JP5109187B2 - チャージポンプ - Google Patents

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Description

この発明は、クロック信号に応じて交互に充放電するコンデンサを用いて、与えられた電圧を昇圧するチャージポンプに関する。
LSI(Large Scale Integrated circuit)の微細化に伴ない、LSIの電源電圧は低電圧化の方向にある。このため、チャージポンプでは従来よりも効率よく高電圧を発生させる必要があり、従来のチャージポンプを改良するための種々の試みが提案されている。
このような試みの1つとして、低電圧動作における昇圧電圧を確保するために、電荷転送用のNMOS(N-channel Metal Oxide Semiconductor)トランジスタのゲートを、電源電圧を2倍に昇圧した電圧で制御する方法がある(たとえば、2005−333685号公報(特許文献1)、および山添孝徳らによる非特許文献1(「プラスマイナス高電圧の発生を可能とした基板制御型チャージポンプ回路」、電子情報通信学会論文誌 C、2004年4月、第J87−C巻、第4号、p.369−376)を参照)。
また、クロスカップル型のチャージポンプを用いてチャージポンプの高効率化を図る方法も提案されている(たとえば、Changsik Yooらによる非特許文献2(「A Low-Ripple Poly-Si TFT Charge Pump for Driver-Integrated LCD Panel」、IEEE Transactions on Consumer Electronics、2005年5月、第51巻、第2号、p.606−610)を参照)。
特開2005−333685号公報 山添孝徳、外3名、「プラスマイナス高電圧の発生を可能とした基板制御型チャージポンプ回路」、電子情報通信学会論文誌 C、2004年4月、第J87−C巻、第4号、p.369−376 Changsik Yoo、外1名、「A Low-Ripple Poly-Si TFT Charge Pump for Driver-Integrated LCD Panel」、IEEE Transactions on Consumer Electronics、2005年5月、第51巻、第2号、p.606−610
ところで、マイコン製品に供給される外部電源電圧は、およそ1.8Vから5.0Vまで幅のあることが多い。マイコン製品の汎用性を高めるためには、このような広範な電圧範囲をカバーして回路動作させる必要がある。特に、近年のマイコン製品には、しばしばフラッシュメモリが混載される。このため、フラッシュメモリに用いる高電圧を発生するチャージポンプについても、このような広範囲の外部電源電圧に対応する必要がある。
しかしながら、チャージポンプを種々の大きさの外部電源電圧に対して正常に動作させることは容易でない。たとえば、チャージポンプの昇圧効率は、電源電圧がMOSトランジスタの閾値電圧に近づくほどが低下する。そこで、昇圧効率の低下を避けるため、前述のように外部電源電圧を昇圧するブースト回路を設け、昇圧された電源電圧を用いて電荷転送用トランジスタのゲート電圧を制御したとする。この場合、反対に、MOSトランジスタのゲート耐圧に近い高電圧の外部電源電圧が与えられると、ブースト回路によって昇圧された電圧がトランジスタのゲート耐圧を越えることになるので、チャージポンプが壊れてしまう。
したがって、本発明の目的は、種々の大きさの電源電圧の供給に対して、正常に動作しかつ目的の昇圧電圧を得ることができるチャージポンプを提供することである。
本発明は要約すれば、信号変換手段と複数のポンプセルとを備えるチャージポンプである。ここで、信号変換手段は、外部電源電圧と外部電源電圧以下の振幅を有する複数の外部クロック信号とを受け、複数の外部クロック信号にそれぞれ同期する複数の内部クロック信号を出力する。そして、信号変換手段は、外部電源電圧が予め定める基準電圧を超える場合に、外部電源電圧以下の複数の内部クロック信号を出力する。さらに、信号変換手段は、外部電源電圧が基準電圧を超えない場合に、外部電源電圧を昇圧した電圧を用いて、外部電源電圧より大きい振幅の複数の内部クロック信号を出力する。また、複数のポンプセルは、入力ノードと出力ノードとの間に直列に接続される。複数のポンプセルは、少なくとも複数の内部クロック信号を駆動用のクロック信号として用いることによって、入力ノードから出力ノードの方向に順々に正電荷を転送する。
本発明によれば、外部電源電圧が基準電圧より低い場合には、外部電源電圧より大きな振幅の内部クロック信号を複数のポンプセルに与える。これによって、昇圧効率の低下を防止できるので目的の昇圧電圧を確保できる。一方、外部電源電圧が基準電圧より高い場合には、外部電源電圧以下の振幅の内部クロック信号を複数のポンプセルに与えるので、MOSトランジスタのゲート電圧はゲート耐圧を超えることなく、チャージポンプは正常に動作する。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳しく説明する。なお、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して、その説明を繰り返さない。
[実施の形態1]
図1は、本発明の実施の形態1のチャージポンプ1の構成を示す回路図である。図1を参照して、チャージポンプ1は、入力ノードPinと出力ノードPoutとの間に直列に接続された複数のポンプセルCLA1〜CLA4を含む。なお、図1は、簡単のために4個のポンプセルCLA1〜CLA4の場合を図示しているが、さらに多数のポンプセルが直列接続されていてもよい。
ポンプセルCLA1〜CLA4は、互いに同一の構成を有する。第1番目のポンプセルCLA1は、第1のノードPI1と第2のノードPO1との間に接続されるNMOSトランジスタQP1、ノードPI1とトランジスタQP1のゲートとの間に接続されるNMOSトランジスタQG1、ノードPO1にその一端が接続されるコンデンサCP1、およびトランジスタQP1のゲートにその一端が接続されるコンデンサCG1とを含む。トランジスタQG1のゲートはノードPO1に接続される。また、トランジスタQP1,QG1の各ドレインは、ノードPI1に接続されるとともに各々のバックゲートに接続される。以下、互いに同一の複数個を総称するとき、または、これらの複数個のうち不特定のものを示すときに参照符号の末尾の数字を省略して記載する場合がある。
図1に示すように、第1のノードPI1は入力ノードPinに接続される。第2のノードPO1は第2番目のポンプセルCLA2の第1のノードPI2に接続される。以下同様に、第k番目(kは1〜3の整数)のポンプセルCLAkの第2のノードPOkは、第k+1番目の第1のノードPIk+1に接続される。最後の第4番目のポンプセルCLA4の第2のノードPO4は出力ノードPoutに接続される。各ポンプセルCLAは第1のノードPIを介して前段から正電荷を受け、第2のノードPOを介して後段に正電荷を出力する。こうして、チャージポンプ1は、入力ノードPinから出力ノードPoutの方向へ正電荷を順々に転送する。
チャージポンプ1は、さらに、ポンプセルCLA1〜CLA4にそれぞれ対応して設けられる信号変換手段としてのブースト回路BG1〜BG4および波形整形用のバッファ回路PDR1〜PDR4を含む。ブースト回路BG1〜BG4およびバッファ回路PDR1〜PDR4は、それぞれ互いに同一の構成を有する。各ブースト回路BGは、対応するポンプセルCLAのコンデンサCGの他端に接続される。また、各バッファ回路PDRは、対応するポンプセルCLAのコンデンサCPの他端に接続される。
