透明となり、波長が300nm以下の紫外光のGa基板側からの取出しが困難になって光取出効率の向上が図られないという問題がある。また、Ga基板にバッファ層としてAlGaNバッファ層を形成し、その上にダブルへテロ構造のGaN系半導体層を形成した発光素子は発光層としてのInGaNのInの組成比に応じた波長の青色光を効率的に発光するものの紫外光を効率的に発光する発光素子としては考えられていなかった。
したがって、本発明の目的は、高発光効率で紫外光を発光する発光素子を提供することにあり、本発明のさらなる目的は、発光層の結晶性を向上させて、より高効率、かつ、歩留まりを向上させた紫外光を発光する発光素子を提供することにある。
特許文献2の出願時の技術水準では、Ga基板上に高い結晶品質で積層できるGaN系半導体層はGaNのみであると考えられていたが、本発明者が創意工夫を重ねた結果、不可能であるとされていた高品質のAlGaNを積層することに成功した。
本発明は、上記の目的を達成するための、n型β−Gaあるいは(AlGa)よりなる300nm以下の紫外光に対して透明な基板と、前記基板の第1の面上に形成された界面制御層と、前記界面制御層上に形成され、AlX1Ga1−X1NよりなるN型クラッド層と、AlX2Ga1−X2Nよりなる複数の井戸層、前記複数の井戸層の間に配置され、AlX3Ga1−X3Nよりなる複数の障層によって構成され、前記n型クラッド層上に形成されたMQWと、前記MQW上に形成され、AlX4Ga1−X4Nよりなるp型クラッド層と、前記基板の第2の面上に形成されたn電極と、前記p型クラッド層上に形成されたp電極と、を含み、前記基板及び前記何れの層もGaN半導体層を含んでおらず、前記p電極が実装面側に配置されることにより前記基板側から光を取り出す構成を有し、前記界面制御層は、(AlGa) 層を含む第1の界面制御層と、AlGaON層を含む第2の界面制御層を有し、前記MQWは、ピーク波長が300nm以下の紫外光を発光することを特徴とする発光素子(ここで、<X1、X2、X3、X4<1、X2<X3<X1、X4)を提供する。
本発明の実施の形態は、界面制御層として、単一界面制御層、第1及び第2の界面制御層よりなる2重層、及び第1より第3の界面制御層よりなる3重層から選択される1つの界面制御層を採用することができる。ただし、これらに限定されるものではない。
単一界面制御層として、AlGaNバッファ層、AlGaNエピタキシャル層、AlGaONバッファ層、AlGaONエピタキシャル層、(AlGa)バッファ層、(AlGa)エピタキシャル層、及び窒化層から選択される1つの界面制御層を採用することができる。
ここで、バッファ層は主としてアモルファスであり、エピタキシャル層は主として単結晶である。また、窒化層は基板の表面を窒化処理することによって得られる。β−Ga基板上に形成される窒化層は、GaNであり、(AlGa)基板上に形成される窒化層は、AlGaN、AlGaON、または、これらの混合状態であり得る。特に、窒化層がGaNである場合には、実質的に紫外線を吸収しない、例えば、数モノレイヤーの厚さを有するGaNが好ましい。
また、2重層を形成する第1の界面制御層は上記した窒化層が好ましく、2重層を形成する第2の界面制御層は単一界面制御層として記載したバッファ層及びエピタキシャル層が好ましい。
また、2重層を形成する第1の界面制御層は(AlGa)よりなるバッファ層及びエピタキシャル層であってもよく、2重層を形成する第2の界面制御層はAlGaNよりなるバッファ層及びエピタキシャル層、及び窒化層(AlGaON)であってもよい。
以上述べた第1及び第2の界面制御層を有した2重層において、β−Ga基板あるいは(AlGa)基板側に位置する界面制御層を、ここでは、第1の界面制御層とする。
また、3重層を形成する第1の界面制御層は(AlGa)よりなるバッファ層及びエピタキシャル層が好ましく、3重層を形成する第2の界面制御層は(AlGa)を窒化したAlGaONが好ましく、3重層を形成する第3の界面制御層はAlGaNよりなるバッファ層及びエピタキシャル層が好ましい。
以上述べた第1及び第3の界面制御層を有した3重層において、β−Ga基板あるいは(AlGa)基板に近いものより順に第1より第3の界面制御層とする。
また、AlGaNよりなる層は、N組成比が下方より上方にかけて次第に増加するグラデーションの層であっても良い。
また、本発明の実施の形態は、AlGaN半導体層によって構成された発光部として、n型AlGaN層とp型AlGaNのホモ接合、ノンドープ、及びドナー及びアクセプターがドープされたAlGaNよりなる発光層をそれよりバンドギャップの大きいn型及びp型のクラッド層を挟んだダブルへテロ接合、このダブルへテロ接合のn型クラッド層を省いたシングルへテロ接合、及びダブルへテロ接合及びシングルへテロ接合において、AlGaNよりなる発光層をSQW(単一量子井戸構造)あるいはMQW(多重量子井戸構造)で構成したもの等から何れか1つの発光部を選択することができる。
