RU2718139C1 - Установка для определения качества оптических элементов - Google Patents
Установка для определения качества оптических элементов Download PDFInfo
- Publication number
- RU2718139C1 RU2718139C1 RU2019123049A RU2019123049A RU2718139C1 RU 2718139 C1 RU2718139 C1 RU 2718139C1 RU 2019123049 A RU2019123049 A RU 2019123049A RU 2019123049 A RU2019123049 A RU 2019123049A RU 2718139 C1 RU2718139 C1 RU 2718139C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- sample
- optical
- laser
- crystal
- electric field
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области оптоэлектроники и может быть использовано при изготовлении оптических приборов на основе оптических кристаллов. Заявленная установка по определению степени дефектности оптических элементов методом лазерной интерферометрии включает в себя гелий-неоновый лазер, коллиматор, интерферометр Маха-Цандера, в одно из плеч которого установлен исследуемый образец. При этом держатель образца представляет собой цанговый зажим из диэлектрического материла, позволяющий поворачивать образец вокруг оси, совпадающей с лазерным лучом, проходящим через образец, а также подавать напряжение на противоположные грани образца с целью выявления дефектов, чувствительных к направлению поляризации света и приложенному электрическому полю. Технический результат - определение внутренних и внешних оптических неоднородностей кристаллов, в том числе дефектов чувствительных как к поляризации света, так и к внешнему электрическому полю. 2 ил.
Description
Изобретение относится к области оптоэлектроники и может быть использовано при изготовлении оптических приборов на основе оптических кристаллов.
Известны установки по определению качества оптических элементов, изготовленных на основе оптических кристаллов. Например: установка для исследования неоднородностей кристаллов, основанная на теневом методе обнаружения дефектов (метод Теплера), позволяющем обнаружить оптические неоднородности в прозрачных средах и дефекты отражающих поверхностей [1].
Наиболее близким к изобретению (прототипом) является установка, использующая интерференционную методику исследований неоднородностей кристалла [2]. Принцип ее действия заключается в том, что зондирующий пучок, проходящий через кристалл, фиксирует информацию об имеющихся в кристалле неоднородностях в виде искажений фазового фронта, которая затем отображается в картине интерференции с невозмущенным пучком. В тех местах кристалла, где неоднородности коэффициента преломления сильнее, фазовый фронт луча искажен больше и в соответствующем месте интерференционной картины полосы будут либо сильнее искривлены, либо сильнее сгущены. Поэтому по расстояниям между интерференционными полосами или по их искривлению можно рассчитать разность показателя преломления кристалла в точках, соответствующих наблюдаемым полосам.
Установки по измерению неоднородностей кристаллов [1, 2] позволяют определять неоднородности кристаллов, оптических элементов и других прозрачных тел, но при этом не позволяют определять тип дефектов и разграничивать внутренние и внешние дефекты.
Техническим результатом предлагаемого изобретения является определение внутренних и внешних оптических неоднородностей кристаллов, в том числе дефектов, чувствительных как к поляризации света, так и к внешнему электрическому полю.
Результат обеспечивает установка на основе интерферометра Маха-Цандера следующим образом.
1. С помощью коллиматора лазерный луч расширяется до необходимого размера.
2. Кристалл помещается в специальный держатель, находящийся в одном из плеч интерферометра Маха-Цандера.
3. Прикладывается внешнее электрическое поля к противоположным сторонам кристалла и (или) кристалл поворачивается вокруг оси, совпадающей с направлением зондирующего луча
4. С помощью цифровой фотокамеры, веб-камеры или экрана наблюдается интерференционная картина.
Установка отличается от прототипа тем, что:
Во-первых, в данной установке на кристалл подается напряжение ортогонально направлению распространения лазерного луча. Во-вторых, благодаря держателю образца имеется возможность поворачивать кристалл вокруг оси лазерного луча. Прикладываемое электрическое поле дает возможность определить дефекты, чувствительные к нему, а поворот кристалла соответственно позволяет определять дефекты, зависящие от направления колебаний вектора светового поля в кристалле. В результате установка позволяет не только определять дефекты кристаллов, но и классифицировать их типы.