チャージポンプ1には外部から、4つの外部クロック信号GCLKA,GCLKB,PCLKA,PCLKBが供給される。外部クロック信号GCLKA,GCLKB,PCLKA,PCLKBは外部電源電圧VCCを用いて生成されるので、それらの振幅はいずれも外部電源電圧VCCに等しい。
図1に示すように、外部クロック信号GCLKAは、奇数番目のポンプセルCLA1,CLA3のコンデンサCG1,CG3に接続されたブースト回路BG1,BG3に供給される。また、外部クロック信号GCLKBは、偶数番目のポンプセルCLA2,CLA4のコンデンサCG2,CG4に接続されたブースト回路BG2,BG4に供給される。外部クロック信号PCLKAは、バッファ回路PDR1,PDR3で波形整形された後、奇数番目のポンプセルCLA1,CLA3の各コンデンサCP1,CP3に供給される。外部クロック信号PCLKBは、バッファ回路PDR2,PDR4で波形整形された後、偶数番目のポンプセルCLA2,CLA4の各コンデンサCP2,CP4に供給される。
ブースト回路BGは、電源電圧VCCの低下に伴なうチャージポンプの昇圧効率の低下を防止するために設けられている。具体的には、各ブースト回路BGは、外部電源電圧VCCを予め定める基準電圧と比較する。この結果、外部電源電圧VCCが基準電圧より低い場合に、奇数番のポンプセルCLAに接続されたブースト回路BGは、入力された外部クロック信号GCLKAを外部電源電圧VCCの2倍の振幅の内部クロック信号GCLKAに変換し、振幅変換された内部クロック信号GCLKAを対応する奇数番のポンプセルCLAに出力する。同様に、外部電源電圧VCCが基準電圧より低い場合に、偶数番のポンプセルCLAに接続されたブースト回路BGは、入力された外部クロック信号GCLKBを外部電源電圧VCCの2倍の振幅の内部クロック信号GCLKBに変換し、振幅変換された内部クロック信号GCLKBを対応する偶数番のポンプセルCLAに出力する。これによって、トランジスタQPの導通時のゲート電圧が増加するので、これらのトランジスタQPの電荷転送効率を改善することができる。
一方、外部電源電圧VCCが基準電圧より大きい場合には、各ブースト回路BGは、外部電源電圧VCCに等しい振幅の内部クロック信号GCLKAまたはGCLKBを、対応のポンプセルCLAに出力する。こうして、ゲート電圧がゲート耐圧を超えないようにしてチャージポンプ1を正常動作させる。
図2は、図1のブースト回路BG1の構成の一例を示す回路図である。以下、第1番目のポンプセルCLA1に接続されるブースト回路BG1を代表として説明する。
図2を参照して、ブースト回路BG1は、外部電源電圧VCCと基準電圧とを比較する電圧比較回路10と、論理回路20と、内部電圧発生回路16と、インバータ回路17A,17Bとを含む。
電圧比較回路10は、外部電源電圧VCCと予め定める基準電圧とを比較して、外部電源電圧VCCが基準電圧より大きい場合にハイレベルの信号を出力する回路である。以下、電圧比較回路10の構成の一例を、図3を参照して説明する。
図3は、図2の電圧比較回路10の構成の一例を示す回路図である。図3の電圧比較回路10は、直列接続された抵抗素子11.1〜11.6(総称する場合または不特定のものを示す場合は抵抗素子11とも称する)と、NMOSトランジスタ12と、コンパレータ13とを含む。
直列接続された抵抗素子11の一端には外部電源電圧VCCが印加され、他端はトランジスタ12のドレインに接続される。トランジスタ12のソースは接地され、ゲートにはバイアス電圧Irefが与えられる。トランジスタ12は、ゲート・ソース間のバイアス電圧Irefによって決まる一定の電流I1を流す電流源として用いられる。定電流源としてのトランジスタ12を設けることによって、抵抗素子11の抵抗値を小さくしても抵抗素子11を流れる電流が増加しないというメリットがある。
コンパレータ13の非反転入力端子は、抵抗素子11.4および11.5の接続ノードに接続され、反転入力端子には一定の電圧VREFが入力される。ここで、各抵抗素子11の抵抗値をRとすると、コンパレータ13は、非反転入力端子の入力電圧(VCC−4×R×I1)が反転入力端子の入力電圧(VREF)より大きい場合にハイレベルの信号VPPSELを出力する。逆に、VCC−4×R×I1がVREFより小さい場合に、コンパレータ13は、ローレベルの信号VPPSELを出力する。したがって、前述の基準電圧はVREF+4×R×I1であり、電圧比較回路10は、外部電源電圧(VCC)が基準電圧(VREF+4×R×I1)より大きい場合にハイレベルの信号VPPSELを出力する。
再び図2を参照して、論理回路20は、外部クロック信号GCLKAの論理レベルを反転させた後、電圧比較回路10の出力信号VPPSELとの論理和(OR)をとってノードND3に出力する。したがって、論理回路20は、電圧比較回路10の出力信号VPPSELがローレベルの場合は、外部クロック信号GCLKAの論理レベルを反転させて出力し、電圧比較回路10の出力信号VPPSELがハイレベルの場合は、ハイレベルの一定の電圧を出力する。
内部電圧発生回路16は、論理回路20の出力(ノードND3の電圧)に応じて、ノードND1に入力される外部電源電圧VCCに等しい電圧または外部電源電圧VCCを2倍に昇圧した電圧をノードND2に出力する。内部電圧発生回路16は、PMOS(P-channel Metal Oxide Semiconductor)トランジスタ21〜23と、NMOSトランジスタ25,26と、コンデンサ28とを含む。まず、これらの接続について説明する。
トランジスタ21は、ノードND1とノードND2との間に接続される。トランジスタ21のゲートとノードND2との間にトランジスタ22が設けられる。さらに、トランジスタ21のゲートと接地ノードGNDとの間にトランジスタ25が接続される。トランジスタ21,22のバックゲートはノードND2に接続される。
ノードND1と接地ノードGNDとの間には、トランジスタ23,26が直列に接続される。トランジスタ23および26の接続ノードとノードND2との間にコンデンサ28が設けられる。
トランジスタ22,23,25,26のゲートは、ノードND3に接続される。したがって、これらのトランジスタ22,23,25,26のオン/オフは、論理回路20の出力によって制御される。
次に、内部電圧発生回路16の動作について説明する。まず、外部電源電圧VCCが基準電圧(前述のVREF+4×R×I1に対応する)よりも大きい場合は、ノードND3の電圧はハイレベルになる。この場合、トランジスタ25がオン状態になるので、トランジスタ21のゲート電圧はローレベルとなり、トランジスタ21が導通する。これによって、ノードND2の電圧は外部電源電圧VCCに等しくなる。さらに、トランジスタ22,23,26がそれぞれオフ、オフ、オンの状態になるので、コンデンサ28は外部電源と並列接続されることになり、コンデンサ28は外部電源電圧VCCまで充電される。
一方、外部電源電圧VCCが基準電圧より小さい場合は、ノードND3の電圧は、外部クロック信号GCLKAを反転させた論理レベルになり、ハイレベル(VCC)とローレベル(0)との間を変化する。ノードND3の電圧がハイレベル(外部クロック信号GCLKAがローレベル)の場合は、前述のとおり、ノードND2の電圧は外部電源電圧VCCに等しく、コンデンサ28は外部電源電圧VCCまで充電される。これに対して、ノードND3の電圧がローレベル(外部クロック信号GCLKAがハイレベル)の場合は、トランジスタ22,25がそれぞれオン、オフの状態になるので、トランジスタ21のゲート電圧がハイレベルとなり、トランジスタ21は非導通になる。さらに、トランジスタ23,26がそれぞれオン、オフの状態になるので、ノードND1およびND2の間がコンデンサ28によって接続される。この結果、コンデンサ28と外部電源とが直列に接続されることになるので、ノードND2の電圧は、外部電源電圧VCCにコンデンサ28の電圧が加算された値である2VCCに等しくなる。