本発明による発光素子は、n型β−Ga基板あるいは(AlGa)基板上に直接あるいは界面制御層を介してAlGaN半導体よりなる発光層を形成している。本発明では、従来の予測を覆して結晶欠陥の少ない高品質のAlGaN半導体よりなる発光層が得られ、その発光層から高発光効率で紫外光、特に300nm以下の波長の紫外光を発光することができる。上記発光素子の基板として、可視領域から紫外領域の光を透過する無色透明の導電体であるn型β−Ga基板あるいは(AlGa)基板を用いることによって、得られる発光素子を垂直構造にすることができる。これにより、製造が容易となるため、歩留まりを向上させるとともに、基板側から紫外光を取り出すことができるため、光の取り出し効率を向上させることができる。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。発光素子1は、n型β−Ga基板2と、このGa基板2の上に形成されたn型AlGa1−xN薄膜(0<x<1)3と、n型AlGa1−xN薄膜3に接合されたp型AlGa1−xN薄膜(0<x<1)4と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yN薄膜4の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給するリード9をp電極6でワイヤボンディングするための電極7、及び、ボンディング8とから構成される。
ここで、n型β−Ga基板2は、Si、Cu、Ag、Zn、Cd、Al、In、Ge、及び、Snからなる群から選択されるドーパントを含むことにより所定の導電率に制御することができる。また、n型AlGa1−xN薄膜3は、Si、Ge、Se、及び、Teからなる群から選択されるドーパントを含むことにより所定のキャリア濃度にすることができる。
この実施の形態によれば、構造が簡単なAlGa1−xN半導体のpn接合により、300nm以下の紫外領域の光が高効率で得られ、特に、紫外光に対して透明なGaの基板を通して発光光を外部へ取出すことができる。また、例えば、SiをGa基板2とn型AlGaN薄膜3のドーパントとして採用することにより、Ga基板4の導電率を制御することができるとともにn型AlGa1−xN薄膜3のキャリア濃度を制御することができ、縦方向に電流を流すことができるので、層構造の上下に電極を形成した垂直型の構造を採用することができ、層構成、製造工程の簡素化を図ることができる。
この実施の形態は、高効率かつ高歩留まりで紫外光を発光する発光素子を具体化したものであり、透明なGa基板上の直上にAlGaNのpn接合を形成することによって実現した。この構成は、従来高品質のものを製造することが不可能であると考えられていたが、その予測を覆した。
(第2の実施の形態)
図2は、第2の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。発光素子1は、n型β−Ga基板2と、このGa基板2の上に界面制御層10を介して形成されたn型AlGa1−XN薄膜(0<x<1)3と、n型AlGa1−XN薄膜3に接合されたp型AlGa1−yN薄膜(0<y<1)4と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yN薄膜4の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給するリード9をp電極6でワイヤボンディングするためのボンディング電極7、及び、ボンディング8とから構成される。
ここで、n型β−Ga基板2は、Si、Cu、Ag、Zn、Cd、Al、In、Ge、及び、Snからなる群から選択されるドーパントを含むことにより所定の導電率に制御することができる。また、n型AlGa1−XN薄膜3は、Si、Ge、Se、及び、Teからなる群から選択されるドーパントを含むことにより所定のキャリア濃度にすることができる。
この実施の形態によれば、構造が簡単なAlGa1−XN半導体のpn接合により、300nm以下の紫外領域の光が高効率で得られ、特に、紫外光に対して透明なGaの基板を通して発光光を外部へ取出すことができる。また、例えば、SiをGa基板2とn型AlGaN薄膜3のドーパントとして採用することにより、Ga基板4の導電率を制御することができるとともにn型AlGa1−XN薄膜3のキャリア濃度を制御することができ、縦方向に電流を流すことができるので、層構造の上下に電極を形成した垂直型の構造を採用することができ、層構成、製造工程の簡素化を図ることができる。
ここで、界面制御層10は、AlGaNバッファ層、AlGaNエピタキシャル層、AlGaONのバッファ層及びエピタキシャル層、(AlGa)のバッファ層及びエピタキシャル層、及び数モノレイヤーの厚さを有する窒化処理によって得られた窒化層(GaN)より選択された1つの層である。実施の形態1では、β−Ga基板直上にAlGaNよりなる発光層を形成して紫外光を発光させる発光素子を示したが、より発光効率を向上させることが望ましい。しかし、界面制御層10を設けたことによって結晶欠陥の少ない高品質のAlGaNよりなる発光層を形成することが可能となり、高効率でAlの組成比に応じた波長の紫外光を発光させることが可能になった。
(第3の実施の形態)
図3は、第3の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。発光素子1は、n型β−Ga基板2と、このGa基板2の上に形成された第1の界面制御層10である窒化層と、第2の界面制御層11であるAlGaNのバッファ層あるいはエピタキシャル層、AlGaONのバッファ層あるいはエピタキシャル層、あるいは(AlGa)のバッファ層あるいはエピタキシャル層と、その上にpn接合で積層されるn型AlGa1−XN薄膜(0<x<1)3、及びp型AlGa1−yN薄膜(0<y<1)4と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yN薄膜4の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給するリード9をp電極6でワイヤボンディングするためのボンディング電極7、及び、ボンディング8とから構成される。
