JP5089982B2 - 非侵襲的電界検出ならびに測定デバイスおよび方法 - Google Patents
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Description
x=cos(w.n.t)
y=cos(w.n.m.t)
ここで、nおよびmは実質的には、それぞれx座標およびy座標に沿った取得期間に対応する画素数である。この種の走査により、音響光学モジュレータの限界にできるだけ近づくことが可能となる。もちろん、これら2つの座標のうち1つのみの上でこのパラメータ化を保持することも可能である。
Claims (29)
- 線形電気光学的効果または2次電気光学的効果を示す媒体において電界または電位あるいはその導関数の非侵襲的検出を行うデバイスであって、
試験対象媒体の少なくとも1つの領域を照射するため、経路が光軸を規定する光線を伴う光源(3)と、
前記光線の位相シフトをマッピングする手段(7)であって、前記位相シフトは、試験対象領域中のその電界または電位あるいは導関数によって誘起される、手段(7)と、
を含み、
前記光線の位相シフトをマッピングする手段(7)は、
共焦点顕微鏡(15)、そこでは、前記試験対象領域の一平面の画像を形成するのに適した様態で前記試験対象領域が配置される、と、
ホモダイン検出モードにおいて取り付けられた干渉計(5)を含み、
前記干渉計(5)は、前記光線(19)を基準ビーム(21)およびプローブビーム(23)に分け、
前記基準ビーム(21)、および前記試験対象領域を通過した後の前記プローブビーム(23)の位相シフトを測定し、
前記基準ビーム(21)およびプローブビーム(23)の相対的経路長は、カットオフ周波数fc 以下で、サーボ制御鏡(11)を用いてサーボ制御され、
さらに、前記光線の位相シフトをマッピングする手段(7)は、前記カットオフ周波数fcよりも高い信号サンプリング周波数fa で前記プローブビーム(23)を走査することを特徴とするデバイス。 - 前記プローブビーム(23)において空間中の3方向に沿って前記媒体を移動させる手段を含む、請求項1に記載のデバイス。
- 前記試験対象領域(34)および基準領域(36)の走査を前記光線でかつ取得周波数fで行うのに適した走査手段(33)を含み、前記取得周波数fは、前記カットオフ周波数fcよりも高く、前記光線の位相変化を測定する手段によって記録された画像のものである、請求項1または2に記載のデバイス。
- 前記走査手段(33)は、前記試験対象領域(34)および前記基準領域(36)の走査を空間中の第1の方向に沿って周波数fxでかつ空間中の第2の方向に沿って周波数fyで行い、これにより、前記第1の方向に沿ったn個の画素および前記第2の方向に沿ったm個の画素からなる画像を形成し、前記周波数fxおよびfyは、fx=fy/nでありかつfy=fa/mとなるように選択される、請求項3に記載のデバイス。
- 前記走査手段(33)は4つの音響光学偏向器(35)を含み、前記音響光学偏向器(35)のうち2つは前記光線を偏向させ、前記共焦点顕微鏡(15)の上流にあり、空間中の前記第1の方向および第2の方向のうち1つにそれぞれ有り、前記音響光学偏向器(35)のうち2つは前記光線を補正し、空間中の前記第1の方向および第2の方向のうち1つにそれぞれ有り、前記共焦点顕微鏡(15)の下流にある、請求項4に記載のデバイス。
- 前記共焦点顕微鏡(15)の下流の少なくとも1つの音響光学偏向器が、前記光線の0次を前記光軸に向かって傾斜させかつ前記近軸1次を保持するように、設定される、請求項5に記載のデバイス。
- 前記1次と前記光軸との間の角度を増加させるためのガリレオ望遠鏡を含む、請求項6に記載のデバイス。
- 前記共焦点顕微鏡(15)の上流において、前記試験対象領域上に入射する前記プローブビーム(23)の偏光を制御する手段(37)をさらに含む、請求項1〜7の1つに記載のデバイス。
- 線形電気光学的効果または2次電気光学的効果を示す媒体において電界または電位あるいはその導関数の非侵襲的検出を行う方法であって、
前記試験対象媒体の少なくとも1つの領域を光源(3)によって光線で照射し、前記光線の経路は光軸を規定し、