インバータ回路17Aは、ノードND2と接地ノードGNDとの間に直列に接続されたPMOSトランジスタ24AおよびNMOSトランジスタ27Aとを含むCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)インバータ回路である。また、インバータ回路17Bは、ノードND2と接地ノードGNDとの間に直列に接続されたPMOSトランジスタ24BおよびNMOSトランジスタ27Bとを含むCMOSインバータ回路である。トランジスタ24A,27Aのゲートには、外部クロック信号GCLKAが入力される。トランジスタ24Aおよび27Aの接続ノードは、トランジスタ24B,27Bのゲートに接続される。トランジスタ24Bおよび27Bの接続ノードは、ブースト回路BG1の出力ノードGOUT1に接続される。
このようにインバータ回路17A,17Bは直列に接続され、いずれも内部電圧発生回路16の出力電圧(ノードND2の電圧)によって駆動される。インバータ回路17Aには外部クロック信号GCLKAが入力され、インバータ回路17Bから内部クロック信号GCLKAが出力される。このため、内部クロック信号GCLKAは、外部クロック信号GCLKAと同位相であり、ノードND2の電圧に等しい振幅を有する。
したがって、外部電源電圧VCCが基準電圧より大きい場合には、ノードND2の電圧は外部電源電圧VCCに等しいので、ブースト回路BG1は、外部電源電圧VCCに等しい振幅の内部クロック信号GCLKAを出力する。一方、外部電源電圧VCCが基準電圧より小さい場合には、ノードND2の電圧は、外部クロック信号GCLKAがハイレベル(VCC)のとき2VCCまで上昇し、外部クロック信号GCLKAがローレベル(0)のときVCCとなる。この結果、ブースト回路BG1は、外部電源電圧VCCの2倍に等しい振幅に変換された内部クロック信号GCLKAを出力する。
なお、ブースト回路BG1から出力される内部クロック信号GCLKAの振幅は、内部電圧発生回路16の構成を変更することによって変更することができる。たとえば、図2の内部電圧発生回路16を2段直列に接続すれば、出力される内部クロック信号の振幅は3VCCになる。
図4は、図1のチャージポンプ1の各部の電圧波形を示すタイミング図である。図4は、上から順に、外部クロック信号GCLKA、ブースト回路BG1の出力ノードGOUT1、トランジスタQP1のゲート(ノードGA1)、外部クロック信号PCLKA、外部クロック信号GCLKB、外部クロック信号PCLKB、ポンプセルCLA1のノードPO1(ポンプセルCLA2のノードPI2)の各電圧波形を示す。図4の横軸は時間である。
図4に示すように、外部クロック信号GCLKAと外部クロック信号PCLKAとは互いに逆位相の関係にあり、外部クロック信号GCLKBと外部クロック信号PCLKBとは互いに逆位相の関係にある。さらに、外部クロック信号PCLKAと外部クロック信号GCLKBとは同周期であり、外部クロック信号GCLKAが立上がった後に外部クロック信号GCLKBが立上がり、外部クロック信号PCLKAが立下がる前に外部クロック信号GCLKBが立下がる。ここで、本実施の形態1では、外部クロック信号GCLKAと内部クロック信号GCLKAとが同位相であり、外部クロック信号GCLKBと内部クロック信号GCLKBとが同位相である。したがって、上述の外部クロック信号についての位相関係は、内部クロック信号についての位相関係にもあてはまる。
以下、図1、図4を参照して、チャージポンプ1の動作について説明する。以下の説明では、外部電源電圧VCCが基準電圧より低いために、ブースト回路BGの出力の振幅が2VCCまで昇圧されているとする。
時刻t1以前には、外部クロック信号PCLKAがハイレベル(VCC)であるので、コンデンサCP1の一端にはハイレベルの電圧VCCが印加されている。このため、ノードPO1の電位がVCC以上に上昇するので、トランジスタQG1が導通する。これによって、コンデンサCG1が充電され、ノードGA1の電位がVCCになる。
時刻t1で、外部クロック信号PCLKAがローレベル(0)になると、ノードPO1の電圧は、0V近くまで低下する。一方、時刻t1で、外部クロック信号GCLKAはローレベル(0)からハイレベル(VCC)に変化するので、ブースト回路BG1の出力ノードGOUT1の電圧は2VCCになる。この結果、トランジスタQP1のゲート(ノードGA1)の電圧は、GOUT1の電圧2VCCにコンデンサCG1の充電電圧VCCが加算された3VCCまで上昇する。これによって、トランジスタQP1が導通するので、時刻t1〜t2の間で、トランジスタQP1を介して転送された正電荷によってコンデンサCP1が充電され、ノードPO1の電圧は外部電源電圧VCC近くまで上昇する。
次の時刻t2で、外部クロック信号GCLKAがハイレベル(VCC)からローレベル(0)に変化するので、ノードGA1の電圧はVCCに戻る。さらに、外部クロック信号PCLKAがローレベル(0)からハイレベル(VCC)に変化するので、ノードPO1の電圧は、外部クロック信号PCLKAの電圧にコンデンサの充電電圧が加算された2VCC近くまで上昇する。この結果、トランジスタQP1は非導通になる。
さらに、時刻t2〜t3の間は、外部クロック信号GCLKBがローレベル(0)であり、外部クロック信号PCLKBがハイレベル(VCC)である。この結果、ポンプセルCLA2のトランジスタQG2が導通し、コンデンサCG2が充電され、ノードGA2の電位がVCCになる。
次の時刻t3で、外部クロック信号GCLKBがハイレベル(VCC)に変化し、外部クロック信号PCLKBがローレベル(0)に変化する。この結果、ブースト回路BG2の出力ノードGOUT2の電圧は2VCCになり、トランジスタQP2のゲート(ノードGA2)の電圧は、コンデンサCG2の充電電圧VCCが加算されて3VCCまで上昇する。これによって、ポンプセルCLA2のトランジスタQP2が導通するので、コンデンサCP1に蓄積された電荷がトランジスタQP2を介してポンプセルCLA2のコンデンサCP2に転送される。
次の時刻t4で、外部クロック信号GCLKBがローレベル(0)に戻り、外部クロック信号PCLKBがハイレベル(VCC)に戻るので、トランジスタQP2を介した電荷転送が終了する。次の時刻t5以降、前述の時刻t1以降の過程が繰返されることによって、入力ノードPinから出力ノードPoutの方向へ正電荷が順々に転送される。
ここで、比較のために、ブースト回路BGが用いられていない場合について述べる。この場合、時刻t1〜t2におけるトランジスタQP1のゲート(ノードGA1)の電圧は2VCCであり、時刻t3〜t4におけるトランジスタQP2のゲート(ノードGA2)の電圧は2VCCである。このようにトランジスタQPのゲートの電圧は、ブースト回路BGが用いられている場合の3VCCより低くなる。したがって、トランジスタのQPの閾値電圧に近い低電源電圧VCCでチャージポンプ1を動作させるときには、本実施の形態1の場合に比べると、チャネルを流れる電流が減少する。この結果、たとえば、図3の破線30で示すように、トランジスタQP2の導通時におけるノードPO1(ノードPI2)の電圧変化率が小さくなる。
次に、図5を参照して、ブースト回路BGの効果についてさらに説明する。
図5は、チャージポンプの電流効率と動作電圧との関係を示す図である。図5の縦軸は、チャージポンプに入力される総電流に対するチャージポンプの出力電流(単位時間当たりの電荷の転送量)の割合(電流効率)を表わす。横軸は、動作電圧(電源電圧VCC)を表わす。チャージポンプに供給される外部クロック信号GCLKA,GCLKB,PCLKA,PCLKBの振幅は電源電圧VCCである。