ここで、n型β−Ga基板は、Si、Cu、Ag、Zn、Cd、Al、In、Ge、及び、Snからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。また、n型AlGa1−XN薄膜は、Si、Ge、Se、及び、Teからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。
この実施の形態によれば、第2の実施の形態の効果に加えて、次のような効果がある。すなわち、第1の界面制御層10および第2の界面制御層11によってより格子ひずみを緩和させることができる。その結果、第2の実施の形態に比べて、より結晶性の高いn型AlGa1−xN薄膜3が得られるので、発光効率を高めるとともに、発光素子としての歩留まりを向上させることができる。
(第4の実施の形態)
図4は、第4の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。発光素子1は、n型β−Ga基板2と、このGa基板2の上に形成された第1の界面制御層10である(AlGa)のバッファ層あるいはエピタキシャル層と、第1の界面制御層10の上に形成された第2の界面制御層11である窒化層としてのAlGaON層と、第2の界面制御層11の上に形成される第3の界面制御層12であるAlGaNのバッファ層あるいはエピタキシャル層と、その上にpn接合で積層されるn型AlGa1−XN薄膜(0<x<1)3、及びp型AlGa1−yN薄膜(0<y<1)4と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yN薄膜4の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給するリード9をp電極6でワイヤボンディングするためのボンディング電極7、及び、ボンディング8とから構成される。
ここで、n型β−Ga基板は、Si、Cu、Ag、Zn、Cd、Al、In、Ge、及び、Snからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。また、n型AlGa1−XN薄膜は、Si、Ge、Se、及び、Teからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。
この実施の形態によれば、第2及び第3実施の形態の効果に加えて、次のような効果がある。すなわち、第2の界面制御層11に格子ひずみ等が残っていたとしても、第3の界面制御層として、AlGaNバッファ層又はAlGaNエピタキシャル層をMOCVDで形成することによりその格子ひずみを緩和することができ、紫外領域での高発光効率を達成することが可能となる。
(第5の実施の形態)
図5は、第5の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。発光素子1は、n型β−Ga基板2と、AlGaNバッファ層、AlGaNエピタキシャル層、AlGaONバッファ層、AlGaONエピタキシャル層、(AlGa)バッファ層、(AlGa)エピタキシャル層、及び窒化層からなる群から選択されてGa基板2の上に形成される界面制御層10と、その上に形成されたn型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22と、n型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22の上に形成されたAlGaN発光層21と、AlGaN発光層21の上に形成されたp型AlGa1−yNクラッド層(0<y<1)23と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yNクラッド層23の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給するリード9をp電極6でワイヤボンディングするためのボンディング電極7、及び、ボンディング8とから構成される。
AlGaN発光層21のバンドギャップは、n型AlGa1−XNクラッド層22及びp型AlGa1−yNクラッド層23のバンドギャップよりも小さくなるように形成される。
また、n型β−Ga基板は、Si、Cu、Ag、Zn、Cd、Al、In、Ge、及び、Snからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。また、n型AlGa1−XN薄膜は、Si、Ge、Se、及び、Teからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。
この実施の形態によれば、n型β−Ga基板2とn型AlGa1−XNクラッド層22との間に界面制御層10が形成されているので、格子定数の不一致を緩和することができ、AlGaN発光層21の結晶性を向上させることができ、発光素子1は、ダブルへテロ構造を有しているため、さらなる発光強度の増大が可能となる。
(第6の実施の形態)
図6は、第6の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。発光素子1は、n型β−Ga基板2と、このGa基板2の上に形成された第1の界面制御層10である(AlGa)のバッファ層あるいはエピタキシャル層と、窒化層(AlGaN、AlGaON、または、これらの混合状態)、AlGaNバッファ層、AlGaNエピタキシャル層、及び、AlGaONのバッファ層あるいはエピタキシャル層からなる群から選択されて第1の界面制御層10の(AlGa)層上に形成される第2の界面制御層11と、その上に形成されたn型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22と、n型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22の上に形成されたAlGaN発光層21と、AlGaN発光層21の上に形成されたp型AlGa1−yNクラッド層(0<y<1)23と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yNクラッド層23の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給するリード9をp電極6でワイヤボンディングするためのボンディング電極7、及び、ボンディング8とから構成される。