Данная установка показана на фиг. 1, где: 1 - гелий-неоновый лазер (λ=0,6328 мкм); 2 - коллиматор; 3 - интерферометр Маха-Цандера; 4 и 11 - непрозрачные зеркала; 5 - кристалл, 6 - источник высокого напряжения; 7 - цанговый держатель кристалла; 8 и 12 - полупрозрачные зеркала; 9 - цифровая фотокамера; 10 - компьютер.
Установка работает следующим образом. Луч гелий-неонового лазера 1 с длиной волны λ=632,8 нм проходит сквозь коллиматор 2 и расширяется до необходимого размера, делится полупрозрачным зеркалом 12 на опорный и сигнальный лучи. Опорный луч отражается от непрозрачного зеркала 11 и попадает на полупрозрачное зеркало 8. Сигнальный луч, отражаясь от непрозрачного зеркала 4, проходит сквозь кристалл и интерферирует с опорным лучом после прохождения через полупрозрачное зеркало 8. Образец по форме представляет собой прямоугольный параллелепипед. Его ориентируют таким образом, чтобы ось вращения кристалла совпадала с центром просветленной грани, через которую проходит лазерный луч, а к двум другим противолежащим граням подведены электроды. Приложенное электрическое поле вызывает движение дефектов, что приводит к изменениям в интерференционной картине. Эти изменения также могут быть чувствительными к направлению колебаний вектора светового поля. Интерференционная картина попадает на цифровую фотокамеру 9 и фиксируется компьютером 10.
На фиг. 2 представлена конструкция цангового держателя образца. Здесь 13 - поворотное кольцо; 14 - цанговый зажим; 15 - электроды; 16 - кристалл, 17 - стойка.
Список использованных источников
1. Васильев Л. А., Теневые методы, М., 1968.
2. Зверев Г.М., Голяев Ю.Д. Лазеры на кристаллах и их применение, М., 1994
Claims (1)
- Установка по определению степени дефектности оптических элементов методом лазерной интерферометрии, включающая в себя гелий-неоновый лазер, коллиматор, интерферометр Маха-Цандера, в одно из плеч которого установлен исследуемый образец, отличающаяся тем, что держатель образца представляет собой цанговый зажим из диэлектрического материла, позволяющий поворачивать образец вокруг оси, совпадающей с лазерным лучом, проходящим через образец, а также подавать напряжение на противоположные грани образца с целью выявления дефектов, чувствительных к направлению поляризации света и приложенному электрическому полю.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2019123049A RU2718139C1 (ru) | 2019-07-17 | 2019-07-17 | Установка для определения качества оптических элементов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2019123049A RU2718139C1 (ru) | 2019-07-17 | 2019-07-17 | Установка для определения качества оптических элементов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2718139C1 true RU2718139C1 (ru) | 2020-03-30 |
Family
ID=70156504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2019123049A RU2718139C1 (ru) | 2019-07-17 | 2019-07-17 | Установка для определения качества оптических элементов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2718139C1 (ru) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2219490C2 (ru) * | 2001-10-01 | 2003-12-20 | Амстиславский Яков Ефимович | Учебный интерференционный прибор с кристаллом исландского шпата |
US20080043248A1 (en) * | 2006-08-18 | 2008-02-21 | Meric Ozcan | Photonic crystal sensors using band edge and/or defect mode modulation |