図5を参照して、実施の形態1のチャージポンプ1の場合を実線33で示す。一方、ブースト回路BGを設けていない第1の比較例を一転鎖線31で示す。また、全動作電圧範囲で、2倍ブースト回路によって昇圧された電圧でトランジスタQPのゲートを制御している第2の比較例を二点鎖線32で示す。
第2の比較例32の場合、電源電圧VCCが高電圧の領域(図5の破線32A)では、トランジスタQPおよびブースト回路に用いられるMOSトランジスタのゲート電圧が耐圧を越える。たとえば、トランジスタのゲート耐圧を6Vとした場合に2倍ブースト回路を用いると、3V以上の電圧でゲート電圧が耐圧を越えることになる。したがって、第2の比較例32では、マイコン製品で必要な電圧範囲をカバーできない。
一方、第1の比較例31の場合、図5の高電圧領域で使用可能でもある。しかしながら、動作電圧が低下するにつれて、第2の比較例31に比べると急激に電流効率が低下する。したがって、第1の比較例31では、最終的に昇圧された電圧が目的の値に到達しないことになる。
これに対して、実施の形態1のチャージポンプ1の場合33では、基準電圧Vc以下の電源電圧VCCが与えられたとき、外部クロック信号GCLKA,GCLKBが、振幅が2倍(2VCC)の内部クロック信号GCLKA,GCLKBに変換される。したがって、第2の比較例32に等しい電流効率が得られ、ブースト回路BGを用いない第1の比較例31と比べると、より低い電源電圧VCCでも動作可能である。
一方、基準電圧Vc以上の電源電圧VCCが与えられたとき、内部クロック信号GCLKA,GCLKBの振幅は電源電圧VCCに等しい。したがって、第1の比較例31に等しい電流効率が得られ、高電圧の領域でも正常に使用可能である。なお、この場合、ブースト回路BGによる昇圧動作が止まるので、基準電圧Vc以下の場合に比べて電流効率が増加している。
以上のとおり、実施の形態1のチャージポンプ1によれば、外部電源の電圧VCCが基準電圧Vcより低い場合には、外部電源の電圧VCCの2倍の振幅の内部クロック信号GCLKA,GCLKBがポンプセルCLAに与えられる。これによって、トランジスタQPの転送効率の低下が防止されるので、目的の昇圧電圧を確保できる。一方、外部電源の電圧VCCが基準電圧Vcより高い場合には、外部電源の電圧VCCに等しい振幅の内部クロック信号をGCLKA,GCLKBがポンプセルCLAに与えられることになる。したがって、トランジスタQPのゲート電圧およびブースト回路BGのMOSトランジスタのゲート電圧が耐圧を超えることなく、チャージポンプ1は正常に動作する。このように、実施の形態1のチャージポンプ1は、種々の電源電圧で動作可能であり、マイコン製品に搭載される不揮発性メモリ用のチャージポンプとして好適に使用することができる。
[実施の形態2]
図6は、本発明の実施の形態2のチャージポンプ2の構成を示す回路図である。
図6を参照して、実施の形態2のチャージポンプ2は、図1のブースト回路BG1〜BG4を波形整形用のバッファ回路GDR1〜GDR4にそれぞれ置換え、図1のバッファ回路PDR1〜PRD4をブースト回路BP1〜BP4にそれぞれ置換えたものに等しい。すなわち、実施の形態2のチャージポンプ2には、外部クロック信号GCLKA,GCLKBを振幅変換するためのブースト回路BG1〜BG4に代えて、外部クロック信号PCLKA,PCLKBを振幅変換するためのブースト回路BP1〜BP4が設けられている。
ブースト回路BP1〜BP4は、互いに同一の構成を有し、ポンプセルCLA1〜CLA4にそれぞれ対応して設けられる。各ブースト回路BPは、対応するポンプセルCLAのコンデンサCPに接続される。また、各バッファ回路GDRは、対応するポンプセルCLAのコンデンサCGに接続される。
ブースト回路BPは、実施の形態1のブースト回路BPと同様に、外部電源電圧VCCを予め定める基準電圧と比較する。このとき、外部電源電圧VCCが基準電圧より低い場合には、奇数番のポンプセルCLAに接続されたブースト回路BPは、入力された外部クロック信号PCLKAを外部電源電圧VCCの2倍の振幅の内部クロック信号PCLKAに変換し、振幅変換された内部クロック信号PCLKAを対応する奇数番のポンプセルCLAに出力する。同様に、外部電源電圧VCCが基準電圧より低い場合に、偶数番のポンプセルCLAに接続されたブースト回路BPは、入力された外部クロック信号PCLKBを外部電源電圧VCCの2倍の振幅の内部クロック信号PCLKBに変換し、振幅変換された内部クロック信号PCLKBを対応する偶数番のポンプセルCLAに出力する。これによって、トランジスタQGのゲート電圧が増加するので、トランジスタQGの導通時のドレイン電流を増加させることができる。さらに、ノードPOをポンプアップする電圧が2VCCに増加するので、トランジスタQPの電荷転送効率も改善することができる。
一方、外部電源電圧VCCが基準電圧より大きい場合には、各ブースト回路BPは、外部電源電圧VCCに等しい振幅の内部クロック信号PCLKAまたはPCLKBを対応するポンプセルCLAに出力することになる。したがって、トランジスタQGのゲート電圧およびブースト回路BPのMOSトランジスタのゲート電圧が耐圧を超えることなく、チャージポンプ1は正常に動作する。
ブースト回路BPの具体的な構成は、図2、図3に示したブースト回路BGと同様であるので説明を繰返さない。また、上述したブースト回路BPおよびバッファ回路GDR以外のチャージポンプ2の各構成は、図1のチャージポンプ1の構成と同一であるので、共通する部分については同一の参照符号を付して説明を繰返さない。
[実施の形態3]
図7は、本発明の実施の形態3のチャージポンプ3の構成を示す回路図である。図7を参照して、実施の形態3のチャージポンプ3は、図1のバッファ回路PDR1〜PRD4をブースト回路BP1〜BP4にそれぞれ置換えたものに等しい。すなわち、チャージポンプ3には、図1のブースト回路BG1〜BG4と図6のブースト回路BP1〜BP4の両方が設けられている。したがって、チャージポンプ3は、実施の形態1のチャージポンプ1および実施の形態2のチャージポンプ2の両方の作用効果を奏する。このため、低電源電圧におけるトランジスタQPの電荷転送効率がさらに向上する。なお、図7のチャージポンプ3のその他の構成については、実施の形態1,2のチャージポンプ1,2と同様であるので、説明を繰返さない。
[実施の形態4]
図8は、本発明の実施の形態4のチャージポンプ4の構成を示す回路図である。
図8を参照して、チャージポンプ4では、図7の奇数番のポンプセルCLA1,CLA3のコンデンサCP1,CP3に個別に接続されるブースト回路BP1,BP3が、1個のブースト回路BPAで置換えられる。ブースト回路BPAは、外部クロック信号PCLKAを受けて、電源電圧VCCに応じた振幅の内部クロック信号PCLKAを生成し、奇数番目のポンプセルCLA1,CLA3のコンデンサCP1,CP3に出力する。
同様に、チャージポンプ4では、図7の偶数番のポンプセルCLA2,CLA4のコンデンサCP2,CP4に個別に接続されるブースト回路BP2,BP4が、1個のブースト回路BPBで置換えられる。ブースト回路BPBは、外部クロック信号PCLKBを受けて、電源電圧VCCに応じた振幅の内部クロック信号PCLKBを生成し、偶数番目のポンプセルCLA2,CLA4のコンデンサCP2,CP4に出力する。
また同様に、チャージポンプ4では、図7の奇数番のポンプセルCLA1,CLA3のコンデンサCG1,CG3に個別に接続されるブースト回路BG1,BG3が、1個のブースト回路BGAで置換えられる。ブースト回路BGAは、外部クロック信号GCLKAを受けて、電源電圧VCCに応じた振幅の内部クロック信号GCLKAを生成し、奇数番目の各ポンプセルCLA1,CLA3のコンデンサCG1,CG3に出力する。