AlGaN発光層21のバンドギャップは、n型AlGa1−XNクラッド層22及びp型AlGa1−yNクラッド層23のバンドギャップよりも小さくなるように形成される。
また、n型β−Ga基板は、Si、Cu、Ag、Zn、Cd、Al、In、Ge、及び、Snからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。また、n型AlGa1−XN薄膜は、Si、Ge、Se、及び、Teからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。
この実施の形態によれば、n型β−Ga基板2とn型AlGa1−XNクラッド層22との間に第1の界面制御層10及び第2の界面制御層11が形成されているので、第3の実施の形態の効果と同様に格子定数の不一致を緩和することができ、n型AlGa1−XNクラッド層22の結晶性を向上させることができ、発光素子1は、ダブルへテロ構造を有しているため、さらなる発光強度の増大が可能となる。
(第7の実施の形態)
図7は、第7の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。発光素子1は、n型β−Ga基板2と、このGa基板2の上に形成された第1の界面制御層10である(AlGa)のバッファ層あるいはエピタキシャル層と、第1の界面制御層10の上に形成された第2の界面制御層11である窒化層(AlGaN、AlGaON、または、これらの混合状態)と、この窒化層の上に形成されるAlGaNバッファ層又はAlGaNエピタキシャル層である第3の界面制御層12と、その上に形成されたn型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22と、n型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22の上に形成されたAlGaN発光層21と、AlGaN発光層21の上に形成されたp型AlGa1−yNクラッド層(0<y<1)23と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yNクラッド層23の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給するリード9をp電極6でワイヤボンディングするためのボンディング電極7、及び、ボンディング8とから構成される。
AlGaN発光層21のバンドギャップは、n型AlGa1−XNクラッド層22及びp型AlGa1−yNクラッド層23のバンドギャップよりも小さくなるように形成される。
また、n型β−Ga基板は、Si、Cu、Ag、Zn、Cd、Al、In、Ge、及び、Snからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。また、n型AlGa1−XN薄膜は、Si、Ge、Se、及び、Teからなる群から選択されるドーパントを含むことができる。
この実施の形態によれば、n型β−Ga基板2とn型AlGa1−XNクラッド層22との間に第1の界面制御層10、第2の界面制御層11、及び第3の界面制御層12が形成されているので、格子定数の不一致をさらに緩和することができ、AlGaN発光層21の結晶性を向上させることができ、また、第4の実施の形態と同様に、発光素子1は、ダブルへテロ構造を有しているため、さらなる発光強度の増大が可能となる。
(第8の実施の形態)
図8は、第8の実施の形態に係る発光素子の構造を示すものである。第の実施の形態に係る発光素子1は、n型β−Ga基板2と、このGa基板2の上に形成された第1の界面制御層10である(AlGa)層と、第1の界面制御層10上に形成された第2の界面制御層11である窒化層(AlGaN、AlGaON、または、これらの混合状態)と、その上に形成されたn型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22と、n型AlGa1−XNクラッド層(0<x<1)22の上に形成された4−MQW層24と、4−MQW層24の上に形成されたp型AlGa1−yNクラッド層(0<y<1)23と、n型β−Ga基板2の下に形成されたn電極5と、p型AlGa1−yNクラッド層23の上に形成されたp電極6と、外部から電流を供給する
リード9をn電極5でワイヤボンディングするためのボンディング電極7、及び、ボンディング8とで構成され、p電極6をハンダボール30を介してプリント基板31に接続されている。
この実施の形態では、発光素子1は、4−MQW24、即ち、4周期の多重量子井戸構造(MQW)となっている。4−MQW24は、具体的には、井戸層と障壁層が、Al0.54Ga0.46N(障壁層)/Al0.48Ga0.52N(井戸層)の積層構造となっており、n型AlGaNクラッド層22及びp型AlGaNクラッド層23は、共に、Al0.58Ga0.42Nで構成されている。
この構成によれば、ピーク波長が約270nmの紫外光が高効率で放射可能で、本実施の形態により発光強度の増大が可能となった。
