JP5139886B2 - 感光性樹脂組成物 - Google Patents
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Description
ところが、感光性ポリイミド前駆体組成物は、その現像工程においては、現像液としてN−メチル−2−ピロリドンなどの大量の有機溶剤を用いる必要があり、近年の環境問題の高まりなどから、脱有機溶剤対策が求められてきている。これを受け、最近になって、フォトレジストと同様に、アルカリ性水溶液で現像可能な耐熱性感光性樹脂材料の提案が各種なされている。
このポジ型感光性樹脂の現像メカニズムは、未露光部のジアゾキノン化合物がアルカリ性水溶液に不溶であるのに対し、露光することにより該ジアゾキノン化合物が化学変化を起こしインデンカルボン酸化合物となってアルカリ性水溶液に可溶となることを利用したものである。この露光部と未露光部の間の現像液に対する溶解速度の差を利用し、未露光部のみのレリーフパターンの作成が可能となる。
このような感光性樹脂組成物を用いて半導体を製造する際、特に重要となるのは感光性樹脂組成物の光感度である。半導体装置の製造時の露光工程では水銀ランプのi線を利用したi線ステッパ(以下、単に「ステッパ」という)と呼ばれる縮小投影露光機が主に用いられている。このステッパは非常に高価な機械であるので、感光性樹脂組成物が低感度であるとレリーフパターンを形成するために要する露光時間が長くなり、必要となるステッパの台数が増えて露光プロセスの高コスト化に繋がる。
1.(A)下記一般式(1)で表される構造を含むヒドロキシポリアミド100質量部、(B)下記一般式(2)で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種のアルコキシアルキル基含有化合物0.01〜30質量部、及び(C)ジアゾキノン化合物1〜100質量部を含むことを特徴とする感光性樹脂組成物。
5.上記1〜4のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層を基板上に形成する工程、マスクを介して活性光線で露光する工程、現像する工程、得られたレリーフパターンを加熱する工程、を含むことを特徴とする、硬化レリーフパターンの製造方法。
6.上記5に記載の製造方法により得られる硬化レリーフパターン層を有してなる半導体装置。
本発明の感光性樹脂組成物を構成する各成分について、以下具体的に説明する。
(A)ヒドロキシポリアミド
本発明の感光性樹脂組成物のベースポリマーであるヒドロキシポリアミドは、下記一般式(1)で表される構造を含む。
X1は、2個以上30個以下の炭素原子を有する4価の有機基であることが好ましい。X2、Y1、およびY2はそれぞれ独立に2個以上30個以下の炭素原子を有する2価の有機基であることが好ましい。
このうち芳香族ジアミンとしては、例えば、m−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、2,4−トリレンジアミン、3,3’−ジアミノジフェニルエーテル、3,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’−ジアミノジフェニルケトン、4,4’−ジアミノジフェニルケトン、3,4’−ジアミノジフェニルケトン、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4−メチル−2,4−ビス(4−アミノフェニル)−1−ペンテン、4−メチル−2,4−ビス(4−アミノフェニル)−2−ペンテン、1,4−ビス(α,α−ジメチル−4−アミノベンジル)ベンゼン、イミノ−ジ−p−フェニレンジアミン、1,5−ジアミノナフタレン、2,6−ジアミノナフタレン、4−メチル−2,4−ビス(4−アミノフェニル)ペンタン、5(または6)−アミノ−1−(4−アミノフェニル)−1,3,3−トリメチルインダン、ビス(p−アミノフェニル)ホスフィンオキシド、4,4’−ジアミノアゾベンゼン、4,4’−ジアミノジフェニル尿素、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]ベンゾフェノン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ジフェニルスルホン、4,4’−ビス[4−(α,α−ジメチル−4−アミノベンジル)フェノキシ]ベンゾフェノン、4,4’−ビス[4−(α,α−ジメチル−4−アミノベンジル)フェノキシ]ジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノビフェニル、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、フェニルインダンジアミン、3,3’−ジメトキシ−4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、o−トルイジンスルホン、2,2−ビス(4−アミノフェノキシフェニル)プロパン、ビス(4−アミノフェノキシフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェノキシフェニル)スルフィド、1,4−(4−アミノフェノキシフェニル)ベンゼン、1,3−(4−アミノフェノキシフェニル)ベンゼン、9,9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン、4,4’−ジ−(3−アミノフェノキシ)ジフェニルスルホン、及び4,4’−ジアミノベンズアニリド、並びにこれら芳香族ジアミンの芳香核の水素原子が、塩素原子、フッ素原子、臭素原子、メチル基、メトキシ基、シアノ基、及びフェニル基からなる群より選ばれた少なくとも一種の基または原子によって置換された化合物が挙げられる。