また同様に、チャージポンプ4は、図7の偶数番のポンプセルCLA2,CLA4のコンデンサCG2,CG4に個別に接続されるブースト回路BG2,BG4が、1個のブースト回路BGBで置換えられる。すなわち、ブースト回路BGBは、外部クロック信号GCLKBを受けて、電源電圧VCCに応じた振幅の内部クロック信号GCLKBを生成し、偶数番目の各ポンプセルCLA2,CLA4のコンデンサCG2,CG4に出力する。
このように、チャージポンプ4は、外部クロック信号GCLKA,GCLKB,PCLKA,PCLKBに対して1個ずつのブースト回路BGA,BGB,BPA,BPBを含む。このような場合にも、実施の形態3のチャージポンプ3と同様の作用効果を奏する。なお、ブースト回路BPA,BPB,BGB,BGAの具体的な構成の例は、図2、図3に示すブースト回路BG1と同様であるので説明を繰返さない。
[実施の形態5]
図9は、本発明の実施の形態5のチャージポンプ5の構成を示す回路図である。図9のチャージポンプ5は、マイナス電圧の昇圧を行なう例を示すものである。
図9を参照して、チャージポンプ5は、図7のチャージポンプ3の出力ノードPoutを、NMOSトランジスタQZを介して接地することによって、入力ノードPinから昇圧されたマイナス電圧を取り出すものである。トランジスタQZのゲートとドレインとバックゲートとは出力ノードPoutに接続される。
図7のチャージポンプ3では、入力ノードPinから出力ノードPoutに正電荷を転送する。この結果、出力ノードPoutの電位が入力ノードPinの電位よりも高くなる。同様の正電荷の転送が、図9のチャージポンプ5においても生じる。図9では、出力ノードPoutがダイオード接続されたトランジスタQZを介して接地されているので、出力ノードPoutの電位が0V近傍に制限される。この結果、入力ノードPinの電位がマイナス電圧に昇圧されることになる。このような、マイナス電圧の昇圧の場合にも実施の形態3のチャージポンプ3と同様の作用効果を奏する。
[実施の形態6]
図10は、本発明の実施の形態6のチャージポンプ6の構成を示す回路図である。図10は、クロスカップル型のチャージポンプに本発明のブースト回路を適用したものである。
図10を参照して、チャージポンプ6は、入力ノードPinと出力ノードPoutとの間に直列に接続される複数のポンプセルCLB1〜CLB4を含む。なお、図10は、簡単のために4個のポンプセルCLB1〜CLB4の場合を図示しているが、さらに多数のポンプセルが直列接続されていてもよい。
ポンプセルCLB1〜CLB4は同一の構成を有する。代表として、第1番目のポンプセルCLB1の構成を説明する。ポンプセルCLB1は、NMOSトランジスタRA1,RB1、PMOSトランジスタQA1,QB1、およびコンデンサCA1,CB1を含む。ここで、トランジスタRA1は、第1のノードPI1とノードPA1との間に接続される。トランジスタQA1は、ノードPA1と第2のノードPO1との間に接続される。トランジスタRB1は、第1のノードPI1とノードPB1との間に接続される。トランジスタQB1は、ノードPB1と第2のノードPO1との間に接続される。コンデンサCA1の一端は、ノードPA1、トランジスタRB1のゲート、およびトランジスタQB1のゲートに接続される。コンデンサCB1の一端は、ノードPB1、トランジスタRA1のゲート、およびトランジスタQA1のゲートに接続される。
チャージポンプ6は、さらに、ポンプセルCLB1〜CLB4のコンデンサCA1〜CA4の他端にそれぞれ接続されるブースト回路BA1〜BA4を含む。各ブースト回路BAには、チャージポンプ6の外部から外部クロック信号CLKAが供給される。
また、チャージポンプ6は、さらに、ポンプセルCLB1〜CLB4のコンデンサCB1〜CB4の他端にそれぞれ接続されるブースト回路BB1〜BB4を含む。各ブースト回路BBには、チャージポンプ6の外部から外部クロック信号CLKBが供給される。外部クロック信号CLKBは、外部クロック信号CLKAと逆位相である。
ブースト回路BA1〜BA4およびブースト回路BB1〜BB4は、互いに同一の構成を有する。ブースト回路BA,BBは、実施の形態1のブースト回路BP,BGと同様に、外部電源電圧VCCを予め定める基準電圧と比較する。このとき、外部電源電圧VCCが基準電圧より低い場合には、ブースト回路BAは、入力された外部クロック信号CLKAを外部電源電圧VCCの2倍の振幅の内部クロック信号CLKAにそれぞれ変換し、振幅変換された内部クロック信号CLKAを対応のポンプセルCLBのコンデンサCAに出力する。同様に、外部電源電圧VCCが基準電圧より低い場合に、ブースト回路BBは、入力された外部クロック信号CLKBを外部電源電圧VCCの2倍の振幅の内部クロック信号CLKBに変換し、振幅変換された内部クロック信号CLKBを対応のポンプセルCLBのコンデンサCBに出力する。これによって、トランジスタRA,RB,QA,QBの導通時のゲート電圧が増加するので、これらのトランジスタRA,RB,QA,QBの電荷転送効率を改善することができる。
一方、外部電源電圧VCCが基準電圧より大きい場合には、各ブースト回路BA,BBは、外部電源電圧VCCに等しい振幅の内部クロック信号CLKA,CLKBを対応するポンプセルCLBのコンデンサCA,CBにそれぞれ出力することになる。したがって、トランジスタRA,RB,QA,QBのゲート電圧およびブースト回路BA,BBを構成するMOSトランジスタのゲート電圧が耐圧を超えることなく、チャージポンプ6は正常に動作する。
なお、ブースト回路BA,BBの具体的な構成例は、図2、図3に示したブースト回路BGと同様であるので説明を繰返さない。
図11は、図10のチャージポンプ6の各部の電圧波形を示すタイミング図である。図11は、上から順に、外部クロック信号CLKA、外部クロック信号CLKB、ノードPA1,PB1、および1番目のポンプセルCLBの第2のノードPO1の各電圧波形を示す。図11の横軸は時間である。
図11に示すように、外部クロック信号CLKAと外部クロック信号CLKBとは、互いに逆位相の関係にある。ここで、本実施の形態6では、外部クロック信号CLKAと内部クロック信号CLKAとが互いに同位相であり、外部クロック信号CLKBと内部クロック信号CLKBとが互いに同位相である。したがって、内部クロック信号CLKAと内部クロック信号CLKBとについても、互いに逆位相の関係にある。
以下、図10、図11を参照して、チャージポンプ6の動作について説明する。以下の説明では、外部電源電圧VCCが基準電圧より低いために、ブースト回路BA,BBの出力の振幅が2VCCまで昇圧されているとする。
時刻t1には、外部クロック信号CLKAがローレベル(0)からハイレベル(VCC)に変化し、外部クロック信号CLKBがハイレベル(VCC)からローレベル(0)に変化する。これによって、ポンプセルCLB1のトランジスタQA1、RB1が導通し、トランジスタQB1,RA1が非導通になる。この結果、時刻t1〜t2の間に、コンデンサCA1に蓄積された正電荷がトランジスタQA1を介してポンプセルCLB2に転送され、ノードPA1の電位は減少する。また、コンデンサCB1には、トランジスタRB1を介して正電荷が蓄積され、ノードPB1の電位は増加する。
次の時刻t2には、外部クロック信号CLKAがハイレベル(VCC)からローレベル(0)に変化し、外部クロック信号CLKBがローレベル(0)からハイレベル(VCC)に変化する。これによって、ポンプセルCLB1のトランジスタQA1、RB1が非導通になり、トランジスタQB1,RA1が導通する。この結果、時刻t2〜t3の間に、コンデンサCB1に蓄積された正電荷がトランジスタQB1を介してポンプセルCLB2に転送され、ノードPB1の電位は減少する。また、コンデンサCA1には、トランジスタRA1を介して正電荷が蓄積され、ノードPA1の電位は増加する。次の時刻t3以降、前述の時刻t1以降の過程が繰返されることによって、入力ノードPinから出力ノードPoutの方向へ正電荷が順々に転送される。
