JP5145524B2 - 露光装置 - Google Patents

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本発明は、被露光体を載置して搬送し、フォトマスクを介して露光する露光装置に関し、詳しくは、前記露光装置を構成する搬送手段の前記被露光体の載置面からの発塵を抑制した前記露光装置に関するものである。
近年、液晶表示装置のカラーフィルター等の基板の露光には、被露光体であるカラーフィルター等の基板より小さなフォトマスクを用いた、連続に露光を行う、近接露光装置が用いられており、この露光装置では、基板を載置するワークステージの上面と、前記基板の下面の間に気体層を生成し該基板を浮上させた状態で、該基板を保持して、所定方向に一定の速度で、該ワークステージ上を非接触で連続的に搬送する搬送装置が用いられている(例えば、特許文献1)。
このワークステージは、ワークステージ上面に複数の空気孔を設け、該空気孔から流量制御された空気を噴出させて、基板を前記基板載置面上に浮上させるものであるが、複数の空気孔をステージ上に直接設けるもの(例えば、特許文献2)と、上面が平坦な多孔質部材を該ステージの一部に用いるもの(例えば、特許文献3)とがあるが、ステージの製作が容易にできることと、ステージの自重による撓みを軽減するために、カーボンを用いた多孔質板が用いられる。
特開2007−72267号公報 特開平05−289350号公報 特開2007−27495号公報
しかし、このカーボン粒子を結合させた多孔質板は、カーボン粒子を結合させた後、ステージ面を構成する面を研磨等によって平面度を高めるため、研磨時にカーボン粒子の一部に亀裂やバリ状の部分が生じ、その部分のカーボン粒子の一部脱落や剥離が生じやすい。
また、ステージ上面の清掃時における、上記バリ状の部分への清掃布等に素材の付着等による発塵が生じやすい。
上記問題点の解消のため、多孔質板へ樹脂コーティングをする方法もあるが、樹脂コーティングは、多孔質板の表面に樹脂を塗布することによって行われるため、樹脂コーティング材の膜厚の制御が困難であり、多孔質板を構成するカーボン粒子間の隙間を埋めてしまうことによる、空隙率が低下する問題がある。
また、露光装置では、紫外光が露光光として用いられるため、この紫外光によってコーティングされた樹脂が劣化し、剥離、脱落することによる新たな発塵を生ずる問題がある。
そこで、本発明は上記事情を鑑みてなされたものであって、露光光による劣化、発塵を抑えた、非接触でワークを保持搬送できるワークステージを備えた近接露光装置を提供することを目的としている。
本発明は、前記課題を解決するために、以下の点を特徴としている。
即ち、請求項1に係る露光装置は、感光性物質を塗布した平板状の被露光体の一端部を保持して所定方向に一定の速度で搬送する搬送手段と、前記搬送手段の前記被露光体の搬送経路に沿って配設され、上面が平坦に形成された、多孔質板で形成され、前記上面と前記搬送手段によって搬送された前記被露光体との間に気体を供給排出可能にされたワークステージと、前記ワークステージの上方に配設され、該ワークステージ上を搬送される前記被露光体に対して、露光パターンが設けられたフォトマスクを介して、露光光を照射して所定の露光パターンを形成する露光光学系と、を備えたことを特徴とする露光装置であって、前記多孔質板が、多孔質部分全体に電解メッキを施した後、前記ワークステージの上面を構成する面のメッキを除去したものであることを特徴としている。
本発明は以下の優れた効果を奏する。
請求項1に係る発明によれば、平板状の被露光体の両端部を保持して所定方向に一定の速度で搬送する搬送手段と、前記搬送手段の前記被露光体の搬送経路に沿って配設され、上面が平坦に形成され、該上面の少なくとも一部が、電解メッキを施された多孔質部分で形成されているため、多孔質部分を構成する粒子間の間隙があまり減少せず、該多孔質部分を通して、前記上面と前記搬送手段によって搬送された前記被露光体との間に気体の供給排出が容易に行える。
また、前記粒子間の通気孔表面が厚さ数μmの電解メッキ層で覆われることによって、各粒子間の接合が強化され各粒子の剥離、離脱が防止できる。
更に、露光光が、被露光体を透過して、前記多孔質部分に照射されても、電解メッキが施された部分の劣化がなく、前記各粒子の剥離、離脱による粉塵を原因とする露光光の照射ムラが防止できる他、電解メッキが多孔質部分の孔の表面であるため、この多孔質部分から露光光の反射が極めて少なく、露光ミスが防止される。
また、請求項2に係る発明によれば、前記各粒子の剥離、離脱が防止できる他、前記多孔質板の通気孔のみに電解メッキ層を有する構成となっているため、露光光が、被露光体を透過して、前記多孔質部分に照射されても、この多孔質板から露光光の反射が極めて少なく、露光光の反射による、露光ミスが防止される。
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。図1は本発明による露光装置1の実施形態を示す正面図である。