該誘導体を得るために5−アミノイソフタル酸に対して反応させる具体的な化合物としては、5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物、エキソ−3,6−エポキシ−1,2,3,6−テトラヒドロフタル酸無水物、3−エチニル−1,2−フタル酸無水物、4−エチニル−1,2−フタル酸無水物、シス−4−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、1−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、マレイン酸無水物、無水シトラコン酸、無水イタコン酸、無水エンドメチレンテトラヒドロフタル酸、メチルエンドメチレンテトラヒドロフタル酸無水物、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、アリルスクシン酸無水物、イソシアナートエチルメタクリレート、3−イソプロペニル−α,α−ジメチルベンジルイソシアネート、3−シクロヘキセン−1−カルボン酸クロライド、2−フランカルボン酸クロリド、クロトン酸クロリド、ケイ皮酸クロリド、メタクリル酸クロリド、アクリル酸クロリド、プロピオリック酸クロリド、テトロリック酸クロリド、チオフェン−2−アセチルクロリド、p−スチレンスルフォニルクロリド、グリシジルメタクリレート、アリルグリシジルエーテル、クロロぎ酸メチルエステル、クロロぎ酸エチルエステル、クロロぎ酸n−プロピルエステル、クロロぎ酸イソプロピルエステル、クロロぎ酸イソブチルエステル、クロロぎ酸2−エトキシエステル、クロロぎ酸−sec−ブチルエステル、クロロぎ酸ベンジルエステル、クロロぎ酸2−エチルヘキシルエステル、クロロぎ酸アリルエステル、クロロぎ酸フェニルエステル、クロロぎ酸2,2,2−トリクロロエチルエステル、クロロぎ酸−2−ブトキシエチルエステル、クロロぎ酸−p−ニトロベンジルエステル、クロロぎ酸−p−メトキシベンジルエステル、クロロぎ酸イソボルニルベンジルエステル、クロロぎ酸−p−ビフェニルイソプロピルベンジルエステル、2−t−ブチルオキシカルボニル−オキシイミノ−2−フェニルアセトニトリル、S−t−ブチルオキシカルボニル−4,6−ジメチル−チオピリミジン、ジ−t−ブチル−ジカルボナート、N−エトキシカルボニルフタルイミド、エチルジチオカルボニルクロリド、ぎ酸クロリド、ベンゾイルクロリド、p−トルエンスルホン酸クロリド、メタンスルホン酸クロリド、アセチルクロリド、塩化トリチル、トリメチルクロロシラン、ヘキサメチルジシラザン、N,O−ビス(トリメチルシリル)アセトアミド、ビス(トリメチルシリル)トリフルオロアセトアミド、(N,N−ジメチルアミノ)トリメチルシラン、(ジメチルアミノ)トリメチルシラン、トリメチルシリルジフェニル尿素、ビス(トリメチルシリル)尿素、イソシアン酸フェニル、イソシアン酸n−ブチル、イソシアン酸n−オクタデシル、イソシアン酸o−トリル、1,2−フタル酸無水物、及びシス−1,2−シクロヘキサンジカルボン酸無水物、及びグルタル酸無水物が挙げられる。
または前記のテトラカルボン酸二無水物と前記のビスアミノフェノールを反応させて、生成するカルボン酸残基を、モノアルコールまたはモノアミンにより、エステル化またはアミド化することもできる。
ヒドロキシポリアミドの重縮合において、ジカルボン酸成分をビスアミノフェノール成分とジアミン成分の和に比べて過剰のモル数で使用する場合には、封止基としては、アミノ基、または水酸基を有する化合物を用いるのが好ましい。該化合物の例としては、アニリン、エチニルアニリン、ノルボルネンアミン、ブチルアミン、プロパルギルアミン、エタノール、プロパルギルアルコール、ベンジルアルコール、ヒドロキシエチルメタクリレート、及びヒドロキシエチルアクリレート等が挙げられる。
逆にビスアミノフェノール成分とジアミン成分の和をジカルボン酸成分に比べて過剰のモル数で使用する場合には、封止基としては、酸無水物、カルボン酸、酸クロリド、イソシアネート基等を有する化合物を用いるのが好ましい。該化合物の例としては、ベンゾイルクロリド、ノルボルネンジカルボン酸無水物、ノルボルネンカルボン酸、エチニルフタル酸無水物、グルタル酸無水物、無水マレイン酸、無水フタル酸、シクロヘキサンジカルボン酸無水物、メチルシクロヘキサンジカルボン酸無水物、シクロへキセンジカルボン酸無水物、メタクロイルオキシエチルメタクリレート、フェニルイソシアネート、メシルクロリド、及びトシル酸クロリド等が挙げられる。