このように、チャージポンプ6は、コンデンサCAおよびCBのうちの一方へ、前段から転送された電荷を蓄積するのと同時に、他方から電荷を放電させて次段へ電荷転送を行なう。したがって、チャージポンプ6はポンプ効率が優れており、実施の形態3のチャージポンプ3に比べると、同等の回路面積で2倍の出力電流を得ることができる。さらに、2倍ブースト回路BA,BBを用いることによって、外部電源電圧VCCがMOSトランジスタの閾値電圧に近い場合でも、電荷転送用トランジスタRA,RB,QA,QBの転送効率の低下を防止することができる。逆に、電源電圧VCCが予め定める基準電圧を超える高電圧の場合には、外部クロック信号CLKA,CLKBの振幅の2倍変換を行なわないので、MOSトランジスタのゲート電圧が耐圧を超えることなく、チャージポンプ6は正常に動作する。
[実施の形態7]
図12は、本発明の実施の形態7のチャージポンプ7の構成を示す回路図である。
図12を参照して、チャージポンプ7では、図10の各ポンプセルCLBのコンデンサCAに個別に接続されるブースト回路BA1〜4が、1個のブースト回路BA0で置換えられる。ブースト回路BA0は、外部クロック信号CLKAを受けて、電源電圧VCCに応じた振幅の内部クロック信号CLKAを各ポンプセルCLBのコンデンサCAに出力する。
同様に、チャージポンプ7では、図10の各ポンプセルCLBのコンデンサCBに個別に接続されるブースト回路BB1〜BB4が、1個のブースト回路BB0で置換えられる。ブースト回路BB0は、外部クロック信号CLKBを受けて、電源電圧VCCに応じた振幅の内部クロック信号CLKBを各ポンプセルCLBのコンデンサCBに出力する。
このように、チャージポンプ7は、外部クロック信号CLKA,CLKBにそれぞれ対応するブースト回路BA0,BB0を含む。このような場合にも、実施の形態6のチャージポンプ6と同様の作用効果を奏する。なお、ブースト回路BA0,BB0の具体的な構成例は、図2、図3に示すブースト回路BG1と同様であるので説明を繰返さない。
[実施の形態8]
図13は、本発明の実施の形態8のチャージポンプ8の構成を示す回路図である。図13のチャージポンプ8は、マイナス電圧の昇圧を行なう例を示すものである。
図13を参照して、チャージポンプ8は、図10のチャージポンプ6の出力ノードPoutを接地することによって、入力ノードPinから昇圧されたマイナス電圧を取り出すものである。図10のチャージポンプ6では、入力ノードPinから出力ノードPoutに正電荷を転送する。この結果、出力ノードPoutの電位が入力ノードPinの電位よりも高くなる。同様の正電荷の転送が、図13のチャージポンプ8においても行なわれる。図13では、出力ノードPoutが接地されているので、出力ノードPoutの電位が0に固定される。この結果、入力ノードPinの電位がマイナス電圧に昇圧されることになる。このような、マイナス電圧の昇圧の場合にも実施の形態6のチャージポンプ6と同様の作用効果を奏する。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものでないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
本発明の実施の形態1のチャージポンプ1の構成を示す回路図である。 図1のブースト回路BG1の構成の一例を示す回路図である。 図2の電圧比較回路10の構成の一例を示す回路図である。 図1のチャージポンプ1の各部の電圧波形を示すタイミング図である。 チャージポンプの電流効率と動作電圧との関係を示す図である。 本発明の実施の形態2のチャージポンプ2の構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態3のチャージポンプ3の構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態4のチャージポンプ4の構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態5のチャージポンプ5の構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態6のチャージポンプ6の構成を示す回路図である。 図10のチャージポンプ6の各部の電圧波形を示すタイミング図である。 本発明の実施の形態7のチャージポンプ7の構成を示す回路図である。 本発明の実施の形態8のチャージポンプ8の構成を示す回路図である。
符号の説明
1〜8 チャージポンプ、10 電圧比較回路、13 コンパレータ、16 内部電圧発生回路、17A,17B インバータ回路、20 論理回路、BA,BB,BG,BP ブースト回路、BGA,BGB,BPA,BPB ブースト回路、CA,CB,CG,CP コンデンサ、CLA,CLB ポンプセル、CLKA,CLKB 外部クロック信号(内部クロック信号)、GCLKA,GCLKB 外部クロック信号(内部クロック信号)、PCLKA,PCLKB 外部クロック信号(内部クロック信号)、PI 第1のノード、PO 第2のノード、Pin 入力ノード、Pout 出力ノード、QA,QB PMOSトランジスタ、RA,RB NMOSトランジスタ、QG,QP NMOSトランジスタ、VCC 外部電源電圧。

Claims (12)

  1. 外部電源電圧と前記外部電源電圧以下の振幅を有する複数の外部クロック信号とを受け、前記複数の外部クロック信号にそれぞれ同期する複数の内部クロック信号を出力する信号変換手段を備え、
    前記信号変換手段は、前記外部電源電圧が予め定める基準電圧を超える場合に、前記外部電源電圧以下の前記複数の内部クロック信号を出力し、
    前記信号変換手段は、前記外部電源電圧が前記基準電圧を超えない場合に、前記外部電源電圧を昇圧した電圧を用いて、前記外部電源電圧より大きい振幅の前記複数の内部クロック信号を出力し、
    入力ノードと出力ノードとの間に直列に接続され、少なくとも前記複数の内部クロック信号を駆動用のクロック信号として用いることによって、前記入力ノードから前記出力ノードの方向に順々に正電荷を転送する複数のポンプセルをさらに備える、チャージポンプ。
  2. 前記信号変換手段は、前記複数の外部クロック信号として第1および第2の外部クロック信号を受け、前記複数の内部クロック信号として前記第1および第2の外部クロック信号にそれぞれ同期する第1および第2の内部クロック信号を出力し、
    前記複数のポンプセルは、外部から駆動用のクロック信号として第3および第4の外部クロック信号をさらに受けて、前記第1および第2の内部クロック信号ならびに前記第3および第4の外部クロック信号を用いることによって前記入力ノードから前記出力ノードの方向に順々に正電荷を転送し、
    前記第1の内部クロック信号は、前記第3の外部クロック信号と逆位相であり、
    前記第2の内部クロック信号は、前記第4の外部クロック信号と逆位相であり、
    前記第1の内部クロック信号は、前記第4の外部クロック信号と同周期であり、前記第4の外部クロック信号が立上がる前に立上がり、前記第4の外部クロック信号が立下がった後に立下がり、
    前記複数のポンプセルの各々は、
    前段から正電荷を受けるための第1のノードと、
    後段に正電荷を出力するための第2のノードと、
    前記第1および第2のノード間に接続されるNチャネルの第1のMOSトランジスタと、
    前記第2のノードの電位に従って、前記第1のノードと前記第1のMOSトランジスタのゲートとの間の経路を開閉するNチャネルの第2のMOSトランジスタと、