電界または電位あるいはその導関数によって誘起される前記試験対象領域における前記光線の位相シフトをマッピングし、
前記試験対象領域は共焦点顕微鏡内に配置され、前記共焦点顕微鏡そのものは、前記光線の位相シフトのマッピングを前記試験対象領域内の一平面の画像を形成するのに適した様態で行う手段(7)に挿入される点において特徴付けられる方法において、
ホモダイン検出モードにおいて取り付けられた干渉計(5)を用いて、前記光線を基準ビーム(21)およびプローブビーム(23)に分け、
前記基準ビーム(21)、および前記試験対象領域を通過した後の前記プローブビーム(23)の位相シフトを測定し、
前記基準ビーム(21)およびプローブビーム(23)の相対的経路長は、光検出手段(29)により、カットオフ周波数fc以下で、サーボ制御鏡(11)を用いてサーボ制御され、
画像の取得を前記光検出手段(29)により信号サンプリング周波数fa で前記プローブビーム(23)を走査することにより行い、前記信号サンプリング周波数fa(21)は、前記カットオフ周波数fcよりも高い方法。 - 前記媒体の電気光学特性の分布が分かった場合、前記媒体中の電界のマッピングを行う、請求項9に記載の方法。
- 前記媒体中に構成の電界を生成して、前記媒体の電気光学特性を明らかにする、請求項9に記載の方法。
- 前記プローブビーム(23)中の空間中の3方向に沿って前記媒体を移動させる、請求項9に記載の方法。
- 前記媒体は周波数feで励起され、前記プローブビーム(23)の位相の前記基準ビーム(21)の位相に対する変化を前記周波数feで測定する、請求項12に記載の方法。
- 前記試験対象領域(34)および基準領域(36)は、前記プローブビーム(23)で画像取得周波数fで走査され、前記画像取得周波数fは、前記カットオフ周波数fcよりも高く、前記光線の位相変化を測定する手段(7)によって記録された画像のためのものである、請求項9に記載の方法。
- 前記試験対象領域(34)および前記基準領域(36)の走査は、空間中の第1の方向に沿って周波数fxでかつ空間中の第2の方向に沿って周波数fyで行い、これにより、前記第1の方向に沿ったn個の画素および前記第2の方向に沿ったm個の画素からなる画像を形成し、前記周波数fxおよびfyは、fx=fy/nでありかつfy=fa/mとなるように選択される、請求項14に記載の方法。
- 前記共焦点顕微鏡(15)の下流の少なくとも1つの音響光学偏向器が、前記光線の0次を前記光軸に向かって傾斜させかつ前記近軸1次を保持するように、設定される、請求項9〜14の1つに記載の方法。
- 前記1次と前記光軸との間の角度は、ガリレオ望遠鏡によって増加される、請求項16に記載の方法。
- 前記試験対象領域は、電位が付与される光電子コンポーネントの少なくとも一部を含む、請求項9〜17の1つに記載の方法。
- 前記電位は、少なくとも1つの電極を通じて付与され、前記少なくとも1つの電極の形状は、電界勾配を生成するのに適している、請求項18に記載の方法。
- 前記電位は、少なくとも1つの多極電極を通じて付与される、請求項18または19に記載の方法。
- 前記光電子コンポーネントが光学的活性媒体内に配置される、請求項18〜20の1つに記載の方法。
- 前記光電子コンポーネントにおける電気パルスの伝搬が調査される、請求項18〜21の1つに記載の方法。
- 前記試験対象領域は、フラクタル凝集体の少なくとも一部を含む、請求項9〜17の1つに記載の方法。
- 前記試験対象領域は、生物媒体の少なくとも一部を含む、請求項9〜17の1つに記載の方法。
- 前記試験対象領域は、生物細胞膜の少なくとも一部を含む、請求項24に記載の方法。
- 前記試験対象領域は、ニューロンまたは神経回路網の少なくとも一部を含む、請求項24または25に記載の方法。
- 前記試験対象領域は、人工膜の少なくとも一部を含む、請求項9〜17の1つに記載の方法。
- 前記試験対象領域は、化学的媒体の少なくとも一部を構成する、請求項9〜17の1つに記載の方法。
- 電気光学特性を有するかまたは前記媒体上の電気光学特性を提供する分子またはイオンで前記媒体をドープする、請求項9〜28の1つに記載の方法。
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