感光性樹脂組成物には、(B)下記一般式(2)で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種のアルコキシアルキル基含有化合物を含む。
(B)アルコキシアルキル基含有化合物は単独で使用しても2つ以上混合して使用してもよい。
(B)アルコキシアルキル基含有化合物の配合量は、(A)ヒドロキシポリアミド100質量部に対し、0.1〜30質量部が好ましく、1〜20質量部がより好ましい。(B)アルコキシアルキル基含有化合物の配合量が1質量部以上であるとキュア後の残膜率((キュア後のレリーフパターンの膜厚)/(現像後のレリーフパターンの膜厚)×100)が高く、30質量部以下だと感度が良好である。
感光性樹脂組成物で用いるジアゾキノン化合物は、1,2−ベンゾキノンジアジド構造あるいは1,2−ナフトキノンジアジド構造を有する化合物であり、米国特許明細書2,772,972号、第2,797,213号、第3,669,658号等により公知の物質である。好ましいものの例としては、例えば、下記のものが挙げられる。
感光性樹脂組成物に対して熱ラジカル発生剤を加えても良い。ここで用いるラジカル発生剤としては、熱処理条件においてラジカルを発生するものが好ましく、好ましいものの例として、有機過酸化物、例えばジクミルパーオキサイド、有機非過酸化物、例えばジメチルジフェニルブタンが挙げられる。
熱ラジカル発生剤を加える場合の添加量は、(A)ヒドロキシポリアミド100質量部に対し、0〜20質量部が好ましく、0.1〜10質量部がより好ましい。添加量が20質量部以内であれば保存安定性が良好である。
上記添加剤について更に具体的に述べると、フェノール化合物は、バラスト剤、パラクミルフェノール、ビスアミノフェノール、レゾルシノール等が挙げられる。なお、バラスト剤とは、フェノール性水素原子の一部がナフトキノンジアジドスルホン酸エステル化されたフェノール化合物である前述のジアゾキノン化合物に原料として使用されているフェノール化合物をいう。染料としては、例えば、メチルバイオレット、クリスタルバイオレット、マラカイトグリーン等が挙げられる。
フェノール化合物を加える場合の添加量は、(A)ヒドロキシポリアミド100質量部に対し、0〜50質量部が好ましく、1〜30質量部が好ましい。添加量が50質量部以内であれば、熱硬化後の膜の引張り伸び率が良好である。
界面活性剤を加える場合の添加量は、(A)ヒドロキシポリアミド100質量部に対し、0〜10質量部が好ましく、0.01〜1質量部がより好ましい。添加量が10質量部以内であれば、熱硬化後の膜の引張り伸び率が良好である。該界面活性剤の添加により、塗布時のウエハーエッジでの塗膜のハジキをより発生しにくくすることができる。
また、接着助剤としては、例えば、アルキルイミダゾリン、酪酸、アルキル酸、ポリヒドロキシスチレン、ポリビニルメチルエーテル、t−ブチルノボラック、エポキシシラン、エポキシポリマー等、および各種シランカップリング剤が挙げられる。
接着助剤を加える場合の添加量は、(A)ヒドロキシポリアミド100質量部に対し、0〜30質量部が好ましく、0.1〜10質量部がより好ましい。添加量が30質量部以内であれば、熱硬化後の膜の引張り伸び率が良好である。
このような溶媒としては、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン(以下、「GBL」ともいう。)、イソホロン、N,N−ジメチルアセトアミド(以下、「DMAc」ともいう。)、ジメチルイミダゾリノン、テトラメチルウレア、ジメチルスルホキシド、ジエチレングリコールジメチルエーテル(以下、「DMDG」ともいう。)、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、メチル−1,3−ブチレングリコールアセテート、1,3−ブチレングリコール−3−モノメチルエーテル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メチル−3−メトキシプロピオネート等を単独または混合して使用できる。これらの溶媒のうち、非アミド系溶媒がフォトレジストなどへの影響が少ない点から好ましく、具体的にはγ−ブチロラクトン、乳酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートなどを挙げることができる。
溶媒の添加量は、ヒドロキシポリアミド100質量部に対し、50〜1000質量部が好ましい。溶媒の添加量は、上記の範囲内で塗布装置、及び塗布厚みに適した粘度に設定することが、硬化レリーフパターンの製造を容易にすることができるので好ましい。
次に、本発明の感光性樹脂組成物を基板に塗布して硬化レリーフパターンを製造する方法について、以下具体的に説明する。
(1)感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層を基板上に形成する工程(第一の工程)。
感光性樹脂組成物溶液を、例えばシリコンウエハー、セラミック基板、アルミ基板等の基板に、スピンコーターを用いた回転塗布、又はダイコーター、もしくはロールコーター等のコーターにより塗布する。もしくは、インクジェットノズルやディスペンサーを用いて、所定の場所に塗布することも可能である。これをオーブンやホットプレートを用いて50〜140℃で乾燥して溶媒を除去する(「プリベーク」)。