この露光装置1は、感光性物質(以下、「レジスト」という)を塗布したガラス基板(以下「ワーク」という)Wに対してフォトマスクを介して露光光を照射して所定の露光パターンを形成するもので、露光光学系2と、搬送手段3と、ワークステージ4とからなる。
露光光学系2は、ワークステージ4の上方に配設されており、ワークステージ上面4a上を搬送されるワーク4に対してフォトマスク23を介して露光光を照射して所定の露光パターンを形成するものであり、光源20と、レンズ系21と、マスクステージ22とを有して構成されている。
光源20は、紫外線を含む露光光を放射するものであり、例えば超高圧水銀ランプ、キセノンランプ又は紫外線レーザ発振器等である。
また、マスクステージ22は、ステージ上面4aに対して近接して配設されている。このマスクステージ22は、短冊状のフォトマスク23をステージ上面4aに平行な面内にて、その長手方向が搬送方向(矢印A方向)と直交するように保持するものである。なお、フォトマスク23には、その長手方向に沿って複数のマスクパターン24が並べて形成されている。さらに、光源20とマスクステージ22との間には、レンズ系21が配設されている。レンズ系21は、例えば、複数のレンズによって構成されるテレセントリックレンズであって、マスクステージ22に保持されたフォトマスク23に対して光源20から放射された露光光を垂直に照射させるためのものである。
尚、フォトマスク23は、図6に示すように、透明基板23aと、マスクパターン24(紫外線透過部)を有する遮光膜23bとを有する構成である。
搬送手段3は、ワークWの搬送方向(図1の矢印Aの方向)に平行な一端部を、図示しない把持手段によって把持し、ワークステージ4上を図1の矢印Aの方向に一定の速度で、搬送するものであり、ワークステージ4の搬送方向(矢印A方向)と平行な一方の側方に設けられている。
そして、ワークWの搬送時に、ワークWとワークステージ上面4aとは非接触状態に保持されるようになっている。
ワークステージ4は、図2に示すように、複数の単位ワークステージ6で構成されており、各単位ワークステージ6は、ワークステージ上面4a(複数の単位ワークステージ6の上面6aによって構成されている。)が平坦になるように配設されている。
更に、ワークステージ4は、マスクステージ22を通じてワークWに露光光が照射される領域に対応した部分に、上下方向に貫通する貫通溝5を有し、ワークWを透過した露光光が貫通溝5を介して下方に抜けるようなっている。
具体的には、ワークWの搬送方向(矢印A)に直角な方向に、所定の幅を隔てて、複数の単位ワークステージ6を搬送方向(矢印A)及びその直角方向に平面状に複数配設し、貫通溝5を形成している。
そして、単位ワークステージ6は、図3に示すように、基板支持体60と、供給管63と、排気管64と、バルブ65と、圧力調整ユニット66とを有して構成されている。
尚、前記所定の幅Lとは、ワークWの搬送方向の露光光の照射幅L0より広い幅であって、ワークWの上下方向のたわみが露光の精度に影響を与えない幅であって、ワークWの大きさや剛性及び後述の露光パターン24の開口部(露光光透過部分)のワーク4の搬送方向長さL1によって最適な幅が異なるものである。
基板支持体60は、上部を開放した直方体状の箱体62の内部に、上下方向に連続した多数の微細な通気孔61aを有する直方体状の多孔質板61を箱体62の内部に中空部62aが形成されるように箱体62の上部を塞いで設けたものであり、通気孔61aを含む多孔質板61全体には電解メッキによるメッキ層61cが施されている。
更に、多孔質板61には、通気孔61aより大きな径の孔(以下、「吸引孔」という。)61bが多数(例えば、3ケ)、多孔質板61の長手方向に沿って形成されており、通気孔61aは圧縮気体を上方に吹き出すための孔であり、吸引孔61bは外部から気体を吸引するためのものである。
供給管63は箱体62の底部62bに、少なくとも一本が設けられて、多数の通気孔61aに圧縮気体、例えばクリーンエアを供給するものであり、一端部が上記箱体62の中空部62aに接続され、他端部が図示しない送気手段(演算部66aに接続されている)に接続されている。そして、箱体62近傍の供給管63内には圧縮気体の圧力を検出するための圧力センサー69が設けられており、圧力センサー69は圧力調整ユニット66の演算部66aに接続されている。
演算部66aは、圧力センサー69からの圧力信号と、図示しない外気の圧力センサー(演算部66aに接続されている)からの圧力信号との差圧を演算し、前記差圧が一定範囲内(ワークWの大きさ、重量、浮上量等によって最適範囲は異なる)になるように、前記送気手段の運転条件を制御するようになっている。
排気管64は吸引孔61bに接続されて、多数の吸引孔61bを通して吸引された気体を排気するものであり、一端部側が吸引孔61bの数に合わせて枝管64aとして枝分かれし、それぞれその末端部が吸引孔61b内側に接続されており、他端部が図示しない吸気手段に接続されている。