以下、MQW及びクラッド層の他の構成と発光波長を示す。
Figure 0005180430
本発明による界面制御層、および、AlGaN発光層は、MOCVD、CVD、MBE,スパッタ等の任意の物理的または化学的気相成長法が適用できる。
なお、実施の形態8では、発光素子1が第1の界面制御層10および第2の界面制御層11を有する例を示したが、発光素子1が、実施の形態2および5のように単一の界面制御層10、または、実施の形態4および7のように第1の界面制御層10、第2の界面制御層11および第3の界面制御層12を有していてもよい。
[産業上の利用可能性]
本発明の発光素子は、発光部をAlGaNによって構成することによって紫外光を発光する。基板として、β−Ga等の紫外光に対して透明な基板を用いることにより、紫外光を上部及び下部の何れからも高効率で取り出すことができる。その結果、表示器、照明等の各種の分野に利用することができる。
第1の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。 第2の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。 第3の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。 第4の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。 第5の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。 第6の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。 第7の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。 第8の実施の形態に係る発光素子の構造を示す。
符号の説明
1 発光素子
2 n型β−Ga基板
3 n型AlGa1−XN薄膜
4 p型AlGa1−yN薄膜
5 n電極
6 p電極
7 ボンディング電極
8 ボンディング
9 リード
10 第1の界面制御層
11 第2の界面制御層
12 第3の界面制御層
21 AlGaN発光層
22 n型AlGa1−XNクラッド層
23 p型AlGa1−yNクラッド層
24 4−MQW層
30 ハンダボール
31 プリント基板

Claims (1)

  1. n型β−Gaあるいは(AlGa)よりなる300nm以下の紫外光に対して透明な基板と、
    前記基板の第1の面上に形成された界面制御層と、
    前記界面制御層上に形成され、AlX1Ga1−X1NよりなるN型クラッド層と、
    AlX2Ga1−X2Nよりなる複数の井戸層、前記複数の井戸層の間に配置され、AlX3Ga1−X3Nよりなる複数の障層によって構成され、前記n型クラッド層上に形成されたMQWと、
    前記MQW上に形成され、AlX4Ga1−X4Nよりなるp型クラッド層と、
    前記基板の第2の面上に形成されたn電極と、
    前記p型クラッド層上に形成されたp電極と、を含み、前記基板及び前記何れの層もGaN半導体層を含んでおらず、前記p電極が実装面側に配置されることにより前記基板側から光を取り出す構成を有し、
    前記界面制御層は、(AlGa) 層を含む第1の界面制御層と、AlGaON層を含む第2の界面制御層を有し、
    前記MQWは、ピーク波長が300nm以下の紫外光を発光することを特徴とする発光素子(ここで、<X1、X2、X3、X4<1、X2<X3<X1、X4)。
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JP4924185B2 (ja) * 2007-04-27 2012-04-25 住友電気工業株式会社 窒化物半導体発光素子
JP5313816B2 (ja) * 2009-09-11 2013-10-09 住友電気工業株式会社 窒化物系半導体素子、及び窒化物系半導体素子を作製する方法
KR101047652B1 (ko) * 2009-12-18 2011-07-07 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 그 제조방법
CN116936631B (zh) * 2023-09-15 2023-12-12 江西兆驰半导体有限公司 一种氮化镓基晶体管的外延结构及制备方法
CN117613167B (zh) * 2024-01-24 2024-03-29 江西兆驰半导体有限公司 发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4048662B2 (ja) * 1999-10-21 2008-02-20 松下電器産業株式会社 半導体発光素子
JP3631157B2 (ja) * 2001-03-21 2005-03-23 日本電信電話株式会社 紫外発光ダイオード
TWI275220B (en) * 2001-11-05 2007-03-01 Nichia Corp Nitride semiconductor device
JP3679097B2 (ja) * 2002-05-31 2005-08-03 株式会社光波 発光素子
JP4020314B2 (ja) * 2003-05-15 2007-12-12 学校法人早稲田大学 Ga2O3系発光素子およびその製造方法
JP4754164B2 (ja) * 2003-08-08 2011-08-24 株式会社光波 半導体層

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