(2)マスクを介して活性光線で露光するか、光線、電子線またはイオン線を直接照射する工程(第二の工程)。
続いて、感光性樹脂層をマスクを介して活性光線により露光、すなわち、コンタクトアライナーやステッパを用いて化学線による露光を行う。又は、光線、電子線またはイオン線を直接照射することによって露光を行う。活性光線としては、g線、h線、i線、KrFレーザーを用いることもできる。
第三の工程として、露光部又は照射部を現像液で溶出または除去する。引き続き、好ましくはリンス液によるリンスを行うことで所望のレリーフパターンを得る。現像方法としてはスプレー、パドル、ディップ、または超音波等の方式が可能である。リンス液は蒸留水、または脱イオン水等が使用できる。
感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層を現像するために用いられる現像液は、アルカリ可溶性ポリマーを溶解除去するものであり、アルカリ化合物を溶解したアルカリ性水溶液であることが必要である。アルカリ性水溶液中に溶解されるアルカリ化合物は、無機アルカリ化合物、または有機アルカリ化合物のいずれであってもよい。
該無機アルカリ化合物としては、例えば、水酸化リチウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、リン酸水素二アンモニウム、リン酸水素二カリウム、リン酸水素二ナトリウム、ケイ酸リチウム、ケイ酸ナトリウム、ケイ酸カリウム、炭酸リチウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、ホウ酸リチウム、ホウ酸ナトリウム、ホウ酸カリウム、及びアンモニア、が挙げられる。
さらに、必要に応じて、上記アルカリ性水溶液に、メタノール、エタノール、プロパノール、またはエチレングリコール等の水溶性有機溶媒、界面活性剤、保存安定剤、及び樹脂の溶解抑止剤等を適量添加することができる。
最後に、得られたレリーフパターンを加熱処理して、ポリベンゾオキサゾール構造を有する樹脂からなる耐熱性硬化レリーフパターンを形成する。加熱装置としては、オーブン炉、ホットプレート、縦型炉、ベルトコンベアー炉、圧力オーブン等を使用する事ができ、加熱方法としては、熱風、赤外線、電磁誘導による加熱等が推奨される。温度は200〜450℃が好ましく、250〜400℃がさらに好ましい。
加熱時間は15分〜8時間が好ましく、1時間〜4時間がさらに好ましい。
雰囲気は窒素、アルゴン等不活性ガス中が好ましい。半導体装置は、硬化レリーフパターンを、表面保護膜、層間絶縁膜、再配線用絶縁膜、フリップチップ装置用保護膜、あるいはバンプ構造を有する装置の保護膜として、公知の半導体装置の製造方法と組み合わせることで製造することができる。
また、本発明の感光性樹脂組成物は、多層回路の層間絶縁、フレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレジスト膜、または液晶配向膜等の用途にも有用である。
<感光性樹脂組成物の評価>
(1)パターニング特性評価
感光性樹脂組成物をスピンコーター(Dspin・SW−636、大日本スクリーン製造(株)製)にて、5インチシリコンウエハーにスピン塗布し、ホットプレートにて125℃、180秒間プリベークを行い、膜厚9.0μmの塗膜を形成した。この塗膜を、昇温プログラム式キュア炉(VF−2000型、光洋リンドバーグ(株)製)を用いて、窒素雰囲気下、320℃で1時間熱処理(キュア)することにより硬化膜をシリコンウエハー上に得た。膜厚は光学式膜厚測定装置(ラムダエースVM−1200、大日本スクリーン製造(株)製)にて、屈折率を1.65として測定した。キュア前後の膜厚から、キュア収縮率(%)を算出した。
[感度(mJ/cm2)]
上記現像時間において、塗膜の露光部を完全に溶解除去しうる最小露光量。
[解像度(μm)]
上記露光量での最小解像パターン寸法。
[保存安定性評価]
上記感光性樹脂組成物を、E型粘度計(RE−80E、東機産業(株)製)を用いて23℃で粘度を測定した後、室温で2週間放置した後、再度粘度を測定し、その変化率(増粘率)を算出した。粘度変化が±5%未満を良好とし、±5%以上を不良とした。
〔参考例1〕
容量2Lのセパラブルフラスコ中で、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)−ヘキサフルオロプロパン197.8g(0.54mol)、ピリジン75.9g(0.96mol)、DMAc692gを室温(25℃)で混合攪拌し溶解させた。これに、別途DMDG88g中に5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物19.7g(0.12mol)を溶解させたものを、滴下ロートより滴下した。滴下に要した時間は40分、反応液温は最大で28℃であった。
滴下終了後、湯浴により50℃に加温し18時間撹拌したのち反応液のIRスペクトルの測定を行い1385cm−1および1772cm−1のイミド基の特性吸収が現れたことを確認した。