    前記第2のノードに一端が接続される第1の容量素子と、
    前記第1のMOSトランジスタのゲートに一端が接続される第2の容量素子とを含み、
    奇数番のポンプセルの前記第1の容量素子の他端には前記第1の内部クロック信号が供給され、
    偶数番のポンプセルの前記第1の容量素子の他端には前記第2の内部クロック信号が供給され、
    奇数番のポンプセルの前記第2の容量素子の他端には前記第3の外部クロック信号が供給され、
    偶数番のポンプセルの前記第2の容量素子の他端には前記第4の外部クロック信号が供給される、請求項1に記載のチャージポンプ。
  3. 前記信号変換手段は、
    奇数番のポンプセルの前記第1の容量素子に個別に接続される1または複数の第1のブースト回路と、
    偶数番のポンプセルの前記第1の容量素子に個別に接続される1または複数の第2のブースト回路とを含み、
    前記1または複数の第1のブースト回路および前記1または複数の第2のブースト回路の各々は、
    前記外部電源電圧と前記基準電圧とを比較し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越える場合に第1の論理レベルの電圧を出力し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越えない場合に第2の論理レベルの電圧を出力するコンパレータと、
    前記コンパレータの出力電圧が前記第1の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を内部電圧として出力し、前記コンパレータの出力電圧が前記第2の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を昇圧した電圧を前記内部電圧として出力する内部電圧発生回路と、
    前記内部電圧によって駆動される1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路とを含み、
    前記1または複数の第1のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第1の外部クロック信号を受けて前記第1の内部クロック信号を出力し、
    前記1または複数の第2のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第2の外部クロック信号を受けて前記第2の内部クロック信号を出力する、請求項2に記載のチャージポンプ。
  4. 前記複数のポンプセルは、外部から駆動用のクロック信号として第1および第2の外部クロック信号をさらに受け、
    前記信号変換手段は、前記複数の外部クロック信号として第3および第4の外部クロック信号を受け、前記複数の内部クロック信号として前記第3および第4の外部クロック信号にそれぞれ同期する第3および第4の内部クロック信号を出力し、
    前記複数のポンプセルは、前記第1および第2の外部クロック信号ならびに第3および第4の内部クロック信号を用いることによって前記入力ノードから前記出力ノードの方向に順々に正電荷を転送し、
    前記第1の外部クロック信号は、前記第3の内部クロック信号と逆位相であり、
    前記第2の外部クロック信号は、前記第4の内部クロック信号と逆位相であり、
    前記第1の外部クロック信号は、前記第4の内部クロック信号と同周期であり、前記第4の内部クロック信号が立上がる前に立上がり、前記第4の内部クロック信号が立下がった後に立下がり、
    前記複数のポンプセルの各々は、
    前段から正電荷を受けるための第1のノードと、
    後段に正電荷を出力するための第2のノードと、
    前記第1および第2のノード間に接続されるNチャネルの第1のMOSトランジスタと、
    前記第2のノードの電位に従って、前記第1のノードと前記第1のMOSトランジスタのゲートとの間の経路を開閉するNチャネルの第2のMOSトランジスタと、
    前記第2のノードに一端が接続される第1の容量素子と、
    前記第1のMOSトランジスタのゲートに一端が接続される第2の容量素子とを含み、
    奇数番のポンプセルの前記第1の容量素子の他端には前記第1の外部クロック信号が供給され、
    偶数番のポンプセルの前記第1の容量素子の他端には前記第2の外部クロック信号が供給され、
    奇数番のポンプセルの前記第2の容量素子の他端には前記第3の内部クロック信号が供給され、
    偶数番のポンプセルの前記第2の容量素子の他端には前記第4の内部クロック信号が供給される、請求項1に記載のチャージポンプ。
  5. 前記信号変換手段は、
    奇数番のポンプセルの前記第2の容量素子に個別に接続される1または複数の第3のブースト回路と、
    偶数番のポンプセルの前記第2の容量素子に個別に接続される1または複数の第4のブースト回路とを含み、
    前記1または複数の第3のブースト回路および前記1または複数の第4のブースト回路の各々は、
    前記外部電源電圧と前記基準電圧とを比較し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越える場合に第1の論理レベルの電圧を出力し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越えない場合に第2の論理レベルの電圧を出力するコンパレータと、
    前記コンパレータの出力電圧が前記第1の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を内部電圧として出力し、前記コンパレータの出力電圧が前記第2の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を昇圧した電圧を前記内部電圧として出力する内部電圧発生回路と、
    前記内部電圧によって駆動される1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路とを含み、
    前記1または複数の第3のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第3の外部クロック信号を受けて前記第3の内部クロック信号を出力し、
    前記1または複数の第4のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第4の外部クロック信号を受けて前記第4の内部クロック信号を出力する、請求項4に記載のチャージポンプ。
  6. 前記信号変換手段は、前記複数の外部クロック信号として第1〜第4の外部クロック信号を受け、前記複数の内部クロック信号として前記第1〜第4の外部クロック信号にそれぞれ同期する第1〜第4の内部クロック信号を出力し、
    前記第1の内部クロック信号は、前記第3の内部クロック信号と逆位相であり、
    前記第2の内部クロック信号は、前記第4の内部クロック信号と逆位相であり、
    前記第1の内部クロック信号は、前記第4の内部クロック信号と同周期であり、前記第4の内部クロック信号が立上がる前に立上がり、前記第4の内部クロック信号が立下がった後に立下がり、
    前記複数のポンプセルは、前記第1〜第4の内部クロック信号を用いることによって前記入力ノードから前記出力ノードの方向に順々に正電荷を転送し、
    前記複数のポンプセルの各々は、
    前段から正電荷を受けるための第1のノードと、
    後段に正電荷を出力するための第2のノードと、
    前記第1および第2のノード間に接続されるNチャネルの第1のMOSトランジスタと、