そして、供給管63を経て箱体62に供給された圧縮気体が、通気孔61aから単位ワークステージ6の上面6aとワークWの下面Waとの間に吹き出されるとともに、排気管64を経て、バルブ65と、圧力調整ユニット66に接続された吸引孔61bから、単位ワークステージ6の上面6aとワークWの下面Waとの間の気体が吸引されることによって、上記搬送手段3によって搬送されたワークWとの間に所定の厚みの気体層7を生成してワークWを浮上させるようになっている。
排気管64の途中には、バルブ65が設けられている。このバルブ65は、排気流量を調整すると共に外気を導入可能とするものであり、例えば電気信号に応じて開閉する電磁バルブである。
バルブ15には、圧力調整ユニット66が接続されている。この圧力調整ユニット66は、バルブ65を制御して外気の導入量を調整し、吸引孔61bの内部の圧力を所定の圧力に維持するものであり、圧力センサー68、69と、メモリ66bと、演算部66aと、駆動部67とからなる。
圧力センサー68は、排気管64の枝管64aが合流した部分の内部に設けられており、その内部の圧力を検出するものである。また、メモリ66bは、事前に測定して見つけられた所定の圧力条件(外気圧力と吸引圧力との差圧)の記憶手段である。
そして、演算部66aは、圧力センサー68出力値と、図示しない外気の圧力を検出する圧力センサーの出力値とを比較してその差圧を求め、該差圧とメモリ66bから読み出した前記所定の圧力条件とのずれ量を演算するものである。そして、駆動部67は、演算部66bの演算結果に基づいて前記所定の圧力条件の値からのずれ量が所定の範囲内となるようにバルブ65を開閉駆動するものである。なお、所定の範囲内とは、ワークWのたわみ量が許容値内に納まるような目標値からのずれの許容範囲のことであり、これは、ワークWの大きさや剛性によって決められるものである。
次に、このように構成された露光装置1の動作について説明する。
先ず、搬送手段3が起動され、ワークWが搬送手段3によって両端部を保持されて図1に示す矢印A方向に搬送される。このとき、図2に示すワークステージ4の複数の単位ステージ6の通気孔61aからは供給管63を介して供給される圧縮気体(例えばクリーンエア)がステージ上面4a(6a)上に吹き出しており、吸引孔61bからは、通気孔61aからステージ上面4a(6a)上に吹き出した気体が吸引されている。
搬送手段3によって搬送されたワークWがワークステージ4のステージ上面4a上に達すると、通気孔61aから吹き出す圧縮気体がワークWの下面Waに吹き付けられてワークWはワークステージ4のステージ上面4a上に浮上する。一方、吸引孔61bからは、上記吹き出された気体が吸引されているので浮上したワークWはワークステージ4のステージ上面4a側に引き付けられる。
このとき、通気孔61aからの気体の吹出量と吸引孔61bによる気体の吸引量を調整することによって、ワークWの下面Waとワークステージ4のステージ上面4aとの間に薄い気体層7が生成されてワークWは浮上し、非接触でワークステージ4上を搬送されることになる。
この場合、ワークWの移動に伴ってワークWの縁部Wbがワークステージ4のステージ上面4a上の吸引孔61bを次第に覆っていくため、図3に矢印Bで示す吸引孔61b内に吸引される外気が減り、吸引孔61b内部の圧力が低下する。
このとき、図4に示すように、吸引孔61b内部の圧力の低下を圧力調整ユニット66の圧力センサー68で検知し、その出力が演算部66に送られる。演算部66では、圧力センサー68圧力の信号と前記外気圧を検知する圧力センサーの値とを比較して差圧を求め、予め測定されメモリ66bに保存された前記所定の圧力条件の値を読み出して両者を比較する。
そして、前記所定の圧力条件の値からのずれ量が所定の範囲内となるように駆動部67を駆動してバルブ65の開度を変更して、同図に矢印Cで示すように外気を排気管64内に導入して排気流量が一定にされる。これにより、排気管64の枝管64aの合流部内部、即ち吸引孔61b内部の圧力が一定となり、吸引孔61b内部と外気との差圧が一定に保たれ、ワークWの縁部Wbが吸引孔61b内側に引っ張られて歪む量が許容される範囲になる。したがって、ワークW表面は均一又は略均一に保たれることになる。
次に、光源20から露光光が放射され、この露光光はレンズ系21で平行光とされてマスクステージ22に保持されたフォトマスク23を垂直に照射する。さらに、フォトマスク23を通り抜けた露光光は、ワークステージ4のステージ上面4a上を図1に示す矢印A方向に搬送されるワークWの上面を垂直に照射する。これにより、フォトマスク23に形成されたマスクパターン24がワークWに転写されることになる。この場合、ワークWを透過した露光光は、ワークステージ4に上下方向に設けられた貫通溝5を下方に向けて抜けて行く。したがって、ワークWを透過した露光光はワークステージ4のステージ上面4aを構成する、電解メッキが施された多孔質板61の上面61aで乱反射されることがなく、乱反射光によるワークWの、所定の領域と異なる部分を露光するということがない。
また、貫通溝5の下部に光吸収器を設ければ、ワークWを透過して、貫通溝5に入射した露光光を吸収して除去することができ、更によく、反射光を防止できる。