カラム:昭和電工社製 商標名 Shodex 805/804/803直列
容離液:テトラヒドロフラン 40℃
流速:1.0ml/分
検出器:昭和電工製 商標名 Shodex RI SE−61
参考例1において、4,4’−ジフェニルエーテルジカルボン酸ジクロライド142.3g(0.48mol)の代わりに、オクタヒドロ−1H−4,7−メタノインデンジカルボン酸ジクロライド125.35g(0.48mol)を、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)−ヘキサフルオロプロパン197.8g(0.54mol)の代わりに、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)−プロパン139.45g(0.54mol)を用いた以外は、全て参考例1と同様にして、ポリベンゾオキサゾール樹脂前駆体を得た(P−2)。この樹脂のポリスチレン換算重量平均分子量は22000(Mw)であった。
容量1Lのセパラブルフラスコに2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)−ヘキサフルオロプロパン109.9g(0.3mol)、テトラヒドロフラン(THF)330g、ピリジン47.5g(0.6mol)を入れ、これに室温下で5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物98.5g(0.6mol)を粉体のまま加えた。そのまま室温で3日間撹拌反応を行ったあと、HPLCにて反応を確認したところ、原料は全く検出されず、生成物が単一ピークとして純度99%で検出された。この反応液をそのまま1Lのイオン交換水中に撹拌下で滴下し、析出物を濾別した後、これにTHF500mLを加え撹拌溶解し、この均一溶液を、陽イオン交換樹脂が充填されたガラスカラムを通し残存するピリジンを除去した。次にこの溶液を3Lのイオン交換水中に高速撹拌下で滴下することにより生成物を析出させ、これを濾別した後、真空乾燥した。
次に、該生成物65.9g(0.1mol)、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルクロライドを53.7g(0.2mol)、アセトン560g加え、20℃で撹拌溶解した。これに、トリエチルアミン21.2g(0.21mol)をアセトン106.2gで希釈したものを、30分かけて一定速度で滴下した。この際、反応液は氷水浴などを用いて20〜30℃の範囲で温度制御した。
滴下終了後、更に30分間、20℃で撹拌放置した後、36重量%濃度の塩酸水溶液5.6gを一気に投入し、次いで反応液を氷水浴で冷却し、析出した固形分を吸引濾別した。この際得られた濾液を、0.5重量%濃度の塩酸水溶液5Lに、その撹拌下で1時間かけて滴下し、目的物を析出させ、吸引濾別して回収した。得られたケーク状回収物を、再度イオン交換水5Lに分散させ、撹拌、洗浄、濾別回収し、この水洗操作を3回繰り返した。最後に得られたケーク状物を、40℃で24時間真空乾燥し、ジアゾキノン化合物(Q−1)を得た。
容量1Lのセパラブルフラスコに、4,4’−[1−[4−[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]フェニル]エチリデン]ビスフェノール(商品名Tris−P−PA−MF、本州化学工業(株)製)30.6g(0.1mol)、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニルクロライドを67.1g(0.25mol)、アセトン560gを加え、20℃で撹拌溶解した。これに、トリエチルアミン26.2g(0.26mol)をアセトン131.1gで希釈したものを、30分かけて一定速度で滴下した。この際、反応液は氷水浴などを用いて20〜30℃の範囲で温度制御した。
滴下終了後、更に30分間、20℃で撹拌放置した後、36重量%濃度の塩酸水溶液5.6gを一気に投入し、次いで反応液を氷水浴で冷却し、析出した固形分を吸引濾別した。この際得られた濾液を、0.5重量%濃度の塩酸水溶液5Lに、その撹拌下で1時間かけて滴下し、目的物を析出させ、吸引濾別して回収した。得られたケーク状回収物を、再度イオン交換水5Lに分散させ、撹拌、洗浄、濾別回収し、この水洗操作を3回繰り返した。最後に得られたケーク状物を、40℃で24時間真空乾燥し、ジアゾキノン化合物(Q−2)を得た。
容量500mlのセパラブルフラスコに3,3’,5,5’−テトラメトキシメチル−4,4’−ジヒドロキシビフェニル(商品名TMOM−BP、本州化学工業(株)製)36.2g(0.1mol)、GBL110g、ピリジン19.0g(0.24mol)を入れ、安息香酸クロリド28.1g(0.2mol)を滴下した。この際、反応液は氷水浴を用いて10〜30℃の範囲で温度制御し、2時間撹拌し反応させたあと、HPLCにて反応を確認したところ、原料は全く検出されず、生成物が単一ピークとして純度99%で検出された。この反応液をそのまま1Lのイオン交換水中に撹拌下で滴下し、析出物を濾別した後、これにGBL500mlを加え撹拌溶解し、この均一溶液を陽イオン交換樹脂と陰イオン交換樹脂とが充填されたガラスカラムを通し、残存する塩素イオンとピリジンを除去した。次にこの溶液を3Lのイオン交換水中に高速撹拌下で滴下することにより生成物を析出させ、これを濾別、真空乾燥し、アルコキシアルキル基含有化合物を得た(C−1:構造式を後述する)。