US20100290055A1 (en) * | 2009-05-13 | 2010-11-18 | Kyong-Hon Kim | Systems for measuring electro-optic and thermo-optic coefficients by using interference fringe measurement, and methods of measuring electro-optic and thermo-optic coefficients by using the systems |
CN102621110A (zh) * | 2012-03-13 | 2012-08-01 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 电光系数测量装置 |
RU2604117C1 (ru) * | 2015-06-01 | 2016-12-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники" (ТУСУР) | Способ определения электрооптического коэффициента оптических кристаллов с высокой электропроводностью |
-
2019
- 2019-07-17 RU RU2019123049A patent/RU2718139C1/ru active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2219490C2 (ru) * | 2001-10-01 | 2003-12-20 | Амстиславский Яков Ефимович | Учебный интерференционный прибор с кристаллом исландского шпата |
US20080043248A1 (en) * | 2006-08-18 | 2008-02-21 | Meric Ozcan | Photonic crystal sensors using band edge and/or defect mode modulation |
US20100290055A1 (en) * | 2009-05-13 | 2010-11-18 | Kyong-Hon Kim | Systems for measuring electro-optic and thermo-optic coefficients by using interference fringe measurement, and methods of measuring electro-optic and thermo-optic coefficients by using the systems |
CN102621110A (zh) * | 2012-03-13 | 2012-08-01 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 电光系数测量装置 |
RU2604117C1 (ru) * | 2015-06-01 | 2016-12-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники" (ТУСУР) | Способ определения электрооптического коэффициента оптических кристаллов с высокой электропроводностью |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Мельник К.П. Интерферометр Маха-Цандера для исследования электрооптического эффекта в нелинейных кристаллах [Текст]: доклад/ К.П. Мельник, М.И. Михайлова// Научная сессия ТУСУР-2011. - Томск: В-Спектр. - Ч.1 - С. 286-289. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100917912B1 (ko) | 단일 편광자 초점 타원계측기 | |
CN111121644B (zh) | 一种基于涡旋光与球面波干涉的微位移测量方法及装置 | |
CN107462149B (zh) | 一种相移干涉测量系统及其波片相移方法 | |
CN102829903B (zh) | Mems扫描式激光外差干涉仪及其测量玻璃应力的方法 | |
TW201530093A (zh) | 厚度線上即時檢測之光學干涉裝置及其方法 | |
KR100958185B1 (ko) | 광섬유의 잔류응력 측정장치 | |
US10989524B2 (en) | Asymmetric optical interference measurement method and apparatus | |
RU2718139C1 (ru) | Установка для определения качества оптических элементов | |
KR100453710B1 (ko) | 표면 측정장치 및 그 측정방법 | |
JPH11337321A (ja) | 位相シフト干渉縞の同時計測方法及び装置 | |
CN2921828Y (zh) | 光学成像系统及具有该光学成像系统的光学检测系统 | |
KR100686923B1 (ko) | 스펙클패턴 전단간섭법에 있어서 파장판을 이용한 위상천이방법 및 이를 이용한 계측시스템 | |
JPS6024401B2 (ja) | 被測定物の物理定数を測定する方法 | |
Siebert et al. | Modeling of fiber-coupled confocal and interferometric confocal distance sensors | |
JP3325078B2 (ja) | 非接触三次元形状計測装置 | |
JP4699364B2 (ja) | 媒体特性の非侵襲的検出および測定のためのデバイスおよび方法 | |
Wang et al. | Rapid one-shot dual-shearing digital shearography using a spatial light modulator | |
RU2727783C1 (ru) | Устройство измерения распределения показателя преломления прозрачных образцов | |
Trịnh et al. | Polarization phase-shifting Newton interferometer without errors caused by polarization crosstalk | |
Tavassoly | A simple method for measuring the refractive index of a plate | |
JP3496786B2 (ja) | 位相物体の測定方法および測定装置 | |
GB646760A (en) | Improvements relating to the optical measurement and/or calibration of tubular surfaces | |
JPH02228512A (ja) | 固体表面の高精度レーザ計測方法及び装置 | |
CN204902762U (zh) | 反馈式声光调制移相干涉系统 | |
SU1610260A1 (ru) | Способ определени профил шероховатости поверхности издели и устройство дл его осуществлени |