以上の説明においては、ワークステージ4に所定の幅Lを有する貫通溝5を設けた場合について説明したが、これに限られず、多孔質板61全体に一旦電解メッキを施した後、ワークステージ4のステージ上面4aの一部を構成する面を研磨して、多孔質板61の上面のメッキを除去し、通気孔のみに電解メッキ層61cを残存させた多孔質板61を用いることによって、貫通溝5の幅をゼロにしてもよい。
即ち、通気孔61aのみに電解メッキ層を残存させた多孔質板61を用いることによって、ワークWを透過した露光光が多孔質板61の上面で反射されることを防止できるため、ワークステージ4の前記露光領域に貫通溝5を設ける必要がない。
また、搬送手段3は、搬送ローラを並べたものに限られず、基板の両端部を保持して搬送できるようにしたものであるならば如何なるものであってもよい。さらに、上記ワークステージ4は、露光装置に使用されるものに限られない。
本発明による露光装置の実施形態を示す概念図である。 上記露光装置のワークステージを示す概念図である。 単位ワークステージの説明図である。 単位ワークステージの基板支持体の説明図である。 多孔質板の断面概念図である。 フォトマスクの説明図である。
符号の説明
1 露光装置
2…露光光学系
3…搬送手段
4…ワークステージ
5…貫通溝
6…単位ワークステージ
7…気体層
20…光源
21…レンズ系
22…マスクステージ
23…フォトマスク
24…マスクパターン
60…単位支持体
61…多孔質板
62…箱体
63…供給管
64…排気管
65…調整バルブ
66…圧力調整ユニット
67…バルブ
68…圧力センサー

Claims (1)

  1. 感光性物質を塗布した平板状の被露光体の一端部を保持して所定方向に一定の速度で搬送する搬送手段と、
    前記搬送手段の前記被露光体の搬送経路に沿って配設され、上面が平坦に形成された、多孔質板で形成され、前記上面と前記搬送手段によって搬送された前記被露光体との間に気体を供給排出可能にされたワークステージと、
    前記ワークステージの上方に配設され、該ワークステージ上を搬送される前記被露光体に対して、露光パターンが設けられたフォトマスクを介して、露光光を照射して所定の露光パターンを形成する露光光学系と、を備えたことを特徴とする露光装置であって、
    前記多孔質板が、多孔質部分全体に電解メッキを施した後、前記ワークステージの上面を構成する面のメッキを除去したものであることを特徴とする露光装置。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101099555B1 (ko) * 2010-01-12 2011-12-28 세메스 주식회사 기판 처리 장치
JP5610432B2 (ja) * 2010-07-15 2014-10-22 株式会社ブイ・テクノロジー フィルムの露光装置
JP2012038874A (ja) * 2010-08-06 2012-02-23 Hitachi High-Technologies Corp 液晶露光装置
JP5789416B2 (ja) * 2011-06-03 2015-10-07 東京応化工業株式会社 塗布装置及び塗布方法
JP5871366B2 (ja) * 2011-10-25 2016-03-01 東レエンジニアリング株式会社 浮上搬送装置
TWI527747B (zh) * 2012-02-28 2016-04-01 炭研軸封精工股份有限公司 非接觸吸著盤
EP3479173A1 (en) * 2016-07-01 2019-05-08 ASML Netherlands B.V. Stage system, lithographic apparatus, method for positioning and device manufacturing method

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4706119B2 (ja) * 2001-04-20 2011-06-22 株式会社安川電機 キャンド・リニアモータ電機子およびキャンド・リニアモータ
KR100585476B1 (ko) * 2002-11-12 2006-06-07 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피 장치 및 디바이스 제조방법
JP2005294131A (ja) * 2004-04-02 2005-10-20 Sumitomo Electric Ind Ltd 異方性導電シート
US7440081B2 (en) * 2004-11-05 2008-10-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method, and substrate table
WO2007145072A1 (ja) * 2006-06-14 2007-12-21 Nsk Ltd. 支持装置

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