参考例5において、3,3’,5,5’−テトラメトキシメチル−4,4’−ジヒドロキシビフェニル36.2g(0.1mol)の代わりに、3,3’,5,5’−テトラヒドロキシメチル−4,4’−ジヒドロキシビフェニル(商品名TML−BP、本州化学工業(株)製)30.6g(0.1mol)を用いた以外は、全て参考例5と同様にして、メチロール基含有化合物を得た(C−2:構造式を後述する)。HPLCにて反応を確認したところ、原料は全く検出されず、生成物が単一ピークとして純度99%で検出された。
上記参考例1にて得られたヒドロキシポリアミド(P−1)100質量部に対して、上記参考例3にて得られたジアゾキノン化合物(Q−1)の20質量部、アルコキシアルキル基含有化合物として4,4’−ビス(メトキシメチル)ビフェニル2質量部を、γ−ブチロラクトン170質量部に溶解した後、0.2μmのフィルターで濾過して、感光性樹脂組成物Aを調製した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
上記参考例1にて得られたヒドロキシポリアミド(P−1)100質量部に対して、上記参考例3にて得られたジアゾキノン化合物(Q−1)の20質量部、アルコキシアルキル基含有化合物として4,4’−ビス(メトキシメチル)ビフェニル8質量部を、γ−ブチロラクトン170質量部に溶解した後、0.2μmのフィルターで濾過して、感光性樹脂組成物Bを調製した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
上記参考例1にて得られたヒドロキシポリアミド(P−1)100質量部に対して、上記参考例3にて得られたジアゾキノン化合物(Q−1)の20質量部、アルコキシアルキル基含有化合物として4,4’−ビス(メトキシメチル)ビフェニル20質量部を、γ−ブチロラクトン170質量部に溶解した後、0.2μmのフィルターで濾過して、感光性樹脂組成物Cを調製した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物を1,4−ジ(メトキシメチル)ベンゼンとした以外は、実施例2と同様にして、感光性樹脂組成物Dを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物を4,4’−ジメトキシメチルジフェニルエーテルとした以外は、実施例2と同様にして、感光性樹脂組成物Eを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物を4,4’−ジメトキシメチルジフェニルメタンとした以外は、実施例2と同様にして、感光性樹脂組成物Fを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物を4−メトキシメチルビフェニルとした以外は、実施例2と同様にして、感光性樹脂組成物Gを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物を、上述した参考例5で得られたアルコキシアルキル基含有化合物(C−1)とした以外は、実施例2と同様にして、感光性樹脂組成物Hを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
ヒドロキシポリアミド(P−1)の代わりに参考例2で得られたヒドロキシポリアミド(P−2)を用い、ジアゾキノン化合物(Q−1)の20質量部の代わりに、参考例4で得られたジアゾキノン化合物(Q−2)の14質量部を用いた以外は、実施例2と同様にして、感光性樹脂組成物Iを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
ヒドロキシポリアミド(P−1)の代わりに参考例2で得られたヒドロキシポリアミド(P−2)を用い、ジアゾキノン化合物(Q−1)の20質量部の代わりに、参考例4で得られたジアゾキノン化合物(Q−2)の14質量部を用いた以外は、実施例4と同様にして、感光性樹脂組成物Jを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物の代わりにメチロール基含有化合物DML−PTBP(本州化学工業(株)製)(構造式を後述する。)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Kを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物として、DMOM−PTBP(本州化学工業(株)製)(構造式を後述する。)