    前記第2のノードの電位に従って、前記第1のノードと前記第1のMOSトランジスタのゲートとの間の経路を開閉するNチャネルの第2のMOSトランジスタと、
    前記第2のノードに一端が接続される第1の容量素子と、
    前記第1のMOSトランジスタのゲートに一端が接続される第2の容量素子とを含み、
    奇数番のポンプセルの前記第1の容量素子の他端には前記第1の内部クロック信号が供給され、
    偶数番のポンプセルの前記第1の容量素子の他端には前記第2の内部クロック信号が供給され、
    奇数番のポンプセルの前記第2の容量素子の他端には前記第3の内部クロック信号が供給され、
    偶数番のポンプセルの前記第2の容量素子の他端には前記第4の内部クロック信号が供給される、請求項1に記載のチャージポンプ。
  7. 前記信号変換手段は、
    奇数番のポンプセルの前記第1の容量素子に個別に接続される1または複数の第1のブースト回路と、
    偶数番のポンプセルの前記第1の容量素子に個別に接続される1または複数の第2のブースト回路と、
    奇数番のポンプセルの前記第2の容量素子に個別に接続される1または複数の第3のブースト回路と、
    偶数番のポンプセルの前記第2の容量素子に個別に接続される1または複数の第4のブースト回路とを含み、
    前記1または複数の第1のブースト回路、前記1または複数の第2のブースト回路、前記1または複数の第3のブースト回路、および前記1または複数の第4のブースト回路の各々は、
    前記外部電源電圧と前記基準電圧とを比較し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越える場合に第1の論理レベルの電圧を出力し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越えない場合に第2の論理レベルの電圧を出力するコンパレータと、
    前記コンパレータの出力電圧が前記第1の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を内部電圧として出力し、前記コンパレータの出力電圧が前記第2の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を昇圧した電圧を前記内部電圧として出力する内部電圧発生回路と、
    前記内部電圧によって駆動される1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路とを含み、
    前記1または複数の第1のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第1の外部クロック信号を受けて前記第1の内部クロック信号を出力し、
    前記1または複数の第2のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第2の外部クロック信号を受けて前記第2の内部クロック信号を出力し、
    前記1または複数の第3のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第3の外部クロック信号を受けて前記第3の内部クロック信号を出力し、
    前記1または複数の第4のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第4の外部クロック信号を受けて前記第4の内部クロック信号を出力する、請求項6に記載のチャージポンプ。
  8. 前記信号変換手段は、前記複数の外部クロック信号として第1および第2の外部クロック信号を受け、前記複数の内部クロック信号として前記第1および第2の外部クロック信号にそれぞれ同期する第1および第2の内部クロック信号を出力し、
    前記第1の内部クロック信号は、前記第2の内部クロック信号と逆位相であり、
    前記複数のポンプセルは、前記第1および第2の内部クロック信号を用いることによって前記入力ノードから前記出力ノードの方向に順々に正電荷を転送し、
    前記複数のポンプセルの各々は、
    前段から正電荷を受けるための第1のノードと、
    後段に正電荷を出力するための第2のノードと、
    前記第1のノードと第3のノードとの間に接続されるNチャネルの第1のMOSトランジスタと、
    前記第3のノードと前記第2のノードとの間に接続されるPチャネルの第2のMOSトランジスタと、
    前記第1のノードと第4のノードとの間に接続されるNチャネルの第3のMOSトランジスタと、
    前記第4のノードと前記第2のノードとの間に接続されるPチャネルの第4のMOSトランジスタと、
    前記第3のノード、前記第3のMOSトランジスタのゲート、および第4のMOSトランジスタのゲートに一端が接続され、他端に前記第1の内部クロック信号が供給される第1の容量素子と、
    前記第4のノード、前記第1のMOSトランジスタのゲート、および第2のMOSトランジスタのゲートに一端が接続され、他端に前記第2の内部クロック信号が供給される第2の容量素子とを含む、請求項1に記載のチャージポンプ。
  9. 前記信号変換手段は、
    前記第1の容量素子に個別に接続される複数の第1のブースト回路と、
    前記第2の容量素子に個別に接続される複数の第2のブースト回路とを含み、
    前記複数の第1のブースト回路および前記複数の第2のブースト回路の各々は、
    前記外部電源電圧と前記基準電圧とを比較し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越える場合に第1の論理レベルの電圧を出力し、前記外部電源電圧が前記基準電圧を越えない場合に第2の論理レベルの電圧を出力するコンパレータと、
    前記コンパレータの出力電圧が前記第1の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を内部電圧として出力し、前記コンパレータの出力電圧が前記第2の論理レベルの場合に前記外部電源電圧を昇圧した電圧を前記内部電圧として出力する内部電圧発生回路と、
    前記内部電圧によって駆動される1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路とを含み、
    前記1または複数の第1のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第1の外部クロック信号を受けて前記第1の内部クロック信号を出力し、
    前記1または複数の第2のブースト回路の各々に設けられた前記1または直列接続された複数のCMOSインバータ回路は、前記第2の外部クロック信号を受けて前記第2の内部クロック信号を出力する、請求項8に記載のチャージポンプ。
  10. 前記入力ノードに前記外部電源電圧が印加され、前記出力ノードから前記外部電源電圧を昇圧した電圧を出力する、請求項1〜9のいずれか1項に記載のチャージポンプ。
  11. 前記出力ノードがMOSトランジスタを介して接地され、前記入力ノードから負電圧を出力する、請求項2〜7のいずれか1項に記載のチャージポンプ。
  12. 前記出力ノードが接地され、前記入力ノードから負電圧を出力する、請求項8または9に記載のチャージポンプ。
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JP4336489B2 (ja) * 2002-11-18 2009-09-30 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
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