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Lを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物の代わりに2,6−ジメチロール−p−クレゾールの8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Mを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物の代わりに1,4−ジベンジルアルコールの8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Nを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物の代わりに、メチロール基含有化合物TML−BP(本州化学工業(株)製)(構造式を後述する。)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Oを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物として、TMOM−BP(本州化学工業(株)製)(構造式を後述する。)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Pを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物の代わりに、参考例6で得られたメチロール基含有化合物(C−2)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Qを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物として、ジメトキシメチル尿素(商品名MX−290、三井サイテック(株)製)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Rを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物の代わりに、エポキシ基含有化合物である水添ビスフェノールAジグリシジルエーテル(商品名エポライト4000、共栄社化学(株)製)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Sを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
アルコキシアルキル基含有化合物の代わりに、ベンゾオキサジン化合物(商品名B−a型ベンゾオキサジン、四国化成工業(株)製)の8質量部とした以外は、実施例1と同様にして、感光性樹脂組成物Tを調整した。得られた感光性樹脂組成物を用いて、上述した方法によりシリコンウェハー上にレリーフパターンを作成し、キュア収縮率、組成物の感度、解像度を評価した。また、上述した方法により組成物の粘度測定を行い、保存安定性を評価した。
表2から、本発明の感光性樹脂組成物を用いることにより、保存安定性が良好で、高感度、高解像度のレリーフパターンを形成することができたことがわかる。これに対し、本発明の要件を満たすアルコキシアルキル基含有化合物を含まない比較例1〜10の組成物は良好な感度、解像度が得られない、または組成物の安定性に劣るという不具合があることがわかる。
Claims (6)
- (A)下記一般式(1)で表される構造を含むヒドロキシポリアミド100質量部、(B)下記一般式(2)で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種のアルコキシアルキル基含有化合物0.01〜30質量部、及び(C)ジアゾキノン化合物1〜100質量部を含むことを特徴とする感光性樹脂組成物。
- 上記(B)アルコキシアルキル基含有化合物が、下記一般式(3)で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種のアルコキシアルキル基含有化合物であることを特徴とする請求項1記載の感光性樹脂組成物。
- 上記(B)アルコキシアルキル基含有化合物が、下記一般式(5)で表される化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種のアルコキシアルキル基含有化合物であることを特徴とする請求項1記載の感光性樹脂組成物。
- 上記(B)アルコキシアルキル基含有化合物が、メトキシメチルビフェニル、ジメトキシメチルベンゼン、ビス(メトキシメチル)ビフェニル、ジメトキシメチルジフェニルエーテル、ジメトキシメチルジフェニルメタンからなる群より選ばれる少なくとも一種の化合物であることを特徴とする請求項1記載の感光性樹脂組成物。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の感光性樹脂組成物からなる感光性樹脂層を基板上に形成する工程、マスクを介して活性光線で露光するか、光線、電子線またはイオン線を直接照射する工程、現像する工程、得られたレリーフパターンを加熱する工程、を含むことを特徴とする、硬化レリーフパターンの製造方法。
- 請求項5に記載の製造方法により得られる硬化レリーフパターン層を有してなる半導体装置。
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